JPH05176356A

JPH05176356A - System for testing distributing board using matrix board

Info

Publication number: JPH05176356A
Application number: JP33722891A
Authority: JP
Inventors: Toshihiro Suzuki; 敏弘鈴木; Hideo Kawakatsu; 英男川勝; Kazuki Aoyama; 一樹青山; Kenji Sasaki; 賢治佐々木; Hideaki Takahashi; 秀明高橋; Yoshitsugu Shigeie; 義次重家; Nobuyoshi Ono; 展義小野
Original assignee: Fujitsu Ltd; Nippon Telegraph and Telephone Corp; Oki Electric Industry Co Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd; Nippon Telegraph and Telephone Corp; Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date: 1991-12-19
Filing date: 1991-12-19
Publication date: 1993-07-13

Abstract

(57)【要約】【目的】配線盤装置を構成するマトリクスボードとそ
のマトリクスボードを用いた試験装置の試験方式に関
し、人手を介さずに従来と同様の試験を行い、経済的な
構成でできるマトリクスボードとマトリクスボードを用
いた配線盤の試験方式に関する。【構成】マトリクス回路３に第１の試験用端子４−
１，４−２や第２の試験用端子５−１，５−２を設け、
第１の試験用端子４−１，４−２によってピン挿入時に
挿入したピンに対応する少なくとも２本の線を短絡した
り、第２の試験用端子５−１，５−２により入側のピン
への挿入に対し当該入側のピンの位置に依存せずに同一
端子に、或いは出側のピンへの挿入に対し当該出側のピ
ンの位置に依存せずに同一端子に接続するように構成す
る。 (57) [Summary] [Purpose] Regarding the test method of the matrix board that constitutes the wiring board device and the test device that uses the matrix board, the same test as before can be performed without human intervention, and an economical configuration can be achieved. The present invention relates to a matrix board and a wiring board test method using the matrix board. [Structure] The matrix circuit 3 has a first test terminal 4-
1, 4-2 and second test terminals 5-1 and 5-2 are provided,
The first test terminals 4-1 and 4-2 short-circuit at least two wires corresponding to the pins inserted at the time of pin insertion, and the second test terminals 5-1 and 5-2 connect the input side. Connect to the same terminal regardless of the position of the input side pin for insertion into the pin, or to the same terminal for insertion into the output side pin regardless of the position of the output side pin. To configure.

Description

Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、交換機等の交換局内装
置と加入者側の回線を任意に接続する配線盤装置に係
り、更に詳しくは配線盤装置を構成するマトリクスボー
ドとそのマトリクスボードを用いた試験装置の試験方式
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring board device for arbitrarily connecting a subscriber's line to a device in a switching center such as an exchange, and more particularly to a matrix board and its matrix board which constitute the wiring board device. The present invention relates to the test system of the test equipment used.

【０００２】[0002]

【従来の技術】Ｄ７０型交換機では、低トラフィック地
域の加入者を経済的に収容するために遠隔制御交換方式
を適用している。遠隔制御交換装置（ＲＣＳ；Remote C
ontrolSwitching System)は、加入者線インタフェース
装置、遠隔通話路装置、間局インタフェース装置、遠隔
通話路制御装置等から構成されている。この遠隔制御交
換装置によって親局と同等のサービスを行うことができ
る。さらに、この交換機には配線盤装置（ＦＤＭ）を介
して各端末装置が接続している。2. Description of the Related Art In a D70 type exchange, a remote control exchange system is applied to economically accommodate subscribers in a low traffic area. Remote control switching equipment (RCS; Remote C)
The ontrolSwitching System) is composed of a subscriber line interface device, a remote call path device, an interoffice interface device, a remote call path control device, and the like. With this remote control switching device, it is possible to provide a service equivalent to that of the master station. Further, each terminal device is connected to this exchange through a wiring board device (FDM).

【０００３】配線盤装置はユーザに対応して配線作業が
されており、図１１に示す試験系（１例）によって配線
盤装置（ＦＤＭ）１１と交換機（Ｄ７０／ＲＣＳ）１２
の試験が行われる。試験台システム（ＳＵＬＴＳ）１３
を構成する試験台（ＴＳＴＤ）１４からの指示が試験制
御装置（ＴＣＥ）１５に加わり、試験制御装置１５では
これをもとに、どの試験を開始するかを選択的に求め、
指示信号を試験装置（ＴＥ）１６に出力する。この指示
により、試験装置１６は例えば試験用端子ＳＰより試験
用信号を出力する。この試験用端子ＳＰより出力される
試験用信号は、配線盤装置１１に直接加わる構成となっ
ている。The wiring board device is wired for each user, and the wiring board device (FDM) 11 and the exchange (D70 / RCS) 12 are tested by the test system (one example) shown in FIG.
Test will be conducted. Test bench system (SULTS) 13
The test controller (TCE) 15 receives an instruction from the test stand (TSTD) 14 that configures the test table 15, and the test controller 15 selectively determines which test to start based on this.
The instruction signal is output to the test equipment (TE) 16. In response to this instruction, the test apparatus 16 outputs a test signal from the test terminal SP, for example. The test signal output from the test terminal SP is directly applied to the wiring board device 11.

【０００４】従来、配線盤装置は、図１２に示す如く、
局内設備１２と加入者宅内装置ＰＨとを配線盤装置１１
を介して接続し、試験装置１６からの試験指示によって
加入者回路（ＳＬＩＣ）をテスト側に切り換え、配線盤
装置１１に試験用信号を出力し、配線盤が正しく配線さ
れているかをチェックしている。Conventionally, the wiring board device is as shown in FIG.
The in-station equipment 12 and the subscriber home device PH are connected to the wiring board device 11
, The subscriber circuit (SLIC) is switched to the test side according to the test instruction from the test device 16, the test signal is output to the wiring board device 11, and it is checked whether the wiring board is properly wired. There is.

