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JPH10204821A - 繊維状表面上の欠陥を検出する処理方法 - Google Patents

繊維状表面上の欠陥を検出する処理方法

Info

Publication number
JPH10204821A
JPH10204821A JP9270139A JP27013997A JPH10204821A JP H10204821 A JPH10204821 A JP H10204821A JP 9270139 A JP9270139 A JP 9270139A JP 27013997 A JP27013997 A JP 27013997A JP H10204821 A JPH10204821 A JP H10204821A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sub
image
images
spatial
processing method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9270139A
Other languages
English (en)
Inventor
Philippe Delagnes
フィリッブ・デラグネ
Dominique Barba
ドミニク・バルバ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nantes Pour Le Compte De Inst De Rech & Anciennements Superieur Au Technique De Electrique, University of
Etat Francais
Original Assignee
Nantes Pour Le Compte De Inst De Rech & Anciennements Superieur Au Technique De Electrique, University of
Etat Francais
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nantes Pour Le Compte De Inst De Rech & Anciennements Superieur Au Technique De Electrique, University of, Etat Francais filed Critical Nantes Pour Le Compte De Inst De Rech & Anciennements Superieur Au Technique De Electrique, University of
Publication of JPH10204821A publication Critical patent/JPH10204821A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • G01N21/8903Optical details; Scanning details using a multiple detector array
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C7/00Tracing profiles
    • G01C7/02Tracing profiles of land surfaces
    • G01C7/04Tracing profiles of land surfaces involving a vehicle which moves along the profile to be traced

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Road Repair (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、高い検出速度で広い繊維状表面を
検査をすることができ、しかもこの表面に存在する欠陥
を確実に検出することのできる表面の欠陥検出方法を提
供することを目的とする。 【解決手段】 繊維状表面16に対して照準線が傾斜し、
この表面に関して相対運動している光センサ14によっ
て、連続した瞬間におけるこの表面の一部分の連続した
イメージを形成し、各イメージが変位の方向の長さLの
表面部分に対応し、長さlだけ前のイメージからずらさ
れ、変位方向で長さlの表面の基本要素部分に対応した
サブイメージをN個の連続した瞬間に検出して空間的な
数学処理を行うことによって欠陥を検出することを特徴
とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、実質的に平坦な繊
維状表面における表面欠陥を検出する処理方法に関す
る。実質的に平坦な繊維状表面の場合、欠陥の検出にお
いて、表面の繊維状表面とこの表面に存在する欠陥との
間の光学レベルの干渉のために特定の問題が生じる。こ
れは高速道路上の欠陥検出の場合に特に顕著であるが、
それに限定されない。
【0002】
【従来の技術】高速道路の路面の品質検査が所望された
場合、高速道路の一部分の状態は人間の視覚によって直
