JPH05176356A - マトリクスボードを用いた配線盤装置の試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 配線盤装置を構成するマトリクスボードとそ
のマトリクスボードを用いた試験装置の試験方式に関
し、人手を介さずに従来と同様の試験を行い、経済的な
構成でできるマトリクスボードとマトリクスボードを用
いた配線盤の試験方式に関する。 【構成】 マトリクス回路３に第１の試験用端子４−
１，４−２や第２の試験用端子５−１，５−２を設け、
第１の試験用端子４−１，４−２によってピン挿入時に
挿入したピンに対応する少なくとも２本の線を短絡した
り、第２の試験用端子５−１，５−２により入側のピン
への挿入に対し当該入側のピンの位置に依存せずに同一
端子に、或いは出側のピンへの挿入に対し当該出側のピ
ンの位置に依存せずに同一端子に接続するように構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、交換機等の交換局内装
置と加入者側の回線を任意に接続する配線盤装置に係
り、更に詳しくは配線盤装置を構成するマトリクスボー
ドとそのマトリクスボードを用いた試験装置の試験方式
に関する。

【０００２】

【従来の技術】Ｄ７０型交換機では、低トラフィック地
域の加入者を経済的に収容するために遠隔制御交換方式
を適用している。遠隔制御交換装置（ＲＣＳ；Remote C
ontrolSwitching System)は、加入者線インタフェース
装置、遠隔通話路装置、間局インタフェース装置、遠隔
通話路制御装置等から構成されている。この遠隔制御交
換装置によって親局と同等のサービスを行うことができ
る。さらに、この交換機には配線盤装置（ＦＤＭ）を介
して各端末装置が接続している。

【０００３】配線盤装置はユーザに対応して配線作業が
されており、図１１に示す試験系（１例）によって配線
盤装置（ＦＤＭ）１１と交換機（Ｄ７０／ＲＣＳ）１２
の試験が行われる。試験台システム（ＳＵＬＴＳ）１３
を構成する試験台（ＴＳＴＤ）１４からの指示が試験制
御装置（ＴＣＥ）１５に加わり、試験制御装置１５では
これをもとに、どの試験を開始するかを選択的に求め、
指示信号を試験装置（ＴＥ）１６に出力する。この指示
により、試験装置１６は例えば試験用端子ＳＰより試験
用信号を出力する。この試験用端子ＳＰより出力される
試験用信号は、配線盤装置１１に直接加わる構成となっ
ている。

【０００４】従来、配線盤装置は、図１２に示す如く、
局内設備１２と加入者宅内装置ＰＨとを配線盤装置１１
を介して接続し、試験装置１６からの試験指示によって
加入者回路（ＳＬＩＣ）をテスト側に切り換え、配線盤
装置１１に試験用信号を出力し、配線盤が正しく配線さ
れているかをチェックしている。

【０００５】図１１を用いて更に詳しく説明する。加入
者系試験時には、交換機１２内の交換スイッチ１７を介
さず配線盤装置１１と試験装置１６とをアレスタ（ＡＲ
Ｒ）１８、加入者回路（ＳＬＩＣ）１９、試験スイッチ
（ＴＥＳＴ ＳＷ）２０、ＬＴＴ付加ユニット（ＬＴＡ
Ｕ）２１、線路試験トランク（ＬＴＴ）２２、ＬＴＴ付
加ユニット（ＬＴＴＡＵ）２３を介し接続する。

【０００６】そして、試験用端子ＳＰより信号を出力
し、手配線によって配線盤装置１１にその試験用信号を
加え、前述した試験ルートであるアレスタ１８、加入者
回路１９、試験スイッチ２０、ＬＴＴ付加ユニット２
１、線路試験トランク２２、ＬＴＴ付加ユニット２３に
よって試験用信号を戻し、交換機並びに配線盤が正常で
あるかを求めている。

