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KR960005994A - 보호구조를 가지는 집적 파워 반도체 장치 - Google Patents

보호구조를 가지는 집적 파워 반도체 장치 Download PDF

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KR960005994A
KR960005994A KR1019950019723A KR19950019723A KR960005994A KR 960005994 A KR960005994 A KR 960005994A KR 1019950019723 A KR1019950019723 A KR 1019950019723A KR 19950019723 A KR19950019723 A KR 19950019723A KR 960005994 A KR960005994 A KR 960005994A
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South Korea
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region
semiconductor device
integrated power
power semiconductor
substrate
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KR1019950019723A
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KR100346085B1 (ko
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죠세프-마티아스 간티올레르
루드비히 라이폴트
라이날트 잔더
옌스-페르 슈텐글
예뇌 티하니
Original Assignee
알베르트 발도르프·롤프 옴케
지멘스 악티엔게젤샤프트
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Publication date
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Publication of KR960005994A publication Critical patent/KR960005994A/ko
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    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D89/00Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

파워 IC가 유도 부하상에 하이-사이드 스위치로서 동작한다면, 부하를 스위칭 오프할 때 오기능이 발생할 수 있다. 이러한 오기능들은 구동IC와 하이-사이드 스위치의 제어회로 사이의 기생구조가 스위치온에 의하여, 구동IC에서의 전압역전에 의한 것이다. 구동 IC와 제어회로 사이의, 제어회로의 전위인 보호영역이 있다. 기생구조는 구동IC와 보호영역 사이에서만 결과적으로 형성된다.

Description

보호구조를 가지는 집적 파워 반도체 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 보호구조를 가지는 집적 파워 반도체 장치의 회로도이다.

Claims (5)

  1. 제1도전형의 기판; 기판에 형성된 제2도전형의 적어도 하나의 제1영역 및 기판에 형성된 제2도전형의 적어도 하나의 제2영역; 공급전압을 공급하기 위한 기판 접점부; 및 제1영역 및 제2영역에 형성된 접점부-형성 반도체 소자를 포함하며, 제1영역에서의 반도체 소자의 적어도 한 부분이 제2영역에서의 반도체 소자의 적어도 한 부분을 제어하는 집적 파워 반도체 장치에 있어서, 제2도전형의 제3영역(21)이 제1영역(15)과 제2영역 사이에 배치되고, 제3영역은 제1영역의 전위와 다른 전위에 있는 것을 특징으로 하는 집적 파워 반도체 장치.
  2. 제1항에 있어서, 제3영역(21)은 제2영역(16)과 동일한 전위에 있는 것을 특징으로 하는 집적 파워 반도체 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 기판(10)은 n 도핑되고 영역(15, 16, 21)은 p 도핑되고, 제3영역(21)은 제1영역(15)보다 더욱 음전위인 것을 특징으로 하는 집적 파워 반도체 장치.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 제3영역(21)이 제2영역(16)을 완전히 둘러싸는 것을 특징으로하는 집적 파워 반도체 장치.
  5. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 제3영역(21)이 제1영역(15)을 완전히 둘러싸는 것을 특징으로 하는 집적 파워 반도체 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950019723A 1994-07-06 1995-07-06 보호구조를가지는집적파워반도체장치 KR100346085B1 (ko)

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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3036423B2 (ja) * 1996-02-06 2000-04-24 日本電気株式会社 半導体装置
DE19606100C2 (de) * 1996-02-19 2002-02-14 Infineon Technologies Ag Integrierte Schaltungsanordnung zum Ansteuern eines Leistungs-MOSFET mit sourceseitiger Last, insbesondere geeignet für die Verwendung im Kraftfahrzeugbereich
US6310385B1 (en) * 1997-01-16 2001-10-30 International Rectifier Corp. High band gap layer to isolate wells in high voltage power integrated circuits
DE19904575C1 (de) * 1999-02-04 2000-03-30 Siemens Ag Temperaturgeschützter Halbleiterschalter mit Temperatursensor und zusätzlichem Ladungsträger-Detektor, der eine echte Übertemperatur von einer vermeintlichen unterscheidbar macht
US6310379B1 (en) * 1999-06-03 2001-10-30 Texas Instruments Incorporated NMOS triggered NMOS ESD protection circuit using low voltage NMOS transistors
DE19941342C1 (de) * 1999-08-31 2001-01-25 Infineon Technologies Ag Gegen Verpolung geschützte integrierbare Schaltungsanordnung in einem Substrat
US6787858B2 (en) * 2002-10-16 2004-09-07 Freescale Semiconductor, Inc. Carrier injection protection structure

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3967295A (en) * 1975-04-03 1976-06-29 Rca Corporation Input transient protection for integrated circuit element
JPS60767A (ja) * 1983-06-17 1985-01-05 Hitachi Ltd 半導体装置
JPS61283158A (ja) * 1985-06-10 1986-12-13 Nec Corp 相補型mosトランジスタ回路
US4737667A (en) * 1986-03-11 1988-04-12 Siemens Aktiengesellschaft Driving circuitry for a MOSFET having a source load
JP3075892B2 (ja) * 1993-07-09 2000-08-14 株式会社東芝 半導体装置

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