【０００５】図１１を用いて更に詳しく説明する。加入
者系試験時には、交換機１２内の交換スイッチ１７を介
さず配線盤装置１１と試験装置１６とをアレスタ（ＡＲ
Ｒ）１８、加入者回路（ＳＬＩＣ）１９、試験スイッチ
（ＴＥＳＴＳＷ）２０、ＬＴＴ付加ユニット（ＬＴＡ
Ｕ）２１、線路試験トランク（ＬＴＴ）２２、ＬＴＴ付
加ユニット（ＬＴＴＡＵ）２３を介し接続する。A more detailed description will be given with reference to FIG. During the subscriber system test, the wiring board device 11 and the test device 16 are connected to the arrester (AR) without the exchange switch 17 in the exchange 12.
R) 18, subscriber circuit (SLIC) 19, test switch (TEST SW) 20, LTT addition unit (LTA)
U) 21, line test trunk (LTT) 22, and LTT addition unit (LTTAU) 23 for connection.

【０００６】そして、試験用端子ＳＰより信号を出力
し、手配線によって配線盤装置１１にその試験用信号を
加え、前述した試験ルートであるアレスタ１８、加入者
回路１９、試験スイッチ２０、ＬＴＴ付加ユニット２
１、線路試験トランク２２、ＬＴＴ付加ユニット２３に
よって試験用信号を戻し、交換機並びに配線盤が正常で
あるかを求めている。Then, a signal is output from the test terminal SP, the test signal is added to the wiring board device 11 by manual wiring, and the arrester 18, the subscriber circuit 19, the test switch 20, and the LTT which are the above-described test routes are added. Unit 2
1. The test signal is returned by the line test trunk 22 and the LTT addition unit 23 to determine whether the exchange and the wiring board are normal.

【０００７】また、加入者系試験には加入者線路試験、
加入者回路機能試験、加入者回路転送特性試験、疑似端
末装置等があり、これらを試験装置１６によって試験す
るようにしている。In addition, a subscriber line test, a subscriber line test,
There are a subscriber circuit function test, a subscriber circuit transfer characteristic test, a pseudo terminal device, etc., and these are tested by the test device 16.

【０００８】[0008]

【発明が解決しようとする課題】前述した配線盤装置１
１は人手によって配線作業がされていたが、低コスト化
を図るためロボットによって配線作業（ジャンパリン
グ）を行うようになった。このロボットによるジャンパ
リングでは、配線盤装置１１にはピンボードマトリクス
を用いている。このピンボードマトリクスは例えば入側
がｍ、出側がｎの端子を有し、各端子は２本よりなり、
マトリクスを構成したｍ×ｎの交差点に設けられたピン
穴にピンを挿入することにより、この各２本の線が接続
される構成となっている。これにより目的の接続が任意
に行え、またロボットによるピン接続であるので、人件
費等のコストが安価となる特徴を有していた。DISCLOSURE OF THE INVENTION Wiring board device 1 described above
In No. 1, the wiring work was done manually, but the wiring work (jumpering) has come to be performed by the robot in order to reduce the cost. In jumpering by this robot, a pinboard matrix is used for the wiring board device 11. The pinboard matrix has, for example, m terminals on the input side and n terminals on the output side, and each terminal has two terminals.
By inserting a pin into a pin hole provided at an intersection of m × n forming a matrix, each of these two lines is connected. As a result, the desired connection can be made arbitrarily, and since the pin connection is performed by the robot, the labor cost and other costs are low.

【０００９】しかしながら、配線作業においては人手の
介在は不要となったが、配線終了後の正常性の確認、更
には異常時の切りわけ試験を従来通り手配線で行ってい
たのではロボットにより自動化したメリットが半減して
しまうという問題を有していた。However, in the wiring work, no manual intervention is required, but it is possible to confirm the normality after completion of the wiring and further to carry out the cutting test in the case of an abnormality by hand wiring as in the past. There was a problem that the merit of doing it was halved.

【００１０】本発明は、人手を介さずに従来と同様の試
験を行い、経済的に構成できるマトリクスボードとその
マトリクスボードを用いた配線盤の試験方式を提供する
ものである。The present invention provides a matrix board that can be economically constructed by performing the same test as before without human intervention, and a test method of a wiring board using the matrix board.

【００１１】[0011]

【課題を解決するための手段】図１は本発明のマトリク
スボードの原理ブロック図である。本発明は、１端子が
少なくとも２本よりなるｍ個の入側端子１−１〜１−ｍ
と１端子が少なくとも２本よりなるｎ個の出側端子２−
１〜２−ｎとがマトリクス線によってマトリクス状に配
線され、該マトリクス線の交差点３−１−１〜３−ｍ−
ｎに設けられたピン穴にピンが挿入された時に、当該入
側端子と当該出側端子とを前記少なくとも２本の線に対
応して接続するマトリクス回路３におけるものである。FIG. 1 is a block diagram showing the principle of a matrix board according to the present invention. According to the present invention, m number of the input side terminals 1-1 to 1-m, each terminal having at least two terminals.
And n output side terminals 2 each having at least two terminals 2-
1 to 2-n are arranged in a matrix by matrix lines, and intersections of the matrix lines 3-1-1 to 3-m-
The matrix circuit 3 connects the input side terminal and the output side terminal in correspondence with the at least two lines when the pin is inserted into the pin hole provided in n.