【０００７】また、加入者系試験には加入者線路試験、
加入者回路機能試験、加入者回路転送特性試験、疑似端
末装置等があり、これらを試験装置１６によって試験す
るようにしている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】前述した配線盤装置１
１は人手によって配線作業がされていたが、低コスト化
を図るためロボットによって配線作業（ジャンパリン
グ）を行うようになった。このロボットによるジャンパ
リングでは、配線盤装置１１にはピンボードマトリクス
を用いている。このピンボードマトリクスは例えば入側
がｍ、出側がｎの端子を有し、各端子は２本よりなり、
マトリクスを構成したｍ×ｎの交差点に設けられたピン
穴にピンを挿入することにより、この各２本の線が接続
される構成となっている。これにより目的の接続が任意
に行え、またロボットによるピン接続であるので、人件
費等のコストが安価となる特徴を有していた。

【０００９】しかしながら、配線作業においては人手の
介在は不要となったが、配線終了後の正常性の確認、更
には異常時の切りわけ試験を従来通り手配線で行ってい
たのではロボットにより自動化したメリットが半減して
しまうという問題を有していた。

【００１０】本発明は、人手を介さずに従来と同様の試
験を行い、経済的に構成できるマトリクスボードとその
マトリクスボードを用いた配線盤の試験方式を提供する
ものである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】図１は本発明のマトリク
スボードの原理ブロック図である。本発明は、１端子が
少なくとも２本よりなるｍ個の入側端子１−１〜１−ｍ
と１端子が少なくとも２本よりなるｎ個の出側端子２−
１〜２−ｎとがマトリクス線によってマトリクス状に配
線され、該マトリクス線の交差点３−１−１〜３−ｍ−
ｎに設けられたピン穴にピンが挿入された時に、当該入
側端子と当該出側端子とを前記少なくとも２本の線に対
応して接続するマトリクス回路３におけるものである。

【００１２】第１の発明は、マトリクス回路３の少なく
とも１辺でマトリクス線の交差点にピン穴が設置され、
ピン挿入時に挿入したピンに対応する前記少なくとも２
本の線を短絡する第１の試験用端子４−１，４−２を設
けてなる。

【００１３】第２の発明は、マトリクス回路３と前記第
１の試験用端子４−１，４−２とよりなるマトリクスボ
ードを用いた配線盤ボードの試験方式であり、前記マト
リクスボードを用いてｐ段のリンクを構成し、目的のピ
ンを挿入して目的の配線とする配線盤装置において、ｑ
段目のマトリクスボードの前記第１の試験端子４−１，
４−２の交差点にピンを挿入して線路試験装置でｑ次か
らｐ次の配線盤装置の配線を試験する。

【００１４】第３の発明は、前記マトリクス回路３の少
なくとも１辺でマトリクス線の交差点にピン穴が設置さ
れ、入側のピンへの挿入に対し当該入側のピンの位置に
依存せずに同一端子に、或いは出側のピンへの挿入に対
し当該出側のピンの位置に依存せずに同一端子に出力す
る第２の試験用端子５−１，５−２を設けてなる。

【００１５】第４の発明はマトリクス回路３と第２の試
験用端子５−１，５−２とよりなるマトリクスボードを
用いてｐ段のリンクを構成し、ｑ段目の前記第２の試験
用端子５−１，５−２に出力すべきピンを挿入し、線路
試験装置の配線状態試験を行う端子に前記第２の試験端
子５−１，５−２を接続して線路の試験を行う。

【００１６】第５の発明は、前記マトリクス回路３と第
２の試験用端子５−１，５−２とよりなるマトリクスボ
ードを用いてｐ段のリンクを構成し、目的のピンを挿入
して目的の配線とする配線盤装置において、ｑ段目のマ
トリクスボードの前記第２の試験用端子５−１，５−２
の交差点にピンを少なくとも２本挿入して、少なくとも
２本よりなる線を対応して短絡し、線路試験装置でｑ次
からｐ次の配線盤装置の配線を試験する。

