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JPH06501554A - 周波数カウンタ及びデュティ・サイクル変調の影響を最小にするために信号の周波数を計数する方法 - Google Patents

周波数カウンタ及びデュティ・サイクル変調の影響を最小にするために信号の周波数を計数する方法

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JPH06501554A
JPH06501554A JP3516158A JP51615891A JPH06501554A JP H06501554 A JPH06501554 A JP H06501554A JP 3516158 A JP3516158 A JP 3516158A JP 51615891 A JP51615891 A JP 51615891A JP H06501554 A JPH06501554 A JP H06501554A
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signal
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cycles
clock
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ハルシング、ランド・エイチ・ザ・セカンド
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サンドストランド・コーポレイション
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    • G01R23/10Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 周波数カウンタ及びデユティ サイクル変調の影;′″::最小るために信号の 周波数?計数する方法 l炙立ヱ この発明は、一般に分解能の高い周波数カウンタ及び信号の周波数を計数する方 法、特にデユティ・サイクル変」?受ける信号の周波数を測定する装置及び方法 に関するものて′ある。
i匪二11 加速度計及び他の種類センサには、加速度のような被測定パラメータの関数とし て変わる周波数を持つ信号と発生する1個以上の水晶発振器がしばしば含まれて いる。
持続暗闇が既知のサンプル期間中に発生する上記信号のサイクル数を計数するだ けで上記信号の周波数を測定できる。しかしながら、高い分解能を必要とする用 途における水晶発振器の周波数3監視するために用いられる計器は、その代表的 な例では、センサ水晶よりもはるかに高い周波数てゴY動する基準クロックのサ イクルによって“周波数を計数し”、従ってがまんできない程長いサンプル周期 を超える周波数と測定しなければならないことを避ける。上品によって発生さ1 する信号は、正弦波で′あり且つ通常、計器で計数される前に等しい周波数の方 形波に変換さhる9周波数計は、その代表的な例では、方形波信号の1周期以上 の周期中に基準クロンク サイクルを累積するカウンタを含んでいる。ただし、 そのよう全周期の各々は、方形波の立ち上がり縁から立ち上がり縁まで或は立ち 下がり縁がら立ち下がり縁までである。
2つの技術、即ちサンプル期間中に開始するセンサ濡号サイクルの整数を計数す ること及びサンプル期間の始めと終りで起きるセンサ周期の分数部分の整数を補 正することの組み合わせを使用することにより、周波数連続監視中に信号周波数 のより良い分解能さえリアルタイムで得られる。別なカウンタの基準クロックの サイクル?計数することによりセンサ周期の分数部分が測定される。
米[11特許第4.786.861号には、高分解能を得るためにセンサ信号の 分数部分な測定するカウンタと組み合わせて整数サイクル・カウンタを使用する 周波数計数装置及び方法が開示されている。整数カウンタは、サンプル期間中に 始まるセンサ周期即ちサイクルの総数3累積する。部分周期カウンタは、センサ 信号周期即ちサイクルの、サンプル期間が終った直後の部分中の基準70ツクの サイクルを累積する。そしてフル周期カウンタは、サンプル期間が終る直前がら 始まる、全センサ信号周期即ちサイクル中に起きた基準クロック サイクル数を 測定する。これら2つの計数の比、即ちフル計数で割った部分計数は、整数サイ クル計数から引かれるセンサ信号周期2コちサイクルの分数部分を定める。その 上、センサ信号周期の分数部分(最後のサンプル期間の終りに測定されて記憶さ れた)は結果に加えられてサンプル期間の補正された総計数3生じる。センサ信 号の周波数は、既知のサンプル期間で上記補正された総計数3割るだけて請求め ちれる。