接検査されることができる。このような検査によって、
路面劣化の非常に詳細な解析結果が得られる。しかしな
がら、このような技術は長期に及ぶため、その実施費用
が非常に高価になることが理解されるであろう。このた
め、このような欠陥を自動的に検出する技術の開発が求
められている。
【0003】以下において、これらの既知の技術の1つ
として、視線軸が道路の平面に垂直なCCD検出器のバ
ーを自動車上に設置するものが挙げられる。この技術で
は、光センサによって獲得されたイメージが高速道路の
舗装面を構成する。それらはそこから可能性のある欠陥
の存在を推定するために使用される。しかしながら、こ
のような処理方法は一方において高速道路の繊維状表面
のために、また他方において照明の状態に対する感度の
ために比較的不正確である。さらに、この方法は、特に
多量のデータに対応した高解像度イメージの獲得とその
処理のために、処理速度が比較的遅い。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】現在まで、高速道路の
舗装の劣化に関する問題が検討されてきた。しかしなが
ら、表面欠陥の検出が所望される表面がランダムな光学
外観を呈する繊維状表面を有するものである場合、直に
同様の問題に直面することが容易に理解されるであろ
う。これは、例えば布、すなわち厳密には布織物におけ
る欠陥の検出の場合や、例えば積層材料から形成された
被覆織物における可能性のある欠陥の検出の場合であ
る。
【0005】繊維状表面の欠陥検出にイメージを使用し
た時に生じる別の解決すべき問題とは、比較的広い表面
に対応するイメージの解析が所望され、かつその欠陥の
面積が比較的小さい場合、特に欠陥の大きさの桁が画素
またはそれよりはるかに小さくなった場合に、そのショ
ットを構成するように機能する光センサの解像度の問題
が生じることである。その場合、欠陥の検出は、特に獲
得されたイメージを処理するために必要なアナログ・デ
ジタル変換のために非常に困難になるか、または著しく
ランダムになる。本発明の目的は、比較的高い検出速度
で比較的広い面上を検査をすることを可能にし、一方に
おいてこの繊維状表面に存在する可能性のある欠陥を優
れた検出性能で確実に検出する表面の欠陥検出処理方法
を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によると、この目
的は、 a)実質的に平坦な繊維状表面と照準線が傾斜角をな
し、この表面に関して相対運動している光センサによっ
て、連続した瞬間におけるこの表面の一部分の連続した
イメージを形成し、各イメージが変位の方向の長さLの
表面部分に対応しており、長さlだけ前のイメージから
ずらされ、ここでlがL/Kに等しく、Kが2より大き
く、 b)変位方向においてlに等しい長さを有する表面の基
本要素部分に対応したサブイメージを規定し、それによ
って表面の一部分の長さlに対して、この部分のK個の
サブイメージが獲得され、 c)N個の連続した瞬間における表面の長さlの同じ部
分に対応するN個のサブイメージ(Ii )をこれらK個
の連続したサブイメージから抽出し、ここでNは2とK
との間に含まれ、 d)推定された欠陥の形態を示すようにするために同じ
空間的な数学処理をN個の各サブイメージ(Ii )に適
用し、処理された中間サブイメージ(Yi )を生成し、 e)基本要素サブイメージ中の欠陥を検出するために第
1の処理された基本要素サブイメージ(Yo )に組合せ
アルゴリズムを適用し、それによって空間的および時間
的サブイメージSTo が得られ、 f)i=N−1までの空間的および時間的サブイメージ
を獲得するために、瞬間ti−1に獲得された空間的お
よび時間的サブイメージSTi-1 と処理された基本要素
サブイメージYi とに対してこの組合せアルゴリズムを
反復的に適用し、 g)空間的および時間的サブイメージSTN-l により、
可能性のある欠陥が存在する繊維状表面の基本要素部分
のイメージを得るステップを含んでいることを特徴とす
る処理方法によって達成される。
【0007】本発明によると、繊維状表面の基本要素部
分の欠陥は“静止した位置”を占める表面の基本要素部
分に対応したサブイメージを処理した結果決定され、こ
れらのサブイメージは異なる連続した瞬間に獲得され
る。上述された特定の処理により、比較的広い視界を有
するカメラを使用して、欠陥の存在の効率的な検出が行
われ、それによって比較的広い表面全体において欠陥を
迅速に検出することができる。
【0008】特に高速道路上の欠陥の検出に適用される
第1の実施形態によると、光センサは自動車に設置され
たカメラから構成され、この自動車はもちろん高速道路
に関して移動する。
【0009】第2の実施形態によると、光センサは固定
され、繊維状表面がこの光センサに関して一定の速度で
移動される。この第2の実施形態は、特に布または積層
表面のウエブにおける欠陥の検出に良好に適合する。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明は、以下の説明および添付
図面から容易に理解されるであろう。既に述べられたよ
うに、繊維状表面上の欠陥を検出する処理方法は、検査
されるべき面と傾斜角をなす、すなわちその表面に垂直
