JP6447081B2 - 光源装置及び該光源装置を備えたプロジェクタ - Google Patents
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Description
更に、集光点形状の短軸が第1の方向の第1の半導体レーザに対応するコリメートレンズと、集光点形状の短軸が第2の方向の第2の半導体レーザに対応するコリメートレンズとが、コリメートレンズの光軸方向にずれた第2のシフトを伴って配置されているので、集光点形状(集光点におけるビーム形状、以下ビーム形状と略する)の大きさが異なり、集光レンズの集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比の集光点形状(ビーム形状)を得ることができる。
以上のように、本実施態様では、半導体レーザ及びコリメートレンズを使用した複数の光源において、蛍光体の発光効率低下を抑制でき、更に集光領域で、所望のアスペクト比の焦点形状(ビーム形状)を得ることができる。なお、第1のシフトにより異なる位置に集光されるので、これにより集光点形状(ビーム形状)の大きさを調整することもできる。
更に、集光点形状の短軸が第1の方向の第1の半導体レーザに対応するコリメートレンズの焦点距離と、集光点形状の短軸が第2の方向の第2の半導体レーザに対応するコリメートレンズの焦点距離とが異なるので、集光点形状(ビーム形状)の大きさが異なり、集光レンズの集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比のビーム形状(集光点形状)を得ることができる。
以上のように、本実施態様では、半導体レーザ及びコリメートレンズを使用した複数の光源において、蛍光体の発光効率低下を抑制でき、更に集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比の焦点形状(ビーム形状)を得ることができる。なお、第1のシフトにより異なる位置に集光されるので、これにより集光点形状(ビーム形状)の大きさを調整することもできる。
更に、集光点形状の短軸が第1の方向の第1の半導体レーザに対応するレンズアレイと、集光点形状の短軸が第2の方向の第2の半導体レーザに対応するレンズアレイとが、コリメートレンズの光軸方向にずれた第2のシフトを伴って配置されているので、集光点形状(ビーム形状)の大きさが異なり、集光レンズの集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比のビーム形状(集光点形状)を得ることができる。
以上のように、本実施態様では、複数の半導体レーザ及びレンズアレイを使用した2以上の光源において、蛍光体の発光効率低下を抑制でき、更に集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比の焦点形状(ビーム形状)を得ることができる。なお、第1のシフトにより異なる位置に集光されるので、これにより集光点形状(ビーム形状)の大きさを調整することもできる。
なお、第1の光源及び第2の光源で、第1のシフトの量が異なってもよい。
更に、集光点形状の短軸が第1の方向の第1の光源のレンズアレイを構成するコリメートレンズの焦点距離と、集光点形状の短軸が第1の方向の第1の光源のレンズアレイを構成するコリメートレンズの焦点距離とが異なるので、集光点形状(ビーム形状)の大きさが異なり、集光レンズの集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比のビーム形状(集光点形状)を得ることができる。
以上のように、本実施態様では、複数の半導体レーザ及びレンズアレイを使用した2以上の光源において、蛍光体の発光効率低下を抑制でき、更に集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比の焦点形状(ビーム形状)を得ることができる。なお、第1のシフトにより異なる位置に集光されるので、これにより集光点形状(ビーム形状)の大きさを調整することもできる。
なお、第1の光源及び第2の光源で、第1のシフトの量が異なってもよい。
次に、本発明の光源装置及びこの光源装置を備えたプロジェクタについて、以下に図面を用いながら詳細に説明する。