加速度計に使用される形式、7)例示的な従来の水晶発振器回路10が図1に示 されている。この回路に関連した問題の1′)はデユティ サイクル変調エラー に対する感度て′ある。この回路中の水晶12は、被測定パラメータ例えば加速 度の間数として変わる周波数3持つ周期的に変化する正弦波状圧S電流を生じる 。水晶12によって生じられた電流は高イ〉ビーダンス増中器14の入力端子へ 供給される。高インピーダンス増巾器14は、相禰金属−酸化物−半導体(CM  OS )インバータ16Tiび高インピーダンス(抵抗値が100にΩより大 きい)帰還抵抗18を備えている。インバータ16の出力は他のCM OSイン バータ20・\印加され、池のインバータ20は方形波信号34が発振器から出 力されるように信号を整形する。出力信号は抵抗22を通して水晶12へ帰還さ れ且つ抵抗243通してアースに落とされる。高−インピーダンス増巾器14は ・、電源電圧(を源は図示しない)の約半分に等しい切換点レベルを中心に作動 する。
発振器回路′、0から出力された方形波信号:)デユティサイクルは、従って水 晶12によ−)で発生された正弦波信号の雑音による変更と電源電圧の安定性と の少なくとし一方によ−)で容易に影響される。
水晶12刀・らの信号は1例えば交流ラインからの浮遊S磁干渉(三λTI)の ビlクアIプにより或は水晶によって発生さhた信号・′\の池の信号の容量性 結合の結果として、雑音による影響を受:す得る。直流電源レベルが変動しても 出力方形波のデユティ・サイクルは同様に変わり得る。たとえ電圧調整器を電源 に使用しても、電源の直流レベルが、′シ・し変わり得るので、電源電圧のその ような変動はごく普通のことである。
水晶12からの正弦波信号に重畳された低周波雑音信号(或は;1の直流電圧の 変動)が発振器回路10からの方形波出力信号のデユティ・サイクル変調にどん なに影響するか3図2:;示す。雑音信号と水晶信号の合計を表す組み合三〕さ れた信号30は、各サイクル中間隔の変わる時間/−atl−tnにて高インピ ーダンス増巾器14の切換截レベル32と交差する0組み合わされた信号30が 切換点レベル32と交差する各時点て′出力信号2;立ち上がり縁36或は立ち 下がり縁38に対応して変化し、これにより方形波出力信号34を発生する。従 って、得られた方形波信号のデユティ・サイクルは、Xl:);欠P:の堕7: )変動て′示されるようにサイフルからサイクルへと変化する。同様に、雑音の 葺い場合でさえ、電源;圧ご)変動は高インピーダンス増巾器14.7+切換点 レベル32を変え、時間′:!曝t 1− t rr (この間に正弦波信号が 切換点レベルと交差する)?変えることでデユティサイクルを相応に変化させる 0発振器回路10からの方形波出力信号グ)周波数は方形波出力信号の次々の立 ち上がり縁間或は次ぐの立ち下がり縁間の基準クロンク信号と計数することによ って少なくとも一部測定されることが望ましいので、この態様て′のこの信号の デユティ・サイクル変調は周波数の全測定中のエラーに寄与することを明らかに すべきて′ある。
従って、この発明の目的は、デユティ・サイクル2調によって生じられる信号の 周波数を計数することのエラー?無くすか或は少なくとも最小にすることである 。別な目的は、信号の周波数な計数する際に雑音による変更の影響3最小にする ことである。更に他の目的は、正弦状に変化する信号な方形波信号に変換する回 路装置中で電源電圧の変動による影響、特に基準クロ7クのサイクルを計数する ことによって正弦波信号の周波数を測定する際の影響と最小にすることである。
この発明のこれらの目的やその池の目的は、添付口面及び下記の望ましい実施例 の説明から明らかとなろう。
−の −・・ 図1は従来の水晶発振器のプロIり区である。
図2は[;!11の水晶発振器から出力された方形波信号のデユティ・サイクル 変Fle示すグラフ図である。
(213はこの発明の両縁彼トリガ式カウンタのブロック区である。
口4はセンサ信号のサイクルの整数を累積するカウンタと組み合わせて使用され るこの発明の望ましい実施例のブロック図である。
図5は図4に示されたようなセンサ信号の周波数を計数する際に用いられる信号 のグラフ図である。