ではない光センサによって得られた連続したイメージを
処理し、獲得された連続したイメージを利用することに
基づいている。検査されるべき表面に関する光センサの
相対的な変位は、この表面に関する光センサの変位また
は光センサに関する面の変位のいずれかによって生じる
ことができる。
【0011】図面を参照すると、図1は、高速道路上の
欠陥を検出するために使用される装置を概略的に示して
いる。この図は、高速道路12上を移動している自動車10
を概略的に示す。カメラ14または別の類似した光センサ
がその光軸X−X´が高速道路の路面と90°以外の角
度をなすように自動車上に設置される。カメラ14の開口
に応じて、得られる各イメージは高速道路の一部分の長
さLに対応する。この長さLは、もちろんカメラの高さ
Hとその開口に依存している。以下に説明するように、
傾斜角および高さは、光線の異なる傾きにかかわらず高
速道路の全体部分16の良好なイメージが得られるように
定められる。この図には、自動車上に搭載された処理シ
ステム18も概略的に示されており、このシステム18が可
能性のある欠陥の存在を検出するためにカメラ14によっ
て供給された信号を処理する。
【0012】図2は図1のものと反対の変位を示してお
り、これは例えば繊維状表面を有する平坦な表面を構成
する布織物上の可能性のある欠陥を検出することが所望
された場合である。布織物22が移動する支持平面20が概
略的に示されており、この織物は最初ローラ24上に巻付
けられており、駆動ローラ26によって巻取られる。支持
面20上を移動している布織物22の部分と光軸X−X´と
が傾斜角aをなしている固定されたカメラ28がこの布織
物の連続したイメージを撮影する。システム29は、以下
説明されるように処理を行う。
【0013】この実施形態は、特に移動の容易な繊維状
表面を有する面を提供する材料の織物における欠陥検出
に良く適している。これは特に布織物の場合だけでな
く、未加工の材木の厚板または細長い形状の1本の金属
製品の場合にも該当する。
【0014】以下、図1に示された高速道路上の欠陥を
検出する場合を検討する。しかしながら、言うまでもな
く、この説明は図2の実施形態による検出の場合にも該
当する。
【0015】異なる瞬間に獲得された連続したイメージ
は、サブイメージのシーケンスを形成するために使用さ
れ、その各シーケンスが表面の基本要素部分と関連して
いる。第1の数学処理は、カメラの光軸が傾けられた時
の遠近関係による影響を部分的にまたは完全に補正す
る。これらの数学的なイメージ処理はそれ自体知られて
いるため、ここでは説明しない。これらのイメージ処理
によって、標準的な矩形または最初の台形形状より弱く
強調された台形形状を各サブイメージに与えることがで
きる。
【0016】既に述べたように、長さl=L/Kの表面
Sの基本要素部分(P)における可能性のある欠陥の検
出は、連続した瞬間に観察され、かつ長さlだけ空間的
にオフセットされたイメージから得られたこの表面部分
(P)に対応したサブイメージのシーケンスの処理に基
づいている。
【0017】図3のaは、基本要素部分(Pj )の観察
を可能にする連続したイメージからのサブイメージ(I
j,i )のシーケンスの構成を示す。この図は特に、イメ
ージが撮影されるカメラ14の連続した位置を示す。指数
jの面の基本要素部分(Pjで示す)は、瞬間tj-K+l
から瞬間tj まで進行したイメージのシーケンスで観察
される。それらの各々からPj に対応したサブイメージ
が抽出される。
【0018】表面の基本要素部分(Pj )の観察に対応
したサブイメージ(Ij,i )は、部分(Pj )上におけ
る可能性のある欠陥の検出を目的とした解析ステップの
ための入力として機能する空間的および時間的信号を形
成する。図3のbは、処理される前のサブイメージ(I
j,i )を示す。
【0019】以下さらに詳細に説明するように、解析さ
れるべき完全な表面を構成する連続した基本要素部分
(Pj )のそれぞれにおける可能性のある欠陥を検出す
る数学処理を繰り返すことによって、存在する欠陥が総
合的な表面で検出される。
【0020】図4は、各イメージのサブイメージIj,i
への“裁断(cutting) ”をさらに詳細に示している。瞬
間ti に得られたイメージji は、各サブイメージが同
じ長さl=L/Kの高速道路面の一部分に対応するよう
に、K個のサブイメージIi+ k,k に裁断され、ここでk
は0からK−1まで変化する。瞬間t0 において、獲得
されたイメージはサブイメージI0,0 乃至IK-1,K-1
示す。瞬間ti において、イメージはイメージIi,0
至Ii+K-1,K-1 を示す。
【0021】逆に、表面の一部分Pj を考えると、それ
は“イメージJj の最後端”に対応するサブイメージI
j,0 において瞬間jに獲得されたイメージ中に、I
j,1,…において瞬間j−1に獲得されたイメージ中に、
…“イメージJj-K+1 の最前端”に対応するサブイメー
ジIj,K-1 において瞬間K−1に獲得されたイメージ中
に存在する。したがって、K個の異なる連続した瞬間t
j-K+1 乃至tj における高速道路の長さlの同一の基本
要素部分(Pj )のK個のサブイメージIj,k が得ら