まず、図1a及び図1bを参照しながら、本発明に係る光源装置の1つの実施形態について説明する。なお、図1aは、本発明の光源装置の1つの実施形態を示すための模式的な平面図であって、光源装置の平面図を示すと共に、集光レンズ20側から光源10の半導体レーザ12A、12Bを見たときの図を図1aの左上に半導体レーザ正面図として示し、さらに、1つの半導体レーザから出射されるレーザ光のファーフィールドパターンとニアフィールドパターンを説明するために軸を定義した軸説明図を図1aの左下に示したものである。図1bは、本発明の光源装置の1つの実施形態を示すための模式的な側面図であって、光源装置の側面図を示すと共に、集光レンズ20側から光源10の半導体レーザ12A、12Bを見たときの図を図1bの左上に半導体レーザ正面図として示し、さらに、1つの半導体レーザから出射されるレーザ光のファーフィールドパターンとニアフィールドパターンを説明するために軸を定義した軸説明図を図1bの左下に示したものである。また図1a、bの半導体レーザ正面図において、矢印Aから見た光源装置が、本実施形態の光源装置の平面図と対応し、矢印Bから見た光源装置が、本実施形態の光源装置の側面図と対応する。
本実施形態では、光源10から青色光が出射され、出射された青色光は集光レンズ20に入射し、集光レンズ20で集光されて、回転駆動部50によって回転する蛍光体ホイール30に入射する。蛍光体ホイール30は、光が透過する材料で構成され、入射側表面に誘電体膜31が、出射側表面に蛍光体層32が同心円状に形成されている。更に詳細に述べれば、出射側表面に緑蛍光体領域、赤蛍光体領域及び青透過領域が同心円状に設けられている。緑蛍光体は青色光が入射すると緑色光を発し、赤蛍光体は青色光が入射すると赤色光を発する。よって、集光レンズ20から青色光が蛍光体ホイール30に入射すると、蛍光体ホイール30から時分割で、緑色光、赤色光及び青色光が出射され、受光レンズ40に入射する。そして、受光レンズ40によって光が所定の向きに進行方向が変えられて、光源装置1から出力される。具体的には、受光レンズ40によって、光が広がる方向に出射することもできるし、平行光を出射することもできるし,所定の位置に集光することもできる。
なお、本実施形態で用いる半導体レーザ12の波長は、370〜500nm内の光を発することが望ましく、420〜500nm内の光を発することが更に望ましい。
また、第1の光源10Aのレンズアレイ14A(実線で示す)と、第2の光源10Bのレンズアレイ14B(破線で示す)とが、コリメートレンズ13A、13Bの光軸方向にずれた第2のシフトを伴って配置されている。なお、これらの第1のシフト及び第2のシフトに関する説明は追って詳述する。
図1a及び図1bでは、蛍光体ホイール30の入射側表面に設けられた誘電体膜31の表面位置で集光されるように描かれているが、誘電体膜31は非常に薄く、蛍光体ホイール30で光が集光されたり拡散されたりしないので、「蛍光体32上でそれぞれ異なる位置に集光される」ということができる。
また、本実施形態では、緑・赤・青の3領域としているが、4つ以上の領域としてもよい。青色と黄色による白色光領域や、緑・赤・青の領域を増やしてそれぞれ2つずつとしてもよい。
なお、蛍光体ホイール30の出射側に更に1枚の基板を加え、そこにバンドパスフィルターを設けてもよい(図示せず)。これにより、より純粋な緑や赤色を得ることができる。
つまり、
(変調手段により形成された画像サイズ)×(投射角度)=(蛍光領域FL)×(受光レンズNA)
となる。よって、蛍光体の発光が略ランバーシアンであることから、受光レンズ40はできる限り高いNAであることが望ましい。また、蛍光領域FLは小さいことが望ましい。投射側のエタンデューよりも蛍光体側のエタンデューが大きい場合、その差分は効率低下となる。
次に、本発明の光源装置、特に光源に関する1つの実施形態及びその他の実施形態の説明を行う。
(光源の1つ実施形態の説明)
はじめに、光源に関する本発明の1つの実施形態について、図1a、図1b及び図2を用いて説明する。
上述のように、集光点形状の短軸の方向が第1の方向(図1aで上下方向)の4つの第1の半導体レーザ12Aと、各々の第1の半導体レーザ12Aに対応する4つの第1のコリメートレンズ13Aから構成される第1のレンズアレイ14A(実線で示す)とが筐体11に取り付けられた第1の光源10Aが、放熱板60の取付面に2個隣接して(側面が接して)取り付けられている。同様に、集光点形状の短軸の方向が第2の方向(図1aの半導体レーザ正面図で左右方向、図1bで上下方向)の4つの第2の半導体レーザ12Bと、各々の第2の半導体レーザ12Bに対応する4つの第2のコリメートレンズ13Bから構成される第2のレンズアレイ14B(破線で示す)とが筐体11に取り付けられた第2の光源10Bが、同じ放熱板60の取付面に、2個隣接して(側面が接して)取り付けられている。つまり、これら2個の第1の光源10Aと2個の第2の光源10Bとが、放熱板60の1つの取付面に隣接して(側面が互いに接して)取り付けられている。
