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JP2019194557A - 検査システム及び欠陥分析方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】検査システムを使用して変圧器用積層体の欠陥を分析する方法、及び、検査システムを提供する。【解決手段】検査システム24は、検出ユニット26、コンベヤ27、及び処理装置を備える。検出ユニットは、光学検出装置31を備える。コンベヤを使用して、複数の変圧器用積層体25を光学検出装置に対して連続的に搬送する。光学検出装置は、変圧器用積層体の移動方向に交差するように、好ましくは直交するように配置されている。検出ユニットの測定装置40によって、光学検出装置に対する変圧器用積層体の移動速度が測定され、光学検出装置を使用して、変圧器用積層体の輪郭の画像が撮影される。変圧器用積層体の移動速度を考慮して、処理装置によって、変圧器用積層体の複数の画像が、変圧器用積層体の合成画像に整理統合され、処理装置によって、合成画像に基づいて、変圧器用積層体の形状が判定される。【選択図】図7

Description

本発明は、変圧器用積層体の欠陥を分析するための検査システム、及び、この検査システムを使用して変圧器用積層体の欠陥を分析する方法に関する。検査システムは、検出ユニット、コンベヤ、及び処理装置を備える。検出ユニットは、光学検出装置を備える。コンベヤは、複数の変圧器用積層体を光学検出装置に対して連続的に搬送するために使用される。検出装置は、変圧器用積層体の移動方向に交差するように、好ましくは直交するように配置されている。
変圧器の製造において、変圧器用積層体から組み立てられる変圧器コアの品質及び性能の低下は、変圧器用積層体の特性に大きく影響される。具体的には、変圧器用積層体の形状に許容範囲を超える誤差があると、変圧器コアの積層の間隙と角度に欠陥が生じる虞がある。さらには、このような誤差は、変圧器コアの組立ての妨げとなることもある。このため、切断工程の後に、変圧器用積層体製造機から変圧器用積層体を取り出して、外部の測定所で変圧器用積層体の形状を測定することが知られている。積層体の寸法を補正するために、このような測定を利用して、製造機のシステム制御部を介した機械パラメータの調整を行うことができる。この場合は、変圧器用積層体の形が必要な許容範囲に収まるまで、製造機を何度も停止させなければならないので不都合である。変圧器用積層体の検査プロセス及びそのための製造機の調整は、非常に長時間を要し、それゆえに高コストである。さらには、このプロセスには測定台が必要である。この測定台の設置は、製造機の温度に合うよう温度調節されたクリーンな環境下で行わなければならない。また、測定台には、定期的な較正も必要である。測定台では、変圧器用積層体の上方に配置されたカメラで変圧器用積層体の全体を撮影し、基準点を利用した画像処理によって、測定が行われ得る。さらに、複数のカメラで、変圧器用積層体を撮影及び/又は測定することも知られている。カメラは、固定座標系において可動に配置される。レーザシステムによって、変圧器用積層体の縁部を検出及び測定することも知られている。測定の前に、レーザを変圧器用積層体の縁部の領域に予め配置して、検出プロセスを迅速化する。この場合、変圧器用積層体の測定には、その変圧器用積層体の規定位置が必要である。
また、検出ユニットの複数の光学検出装置を、検査対象の変圧器用積層体の上方に配置して、変圧器用積層体を光学検出装置に対して動かすこともできる。この方法では、検査システムの配設に必要なスペースを大幅に削減することができる。これは、検出ユニット又は光学検出装置を、固定配置された変圧器用積層体に対して動かす必要がなくなるからである。光学検出装置によって記録された変圧器用積層体の複数の画像は、変圧器用積層体上のマークを利用して整理統合され、変圧器用積層体の合成画像が生成される。この場合は、測定の精度が十分ではなく、また、変圧器用積層体の移動速度が比較的遅いので、不都合である。例えば、50m/分よりも速い積層体の移動速度では、積層体の中央の長さ1mごとに、積層体の長さの1/10,000以下の測定精度範囲を実現可能である。変圧器用積層体の長さは数メートルの範囲内なので、検査プロセスを改良するだけで、コスト面での大きな利点を得ることが可能である。
本発明は、検査システムを使用して変圧器用積層体の欠陥を検出する方法、及び、変圧器用積層体の検査を、より正確に、より高い費用効果で、容易に行える検査システムを提案するという課題に基づく。
この課題は、請求項1の構成を備える方法、及び、請求項14の構成を備える検査システムによって解決される。
検査システムを使用して変圧器用積層体の欠陥を分析するための、この創意工夫された方法においては、検査システムは、検出ユニット、コンベヤ、及び処理装置を備え、検出ユニットは、光学検出装置を備え、コンベヤを使用して、複数の変圧器用積層体を光学検出装置に対して連続的に搬送し、光学検出装置は、変圧器用積層体の移動方向に交差するように、好ましくは直交するように配置されており、検出ユニットの測定装置によって、光学検出装置に対する変圧器用積層体の移動速度を測定し、光学検出装置を使用して、変圧器用積層体の輪郭の画像を撮影し、変圧器用積層体の移動速度を考慮しながら、処理装置によって、変圧器用積層体の複数の画像を、変圧器用積層体の合成画像に整理統合し、処理装置によって、合成画像に基づき変圧器用積層体の形状を判定する。
この創意工夫された方法によって、変圧器用積層体の検査の品質及び速度が大幅に向上する。これは、測定装置を準備することにより達成される。この測定装置によって、変圧器用積層体の移動速度を測定するとともに、光学検出装置で積層体を捉える。変圧器用積層体の少なくとも1つの輪郭を捉えることで、変圧器用積層体の形状を測定又は判定することも可能になる。ここで、変圧器用積層体の形状とは、変圧器用積層体の2次元の範囲、すなわち、外形線であると理解されたい。撮像の間に変圧器用積層体の移動速度を測定することにより、変圧器用積層体の連続した複数の画像を記録し、処理装置によって、すなわち、画像処理によって、これらの画像を合成画像に整理統合することができる。具体的には、この例の処理装置は、変圧器用積層体の画像を移動速度に応じて整理統合して、変圧器用積層体又はその輪郭の現実的な視覚表示を処理装置において利用可能にする。そして、変圧器用積層体のこの視覚的表示は、同時に、変圧器用積層体の形状の表示に相当する。
概して、変圧器用積層体の移動速度は、変圧器用積層体切断機の切断装置の出力速度に対応する程度まで、上げることができる。移動速度を組み入れることは、より高い測定精度の実現にも役立つ。例えば、200m/分よりも速い移動速度では、積層体の中央の長さが7メートルである例に基づくと、積層体長さの1/70,000以下の許容範囲で、形状を正確に測定可能である。
この状況では、どのような種類の光学検出装置を使用するかは重要ではない。重要なのは、光学検出装置を、変圧器用積層体の移動方向に交差するように配置することである。輪郭の画像は、変圧器用積層体の縁部から反射する適切な光を介して、又は、いわゆる縁部検出用レーザスキャナを使用して、コントラスト検出によって記録できる。このプロセスでは、光学検出装置は、変圧器用積層体すなわち変圧器用積層体の幅と少なくとも重なり合い、例えば、複数のカメラの調節は不要である。
具体的には、画像処理によって、合成画像から、変圧器用積層体の寸法及び/又は輪郭を判定してもよい。例えば、変圧器用積層体の長さ及び幅、各縁部の長さ、角度、開口直径、開口の間隔、積層体の湾曲、開口の位置、縁部の質、及び、切断の質のうちの少なくとも1つを測定又は判定してもよい。例えば、画像のグレー値を画像処理又は微分することによって、積層体縁部又は輪郭の検出を高精度で実施できる。さらに、変圧器用積層体の安定性及び表面の欠陥(例えば、損傷、キズ、穴、縁部の擦れ、等)を、1回の測定又は1回の測定サイクルによって、検出及び判定できる。
