KR102619229B1 - 결함 분석을 위한 검사시스템 및 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
도면들은 도시한다:
도 1은 제1실시예에서의 트랜스포머 라미네이션의 평면도이다.
도 2는 제2구현예에서의 트랜스포머 라미네이션의 평면도이다.
도 3은 제3실시예에서의 트랜스포머 라미네이션의 평면도이다.
도 4는 제4실시예에서의 트랜스포머 라미네이션의 평면도이다.
도 5는 제5실시예에서의 트랜스포머 라미네이션의 평면도이다.
도 6은 도 5의 상세도이다.
도 7은 도 8의 Ⅶ-Ⅶ선에 따른 제1실시예의 검사시스템의 단면도이다.
도 8은 도 7의 Ⅷ-Ⅷ선에 따른 검사시스템의 단면도이다.
도 9는 도 7의 검사시스템의 평면도이다.
도 10a는 제1공정 단계에서의 제2실시예의 검사시스템의 단면도이다.
도 10b는 제2공정 단계에서의 검사시스템이다.
도 10c는 제3공정 단계에서의 검사시스템이다.
도 11은 제3실시예의 검사시스템의 단면도이다.
도 12는 제4실시예의 검사시스템의 단면도이다.
도 13은 제5실시예의 검사시스템의 단면도이다.
Claims (25)
- 검사시스템(24,55,60,65,71)으로 트랜스포머 라미네이션들의 결함을 분석하는 방법으로서, 상기 검사시스템은 검출유닛(26), 운반장치(27,56,66,72) 및 처리장치(28)를 포함하고, 상기 검출유닛은 광학검출장치(31)를 포함하고, 상기 운반장치는 상기 광학검출장치에 대해 복수의 트랜스포머 라미네이션들(10,12,14,18,20,25)을 연속적으로 운반하는데 사용되며, 상기 광학검출장치는 트랜스포머 라미네이션의 이동 방향에 횡방향으로 배치되며,
상기 광학검출장치에 대한 트랜스포머 라미네이션의 이동 속도는 상기 검출유닛의 측정장치(40)를 통해 측정되고, 트랜스포머 라미네이션의 윤곽선(11,13,33)의 이미지는 상기 광학검출장치로 캡쳐되고, 상기 트랜스포머 라미네이션의 이미지들은 상기 트랜스포머 라미네이션의 이동 속도를 고려하면서 상기 처리장치를 통한 상기 트랜스포머 라미네이션의 결합된 이미지로 조립되며, 상기 트랜스포머 라미네이션의 형상은 상기 처리장치를 통해 상기 결합된 이미지에 기초하여 결정되며,
상기 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)의 일단부(21)에서 측정된 이동속도와 상기 트랜스포머 라미네이션의 대향 단부에서 측정된 이동 속도 사이의 차이는 처리장치(28)에 의해 상기 형상 결정 시 고려되는 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)의 치수 또는 윤곽선(11,13,33)은 이미지 처리에 의해 결합된 이미지에 기초하여 결정되는 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 처리장치(28)는 상기 캡쳐 이미지를 캡쳐 시간에서 상기 광학검출장치(31)에 대한 이동 방향으로 상기 측정장치(40)에 의해 측정된 상기 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)의 위치와 연관시키는 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제3항에 있어서,
상기 처리장치(28)는 상기 이미지의 이미지 데이터 세트 및 상기 위치의 측정 데이터 세트를 상기 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)의 구성요소 데이터 세트(component data set) 내에 저장하는 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제4항에 있어서,
상기 처리장치(28)는 상기 이미지의 이미지 데이터 세트 및 상기 위치의 측정 데이터 세트에 일치하는 타임 스탬프(time stamp)를 할당하는 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제4항에 있어서,
상기 처리장치(28)는 상기 이미지의 이미지 데이터 세트 내의 상기 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)의 개별 광학 마커를 검출할 수 있고, 이를 구성요소 데이터 세트에 할당할 수 있는 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 처리장치(28)는 상기 트랜스포머 라미네이션들의 형상을 기초로 하여 트랜스포머 코어를 제조하기 위한 복수의 트랜스포머 라미네이션들(10,12,14,18,20,25)에 대한 배치 시퀀스(placement sequence)를 결정하는 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 측정장치(40)의 위치센서(42) 또는 거리센서(41)는 상기 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)에서 상기 트랜스포머 라미네이션의 위치, 완료된 이동 거리 또는 이동 속도를 직접 측정하는데 사용된 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 처리장치(28)는 이동 방향으로 상기 광학검출장치(31)의 전방에 배치된 위치센서(42) 또는 거리센서(41)로부터의 측정 데이터를 처리하고, 이어서 이동 방향으로 상기 광학검출장치 후방에 배치된 위치센서 또는 거리센서로부터 처리하는 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 형상 결정에는 상기 이동 속도의 변화 시간도 함께 고려되는 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25) 또는 상기 운반장치(27,56,66,72)의 온도는 측정되고, 상기 처리장치(28)에 의한 형상 결정을 위해 각각의 팽창 계수와 함께 고려된 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 운반장치(27,56,66,72)의 컨베이어 벨트(34,57,61)의 벨트 장력 또는 마찰 계수는 상기 처리장치(28)에 의한 형상 결정을 위해 측정되고 고려된 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 검사시스템(24,55,60,65,71)의 캘리브레이션(calibration)은 알려진 형상의 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)의 검사를 통해 수행된 것을 특징으로 하는 결함을 분석하는 방법.
