JPH11126380A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
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- JPH11126380A JPH11126380A JP29265197A JP29265197A JPH11126380A JP H11126380 A JPH11126380 A JP H11126380A JP 29265197 A JP29265197 A JP 29265197A JP 29265197 A JP29265197 A JP 29265197A JP H11126380 A JPH11126380 A JP H11126380A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 微小磁区の記録に適した記録層を備えた磁壁
移動型の光磁気記録媒体を提供する。 【解決手段】 少なくとも、第1、第2、第3の磁性層
(131、132、133)が順次積層されている光磁気記録媒
体であって、該第1の磁性層131は、周囲温度近傍の温
度において該第3の磁性層133に比べて相対的に磁壁抗
磁力が小さく磁壁移動度の大きな磁性層からなり、該第
2の磁性層132は、該第1の磁性層131及び該第3の磁性
層133よりキュリー温度の低い磁性層からなる光磁気記
録媒体において、前記第3の磁性層133の平均結晶粒径
が30nm以下である。
移動型の光磁気記録媒体を提供する。 【解決手段】 少なくとも、第1、第2、第3の磁性層
(131、132、133)が順次積層されている光磁気記録媒
体であって、該第1の磁性層131は、周囲温度近傍の温
度において該第3の磁性層133に比べて相対的に磁壁抗
磁力が小さく磁壁移動度の大きな磁性層からなり、該第
2の磁性層132は、該第1の磁性層131及び該第3の磁性
層133よりキュリー温度の低い磁性層からなる光磁気記
録媒体において、前記第3の磁性層133の平均結晶粒径
が30nm以下である。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、再生時に磁壁の移
動を利用した超高密度記録に適した光磁気記録媒体に関
する。
動を利用した超高密度記録に適した光磁気記録媒体に関
する。
【0002】
【従来の技術】書き換え可能な高密度記録媒体として光
磁気ディスクが近年注目されているが、更に光磁気ディ
スクの記録密度を高めて大容量の記録媒体とする要求が
高まっている。光ディスクの線記録密度は、再生光学系
のレーザー波長λ及び対物レンズの開口数NAに大きく
依存し、信号再生時の空間周波数は、NA/λ程度が検
出可能な限界である。従って、従来の光ディスクで高密
度化を実現するためには、再生光学系のレーザー波長λ
を短くし、対物レンズの開口数NAを大きくする必要が
ある。しかしながら、レーザー波長や対物レンズの開口
数の改善にも限界がある。このため、記録媒体の構成や
読み取り方法を工夫して記録密度を改善する技術がいく
つか提案されている。
磁気ディスクが近年注目されているが、更に光磁気ディ
スクの記録密度を高めて大容量の記録媒体とする要求が
高まっている。光ディスクの線記録密度は、再生光学系
のレーザー波長λ及び対物レンズの開口数NAに大きく
依存し、信号再生時の空間周波数は、NA/λ程度が検
出可能な限界である。従って、従来の光ディスクで高密
度化を実現するためには、再生光学系のレーザー波長λ
を短くし、対物レンズの開口数NAを大きくする必要が
ある。しかしながら、レーザー波長や対物レンズの開口
数の改善にも限界がある。このため、記録媒体の構成や
読み取り方法を工夫して記録密度を改善する技術がいく
つか提案されている。
【0003】例えば、本出願人は先に、特開平6−29
0496号公報に記載されるように、再生信号振幅を低
下させることなく光の回折限界以下の周期の信号を高速
で再生可能とした光磁気記録媒体、再生方式及びその再
生装置を提案している。該公報の記載にあるように、光
磁気記録媒体の再生層に光ビーム等の加熱手段によって
温度分布を形成すると、磁壁エネルギー密度に分布が生
じるために、磁壁エネルギーの低い方に磁壁を瞬時に移
動させることができる。この結果、再生信号振幅は記録
されている磁壁の間隔(すなわち、記録ビット長)によ
らず、常に一定かつ最大の振幅となる。すなわち、線記
録密度向上に伴う再生出力の必然的な低下が大幅に改善
