JP5954371B2 - パワーモジュール用基板及びその製造方法 - Google Patents
パワーモジュール用基板及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5954371B2 JP5954371B2 JP2014159337A JP2014159337A JP5954371B2 JP 5954371 B2 JP5954371 B2 JP 5954371B2 JP 2014159337 A JP2014159337 A JP 2014159337A JP 2014159337 A JP2014159337 A JP 2014159337A JP 5954371 B2 JP5954371 B2 JP 5954371B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plate
- ceramic substrate
- metal plate
- metal
- copper
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 64
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 78
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 78
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 54
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 54
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 54
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 50
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 34
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 34
- 238000005219 brazing Methods 0.000 claims description 34
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 28
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 14
- 238000004080 punching Methods 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 10
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 9
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 5
- 229910018125 Al-Si Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910018520 Al—Si Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910017945 Cu—Ti Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 4
- 229910017944 Ag—Cu Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 2
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 2
- 230000009916 joint effect Effects 0.000 description 2
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018459 Al—Ge Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000005554 pickling Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4871—Bases, plates or heatsinks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3736—Metallic materials
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K1/00—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
- B23K1/0008—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering specially adapted for particular articles or work
- B23K1/0016—Brazing of electronic components
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
- B23K35/24—Selection of soldering or welding materials proper
- B23K35/30—Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 1550 degrees C
- B23K35/3006—Ag as the principal constituent
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B37/00—Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating
- C04B37/02—Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating with metallic articles
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B37/00—Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating
- C04B37/02—Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating with metallic articles
- C04B37/023—Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating with metallic articles characterised by the interlayer used
- C04B37/026—Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating with metallic articles characterised by the interlayer used consisting of metals or metal salts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3731—Ceramic materials or glass