【００１２】第１の発明は、マトリクス回路３の少なく
とも１辺でマトリクス線の交差点にピン穴が設置され、
ピン挿入時に挿入したピンに対応する前記少なくとも２
本の線を短絡する第１の試験用端子４−１，４−２を設
けてなる。According to a first aspect of the present invention, pin holes are provided at intersections of matrix lines on at least one side of the matrix circuit 3,
The at least 2 corresponding to the pin inserted when inserting the pin
First test terminals 4-1 and 4-2 for short-circuiting the line are provided.

【００１３】第２の発明は、マトリクス回路３と前記第
１の試験用端子４−１，４−２とよりなるマトリクスボ
ードを用いた配線盤ボードの試験方式であり、前記マト
リクスボードを用いてｐ段のリンクを構成し、目的のピ
ンを挿入して目的の配線とする配線盤装置において、ｑ
段目のマトリクスボードの前記第１の試験端子４−１，
４−２の交差点にピンを挿入して線路試験装置でｑ次か
らｐ次の配線盤装置の配線を試験する。A second invention is a wiring board test method using a matrix board comprising a matrix circuit 3 and the first test terminals 4-1 and 4-2. In a wiring board device in which p-stage links are configured and desired pins are inserted to obtain desired wiring, q
The first test terminals 4-1 and 4-1 of the matrix board of the tier
A pin is inserted at the intersection of 4-2 and the wiring of the qth to pth wiring board device is tested by the line test device.

【００１４】第３の発明は、前記マトリクス回路３の少
なくとも１辺でマトリクス線の交差点にピン穴が設置さ
れ、入側のピンへの挿入に対し当該入側のピンの位置に
依存せずに同一端子に、或いは出側のピンへの挿入に対
し当該出側のピンの位置に依存せずに同一端子に出力す
る第２の試験用端子５−１，５−２を設けてなる。According to a third aspect of the present invention, a pin hole is provided at the intersection of the matrix lines on at least one side of the matrix circuit 3, and the insertion into the pin on the input side does not depend on the position of the pin on the input side. Second test terminals 5-1 and 5-2 are provided to output to the same terminal or to the same terminal regardless of the position of the output side pin when inserted into the output side pin.

【００１５】第４の発明はマトリクス回路３と第２の試
験用端子５−１，５−２とよりなるマトリクスボードを
用いてｐ段のリンクを構成し、ｑ段目の前記第２の試験
用端子５−１，５−２に出力すべきピンを挿入し、線路
試験装置の配線状態試験を行う端子に前記第２の試験端
子５−１，５−２を接続して線路の試験を行う。According to a fourth aspect of the present invention, a p-stage link is constructed using a matrix board composed of a matrix circuit 3 and second test terminals 5-1 and 5-2, and the q-th stage second test is performed. A pin to be output is inserted into the terminals 5-1 and 5-2, and the second test terminals 5-1 and 5-2 are connected to the terminals for performing the wiring state test of the line test apparatus to test the line. To do.

【００１６】第５の発明は、前記マトリクス回路３と第
２の試験用端子５−１，５−２とよりなるマトリクスボ
ードを用いてｐ段のリンクを構成し、目的のピンを挿入
して目的の配線とする配線盤装置において、ｑ段目のマ
トリクスボードの前記第２の試験用端子５−１，５−２
の交差点にピンを少なくとも２本挿入して、少なくとも
２本よりなる線を対応して短絡し、線路試験装置でｑ次
からｐ次の配線盤装置の配線を試験する。A fifth aspect of the invention is to construct a p-stage link using a matrix board composed of the matrix circuit 3 and the second test terminals 5-1 and 5-2, and insert a target pin. In the wiring board device for the intended wiring, the second test terminals 5-1 and 5-2 of the q-th matrix board
At least two pins are inserted at the intersections of, and at least two lines are short-circuited correspondingly, and the wiring of the qth to pth wiring board device is tested by the line test device.

【００１７】[0017]

【作用】本発明はマトリクス回路３に第１の試験用端子
４−１，４−２や第２の試験用端子５−１，５−２を設
け、第１の試験用端子４−１，４−２によってピン挿入
時に挿入したピンに対応する少なくとも２本の線を短絡
する。また第２の試験用端子５−１，５−２により入側
のピンへの挿入に対し当該入側のピンの位置に依存せず
に同一端子に、或いは出側のピンへの挿入に対し当該出
側のピンの位置に依存せずに同一端子に接続する。これ
により、入側や出側のピンの短絡や、複数の入側や出側
の２本の線に対応するそれぞれの並列接続短絡がなされ
る。この線間の短絡や端子間の並列接続短絡によって試
験装置における配線状態の試験を行い、配線状態をチェ
ックすることができる。According to the present invention, the matrix circuit 3 is provided with the first test terminals 4-1 and 4-2 and the second test terminals 5-1 and 5-2, and the first test terminals 4-1 and 4-1 are provided. 4-2 short-circuits at least two wires corresponding to the inserted pins when inserting the pins. In addition, by inserting the second test terminals 5-1 and 5-2 into the same pin without depending on the position of the input side pin, or when inserting into the output side pin. Connect to the same terminal regardless of the position of the output pin. As a result, short-circuiting of the pins on the input side and the output side and parallel connection short-circuits corresponding to the two wires on the input side and the output side are performed. It is possible to check the wiring state by conducting a test of the wiring state in the test device by the short circuit between the lines or the parallel connection short circuit between the terminals.