l肌二I力 この発明によれば、センサ信号のデユティ・サイクル変調の影響を最小にするよ うに、基準によって生じられなりロック・サイクルについて前記センサ信号の周 波数計数を測定する装置が提供される。センサ信号は、周期的であり従って前縁 及び後縁な有する交互に立ち上がり且つ立ち下がる振巾によって特徴付けられる 。上記装!は、センサ信号の次マの前縁間で生じるクロック・サイクルの第1計 数を累積する第1カウンタ手段、及びセンサ信号の次々の後縁間で生じるクロッ ク・サイクルの第2計数を累積する第2カウンタ手段と含む、第1計数及び第2 計数の被補正平均を測定するプロセッサ手段が設けられ、被禍正平均はデユティ ・サイクル変調の影響を禰償する。
一実施例では、プロセyす手段は、第1計数3第2計数に加算することにより2 01り・サイクルの総計H3濁定する加算手段、及び総計数を2て′除算する除 算手段を備えでいる。第1カウンタ手段及び第2カウンタ手段の一方は、クロッ ク サイクルが累積される前にセンサ信号を反転するインバータを含む第1カウ ンタ手段及び第2カウンタ手段は、センサ信号周期の大体半分だけ一時的に離さ れた時点で第1計数及び第2計数の各々をそれぞれ累積し始める。
他の実施例では、プロセッサ手段は、C次々め第1計数及びC−1次々の第2計 数、若しくはC−1次々の第1計歇及びC次々の第2計数(ただし、Cは少なく と乙2に等しい正の整数である。)の被補正平均を測定する。
他の実施例では、サンプル期間を決定する次々のゲート信号を発生するゲート手 段を上記装置が備え、サンプル期間は1つのゲート信号から始まって次のゲート 信号まて′−一時的延びる。上記装置はまた、サンプル期間中に生じるセンサ信 号のサイクルの整数を累積する整数カラ〉り手段を備える。第1カウンタ手段が フル計数前縁被トリガ・カウンタ及び部分計数前縁被トリガ・カウンタから成る 。同様に、第2カウンタ手段がフル計数後縁被トリガ・カウンタ及び部分計数後 縁被トリガ・カウンタから成る。フル計数前縁被トリガ・カウンタ及びフル計数 後縁被トリガ カウンタは、ゲート信号の1つが発生するセンサ信号の各1周期 の間クロック・サイクルを累積する1部分計数曲1ti)リガ カウンタ及び部 分計数後縁被トリガ・カウンタは、デー1〜信号の1つが発生した直反のセンサ 信号の周期の分数部分に相当するクロlり・サイクルを累積する。この実施例て ′は、プロセンサ手段は、サンプル期間外のセンサ信号周期の分数部分Fjの被 補正平均を測定する。この分数部分は、センサ信号の周波数計数をめる為に整数 の計数?調節するのに使用される。
周波数を計数する為に、フル計数後縁被トリガ・カウンタはf1クロック・サイ クルと累積し、部分計数凌縁被トリガ・カウンタはp1クロック・サイクルを累 積し、フル計数前縁被トリガ・カウンタはf2クロック・サイクルを累積し、そ して部分計数前縁被トリガ・カウンタはp2クロIり・サイクルを累積する。セ ンサ信号の分数部分Fjは下記の式て定められる。
Fj= :pl、’f 1+plz’f2÷k f −/ 2・・・(1) ただし、kはもしPL/fl>p2□・′f2ならば〒1、2に等しいが、逆な らば−1,/2に等しい、整数カウンタ手段は、サンプル期間の間センナ信号の サイクルの整数Nを測定し、そしてプロセ1す手段は、各サンプル期間の間セン ナ信号の周波数計数を下記の式によってめる。
周波数計数=N−Fj+Fj−1,12)ただし、Fj−1は直前のサンプル期 間の終りにめられたセンサ信号周期の分数部分である。
周期性センサ信号のデユティ サイクル変調の影響を最小にするように、20/ り・サイクルについて前縁及び後縁?有するセンサ信号の周波数を計数する方法 がこの発明の池の面である。方法の諸ステyプは、周波数を計数する装置につい ての上記説明中で行われる次能と大体一致する。
ましい の;旦 この発明の−¥FPl!!単な形態である両縁カウンタ50が区3にブロック図 で示されている。再縁カウンタ50は、従来の水晶発振器10(図1)がちの被 変調方形波出力信号34に現れるようなデユティ・サイクル変調を補償する為の ものである。被2調方形波出力信号34はr4縁カウンタ50へ入力されて2つ の異なる回路枝路に分けられる。第1カウンタ52は、水晶発振器10からのセ ンサ出力信号の次ぐの立ち上がり縁間て・、基準クロック58によって生じられ た基準クロック・サイクルを累積する。センサ出力信号はインバータ54にも印 加され、このインバータ54はカウンタ56へ入力される前にセンサ出力信号3 灰転させる。このカウンタ56も反転されたセンナ信号の次々の立ち上がり縁間 で基準クロyり5Sからの基準クロック パルスを累積する0反転された方形波 信号の次ぐの立ち上がり縁が非反転方形波信号の次ぐの立ち下がり縁に一致する ことは当然のことながら明らかである。従って、カウンタ52と56は、両縁カ ウンタ50に印加されたセンサ信号の大体半周期即ち半サイクル毎に時間的に又 位される。