れ、ここでkは0からK−1まで変化する。
【0022】以下では高速道路の表面の一部分の指数を
除外し、指数の代わりに、高速道路の面部分(P)に対
応したK個のサブイメージを指定するために、iが0か
らK−1まで変化するサブイメージIi に言及すること
を可能にする集合を採用する。
【0023】本発明の原理によると、欠陥の検出は、高
速道路の同じ基本空間部分に対応したN個のサブイメー
ジを処理することによって行われ、これらのサブイメー
ジはN個の異なる連続した瞬間に獲得される。Nは最小
で2に等しく、かつ最大でKに等しくなければならない
ことが容易に理解されるであろう。特定の実施形態にお
いて、N=K=11である。NおよびKは6と15との
間に含まれることが好ましい。
【0024】以下、高速道路の同じ基本要素部分に対応
するN個の空間的サブイメージがN個の異なる瞬間にど
のようにして数学的に処理されるかを説明する。簡単な
時間的加算形態の処理は、獲得されて、デジタル形態に
変換されたサブイメージの画素のレベルで直接行われて
もよい。しかしながら、本発明において、可能性のある
欠陥の存在はこのような処理では満足できるほど明瞭に
示されないことが判明している。
【0025】したがって、本発明により、異なるサブイ
メージを構成する画素レベルで直接処理する代わりに、
先行して予備処理を実施し、それによって表面欠陥にサ
ブイメージで対応することのできる相対的配置、すなわ
ち厳密に述べると画素のグループを処理することができ
る。それ自体知られているこの予備処理ステップの実行
方法は解析グリッドを使用するものであり、したがって
それはその性質が対処すべき問題に良好に対応するプリ
ミティブを処理するために画素レベルを無視することと
同じである。この解析グリッドをライン単位で使用する
ことは、それ自体が知られているマルコフモデルを使用
することである。したがって、以下に説明する後続的な
サブイメージ処理は、マルコフモデルの適用によって修
正されたサブイメージに対して実施される。その他の処
理法は、以下に説明するように使用されることができ
る。
【0026】図5は、全体的な検出工程を簡単に示して
いる。カメラ14によって供給されたアナログ信号は、A
−D変換器30によってデジタル信号に変換される。この
変換器30はデジタルイメージ処理システム32に接続され
ており、この処理システム32はイメージを補正して、サ
ブイメージに“裁断”する処理方法を使用する。システ
ム34は、表面の同じ基本要素部分に対応したデジタルサ
ブイメージを記録装置(レジスタ)に転送し、メモリ36
にそれらを記憶する。システム38は、例えばマルコフモ
デルを適用することによって各サブイメージの空間的処
理を行う。最後に、システム40は、図7を参照して以下
に説明されるサブイメージ42の空間的および時間的処理
を行う。このシステム40によって、可能性のある欠陥を
有する表面の各基本要素部分のイメージを得ることが可
能にされる。
【0027】以下図6を参照して、上述の方法によって
獲得された異なるサブイメージの処理をさらに詳細に説
明する。図6は、図5の空間的および時間的処理システ
ム40を示している。図7において、参照符号Yi は瞬間
i に獲得された空間的サブイメージを表し、この空間
的サブイメージに対して抽出グリッドが適用されてい
る。参照符号Li は、空間的・時間的イメージに適用さ
れるマルコフ・セグメンテーションのステップを示して
いる。参照符号ST´i は最初の空間的・時間的サブイ
メージを示し、STi は処理された空間的・時間的サブ
イメージを示す。第1の空間的・時間的イメージSTは
空間的イメージY0 と事実上同じである。マルコフセグ
メンテーションL0 によって、空間的・時間的サブイメ
ージST0が得られる。参照符号50で示された以下のス
テップにおいて、以下に定められる組合せアルゴリズム
により、第2の空間的サブイメージY1 が第1の空間的
・時間的イメージST0 と結合される。ステップ52にお
いて、マルコフ・セグメンテーションにより、行1の空
間的・時間的イメージが獲得される。
【0028】さらに一般的には、行iの空間的・時間的
サブイメージを獲得するために、はじめに行i−1の空
間的・時間的サブイメージが行iの空間的観察結果と結
合され、それによって最初の空間的・時間的サブイメー
ジが提供され、マルコフ・セグメンテーションによって
行iの最終的な空間的・時間的イメージが得られること
が理解されるであろう。この組合せアルゴリズムの適用
動作は、i=N−1まで繰り返し行われることが理解さ
れるであろう。欠陥が問題の表面の基本要素部分に実際
に存在している場合、マルコフ・セグメンテーションが
適用された行N−1の空間的・時間的イメージは、この
ような欠陥が明瞭に現れたサブイメージを提供する。
【0029】以下、空間的サブイメージYi と空間的・
時間的サブイメージSTi-1 から空間的・時間的サブイ
メージSTi を獲得することのできる組合せアルゴリズ
ムの好ましい実施形態をさらに詳細に説明する。空間的
サブイメージYi の全ての空間的位置がST´i に持ち
越される。Li-1 中の記述子lに対して有しているST
i-1 の位置がST´i において投影される。以下の条件
にしたがって、ST´i から投影された任意の位置sに