され、さらなる高密度化が可能となる。
0496号公報に記載されるように、再生信号振幅を低
下させることなく光の回折限界以下の周期の信号を高速
で再生可能とした光磁気記録媒体、再生方式及びその再
生装置を提案している。該公報の記載にあるように、光
磁気記録媒体の再生層に光ビーム等の加熱手段によって
温度分布を形成すると、磁壁エネルギー密度に分布が生
じるために、磁壁エネルギーの低い方に磁壁を瞬時に移
動させることができる。この結果、再生信号振幅は記録
されている磁壁の間隔(すなわち、記録ビット長)によ
らず、常に一定かつ最大の振幅となる。すなわち、線記
録密度向上に伴う再生出力の必然的な低下が大幅に改善
され、さらなる高密度化が可能となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ここで、従来は、光記
録媒体の記録密度の限界は、「再生(方式)」の限界が
決めていたのに対して、前記特開平6−290496号
公報で開示した磁壁移動型の光磁気記録媒体とその再生
方式によると、記録密度の限界は、「記録」の限界に依
存する。すなわち、磁壁移動型の光磁気記録媒体では、
「いかに微小磁区を安定に記録するか」という新たな課
題が生じる。
録媒体の記録密度の限界は、「再生(方式)」の限界が
決めていたのに対して、前記特開平6−290496号
公報で開示した磁壁移動型の光磁気記録媒体とその再生
方式によると、記録密度の限界は、「記録」の限界に依
存する。すなわち、磁壁移動型の光磁気記録媒体では、
「いかに微小磁区を安定に記録するか」という新たな課
題が生じる。
【0005】本発明は、前記課題を鑑みて成されたもの
であり、微小磁区の記録に適した記録層を備えた磁壁移
動型の光磁気記録媒体を提供することを目的とする。
であり、微小磁区の記録に適した記録層を備えた磁壁移
動型の光磁気記録媒体を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の光磁気記録媒体
は、少なくとも、第1、第2、第3の磁性層が順次積層
されている光磁気記録媒体であって、該第1の磁性層
は、周囲温度近傍において該第3の磁性層に比べて相対
的に磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度の大きな磁性層(移
動層かつ再生層)であり、該第2の磁性層は該第1の磁
性層及び第3の磁性層よりもキュリー温度の低い磁性層
(スイッチング層)からなり、該第3の磁性層は磁区の
保存安定性に優れた磁気記録層(メモリ層)である特開
平6−290496号で開示した膜構成において、前記
第3の磁性層の平均結晶粒径を30nm以下としたこと
に特徴を有するものである。
は、少なくとも、第1、第2、第3の磁性層が順次積層
されている光磁気記録媒体であって、該第1の磁性層
は、周囲温度近傍において該第3の磁性層に比べて相対
的に磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度の大きな磁性層(移
動層かつ再生層)であり、該第2の磁性層は該第1の磁
性層及び第3の磁性層よりもキュリー温度の低い磁性層
(スイッチング層)からなり、該第3の磁性層は磁区の
保存安定性に優れた磁気記録層(メモリ層)である特開
平6−290496号で開示した膜構成において、前記
第3の磁性層の平均結晶粒径を30nm以下としたこと
に特徴を有するものである。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明によると、第3の磁性層で
ある記録層(メモリ層)の結晶粒径を30nm以下とす
ることによって、0.2μm以下の微小な磁区(ピット
長)を安定に記録することが可能となる。
ある記録層(メモリ層)の結晶粒径を30nm以下とす
ることによって、0.2μm以下の微小な磁区(ピット
長)を安定に記録することが可能となる。
【0008】以下、本発明を適用した実施形態について
図面を参照しながら説明する。
図面を参照しながら説明する。
【0009】図1は、本発明の光磁気記録媒体の膜構成
を示した模式的断面図である。透明基板11上に、第1
の誘電体層12、磁性層13、第2の誘電体層14が順
に積層形成されている。
を示した模式的断面図である。透明基板11上に、第1
の誘電体層12、磁性層13、第2の誘電体層14が順
に積層形成されている。
【0010】透明基板11としては、例えば、ガラス、
ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、熱可塑
性ノルボルネン系樹脂等を用いることができる。
ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、熱可塑
性ノルボルネン系樹脂等を用いることができる。
【0011】磁性層13は、少なくともメモリ層と再生
層から構成される2層以上の積層であり、特開平6−2
90496号公報に開示されている層構成であることが
好ましい。すなわち、少なくとも、第1、第2、第3の
磁性層が順次積層されており、第1の磁性層131は周
囲温度近傍において該第3の磁性層に比べて相対的に磁
壁抗磁力が小さくかつ磁壁移動度の大きな磁性層(移動
層かつ再生層)であり、第2の磁性層132は該第1の
磁性層及び第3の磁性層よりもキュリー温度の低い磁性
層(スイッチング層)からなり、第3の磁性層133
は、磁区の保存安定性に優れた磁気記録層(メモリ層)
である。また、前記第2の磁性層よりも高く、第1の磁
性層よりも低いキュリー温度を有し、且つ少なくとも第
2の磁性層のキュリー温度以上の温度において、前記第
3の磁性層に比べて相対的に磁壁抗磁力が小さな垂直磁
化膜からなる第4の磁性層を前記第1の磁性層と第2の
磁性層の間に設けても良い。
層から構成される2層以上の積層であり、特開平6−2
90496号公報に開示されている層構成であることが
好ましい。すなわち、少なくとも、第1、第2、第3の
磁性層が順次積層されており、第1の磁性層131は周
囲温度近傍において該第3の磁性層に比べて相対的に磁
壁抗磁力が小さくかつ磁壁移動度の大きな磁性層(移動
層かつ再生層)であり、第2の磁性層132は該第1の
磁性層及び第3の磁性層よりもキュリー温度の低い磁性
層(スイッチング層)からなり、第3の磁性層133
は、磁区の保存安定性に優れた磁気記録層(メモリ層)
である。また、前記第2の磁性層よりも高く、第1の磁
性層よりも低いキュリー温度を有し、且つ少なくとも第
2の磁性層のキュリー温度以上の温度において、前記第
3の磁性層に比べて相対的に磁壁抗磁力が小さな垂直磁
化膜からなる第4の磁性層を前記第1の磁性層と第2の
磁性層の間に設けても良い。
【0012】第1の磁性層131としては、例えば、G
dCo系、GdFe系、GdFeCo系、TbCo系な
どの磁気異方性の比較的小さな希土類−鉄族非晶質合金
やガーネット等のバブルメモリ用の材料が好ましい。
dCo系、GdFe系、GdFeCo系、TbCo系な
どの磁気異方性の比較的小さな希土類−鉄族非晶質合金
やガーネット等のバブルメモリ用の材料が好ましい。
【0013】第2の磁性層132としては、例えば、C
o系あるいはFe系合金磁性層で、キュリー温度が第1
の磁性層131及び第3の磁性層133より小さく、飽
和磁化の値が第3の磁性層133より小さいものが好ま
しい。ここで、キュリー温度は、Co、Cr、Ti等の
添加量で調整可能である。
o系あるいはFe系合金磁性層で、キュリー温度が第1
の磁性層131及び第3の磁性層133より小さく、飽
和磁化の値が第3の磁性層133より小さいものが好ま
しい。ここで、キュリー温度は、Co、Cr、Ti等の
添加量で調整可能である。
【0014】第3の磁性層133としては、特に微小磁
区の保存安定性に優れた微結晶或いは結晶構造の合金薄
膜であり、その平均結晶粒径を30nm以下、好ましく
は20nm以下、更に好ましくは10nm以下としたも
のである。また、結晶粒の大きさは揃っている方が好ま
しい。尚、結晶粒径を小さくしていくと磁性層の垂直磁
気異方性及び保磁力が低下してゆく傾向にあるが、適当
な下地層を形成して、それを抑制し、或いは第3の磁性
層133を垂直磁気異方性及び保磁力の大きい材料を選
択するかあるいは膜厚を厚くすることが好ましい。
区の保存安定性に優れた微結晶或いは結晶構造の合金薄
膜であり、その平均結晶粒径を30nm以下、好ましく
は20nm以下、更に好ましくは10nm以下としたも
のである。また、結晶粒の大きさは揃っている方が好ま
しい。尚、結晶粒径を小さくしていくと磁性層の垂直磁
気異方性及び保磁力が低下してゆく傾向にあるが、適当
な下地層を形成して、それを抑制し、或いは第3の磁性
層133を垂直磁気異方性及び保磁力の大きい材料を選
択するかあるいは膜厚を厚くすることが好ましい。
【0015】なお、結晶構造は、高分解能透過電子顕微
鏡(TEM)又は走査電子顕微鏡(SEM)によって観
察する。
鏡(TEM)又は走査電子顕微鏡(SEM)によって観