【００１８】[0018]

【実施例】以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。
図２は本発明の実施例のマトリクスボードいわゆるピン
ボードマトリクススイッチの構成図である。入側のｍ端
子（各端子は２本の線よりなる）Ｉ１〜Ｉｍと出側のｎ
端子（各端子は２本の線よりなる）Ｏ１〜Ｏｎはマトリ
クス領域ＭＸでマトリクス状に配線され、各交差点に設
けられたピン穴Ｐにピンが挿入されると入側の２本の線
と出側の２本の線が対応して接続される。この入側、出
側のそれぞれの２本の線はＬ１線とＬ２線とよりなり、
交差点のピン穴Ｐにピンを挿入することにより、Ｌ１線
どうしとＬ２線どうしが同時に接続される。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
FIG. 2 is a block diagram of a matrix board, a so-called pinboard matrix switch, according to an embodiment of the present invention. In-side m terminals (each terminal consists of two wires) I1 to Im and out-side n terminals
The terminals (each terminal is composed of two lines) O1 to On are arranged in a matrix in the matrix area MX, and when the pins are inserted into the pin holes P provided at each intersection, two lines on the entry side are formed. The two outgoing lines are correspondingly connected. Each of these two lines on the input side and the output side consists of the L1 line and the L2 line,
By inserting the pin into the pin hole P at the intersection, the L1 line and the L2 line are simultaneously connected.

【００１９】さらに入側ｍ端子の辺や出側ｎ端子の辺に
試験用端子Ａを設けてある。この試験用端子Ａ上に設け
られたピン穴にピンを挿入することにより、対応する前
述の２つの信号線Ｌ１，Ｌ２が短絡する。この短絡は、
ピンを抜去することにより断となるマトリクスボードに
更に試験用端子Ａ上のピン穴にピンを挿入した時になさ
れる。Further, test terminals A are provided on the sides of the input m terminal and the output n terminal. By inserting the pin into the pin hole provided on the test terminal A, the corresponding two signal lines L1 and L2 described above are short-circuited. This short circuit
This is done when the pins are further inserted into the pin holes on the test terminals A in the matrix board which is broken by removing the pins.

【００２０】また、試験用端子Ｂは入側端子Ｉ１〜Ｉｍ
並びに出側端子Ｏ１〜Ｏｎの辺に設けられ、ピンを抜去
することにより切断するマトリクスボードに、更にピン
を挿入して任意の入側は全て同一の出側または全ての出
側も同一の出側に接続される。The test terminal B is the input side terminals I1 to Im.
In addition, the pins are further inserted into a matrix board which is provided on the sides of the output side terminals O1 to On and is cut by removing the pins, and any input side is the same output side or all output sides are the same output side. Connected to the side.

【００２１】すなわち、ピンを挿入すると、試験用端子
Ａでは入側端子Ｉ１〜Ｉｍ並びに出側端子Ｏ１〜Ｏｎの
それぞれの２本の線（Ｌ１線、Ｌ２線）の内、ピン穴に
ピンを挿入した位置に対応した端子のＬ１線とＬ２線と
が短絡する。また、試験用端子Ｂではその入側端子や出
側端子に接続すべきピンを挿入すると、試験用端子Ｂに
接続される。この試験用Ｂ端子は対応する挿入したピン
のＬ１線が全て接続され、またＬ２線も接続され試験用
端子Ｂに出力されるのである。まとめるならば、試験用
の端子Ａ，Ｂを設置して、試験のための接続レベルを設
けている。That is, when the pin is inserted, in the test terminal A, the pin is inserted into the pin hole in each of the two wires (L1 wire and L2 wire) of the input side terminals I1 to Im and the output side terminals O1 to On. The L1 line and the L2 line of the terminal corresponding to the inserted position are short-circuited. When a pin to be connected to the input terminal or the output terminal of the test terminal B is inserted, the test terminal B is connected to the test terminal B. This test B terminal is connected to all the L1 lines of the corresponding inserted pins, and is also connected to the L2 line and is output to the test terminal B. In summary, the test terminals A and B are provided and the connection level for the test is provided.

【００２２】図３は本発明の実施例の試験用端子Ａ，Ｂ
の詳細な構成図である。交差点に設けられた斜線丸表記
のピン穴はマトリクス回路を構成するものである。この
ピン穴は多層構造の２層に設けられてパターンによって
入側の各端子に接続される。２層はＬ１線とＬ２線に対
応して使用される。さらに他の２層が出側のパターンの
ためのものであり、入側と同時に出側の各端子に接続さ
れる。出側においても２層はＬ１線とＬ２線に対応して
使用される。パターンが交差する交差点に上述の斜線丸
表記のピン穴が設けられ、このピン穴にピンを挿入する
ことにより、入側と出側のＬ１線、Ｌ２線をそれぞれ接
続する。例えば交差点上のピン穴Ｐｍ₁にピンを挿入し
た場合には入側のＬ１（ｍ）線と出側のＬ１（１）線と
が接続され、入側のＬ２（ｍ）線と出側のＬ２（１）線
とが接続される。FIG. 3 shows the test terminals A and B according to the embodiment of the present invention.
3 is a detailed configuration diagram of FIG. The pin holes indicated by circles with diagonal lines provided at the intersections constitute the matrix circuit. This pin hole is provided in two layers of a multilayer structure and is connected to each terminal on the input side by a pattern. The two layers are used corresponding to the L1 line and the L2 line. The other two layers are for the pattern on the output side and are connected to the terminals on the output side at the same time as the input side. Also on the output side, the two layers are used corresponding to the L1 line and the L2 line. The above-described hatched circle pin holes are provided at the intersections where the patterns intersect, and by inserting pins into the pin holes, the L1 line and the L2 line on the input side and the output side are respectively connected. For example, when a pin is inserted into the pin hole Pm ₁ on the intersection, the L1 (m) line on the input side and the L1 (1) line on the output side are connected, and the L2 (m) line on the input side and the L2 (m) line on the output side are connected. The L2 (1) line is connected.