処理装置は、撮影された画像を、測定装置が撮影時点に移動方向において測定した、光学検出装置に対する変圧器用積層体の位置に関連付けてもよい。したがって、処理装置によって、撮像、撮像時刻、積層体の速度を同期させて、画像の画像データセットと測定された位置の位置データセットとを相互に対応付けることできる。
処理装置は、変圧器用積層体のコンポーネントデータセット中に、画像の画像データセット及び位置の測定データセットを保存してもよい。コンポーネントデータセットは、例えば、バーコード又は配色パターンを介して、変圧器用積層体に一意的に対応付け可能であるので、変圧器用積層体は、光学検出装置又は処理装置によって直ちに識別可能な状態にある。コンポーネントデータセットを使用して、機械におけるプロセス固有の構造基盤に検査システムを接続することもできる。したがって、コンポーネントデータを各変圧器用積層体に対応付けできることによって、品質保証及び後続の変圧器コア製造工程のための費用を削減できる。
さらに、処理装置は、画像の画像データセット及び位置の測定データセットに整合的なタイムスタンプを割り当ててもよい。タイムスタンプを有することで、変圧器用積層体の移動速度の相関的要素としての撮像時刻に、1つの画像を正確に対応付けることが保証される。さらには、タイムスタンプ付きの画像により可視化された変圧器用積層体の位置をマークして、必要に応じて、移動速度が変化した正確な時刻を判定及び保存することができる。
処理装置は、画像の画像データセット内の変圧器用積層体の個別の光学的マークを検出して、この光学的マークをコンポーネントデータセットに対応付けしてもよい。光学的マークは、例えば、変圧器用積層体の表面のバーコード又は配色パターンであってもよい。その代わりに、マーカー装置を使用して、測定済みの変圧器用積層体に光学的マークを付け、次に、欠陥分析にコンポーネントデータセットを対応付けてもよい。
処理装置が、複数の変圧器用積層体の形状に基づいて、変圧器コアを製造するための複数の変圧器用積層体の配置順序を決定することが好適である。測定された変圧器用積層体に対応付けられたコンポーネントデータは、適切なソフトウェアによって、変圧器コアにおける配置間隙を最小に維持するために使用できる。したがって、変圧器コアの電力損失を大幅に低減できる。よって、処理装置を、機械の半自動又は全自動コア積層システムに接続できる。各変圧器用積層体にマークが付されていると、変圧器用積層体の製造及び変圧器用積層体の変圧器コアへの組立を、別々の場所の複数の機械で、及び/又は、互いから完全に独立させて行うことができる。ここで重要な点は、変圧器用積層体のコンポーネントデータセットを積層システムに伝送することである。コンポーネントデータセットを使用して、機械内における変圧器用積層体のセット箇所での積層体の位置決めを最適化できる。
測定装置の位置センサ及び/又は距離センサは、変圧器用積層体の位置、移動完了までの距離及び/又は移動速度を、変圧器用積層体において直接測定できるようにする。運搬システムが摩擦を利用するシステムである場合には、コンベヤの設計によっては、変圧器用積層体と運搬システムとの間でスリップが起こる可能性がある。このようなスリップによって、移動速度の測定が不正確になる場合がある。例えば、コンベヤベルトの搬送速度は、エンコーダによって測定可能である。エンコーダは、コンベヤベルトの駆動部に配置され、速度プロファイルを生成する。さらに、表面センサを設けてもよい。表面センサは、表面の画像を基準画像と比較することで、コンベヤベルトの摩耗を継続的に検知するのに使用される。これにより変圧器用積層体と表面との間の摩擦係数の変化についての結論を導出することができる。位置センサ又は距離センサは、光学センサ又は機械的センサであってもよい。これらのセンサを使用して、変圧器用積層体の移動完了までの距離又は移動速度を測定できる。特に簡便な実施形態では、位置センサ又は距離センサは、回転輪を有していてもよい。この回転輪は変圧器用積層体に接触するので、変圧器用積層体の移動が回転輪に直接伝達される。さらに、例えば、複数の位置センサ又は複数の距離センサを設けて、変圧器用積層体の検査システムへの進入を検出するために、又は、変圧器用積層体の前端部及び後端部の位置を判定するために使用してもよい。したがって、変圧器用積層体の進入時には、変圧器用積層体の前端部を検出後、距離センサをオンにし、変圧器用積層体の後端部を検出後、距離センサをオフにしてもよい。
処理装置は、移動方向において光学検出装置よりも上流に配置された位置センサ及び/又は距離センサからの測定データを処理してもよく、次に、移動方向において光学検出装置よりも下流に配置された位置センサ及び/又は距離センサからの測定データを処理してもよい。したがって、位置センサ若しくは距離センサが光学検出装置の上流若しくは下流において変圧器用積層体と連動していない場合、又は、位置センサ若しくは距離センサが変圧器用積層体を検出できない場合には、無端のコンベヤの全長にわたって変圧器用積層体が載置されていなくてもよく、変圧器用積層体の終端領域と始端領域で速度が異なっていてもよい。位置センサ又は距離センサが光学検出装置の上流又は下流において変圧器用積層体と連動しておらず、かつ、変圧器用積層体を検出しない場合には、光学検出装置の上流のセンサか下流のセンサのいずれかを、変圧器用積層体を検出しなくなるまで、主要センサとして使用できる。この方法、すなわち、各センサを上記のように配置することにより、検査システムを、変圧器用積層体切断機に直接配置することができる。さらには、変圧器用積層体の一部がまだ機械の切断部において加工中であるために変圧器用積層体が停止又は一時停止した場合であっても、測定装置は、位置センサ又は距離センサを介して、変圧器用積層体を検出可能である。これにより、変圧器用積層体が前方に移動し続けるときに、変圧器用積層体の測定済み領域の正確な位置を利用して、測定を正確に継続することができる。さらに、切断機の様々な切断プログラム中の測定時に、変圧器用積層体を後退させることができる。この場合、処理装置は、測定結果に影響を与えることなく、変圧器用積層体の直近の測定位置を探して認識する。
形状の判定において、処理装置は、変圧器用積層体の一方の端部において測定された移動速度と、変圧器用積層体の反対側の端部において測定された移動速度との差異を考慮する場合、好ましくは、同時に、移動速度が変化した時刻も考慮することが特に好適である。これは、複数の位置センサ及び/又は複数の距離センサが、変圧器用積層体の位置データ又は距離データを同時に検出する場合に可能である。これらのデータは、処理装置によって同時処理され得る。これらの位置データ又は距離データは、処理装置によって組み合わせられて、移動速度が変化した正確な時刻が、その時刻における変圧器用積層体の位置とともに判定される。したがって、例えば、2つの別々のコンベヤベルトの使用に起因する移動速度の変化が、測定結果を歪ませることはできない。具体的には、移動方向における光学検出装置の上流及び下流において、速度調節を行うことができる。
さらに正確な測定結果を得るために、処理装置による形状の判定のために、変圧器用積層体の温度及び/又はコンベヤの温度を、それぞれの膨張率とともに測定及び考慮してもよい。例えば、温度センサが、進入する変圧器用積層体の温度を測定し、この温度値を処理装置に伝送してもよい。変圧器用積層体の温度値は、測定エリアの周囲温度又は所定の基準温度(例えば、試験エリアの温度)と比較した、温度に起因して起こる測定長さの変化の(判定の)ために使用できる。
処理装置による形状の判定時に、コンベヤのコンベヤベルトのベルト張力及び/又は摩擦係数を測定し、考慮することにより、測定結果の質をさらに向上させてもよい。例えば、コンベヤベルトのように可撓性のあるコンベヤの場合、テンショナを使用してベルト張力を増減させ、処理装置によってこのベルト張力が考慮されてもよい。ベルト張力の変化は、コンベヤベルトの摩擦係数を変化させ、これによって、コンベヤベルトの速度と移動する変圧器用積層体の速度とに差異が生じることがある。さらに、ベルト張力を測定する目的で、基準長さと比較して、伸長したコンベヤベルト長さを測定するセンサを設けてもよい。
