JPS63153884A - 分布帰還型半導体レ−ザ - Google Patents
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 4
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- 230000004888 barrier function Effects 0.000 abstract description 4
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- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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-
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は分布帰還型半導体レーザに関する。
(従来の技術)
発光再結合をする活性層に隣接して回折格子を有する分
布帰還型半導体レーザ(DFB−LD)は長距離かつ大
容量の光フアイバ通信用光源として活発に研究開発が進
められている。その特性。
布帰還型半導体レーザ(DFB−LD)は長距離かつ大
容量の光フアイバ通信用光源として活発に研究開発が進
められている。その特性。
信頼性も従来からのファブリベロー型の半導体レーザと
同等のレベルに達しつつある。その特性のより以上の向
上を図るために、活性層に多重量子井戸構造を採用する
ことは有効であると考えられる。多重量子井戸(Mul
tiple Quantum %4ell、略してMQ
W)flu造は異なる半導体薄膜を交互に多層に成長さ
せてなる。このMQW梢遣を採用゛した半導体レーザで
は、MQWの階段状の状態密度関数を反映し、低しきい
値化、温度特性の改善、パルス変調時のスペクトル幅の
低減等が期待される。
同等のレベルに達しつつある。その特性のより以上の向
上を図るために、活性層に多重量子井戸構造を採用する
ことは有効であると考えられる。多重量子井戸(Mul
tiple Quantum %4ell、略してMQ
W)flu造は異なる半導体薄膜を交互に多層に成長さ
せてなる。このMQW梢遣を採用゛した半導体レーザで
は、MQWの階段状の状態密度関数を反映し、低しきい
値化、温度特性の改善、パルス変調時のスペクトル幅の
低減等が期待される。
AT&T Be1l研究所のDuttaらはアプライ
ド・フィジクス・レターズ誌(^pot。
ド・フィジクス・レターズ誌(^pot。
Phys、 Lett、、 Vol、46.01036
−1038.1985 )において発光波長1.3四組
成のInGaAsPウェル層。
−1038.1985 )において発光波長1.3四組
成のInGaAsPウェル層。
1.031Jm組成のInGaAsPバリアm<いずれ
も厚さ約300人)を数層ずつ積層したMQWレーザを
報告している。このレーザは低しきい値電流、高効率等
優れた特性を有し、Duttaらはしきい値におけるキ
ャリアライフタイムの温度依存性を評価し、通常のDH
レーザと比べてMQWレーザの温度特性が優れているこ
とを実証した。
も厚さ約300人)を数層ずつ積層したMQWレーザを
報告している。このレーザは低しきい値電流、高効率等
優れた特性を有し、Duttaらはしきい値におけるキ
ャリアライフタイムの温度依存性を評価し、通常のDH
レーザと比べてMQWレーザの温度特性が優れているこ
とを実証した。
以上のことから活性層にMQW梢遣を導入したDFBレ
ーザが優れた特性を示すであろうことが期待される。
ーザが優れた特性を示すであろうことが期待される。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら通常の方法で活性層のみにMQW゛構造を
導入してDFBレーザを作製しようとすると次のような
問題が生ずる。すなわち第2図に示すように基板1上に
回折格子2を形成し、その上に例えばMOVPE法を用
いて波長1.3四に相当するI n O,73G a
0.27 A S o、 bo P o、 aoガイド
層31I no、53Gao、nyAs/I nP
MQW活性層4を成長するとガイド層3の厚さが0.1
四以下の場合ガイド層3の表面が平坦になりきらず、凹
凸のある面上に活性層4を成長することにより活性層4
そのものの品質が低下する可能性がある。もちろんガイ
ド層3を厚めに成長することにより、表面を平坦化する
ことはできるが、その場合にはやはり、ガイド層3が厚
くなる分だけ結合係数が小さくなる0以上のことはMB
E法によって結晶成長を行なっても同様の問題であり、
LPE法においてはガイドJw3が0.IIJm程度で
もガイドJW3表面が平坦になりやすいが、LPE法の
場合にはMQWのような多層薄r!:!楕遺を形成する
ことが困難である。