よって、放熱板60のより大きな平面を用いて光源10から発生する熱を放熱することができるので、光源装置の長寿命化に貢献できる。
更に、支持部材が放熱部材60なので、光源10を効率的に冷却でき、かつ部品点数を抑制して、光源装置の小型化を促進することができる。
図1aの第1の光源10Aにおいて、第1のレンズアレイ14Aを構成する第1のコリメートレンズ13Aの光軸が、対応する第1の半導体レーザ12Aからの出射光の光軸に対して垂直な方向(図面上下方向)にずれた第1のシフトを伴って第1のレンズアレイ14Aと第1の半導体レーザ12Aとが配置されている。つまり、第1のシフトが、第1の半導体レーザ12Aの集光点形状の短軸の方向においてなされている。
これにより、図1aの中央の平面図に示すように、第1の光源10Aから出射された光は、集光レンズ20の光軸21と平行ではない所定の角度(例えば、0.25〜2度)がついて、集光レンズ20に入射する。よって、集光レンズにより蛍光体ホイール30上(つまり蛍光体上)のそれぞれ異なる位置に集光される。2つの第1の光源10Aにおける第1のレンズアレイ14Aを構成する第1のコリメートレンズ13Aの光軸は、対応する第1の半導体レーザ12Aの光軸よりも、それぞれ外側に同じシフト量だけシフトしている。つまり、2つ第1の光源10Aでは、第1のシフトの向きが互いに180度異なっている。別の言い方をすれば、2つ第1の光源10Aでは、集光レンズ20の光軸21に対して、対称となるように第1のシフトがなされている。
なお、図1aにおいては、第1のコリメートレンズ13Aの光軸が、対応する第1の半導体レーザ12Aの光軸よりもそれぞれ外側にシフトしているが、これに限られるものではなく、第1のコリメートレンズ13Aの光軸が、対応する第1の半導体レーザ12Aの光軸よりもそれぞれ内側にシフトする場合もあり得る。また、2つ第1の光源10Aで同じシフト量だけシフトする場合に限られず、それぞれ異なるシフト量だけ第1のシフトを行うこともできる。
これにより、図1bの中央の側面図に示すように、第2の光源10Bから出射された光は、集光レンズ20の光軸21と平行ではない所定の角度(例えば、0.25〜2度)がついて、集光レンズ20に入射する。よって、集光レンズにより蛍光体ホイール30上(つまり蛍光体上)のそれぞれ異なる位置に集光される。2つの第2の光源10Bにおける第2のレンズアレイ14Bを構成する第2のコリメートレンズ13Bの光軸は、対応する第2の半導体レーザ12Bの光軸よりも、それぞれ上下に同じシフト量だけシフトしている。つまり、2つ第2の光源10Bでは、第1のシフトの向きが互いに180度異なっている。
ここで、集光領域を1つにした場合の元の光ピーク強度をPoとすると、図2の場合のピーク強度は、
P=Po/(集光領域数=4)
となる。つまり、元の光ピーク強度Poを集光領域の数で割った数値となるため、本例においては1/4の光ピーク強度となる。
本実施形態においては、図1bに示すように、図面下側に配置された第1の光源10Aの第1のレンズアレイ14Aと、上側に配置された第2の光源10Bの第2のレンズアレイ14Bとが、コリメートレンズの光軸方向にずれた第2のシフトを伴って配置されている。ここで、第1の光源10Aの第1のレンズアレイ14A及び第2の光源10Bの第2のレンズアレイ14Bは、ともに半導体レーザからの出射光が平行光となる焦点位置よりも、半導体レーザ12A、12Bに近い側にデフォーカスされた位置に配置されている。そして、第1の光源10Aの第1のレンズアレイ14A及び第2の光源10Bの第2のレンズアレイ14Bを比較すると、第1のレンズアレイ14Aは、第2のレンズアレイ14Bに比べて、焦点位置からより離れた(よりデフォーカスされた)位置に配置されている。