【００１７】

【作用】本発明はマトリクス回路３に第１の試験用端子
４−１，４−２や第２の試験用端子５−１，５−２を設
け、第１の試験用端子４−１，４−２によってピン挿入
時に挿入したピンに対応する少なくとも２本の線を短絡
する。また第２の試験用端子５−１，５−２により入側
のピンへの挿入に対し当該入側のピンの位置に依存せず
に同一端子に、或いは出側のピンへの挿入に対し当該出
側のピンの位置に依存せずに同一端子に接続する。これ
により、入側や出側のピンの短絡や、複数の入側や出側
の２本の線に対応するそれぞれの並列接続短絡がなされ
る。この線間の短絡や端子間の並列接続短絡によって試
験装置における配線状態の試験を行い、配線状態をチェ
ックすることができる。

【００１８】

【実施例】以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。
図２は本発明の実施例のマトリクスボードいわゆるピン
ボードマトリクススイッチの構成図である。入側のｍ端
子（各端子は２本の線よりなる）Ｉ１〜Ｉｍと出側のｎ
端子（各端子は２本の線よりなる）Ｏ１〜Ｏｎはマトリ
クス領域ＭＸでマトリクス状に配線され、各交差点に設
けられたピン穴Ｐにピンが挿入されると入側の２本の線
と出側の２本の線が対応して接続される。この入側、出
側のそれぞれの２本の線はＬ１線とＬ２線とよりなり、
交差点のピン穴Ｐにピンを挿入することにより、Ｌ１線
どうしとＬ２線どうしが同時に接続される。

【００１９】さらに入側ｍ端子の辺や出側ｎ端子の辺に
試験用端子Ａを設けてある。この試験用端子Ａ上に設け
られたピン穴にピンを挿入することにより、対応する前
述の２つの信号線Ｌ１，Ｌ２が短絡する。この短絡は、
ピンを抜去することにより断となるマトリクスボードに
更に試験用端子Ａ上のピン穴にピンを挿入した時になさ
れる。

【００２０】また、試験用端子Ｂは入側端子Ｉ１〜Ｉｍ
並びに出側端子Ｏ１〜Ｏｎの辺に設けられ、ピンを抜去
することにより切断するマトリクスボードに、更にピン
を挿入して任意の入側は全て同一の出側または全ての出
側も同一の出側に接続される。

【００２１】すなわち、ピンを挿入すると、試験用端子
Ａでは入側端子Ｉ１〜Ｉｍ並びに出側端子Ｏ１〜Ｏｎの
それぞれの２本の線（Ｌ１線、Ｌ２線）の内、ピン穴に
ピンを挿入した位置に対応した端子のＬ１線とＬ２線と
が短絡する。また、試験用端子Ｂではその入側端子や出
側端子に接続すべきピンを挿入すると、試験用端子Ｂに
接続される。この試験用Ｂ端子は対応する挿入したピン
のＬ１線が全て接続され、またＬ２線も接続され試験用
端子Ｂに出力されるのである。まとめるならば、試験用
の端子Ａ，Ｂを設置して、試験のための接続レベルを設
けている。

【００２２】図３は本発明の実施例の試験用端子Ａ，Ｂ
の詳細な構成図である。交差点に設けられた斜線丸表記
のピン穴はマトリクス回路を構成するものである。この
ピン穴は多層構造の２層に設けられてパターンによって
入側の各端子に接続される。２層はＬ１線とＬ２線に対
応して使用される。さらに他の２層が出側のパターンの
ためのものであり、入側と同時に出側の各端子に接続さ
れる。出側においても２層はＬ１線とＬ２線に対応して
使用される。パターンが交差する交差点に上述の斜線丸
表記のピン穴が設けられ、このピン穴にピンを挿入する
ことにより、入側と出側のＬ１線、Ｌ２線をそれぞれ接
続する。例えば交差点上のピン穴Ｐｍ₁ にピンを挿入し
た場合には入側のＬ１（ｍ）線と出側のＬ１（１）線と
が接続され、入側のＬ２（ｍ）線と出側のＬ２（１）線
とが接続される。