さらに、既知の形状を有する変圧器用積層体の検査によって、検査システムの較正を行ってもよい。この場合、検査システムの運転前に、正確な積層体長さを有する変圧器用積層体の基準長さを測定し、周囲データ(例えば、温度、ベルト張力、ベルト表面の状態、周囲光、その他)を較正データとして処理装置に入力してもよい。例えば、規定の時間間隔で、停止中に変圧器用積層体の撮像を追加的に行うことによって、基準長さを再計算し、処理装置に入力してもよい。ここでは、変圧器用積層体の形状について非常に詳細な測定を行うことができ、測定精度が検査システムの測定精度よりも大幅に高くてもよい。光学検出装置の熱膨張率が、測定対象の変圧器用積層体の熱膨張率よりも低いと特に好適である。このようにすれば、温度が測定結果に及ぼし得る影響をさらに抑制することができる。また、較正時に使用される変圧器用積層体の既知の形状に係るコンポーネントデータを、変圧器用積層体切断機の較正にも使用することができる。
変圧器用積層体の欠陥を分析するための、創意工夫された検査システムは、検出ユニット、コンベヤ、及び処理装置を備える。検出ユニットは、光学検出装置を備え、コンベヤは、複数の変圧器用積層体を光学検出装置に対して連続的に搬送するために使用できる。光学検出装置は、変圧器用積層体の移動方向に交差するように、好ましくは直交するように配置されており、検出ユニットの測定装置によって、光学検出装置に対する変圧器用積層体の移動速度を測定可能である。光学検出装置を使用して、変圧器用積層体の輪郭の画像を撮影可能である。変圧器用積層体の移動速度を考慮しながら、処理装置によって、変圧器用積層体の複数の画像を変圧器用積層体の合成画像に整理統合することができる。処理装置によって、合成画像に基づき変圧器用積層体の形状を判定できる。創意工夫されたこの検査システムの効果は、上記の創意工夫された方法の効果の説明に記載されている。
光学検出装置は、ライン走査カメラを備えていてもよい。このライン走査カメラによって、変圧器用積層体の輪郭のライン走査画像を撮影可能である。ライン走査カメラは、1列に並べられた複数のラインセンサを備えるカメラであると理解されたい。1つのラインセンサが、1画素に対応していてもよい。ただし、ライン走査カメラは、平行な3列に並べられたラインセンサを備えていてもよい。この場合は、3列のうちの各列が、3原色(赤、緑、青)のカラーセンサである。ライン走査カメラは、レンズシステムを有していてもよく、屈曲率分布型レンズを有するCIS(contact−image−sensor)ライン走査カメラであってもよい。ここでは、ライン走査カメラは、変圧器用積層体の幅全体にわたる大きさであってもよい。言い換えれば、ライン走査カメラは、変圧器用積層体の幅に相当する長さを有していてもよい。好ましくは、変圧器用積層体に対して直角に又は直交するよう配向されたライン走査カメラは高解像であるので、処理装置は、画像処理を行うことで、輪郭の切断の質を検知及び評価することができる。さらに、1つのラインセンサのデータ量は、面走査カメラのデータ量に比べて大幅に小さいので、1つの変圧器用積層体の通過中にリアルタイムで、ライン走査カメラの画像を迅速に処理して合成画像を生成することができる。さらに、複数のライン走査カメラを適切に配置することにより(例えば、2つのライン走査カメラを、部分的に重なるように互いに中心をずらせて配置することにより)、1つのライン走査カメラを構成することもできる。画像処理中には、ライン走査カメラの配置が考慮され、これらのカメラによる複数の部分画像が合成画像に整理統合される。
光学検出装置は、投射装置を備えていてもよい。投射装置は、照明装置として構成可能であり、照明装置は、変圧器用積層体に光を投射するために使用可能である。変圧器用積層体の縁部のコントラストを改善し、輪郭の検出を容易にする目的で、光学検出装置には、光源を直接設けてもよい。ライン走査カメラが、中心を互いにずらして配置された複数のライン走査カメラにより構成されている場合には、投射装置も、これに対応して中心をずらして配置された複数の光源を有していてもよい。
測定装置は、変圧器用積層体の位置及び/又は移動速度を、変圧器用積層体において直接測定するための位置センサ及び/又は距離センサを備えていてもよい。変圧器用積層体の移動速度を測定するためには、特に、変圧器用積層体の凹部及び開口が測定に及ぼす影響が最小になるように、位置センサ又は距離センサを配置してもよい。例えば、位置センサ又は距離センサは、変圧器用積層体又はコンベヤの上方で水平方向摺動装置に配置してもよい。このようにすれば、コンベヤの中心又は移動方向の中心からずれた位置に配置することも可能になる。その代わりに、複数のセンサを、コンベヤの上方で、移動方向に交差するように配置してもよい。変圧器用積層体の到達を検知し、処理装置に信号を送る位置センサを設けてもよい。処理装置は、到達する変圧器用積層体のコンベヤ上での位置に応じて、水平方向摺動装置を介して距離センサを変圧器用積層体の上方で位置決めする。これと同時に、変圧器の合成画像の画像処理中に、位置センサの配設位置が処理装置によって考慮されてもよい。位置センサ又は距離センサが、変圧器用積層体に係る値を伝送しないときは、処理装置が、変圧器用積層体が各センサを通過した時刻を測定してもよい。したがって、移動方向における光学検出装置の上流及び下流に間隔をあけて、少なくとも距離センサが配置されていることが好適である。この間隔は、変圧器用積層体の長さ以下である。このようにすれば、変圧器用積層体が、少なくとも1つの距離センサによって確実に捉えられる。同時に、コンベヤは、測定対象の変圧器用積層体の2倍の長さであってもよい。
コンベヤは、1本のコンベヤベルト、2本のコンベヤベルト、又は、複数の運搬トロリを備えるよう設計されていてもよい。よって、コンベヤは、無端のコンベヤベルトを有していてもよい。コンベヤベルトは、光学検出装置の下方を通るよう配置されている。さらに、移動方向における光学検出装置よりも上流及び下流に、2本のコンベヤベルトを配置してもよい。その代わりに、コンベヤは、複数の運搬トロリを備えるように設計されていてもよい。運搬トロリは、1つ又は複数の変圧器用積層体を受容し、変圧器用積層体を運搬して光学検出装置を通過させる。変圧器用積層体は、運搬トロリに載置されるので、変圧器用積層体とコンベヤの間にはスリップが起こることはない。コンベヤが1本のコンベヤベルトを備える限りにおいて、測定装置が、コンベヤベルト又は運搬トロリの位置、移動完了までの距離、及び/又は運搬速度を直接測定するための位置センサ及び/又は距離センサを備えることが好適である。運搬トロリを使用する場合であっても、載置にずれが起こることがあるので、位置センサ又は距離センサの使用は好適である。
具体的には、少なくとも1つの位置センサ及び/又は少なくとも1つの距離センサは、移動方向において、光学検出装置よりも上流及び下流に配置可能である。コンベヤが、光学検出装置によって分離されるように設計されている場合、コンベヤベルトの摩擦係数が互いに異なること、及び、摩耗が異なることが、例えば、速度の違いとなる可能性がある。速度の違いは、対応する位置センサ又は距離センサを使用して捉えることができる。例えば、1つの位置センサ又は1つの距離センサを、光学検出装置の上流側のコンベヤベルト用に設け、別の位置センサ又は別の距離センサを、光学検出装置の下流側のコンベヤベルト用に設けることができる。これらのセンサは、変圧器用積層体の進入又は退出、及び速度を検出できる。内側伝動部が設けられていないコンベヤベルトでは、検出対象の変圧器用積層体の移動速度を、光学検出装置の上流及び下流の両方で検出できる。
コンベヤベルトを、コンベヤベルトの摩擦係数を増大させるための磁石を備えるよう設計することが好適である。コンベヤベルト上の変圧器用積層体の摩擦係数を増大させる目的で、磁石をコンベヤベルトに一体的に設けるか、コンベヤベルトの下に配置することができる。