導入してDFBレーザを作製しようとすると次のような
問題が生ずる。すなわち第2図に示すように基板1上に
回折格子2を形成し、その上に例えばMOVPE法を用
いて波長1.3四に相当するI n O,73G a
0.27 A S o、 bo P o、 aoガイド
層31I no、53Gao、nyAs/I nP
MQW活性層4を成長するとガイド層3の厚さが0.1
四以下の場合ガイド層3の表面が平坦になりきらず、凹
凸のある面上に活性層4を成長することにより活性層4
そのものの品質が低下する可能性がある。もちろんガイ
ド層3を厚めに成長することにより、表面を平坦化する
ことはできるが、その場合にはやはり、ガイド層3が厚
くなる分だけ結合係数が小さくなる0以上のことはMB
E法によって結晶成長を行なっても同様の問題であり、
LPE法においてはガイドJw3が0.IIJm程度で
もガイドJW3表面が平坦になりやすいが、LPE法の
場合にはMQWのような多層薄r!:!楕遺を形成する
ことが困難である。
本発明の目的は結合係数が大きくとれ、優れた特性を有
するMQW−DFBレーザを提供することにある。
するMQW−DFBレーザを提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
、本発明では、活性層の近傍に回折格子が形成してあり
、ガイド層により前記活性層と前記回折格子とが光結合
してある分布帰還型の半導体レーザであって、前記活性
層および前記ガイド層が異なる半導体薄膜を多層成長さ
せた超格子構造からなることを特徴とする分布帰還型半
導体レーザにより上述の問題点を解決している。
、ガイド層により前記活性層と前記回折格子とが光結合
してある分布帰還型の半導体レーザであって、前記活性
層および前記ガイド層が異なる半導体薄膜を多層成長さ
せた超格子構造からなることを特徴とする分布帰還型半
導体レーザにより上述の問題点を解決している。
(作用)
本発明の発明者はMOVPE法において回折格子上に活
性層と同様な半導体多層薄膜を成長させることにより、
相対的にわずかな厚さで平坦化が進むことを見出した0
例えば深さ500人のInP回折格子上に結晶成長する
場合、100人のInP、100人のI n 6.53
G a o、 47A Sを5層ずつ、計0.1−積層
することによりほぼ成長表面が平坦化することがわかっ
た。
性層と同様な半導体多層薄膜を成長させることにより、
相対的にわずかな厚さで平坦化が進むことを見出した0
例えば深さ500人のInP回折格子上に結晶成長する
場合、100人のInP、100人のI n 6.53
G a o、 47A Sを5層ずつ、計0.1−積層
することによりほぼ成長表面が平坦化することがわかっ
た。
(実施例)
以下実施例を示す図面を参照して本発明をより詳細に説
明する0本発明の一実施例を第1図に示す、この実施例
の製造においては、InP基板1上にレーザ干渉露光法
によって回折格子2(周期2400人)を形成し、その
うえに80人のInPバリア層7.30人のI n o
、 s3G a 0.47A Sウェル層8を各107
1ずつ積層してなる超格子ガイド層6゜100人のIn
Pnツバ9フ G a 6, 47 A Sウェル層10を各8!fl
t層してなるMQW活性層4,InPクラッド!f!J
5を順次に成長させる.超格子ガイド層6の実効的な発
光波長組成は約1.3四に相当し、MQW活性活性の実
効的な発光波長組成は約1.55−に相当する.この実
施例では500人程度の深さの回折格子2の山から測っ
て超格子ガイド層6の厚さはわずか1100人であるが
、成長の結果その成長表面はほぼ平坦になっていること
が確認された。
明する0本発明の一実施例を第1図に示す、この実施例
の製造においては、InP基板1上にレーザ干渉露光法
によって回折格子2(周期2400人)を形成し、その
うえに80人のInPバリア層7.30人のI n o
、 s3G a 0.47A Sウェル層8を各107
1ずつ積層してなる超格子ガイド層6゜100人のIn
Pnツバ9フ G a 6, 47 A Sウェル層10を各8!fl
t層してなるMQW活性層4,InPクラッド!f!J
5を順次に成長させる.超格子ガイド層6の実効的な発
光波長組成は約1.3四に相当し、MQW活性活性の実
効的な発光波長組成は約1.55−に相当する.この実
施例では500人程度の深さの回折格子2の山から測っ
て超格子ガイド層6の厚さはわずか1100人であるが
、成長の結果その成長表面はほぼ平坦になっていること
が確認された。
このようにして作製したMQW−DFBレーザを通常の
埋め込み構造にし特性を評価しなところ、室温CWでの
発振しきい値電流20〜30mA、微分量子効率片面2
5゛%程度の素子が再現性良く得られた。
埋め込み構造にし特性を評価しなところ、室温CWでの
発振しきい値電流20〜30mA、微分量子効率片面2
5゛%程度の素子が再現性良く得られた。
レーザの温度特性を評価したところ、その特性温度′!