【００２３】また黒丸表記のピン穴は入側、出側のそれ
ぞれのＬ１線，Ｌ２線を共通に試験用端子Ｂ１や端子Ｂ
２に接続するピン穴である。試験用端子Ｂ１のパターン
は出側のパターンと並行に入側近傍に２本設けられ、そ
の２本のパターンが接続されて更に試験用端子Ｂ１に接
続される。また、試験用端子Ｂ１はＬ１線、Ｌ２線用に
２個設けられ、この端子に試験装置のＳＰ端子が接続さ
れると、試験時にはこのパターン上の上述した黒丸表記
の目的のピン穴にピンを挿入し試験を行うことが可能と
なる。また、ＳＰ端子に接続しないで、ピンを２本黒丸
表記のピン穴に挿入すると、Ｌ１どうし、Ｌ２どうしが
接続され、Ｌ１，Ｌ２それぞれの配線の試験が可能とな
る。また、入側のパターンと並行に２個のパターンが設
けられ、それらが接続されて更に試験用端子Ｂ２に接続
される。試験用端子Ｂ１と同様に試験用端子Ｂ２も２個
の端子を有し、一方がＬ１線用で他方がＬ２線用であ
る。試験においては、この試験端子Ｂ２も試験端子Ｂ１
と同様である。Further, the pin holes indicated by black circles are commonly used for the test terminal B1 and the terminal B for the L1 line and the L2 line on the inlet side and the outlet side respectively.
It is a pin hole to connect to 2. Two patterns of the test terminal B1 are provided in the vicinity of the input side in parallel with the pattern on the output side, and the two patterns are connected and further connected to the test terminal B1. Further, two test terminals B1 are provided for the L1 line and the L2 line, and when the SP terminal of the test apparatus is connected to this terminal, at the time of the test, a pin is inserted into the pin hole of the above-mentioned black circle notation on this pattern. It becomes possible to insert and test. If two pins are inserted into the pin holes indicated by black circles without being connected to the SP terminal, L1 and L2 are connected to each other, so that it is possible to test the wirings of L1 and L2. Further, two patterns are provided in parallel with the pattern on the input side, and these patterns are connected to each other and further connected to the test terminal B2. Like the test terminal B1, the test terminal B2 also has two terminals, one for the L1 line and the other for the L2 line. In the test, this test terminal B2 is also the test terminal B1.
Is the same as.

【００２４】尚、入側、出側とは信号の流れを表わすも
のではなく、例えば一義的に加入者側を入側、交換局側
を出側と表わしたものであり、後述するが目的に応じて
これらを使用する。The input side and the output side do not represent the flow of signals, but for example, the subscriber side is uniquely represented as the input side and the exchange side is represented as the output side. Use these accordingly.

【００２５】図３においてＲｍ₁にピンを挿入した場
合、入側のＬ１線、Ｌ２線が試験用端子Ｂ１に接続され
る。また出側の方に挿入した場合には試験端子Ｂ２にＬ
１線、Ｌ２線が接続される。またＲｍ₂，Ｒｍ₃にピン
を挿入した場合、出側のＬ１(1) とＬ２(1) およびＬ２
(1) とＬ２(2) が試験用端子Ｂ２で短絡する。また入側
の方に挿入した場合には試験用端子Ｂ１で短絡する。In FIG. 3, when a pin is inserted into Rm ₁ , the L1 line and L2 line on the entry side are connected to the test terminal B1. If it is inserted on the output side, L is added to the test terminal B2.
One line and L2 line are connected. When pins are inserted into Rm ₂ and Rm ₃ , L1 (1), L2 (1) and L2 on the output side
(1) and L2 (2) are short-circuited at the test terminal B2. In addition, when it is inserted on the entry side, a short circuit occurs at the test terminal B1.

【００２６】ドット丸表記のピン穴は入側や出側の端子
と試験用端子Ａに接続すべきピン穴である。このピン穴
は前述した試験端子に接続されるパターンと同様に設け
られている。しかしながら、そのパターンは出側に並行
なパターン、入側に並行なパターンとそれぞれ２層より
成るが、それぞれ試験用端子Ａで２層のパターンが接続
している。The pin holes represented by dot circles are pin holes to be connected to the terminals on the input side and the output side and the test terminal A. This pin hole is provided similarly to the pattern connected to the test terminal described above. However, the pattern is composed of two layers, a pattern parallel to the output side and a pattern parallel to the input side, but two patterns are connected by the test terminals A, respectively.

【００２７】例えばピン穴Ｓｍにピンを接続した場合に
は、試験用端子Ａに入側の端子のＬ１線とＬ２線が接続
される。試験用端子Ａはスルーホールで２層のパターン
が接続されており、この接続によってピン穴Ｓｍにピン
を挿入した場合にＬ１線、Ｌ２線はショートする。For example, when a pin is connected to the pin hole Sm, the test terminal A is connected to the L1 line and the L2 line of the input terminal. Two layers of patterns are connected to the test terminal A by through holes, and when the pins are inserted into the pin holes Sm by this connection, the L1 line and the L2 line are short-circuited.

【００２８】図４は本発明の実施例のマトリクスボード
の３段リンク構成とした配線盤装置の構成図である。マ
トリクスボードを１次スイッチ群、２次スイッチ群、３
次スイッチ群の３次構成とし、一方を局内設備へ、他方
を加入者宅内装置へ接続している。FIG. 4 is a block diagram of a wiring board device having a three-stage link structure of a matrix board according to an embodiment of the present invention. The matrix board has a primary switch group, a secondary switch group, and 3
The third switch group has a tertiary structure, one of which is connected to the in-station equipment and the other of which is connected to the subscriber premises equipment.