【００２３】また黒丸表記のピン穴は入側、出側のそれ
ぞれのＬ１線，Ｌ２線を共通に試験用端子Ｂ１や端子Ｂ
２に接続するピン穴である。試験用端子Ｂ１のパターン
は出側のパターンと並行に入側近傍に２本設けられ、そ
の２本のパターンが接続されて更に試験用端子Ｂ１に接
続される。また、試験用端子Ｂ１はＬ１線、Ｌ２線用に
２個設けられ、この端子に試験装置のＳＰ端子が接続さ
れると、試験時にはこのパターン上の上述した黒丸表記
の目的のピン穴にピンを挿入し試験を行うことが可能と
なる。また、ＳＰ端子に接続しないで、ピンを２本黒丸
表記のピン穴に挿入すると、Ｌ１どうし、Ｌ２どうしが
接続され、Ｌ１，Ｌ２それぞれの配線の試験が可能とな
る。また、入側のパターンと並行に２個のパターンが設
けられ、それらが接続されて更に試験用端子Ｂ２に接続
される。試験用端子Ｂ１と同様に試験用端子Ｂ２も２個
の端子を有し、一方がＬ１線用で他方がＬ２線用であ
る。試験においては、この試験端子Ｂ２も試験端子Ｂ１
と同様である。

【００２４】尚、入側、出側とは信号の流れを表わすも
のではなく、例えば一義的に加入者側を入側、交換局側
を出側と表わしたものであり、後述するが目的に応じて
これらを使用する。

【００２５】図３においてＲｍ₁ にピンを挿入した場
合、入側のＬ１線、Ｌ２線が試験用端子Ｂ１に接続され
る。また出側の方に挿入した場合には試験端子Ｂ２にＬ
１線、Ｌ２線が接続される。またＲｍ₂ ，Ｒｍ₃ にピン
を挿入した場合、出側のＬ１(1) とＬ２(1) およびＬ２
(1) とＬ２(2) が試験用端子Ｂ２で短絡する。また入側
の方に挿入した場合には試験用端子Ｂ１で短絡する。

【００２６】ドット丸表記のピン穴は入側や出側の端子
と試験用端子Ａに接続すべきピン穴である。このピン穴
は前述した試験端子に接続されるパターンと同様に設け
られている。しかしながら、そのパターンは出側に並行
なパターン、入側に並行なパターンとそれぞれ２層より
成るが、それぞれ試験用端子Ａで２層のパターンが接続
している。

【００２７】例えばピン穴Ｓｍにピンを接続した場合に
は、試験用端子Ａに入側の端子のＬ１線とＬ２線が接続
される。試験用端子Ａはスルーホールで２層のパターン
が接続されており、この接続によってピン穴Ｓｍにピン
を挿入した場合にＬ１線、Ｌ２線はショートする。

【００２８】図４は本発明の実施例のマトリクスボード
の３段リンク構成とした配線盤装置の構成図である。マ
トリクスボードを１次スイッチ群、２次スイッチ群、３
次スイッチ群の３次構成とし、一方を局内設備へ、他方
を加入者宅内装置へ接続している。

【００２９】図５は３段リンク構成の接続を詳細に表わ
した構成図である。１次スイッチはマトリクスボードＭ
１−１〜Ｍ１−８０よりなり、入側のそれぞれの端子Ｘ
１〜Ｘ４５が線路側であって端末に接続される。そして
この入側が合計3600端子( 各端子は２本）となる。１次
スイッチのマトリクスボードＭ１−１〜Ｍ１−８０の出
側端子の内、それぞれの出側端子Ｙ１が２次スイッチの
マトリクスボードＭ２−１の入側端子に、それぞれの出
側端子Ｙ２が２次スイッチのマトリクスボードＭ２−２
の入側端子に接続される。同様に、１次側の合計出側端
子Ｙ１〜Ｙ８９が２次スイッチのマトリクスボードＭ２
−１〜Ｍ２−８９に対応して接続される。