察する。
【0016】第3の磁性層133の材料としては、ハー
ドディスクで実用化されているCoCr系の磁性膜が、
結晶粒の微細化やCrの偏析等の手法で、微小な磁区の
形成とその保存安定性に優れている為、本発明に好適で
ある。例えば、CoCrTa、CoCrPt、CoCr
PtTa、CoCrB等はその平均結晶粒径が10nm
程度まで小さく出来ることが実験レベルで確認されてい
る。結晶粒径の大きさは、磁性層や下地層の成膜条件
(Arガス圧、投入電力、基板温度)や膜厚で制御する
ことが可能である。なお、ハードディスク材料において
結晶粒の微細化とその大きさの均一化は、ノイズの低減
に大きく貢献していることは公知である。一方、結晶粒
におけるCrの偏析は、結晶粒間の磁気的相互作用を弱
め、これもノイズの低減に寄与していることが知られて
いる。しかしながら、このような磁性材料を光磁気記録
媒体に応用し、光磁気記録媒体に記録する磁区を微小化
し、高記録密度化を達成した例は知られていない。
ドディスクで実用化されているCoCr系の磁性膜が、
結晶粒の微細化やCrの偏析等の手法で、微小な磁区の
形成とその保存安定性に優れている為、本発明に好適で
ある。例えば、CoCrTa、CoCrPt、CoCr
PtTa、CoCrB等はその平均結晶粒径が10nm
程度まで小さく出来ることが実験レベルで確認されてい
る。結晶粒径の大きさは、磁性層や下地層の成膜条件
(Arガス圧、投入電力、基板温度)や膜厚で制御する
ことが可能である。なお、ハードディスク材料において
結晶粒の微細化とその大きさの均一化は、ノイズの低減
に大きく貢献していることは公知である。一方、結晶粒
におけるCrの偏析は、結晶粒間の磁気的相互作用を弱
め、これもノイズの低減に寄与していることが知られて
いる。しかしながら、このような磁性材料を光磁気記録
媒体に応用し、光磁気記録媒体に記録する磁区を微小化
し、高記録密度化を達成した例は知られていない。
【0017】また、従来、光磁気記録材料に使われてい
るTbFe系やDyFeCo系の磁性膜は、通常アモル
ファスであるために、結晶粒という概念は無いが、その
組成比や添加物の選択により微結晶構造にすることは可
能であり、その大きさを30nm以下にして、かつ磁壁
の厚みを薄く(例えば5nm以下に)することによっ
て、微小な磁区の生成が可能となる。
るTbFe系やDyFeCo系の磁性膜は、通常アモル
ファスであるために、結晶粒という概念は無いが、その
組成比や添加物の選択により微結晶構造にすることは可
能であり、その大きさを30nm以下にして、かつ磁壁
の厚みを薄く(例えば5nm以下に)することによっ
て、微小な磁区の生成が可能となる。
【0018】なお、前記各磁性層は、スパッタリングや
真空蒸着等の物理蒸着法で連続成膜することにより、互
いに交換結合或いは静磁結合をしている。
真空蒸着等の物理蒸着法で連続成膜することにより、互
いに交換結合或いは静磁結合をしている。
【0019】第3の磁性層133の下には、必要に応じ
て下地膜134を形成しても良い。たとえば、CoCr
PtTa磁性層の場合、TiCr下地層あるいはCoC
r/TiCr下地層が垂直磁気異方性と保磁力を低下さ
せることなく、微細な結晶を成長させるのに効果があ
る。
て下地膜134を形成しても良い。たとえば、CoCr
PtTa磁性層の場合、TiCr下地層あるいはCoC
r/TiCr下地層が垂直磁気異方性と保磁力を低下さ
せることなく、微細な結晶を成長させるのに効果があ
る。
【0020】誘電体層32、34は特に限定されない
が、SiN、SiO2、ZnS等が好ましい。
が、SiN、SiO2、ZnS等が好ましい。
【0021】前記磁性層のトラック間分断は、矩形基板
や深溝基板やアニール等の手法を用いることによって実
現可能である。
や深溝基板やアニール等の手法を用いることによって実
現可能である。
【0022】
【実施例】以下に具体的な実施例をもって本発明を更に
詳しく説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、
以下の実施例に限定されるものではない。
詳しく説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、
以下の実施例に限定されるものではない。
【0023】実施例1 図1は本発明の光磁気記録媒体の層構成を示した模式的
断面図である。
断面図である。
【0024】図1において、ポリカーボネート基板11
は、ランド幅が0.6μm、グルーブ幅が0.6μm、