よって、本実施形態では、集光レンズ20の集光領域である蛍光体ホイール30上(つまり蛍光体上)において、横長(または縦長)のスペクトル比を有する集光点形状(ビーム形状)を得ることができる。よって、この第2のシフトの量、及びコリメートレンズの焦点位置からの位置を適切に選ぶことによって、所望の大きさ及び所望のアスペクト比を有する集光点形状(ビーム形状)を得ることができる。なお、第1のシフトにより異なる位置に集光されるので、これにより集光点形状(ビーム形状)の大きさを調整することもできる。所望の大きさ及び所望のアスペクト比を有する集光点形状(ビーム形状)の一例としては、縦1.5mm×横2mmの集光点形状(ビーム形状)を例示できるが、これに限られるものではない。
更に、集光点形状の短軸が第1の方向の第1の半導体レーザ12Aに対応する第1のレンズアレイ14Aと、集光点形状の短軸が第2の方向の第2の半導体レーザ12Bに対応する第2のレンズアレイ14Bとが、コリメートレンズ13A、13Bの光軸方向にずれた第2のシフトを伴って配置されているので、集光レンズ20の集光領域である蛍光体ホイール30上(つまり蛍光体上)で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比のビーム形状(集光点形状)を得ることができる。
更に、第1のシフトが、半導体レーザ12A、12Bの集光点形状の短軸の方向においてなされるので、各半導体レーザから出射された光が互いに干渉することなく、適切に集光領域で光密度を抑えることができる。
本実施形態では、4つの光源が配置された光源装置が示されているが、これに限られるものではなく、その他の任意の個数の光源を用いた光源装置が本発明に含まれる。例えば、集光レンズの光軸上に第1のシフトを行わない光源を設置し、その周りに、第1シフトを行った光源の対を複数個配置することも考えられる。また、本発明では、集光点形状の短軸の方向が任意の方向になるように、光源を任意の位置に配置することができる。
なお、上述の実施形態では、複数のコリメートレンズから構成されるレンズアレイを用いた場合を示したが、これに限られるものではなく、図6の個別のコリメートレンズに示すように、レンズアレイ(図6の左の図)の代わりに、個別のコリメートレンズ13A、13B(図6の右の図)を用いることもできる。この場合には、レンズアレイ14A、14Bの代わりに、個々のコリメートレンズ13A、13Bが筐体に配置されている。その他の構成に関しては、上述の1つの実施形態と同様である。
つまり、光源装置1が、半導体レーザ12A、12Bとそれに対応するコリメートレンズ13A、13Bとを有する複数の光源10A、10Bと、光源10A、10Bから出射した出射光を集光する集光レンズ20と、蛍光体を有し、集光レンズ20で集光した光を透過させる蛍光体ホイール30と、を備え、複数の光源10A、10Bの少なくとも一部において、コリメートレンズ13A、13Bの光軸が、対応する半導体レーザ12A、12Bからの出射光の光軸に対して垂直な方向にずれた第1のシフトを伴ってコリメートレンズ13A、13Bと半導体レーザ12A、12Bとが配置され、半導体レーザ12A、12Bの中に、集光点形状の短軸の方向が第1の方向に配置された第1の半導体レーザ12Aと、集光点形状の短軸の方向が第1の方向と異なる第2の方向に配置された第2の半導体レーザ12Bとがあり、第1の半導体レーザ12Aに対応するコリメートレンズ13Aと、第2の半導体レーザ12Bに対応するコリメートレンズ13Bとが、コリメートレンズ13A、13Bの光軸方向にずれた第2のシフトを伴って配置されている。
更に、集光点形状の短軸が第1の方向の第1の半導体レーザ12Aに対応するコリメートレンズ13Aと、集光点形状の短軸が第2の方向の第2の半導体レーザ12Bに対応するコリメートレンズ13Bとが、コリメートレンズ13A、13Bの光軸方向にずれた第2のシフトを伴って配置されているので、集光点形状(ビーム形状)の大きさが異なり、集光レンズ20の集光領域である蛍光体ホイール30上(つまり蛍光体上)で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比の集光点形状(ビーム形状)を得ることができる。
以上のように、本実施形態では、複数の半導体レーザ12A、12B及び複数のコリメートレンズ13A、13Bを使用した光源10A、10Bにおいて、蛍光体の発光効率低下を抑制でき、更に集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比の焦点形状(ビーム形状)を得ることができる。なお、第1のシフトにより異なる位置に集光されるので、これにより集光点形状(ビーム形状)を調整することもできる。