【００３０】そして、２次スイッチのマトリクスボード
Ｍ２−１〜Ｍ２−８９の出側端子Ｙ１は３次スイッチの
マトリクスボードＭ３−１の出側端子Ｙ１〜Ｙ８９に接
続される。また２次スイッチＭ２−１〜Ｍ２−８９の出
側端子Ｙ２は３次スイッチのマトリクスボードＭ３−２
の出側端子Ｙ１〜Ｙ８９に加わる。

【００３１】以上同様に接続され、３次スイッチには合
計47台のマトリクスボードＭ３−１〜Ｍ３−４７が接続
される。なお、３次スイッチのマトリクスボードＭ３−
４７は最終的にその入側端子はＸ３０までである。これ
によって線路側が3600端子、局内側が2100端子の配線盤
装置となる。

【００３２】図４、図５における３段リンク等の構成に
おいて試験用端子Ｂは図６に示すごとく入側と出側に対
応してそれぞれ共通に接続される。いわゆる複式接続さ
れる。例えば入側の（線路側）試験端子の複式接続され
た端子は、試験装置のＳＰ端子に接続される。これによ
って例えば各線路側のユーザ端末の試験は複式接続して
いるうちのどのマトリクスボードにピンを挿入しても可
能となる。また例えば出側の試験端子を複式接続すると
２本ピンを挿入してＬ１どうし、Ｌ２どうしを接続する
場合、異なるマトリクスボードにそれぞれ挿入してもＬ
１どうし、Ｌ２どうしの接続が可能となる。

【００３３】図７は３段リンクにおける試験系の構成の
一例を示す。図１１の従来の試験系の構成例図と同一の
ものは同一の符号を付して説明を略する。端末２４は配
線盤装置２５を交換スイッチ１７′を介して制御する入
力端末であり、指示したデータはコントローラ（ＣＴ）
２６に入力する。そして入力した情報がコントローラ２
６で解析され、その指示に対応した動作をすべき、ロボ
ット機構（ＲＭ）２７を駆動する。このロボット機構２
７は配線盤装置２５内の接続機構であるピンを挿入す
る。

【００３４】前述の制御においては、局内側試験の時に
は図８に示す如く、交換機１２から順次３次、２次、１
次のマトリクスボードを介してピン穴Ｐ３，Ｐ２，Ｐ１
にピンを挿入し更に端末ＰＨに接続する。そして、ピン
穴Ｐ１をピンなしとし、１次側のピン穴Ｐ０にピンを挿
入する。ピン穴Ｐ０は試験用端子Ｂ１用のもので更に端
末ＰＨに対応した位置のものである。すなわち試験用端
子Ｂ１の対応するピン穴にピンを挿入して接続すること
により、試験装置１６のＳＰ端子がユーザ端末である電
話ＰＨに接続され、局外側の試験を行うことができる。

【００３５】また、図９に示す如くピン穴Ｐ３，Ｐ２，
Ｐ１にピンを挿入した状態で試験装置１６が交換機１２
の入力に接続し更に試験端子ＡのピンＰＸを挿入するこ
とにより、ユーザ端末である電話機ＰＨのＬ１、Ｌ２線
が１次側のマトリクスボードで短絡されたこととなり、
３段リンクにおける試験用の端子Ｌ１，Ｌ２の短絡試験
を行うことができる。

【００３６】図１０に示す如くＰ３，Ｐ３′，Ｐ２，Ｐ
２′にピンを挿入した状態で試験端子ＢのＰＹ，ＰＹ′
にピンを挿入することによりＬ１どうし、Ｌ２どうしが
短絡され、専用線回線試験器により試験を行うことがで
きる。