コンベヤベルトを、コンベヤベルトの駆動プーリと係合可能な伝動部を備えるよう設計してもよい。伝動部によって、コンベヤベルトの駆動プーリとコンベヤベルトとの間のスリップを抑制することができる。さらに、ベルトの伸長及び温度差に起因して起こり得る測定誤差を、伝動部の歯を検出するセンサを介して考慮してもよい。このようなセンサは、コンベヤベルトの内側伝動部の歯面を検知するエンコーダであってもよい。エンコーダを使用して、コンベヤベルトの速度を比較的高精度で検出することもできる。
コンベヤベルトは、変圧器用積層体をコンベヤベルト上で位置合わせするためのセンタリング装置を備えていてもよい。このセンタリング装置によって、到達する変圧器用積層体を概ね移動方向に位置合わせすることができる。センタリング装置は、ガイド要素から構成されていてもよい。ガイド要素は、光学検出装置の経路を、可能な限り移動方向に平行に、かつ、光学検出装置に直角に配向されるよう規定する。平行経路で光学検出装置に進入しない変圧器用積層体は、処理装置において行われる画像処理を介して、直線経路に再計算することができる。
代替的実施形態では、運搬トロリは、変圧器用積層体を保持するための真空カップ及び/又は磁石を有するよう設計されていてもよい。運搬トロリは、コンベヤの直線駆動部を介して可動であってもよい。直線駆動部には、複数の可動運搬トロリを配置してもよい。光学検出装置の下方の点を通過した変圧器用積層体を運搬する目的で、直線駆動部は、回転駆動部として構成されていてもよい。変圧器用積層体は、真空カップ及び/又は磁石、又は乾式接着(dry adhesion)を利用して、運搬トロリの所定位置に一時的に固定できる。個々の真空カップ又は磁石は、少なくとも2つ1組で運搬トロリに取り付けられていてもよい。運搬トロリは、機械的にだけでなく、電気的又は空圧的に、移動方向に直線運動することができる。測定対象の変圧器用積層体の必要な送出し速度に対応して、運搬トロリの速度を可変に調節できる。運搬トロリを、隣接するトロリ同士が並行して動くように、配置及び設定することもできる。さらに、1つの運搬トロリから隣の運搬トロリへの搬送を、運搬トロリの運行中、すなわち、運搬中に、運搬されている変圧器用積層体の速度を変更することなく、行うこともできる。運搬トロリは、前進及び後進させることができ、これによって、真空カップ及び/又は磁石が、対応する変圧器用積層体を所定場所で解放又は固定する。
さらに、例えば、到達する変圧器用積層体の実際の温度を検知して、その温度を処理装置に伝送する目的で、測定装置は、変圧器用積層体及び/又はコンベヤの温度を検知するための温度センサを備えていてもよい。
検査システムの他の好適な実施形態は、請求項1を引用する従属請求項の特徴の説明に記載されている。
第1の実施形態に係る変圧器用積層体の上面図である。 第2の実施形態に係る変圧器用積層体の上面図である。 第3の実施形態に係る変圧器用積層体の上面図である。 第4の実施形態に係る変圧器用積層体の上面図である。 第5の実施形態に係る変圧器用積層体の上面図である。 図5の詳細を示す図である。 第1の実施形態に係る検査システムの、図8中の線VIIーVIIに沿った断面図である。 検査システムの、図7中の線VIIIーVIIIに沿った断面図である。 図7に示す検査システムの上面図である。 第2の実施形態に係る検査システムが、第1工程にある状態を示す断面図である。 検査システムが、第2工程にある状態を示す断面図である。 検査システムが、第3工程にある状態を示す断面図である。 第3の実施形態に係る検査システムを示す断面図である。 第4の実施形態に係る検査システムを示す断面図である。 第5の実施形態に係る検査システムを示す断面図である。
以下、本発明の好ましい実施形態を、添付の図面を参照してより詳細に説明する。
図1は、変圧器用積層体10の上面図である。変圧器用積層体10の形状は、主に、輪郭11及びここで詳述しない寸法によって決定される。輪郭11及び寸法は、変圧器用積層体10の形状を決定する要素である。
図2に示す変圧器用積層体12は、わずかに湾曲するよう切断された輪郭13を有する。
図3に示す変圧器用積層体14は、長手方向軸15と、この長手方向軸15上に位置する穿孔16とを有する。この変圧器用積層体14には、長穴17が設けられている。長穴17は、長手方向軸15に対し、角度αだけ中心がずれている。
図4に示す変圧器用積層体18には、開口19が不規則に設けられている。
図5及び図6に示す変圧器用積層体20は、切断端部21と穿孔22とを有する。穿孔22の内側縁部23は不十分に切断された状態である。
この例では、図1〜図6に示す変圧器用積層体の示す特徴は、各変圧器用積層体の形状を決定する要素であり、これらの特徴は以下に説明する検査システムによって判定又は測定できる。
図7〜図9は、変圧器用積層体25の欠陥を検出するための検査システム24を示す全体図である。検査システム24は、検出ユニット26、コンベヤ27、及び、処理装置28を備える。検出ユニット26は、ライン走査カメラ29及び照明装置30により構成されている。このライン走査カメラ29と照明装置30とが、光学検出装置31を構成している。具体的には、光学検出装置31は、変圧器用積層体25の移動方向(矢印32で示す)に交差又は直交するように配置されている。照明装置30が発した光は、ライン走査カメラ29に当たる。ライン走査カメラ29は、撮像を行うことによって、ライン走査カメラ29と照明装置30との間に挿入された変圧器用積層体25の輪郭33を検出できる。処理装置28は、連写された複数の画像を整理統合して、変圧器用積層体25の合成画像を生成する。この合成画像を使用して、変圧器用積層体25の形状を判定又は測定することができる。
コンベヤ27は、無端のコンベヤベルト34を含み、このコンベヤベルト34は、伝動部35を備え、伝動部35は、駆動プーリ36,37,38及び39のうちの少なくとも1つと係合する。また、検出ユニット26の測定装置40が設けられている。この測定装置40を使用して、光学検出装置31に対する、変圧器用積層体25の移動速度を測定できる。具体的に、測定装置40は、変圧器用積層体25の移動完了までの距離を測定するための2つの距離センサ41を備える。測定装置40は、変圧器用積層体25の検出に使用される2つの位置センサ42をさらに備える。コンベヤベルト34のベルト張力は、測定装置40のセンサ43により測定される。エンコーダ44は、伝動部35の歯をカウントして、コンベヤベルト34の搬送速度を測定する。さらに、測定装置40は、変圧器用積層体25の実際の温度を測定するための温度センサ45を備える。また、コンベヤベルト34には、コンベヤベルト34の表面47を測定又は検査するためのセンサ46が設けられている。
光学検出装置31は、駆動プーリ37同士の間の中央に、相対間隔aをあけて配置されている。2つの距離センサ41も、駆動プーリ37からそれぞれ同じ相対間隔bをあけて配置されている。変圧器用積層体25の全長Lは、長さ(2a+2b)以下である。したがって、変圧器用積層体25は、常時、距離センサ41の一方により検知される。距離センサ41は、光学センサ又は機械的センサであってもよい。各距離センサ41は、回転輪48を有していてもよい。なお、回転輪48は、例示に過ぎない。
処理装置28は、画像処理ユニット49及び測定値処理ユニット50を備える。画像処理ユニット49及び測定値処理ユニット50は、変圧器コアの製造機のSPSシステム51に接続可能である。また、各変圧器用積層体25のコンポーネントデータセットを処理するデータベース52を、SPSシステム51に接続することができる。
センタリング装置53は、変圧器用積層体25をコンベヤベルト34に配置するよう構成されている。センタリング装置53は、コンベヤ27のスライドパネル54に配置され、変圧器用積層体25が確実に光学検出装置31に実質的にまっすぐに進入するようにしている。