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3735—Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/40—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2237/00—Aspects relating to ceramic laminates or to joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/02—Aspects relating to interlayers, e.g. used to join ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/12—Metallic interlayers
- C04B2237/125—Metallic interlayers based on noble metals, e.g. silver
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2237/00—Aspects relating to ceramic laminates or to joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/30—Composition of layers of ceramic laminates or of ceramic or metallic articles to be joined by heating, e.g. Si substrates
- C04B2237/32—Ceramic
- C04B2237/36—Non-oxidic
- C04B2237/366—Aluminium nitride
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2237/00—Aspects relating to ceramic laminates or to joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/30—Composition of layers of ceramic laminates or of ceramic or metallic articles to be joined by heating, e.g. Si substrates
- C04B2237/40—Metallic
- C04B2237/402—Aluminium
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2237/00—Aspects relating to ceramic laminates or to joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/30—Composition of layers of ceramic laminates or of ceramic or metallic articles to be joined by heating, e.g. Si substrates
- C04B2237/40—Metallic
- C04B2237/407—Copper
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2237/00—Aspects relating to ceramic laminates or to joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/50—Processing aspects relating to ceramic laminates or to the joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/52—Pre-treatment of the joining surfaces, e.g. cleaning, machining
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2237/00—Aspects relating to ceramic laminates or to joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/50—Processing aspects relating to ceramic laminates or to the joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/60—Forming at the joining interface or in the joining layer specific reaction phases or zones, e.g. diffusion of reactive species from the interlayer to the substrate or from a substrate to the joining interface, carbide forming at the joining interface
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Description
このパワーモジュール用基板を製造する場合は以下のようにして行われる。まず、セラミックス基板の一方の面に、セラミックスと銅板との接合に適するろう材としてAg−Cu−Ti等の活性金属ろう材を介して銅板を積層し、所定の圧力で加圧しながら、ろう材が溶融する温度以上に加熱し、これによりセラミックス基板と銅板とを接合する。次に、セラミックス基板の他方の面に、セラミックスとアルミニウム板との接合に適するAl−Si系ろう材を介してアルミニウム板を積層し、所定の圧力で加圧しながら、ろう材が溶融する温度以上に加熱し、これによりセラミックス基板とアルミニウム板とを接合する。
このようなパワーモジュール用基板は、銅板の上にはんだ材を介してパワー素子の半導体チップが搭載される。
バリの高さは、金属板の周縁の複数個所を測定して得られる最大値であり、破断面の厚さは、金属板の側面の複数個所を測定して得られる最小値である。なお、破断面の粗さ曲線要素の平均高さRcは5μm以上とされている。
いわゆるプッシュバックにより金属板を成形することにより、一方向の打ち抜きにより金属板を成形する場合に比べて、バリ及び破断面を適切に制御することができる。したがって、このプッシュバックを適切に設定することにより、バリの高さを0.021mm以下、破断面の厚さを0.068mm以上に容易に制御することができる。
この場合、プッシュバックは、金属板を完全に打ち抜いた後、厚さの全体が打ち抜き孔に嵌合するようにしてもよいし、厚さの一部が嵌合するようにしてもよい。また、金属板の厚さの半分程度を打ち抜く半抜き状態にして、これを再度押し戻すようにしてもよい。
金属板に銅板を用いる場合は、Ag−Ti、Ag−Cu−Ti等の活性金属ろう材によりセラミックス基板に接合され、金属板にアルミニウム板を用いる場合は、Al−Si系等のろう材により接合される。
