KR100898653B1 - 플래시 메모리 소자 및 프로그램 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
복수의 비트 라인 쌍들과 복수의 워드라인들에 각각 연결되는 복수의 메모리 셀들을 포함하는 메모리 셀 어레이; 데이터 입출력 버스를 통해 제공되는 명령에 응답하여 프로그램할 데이터를 입력받아 상기 주변회로부로 제공하는 입출력 제어부; 상기 입출력 제어부가 프로그램을 위한 데이터를 입력받는 것과 동시에 프로그램을 위한 전압 셋업 동작을 수행하는 제어신호를 제어버스를 통해 출력하는 제어부; 및 상기 제어부가 제어버스로 출력하는 제어신호에 응답하여 상기 메모리 셀 어레이에 데이터를 프로그램하거나, 상기 메모리 셀 어레이에 저장된 데이터를 독출하기 위한 주변 회로부를 포함한다.
프로그램 명령에 응답하여 컬럼 및 로우 어드레스를 입력받고, 상기 로우 어드레스에 따른 로우 전압 셋업과, 블록 선택 및 워드라인 전압 셋업을 수행하는 단계; 상기 로우 전압 셋업과, 블록 선택 및 워드라인 전압 셋업을 수행과 동시에 라이트 인에이블 바 신호에 응답하여 프로그램할 데이터를 페이지 버퍼에 저장하는 단계; 및 상기 전압 셋업과 페이지 버퍼에 프로그램할 데이터를 저장하는 동작이 완료되면, 프로그램 동작을 수행하는 단계를 포함한다.
Claims (10)
- 복수의 비트 라인 쌍들과 복수의 워드라인들에 각각 연결되는 복수의 메모리 셀들을 포함하는 메모리 셀 어레이;데이터 입출력 버스를 통해 제공되는 명령에 응답하여 프로그램할 데이터를 입력받는 입출력 제어부;상기 입출력 제어부가 프로그램을 위한 데이터를 입력받는 것과 동시에 프로그램을 위한 전압 셋업 동작을 수행하는 제어신호를 제어버스를 통해 출력하는 제어부; 및상기 제어부가 제어버스로 출력하는 제어신호에 응답하여 상기 메모리 셀 어레이에 상기 입출력 제어부로부터 제공된 데이터를 프로그램하거나, 상기 메모리 셀 어레이에 저장된 데이터를 독출하기 위한 주변 회로부를 포함하는 플래시 메모리 소자.
- 제 1항에 있어서,상기 주변 회로부는,상기 입출력 제어부를 통해 입력되는 어드레스에 따라 상기 메모리 셀 어레이의 워드라인을 선택하는 X 디코더;상기 메모리 셀에 데이터를 프로그램하거나, 독출 하는 동작을 위한 동작 전압을 제공하는 전압 제공부;상기 복수개의 비트라인 쌍들에 각각 하나씩 대응되게 배치되어, 상기 메모 리 셀들에 데이터를 프로그램하거나, 상기 메모리 셀에 저장된 데이터를 독출 하는 복수개의 페이지 버퍼 회로들; 및상기 복수의 페이지 버퍼 회로들 각각에 하나씩 대응하게 연결되고, 데이터 입출력 라인에 더 연결되어 프로그램할 데이터를 상기 페이지 버퍼 회로에 전송하거나, 상기 페이지 버퍼 회로로부터 전송되는 독출 데이터를 데이터 입출력라인으로 출력하는 Y 디코더 회로들을 포함하는 플래시 메모리 소자.
- 제 1항에 있어서,상기 입출력 제어부는,프로그램 동작을 위하여,프로그램 동작 명령 코드와, 프로그램을 수행할 메모리 셀의 어드레스 정보와, 상기 메모리 셀에 프로그램할 데이터를 입력받는 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 소자.
- 제 3항에 있어서,상기 어드레스 정보는 컬럼 어드레스 정보와 로우 어드레스 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 소자.
- 제 3항에 있어서,상기 제어부는,상기 입출력 제어부가 수신한 상기 어드레스 정보를 이용하여 프로그램동작을 위한 전압 셋업을 제어하는 제어신호를 상기 제어버스로 출력하는 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 소자.
- 제 5항에 있어서,상기 전압 셋업 동작은,상기 어드레스 정보에 포함되는 로우 어드레스 정보를 이용하여 로우 전압과 워드라인 전압 셋업을 수행하는 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 소자.
- 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법에 있어서,프로그램 명령에 응답하여 컬럼 및 로우 어드레스를 입력받고, 상기 로우 어드레스에 따른 로우 전압 셋업과, 블록 선택 및 워드라인 전압 셋업을 수행하는 단계;상기 로우 전압 셋업과, 블록 선택 및 워드라인 전압 셋업을 수행과 동시에 라이트 인에이블 바 신호에 응답하여 프로그램할 데이터를 페이지 버퍼에 저장하는 단계; 및상기 전압 셋업과 페이지 버퍼에 프로그램할 데이터를 저장하는 동작이 완료되면, 프로그램 동작을 수행하는 단계;를 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 7항에 있어서,상기 어드레스 정보를 입력받는 것은,상기 프로그램을 위한 메모리 셀의 컬럼 어드레스를 입력받는 단계; 및상기 메모리 셀의 로우 어드레스를 입력받는 단계를 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 8항에 있어서,상기 전압 셋업은,상기 로우 어드레스를 이용하여 로우 전압을 셋업 하는 단계;상기 프로그램을 위한 메모리 셀이 포함되는 블록을 선택하는 단계; 및상기 로우 어드레스를 이용하여 상기 메모리 셀의 워드라인 전압을 셋업 하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 7항에 있어서,상기 프로그램을 완료한 후, 상기 셋업한 전압을 디스차지 하는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
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Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100732631B1 (ko) | 2006-02-01 | 2007-06-27 | 삼성전자주식회사 | 전하 손실로 인해 감소된 읽기 마진을 보상할 수 있는플래시 메모리 장치의 프로그램 방법 |
Family Cites Families (9)
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---|---|---|---|---|
DE69223099T2 (de) * | 1991-08-09 | 1998-06-10 | Toshiba Ave Kk | Aufzeichnungsgerät für eine Speicherkarte |
US5237535A (en) * | 1991-10-09 | 1993-08-17 | Intel Corporation | Method of repairing overerased cells in a flash memory |
TW231343B (ko) * | 1992-03-17 | 1994-10-01 | Hitachi Seisakusyo Kk | |
US5805501A (en) * | 1996-05-22 | 1998-09-08 | Macronix International Co., Ltd. | Flash memory device with multiple checkpoint erase suspend logic |
JP2000067574A (ja) * | 1998-08-21 | 2000-03-03 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US6795890B1 (en) * | 1999-02-19 | 2004-09-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Data storage method, and data processing device using an erasure block buffer and write buffer for writing and erasing data in memory |
JP4141581B2 (ja) * | 1999-04-05 | 2008-08-27 | 株式会社ルネサステクノロジ | フラッシュメモリを搭載する記憶装置 |
JP3916862B2 (ja) * | 2000-10-03 | 2007-05-23 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリ装置 |
US7164616B2 (en) * | 2004-12-20 | 2007-01-16 | Intel Corporation | Memory array leakage reduction circuit and method |
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