KR950000295A - 고온의 무연 주석 기제 납땜 조성물 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (24)
- 적어도 약 90중량%의 Sn 및 잔여량의 Ag 및 Bi를 함유함을 특징으로 하는 고 고상온도 및 고 사용온도를 갖는 고강도 다성분 납땜 합금.
- 제1항에 있어서, Sn 약 95.0-95.5중량%, Ag 약 2.5-3.0중량% 및 Bi 약 2.0중량%를 함유함을 특징으로 하는 납땜 합금.
- 제1항에 있어서, Sb를 더욱 함유함을 특징으로 하는 납땜 합금.
- 제3항에 있어서, Sn 약 93.5-94.0중량%, Ag 약 2.5-3.0중량%, Bi 약 1.0-2.0중량% 및 Sb 약 1.0-2.0중량%를 함유함을 특징으로 하는 남땜 합금.
- 제3항에 있어서, Cu를 더욱 함유함을 특징으로 하는 납땜 합금.
- 제3항에 있어서, Sn 약 93.5-94.0중량%, Ag 약 2.5-3.0중량%, Bi 약 1.0-2.0중량% 및 Sb 약 1.0-2.0중량% 및 Cu 약 1.0중량%를 함유함을 특징으로 하는 남땜 합금.
- 적어도 약 90중량%의 Sn 및 잔여량의 Ag 및 Sb를 함유함을 특징으로 하는 고 고상온도 및 고 사용온도를 갖는 고강도 다성분 납땜 합금.
- 제7항에 있어서, Sn 약 94.0-95.0중량%, Ag 약 2.5-3.5중량% 및 Sb 약 2.0중량%를 함유함을 특징으로 하는 납땜 합금.
- 제8항에 있어서, Bi를 더욱 함유함을 특징으로 하는 납땜 합금.
- 제9항에 있어서, Sn 약 93.5-94.0중량%, Ag 약 2.5-3.0중량%, Bi 약 1.0-2.0중량% 및 Sb 약 1.0-2.0중량%를 함유함을 특징으로 하는 납땜 합금.
- a) 적어도 약 90중량%의 Sn 및 잔여량의 Ag 및 Bi를 함유하는 납댐 합금을 집적 회로칩의 전기접촉부에 부착시키는 단계; (b) 회로화된 기판의 전기 리드를 상기 집적 회로 칩의 전기 접촉부상에서 상기 납땜 합금과 접촉시키는 단계; 및 (c) 상기 납땜 합금을 가열하여 상기 납땜 합금을 회로화된 기판의 전기 리드에 습윤 및 결합시키는 단계를 포함함을 특징으로 하는 집적 회로 칩을 회로화된 기판에 전기적으로 접속시키는 방법.
- 제11항에 있어서, 상기 회로화된 기판의 전기 리드가 패드, 와이어 리드 및 탭 내부 리드 접속체로 이루어진 군으로부터 선택됨을 특징으로 하는 방법.
- 제11항에 있어서, 상기 납땜 합금이 Sn 약 95.0-95.5중량%, Ag 약 2.5-3.0중량% 및 Bi 약 2.0중량%를 함유함을 특징으로 하는 방법.
- 제11항에 있어서, 상기 납땜 합금이 Sb를 더욱 함유함을 특징으로 하는 방법.
- 제14항에 있어서, 상기 납땜 합금이 Sn 약 93.5-94.0중량%, Ag 약 2.5-3.0중량%, Bi 약 1.0-2.0중량%을 함유함을 특징으로 하는 방법.
- 제14항에 있어서, 상기 납땜 합금이 Cu를 더욱 함유함을 특징으로 하는 방법.
- 제14항에 있어서, 상기 납땜 합금이 Sn 약 93.5-94.0중량%, Ag 약 2.5-3.0중량%, Bi 약 1.0-2.0중량% 및 Sb 약 1.0-2.0중량% 및 Cu 약 1.0중량%를 함유함을 특징으로 하는 방법.
- (a) 적어도 약 90중량%의 Sn 및 잔여량의 Ag 및 Sb를 함유하는 납땜 합금이 집적 회로 칩의 전기 접촉상에 부착시키는 단계; (b) 회로화된 기판의 전기 리드를 상기 집적 회로 칩의 전기 접촉부상에서 상기 납땜 합금과 접촉시키는 단계; 및 (c) 상기 납땜 합금을 가열하여 상기 납땜 합금을 회로화된 기판의 전기 리드에 습윤 및 결합시키는 단계를 포함함을 특징으로 하는 집적 회로 칩을 회로화된 기판에 전기적으로 접속시키는 방법.
- 제18항에 있어서, 상기 회로화된 기판의 전기 리드가 패드, 와이어 리드 및 탭 내부 리드 접속체로 이루어진 군으로부터 선택됨을 특징으로 하는 방법.
- 제18항에 있어서, 상기 납땜 합금이 Sn 약 94.0-95.0중량%, Ag 약 2.5-3.5중량% 및 Sb 약 2.0중량%를 함유함을 특징으로 하는 방법.
- 제18항에 있어서, 상기 납땜 합금이 Bi를 더욱 함유함을 특징으로 하는 방법.
- 제18항에 있어서, 상기 남땜 함금이 Sn 약 93.5-94.0중량%, Ag 약 2.5-3.0중량%, Bi 약 1.0-2.0중량% 및 Sb 약 1.0-2.0중량%를 함유함을 특징으로 하는 방법.
- 회로화된 칩 캐리어, 반도체 집적 회로 칩, 및 상기 회로화된 칩 캐리어와 상기 반도체 집적 회로 칩간의 합금 전기 납땜 내부결합부를 함유하며, 상기 합금이 적어도 약 90중량%의 Sn 및 잔여량의 Ag 및 Bi를 함유함을 특징으로 하는 집적회로 칩 모듈.
- 회로화된 칩 캐리어, 반도체 집적회로 칩, 및 상기 회로화된 칩 캐리어와 상기 반도체 집적회로 칩간의 합금 전기 납땜 내부 결합부를 함유하며, 상기 합금이 적어도 약 90중량%의 Sn 및 잔여량의 Ag 및 Sb를 함유함을 특징으로 하는 집적회로 칩 모듈.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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