関して、 *Yi からの位置s´が、sとs´の中心が8−隣接状
態であるように中心sの付近に配置されている場合、2
つの位置は単一の結果的位置sresultant に変換され
る。次の2つの場合が区別される: *sとs´とは互いに関して直交しない:2つの位置が
統一され、結果な位置の特性が次のようになる。
【0030】 ・位置: sresultant の位置はs´の位置: (xresultant ,yresultant )=(xs',ys')であ
る ・方向: 方向θresultant は、 (si sti-1 (s) =yi (s'),θresultant =θs
の場合に、 max(sti-1 (s) ,yi (s'))が得られる位置sま
たはs´の方向である。
【0031】・振幅: st´i (sresultant ) =max(sti-1 (s),yi (s')) +lη.min(st
i-1 (s),yi (s')) *sとs´とが互いに関して直交する:sが消去され、
したがって sresultant =s´ ・sとs´の中心が8−隣接状態となる、Yi から得ら
れる位置s´が存在しない場合、sはsresultant =s
として保存される。
【0032】ST´i から得られたマルコフ・セグメン
テーションLi は、ST´i において重要であると見な
される位置とそうでない位置とを区別することによって
重要な表示を提供する。したがって、記述子Li のフィ
ールドがST´i の位置の振幅を再評価するために使用
され、これによって最終的な空間的・時間的観察記録S
i が得られる:ST´i の任意の位置sに対して、 *sがYi (空間的原点)からのものである場合、その
振幅は不変である: sti (s) =st´i (s) *sがSTi-1 (時間的原点)からのものである場合、
セグメンテーションLi が介在する。
【0033】*li (s) =“1”の場合、 sの振幅が維持される:sti (s) =st´i (s) *li (s) =“0”の場合、 sの振幅が減少される:sti (s) =l/η.st´i
(s) したがって、これらの位置の振幅の増加または減少中に
stの時間的な展開が得られることが理解される。重要
な位置の振幅の増加は、互いに直交しない2つの位置の
融合中にst´i (sresultant )の計算から得られ
る。採用された式は、新しい位置の振幅を計算する簡単
な方法(最大振幅の変換および最小振幅の分数の加算)
を表しているが、STi-1 (s) からのst´i (s
resultant )とyi の別のモードの計算も考えられる。
重要でない位置の振幅の減少は、オーバーセグメンテー
ション(li (s) =“0”)に保存されていないsの場
合にSTi の計算中に得られる。
【0034】以上の説明では、空間的・時間的サブイメ
ージを精密にするために画素のレベルのサブイメージを
使用する代わりに、マルコフ・セグメンテーションの技
術を使用している。しかしながら、言うまでもなく、こ
の処理方法は本発明を制限するものではない。
【0035】別の処理方法は、それ自体が知られている
関連した構成要素を抽出する処理方法を実行することで
あり、これによってより広い面積の形態にアルゴリアズ
ムを適用することが可能となり、欠陥の検出が改良され
る。
【0036】関連した構成要素を抽出する処理を行なう
場合には、図7と関連して説明されたものと同様に、組
合せアルゴリアズムが適用される。
【0037】この組合せアルゴリアズムは、どのような
変形の処理方法であっても、検査されるべき表面の同じ
基本要素部分に対応したN個のサブイメージを処理し、
サブイメージはN個の連続した瞬間に獲得されることが
理解されるであろう。
【0038】行なわれた実験から、これらのN個のサブ
イメージに適用される反復処理方法によって、問題とな
っている表面の基本要素部分に存在する欠陥を優れた検
出性能で検出できることが証明されている。
【0039】特に、検出されるべき欠陥の面積が、獲得
されたイメージ中の画素によってカバーされる区域の面
積に匹敵する場合、N個のサブイメージに対して実施さ
れるこの反復処理によってアナログデジタル変換の未知
の係数の影響を免れることが可能なことが認められる。
【図面の簡単な説明】
【図1】高速道路における欠陥を検出する場合の処理を
実行するために使用される装置の概略図。
【図2】布上の欠陥を検出する場合の装置の概略図。
【図3】表面の一部分の連続したイメージを得る方法の
概略説明図および連続した瞬間に獲得された同じ表面の
一部分の連続したサブイメージの概略図。
【図4】異なる連続した瞬間に表面の一部分のイメージ
でサブイメージを獲得することを示した概略図。
【図5】光センサによって供給されたデータの処理手段
の簡略図。
【図6】空間的および時間的サブイメージを精密なもの
にする組合せアルゴリズムの実施工程を示したブロック
図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 597139745 ユニベルシテ・ドゥ・ナーント・プール・ ル・コーント・ドゥ・ランスティテュ・ド ゥ・ルシェルシュ・エ・ダンセニュマン・ スペリュール・オー・テクニック・ドゥ・ レレクトロニック・リレスト フランス国、44087 ナーント・セデクス、 ベー・ペー 3003、ラ・シャントルリ(番 地なし) (72)発明者 フィリッブ・デラグネ フランス国、29300 バイウ、ルット・ド ゥ・リル 394 (72)発明者 ドミニク・バルバ フランス国、44470 カルクフー、リュ・ デ・エキュルーユ 4