【００２９】図５は３段リンク構成の接続を詳細に表わ
した構成図である。１次スイッチはマトリクスボードＭ
１−１〜Ｍ１−８０よりなり、入側のそれぞれの端子Ｘ
１〜Ｘ４５が線路側であって端末に接続される。そして
この入側が合計3600端子( 各端子は２本）となる。１次
スイッチのマトリクスボードＭ１−１〜Ｍ１−８０の出
側端子の内、それぞれの出側端子Ｙ１が２次スイッチの
マトリクスボードＭ２−１の入側端子に、それぞれの出
側端子Ｙ２が２次スイッチのマトリクスボードＭ２−２
の入側端子に接続される。同様に、１次側の合計出側端
子Ｙ１〜Ｙ８９が２次スイッチのマトリクスボードＭ２
−１〜Ｍ２−８９に対応して接続される。FIG. 5 is a configuration diagram showing in detail the connection of the three-stage link configuration. Primary switch is matrix board M
1-1 to M1-80, each terminal X on the input side
1 to X45 are on the line side and are connected to terminals. This input side has a total of 3600 terminals (two for each terminal). Of the output side terminals of the primary switch matrix boards M1-1 to M1-80, each output side terminal Y1 is an input side terminal of the secondary switch matrix board M2-1 and each output side terminal Y2 is 2. Next switch matrix board M2-2
Connected to the input side terminal of. Similarly, the primary output terminals Y1 to Y89 are secondary switch matrix boards M2.
-1 to M2-89 are connected.

【００３０】そして、２次スイッチのマトリクスボード
Ｍ２−１〜Ｍ２−８９の出側端子Ｙ１は３次スイッチの
マトリクスボードＭ３−１の出側端子Ｙ１〜Ｙ８９に接
続される。また２次スイッチＭ２−１〜Ｍ２−８９の出
側端子Ｙ２は３次スイッチのマトリクスボードＭ３−２
の出側端子Ｙ１〜Ｙ８９に加わる。The output terminals Y1 of the secondary switch matrix boards M2-1 to M2-89 are connected to the output terminals Y1 to Y89 of the tertiary switch matrix board M3-1. Further, the output side terminals Y2 of the secondary switches M2-1 to M2-89 are the matrix board M3-2 of the tertiary switch.
Output terminals Y1 to Y89.

【００３１】以上同様に接続され、３次スイッチには合
計47台のマトリクスボードＭ３−１〜Ｍ３−４７が接続
される。なお、３次スイッチのマトリクスボードＭ３−
４７は最終的にその入側端子はＸ３０までである。これ
によって線路側が3600端子、局内側が2100端子の配線盤
装置となる。In the same manner as above, a total of 47 matrix boards M3-1 to M3-47 are connected to the tertiary switch. In addition, the matrix board M3 of the tertiary switch
Finally, the terminal 47 of the 47 is up to X30. This will be a wiring board device with 3600 terminals on the track side and 2100 terminals on the inside of the station.

【００３２】図４、図５における３段リンク等の構成に
おいて試験用端子Ｂは図６に示すごとく入側と出側に対
応してそれぞれ共通に接続される。いわゆる複式接続さ
れる。例えば入側の（線路側）試験端子の複式接続され
た端子は、試験装置のＳＰ端子に接続される。これによ
って例えば各線路側のユーザ端末の試験は複式接続して
いるうちのどのマトリクスボードにピンを挿入しても可
能となる。また例えば出側の試験端子を複式接続すると
２本ピンを挿入してＬ１どうし、Ｌ２どうしを接続する
場合、異なるマトリクスボードにそれぞれ挿入してもＬ
１どうし、Ｌ２どうしの接続が可能となる。In the configuration of the three-stage link or the like in FIGS. 4 and 5, the test terminals B are commonly connected to the input side and the output side as shown in FIG. So-called multiple connections are made. For example, the double-connected terminal of the input terminal (line side) is connected to the SP terminal of the test apparatus. As a result, for example, the user terminal on each line side can be tested by inserting the pin into any matrix board among the multiple connections. Also, for example, if the output side test terminals are connected in multiple ways, if two pins are inserted and L1 and L2 are connected, even if they are inserted in different matrix boards, respectively
Connection between 1 and L2 is possible.

【００３３】図７は３段リンクにおける試験系の構成の
一例を示す。図１１の従来の試験系の構成例図と同一の
ものは同一の符号を付して説明を略する。端末２４は配
線盤装置２５を交換スイッチ１７′を介して制御する入
力端末であり、指示したデータはコントローラ（ＣＴ）
２６に入力する。そして入力した情報がコントローラ２
６で解析され、その指示に対応した動作をすべき、ロボ
ット機構（ＲＭ）２７を駆動する。このロボット機構２
７は配線盤装置２５内の接続機構であるピンを挿入す
る。FIG. 7 shows an example of the configuration of a test system in a 3-stage link. The same components as those of the conventional test system shown in FIG. 11 are designated by the same reference numerals and their description is omitted. The terminal 24 is an input terminal for controlling the wiring board device 25 via the exchange switch 17 ', and the instructed data is the controller (CT).
26. The entered information is the controller 2
The robot mechanism (RM) 27, which is analyzed in 6 and should perform the operation corresponding to the instruction, is driven. This robot mechanism 2
7 inserts a pin which is a connection mechanism in the wiring board device 25.

