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JPH07504289A - ビットの一時記憶のための回路装置およびそのアドレス一時メモリとしての使用 - Google Patents

ビットの一時記憶のための回路装置およびそのアドレス一時メモリとしての使用

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JPH07504289A
JPH07504289A JP5514429A JP51442993A JPH07504289A JP H07504289 A JPH07504289 A JP H07504289A JP 5514429 A JP5514429 A JP 5514429A JP 51442993 A JP51442993 A JP 51442993A JP H07504289 A JPH07504289 A JP H07504289A
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mos transistor
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inverter
memory element
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JP5514429A
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ガイブ、ヘリベルト
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シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
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    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
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  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Communication Control (AREA)
  • Transceivers (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ビットの一時記憶のための回路装置およびそのアドレス一時メモリとしての使用 メモリモジュールでは個々のDRAMメモリセルのアドレス指定のためにビット がメモリモジュールのアドレス入力端に与えられる。有効なアドレスを与えた後 にアドレス入力端における変化がアドレスに影響を及ぼさないことを保証するた め、アドレスに相応するビットが一時記憶される。信号はその際に一般にCMO Sレベルに変換される。
与えられたビットの一時記憶の後にアドレス入力端が他の信号経路から切り離さ れる。
その際に使用される回路装置はアドレス一時メモリまたはアドレスラッチと呼ば れる。この回路装置は行アドレス、列アドレスに対して、またデータ書込みの範 囲に応用される。
本発明の課題は、ピントの一時記憶のための回路装置であって、できるだけ少数 のトランジスタにより構成される、従ってまた占を場所の小さい回路装置を提供 することにある。
この課題は、本発明によれば、請求項1による回路装置により解決される0本発 明の他の実施態様はその他の請求項に記載されている。
本発明による回路装置では、入力端が個々のトランジスタ、たとえばNMOSト ランジスタを介して、ビットが一時記憶されるメモリ要素と接続される。メモリ 要素は、メモリ要素の出力端における出力信号をビットに相応する入力信号のル ベルに関係して予め定められた電位にもたらす手段を含んでいる。こうして入力 信号の信号高さにおける損失が第1のトランジスタにおける論理lの通過接続の 際に補償される。
メモリ要素はたとえばインバータおよびPMO3)ランジスタを含んでおり、こ のトランジスタはそのゲート電極で反転された信号自体により駆動され、また導 通状態でインバータの入力端を、より高いレベルに相応する電位を供給する供給 電圧源と接続する。
反転された入力信号により駆動され、また導通状態でメモリ要素の入力端を、低 いレベルに相応する電位を供給する供給電圧源と接続する別のNMOSトランジ スタを設けることは本発明の範囲内にある。こうして、入力信号が論理0の値を とるときに、出力信号のノイズも補償される。
本発明による2つの回路装置からアドレス一時メモリを構成することは本発明の 範囲内にある。一方の回路装置にはディジタル入力信号がインバータを介して供 給される0両回路装置は共通に第1の制御信号により駆動される。アドレス一時 メモリの出力端に出力信号および反転された出力信号が得られる。
アドレス入力端における8MO5)ランジスタおよびPMO3)ランジスタおよ びメモリ要素としてのインバータを有する本発明による回路構成により、ビット をメモリ要素の入力端に接続するのに、第1の制御信号のみが必要である。