次に、光源に関する本発明のその他の実施形態について、図3a、図3b及び図2を用いて説明する。なお、図3aは、本発明の光源装置のその他の実施形態を示すための模式的な平面図であって、光源装置の平面図を示すと共に、集光レンズ20側から光源10の半導体レーザ12A、12Bを見たときの図を図3aの左上に半導体レーザ正面図として示し、さらに、1つの半導体レーザから出射されるレーザ光のファーフィールドパターンとニアフィールドパターンを説明するために軸を定義した軸説明図を図3aの左下に示したものである。図3bは、本発明の光源装置のその他の実施形態を示すための模式的な側面図であって、光源装置の側面図を示すと共に、集光レンズ20側から光源10の半導体レーザ12A、12Bを見たときの図を図3bの左上に半導体レーザ正面図として示し、さらに、1つの半導体レーザから出射されるレーザ光のファーフィールドパターンとニアフィールドパターンを説明するために軸を定義した軸説明図を図3bの左下に示したものである。また図3a、bの半導体レーザ正面図において、矢印Aから見た光源装置が、本実施形態の光源装置の平面図と対応し、矢印Bから見た光源装置が、本実施形態の光源装置の側面図と対応する。
図3a、3bに示すその他の実施形態における第1のシフトは、上述の図1a及び図1bに示す1つの実施形態と同様なので、以下に簡潔に説明する。
本実施形態の光源装置1では、複数の半導体レーザ12A、12Bとそれに対応する複数のコリメートレンズ13A、13Bから構成されるレンズアレイ14A、14Bを有する光源10A、10Bであって、集光点形状の短軸の方向が第1の方向に配置された第1の光源10Aと、集光点形状の短軸の方向が第1の方向と異なる第2の方向に配置された第2の光源10Bと、第1の光源10A及び第2の光源10から出射した出射光を集光する集光レンズ20と、蛍光体を有し、集光レンズ20で集光した光を透過させる蛍光体ホイール30と、を備え、第1の光源10A及び第2の光源10Bにおいて、レンズアレイ14A、14Bを構成するコリメートレンズ13A、13Bの光軸が、対応する半導体レーザ12A、12Bからの出射光の光軸に対して垂直な方向にずれた第1のシフトを伴ってレンズアレイ14A、14Bと半導体レーザ12A,12Bとが配置されている。
これにより、第1の光源10Aからの出射光は、集光領域である蛍光体ホイール30上において、上下方向に2つ並んだ左右に長い楕円状の集光点形状が(ビーム形状)を形成する(図2参照)。一方、第2の光源10Bからの出射光は、左右方向に2つ並んだ上下に長い楕円状の集光点形状が(ビーム形状)を形成する(図2参照)。
ここで、集光領域を1つにした場合の元の光ピーク強度をPoとすると、図2の場合のピーク強度は、
P=Po/(集光領域数=4)
となる。つまり、元の光ピーク強度Poを集光領域の数で割った数値となるため、本例においては1/4の光ピーク強度となる。
本実施形態においては、図3a及び図3bにおいて、図面で下側に配置された第1の光源10Aの第1のレンズアレイ14Aを構成する第1のコリメートレンズ13Aの焦点距離と、上側に配置された第2の光源10Bの第2のレンズアレイ14Bを構成する第2のコリメートレンズ13Bの焦点距離とが異なっている。更に詳細に述べれば、第1の光源10Aに対応する第1のコリメートレンズ13Aの曲率半径が、第2の光源10Bに対応する第2のコリメートレンズ13Bの曲率半径よりも大きくなっている。これにより、曲率半径の大きい第1のコリメートレンズ13Aの方が、第2のコリメートレンズ13Bに比べて、集光領域でより大きな像を描く(集光点形状が大きくなる)ことになる。
本実施形態においても、集光レンズ20の集光領域である蛍光体ホイール30上(つまり蛍光体上)において、横長(または縦長)のスペクトル比を有する集光点形状(ビーム形状)を得ることができる。よって、このコリメートレンズの焦点距離及びコリメートレンズの焦点位置からの距離を適切に選ぶことによって、所望の大きさ及び所望のアスペクト比を有する集光点形状(ビーム形状)を得ることができる。所望の大きさ及び所望のアスペクト比を有する集光点形状(ビーム形状)の一例としては、縦1.5mm×横2mmの集光点形状(ビーム形状)を例示できるが、これに限られるものではない。