溝深さが85nm、溝のテーパ角が45度のランド&グ
ルーブ基板である。該ポリカーボネート基板11上に第
1の誘電体層(干渉層)としてSiN層12を80nm
形成し、次に第1の磁性層(磁壁移動層)としてGdF
eCo層131を30nm、第2の磁性層(スイッチン
グ層)としてDyFe層132を10nm、第3の磁性
層(メモリ層)の下地層134としてTi−Cr(10
nm)層とCo−Cr(10nm)層をこの順に形成
し、続いてメモリ層となるCoCrPtTa層133を
40nm、順次スパッタリング形成した。最後に、第2
の誘電体層(保護層)としてSiN層14を80nm形
成した。
は、ランド幅が0.6μm、グルーブ幅が0.6μm、
溝深さが85nm、溝のテーパ角が45度のランド&グ
ルーブ基板である。該ポリカーボネート基板11上に第
1の誘電体層(干渉層)としてSiN層12を80nm
形成し、次に第1の磁性層(磁壁移動層)としてGdF
eCo層131を30nm、第2の磁性層(スイッチン
グ層)としてDyFe層132を10nm、第3の磁性
層(メモリ層)の下地層134としてTi−Cr(10
nm)層とCo−Cr(10nm)層をこの順に形成
し、続いてメモリ層となるCoCrPtTa層133を
40nm、順次スパッタリング形成した。最後に、第2
の誘電体層(保護層)としてSiN層14を80nm形
成した。
【0025】各磁性層は、Gd,Fe,Co,Dy,T
i,Cr,Pt,Taの各ターゲットに直流パワーを印
加して成膜した。メモリ層のCoCrPtTaは、背圧
を1×10-5Pa以下とし、Arガス圧を0.3Paと
してスパッタ形成した。また、SiN層はArガスにN
2ガスを加えて、直接反応性スパッタにより形成した。
i,Cr,Pt,Taの各ターゲットに直流パワーを印
加して成膜した。メモリ層のCoCrPtTaは、背圧
を1×10-5Pa以下とし、Arガス圧を0.3Paと
してスパッタ形成した。また、SiN層はArガスにN
2ガスを加えて、直接反応性スパッタにより形成した。
【0026】このようにして得られた光磁気ディスク
(第2の誘電体層無しのダミーサンプル)の表面をSE
M観察したところ、CoCrPtTa層133の結晶粒
の大きさは、平均30nmであった。また、第3の磁性
層(メモリ層)の磁気特性は、Ms=360emu/c
c、Hc=1.9kOeであった。
(第2の誘電体層無しのダミーサンプル)の表面をSE
M観察したところ、CoCrPtTa層133の結晶粒
の大きさは、平均30nmであった。また、第3の磁性
層(メモリ層)の磁気特性は、Ms=360emu/c
c、Hc=1.9kOeであった。
【0027】このようにして得られた光磁気ディスクの
グルーブ面に、通常の磁界変調方式でピット長0.10
μmをピット間隔0.10μmで連続に記録した後、特
開平6−290496号公報に記載の方法、つまり、光
ビームを該ディスクに対して相対的に移動させながら第
1の磁性層側から照射し、該ディスク上に該光ビームの
スポットの移動方向に対して勾配を有する温度分布を形
成し、該温度分布を少なくとも第2の磁性層のキュリー
温度よりも高い温度領域を有する温度分布とすることに
よって該第1の磁性層に形成されていた磁壁を移動さ
せ、該光ビームの反射光の偏光面の変化を検出して記録
情報を再生する方法(以下、『磁性層の温度勾配を利用
した磁壁移動型拡大再生方法』という)を用いて再生し
たところ、波長680nm、NA0.6の光学系(相対
速度2m/s)において、C/N39.0dBが得られ
た。また、エラーレートは実用上問題の無いレベル(B
ER<10-5)であった。また、本発明のディスクのデ
ータの記録手段は、磁気ヘッドでも可能である。
グルーブ面に、通常の磁界変調方式でピット長0.10
μmをピット間隔0.10μmで連続に記録した後、特
開平6−290496号公報に記載の方法、つまり、光
ビームを該ディスクに対して相対的に移動させながら第
1の磁性層側から照射し、該ディスク上に該光ビームの
スポットの移動方向に対して勾配を有する温度分布を形
成し、該温度分布を少なくとも第2の磁性層のキュリー
温度よりも高い温度領域を有する温度分布とすることに
よって該第1の磁性層に形成されていた磁壁を移動さ
せ、該光ビームの反射光の偏光面の変化を検出して記録
情報を再生する方法(以下、『磁性層の温度勾配を利用
した磁壁移動型拡大再生方法』という)を用いて再生し
たところ、波長680nm、NA0.6の光学系(相対