アドレス一時メモリの低いレベルのノイズ除去のためにNMOS)ランジスタを 有する実施例で8MO5トランジスタのゲート電極を交叉状に人力信号および反 転された人力信号により駆動すると有利である。それによりより高いノイズイミ ユニティが保証される。
以下、実施例および図面により本発明を一層詳細に説明する。
図面にはディジタル信号の一時記憶のための回路装置が示されている。
入力端Eは第1のMOS)ランジスタT1の第1の端子と接続されている。第1 のMOSトランジスタTlはたとえばnチャネルトランジスタである。第1のM OSトランジスタT1のゲート電極は第1の制御信号S1により駆動される。
第2のMOSトランジスタT2が設けられており、その第1の端子は第1の供給 電圧源VDDと接続されている。第2のMOS)ランジスタT2の第2の端子は 第1のMOSトランジスタTlの第2の端子と接続されている。第2のMOSト ランジスタT2はpチャネルトランジスタである。
第1のインバータ11が設けられており、その入力端は第1のMOS)ランジス タTlおよび第2のMOS)ランジスタT2の第2の端子と接続されている。
第1のインバータ11の出力端は第2のMOS)ランジスタT2のゲートを極と 接続されている。
第2のMOS)ランジスタT2はPチャネルトランジスタであるから、第2のM OS )ランジスタT2は、第1のMOSトランジスタT1の第2の端子にお( 1て入力信号が高いほうのレベルを有し、従ってまた第1のインノく一夕11の 出力端に低いほうのレベル(低レベル)が生じているとき、通過接続する。この 場合、゛ 第1のインバータ11の入力端における電位は第2のMOS)ランジ スタT2を介して供給電圧VDDの電位に引き込まれる。それにより、“ビが入 力端に与えられている場合には、第1のMOS)ランジスタTl上のカットオフ 電圧の損 。
失が補償される。
第1のインバータ■1の出力端は第2のインバータ■2の入力端と接続されてい る。第2のインバータI2の出力端は出力端A1と接続されてしする。出力端A 1には入力信号に相応する出力信号が得られる。
nチャネルトランジスタである第3のMOS)ランジスタT3が設けられており 、その第1の端子は第1のMOS)ランジスタT1の第2の端子と接続されてお り、またその第2の端子は出力信号の低いレベlしに相応する電位を有する第2 の供給電圧源VSSと接続されている。第3のMOS)ランジスタT3のゲート 電極は反転された人力信号により駆動される。
たとえばnチャネルトランジスタである第4のMOSトランジスタT4力(設番 すられている。第4のMOS)ランジスタT4の第1の端子は第1のMOSトラ ンジスタT1の第2の端子と接続されている。第4のMOS)ランジスタT4の 第2の端子は接地電位と接続されている。第4のMO3I−ランジスタT4のゲ ートtljを介して第2の制御信号S2が与えられる。
第1のMOS)ランジスタT1に対して並列に入力端Eが第3のインノ<−タI 3と接続されている。第3のインバータ13の出力端しよ第5のMOS)ランジ スタT5の第1の端子と接続されている。第5のMOS)ランジスタT5もたと えばnチャネルトランジスタである。第5のMOS)ランジスタT5のゲート電 極は同じく第1の制御信号Slにより駆動される。
同じくPチャネルトランジスタである第6のMOS)ランジスタT6カ(設番す られている。第6のMO5I−ランジスタT6の第1の端子番よ第1のイ共給電 圧源■DDと接続されている。第6のMOSトランジスタT6の第2の端子番よ 第5のMOSトランジスタT5の第2の端子と接続されている。
第4のインバータ■4が設けられており、その入力端は第5のMOS)ランジス タT5の第2の端子および第6のMO3I−ランジスタT6の第2の端子と接続 されている。第4のインバータr4の出力端は第6のMOSトランジスタT6の ゲート電極と接続されている。
第6のMOSトランジスタT6はnチャネルトランジスタであるから、第6のM OSトランジスタT6は、第4のインバータI4の出力端に低いほうの電圧レベ ル(低レベル)が生じており、従ってまた第4のインバータI4の入力端に高い 電圧レベルを有する信号が与えられているときに、通過接続する。論理」の通過 接続の際にこれは第6のMO3I−ランジスタT6を介して供給電圧VDDの電 位に引き寄せられる。
第5のインバータI5が設けられており、その入力端は第4のインバータ■4の 出力端と接続されている。第5のインバータI5の出力端は反転された出力端A 2と接続されている0反転された出力端A2には出力端AIに対して反転された 出力信号が生じている。
第7のMOS)ランジスタT7が設けられている。第7のMOSトランジスタT 7はnチャネルトランジスタである。第5のMOSトランジスタT5の第2の端 子が第7のMOSトランジスタT7の第1の端子と接続されている。第7のMO SトランジスタT7の第2の端子は第2の供給電圧源VDDと接続されている。