図10a〜図10cは、検査システム55の全体図である。図7〜図9に示した検査システムとは異なり、検査システム55は、2本のコンベヤベルト57を有するコンベヤ56を備える。距離センサ58は、回転輪59によって、変圧器用積層体25に対して移動可能であり、光学検出装置31から対応する間隔cをあけて配置されている。これにより、回転輪59と変圧器用積層体25との接触によって、搬入用コンベヤベルト57の速度v1と搬出用コンベヤベルト57の速度v2とを別々に測定できる。
図11は、検査システム60の断面図である。検査システム60は、コンベヤベルト61と、コンベヤベルト61の下方に設けられた磁石62とを備える。磁石62は、その磁力によって、変圧器用積層体63をコンベヤベルト61の表面64に引き付けて、スリップを低減することができる。
図12には、検査システム65を示す。この検査システム65のコンベヤ66は、直線駆動部68に沿って移動可能な複数の運搬トロリ67を備える。各運搬トロリ67には真空カップ69が配置されている。真空カップ69によって、変圧器用積層体70を所定位置に固定して運搬することができる。この例では、運搬トロリ67間で、変圧器用積層体70の搬送を行うことができる。
図13には、コンベヤ72を備える検査システム71を示す。このコンベヤ72は、磁石74を有する運搬トロリ73を備えている。運搬トロリ73は、回転直線駆動部75に沿って可動である。磁石74は、電気的にオン・オフされて、変圧器用積層体76を所定位置に固定する。

Claims (25)

  1. 検査システム(24,55,60,65,71)を使用して、変圧器用積層体の欠陥を分析する方法であって、
    上記検査システム(24,55,60,65,71)は、検出ユニット(26)、コンベヤ(27,56,66,72)、及び処理装置(28)を備え、
    上記検出ユニット(26)は、光学検出装置(31)を備え、
    上記コンベヤ(27,56,66,72)を使用して、複数の変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)を前記光学検出装置(31)に対して連続的に搬送し、
    前記光学検出装置(31)は、変圧器用積層体の移動方向に交差するように、好ましくは直交するように配置されており、
    前記検出ユニット(26)の測定装置(40)によって、前記光学検出装置(31)に対する変圧器用積層体の移動速度を測定し、
    前記光学検出装置(31)を使用して、変圧器用積層体の輪郭(11,13,33)の画像を撮影し、
    変圧器用積層体の移動速度を考慮して、前記処理装置(28)によって、前記変圧器用積層体の複数の画像を、前記変圧器用積層体の合成画像に整理統合し、
    前記処理装置(28)によって、前記合成画像に基づいて前記変圧器用積層体の形状を判定する
    ことを特徴とする方法。
  2. 請求項1に記載の方法において、
    前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の寸法及び/又は輪郭(11,13,33)を、前記合成画像に基づき、画像処理によって判定する
    ことを特徴とする方法。
  3. 請求項1又は2に記載の方法において、
    前記処理装置(28)は、撮影された前記画像を、前記測定装置(40)が撮影時点に前記移動方向において測定した、前記光学検出装置(31)に対する前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の位置に関連付ける
    ことを特徴とする方法。
  4. 請求項3に記載の方法において、
    前記処理装置(28)は、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)のコンポーネントデータセットの中に、前記画像の画像データセット及び前記位置の測定データセットを保存する
    ことを特徴とする方法。
  5. 請求項4に記載の方法において、
    前記処理装置(28)は、前記画像の前記画像データセット及び前記位置の前記測定データセットに、整合的なタイムスタンプを割り当てる
    ことを特徴とする方法。
  6. 請求項4又は5に記載の方法において、
    前記処理装置(28)は、前記画像の前記画像データセット内の前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の個別の光学的マークを検出して、前記光学的マークを前記コンポーネントデータセットに対応付けできる
    ことを特徴とする方法。
  7. 請求項1から6のいずれか1項に記載の方法において、
    前記処理装置(28)は、複数の変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の形状に基づいて、変圧器コアを製造するための前記複数の変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の配置順序を決定する
    ことを特徴とする方法。
  8. 請求項1から7のいずれか1項に記載の方法において、
    前記測定装置(40)の位置センサ(42)及び/又は距離センサ(41)を使用して、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の位置、移動完了までの距離及び/又は移動速度を、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)において直接測定する
    ことを特徴とする方法。
  9. 請求項1から8のいずれか1項に記載の方法において、
    前記処理装置(28)は、前記移動方向において前記光学検出装置(31)よりも上流に配置された位置センサ(42)及び/又は距離センサ(41)からの測定データを処理し、次に、前記移動方向において前記光学検出装置(31)よりも下流に配置された位置センサ(42)及び/又は距離センサ(41)からの測定データを処理する
    ことを特徴とする方法。
  10. 請求項1から9のいずれか1項に記載の方法において、
    前記形状の判定において、前記処理装置(28)によって、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の一方の端部(21)において測定された移動速度と、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の反対側の端部において測定された移動速度との差異が考慮され、好ましくは、このとき、移動速度が変化した時刻も考慮される
    ことを特徴とする方法。
  11. 請求項1から10のいずれか1項に記載の方法において、
    前記処理装置(28)による前記形状の判定のために、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の温度及び/又はコンベヤ(27,56,66,72)の温度が、それぞれの膨張率とともに測定及び考慮される
    ことを特徴とする方法。
  12. 請求項1から11のいずれか1項に記載の方法において、
    前記処理装置(28)による前記形状の判定のために、前記コンベヤ(27,56,66,72)のコンベヤベルト(34,57,61)のベルト張力及び/又は摩擦係数が測定及び考慮される
    ことを特徴とする方法。
  13. 請求項1から12のいずれか1項に記載の方法において、
    既知の形状を有する変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の検査を介して、前記検査システム(24,55,60,65,71)の較正を行う
    ことを特徴とする方法。
  14. 変圧器用積層体の欠陥を分析するための検査システム(24,55,60,65,71)であって、
    前記検査システム(24,55,60,65,71)は、検出ユニット(26)、コンベヤ(27,56,66,72)、及び処理装置(28)を備え、
    前記検出ユニット(26)は、光学検出装置(31)を備え、
    前記コンベヤ(27,56,66,72)は、複数の変圧器用積層体を前記光学検出装置(31)に対して連続的に搬送するために使用され、