速度2m/s)において、C/N39.0dBが得られ
た。また、エラーレートは実用上問題の無いレベル(B
ER<10-5)であった。また、本発明のディスクのデ
ータの記録手段は、磁気ヘッドでも可能である。
【0028】以上、第3の磁性層(メモリ層)にTi−
Cr/Co−Cr下地層を持つCoCrPtTaの垂直
磁気記録膜を用いることによって、0.10μmの微小
ピットにおいても、実用レベルの再生信号とエラーレー
トを得ることが出来た。
Cr/Co−Cr下地層を持つCoCrPtTaの垂直
磁気記録膜を用いることによって、0.10μmの微小
ピットにおいても、実用レベルの再生信号とエラーレー
トを得ることが出来た。
【0029】実施例2 図2は本発明の光磁気記録媒体の層構成を示した模式的
断面図である。
断面図である。
【0030】図2において、ポリカーボネート基板21
は、ランド幅が0.6μm、グルーブ幅が0.6μm、
溝深さが85nm、溝のテーパ角が45度のランド&グ
ルーブ基板である。該ポリカーボネート基板21上に第
1の誘電体層(干渉層)としてSiN層22を80nm
形成し、次に下地層234としてTi−Cr(30n
m)続いてCo−Cr(20nm)層を形成し、続いて
メモリ層となるCoCrPtTa層233を100nm
形成し、次にスイッチング層としてDyFe層232を
10nm、次に磁壁移動層としてGdFeCo層231
を30nm順次スパッタリング形成した。最後に、第2
の誘電体層(保護層)としてSiN層24を80nm形
成した。
は、ランド幅が0.6μm、グルーブ幅が0.6μm、
溝深さが85nm、溝のテーパ角が45度のランド&グ
ルーブ基板である。該ポリカーボネート基板21上に第
1の誘電体層(干渉層)としてSiN層22を80nm
形成し、次に下地層234としてTi−Cr(30n
m)続いてCo−Cr(20nm)層を形成し、続いて
メモリ層となるCoCrPtTa層233を100nm
形成し、次にスイッチング層としてDyFe層232を
10nm、次に磁壁移動層としてGdFeCo層231
を30nm順次スパッタリング形成した。最後に、第2
の誘電体層(保護層)としてSiN層24を80nm形
成した。
【0031】各磁性層は、Gd,Fe,Co,Dy,T
i,Cr,Pt,Taの各ターゲットに直流パワーを印
加して成膜した。メモリ層のCoCrPtTaは、背圧
を1×10-5Pa以下とし、Arガス圧を0.25Pa
としてスパッタ形成した。また、SiN層はArガスに
N2ガスを加えて、直接反応性スパッタにより形成し
た。
i,Cr,Pt,Taの各ターゲットに直流パワーを印
加して成膜した。メモリ層のCoCrPtTaは、背圧
を1×10-5Pa以下とし、Arガス圧を0.25Pa
としてスパッタ形成した。また、SiN層はArガスに
N2ガスを加えて、直接反応性スパッタにより形成し
た。
【0032】このようにして得られた光磁気ディスク
(第2の誘電体層無しのダミーサンプル)の表面をSE
M観察したところ、結晶粒の大きさは平均10nmであ
つた。また、第3の磁性層(メモリ層)の磁気特性は、
Ms=480emu/cc、Hc=2.2kOeであっ
た。
(第2の誘電体層無しのダミーサンプル)の表面をSE
M観察したところ、結晶粒の大きさは平均10nmであ
つた。また、第3の磁性層(メモリ層)の磁気特性は、
Ms=480emu/cc、Hc=2.2kOeであっ
た。
【0033】このようにして得られた光磁気ディスクの
グルーブ面に、通常の磁界変調方式でピット長0.10
μmをピット間隔0.10μmで連続に記録した後、
『磁性層の温度勾配を利用した磁壁移動型拡大再生方
法』を用いて再生したところ、波長680nm、NA
0.6の光学系(相対速度2m/s)において、C/N
41.0dBが得られた。また、エラーレートは実用上
問題の無いレベル(BER<10-5)であった。また、
本発明のディスクのデータの記録手段は、磁気ヘッドで
も可能である。
グルーブ面に、通常の磁界変調方式でピット長0.10
μmをピット間隔0.10μmで連続に記録した後、
『磁性層の温度勾配を利用した磁壁移動型拡大再生方
法』を用いて再生したところ、波長680nm、NA
0.6の光学系(相対速度2m/s)において、C/N
41.0dBが得られた。また、エラーレートは実用上
問題の無いレベル(BER<10-5)であった。また、
本発明のディスクのデータの記録手段は、磁気ヘッドで
も可能である。
【0034】以上、第3の磁性層(メモリ層)にTi−
Cr/Co−Cr下地層を持つCoCrPtTaの垂直