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 実質的に平坦な繊維状表面における表面
    欠陥を検出する処理方法において、 a)実質的に平坦な繊維状表面と照準線が傾斜角をな
    し、この表面に関して相対運動している光センサによっ
    て、連続した瞬間におけるこの表面の一部分の連続した
    イメージを形成し、各イメージが変位の方向の長さLの
    表面部分に対応しており、長さlだけ前のイメージから
    ずらされ、ここでlがL/Kに等しく、Kが2より大き
    く、 b)変位方向においてlに等しい長さを有する表面の基
    本要素部分に対応したサブイメージを規定し、それによ
    って表面の一部分の長さlに対して、この部分のK個の
    サブイメージが獲得され、 c)N個の連続した瞬間における表面の長さlの同じ部
    分に対応するN個のサブイメージ(Ii )をこれらK個
    の連続したサブイメージから抽出し、ここでNは2とK
    との間に含まれ、 d)推定された欠陥の形態を示すようにするために同じ
    空間的な数学処理をN個の各サブイメージ(Ii )に適
    用し、処理された中間サブイメージ(Yi )を生成し、 e)基本要素サブイメージ中の欠陥を検出するために第
    1の処理された基本要素サブイメージ(Y0 )に組合せ
    アルゴリズムを適用し、それによって空間的および時間
    的サブイメージST0 が得られ、 f)i=N−1までの空間的および時間的サブイメージ
    を獲得するために、瞬間ti−1に獲得された空間的お
    よび時間的サブイメージSTi-1 と処理された基本要素
    サブイメージYi とに対してこの組合せアルゴリズムを
    反復的に適用し、 g)空間的および時間的サブイメージSTN-l により、
    可能性のある欠陥が存在する繊維状表面の基本要素部分
    のイメージを得るステップを含んでいることを特徴とす
    る処理方法。
  2. 【請求項2】 ステップd)の前に、繊維状表面に関す
    る光センサの傾斜による遠近関係の影響を少なくとも部
    分的に補正するための処理が各サブイメージに対して適
    用される請求項1記載の処理方法。
  3. 【請求項3】 ステップd)の前記空間的な数学処理方
    法は、規則的または不規則的グリッドによりマルコフモ
    デルを前記基本要素イメージに適用することよりなる請
    求項2記載の処理方法。
  4. 【請求項4】 ステップd)の前記空間的な数学処理
    は、サブイメージの画素から関連した要素の抽出を行う
    ことよりなる請求項2記載の処理方法。
  5. 【請求項5】 前記光センサは自動車に設置されたカメ
    ラであり、繊維状表面は高速道路の路面である請求項1
    乃至4のいずれか1項記載の処理方法。
  6. 【請求項6】 前記光センサは固定され、繊維状表面が
    この光センサに関して直線的に移動される請求項1乃至
    4のいずれか1項記載の処理方法。
  7. 【請求項7】 繊維状表面は布織物である請求項6記載
    の処理方法。
  8. 【請求項8】 前記繊維状表面は未加工の木材である請
    求項6記載の処理方法。
  9. 【請求項9】 前記繊維状表面は細長い金属製品の表面
    である請求項6記載の処理方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9922292B2 (en) 2014-09-22 2018-03-20 International Business Machines Corporation Information processing apparatus, program, and information processing method

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU759353B2 (en) * 1999-03-02 2003-04-10 Cea Technologies Inc. Method for image texture analysis
AUPP898499A0 (en) * 1999-03-02 1999-03-25 University Of Queensland, The Method for image texture analysis
FI115558B (fi) * 2002-03-27 2005-05-31 Metso Automation Oy Menetelmä havainnointialueen mittakaavan määrittämiseksi
US20040032973A1 (en) * 2002-08-13 2004-02-19 Eastman Kodak Company Method for using remote imaging to predict quality parameters for agricultural commodities