以上のように、図3a及び図3bに示すその他の実施形態では、複数の半導体レーザ12A及びレンズアレイ14Aを使用した第1の光源10A及び複数の半導体レーザ12B及びレンズアレイ14Bを使用した第2の光源10Bにおいて、蛍光体の発光効率低下を抑制でき、更に集光領域で、所望の大きさ及び所望の大きさ及び所望のアスペクト比の焦点形状(ビーム形状)を得ることができる。なお、第1のシフトにより異なる位置に集光されるので、これにより集光点形状(ビーム形状)の大きさを調整することもできる。
更に、第1のシフトが、半導体レーザ12A、12Bの集光点形状の短軸の方向においてなされるので、各半導体レーザから出射された光が互いに干渉することなく、適切に集光領域で光密度を抑えることができる。
本実施形態では、4つの光源が配置された光源装置が示されているが、これに限られるものではなく、その他の任意の個数の光源を用いた光源装置が本発明に含まれる。例えば、集光レンズの光軸上に第1のシフトを行わない光源を設置し、その周りに、第1シフトを行った光源の対を複数個配置することも考えられる。また、本発明では、集光点形状の短軸の方向が任意の方向になるように、光源を任意の位置に配置することができる。
上述のその他の実施形態においても、複数のコリメートレンズから構成されるレンズアレイを用いた場合を示したが、これに限られるものではなく、図6の右に示すように、レンズアレイ(図6の左の図)の代わりに、個別のコリメートレンズ13A、13B(図6の右の図)を用いることもできる。この場合には、レンズアレイ14A、14Bの代わりに、個々のコリメートレンズ13A、13Bが筐体に配置されている。その他の構成に関しては、上述のその他の実施形態と同様である。
つまり、光源装置1が、半導体レーザ12A、12Bとそれに対応するコリメートレンズ13A、13Bとを有する複数の光源10A,10Bと、光源10A、10Bから出射した出射光を集光する集光レンズ20と、蛍光体を有し、集光レンズ20で集光した光を透過させる蛍光体ホイール30と、を備え、複数の光源10A、10Bの少なくとも一部において、コリメートレンズ13A、13Bの光軸が、対応する半導体レーザ12A、12Bからの出射光の光軸に対して垂直な方向にずれた第1のシフトを伴ってコリメートレンズ13A、13Bと半導体レーザ12A、12Bとが配置され、半導体レーザ12A、12Bの中に、集光点形状の短軸の方向が第1の方向に配置された第1の半導体レーザ12Aと、集光点形状の短軸の方向が第1の方向と異なる第2の方向に配置された第2の半導体レーザ12Bとがあり、第1の半導体レーザ12Aに対応するコリメートレンズ13Aの焦点距離と、第2の半導体レーザ12Bに対応するコリメートレンズ13Bの焦点距離とが異なっている。
更に、集光点形状の短軸が第1の方向の第1の半導体レーザ12Aに対応するコリメートレンズ13Aの焦点距離と、集光点形状の短軸が第2の方向の第2の半導体レーザ12Bに対応するコリメートレンズ13Bの焦点距離とが異なるので、集光点形状(ビーム形状)の大きさが異なり、集光レンズ20の集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比のビーム形状(集光点形状)を得ることができる。
以上のように、本実施形態では、複数の半導体レーザ12A、12B及び複数のコリメートレンズ13A、13Bを使用した光源10A、10Bにおいて、蛍光体の発光効率低下を抑制でき、更に集光領域で、所望の大きさ及び所望のアスペクト比の焦点形状(ビーム形状)を得ることができる。なお、第1のシフトにより異なる位置に集光されるので、これにより集光点形状(ビーム形状)の大きさを調整することもできる。
次に、図5を用いて、コリメートレンズの位置と光強度の関係を説明する。コリメートレンズを焦点位置に配置した場合には、図5(a)に示すように、集光領域における集光点形状は小さく、光ピーク強度が高くなっている(光密度は高くなっている)。一方、図5(b)に示すように、コリメートレンズを焦点位置からずらして配置した場合には、集光領域における集光点形状の面積は大きくなり、光ピーク強度が低くなっている(光密度は低くなっている)。よって、コリメートレンズを焦点位置からずらすことによって、集光領域の面積を大きくして、集光する光の光密度を抑制することもできる。よって、第1のシフトで、集光領域においてそれぞれ異なる位置に集光することによる蛍光体上での光密度の抑制に加えて、焦点位置からずらして集光領域の面積を大きくすることにより、蛍光体上で光密度を抑制することもできる。これにより、蛍光体からの出射光を効率よく利用することが可能となる。