- 트랜스포머 라미네이션들의 결함을 분석하는 검사시스템(24,55,60,65,71)으로서, 상기 검사시스템은 검출유닛(26), 운반장치(27,56,66,72) 및 처리장치(28)를 포함하고, 상기 검출유닛은 광학검출장치(31)를 포함하고, 상기 운반장치는 상기 광학검출장치에 대해 복수의 트랜스포머 라미네이션들을 연속적으로 운반하는데 사용되며, 상기 광학검출장치는 트랜스포머 라미네이션의 이동 방향에 횡방향으로 배치되며,
상기 광학검출장치에 대한 트랜스포머 라미네이션의 이동 속도는 상기 검출유닛의 측정장치(40)를 통해 측정되고, 트랜스포머 라미네이션의 윤곽선의 이미지는 상기 광학검출장치로 캡쳐되고, 상기 트랜스포머 라미네이션의 이미지들은 상기 트랜스포머 라미네이션의 이동 속도를 고려하면서 상기 처리장치를 통해 상기 트랜스포머 라미네이션의 결합된 이미지로 조립되며, 상기 트랜스포머 라미네이션의 형상은 상기 처리장치를 통해 상기 결합된 이미지에 기초하여 결정되며,
상기 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)의 일단부(21)에서 측정된 이동속도와 상기 트랜스포머 라미네이션의 대향 단부에서 측정된 이동 속도 사이의 차이는 상기 처리장치(28)에 의해 상기 형상 결정 시 고려되는 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제14항에 있어서,
상기 광학검출장치(31)는 라인 스캔 카메라(29)를 포함하고, 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)의 상기 윤곽선(11,13,33)의 라인 스캔 이미지는 상기 라인 스캔 카메라로 캡쳐될 수 있는 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제14항 또는 제15항에 있어서,
상기 광학검출장치(31)는 투영장치를 포함하고, 상기 투영장치는 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25) 상에 광을 투사하는데 사용될 수 있는 조명장치(30)로 설계될 수 있는 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제14항에 있어서,
상기 측정장치(40)는 상기 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25)에서 트랜스포머 라미네이션의 위치, 완료된 이동 거리 또는 이동 속도를 직접적으로 측정하기 위해 위치센서(42) 또는 거리센서(41)를 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제14항에 있어서,
상기 운반장치(27,56,66,72)는 하나의 컨베이어 벨트(34), 2개의 컨베이어 벨트들(57,61) 또는 운반 트롤리(67,73)를 구비하도록 설계된 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제18항에 있어서,
상기 측정장치(40)는 컨베이어 벨트(34,57,61) 또는 운반 트롤리(67,73)의 위치, 완료된 이동 거리 또는 운반 속도를 측정하기 위한 위치센서(42) 또는 거리센서(41)를 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제19항에 있어서,
적어도 하나의 위치센서(42) 또는 거리센서(41)는 각각 이동 방향으로 광학검출장치(31)의 전후에 배치될 수 있는 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제18항에 있어서,
상기 컨베이어 벨트(34,57,61)는 상기 컨베이어 벨트의 마찰 계수를 증가시키기 위한 마그네트들(62)을 구비하도록 설계된 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제18항에 있어서,
상기 컨베이어 벨트(34,57,61)는 상기 컨베이어 벨트의 구동 휠(36,37,38,39)과 맞물릴 수 있는 기어링(35)을 구비하도록 설계된 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제18항에 있어서,
상기 컨베이어 벨트(34,57,61)는 상기 컨베이어 벨트 상의 상기 트랜스포머 라미네이션들(10,12,14,18,20,25)을 정렬하기 위한 센터링장치(53)를 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제18항에 있어서,
상기 운반 트롤리(67,73)는 상기 트랜스포머 라미네이션들을 유지하기 위한 진공 컵들(69) 또는 마그네트들(62,74)을 구비하도록 설계되고, 상기 운반 트롤리는 상기 운반장치(66,72)의 선형구동부(68,75)를 통해 이동할 수 있는 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
- 제14항에 있어서,
상기 측정장치(40)는 트랜스포머 라미네이션(10,12,14,18,20,25) 또는 상기 운반장치(27,56,66,72)의 온도를 검출하기 위한 온도센서(45)를 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 분석을 위한 검사시스템.
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