【００３７】前述した配線をロボットが行うとともに、
更に図３における黒丸部や点領域内の各ピン穴に対して
もロボットがピンを挿入するので、各種試験を手作業を
介さずに行うことができる。

【００３８】以上、本発明の実施例を用いて詳細に説明
したが、本発明は実施例の１枚のボードに限らず更には
３次以上のボードであってもよく、ボードの枚数に本発
明は限るものではない。

【００３９】

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、マト
リクスボードを用いたロボット制御方式による自動化さ
れた配線盤装置において、ａ次スイッチのピンボードマ
トリクススイッチに試験用の接続レベルを設けることに
より、配線盤装置側のシステム構築に影響を与えず、経
済的でしかも既存の試験装置と親和性のある接続ができ
るとともに、各種の試験を行うことができる。

【００４０】また、１〜ｎ次まで同一規格のピンボード
マトリクスが使用可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のマトリクスボードの原理ブロック図で
ある。

【図２】本発明の実施例のマトリクスボードの構成図で
ある。

【図３】本発明の実施例の試験用端子Ａ，Ｂ部の詳細な
構成図である。

【図４】本発明の実施例のマトリクスボードを３段リン
ク構成とした配線盤装置の構成図である。

【図５】３段リンクの詳細な構成図である。

【図６】本発明の実施例のマトリクスボードの試験用端
子Ｂの複式接続の説明図である。

【図７】３段リンクにおける試験系の構成図である。

【図８】３段リンクにおける局外側試験の説明図であ
る。

【図９】３段リンクにおける試験用端子Ｌ１，Ｌ２短絡
の説明図である。

【図１０】３段リンクにおけるＬ１線，Ｌ２線どうしの
短絡の説明図である。

【図１１】従来の試験系の構成例図である。

【図１２】従来の配線盤装置の構成図である。

【符号の説明】

１ 入側端子 ２ 出側端子 ３ マトリクス回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川勝 英男 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 青山 一樹 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 佐々木 賢治 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 高橋 秀明 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 重家 義次 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電気 工業株式会社内 (72)発明者 小野 展義 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電気 工業株式会社内