磁気記録膜を用いることによって、0.10μmの微小
ピットにおいても、実用レベルの再生信号とエラーレー
トを得ることが出来た。
Cr/Co−Cr下地層を持つCoCrPtTaの垂直
磁気記録膜を用いることによって、0.10μmの微小
ピットにおいても、実用レベルの再生信号とエラーレー
トを得ることが出来た。
【0035】比較例1 実施例1において、第3の磁性層133の成膜条件を、
Arガス圧0.5PaとしてCoCrPtTaを形成し
た他は実施例1と同じとした。結晶構造をSEM観察し
たところ、結晶粒径は平均40nmであった。
Arガス圧0.5PaとしてCoCrPtTaを形成し
た他は実施例1と同じとした。結晶構造をSEM観察し
たところ、結晶粒径は平均40nmであった。
【0036】このようにして得られた光磁気ディスクの
グルーブ面に、通常の磁界変調方式でピット長0.10
μm、ピット間隔0.10μmで連続に記録した後、
『磁性層の温度勾配を利用した磁壁移動型拡大再生方
法』を用いて再生したところ、波長680nm、NA
0.6の光学系(相対速度2m/s)において、C/N
は38.0dB得られたが、エラーレートが実施例1と
比較すると約50倍(BER>10-5)であった。
グルーブ面に、通常の磁界変調方式でピット長0.10
μm、ピット間隔0.10μmで連続に記録した後、
『磁性層の温度勾配を利用した磁壁移動型拡大再生方
法』を用いて再生したところ、波長680nm、NA
0.6の光学系(相対速度2m/s)において、C/N
は38.0dB得られたが、エラーレートが実施例1と
比較すると約50倍(BER>10-5)であった。
【0037】実施例3 実施例2において、下地層234としてTi−Cr(2
0nm)続いてCo−Cr(15nm)層を形成し、続
いてメモリ層として、TbFeCo層233を40nm
形成した他は、実施例2と同じとした。
0nm)続いてCo−Cr(15nm)層を形成し、続
いてメモリ層として、TbFeCo層233を40nm
形成した他は、実施例2と同じとした。
【0038】TbFeCo層は背圧を1×10-5Pa以
下とし、Ar圧を0.3Paとしてスパッタ形成した。
下とし、Ar圧を0.3Paとしてスパッタ形成した。
【0039】このようにして得られた光磁気ディスク
(第2の誘電体層無しのダミーサンプル)の表面をSE
M観察したところ、微細な結晶の様な物が観察され、そ
の大きさは平均30nmであった。また、第3の磁性層
(メモリ層)の磁気特性は、Ms=380emu/c
c、Hc=1.8kOeであった。
(第2の誘電体層無しのダミーサンプル)の表面をSE
M観察したところ、微細な結晶の様な物が観察され、そ
の大きさは平均30nmであった。また、第3の磁性層
(メモリ層)の磁気特性は、Ms=380emu/c
c、Hc=1.8kOeであった。
【0040】このようにして得られた光磁気ディスクの
グルーブ面に、通常の磁界変調方式でピット長0.10
μmをピット間隔0.10μmで連続に記録した後、
『磁性層の温度勾配を利用した磁壁移動型拡大再生方
法』を用いて再生したところ、波長680nm、NA
0.6の光学系(相対速度2m/s)において、C/N
40.0dBが得られた。また、エラーレートは実用上
問題の無いレベル(BER<10-5)であった。
グルーブ面に、通常の磁界変調方式でピット長0.10
μmをピット間隔0.10μmで連続に記録した後、
『磁性層の温度勾配を利用した磁壁移動型拡大再生方
法』を用いて再生したところ、波長680nm、NA
0.6の光学系(相対速度2m/s)において、C/N
40.0dBが得られた。また、エラーレートは実用上
問題の無いレベル(BER<10-5)であった。
【0041】以上、第3の磁性層(メモリ層)に微細結
晶構造のTbFeCoの垂直磁気記録膜を用いることに
よっても、0.10μmの微小ピットにおいても、実用
レベルの再生信号とエラーレートを得ることが出来た。
晶構造のTbFeCoの垂直磁気記録膜を用いることに
よっても、0.10μmの微小ピットにおいても、実用
レベルの再生信号とエラーレートを得ることが出来た。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光磁気記
録媒体によれば、特開平6−290496号公報に開示
された光磁気記録媒体(磁性層の温度勾配を利用した磁
壁移動型拡大再生方式により、記録密度並びに転送速度
を大幅に向上させる)において、第3の磁性層(メモリ
