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JPS58196641A - 磁気光学記憶素子 - Google Patents

磁気光学記憶素子

Info

Publication number
JPS58196641A
JPS58196641A JP8067682A JP8067682A JPS58196641A JP S58196641 A JPS58196641 A JP S58196641A JP 8067682 A JP8067682 A JP 8067682A JP 8067682 A JP8067682 A JP 8067682A JP S58196641 A JPS58196641 A JP S58196641A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
thin film
stainless steel
rotation angle
magneto
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8067682A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH034974B2 (ja
Inventor
Akira Takahashi
明 高橋
Hiroyuki Katayama
博之 片山
Kenji Oota
賢司 太田
Hideyoshi Yamaoka
山岡 秀嘉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP8067682A priority Critical patent/JPS58196641A/ja
Publication of JPS58196641A publication Critical patent/JPS58196641A/ja
Publication of JPH034974B2 publication Critical patent/JPH034974B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/16Layers for recording by changing the magnetic properties, e.g. for Curie-point-writing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はレーザ光により情報の記録・再生・消去を行な
う磁気光学記憶素子に関する。
近年、高密度・大容量・高速アクセス等の要求を満足す
る光メモリ装置の研究開発が活発に推進されている。そ
して既に実用化に達したものとして、情報記憶用ディス
クに情報に対応した微細ピット列を形成し各ビットにレ
ーザ光を照射した際の回折現象を利用して情報を読み取
る光デイスク装置、あるbは情報記憶用ディスクの記憶
媒体に情報に対応した反射率変化部分列を形成し各部分
にレーザ光を照射した際の反射光量変化を利用して情報
を読み取る光デイスク装置がある。
しかしながらこれらの装置は再生専用であるか又は再生
と追加記録が可能なものに留まっておシ、情報の消去が
可能なものは実用化迄には到っていないのが現状である
本発明は情報の再生・記録・消去が可能な光デイスク装
置のメモリ素子として期待される磁気光、学記憶素子の
改良に関するものである。磁気光学記憶素子をメモリ素
子として用いた場合の難点の一つは再生信号レベルが低
いことである。#に磁気光学記憶素子にレーザ光を照射
しその反射光によって情報の再生を行なう所謂カー効果
再生方式では、カー回転角が小さいので信号雑音比(S
/N)を高める事が困難であった。その為従来では記憶
媒体である磁性材料の改良を行なったり、記憶媒体上に
SiOやSin、  の誘電体膜を形成してカー回転角
を高める工夫をしている。
後者の例として例えばTbFe磁性体薄膜上にSiO膜
を形成することによってカー回転角がα15度から06
度に増大した例が報告されている( I EEE Tr
ans of Mag Vol−16No−51980
P1194)。 しかしながら上記SiO+SiO2の
誘電体膜では、磁性体に腐蝕の恐れのある場″合はその
腐蝕の実質的な防御とはなり得す、又1μm程度の小蓬
なほこりやゴミが該誘電体薄膜に付着した場合は記録ピ
ット径が1μm程度であるためビット検出が不可能にな
り、すって上記Sin、Sin、の誘電体薄膜を形成す
ることは実用に適さなかった。そし1前記腐蝕の防御及
びほこりやゴミに対する対策の為にはα5〜2−程度の
ガラス又は透明樹脂を磁性体に被覆することが望ましい
とされている。しかしこの被覆材料では当然ながらカー
回転角の増大は難しく従ってS/Nの増大の効果を得る
ことも困難であ′る。
又以上の手法とは別にカー効果再生方式の磁気光学記憶
素子において、記録媒体の背後に反射膜を形成すること
によって見かけのカー回転角を向上させる手法を出願人
は提案(特願昭55−85695)している。
この構造の特徴は磁性体薄膜表面で反射されたレーデ光
と磁性体薄膜を透過し次に反射膜にて反射されたレーザ
光が合成される為に上記反射膜が存在しない構造体に比
べて見かけのカー回転角が向上することである。この場
合カー回転角の増大)   。
率は使用するレーザ光の波長、磁性体膜の種類及   
  1び膜厚、反射膜の膜厚等によって変化することが
確認されている。又第1図の構造の磁気光学記憶素子も
既に出願人ば一提案している。1はガラス等の基板、2
はGdTbFe非晶質薄゛暎、3は5in2透明膜、4
はCu金属暎である。そしてこの構造体において5iO
z  透明膜3の膜厚を変化させるとカー回転角が大き
く変化することを確認している。第2図はレーザ光の波
長を632.8−とし、上記Sin、透明膜3の膜厚を