セ〉す信号の周波数を測定する際の有意義な分解能を得る為に、基準クロック5 8はセンサ信号の周波数よりもかなり高い周波数でft動じなければならない、 基準タロツクは30 M Hzの周波数を持つことが望ましいが、池の用途では 異なる基準クロック周波数がもっと適切がもじれない、いずれにせよ、基準タロ ツクは所要の周波数計数分解能を提供する為には充分高い周波数で作動しなけれ ばならない、カウンタ52.56へのそれぞれ入力信号、反転入力信号の次々の 立ち上がり縁間の基準クロック・サイクルの累積された総計数は加算点60にて 加算される。この加算点60がらの総計数は除算器62へ供給され、この除算器 62は総計数を2で除算してセンサ入力信号の平均周波数計数を生じる。
センナ信号及び反転センサ信号の立ち上がり縁が入力サイクルの大体半サイクル だけ時間変位されるので、加算点60で生じられた総計数は入力信号の1.5周 期と超える。カウンタ52と56のどちらか一方に入力信号サイクルの大体半サ イクルに等しい遅延時間を導入することにより両カウンタが基準クロック・サイ クルを累積する時間々隔を同期させることが可能である。しがしながら、センサ 信号のデユティ・サイクルがその変動を正確に打ち消せないように半サイクル間 て′かなり変化する場合には、そのような遅延はミキシング・エラーを導入しそ うて′ある。
或は、2つのカラ〉′夕のうちの一方によって提供される次々のセンサ信号計数 は、他方のカウンタからの計数と平均化される前に、後処理アルゴリズムにて平 均化され得る。従って、例えば、カウンタ52によって累積された、センナ信号 周期tの間のそして次のセンナ信号周期t+1の間の基準クロック・サイクルは 一緒に平均化され、そしてその結果はセンサ信号周期t + 1 / 2の間カ ウンタ56からの累積された基準カウンタ・サイクル計数に加算されて累積され た総計数を生じる。この累積された総計数はこれを2で割ることにより全周期の 間の平均計数が得られる。この後処理アルゴリズムは明らかに次の式で表される 。
平均計数=1/21 (C1t+C1t+1)/2+C2t+1/2+ ・・・ (3) ここで、C1tは周期上の間にカウンタ52に累積された計数に等しく、C1t +1は周期t+1の間にカウンタ52に累積された計数に等しく、モしてC2t +1772は周期t + 1 / 2の間にカウンタ56に累積された計数に等 しい。
カウンタ52が入力信号力n周期の開基率クロック・パルスミ累積し且つカウン タ56が入力信号の(n−1)周期力量クロ・ツク・パルスを累積する(その逆 て#J良い)ように、上述したプロセスはより高い分解能を達成する為に拡張さ れ得る。しがしながら、センサ信号カ周波数が計数される時間々隔を拡張するこ とによりセンサ信号の周1ltikにおけるサイクルからサイクルへの変化を追 従する為の能力は付随的に減少する。
式(1)で定めたアルゴリズムは、エラー無しで入力信号の周波数における1次 変化を追従できる。更に、アルゴリズムは、センサ信号サンプル周期のわずか1 /4だけ周波数計数を得る為に遅延を増しながら、回3に示された簡単な平均化 技術を改良する。その上、アルゴリズムは傾斜するデータ雑音を追従し且つ周波 数計数が測定される分解能を両縁カウンタ5oの分解能に比べて大体1.7倍改 良する9式(3)のアルゴリズムに従うことにより達成できるデータ処FIN度 を2倍にする為に、カウンタ56によって累積された基準クロックの各サンプル に従う相補アルゴリズムを用いることができる。ここで、時間t+1/2での信 号の周波数は下記のように定められる。
平均計数=1/2 I (C2t+1/2+C2t+1.5)/2+C1t+1 1 ・ ・ ・(4)ただし、C2t + l / 2は時間t+1.’2にて カウンタ56に累積された基準サイクルの計数に相当し、C2t+15 は時間 t+15 にてカウンタ56に累積された基Z7クロ、り、サイクルの計量であ り、モしてC1t+1は時間t+lでのカウンタ52の為の累積された計数て′ ある0式(3)と式(4〉の両方のアルゴリズムは、カウンタ52と56の累積 計数が逆の場合でも使用できる。
更に、加算点60及び除算器62を使用する代わりに、10セツサ(図示しない )を用いて式(3)とり4)で表されたアルゴリズムをソフトウェアで実施して も良い。
加速度検知用水晶発振器10(I]1に示された)によって表されるようなセン サ・デバイスで行われる周波数測定に及ぼすデユティ・サイクル変調の影響を最 小にする為に、この発明は米r5特許第4,786,861号に開示された周波 数計数装置及び方法にも適用できる。上記米国特許に開示されたかなりの部分が この発明にも適するので、上記米国特許明細書の説明と参考上ここでも使用する 。