US20070263222A1 (en) * 2003-04-24 2007-11-15 Loveless Roger J Monitoring Road Reflectance and Street Lighting
US7562593B2 (en) * 2005-10-06 2009-07-21 The Boeing Company Apparatus and methods for adjustably supporting probes
US20070089549A1 (en) * 2005-10-06 2007-04-26 The Boeing Company Apparatus and methods for adjustably supporting probes
US9274063B2 (en) * 2010-11-12 2016-03-01 Ftd Highrise Inspection Inc. Building inspection device
US9448148B2 (en) * 2012-04-26 2016-09-20 Quest Integrated, Llc Rolling weight deflectometer
JP6080722B2 (ja) * 2013-08-05 2017-02-15 大成ロテック株式会社 路面性状測定装置及び路面性状測定方法
CN104746413B (zh) * 2013-12-27 2017-02-22 北京恒达锦程图像技术有限公司 一种道路检测车
CN104359913B (zh) * 2014-12-02 2016-08-31 吉林大学 基于线结构光动态测量基准的车载路面初生裂纹采集系统
CN104899898B (zh) * 2015-05-28 2018-01-05 华南理工大学 基于多维信息概率模型的路面检测方法
CN105178149B (zh) * 2015-08-25 2017-04-19 吉林大学 车载路面裂纹机器视觉检测系统的投影式标定系统
US20190377945A1 (en) * 2017-02-28 2019-12-12 Optim Corporation System, method, and program for detecting abnormality
US10792890B2 (en) * 2017-08-23 2020-10-06 Wilsonart Llc Textured and digitally printed decorative surfacing materials
EP3830341B1 (en) 2018-07-30 2023-07-05 Ricoh Company, Ltd. Measurement apparatus and vehicle
CA3133681A1 (en) * 2019-03-15 2020-09-24 Certainteed Gypsum, Inc. Method of characterizing a surface texture and texture characterization tool
US12228845B2 (en) * 2020-07-31 2025-02-18 Ricoh Company, Ltd. Article attaching device and measuring system
US20220272207A1 (en) * 2021-02-24 2022-08-25 General Electric Company Automated beam scan calibration, alignment, and adjustment
JP2024009614A (ja) * 2022-07-11 2024-01-23 株式会社リコー 物品取付器具、取手部材、計測装置の車両への取付方法、及び、移動計測装置
CN115538269A (zh) * 2022-09-15 2022-12-30 山东大学 一种沥青路面病害智能修复装置及方法
CN115420208B (zh) * 2022-11-04 2023-03-24 之江实验室 一种基于光纤结敏感结构与弹性拨片的纹理传感器
CN115540759B (zh) * 2022-11-16 2023-05-09 江西滕创洪科技有限公司 一种基于图像识别技术修饰金属的检测方法及检测系统
CN116289447A (zh) * 2023-03-24 2023-06-23 山东黄海智能装备有限公司 一种智能核验智能小车

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2402868A1 (fr) * 1977-09-12 1979-04-06 Usinor Procede et appareil de detection de defauts de surface sur une bande defilant a grande vitesse
DE3111728A1 (de) * 1981-03-25 1982-10-07 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg "pruefverfahren fuer werkstuecke"