変化した時のカー回転角の変化する様子を示したグラフ
図である。
5in2透明膜3及びCu金属膜4が無い時のカー回転
角はα27″であるのでCu金属膜4の存在の重要性が
判る。又、5−io、透明膜4が無い場合のカー回転角
は他の条件(磁性体膜厚、反射膜膜厚等)を変えても最
大でα5°であるからSio。
透明膜4の膜厚−を適度に調整すればカー回転角を大き
く増加させることができることが判る。
本発明は以上の点に鑑み、反射膜を備えた磁気光学記憶
素子において更に実用的な構造を得んとするものである
以下、本発明に係わる磁気光学記憶素子の一実施例を図
面を用いて詳細に説明する。
JL’1図は本発明に係わる磁気光学記憶素子の一実施
例の一部側ml断面図である。同図で5はガラス、アク
リル樹脂等の基板であり、該基板の厚さはα5〜2■程
度である。6は上記基板上にスパッタリング、−蒸着等
によって形成された膜面に垂直な磁化容易軸を有する希
土類−遷移金属非晶質薄膜である。この希土類−遷移金
属非晶質薄膜の材質はGdTbFe、TbDyFe、T
bFe、GdTbDyFe及びこれらの材質に若干の不
純物例えばBi、5neCo等を加えたもの等を用い得
る。7は上記非晶質薄膜上に形成されるMgF2  s
 5t02  、StemTi02 .5ixN4  
、Ta205等の透明薄膜であり、8はステンレス薄膜
である。このステンレス薄膜としては18−8ステンレ
ス鋼sUs 304(JIS規格)を用いた。上記ステ
ンレス薄膜8は反射膜として動作するものである。ステ
ンレス薄膜は耐腐蝕性に優れている点で反射膜として好
ましい。又ステンレス薄膜は熱伝導率が低いので前記非
晶質薄膜6にレーザスポットを照射して光熱磁気記録を
行なう場合に反射膜へ熱が逃げることが少ない。従って
光熱磁気記録時のパワーロスが小さく記録速度を向上す
ることができるも−である。
ただし、レーザ波長632.811−でGdTbFe非
晶質薄暎を用い、この非晶質薄膜とステンレス薄膜の間
に透明薄膜を設けなかった場合カー回転角は最大で03
3゛と小さく実用上値しかった。しかし上記透明薄膜と
して5i02 を500 nmの厚さで設けた時カー回
転角はα57°に上昇した。
このカー回転角であれば実用上(S/N)問題無い。
ここで、上述の構成に加えて基板5と非晶質薄膜6の間
にSiO,TiO2等の透明誘電体膜を設けてもより。
これは基板lがアクリル、ポリカーポ等の樹脂からなる
場合腐蝕に弱い為に設けた暎である。この場合、上記透
明誘電体膜の屈折率を上記基板5の屈折率より大きく、
かつ上記透明誘電体暎の膜厚を略入X (−+m)・・
・入:入射n レーザ波長、n:透明誘電体膜の屈折率1m:整数、と
すれば上記基板5より入射した光は上記透明誘電体膜内
で干渉しそれによってカー回転角が又、上記基板5に凹
凸状のガイドトラックを形成したシ、上記ステンレス膜
8の両面に透明薄膜7、非晶質薄膜6.基板5を形成す
る両面構造体としても勿論構わない。
以上詳細に説明した本発明によればステンレス薄膜を磁
気光学記憶素子の反射膜として設けたものであるから、
#腐蝕性に優れ、又熱伝導率が低いので光熱磁気記録の
際のパワーロスが小さ−ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の磁気光学記憶素子の一部側面断面図、第
2図は特性グラフ図、第3図は本発明に係る磁気光学記
憶素子の一実施例の一部側面断面図を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、希土類遷移金属合金薄膜の裏面にステンレス薄膜を
    形成したことを特徴とする磁気光学記憶素子。 2 希土類遷移金属合金薄膜とステンレス薄膜の闇に透
    明膜を形成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の磁気光学記憶素子。 & 前記透明膜はSiO2s SiO,MgF2 。 TjO2# 51 s N4 s Ta203 s A
    I!20sの少なくとも一つの物質を含んでなることを
    特徴とする特許請求の範囲第2項記載の磁気光学記憶素
    子。 生 前記希土類遷移金属合金薄膜はGdTbFe。 TbDyFe、TbFe、GdTbDyFe、もしくは
    これらにBi、Sn、Co等の不純物を含有した物質の
    いずれか虻多成ることを特徴とする特許請求の範囲@1
    項乃至第3項記載の磁気光学記憶素子。
JP8067682A 1982-05-12 1982-05-12 磁気光学記憶素子 Granted JPS58196641A (ja)

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JP8067682A JPS58196641A (ja) 1982-05-12 1982-05-12 磁気光学記憶素子

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JP8067682A JPS58196641A (ja) 1982-05-12 1982-05-12 磁気光学記憶素子

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Publication Number Publication Date
JPS58196641A true JPS58196641A (ja) 1983-11-16
JPH034974B2 JPH034974B2 (ja) 1991-01-24

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ID=13724951

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