図4及び図5に示されたように、デユティ・サイクル変調を受けるセンサ信号又 は他の信号は、両縁周波数カウンタ70へ入力として供給される。ゲート信号1 00の次々の立ち上がり縁間で生じるセンサ信号の周期(立ち上がり縁から立ち 上がり縁まで或は立ち下がり縁から立ち下がり縁まで)の数に相当する整数Nを 整数カウンタ72は累積する0分周器(図示しない)を使用して基′ 準201 り信号S8?所定の除数(整数)で除算することによりゲート信号100が発生 される。ゲート信号の次々の立ち上がり縁(又は立ち下がり縁)はサンプル期間 を定め、従ってゲート信号100は基準クロック信号88に同期している。
部分カウンタ74は、ゲート信号の立ち上がり縁によって定められた各サンプル 期間の終りに生じる基準クロック・サイクルを累積する1図5に示されたように 、サンプル期間の終りから部分カウンタ74中のセンサ信号の次の立ち上がり縁 までの間に生じる基準クロック・サイクル102を計数することにより部分計数 (p 1 j )は生じられる。同様に、サンプル期間の終りに生じるゲート信 号100の立ち上がり縁と出会うセンサ信号周期中、基準クロック・パルス10 4のフル計数(flJ)はフル カウンタ76に累積される。
センサ信号34はインバータ78へも印加され、このインバータ78は部分カウ ンタ8o及びフル・カウンタ82へ入力される反転されたセンナ信号を発生する 0部分カウンタ80は、サンプル期間後反転センサ信号34゛の次の立ち上がり 縁までの時間々隔中、基準クロック・サイクル106の部分計数(p2j)を累 積する。
同様に、サンプル期間の終りを定めるゲート信号と出会う反転センサ信号の1周 期全体中、即ち反転センサ信号と定める立ち上がり縁からこの信号の次の立ち上 がり縁までの間に起きる基準クロlり サイクル108のフル計数(f2j)を フル・カウンタ82は累積する。整数カウンタ72に累積された′N数の計数N 5部分カウンタ74中の部分計数plj、フル・カウンタ76中のフル計数fl j、部分カウンタ80中の部分計数p2j、及びフル・カウンタS2中のフル計 数f 2 jは全てマルチプレクサ84に供給される。このマルチプレクサ84 はデータをプロセンサS6へ逐次酸は選択的に供給する。
その上、プロセンサS6は、先行のサンプル期間の終りを超えて延びるセンサ信 号の補償された対応平均分数部分の為の一時記憶器を含む。
図5において、先行のサンプル期間j−1の終りに部分カウンタ74によって基 準クロック・サイクル110の部分計数(plj−1)が生じられる。同様に、 フル・カウンタ76によってサンプル期間j−1の終りに基準クロック・サイク ル112のフル計数(flj−1>が累積され、先行のサンプル期間の終りに基 準クロック・サイクル114の部分計数(p2j−1)が部分カウンタ80に累 積され、そしてML後にI!に後のサンプル期間の終りにフル・センサ信号周期 中基準クロック・サイクル116のフル計数(f2j−1)が累積される。サン プル期間j−1の間部分計数及びフル計数はそのサンプル期間の終りにセンサ信 号周期Fj−1の分数部分の補償される平均を計算するために使用され、これは プロセッサS6に一時記憶される。プロセッサ86はセンサ信号周波数の被補償 計数を次のように決定する。
被補償周波数計数=N−Fj+Fj−1・・・(5)サンプル期間j−1,jの 終りに生じるセンサ信号の部分周期の被補償平均にそれぞれ対応する分数部分F j−1、Fjは下記のように定められる。
Fj−1= !plj−1z’f 1j−1+ p 2 j −1/ f 2  j −1+ k : 、−” 2・・・(6) Fj =Ip 1 j/f 1 j +p2j/f 2 j +ki/2・・・ (7) 上記の式において、値にはP 1/’f 1.p2/f2 (それぞれサンプル 期間j、j−1における)の相対値に依存する。もしPI/’flがP 2 / ’ f 2よりも大きければkは+1/2であるが、pi/flがp2/f2よ りも大きくなければkは−1772である0例えば、図5において、サンプル期 間jの終りを越えて延びるセンサ信号の分数周期の整数Nを補正する為に、セン サ信号及び反転センナ信号の部分周期を加算することによるセンサ信号の平均さ れる分数周期は、−1/ 2の補正係数kを加えることにより反転センサ信号の 半周期オフセットの為に補償されなければならない、同様に、サンプル期間j− 1の終りを越えて延びるセンサ信号及び反転センサ信号の平均された分数周期か ら分数部分Fj−1を計算する際には、1.、’2の補正係数kが加えられる。