【００３４】前述の制御においては、局内側試験の時に
は図８に示す如く、交換機１２から順次３次、２次、１
次のマトリクスボードを介してピン穴Ｐ３，Ｐ２，Ｐ１
にピンを挿入し更に端末ＰＨに接続する。そして、ピン
穴Ｐ１をピンなしとし、１次側のピン穴Ｐ０にピンを挿
入する。ピン穴Ｐ０は試験用端子Ｂ１用のもので更に端
末ＰＨに対応した位置のものである。すなわち試験用端
子Ｂ１の対応するピン穴にピンを挿入して接続すること
により、試験装置１６のＳＰ端子がユーザ端末である電
話ＰＨに接続され、局外側の試験を行うことができる。In the above-mentioned control, at the time of the station inside test, as shown in FIG.
Pin holes P3, P2, P1 through the next matrix board
Insert a pin into and connect to the terminal PH. Then, the pin hole P1 is made to have no pin, and the pin is inserted into the pin hole P0 on the primary side. The pin hole P0 is for the test terminal B1 and is at a position corresponding to the terminal PH. That is, by inserting and connecting a pin into the corresponding pin hole of the test terminal B1, the SP terminal of the test apparatus 16 is connected to the telephone PH, which is the user terminal, and the outside station test can be performed.

【００３５】また、図９に示す如くピン穴Ｐ３，Ｐ２，
Ｐ１にピンを挿入した状態で試験装置１６が交換機１２
の入力に接続し更に試験端子ＡのピンＰＸを挿入するこ
とにより、ユーザ端末である電話機ＰＨのＬ１、Ｌ２線
が１次側のマトリクスボードで短絡されたこととなり、
３段リンクにおける試験用の端子Ｌ１，Ｌ２の短絡試験
を行うことができる。Further, as shown in FIG. 9, pin holes P3, P2,
With the pin inserted in P1, the test device 16
By connecting to the input of and further inserting the pin PX of the test terminal A, it means that the L1 and L2 lines of the telephone PH which is the user terminal are short-circuited on the primary side matrix board,
A short circuit test of the test terminals L1 and L2 in the three-stage link can be performed.

【００３６】図１０に示す如くＰ３，Ｐ３′，Ｐ２，Ｐ
２′にピンを挿入した状態で試験端子ＢのＰＹ，ＰＹ′
にピンを挿入することによりＬ１どうし、Ｌ２どうしが
短絡され、専用線回線試験器により試験を行うことがで
きる。As shown in FIG. 10, P3, P3 ', P2, P
PY, PY 'of test terminal B with pin inserted in 2'
By inserting the pin into L1, L1 and L2 are short-circuited, and the test can be performed by the leased line tester.

【００３７】前述した配線をロボットが行うとともに、
更に図３における黒丸部や点領域内の各ピン穴に対して
もロボットがピンを挿入するので、各種試験を手作業を
介さずに行うことができる。While the robot performs the above-mentioned wiring,
Furthermore, since the robot inserts pins into the pin holes in the black circles and dot areas in FIG. 3, various tests can be performed without manual work.

【００３８】以上、本発明の実施例を用いて詳細に説明
したが、本発明は実施例の１枚のボードに限らず更には
３次以上のボードであってもよく、ボードの枚数に本発
明は限るものではない。Although the embodiment of the present invention has been described in detail above, the present invention is not limited to one board of the embodiment, and may be a board of a third order or more. The invention is not limited.

【００３９】[0039]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、マト
リクスボードを用いたロボット制御方式による自動化さ
れた配線盤装置において、ａ次スイッチのピンボードマ
トリクススイッチに試験用の接続レベルを設けることに
より、配線盤装置側のシステム構築に影響を与えず、経
済的でしかも既存の試験装置と親和性のある接続ができ
るとともに、各種の試験を行うことができる。As described above, according to the present invention, in the automated wiring board device by the robot control system using the matrix board, the pin board matrix switch of the a-order switch is provided with the connection level for the test. As a result, the system construction on the side of the wiring board device is not affected, connection can be made economically and with affinity with existing test devices, and various tests can be performed.

【００４０】また、１〜ｎ次まで同一規格のピンボード
マトリクスが使用可能となる。Also, the pinboard matrix of the same standard can be used from the 1st to the nth order.

[Brief description of drawings]

【図１】本発明のマトリクスボードの原理ブロック図で
ある。FIG. 1 is a principle block diagram of a matrix board of the present invention.

【図２】本発明の実施例のマトリクスボードの構成図で
ある。FIG. 2 is a configuration diagram of a matrix board according to an embodiment of the present invention.

【図３】本発明の実施例の試験用端子Ａ，Ｂ部の詳細な
構成図である。FIG. 3 is a detailed configuration diagram of test terminals A and B according to the embodiment of the present invention.

【図４】本発明の実施例のマトリクスボードを３段リン
ク構成とした配線盤装置の構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram of a wiring board device in which the matrix board of the embodiment of the present invention has a three-stage link configuration.

【図５】３段リンクの詳細な構成図である。FIG. 5 is a detailed configuration diagram of a three-stage link.

【図６】本発明の実施例のマトリクスボードの試験用端
子Ｂの複式接続の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of multiple connection of the test terminal B of the matrix board according to the embodiment of the present invention.

【図７】３段リンクにおける試験系の構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram of a test system in a three-stage link.

【図８】３段リンクにおける局外側試験の説明図であ
る。FIG. 8 is an explanatory diagram of a station outside test in a three-stage link.

【図９】３段リンクにおける試験用端子Ｌ１，Ｌ２短絡
の説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of test terminals L1 and L2 short-circuited in a three-stage link.

【図１０】３段リンクにおけるＬ１線，Ｌ２線どうしの
短絡の説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram of a short circuit between the L1 line and the L2 line in a three-stage link.

【図１１】従来の試験系の構成例図である。FIG. 11 is a diagram showing a configuration example of a conventional test system.

【図１２】従来の配線盤装置の構成図である。FIG. 12 is a configuration diagram of a conventional wiring board device.