更に、第2のシフトによって、第1の方向及び第2の方向で焦点位置からずらす量を変えることによって、所望のアスペクト比の集光点形状(ビーム形状)を形成することができる。
なお、図5(a)においては、模式的に、コリメートレンズを焦点位置に配置した場合の集光点形状を小さく描いているが、用途によっては、本発明において、コリメートレンズを焦点位置に配置することは可能である。
図7のグラフは、蛍光体の光出力と光源部10の励起光出力との関係を示す。(A)に示す細かい点線は、第1のシフトもデフォーカスも行わない場合を示し、(B)に示す点線は、デフォーカスのみを行った場合を示し、(C)に示す実線は、第1のシフト及びデフォーカスを併用した場合を示す。
(A)の細かい点線で示す第1のシフトもデフォーカスも行わない場合には、励起出力を上げていくと、蛍光体出力はピークを迎えて、逆に減少していく。(B)の点線で示す、コリメートレンズが焦点位置からずれたデフォーカスは行われているが、第1のシフトは行われていない場合には、励起出力を上げていくと、蛍光体出力も上昇するが徐々に飽和していく。
一方、(C)の実線で示す第1のシフト及びデフォーカスを併用した場合では、蛍光体出力の飽和を抑制し、光源部10からの光の出力が高い場合においても、効果的に蛍光体を使用することができる。これは、集光領域SPにおける光密度を低く抑えることができるので、蛍光体の発光効率低下を抑制するからである。
よって、第1のシフト及びデフォーカスを組み合わせることにより、複数の光源10から出射された光は蛍光体上でそれぞれ異なる位置に集光され、かつ1つ1つの光源10からの光の集光径は大きいため、十分に光密度を低く抑えることができ、蛍光体の発光効率低下を十分に抑制することできる。
次に、図8を用いて、上述の実施形態で示した光源装置1を、いわゆる1チップ方式のDBPプロジェクタにおける光源装置として用いる場合を説明する。なお、図8は、上述の実施形態で示した光源装置1を備えたプロジェクタ100の構成を示すための模式図であって、光源装置1やプロジェクタ100を上から見た模式的な平面図である。図8に示された光源装置1の光源装置1は模式的に簡略化されて記載されており、図1a、1b、3a、3b等に記載された特徴部分は描かれていない。
図8において、光源装置1から出射された光は、光空間変調器であるDMD(Digital Micromirror Device)素子110で反射され、投射手段である投射レンズ120によって集光されて、スクリーンSCに投影される。DMD素子は、スクリーンに投影された画像の各画素に相当する微細なミラーをマトリックス状に配列したものであり、各ミラーの角度を変化させてスクリーンへ出射する光を、マイクロ秒単位でオン/オフすることができる。
また、各ミラーをオンにしている時間とオフにしている時間の比率によって、投射レンズへ入射する光の階調を変化させることにより、投影する画像の画像データに基づいた階調表示が可能になる。
10 光源
10A 第1の光源
10B 第2の光源
11 筐体
12 半導体レーザ
12A 第1の半導体レーザ
12B 第2の半導体レーザ
13 コリメートレンズ
13A 第1のコリメートレンズ
13B 第2のコリメートレンズ
14 レンズアレイ
14A 第1のレンズアレイ
14B 第2のレンズアレイ
20 集光レンズ
21 集光レンズの光軸
30 蛍光体ホイール
31 誘電体膜
32 蛍光体
40 受光レンズ
50 回転駆動体
50a 回転軸
60 放熱板(支持部材)
100 プロジェクタ
110 DMD素子
120 投射レンズ
SC スクリーン
SP 集光領域
FL 蛍光体発光領域
Claims (12)
- 半導体レーザとそれに対応するコリメートレンズとを有する複数の光源と、
前記光源から出射した出射光を集光する集光レンズと、
蛍光体を有し、前記集光レンズで集光した光を透過させる蛍光体ホイールと、
を備え、
前記複数の光源の少なくとも一部において、前記コリメートレンズの光軸が、対応する前記半導体レーザからの出射光の光軸に対して垂直な方向にずれた第1のシフトを伴って前記コリメートレンズと前記半導体レーザとが配置され、
前記半導体レーザの中に、集光点形状の短軸の方向が第1の方向に配置された第1の半導体レーザと、集光点形状の短軸の方向が前記第1の方向と異なる第2の方向に配置された第2の半導体レーザとがあり、