この発明は、従って、整数カウンタ72によって生じられた整pNを補正するの に使用されるセンナ信号の分数部分のデユティ・サイクル変調を補償する。この 補償により、デユティ・サイクル”RfJは、デユティ・サイクルの少なくとも 1次変化について得られた周波数計数の精度に殆ど影響しない、その結果、周波 数計数のエラーはかなり減少される。−変周波数計数が補償されると、センナ信 号の実際の周波数は被補償周波数計数をサンプル期間で除算するだけで決定され る。
計算速度を改善し、もってより素早く周波数計数を次々にリアル・タイム決定さ せる為に、プロセッサ86に近似を適用して平均フル計数及び平均部分計数を下 記の式でめる。
fA−平均フル計数= (f 1 j+ f 2 j )’ / 2・・・(8 ) pA=平均部分計数=(plj+p2J→−k)/2・・・(9) 平均フル計数及び平均部分計数の値から分数pA/fAが決定される。近似式中 の1次デルタ項が打ち消されると、約2kHzよりも低い変調周波数の許容し得 る結果を生じる。21音やt源の変調周波数が2kHzと超える場合には、式( 7)に応じて分数周期をもつと正確に決定すべきである。先のアルゴリズムでは 、周波数が計数される精度?改善する為に、Nの値は少なくとも2に等しくなく てはならない。もちろん、式(3)及び(4)について上述したようにサンプル 期間中の基準クロ7ク・パルスを累積し且つ平均することにより周波数計数がま た定められ得る。
別々のカウンタ及びプロセッサ86を使用する代わりに、口4に示した全ての機 能要素を具体化する特定用途集積回路カウンタ・千ンブを用いて比較的安い費用 で同等の性能を得ることができる。下記の請求の範囲内でのこの発明のこれら変 形例やその他の変形例は当業者には明らかであろう、従って、ここに開示したも のは請求の範囲に限定されたようなこの発明の範囲を制限するつもりではない。
FIG、 2 補正書の翻訳文提出書(特許法第184条の7第1項)平成 5年 3月11日

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.周期的であり従って前縁及び後縁を有する交互に立ち上がり且つ立ち下がる 振巾によって特徴付けられるセンサ信号のデュティ・サイクル変調の影響を最小 にするように、基準によって生じられたクロック・サイクルについて前記センサ 信号の周波数計数を測定する装置であって、 (a)前記センサ信号の次々の前縁間で生じるクロック・サイクルの第1計数を 累積する第1カウンタ手段、(b)前記センサ信号の次々の後縁間で生じるクロ ック・サイクルの第2計数を累積する第2カウンタ手段、並びに、 (c)前記第1計数及び前記第2計数の被補正平均であって、前記デュティ・サ イクル変調の影響を補償するものを測定するプロセッサ手段、 を備えた装置。
  2. 2.前記プロセッサ手段は、前記第1計数を前記第2計数に加算して前記クロッ ク・サイクルの総計数を測定する加算手段、並びに前記総計数を2で除算する除 算手段を備えている請求項1の装置。
  3. 3.前記第1カウンタ手段及び前記第2カウンタ手段の一方は、クロック・サイ クルが累積される前に前記センサ信号を反転するインバータを含む請求項1の装 置。
  4. 4.前記第1カウンタ手段及び前記第2カウンタ手段は、センサ信号周期の大体 半分だけ一時的に離された時点で前記第1計数及び前記第2計数の各々を累積し 始める請求項1の装置。
  5. 5.前記プロセッサ手段は、C次々の第1計数及びC−1次々の第2計数、着し くはC−1次々の第1計数及びC次々の第2計数(ただし、Cは少なくとも2に 等しい正の整数である。)の被補正平均を測定する請求項4の装置。
  6. 6.一時的に1つのゲート信号から始まって次のゲート信号に達するまでのサン プル期間を決定する次々のゲート信号を発生するゲート手段を更に備えた請求項 1の装置。
  7. 7.前記サンプル期間中に生じる前記センサ信号のサイクルの装置を累積する整 数カウンタ手段を更に備え、前記第1カウンタ手段がフル計数前縁被トリガ・カ ウンタ及び部分計数前縁被トリガ・カウンタから成り、そして前記第2カウンタ 手段がフル計数後縁被トリガ・カウンタ及び部分計数後縁被トリガ・カウンタか ら成り、前記フル計数前縁被トリガ・カウンタ及び前記フル計数後縁被トリガ・ カウンタは前記ゲート信号の1つが発生する前記センサ信号の各1周期の間クロ ック・サイクルを累積し、そして前記部分計数前縁被トリガ・カウンタ及び前記 部分計数後縁被トリガ・カウンタは前記ゲート信号の前記1つが発生した直後の 前記センサ信号の周期の分数部分に相当するクロック・サイクルを累積し、前記 プロセッサ手段は、前記センサ信号の周波数計数を求める為に整数の計数を調節 する際に使用する為、前記部分計数カウンタ及び前記フル計数カウンタによって 集積されたクロック・サイクルからサンプル期間外の前記センサ信号の分数部分 Fjの被補正平均を求めるように更に作動する請求項6の装置。