層)の平均結晶粒径を30nm以下とすることによっ
て、0.2μm以下の記録磁区(ピット長)を安定に記
録することが可能となった。
録媒体によれば、特開平6−290496号公報に開示
された光磁気記録媒体(磁性層の温度勾配を利用した磁
壁移動型拡大再生方式により、記録密度並びに転送速度
を大幅に向上させる)において、第3の磁性層(メモリ
層)の平均結晶粒径を30nm以下とすることによっ
て、0.2μm以下の記録磁区(ピット長)を安定に記
録することが可能となった。
【0043】又、第3の磁性層(メモリ層)の平均結晶
粒径を30nm以下とすることによって、磁性層の表面
粗さが小さくなり、第1の磁性層(移動層)の磁壁が移
動し易くなった。
粒径を30nm以下とすることによって、磁性層の表面
粗さが小さくなり、第1の磁性層(移動層)の磁壁が移
動し易くなった。
【図1】本発明の光磁気記録媒体の層構成(実施例1)
を示した模式的断面図である。
を示した模式的断面図である。
【図2】本発明の光磁気記録媒体の層構成(実施例2、
実施例3)を示した模式的断面図である。
実施例3)を示した模式的断面図である。
11、21 ポリカーボネート基板 13、23 磁性層 131、231 第1の磁性層 132、232 第2の磁性層 133、233 第3の磁性層 134、234 下地層 12、14、22、24 誘電体層
Claims (3)
- 【請求項1】 少なくとも、第1、第2、第3の磁性層
が順次積層されている光磁気記録媒体であって、該第1
の磁性層は、周囲温度近傍の温度において該第3の磁性
層に比べて相対的に磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度の大
きな磁性層からなり、該第2の磁性層は、該第1の磁性
層及び該第3の磁性層よりキュリー温度の低い磁性層か
らなる光磁気記録媒体において、前記第3の磁性層の平
均結晶粒径が30nm以下であることを特徴とする請求
項1に記載の光磁気記録媒体。 - 【請求項2】 前記第3の磁性層がCoCr系合金薄膜
であることを特徴とする請求項1に記載の光磁気記録媒
体。 - 【請求項3】 前記第3の磁性層がTbFe系或いはD
yFe系からなり、かつ磁壁の厚みが5nm以下である
ことを特徴とする請求項1に記載の光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29265197A JPH11126380A (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29265197A JPH11126380A (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11126380A true JPH11126380A (ja) | 1999-05-11 |
Family
ID=17784548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29265197A Pending JPH11126380A (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11126380A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7180831B2 (en) | 2001-11-29 | 2007-02-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magneto-optical recording medium having a recording layer of columnar structure |
-
1997
- 1997-10-24 JP JP29265197A patent/JPH11126380A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7180831B2 (en) | 2001-11-29 | 2007-02-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magneto-optical recording medium having a recording layer of columnar structure |
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