KR910020740A - 반도체기억장치 - Google Patents
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- H10D30/6892—Floating-gate IGFETs characterised by the shapes, relative sizes or dispositions of the floating gate electrode having at least one additional gate other than the floating gate and the control gate, e.g. program gate, erase gate or select gate
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- G11C16/0408—Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS comprising cells containing floating gate transistors
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도 및 제2도는 본 발명에 따른 제1실시예 및 제2실시예의 일부를 나타낸 단면도.
Claims (3)
- 제1도전형의 반도체기판(1)의 표면에 챈널영역을 협지하여 소오스영역(2) 및 드레인영역(3)을 형성하고, 상기 챈널영역의 윗쪽에 제1절연막(4)을 매개하여 부유게이트(5)를 형성하며, 그 부유게이트(5)의 위쪽에 제2절연막(6)을 매개하여 제1제어게이트(7)를 형성한 복수개의 기억소자를 갖춘 반도체기억장치에 있어서, 상기 챈널영역중의 상기 소오스영역(2)측의 위쪽에 제3절연막(8)을 매개하여 상기 제1제어게이트(7)와 전기적으로 도통하는 제2제어게이트(7a)를 형성함으로써 선택트랜지스터를 형성하고, 상기 챈널영역중의 상기 제2제어게이트(7a)의 아랫부분을 제1도전형의 층(11)으로 하고, 상기 부유게이트(5)의 아랫부분을 제2도전형의 층(11)으로 한 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제2도전형의 층(10)의 불순물농도가 상기 부유 게이트(5)에 전하가 축적될 때에 제1도전형으로 반전되는 농도로 설정되도록 된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 제2항에 있어서, 상기 제1및 제2도전형의 층(11,10)의 하층(9)이 제1도전형의 층(11)과 동종으로 고농도로 설정되도록 된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
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