JPS58201012A (ja) * 1982-05-19 1983-11-22 Komori Printing Mach Co Ltd 絵柄信号の処理方法
US4653316A (en) * 1986-03-14 1987-03-31 Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Apparatus mounted on vehicles for detecting road surface conditions
JP2510687B2 (ja) * 1987-08-13 1996-06-26 日本電信電話株式会社 高速欠陥検出方法および装置
US4879752A (en) * 1987-11-18 1989-11-07 Macmillan Bloedel Limited Lumber optimizer
US4958306A (en) * 1988-01-06 1990-09-18 Pacific Northwest Research & Development, Inc. Pavement inspection apparatus
US4922337B1 (en) * 1988-04-26 1994-05-03 Picker Int Inc Time delay and integration of images using a frame transfer ccd sensor
JPH0739999B2 (ja) * 1991-01-24 1995-05-01 肇産業株式会社 欠陥検出方法
US5544256A (en) * 1993-10-22 1996-08-06 International Business Machines Corporation Automated defect classification system
US5845002A (en) * 1994-11-03 1998-12-01 Sunkist Growers, Inc. Method and apparatus for detecting surface features of translucent objects
US5850468A (en) * 1995-04-11 1998-12-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Flaw detection apparatus
US5774177A (en) * 1996-09-11 1998-06-30 Milliken Research Corporation Textile fabric inspection system

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9922292B2 (en) 2014-09-22 2018-03-20 International Business Machines Corporation Information processing apparatus, program, and information processing method
US9928468B2 (en) 2014-09-22 2018-03-27 International Business Machines Corporation Information processing apparatus, program, and information processing method
US10282679B2 (en) 2014-09-22 2019-05-07 International Business Machines Corporation Information processing apparatus, program, and information processing method
US10289964B2 (en) 2014-09-22 2019-05-14 International Business Machines Corporation Information processing apparatus, program, and information processing method
US11907809B2 (en) 2014-09-22 2024-02-20 International Business Machines Corporation Information processing apparatus, program, and information processing method

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Publication number Publication date
CA2217379A1 (en) 1998-04-02
AU719655B2 (en) 2000-05-11
US6040853A (en) 2000-03-21
FR2754058B1 (fr) 1998-12-18
FR2754058A1 (fr) 1998-04-03
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