KR940022826A - 반도체 기판상에 제조된 집적 회로 - Google Patents
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- H10D84/83—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of at least one component covered by groups H10D12/00 or H10D30/00, e.g. integration of IGFETs of only field-effect components of only insulated-gate FETs [IGFET]
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- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
Claims (5)
- 출력 데이타 신호(S1)를 발생하기 위한 메인 회로(30)와, 출력 데이타 신호( S1)에 응답하여, 제1채널 전도형(p)의 제1전계 효과 트랜지스터(26)와, 상기 제1채널 전도 형태와 반대인 제2전도 형태(n)의 제2전계 효과 트랜지스터(27)의 직렬 조합을 갖고 외부부하(LC)를 선택적으로 충 반전시키는 상보 인버터회로(23)와, 상기 반도체기판을 바이어싱하는 바이어싱 수단(26c/27c/32c/37)을 구비하는 제1전도 형태(p)의 반도체 기판(21)상에 제조된 반도체 집적 회로에 있어서, 상기 제1전계 효과 트랜지스터(26)는 상기 제1전도 형태와 반대인 제2전도 형태(n)로 이루어져 상기 반도체 기판에 형성된 제1웰(well)(33)에 형성되고, 상기 제2전계효과 트랜지스터(27)는 상기 제1웰에 관련된 공간에서 상기 반도체 기판에 형성된 제2전도 형태의 제3웰(32)에 집합된 제1전도 형태의 제2웰(34)에 형성되며, 상기 바이어싱 수단 (26c/27c/32c/37)은 상기 반도체 기판(21)에 따라 상기 제1 및 제3웰(33/32)을 반전적으로 바이어스시키며, 상기 제3웰(32)에 따른 제2웰(34)을 반전적으로 바이스되게 동작하는 반도체 집적 회로.
- 제1항에 있어서, 제1전원 공급 서브 시스템(Ldd1/Lgnd1)을 통해 전원 전압을 상보 인버터 회로(23)에 공급하고 제2전원 공급 서브-시스템(Ldd2/Lgnd2)를 통해서는 상기 메인 회로(30)에 전원 전압을 공급하는 전원 공급 시스템(31)을 더 구비하는 반도체 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 바이어싱 수단은, 상기 제1웰(32)에 형성된 제1전도 형태의 제1과-도프된 접촉 영역(26c)과, 상기 제3웰(32)에 형성된 제1전도 형태의 제2과-도프된 접촉 영역(32a)과, 상기 반도체 기판에 형성된 제2전도 형태의 제3의 과-도프된 접촉 영역(37)과, 상기 제2웰에 형성된 제2전도 형태의 제4의 과-도프된 접촉 영역(27c)을 구비하는 반도체 집적 회로.
- 제3항에 있어서, 제1전원 공급 서브-시스템(Ldd1/Lgnd1)을 통해 전원 전압을 상보 인버터 회로, 제1의 과 도프된 접촉 영역, 과-도프된 제2접촉 영역, 제4의 과 도프된 접촉 영역에 공급하고, 제2전원 공급 서브-시스템(Ldd2/Lgnd2)를 통해서는 상기 메인 회로와 제3의 과 도프된 접촉 영역에 전원 전압을 공급하는 전원 공급 시스템(31)을 더 구비하는 반도체 집적회로.
- 제4항에 있어서, 상기 메인 회로(30)는, 상기 제2의 전도 형태로 반도체 기판에 형성된 제4웰에 형성되는 제1채널 전도 형태의 제3전계 효과 트랜지스터(28)와, 제1전도 형태로 상기 반도체 기판에 형성된 제4웰(35)에 형성되는 제2채널 전도 형태의 제4전계 효과 트랜지스터(29)을 갖는 상보 인버터 회로(25)를 구비하는 반도체 집적 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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