  8. 8.前記フル計数後縁被トリガ・カウンタはf1クロック・サイクルを累積し、 前記部分計数後縁被トリガ・カウンタはp1クロック・サイクルを累積し、前記 フル計数前縁被トリガ・カウンタはf2クロック・サイクルを累積し、そして前 記部分計数前縁被トリガ・カウンタはp2クロック・サイクルを累積し、前記セ ンサ信号の分数部分Fjは下記の式で定められる。 Fj={p1/f1+p2/f2+k}/2(ただし、kはもしp1/f1>p 2/f2ならば+1/2に等しいが、逆ならば−1/2に等しい。)請求項7の 装置。
  9. 9.前記整数カウンタ手段は、前記サンプル期間の間前記センサ信号のサイクル の整数Nを測定し、前記プロセツサ手段は、各サンプル期間の間前記センサ信号 の周波数計数を下記の式によって求めるように更に作動する。 周波数計数=N−Fj−Fj−1 (ただし、Fj−1は直前のサンブル期間の終りに求められたセンサ信号周期の 分数部分の後補正平均である。)請求項8の装置。
  10. 10.周期的なセンサ信号のデュティ・サイクル変調の影響を最小にするように 、クロック・サイクルについて前縁及び後縁を有する前記センサ信号の周波数を 計数する方法であって、 (a)前記センサ信号の次々の前縁間で生じる前記クロック・サイクルの第1計 数を累積するステップ、(b)前記センサ信号の次々の後縁間で生じる前記クロ ック・サイクルの第2計数を累積するステップ、並びに、 (c)前記第1計数及び前記第2計数の被補正平均であって、前記デュティ・サ イクル変調の影響を補償するものを測定するステップ、 を含む方法。
  11. 11.前記被補正平均を測定するステップは、前記第1計数を前記第2計数に加 算して前記クロック・サイクルの総計数を測定するステップ、並びに前記総計数 を2で除算するステップを含む請求項10の方法。
  12. 12.前記第1計数と前記第2計数の一方の為の前記クロック・サイクルを累積 する前に前記センサ信号を反転するステップを更に含む請求項10の方法。
  13. 13.次々の第1計数及び第2計数は、センサ信号周期の大体半分だけ一時的に 離された時点で累積され始める請求項10の方法。
  14. 14.前記被補正平均を測定するステップは、C次々の第1計数及びC−1次々 の第2計数、若しくはC−1次々の第1計数及びC次々の第2計数(ただし、C は少なくとも2に等しい正の整数である。)の被補正平均を測定するステップを 含む請求項13の方法。
  15. 15.一時的に次々のゲート信号間に延びるサンプル期間を決定するステップを 更に含む請求項10の方法。
  16. 16.前記第1計数を累積するステップは、前記ゲート信号の1つがある前記セ ンサ信号の各1周期の間前記クロック・サイクルのフル計数f1を累積し、そし て前記ゲート信号の1つの直後に生じる前記センサ信号の分数周期に相当する前 記クロック・サイクルの部分計数p1を累積するステップを含み、前記第2計数 を累積するステップは、前記ゲートの1つがある前記センサ信号の各1周期の間 前記クロック・サイクルのフル計数f2を累積し、そして前記ゲート信号の1つ の直後に生じる前記センサ信号の分数周期に相当する前記クロック・サイクルの 部分計数p2を累積するステップを含み、前記フル計数及び前記部分計数は前記 整数計数を調節して前記センサ信号の前記周波数計数を測定するのに使用される 請求項15の方法。
  17. 17.下記の式で定められるような前記センサ信号の分数部分Fjの被補正平均 を測定するステップを更に含む、Fj={p1/f1+p2/f2+k1}/2 {ただし、kはもしp1/f1>p2/f2ならば+1/2に等しいが、逆なら ば−1/2に等しい。)請求項16の方法。
  18. 18.前記サンプル期間の間前記センサ信号のサイクルの整数Nを測定するステ ップ、及び各サンプル期間の間前記センサ信号の周波数計数を下記の式によって 求めるステップを更に含む、 周波数計数=N−Fj+Fj−1 (ただし、Fj−1は直前のサンプル期間の終りに求められたセンサ信号周期の 分数部分の被補正平均である。)請求項17の方法。