第7のMOS)ランジスタT7のゲート電極はディジタル入力信号により駆動さ れる。第7のMOSトランジスタT7のゲート電極は第3のMOS)ランジスタ T3の第1の端子と接続されている。第3のMOSトランジスタT3のゲート電 極は第7のMOS)ランジスタT7の第1の端子と接続されている。
第3のMOSトランジスタT3および第7のMOS)ランジスタT7のこの接続 によりそれぞれ低い電圧レベルにある回路部分が第2の供給電圧源■SSの電位 に引き込まれる。
たとえばnチャネルトランジスタである第8のMOSトランジスタT8が設けら れている。第8のMOSトランジスタT8の第1の端子は第5のMOS)ランジ スタT5の第2の端子および第6のMOS)ランジスタT6の第2の端子と接続 されている。第8のMOS)ランジスタT8の第2の端子lよ接jli!t(立 と接続されている。第8のMOS)ランジスタT8のゲート電極を介して第2の sm信号S2が与えられる。
高いレベルを有する第2の制御信号S2を与えることにより第4のMOSトラン ジスタT4および第8のMOS トランジスタT8が導通状態になる。それによ り第1のMOS)ランジスタT1の第2の端子および第5のMOSトランジスタ T5の第2の端子が接地電位におかれる。このことは回路装置のな力・に一時言 己憶された情報を消去させる。
入力信号が論理1の値をとるとき、第2のMOS)ランジスタT2および第1の インバータ11がメモリ要素として作用する0人力信号力1禽理Oの値をとると き、第6のMOS)ランジスタT6および第4のインツイータ14力くメモIJ 要素として作用する。
本発明による回路装置では出力信号および反転された出力信号に対して低し1圧 レベルが第2の供給電圧源VSSとの相応の接続により、また高し)!圧しベル が第1の供給電圧源VDDとの相応の接続により用意される。さらに互し)に反 転されている両回路分岐は互いにロックされている。
本回路装置は16M−DRAMメモリに対するアドレスランチとして遺してI、 sる。
国際調査報告 DrTl、、t Q’41Wnn

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.一ビットが一時記憶されるメモリ要素が設けられており、−第1の制御信号 (S1)を与えられた際にビットに相応する入力信号をメモリ要素の入力端に接 続する第1のMOSトランジスタ(T1)が設けられており、−メモリ要素が、 メモリ要素の出力端における出力信号を入力信号のレベルに関係して予め定めら れた電位にもたらす手段を設けられていることを特徴とするビットの一時記憶の ための同路装置。 2.−メモリ要素が第2のMOSトランジスタ(T2)および第1のインバータ (11)を含んでおり、 −第2のMOSトランジスタ(T2)がpチャネルトランジスタであり、このト ランジスタが第1のインバータ(11)の出力により駆動され、また導通状態で 第1のインバータ(11)の入力端を、高いほうのレベルに相応ずる電位を供給 する第1の供給電圧源(VDD)と接続することを特徴とする請求項1記載の回 路装置。 3.−第3のMOSトランジスタ(T3)が設けられており、−第3のMOSト ランジスタ(T3)がnチャネルトランジスタであり、このトランジスタが反転 された入力信号により駆動され、また導通状態でメモリ要素の入力端を、低いレ ベルに相応する電位を供給する第2の供給電圧源(VSS)と接続する ことを特徴とする請求項1または2記載の回路装置。 4.第4のMOSトランジスタ(T4)が設けられており、このトランジスタが 第2の制御信号(S2)を与えられた際にメモリ要素の内容を消去することを特 徴とする請求項1ないし3の1つに記載の回路装置。 5.メモリ要素の出力端が第2のインバータ(12)の入力端と接続されている ことを特徴とする請求項1ないし4の1つに記載の回路装置。 6.−第1の回路装置に入力信号が、また第2の回路装置に第3のインバータ( 13)により反転された入力信号が読入れられ、−両回路装置が第1の制御信号 (S1)により駆動され、−出力端に出力信号および反転された出力信号が与え られることを特徴とする請求項1ないし5の1つに記載の2つの回路装置を使用 するアドレス一時メモリ。 7.一方の回路装置の第3のMOSトランジスタ(T3)のゲート電極がそれぞ れ他方の回路装置のメモリ要素の入力端と接続されていることを特徴とする請求 項3と関連した請求項6記載のアドレス一時メモリ。
JP51442993A 1992-02-21 1993-02-01 ビットの一時記憶のための回路装置およびそのアドレス一時メモリとしての使用 Expired - Fee Related JP3522751B2 (ja)

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EP (1) EP0627117B1 (ja)
JP (1) JP3522751B2 (ja)
KR (1) KR100255701B1 (ja)
AT (1) ATE128572T1 (ja)
DE (1) DE59300689D1 (ja)
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