[Explanation of symbols]

１入側端子２出側端子３マトリクス回路 1 Input side terminal 2 Output side terminal 3 Matrix circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者川勝英男神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地富士通株式会社内 (72)発明者青山一樹神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地富士通株式会社内 (72)発明者佐々木賢治東京都千代田区内幸町一丁目１番６号日本電信電話株式会社内 (72)発明者高橋秀明東京都千代田区内幸町一丁目１番６号日本電信電話株式会社内 (72)発明者重家義次東京都港区虎ノ門１丁目７番12号沖電気工業株式会社内 (72)発明者小野展義東京都港区虎ノ門１丁目７番12号沖電気工業株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Hideo Kawakatsu 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture, Fujitsu Limited (72) Inventor Kazuki Aoyama 1015, Kamedotachu, Nakahara-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture, Fujitsu Limited ( 72) Inventor Kenji Sasaki 1-6, Uchiyuki-cho, Chiyoda-ku, Tokyo Nihon Telegraph Telephone Co., Ltd. (72) Hideaki Takahashi 1-1-6 Uchiyuki-cho, Chiyoda-ku, Tokyo Nihon Telegraph and Telephone Corporation ( 72) Inventor Yoshiji Shigeya 1-7-12 Toranomon, Minato-ku, Tokyo Oki Electric Industry Co., Ltd. (72) Inventor Nobuyoshi Ono 1-7-12 Toranomon, Minato-ku, Tokyo Oki Electric Industry Co., Ltd.

Claims

[Claims]

1. The m number of input terminals (1-1 to 1-m), each terminal having at least two terminals, and at least two terminals.
N output terminals (2-1 to 2-n) made of a book are wired in a matrix by matrix lines, and provided at intersections (3-1-1 to 3-mn) of the matrix lines. A matrix circuit (3) for connecting the input side terminal and the output side terminal corresponding to the at least two lines when a pin is inserted into the pin hole, and at least one side of the matrix circuit (3). Is provided,
Pin holes are provided at intersections of the matrix lines, and first test terminals (4-1, 4-2) for short-circuiting the at least two lines corresponding to the pins inserted at the time of inserting the pins are provided. Matrix board characterized by.

2. The m number of input terminals (1-1 to 1-m), each terminal having at least two terminals, and at least two terminals.
N output terminals (2-1 to 2-n) made of a book are arranged in a matrix by matrix lines, and provided at intersections (3-1-1 to 3-mn) of the matrix lines. A matrix circuit (3) for connecting the input side terminal and the output side terminal corresponding to the at least two lines when a pin is inserted into the pin hole, and at least one side of the matrix circuit (3). Is provided,
A matrix board having pin holes provided at intersections of the matrix lines and comprising first test terminals (4-1, 4-2) for short-circuiting the at least two lines corresponding to the pins inserted at the time of inserting the pins. In a wiring board device in which a p-stage link is configured by using the target pin and the target pin is inserted, the pin is inserted into the target first test terminal of the q-th matrix board, A test method for a wiring board device characterized by testing the wirings of a wiring board device from the qth order to the pth order with a line test device.

3. The m number of input terminals (1-1 to 1-m), each terminal having at least two terminals, and at least two terminals.
N output terminals (2-1 to 2-n) made of a book are wired in a matrix by matrix lines, and provided at intersections (3-1-1 to 3-mn) of the matrix lines. A matrix circuit (3) for connecting the input side terminal and the output side terminal corresponding to the at least two lines when a pin is inserted into the pin hole, and at least one side of the matrix circuit (3). Is provided,
A pin hole is provided at the intersection of the matrix lines, and for insertion into the pin on the input side, regardless of the position of the pin on the input side, to the same terminal or for insertion into the pin on the output side, A matrix board, characterized in that it is provided with second test terminals (5-1, 5-2) for outputting to the same terminal without depending on the position of the pin.

4. The m number of input terminals (1-1 to 1-m), each terminal having at least two terminals, and at least two terminals.
N output terminals (2-1 to 2-n) made of a book are wired in a matrix by matrix lines, and provided at intersections (3-1-1 to 3-mn) of the matrix lines. A matrix circuit (3) for connecting the input side terminal and the output side terminal corresponding to the at least two lines when a pin is inserted into the pin hole, and at least one side of the matrix circuit (3). Is provided,
A pin hole is provided at the intersection of the matrix lines, and for insertion into the pin on the input side, regardless of the position of the pin on the input side, to the same terminal or for insertion into the pin on the output side, A p-stage link is configured using a matrix board composed of the second test terminals (5-1 and 5-2) that output to the same terminal without depending on the position of the pin. A wiring board for inserting a pin to be output to the second test terminal, and connecting the second test terminal to a terminal for performing a line state test of a line test device to perform a line test. Equipment test method.

5. The m number of input terminals (1-1 to 1 to m) each having at least two terminals and at least two terminals at one terminal.
N output terminals (2-1 to 2-n) made of a book are wired in a matrix by matrix lines, and provided at intersections (3-1-1 to 3-mn) of the matrix lines. A matrix circuit (3) for connecting the input side terminal and the output side terminal corresponding to the at least two lines when a pin is inserted into the pin hole, and at least one side of the matrix circuit (3). Is provided,
A pin hole is provided at the intersection of the matrix lines, and for insertion into the pin on the input side, regardless of the position of the pin on the input side, to the same terminal or for insertion into the pin on the output side, A p-stage link is configured using a matrix board composed of the second test terminals (5-1 and 5-2) that output to the same terminal without depending on the position of the pin. At least two pins are inserted at the intersections connected to the second test terminals to short-circuit correspondingly at least two lines, and wiring of the wiring board device from the qth order to the pth order by the line test apparatus. The test method of the wiring board device, which is characterized in that