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 １端子が少なくとも２本よりなるｍ個の
   入側端子（１−１〜１−ｍ）と、１端子が少なくとも２
   本よりなるｎ個の出側端子（２−１〜２−ｎ）とがマト
   リクス線によってマトリクス状に配線され、該マトリク
   ス線の交差点（３−１−１〜３−ｍ−ｎ）に設けられた
   ピン穴にピンが挿入された時に当該入側端子と出側端子
   とを前記少なくとも２本の線に対応して接続するマトリ
   クス回路（３）と、 該マトリクス回路（３）の少なくとも１辺に設けられ、
   前記マトリクス線の交差点にピン穴が設置されピン挿入
   時に挿入したピンに対応する前記少なくとも２本の線を
   短絡する第１の試験用端子（４−１，４−２）とを設け
   て成ることを特徴とするマトリクスボード。
2. 【請求項２】 １端子が少なくとも２本よりなるｍ個の
   入側端子（１−１〜１−ｍ）と、１端子が少なくとも２
   本よりなるｎ個の出側端子（２−１〜２〜ｎ）とがマト
   リクス線によってマトリクス状に配線され、該マトリク
   ス線の交差点（３−１−１〜３−ｍ−ｎ）に設けられた
   ピン穴にピンが挿入された時に当該入側端子と出側端子
   とを前記少なくとも２本の線に対応して接続するマトリ
   クス回路（３）と、 該マトリクス回路（３）の少なくとも１辺に設けられ、
   前記マトリクス線の交差点にピン穴が設置されピン挿入
   時に挿入したピンに対応する前記少なくとも２本の線を
   短絡する第１の試験用端子（４−１，４−２）とよりな
   るマトリクスボードを用いてｐ段のリンクを構成し、目
   的のピンを挿入して目的の接続を行う配線盤装置におい
   て、 ｑ段目のマトリクスボードの目的とする前記第１の試験
   端子にピンを挿入して、線路試験装置でｑ次からｐ次ま
   での配線盤装置の配線を試験することを特徴とする配線
   盤装置の試験方式。
3. 【請求項３】 １端子が少なくとも２本よりなるｍ個の
   入側端子（１−１〜１−ｍ）と、１端子が少なくとも２
   本よりなるｎ個の出側端子（２−１〜２−ｎ）とがマト
   リクス線によってマトリクス状に配線され、該マトリク
   ス線の交差点（３−１−１〜３−ｍ−ｎ）に設けられた
   ピン穴にピンが挿入された時に当該入側端子と出側端子
   とを前記少なくとも２本の線に対応して接続するマトリ
   クス回路（３）と、 該マトリクス回路（３）の少なくとも１辺に設けられ、
   前記マトリクス線の交差点にピン穴が設置され入側のピ
   ンへの挿入に対し、当該入側のピンの位置に依存せずに
   同一端子に或いは出側のピンへの挿入に対し当該出側の
   ピンの位置に依存せずに同一端子に出力する第２の試験
   用端子（５−１，５−２）とを設けて成ることを特徴と
   するマトリクスボード。
4. 【請求項４】 １端子が少なくとも２本よりなるｍ個の
   入側端子（１−１〜１−ｍ）と、１端子が少なくとも２
   本よりなるｎ個の出側端子（２−１〜２−ｎ）とがマト
   リクス線によってマトリクス状に配線され、該マトリク
   ス線の交差点（３−１−１〜３−ｍ−ｎ）に設けられた
   ピン穴にピンが挿入された時に当該入側端子と出側端子
   とを前記少なくとも２本の線に対応して接続するマトリ
   クス回路（３）と、 該マトリクス回路（３）の少なくとも１辺に設けられ、
   前記マトリクス線の交差点にピン穴が設置され入側のピ
   ンへの挿入に対し、当該入側のピンの位置に依存せずに
   同一端子に或いは出側のピンへの挿入に対し当該出側の
   ピンの位置に依存せずに同一端子に出力する第２の試験
   用端子（５−１，５−２）とより成るマトリクスボード
   を用いてｐ段のリンクを構成し、 ｑ段目の目的の前記第２の試験用端子に出力すべきピン
   を挿入し、線路試験装置の回線状態試験を行う端子に前
   記第２の試験用端子を接続して線路の試験を行うことを
   特徴とする配線盤装置の試験方式。
5. 【請求項５】 １端子が少なくとも２本よりなるｍ個の
   入側端子（１−１〜１〜ｍ）と、１端子が少なくとも２
   本よりなるｎ個の出側端子（２−１〜２−ｎ）とがマト
   リクス線によってマトリクス状に配線され、該マトリク
   ス線の交差点（３−１−１〜３−ｍ−ｎ）に設けられた
   ピン穴にピンが挿入された時に当該入側端子と出側端子
   とを前記少なくとも２本の線に対応して接続するマトリ
   クス回路（３）と、 該マトリクス回路（３）の少なくとも１辺に設けられ、
   前記マトリクス線の交差点にピン穴が設置され入側のピ
   ンへの挿入に対し、当該入側のピンの位置に依存せずに
   同一端子に或いは出側のピンへの挿入に対し当該出側の
   ピンの位置に依存せずに同一端子に出力する第２の試験
   用端子（５−１，５−２）とより成るマトリクスボード
   を用いてｐ段のリンクを構成し、 ｑ段目の目的の前記第２の試験用端子に接続する交差点
   にピンを少なくとも２本挿入して、少なくとも２本より
   なる線を対応して短絡し、線路試験装置でｑ次からｐ次
   までの配線盤装置の配線の試験をすることを特徴とする
   配線盤装置の試験方式。