    前記光学検出装置(31)は、前記変圧器用積層体の移動方向に交差するように、好ましくは直交するように配置されており、
    前記検出ユニット(26)の測定装置(40)によって、前記光学検出装置(31)に対する前記変圧器用積層体の移動速度が測定され、
    前記光学検出装置(31)を使用して、前記変圧器用積層体の輪郭の画像が撮影され、
    前記変圧器用積層体の前記移動速度を考慮しながら、前記処理装置(28)によって、前記変圧器用積層体の複数の画像が、前記変圧器用積層体の合成画像に整理統合され、
    前記処理装置(28)によって、前記合成画像に基づいて、前記変圧器用積層体の形状が判定される
    ことを特徴とする検査システム。
  15. 請求項14に記載の検査システムにおいて、
    前記光学検出装置(31)は、ライン走査カメラ(29)を備え、
    前記ライン走査カメラ(29)を使用して、変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の輪郭(11,13,33)のライン走査画像を撮影可能である
    ことを特徴とする検査システム。
  16. 請求項14又は15に記載の検査システムにおいて、
    前記光学検出装置(31)は、投射装置を備え、
    前記投射装置は、照明装置(30)として構成可能であり、前記照明装置(30)を使用して、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)に光を投射可能である
    ことを特徴とする検査システム。
  17. 請求項14から16のいずれか1項に記載の検査システムにおいて、
    前記測定装置(40)は、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の位置、移動完了までの距離及び/又は移動速度を、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)において直接測定するための、位置センサ(42)及び/又は距離センサ(41)を備える
    ことを特徴とする検査システム。
  18. 請求項14から17のいずれか1項に記載の検査システムにおいて、
    前記コンベヤ(27,56,66,72)は、1本のコンベヤベルト(34)、2本のコンベヤベルト(57,61)、又は、複数の運搬トロリ(67,73)を備えるよう設計されている
    ことを特徴とする検査システム。
  19. 請求項18に記載の検査システムにおいて、
    前記測定装置(40)は、コンベヤベルト(34,57,61)又は前記運搬トロリ(67,73)の位置、移動完了までの距離及び/又は運搬速度を測定するための、位置センサ(42)及び/又は距離センサ(41)を備える
    ことを特徴とする検査システム。
  20. 請求項19に記載の検査システムにおいて、
    少なくとも1つの位置センサ(42)及び/又は少なくとも1つの距離センサ(41)は、前記移動方向において、前記光学検出装置(31)よりも上流及び下流に配置可能である
    ことを特徴とする検査システム。
  21. 請求項18から20のいずれか1項に記載の検査システムにおいて、
    前記コンベヤベルト(34,57,61)は、前記コンベヤベルト(34,57,61)の摩擦係数を増大させるための磁石(62)を備えるよう設計されている
    ことを特徴とする検査システム。
  22. 請求項18から21のいずれか1項に記載の検査システムにおいて、
    前記コンベヤベルト(34,57,61)は、前記コンベヤベルトの駆動プーリ(36,37,38,39)と係合可能な伝動部(35)を備える
    ことを特徴とする検査システム。
  23. 請求項18から22のいずれか1項に記載の検査システムにおいて、
    前記コンベヤベルト(34,57,61)は、前記変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)を前記コンベヤベルトの上で位置合わせするためのセンタリング装置(53)を備える
    ことを特徴とする検査システム。
  24. 請求項18から20のいずれか1項に記載の検査システムにおいて、
    前記運搬トロリ(67,73)は、前記変圧器用積層体を保持するための真空カップ(69)及び/又は磁石(62,74)を備えるよう設計されており、
    前記運搬トロリ(67,73)は、前記コンベヤ(66,72)の直線駆動部(68,75)を介して可動である
    ことを特徴とする検査システム。
  25. 請求項14から24のいずれか1項に記載の検査システムにおいて、
    前記測定装置(40)は、変圧器用積層体(10,12,14,18,20,25)の温度及び/又は前記コンベヤ(27,56,66,72)の温度を検知するための温度センサ(45)を備える
    ことを特徴とする検査システム。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7516422B2 (ja) * 2019-05-15 2024-07-16 コーニング インコーポレイテッド 縁部強度試験方法及び装置
JP7151636B2 (ja) * 2019-06-14 2022-10-12 東芝三菱電機産業システム株式会社 データ収集装置
CN112304292B (zh) * 2019-07-25 2023-07-28 富泰华工业(深圳)有限公司 基于单色光的物体检测方法及检测系统
EP4045445B1 (en) * 2019-10-16 2024-12-04 Pirelli Tyre S.p.A. Method and apparatus for dosing a continuous elongated element
CN111239139B (zh) * 2020-01-21 2020-11-03 珠海锐翔智能科技有限公司 双工位fpc补材偏移、重贴/漏贴检查机
US12014513B2 (en) * 2020-02-28 2024-06-18 United States Postal Service System and methods for automatic determination of item dimensions based on a stored known dimension of a standard size element
JP7251523B2 (ja) * 2020-06-15 2023-04-04 トヨタ自動車株式会社 積層状態算出方法、積層状態算出装置及び積層状態算出プログラム
KR20220053342A (ko) * 2020-10-22 2022-04-29 주식회사 엘지에너지솔루션 용접봉 정상여부를 측정하는 용접봉 검사장치 및 이를 이용한 검사방법
CN113280759B (zh) * 2021-04-20 2022-04-08 南京航空航天大学 一种过载模拟转台及转轴同轴度检测校准装置
CN113210301B (zh) * 2021-06-02 2022-07-01 四川经纬达科技集团有限公司 一种电源变压器生产设备及生产工艺
KR102740556B1 (ko) * 2022-04-25 2024-12-10 주식회사 코리아문화랜드 놀이시설 트롤리용 인라인 안전점검 시스템
US20230391571A1 (en) * 2022-06-06 2023-12-07 Honeywell International Inc. Machine Direction Position Profile Measurement in Sheet Manufacturing Systems
DE102023207705A1 (de) 2023-08-10 2025-02-13 Volkswagen Aktiengesellschaft Blechbearbeitungsvorrichtung mit einer Zuführeinrichtung und ein Verfahren zur Anwendung bei der Blechbearbeitungsvorrichtung