  19. 19.入力信号のデュティ・サイクル変調によって生じさせられたエラーを最小 にするように、振巾が周期的に立ち上がり且つ立ち下がる前記入力信号の周波数 を測定する装置であって、 (a)前記入力信号よりも実質的に高い周波数を持つクロック信号を発生するク ロック発振器、(b)前記入力信号の周波数が測定されるサンプル期間を定める 次々のゲート信号を発生するゲート手段、(c)前記サンプル期間の各々中に始 まる前記入力信号のサイクルの数を計数する整数カウンタ手段、(d)前記ゲー ト信号の1つがある1つの入力信号サイクルの第1分数部分を、前記入力信号の 次々の立ち上がり振巾間で生じる前記クロック信号のサイクルについて測定する 立ち上がり縁被トリガ計数手段、(e)前記ゲート信号の前記1つがある他の1 つの入力信号サイクルの第2分数部分を、前記入力信号の次々の立ち下がり振巾 間で生じる前記クロック信号のサイクルについて測定する立ち下がり縁被トリガ 計数手段、並びに、 (f)前記サンプル期間中の前記入力信号並びに前記サンプル期間の始めと終り の両方における前記入力信号の第1分数部分及び第2分数部分のサイクル数の関 数として前記入力信号の周波数を測定するプロセッサ手段、 を備えた装置。
  20. 20.前記立ち下がり縁計数手段は、前記ゲート信号の前記1つの後で且つその 後に生じる前記入力信号の次の立ち下がり振巾の前に生じる前記クロック信号の サイクルの部分計数p1を測定すると共に前記入力信号の次々の立ち下がり振巾 間で生じる前記クロック信号のサイクルのフル計数f1を測定する為に作動し、 そして前記立ち上がり縁被トリガ計数手段は、前記1つのゲート信号の後で且つ その後に生じる前記入力信号の次の立ち上がり振巾の前に生じる前記クロック信 号のサイクルの部分計数P2を測定すると共に前記入力信号の次々の立ち上がり 振巾間で生じる前記クロック信号のサイクルのフル計数f2を測定する為に作動 し、前記プロセッサ手段は、各サンプル期間の終りに計数されたNサイクルに対 して下記の式に従って分数調節値Fjを測定する、 Fj={P1/f1+P2/f2+k}/2(ただし、kはp1/f1>p2/ f2ならば+1/2に等しく、逆ならば−1/2に等しい。)請求項19の装置 。
  21. 21.前記プロセッサ手段は、先行の各サンプル期間の間の分数調節値Fj−1 を記憶し且つ下記の式に基づいて前記入力信号の周波数を測定する、 N−Fj+Fj−1 請求項20の装置。
  22. 22.入力信号のデュティ・サイクル変調によって生じさせられたエラーを最小 にするように、振巾が周期的に立ち上がり且つ立ち下がる前記入力信号の周波数 を測定する方法であって、 (a)前記入力信号よりも実質的に高い周波数を持つクロック信号を発生するス テップ、 (b)前記入力信号の周波数が測定されるサンプル期間を定める次々のゲート信 号を発生するステップ、(c)前記サンプル期間の各々中に始まる前記入力信号 のサイクルの数を計数するステップ、(d)前記ゲート信号の1つがある1つの 入力信号サイクルの第1分数部分を、前記入力信号の次々の立ち上がり振巾間で 生じる前記クロック信号のサイクルについて測定するステップ、 (e)前記ゲート信号の前記1つがある他の1つの入力信号サイクルの第2分数 部分を、前記入力信号の次々の立ち下がり振巾間で生じる前記クロック信号のサ イクルについて測定するステップ、並びに、(f)前記サンプル期間中の前記入 力信号並びに前記サンプル期間の始めと終りの両方における前記入力信号の第1 分数部分及び第2分数部分のサイクル数の関数として前記入力信号の周波数を測 定するステップ、を含む方法。
  23. 23.前記第1分数部分を測定するステップは、前記1つのダート信号の後で且 つその後に生じる前記入力信号の次の立ち下がり振巾の前に生じる前記クロック 信号のサイクルの部分計数p1を測定するステップ、及び前記入力信号の次々の 立ち下がり振巾間で生じる前記クロック信号のサイクルのフル計数f1を測定す るステップを含み、そして前記第2分数部分を測定するステップは、前記1つの ゲート信号の後で且つその後に生しる前記入力信号の次の立ち上がり振巾の前に 生じる前記クロック信号のサイクルの部分計数p2を測定するステップ、及び前 記入力信号の次々の立ち上がり振巾間で生じる前記クロック信号のサイクルのフ ル計数f2を測定するステップを含み、各サンプル期間の終りにNサイクルに対 して下記の式に従って分数調節値Fjを測定するステップを更に含む、Fj={ p1/f1+p2/f2+k}/2(ただし、kはp1/f1>p2/f2なら ば+1/2に等しく、逆ならば−1/2に等しい。)請求項22の方法。
  24. 24.前記プロセッサ手段は、先行の各サンプル期間の間の分数調節値Fj−1 を記憶し且つ下記の式に基づいて前記入力信号の周波数を測定するステップを更 に含む、 N−Fj+Fj−1 請求項23の方法。
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