゛。は90〜100にと通常のDH梢遣レーザと比べて
大幅な改善が認められた.しきい値におけるキャリアラ
イフタイムの温度依存性もDH槽構造比べてその変化率
が小さく、さらにM Q W !ill造による階段状
の状態密度関数を反映してパルス変調時の発振スペクト
ル拡がりもDHl’li造レーザと比べて172〜1/
3に低減されていることがわかった。
゛。は90〜100にと通常のDH梢遣レーザと比べて
大幅な改善が認められた.しきい値におけるキャリアラ
イフタイムの温度依存性もDH槽構造比べてその変化率
が小さく、さらにM Q W !ill造による階段状
の状態密度関数を反映してパルス変調時の発振スペクト
ル拡がりもDHl’li造レーザと比べて172〜1/
3に低減されていることがわかった。
(発明の効果)
以上のように本発明においては回折格子2上に超格子ガ
イド層6をはじめに成長させることにより全体の厚さが
0.1μm程度でも成長表面を平坦化することが可能と
なり、結合係数が大きくかつ活性層の品質が良好で、特
性の優れたMQW−DFBレーザを提供することができ
た。
イド層6をはじめに成長させることにより全体の厚さが
0.1μm程度でも成長表面を平坦化することが可能と
なり、結合係数が大きくかつ活性層の品質が良好で、特
性の優れたMQW−DFBレーザを提供することができ
た。
なお実施例においては超格子ガイド層6として80人の
InP、30人のI n O,!130 a 0.47
A 8層からなる超格子構造を用いたが、ガイド層とし
ては活性層4に用いたものと同じ構成のMQW′WI造
を用いてもさしつかえない、もちろん用いる材料系もI
nP−、−I n□!13Gao4yAs系に限るも
のではなくGaAρAs〜GaAs系の材料を用いても
、本発明は何らさしつかえなく実現できる。
InP、30人のI n O,!130 a 0.47
A 8層からなる超格子構造を用いたが、ガイド層とし
ては活性層4に用いたものと同じ構成のMQW′WI造
を用いてもさしつかえない、もちろん用いる材料系もI
nP−、−I n□!13Gao4yAs系に限るも
のではなくGaAρAs〜GaAs系の材料を用いても
、本発明は何らさしつかえなく実現できる。
第1図(a>は本発明の一実施例を示す断面図、第1図
(b)はその活性層周辺を拡大して示す断面図、第2図
(a)は従来例のMQw−DFBレーザを示す断面図、
第2図(b)はその活性層周辺を拡大して示す断面図で
ある。 図中1は基板、2は回折格子、3はI nGaAsPガ
イド層、4はMQWガイド層、5は1nPクラッド層、
6は超格子ガイド層、7,9はInPnツバ9フ Asウ工ル層をそれぞれあられす。
(b)はその活性層周辺を拡大して示す断面図、第2図
(a)は従来例のMQw−DFBレーザを示す断面図、
第2図(b)はその活性層周辺を拡大して示す断面図で
ある。 図中1は基板、2は回折格子、3はI nGaAsPガ
イド層、4はMQWガイド層、5は1nPクラッド層、
6は超格子ガイド層、7,9はInPnツバ9フ Asウ工ル層をそれぞれあられす。
Claims (1)
- 活性層の近傍に回折格子が形成してあり、ガイド層によ
り前記活性層と前記回折格子とが光結合してある分布帰
還型の半導体レーザにおいて、前記活性層および前記ガ
イド層が異なる半導体薄膜を多層成長させた超格子構造
からなることを特徴とする分布帰還型半導体レーザ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61302240A JPH071816B2 (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | 分布帰還型半導体レ−ザ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61302240A JPH071816B2 (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | 分布帰還型半導体レ−ザ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63153884A true JPS63153884A (ja) | 1988-06-27 |
JPH071816B2 JPH071816B2 (ja) | 1995-01-11 |
Family
ID=17906640
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61302240A Expired - Fee Related JPH071816B2 (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | 分布帰還型半導体レ−ザ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH071816B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0461187A (ja) * | 1990-06-22 | 1992-02-27 | Agency Of Ind Science & Technol | 半導体レーザおよびその製造方法 |
JPH04146679A (ja) * | 1990-10-09 | 1992-05-20 | Hikari Keisoku Gijutsu Kaihatsu Kk | 半導体分布帰還型レーザ装置 |
JP2007258269A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体光素子 |
JP2014220386A (ja) * | 2013-05-08 | 2014-11-20 | 富士通株式会社 | 光半導体装置及び光半導体装置の製造方法 |
JP2016184705A (ja) * | 2015-03-26 | 2016-10-20 | 富士通株式会社 | 半導体光素子およびその製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61202487A (ja) * | 1985-03-06 | 1986-09-08 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 分布帰還型半導体レ−ザ |
JPS61242090A (ja) * | 1985-04-19 | 1986-10-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体レ−ザ |
-
1986
- 1986-12-17 JP JP61302240A patent/JPH071816B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61202487A (ja) * | 1985-03-06 | 1986-09-08 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 分布帰還型半導体レ−ザ |
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JP2007258269A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体光素子 |
US7769065B2 (en) | 2006-03-20 | 2010-08-03 | Sumitomo Electric Industries Ltd. | Semiconductor optical device |
JP2014220386A (ja) * | 2013-05-08 | 2014-11-20 | 富士通株式会社 | 光半導体装置及び光半導体装置の製造方法 |
JP2016184705A (ja) * | 2015-03-26 | 2016-10-20 | 富士通株式会社 | 半導体光素子およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH071816B2 (ja) | 1995-01-11 |
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