CN117831932B (zh) * 2024-01-13 2024-08-16 江苏晨日环保科技有限公司 一种便于计数的硅钢片自动叠装生产设备及其生产方法
CN117921450B (zh) * 2024-03-21 2024-05-24 成都晨航磁业有限公司 一种瓦形磁体生产加工方法

Citations (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5922747A (ja) * 1982-07-30 1984-02-06 新日本製鐵株式会社 金属磁性材料の箔帯からなる積層体の製造方法
JPH03248047A (ja) * 1990-12-13 1991-11-06 Kanebo Ltd 被搬送物検査方法およびその装置
JPH0416370A (ja) * 1990-05-10 1992-01-21 Brother Ind Ltd プリンタの紙送り機構
JPH04260517A (ja) * 1991-02-14 1992-09-16 Daito Denki Kk 円形偏平物品の検査装置
JPH0627040A (ja) * 1992-07-08 1994-02-04 Toyo Seikan Kaisha Ltd ウエブの検査方法
JPH07209207A (ja) * 1994-01-21 1995-08-11 Japan Tobacco Inc エンドレスシートの不良個所検査装置
JPH08136463A (ja) * 1994-11-10 1996-05-31 Taiyo Yuden Co Ltd 外観検査装置
JPH08338815A (ja) * 1995-06-14 1996-12-24 Kirin Brewery Co Ltd びん検査装置及びびん検査方法
JP2001334545A (ja) * 2000-05-25 2001-12-04 Mitsubishi Plastics Ind Ltd 連続プレス成形品の表面汚れ検出方法及び装置
JP2002080121A (ja) * 2000-09-04 2002-03-19 Mitsubishi Cable Ind Ltd シール材供給装置
JP2006170669A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 青果物の品質検査装置
JP2006208297A (ja) * 2005-01-31 2006-08-10 Jfe Steel Kk 鋼板の平面形状計測方法および装置
JP2008224347A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Nissin Kogyo Co Ltd 製品検査方法
JP2010085347A (ja) * 2008-10-02 2010-04-15 Edm Kk 画像検査システム
US20100260378A1 (en) * 2007-03-06 2010-10-14 Advanced Vision Technology (Avt) Ltd. System and method for detecting the contour of an object on a moving conveyor belt
JP2012194025A (ja) * 2011-03-16 2012-10-11 Hioki Ee Corp 基板外観検査装置における基板幅寄せ搬送機構
JP2014215233A (ja) * 2013-04-26 2014-11-17 橋本電機工業株式会社 単板の選別堆積装置及び単板選別方法
JP2015064217A (ja) * 2013-09-24 2015-04-09 アイマー・プランニング株式会社 缶検査装置
WO2016121878A1 (ja) * 2015-01-29 2016-08-04 株式会社デクシス 光学式外観検査装置、及びこれを用いた光学式外観検査システム
JP2016142725A (ja) * 2015-02-05 2016-08-08 株式会社アーレスティ ねじ検査装置
JP2017173168A (ja) * 2016-03-24 2017-09-28 日本ゼオン株式会社 異物の検出方法、異物の検出装置、エラストマーの製造方法およびエラストマーの製造装置

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60106610A (ja) * 1983-07-06 1985-06-12 Kobe Steel Ltd 圧延材のキャンバ制御方法
DE3400981A1 (de) * 1984-01-13 1985-10-03 MWB Messwandler-Bau AG, 8600 Bamberg Vorrichtung zum schichten von eisenkernen aus einzelblechen
DE3931673A1 (de) * 1989-09-22 1991-04-04 Pfaff Ag G M Verfahren und vorrichtung zum zusammenfuehren, ausrichten und gemeinsamen verarbeiten von biegeschlaffen werkstuecklagen
JPH0736001B2 (ja) * 1990-10-31 1995-04-19 東洋ガラス株式会社 びんの欠陥検査方法
JP2559551B2 (ja) * 1992-07-31 1996-12-04 セントラル硝子株式会社 透明板状体の平面歪測定装置
DE19817824A1 (de) * 1998-04-21 1999-10-28 Focke & Co Vorrichtung zum Prüfen von Einheiten aus mehreren Einzelgegenständen, Materiallagen oder dergleichen
KR100458048B1 (ko) * 1999-03-18 2004-11-18 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 결함 마킹방법 및 장치
CA2297879A1 (en) * 2000-02-03 2001-08-03 Comact Optimisation Inc. Apparatus and method for determining the shape of a piece in movement
JP4991365B2 (ja) * 2007-03-29 2012-08-01 カヤバ工業株式会社 寸法測定装置及び寸法測定方法
DE102008017270B3 (de) * 2008-04-04 2009-06-04 Federal-Mogul Burscheid Gmbh Strukturierte Chrom-Feststoffpartikel-Schicht und Verfahren zu deren Herstellung sowie beschichtetes Maschinenelement
CN101561948A (zh) * 2008-04-17 2009-10-21 中国印钞造币总公司 一种硬币质量自动检测装置
JP2010048745A (ja) * 2008-08-25 2010-03-04 Asahi Glass Co Ltd 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法
US8502180B2 (en) * 2009-01-26 2013-08-06 Centre De Recherche Industrielle Du Quebec Apparatus and method having dual sensor unit with first and second sensing fields crossed one another for scanning the surface of a moving article