前記第1の半導体レーザに対応する前記コリメートレンズと、前記第2の半導体レーザに対応する前記コリメートレンズとが、前記コリメートレンズの光軸方向にずれた第2のシフトを伴って配置されることを特徴とする光源装置。 - 半導体レーザとそれに対応するコリメートレンズとを有する複数の光源と、
前記光源から出射した出射光を集光する集光レンズと、
前記蛍光体を有し、前記集光レンズで集光した光を透過させる蛍光体ホイールと、
を備え、
前記複数の光源の少なくとも一部において、前記コリメートレンズの光軸が、対応する前記半導体レーザからの出射光の光軸に対して垂直な方向にずれた第1のシフトを伴って前記コリメートレンズと前記半導体レーザとが配置され、
前記半導体レーザの中に、集光点形状の短軸の方向が第1の方向に配置された第1の半導体レーザと、集光点形状の短軸の方向が前記第1の方向と異なる第2の方向に配置された第2の半導体レーザとがあり、
前記第1の半導体レーザに対応する前記コリメートレンズの焦点距離と、前記第2の半導体レーザに対応する前記コリメートレンズの焦点距離とが異なることを特徴とする光源装置。 - 複数の半導体レーザとそれに対応する複数のコリメートレンズから構成されるレンズアレイを有する光源であって、
集光点形状の短軸の方向が第1の方向に配置された第1の光源と、
集光点形状の短軸の方向が前記第1の方向と異なる第2の方向に配置された第2の光源と、
前記第1の光源及び前記第2の光源から出射した出射光を集光する集光レンズと、
蛍光体を有し、前記集光レンズで集光した光を透過させる蛍光体ホイールと、
を備え、
前記第1の光源及び前記第2の光源において、前記レンズアレイを構成する前記コリメートレンズの光軸が、対応する前記半導体レーザからの出射光の光軸に対して垂直な方向にずれた第1のシフトを伴って前記レンズアレイと前記半導体レーザとが配置され、
前記第1の光源の前記レンズアレイと、前記第2の光源の前記レンズアレイとが、前記コリメートレンズの光軸方向にずれた第2のシフトを伴って配置されることを特徴とする光源装置。 - 複数の半導体レーザとそれに対応する複数のコリメートレンズから構成されるレンズアレイを有する光源であって、
集光点形状の短軸の方向が第1の方向に配置された第1の光源と、
集光点形状の短軸の方向が前記第1の方向と異なる第2の方向に配置された第2の光源と、
前記第1の光源及び前記第2の光源から出射した出射光を集光する集光レンズと、
蛍光体を有し、前記集光レンズで集光した光を透過させる蛍光体ホイールと、
を備え、
前記第1の光源及び前記第2の光源において、前記レンズアレイを構成する前記コリメートレンズの光軸が、対応する前記半導体レーザからの出射光の光軸に対して垂直な方向にずれた第1のシフトを伴って前記レンズアレイと前記半導体レーザとが配置され、
前記第1の光源の前記レンズアレイを構成する前記コリメートレンズの焦点距離と、前記第2の光源の前記レンズアレイを構成する前記コリメートレンズの焦点距離とが異なることを特徴とする光源装置。 - 前記第1のシフトの向きが互いに180度異なる2つの前記第1の光源と、前記第1のシフトの向きが互いに180度異なる2つの前記第2の光源とを少なくとも有することを特徴とする請求項3または4に記載の光源装置。
- 前記第1のシフトが、前記半導体レーザの前記、集光点形状の短軸の方向においてなされることを特徴とする請求項1から5の何れか1項に記載の光源装置。
- 前記第1の方向及び前記第2の方向が90度異なることを特徴とする請求項1から6の何れか1項に記載の光源装置。
- 前記光源が、支持部材の同一平面上に固定されていることを特徴とする請求項1から7の何れか1項に記載の光源装置。
- 前記支持部材が放熱部材であることを特徴とする請求項1から8の何れか1項に記載の光源装置。
- 前記光源からの出射光の波長帯域が、370〜500nmであることを特徴とする請求項1から9の何れか1項に記載の光源装置。
- 前記蛍光体のうちの1つは、赤色光を含む光で発光する蛍光体であることを特徴とする請求項1から10の何れか1項に記載の光源装置。
- 請求項1から11の何れか1項に記載の光源装置と、
画像データに基づいて、前記光源装置から出射された複数の波長帯域の光を順次変調して画像を形成する光変調手段と、
前記画像を拡大して投射する投射手段と、
を備えたことを特徴とするプロジェクタ。
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