US8193481B2 (en) * 2009-01-26 2012-06-05 Centre De Recherche Industrielle De Quebec Method and apparatus for assembling sensor output data with data representing a sensed location on a moving article
US20110024051A1 (en) * 2009-03-20 2011-02-03 Sanford Kyle L Automated lamination stacking system for a transformer core former
JP5210998B2 (ja) * 2009-08-31 2013-06-12 レイリサーチ株式会社 シリコンウエハー検査装置
US20110141269A1 (en) * 2009-12-16 2011-06-16 Stephen Michael Varga Systems And Methods For Monitoring On-Line Webs Using Line Scan Cameras
TWM386312U (en) * 2010-02-12 2010-08-11 zhi-dong Lin Composite module for pavement flatness inspection and image capturing
JP2011211678A (ja) * 2010-03-12 2011-10-20 Omron Corp 画像処理装置および画像処理プログラム
EP2375243B1 (de) * 2010-04-08 2023-06-07 Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg Thermografisches Prüfverfahren und Prüfvorrichtung zur Durchführung des Prüfverfahrens
JP2012163370A (ja) * 2011-02-03 2012-08-30 Hitachi High-Technologies Corp インライン基板検査方法及び装置
TWI442047B (zh) * 2012-09-18 2014-06-21 Quanta Comp Inc 動態取像系統
KR101342113B1 (ko) * 2013-07-04 2014-01-03 (주)유피아이 비전장치를 이용한 변압기용 코어 치수측정장치
DE202013105825U1 (de) * 2013-12-19 2014-01-22 Karl Eugen Fischer Gmbh Spleißvorrichtung zum Spleißen von Cordbandstreifen
CN104267041B (zh) * 2014-09-12 2017-02-15 北京慧眼智行科技有限公司 高速印刷品在线检测系统及检测方法
DE102015203221B3 (de) * 2015-02-23 2016-06-09 Schuler Automation Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Korrektur eines vorgegebenen Schneidwegs zum Schneiden einer Blechplatine
JP6694771B2 (ja) * 2016-07-01 2020-05-20 株式会社三井ハイテック 積層鉄心及びその製造方法
CN206013644U (zh) * 2016-08-18 2017-03-15 青岛华夏橡胶工业有限公司 一种磁力输送带及磁力线性驱动装置

Patent Citations (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5922747A (ja) * 1982-07-30 1984-02-06 新日本製鐵株式会社 金属磁性材料の箔帯からなる積層体の製造方法
JPH0416370A (ja) * 1990-05-10 1992-01-21 Brother Ind Ltd プリンタの紙送り機構
JPH03248047A (ja) * 1990-12-13 1991-11-06 Kanebo Ltd 被搬送物検査方法およびその装置
JPH04260517A (ja) * 1991-02-14 1992-09-16 Daito Denki Kk 円形偏平物品の検査装置
JPH0627040A (ja) * 1992-07-08 1994-02-04 Toyo Seikan Kaisha Ltd ウエブの検査方法
JPH07209207A (ja) * 1994-01-21 1995-08-11 Japan Tobacco Inc エンドレスシートの不良個所検査装置
JPH08136463A (ja) * 1994-11-10 1996-05-31 Taiyo Yuden Co Ltd 外観検査装置
JPH08338815A (ja) * 1995-06-14 1996-12-24 Kirin Brewery Co Ltd びん検査装置及びびん検査方法
JP2001334545A (ja) * 2000-05-25 2001-12-04 Mitsubishi Plastics Ind Ltd 連続プレス成形品の表面汚れ検出方法及び装置
JP2002080121A (ja) * 2000-09-04 2002-03-19 Mitsubishi Cable Ind Ltd シール材供給装置
JP2006170669A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 青果物の品質検査装置
JP2006208297A (ja) * 2005-01-31 2006-08-10 Jfe Steel Kk 鋼板の平面形状計測方法および装置
US20100260378A1 (en) * 2007-03-06 2010-10-14 Advanced Vision Technology (Avt) Ltd. System and method for detecting the contour of an object on a moving conveyor belt
JP2008224347A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Nissin Kogyo Co Ltd 製品検査方法
JP2010085347A (ja) * 2008-10-02 2010-04-15 Edm Kk 画像検査システム
JP2012194025A (ja) * 2011-03-16 2012-10-11 Hioki Ee Corp 基板外観検査装置における基板幅寄せ搬送機構
JP2014215233A (ja) * 2013-04-26 2014-11-17 橋本電機工業株式会社 単板の選別堆積装置及び単板選別方法
JP2015064217A (ja) * 2013-09-24 2015-04-09 アイマー・プランニング株式会社 缶検査装置
WO2016121878A1 (ja) * 2015-01-29 2016-08-04 株式会社デクシス 光学式外観検査装置、及びこれを用いた光学式外観検査システム
JP2016142725A (ja) * 2015-02-05 2016-08-08 株式会社アーレスティ ねじ検査装置
JP2017173168A (ja) * 2016-03-24 2017-09-28 日本ゼオン株式会社 異物の検出方法、異物の検出装置、エラストマーの製造方法およびエラストマーの製造装置

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