パワーモジュール用基板10は、図1に示すように、セラミックス基板11の一方の面に、回路層となる銅板12が厚さ方向に積層され、セラミックス基板11の他方の面に放熱層となるアルミニウム板13が厚さ方向に積層され、これらがろう材によって接合されている。銅板12の表面にははんだ付けにより半導体チップ14が搭載され、アルミニウム板13にはヒートシンク15が接合される。
本実施形態のパワーモジュール用基板10の好ましい組合せ例としては、例えばセラミックス基板11が厚み0.635mmのAlN、銅板12が厚み0.3mmの純銅板、アルミニウム板13が厚み1.6mmの4N−アルミニウム板で構成される。
銅板12及びアルミニウム板13は、プレス加工により打ち抜き成形される。いずれも同じ方法であるので、この成形工程においては、銅板12及びアルミニウム板13を金属板50として説明する。
これら金属板50を形成し得る大きさのコイル状の金属素板51を用意し、その金属素板51をコイルから繰り出して間欠的に搬送しながらプレス機に送り込む。プレス機では、図2(a)に示すように、金属素板51を金属板50の外形に成形するための成形孔61を有するダイ62及びパンチ63と、ダイ62の成形孔61内に嵌合したプッシュバック型64とが設けられている。この図2において符号65は、ダイの62表面で金属素板を押さえる板押さえを示す。
金属素板(スケルトン)51の打ち抜き孔52に押し戻された金属板50は、その後、打ち抜き孔52から抜き出される。
銅板12を、ペースト又は箔からなる活性金属ろう材を介在させてセラミックス基板11の一方の面に積層する。このとき、金属板成形工程においてバリが発生している側の表面をセラミックス基板11の表面に重ね合わせる。図に前述した金属板50をセラミックス基板11に積層する状態を模式的に示しており、金属板50のバリ56が生じている面をセラミックス基板11のろう材層59に重ね合わせる。
このろう付けは、活性金属ろう材を用いた接合であり、ろう材中の活性金属であるTiがセラミックス基板11に優先的に拡散してTiNを形成し、Ag−Cu合金を介して銅板12とセラミックス基板11とを接合する。
銅板12を接合した後のセラミックス基板11の銅板接合面とは反対面を必要に応じて酸洗等により清浄にした後、その表面にろう材を介在させた状態でアルミニウム板13を積層し、この積層体を前述したクッションシート30の間に挟んだ状態として複数組積み重ね、加圧治具110により積層方向に例えば0.3MPa〜1.0MPaで加圧した状態とする。このときも、アルミニウム板13のバリ56が発生している側の表面をセラミックス基板11に重ね合わせる。
したがって、特に回路層となる銅板12の表面のろうシミが抑制されることから、その上に搭載される半導体チップ14のはんだ接合性を向上させることができる。なお、バリの高さを0.021mm以下に抑えているので、銅板12及びアルミニウム板13とセラミックス基板11との間の接合性を損なうこともない。
セラミックス基板として30mm四方の矩形状で、厚さ0.635mmの窒化アルミニウム板と、銅板として27mm四方の矩形状で厚さ0.3mmの打抜き無酸素銅板を用いた。プレス方式として表1に示すように、プッシュバックによるもの、プッシュバックしないで1回で打抜いたものの両方の試料を作製した。また、プッシュバックによる打抜きの場合は半抜き状態まで打ち抜いて押し戻した。その半抜き量を表1に示す。なお、表1においてプレス方式の欄で示した上向き矢印は、上の欄に記載の方法と同じであることを示す。
そして、打ち抜いた銅板の側面形状を観察し、レーザー顕微鏡にて破断面の最小厚さを測定し、5個の試料から平均値を算出した。また、銅板のバリ面側表面を観察し、レーザー顕微鏡で最大バリ高さを測定し、5個の試料から平均値を算出した。
ここでろうシミは、接合界面から側面をつたって銅板の表面上に廻り込み形成されたAg−Cu溶融液相が凝固したものであり、厚さが5μm未満であるため、表面上の凹凸としては測定できない。このため、肉眼で把握できる銅板の周縁から幅1mm以上のシミをろうシミとしてカウントし、その発生率が0%であれば〇、ろうシミが少しでも認められたものは×とした。
また、銅板とセラミックス板との接合性については、超音波画像測定機により、銅板とセラミックス板との接合界面を観察して、接合界面におけるボイド(空孔)の面積を測定し、接合すべき面積(銅板の面積)に対するボイドの合計面積をボイド率として算出し、ボイド率が2%未満であったものを〇、2%を超えるものを×とした。
これらの結果を表1に示す。
実施形態では、回路層を銅板、放熱層をアルミニウム板としたが、この組み合わせに限定されるものではない。回路層及び放熱層ともに同種の金属板、例えばアルミニウム板とすることも可能である。その場合は、セラミックス基板の両面に対して金属板を1回の接合工程で接合することが可能である。
11 セラミックス基板
12 銅板
13 アルミニウム板
14 半導体チップ
15 ヒートシンク
40 積層体
30 クッションシート
50 金属板
51 金属素板
52 打ち抜き孔
55 だれ面
56 バリ
57 せん断面
58 破断面
59 ろう材層
61 成形孔
62 ダイ
63 パンチ
64 プッシュバック型
65 板押さえ
110 加圧治具
111 ベース板
112 ガイドポスト
113 固定板
114 押圧板
115 付勢手段
Claims (3)
- プレス加工により打ち抜き成形された金属板をセラミックス基板の一方の面に積層してろう付けにより接合するパワーモジュール用基板の製造方法であって、プレス加工により打ち抜き成形された前記金属板のバリの高さを0.021mm以下とするとともに、破断面の厚さを0.068mm以上とし、前記バリが生じている側の表面をろう材を介在させて前記セラミックス基板の一方の面に重ねるように積層して、これらを積層方向に加圧して前記バリを前記セラミックス基板に押圧した状態でろう付けすることを特徴とするパワーモジュール用基板の製造方法。
- 前記プレス加工により前記金属板を打ち抜き成形する際に、打ち抜いた前記金属板を打ち抜き後のスケルトンの打ち抜き孔内にプッシュバックした後、前記打ち抜き孔から前記金属板を抜き出すことを特徴とする請求項1記載のパワーモジュール用基板の製造方法。
- 前記金属板は銅板又はアルミニウム板であることを特徴とする請求項1又は2記載のパワーモジュール用基板の製造方法。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014159337A JP5954371B2 (ja) | 2014-08-05 | 2014-08-05 | パワーモジュール用基板及びその製造方法 |
EP15829203.7A EP3196928B1 (en) | 2014-08-05 | 2015-07-31 | Method for manufacturing substrate for power module |
US15/501,632 US20170229320A1 (en) | 2014-08-05 | 2015-07-31 | Producing method of power-module substrate |
PCT/JP2015/071776 WO2016021491A1 (ja) | 2014-08-05 | 2015-07-31 | パワーモジュール用基板の製造方法 |
CN201580041285.6A CN106575639B (zh) | 2014-08-05 | 2015-07-31 | 功率模块用基板的制造方法 |
KR1020177004802A KR101759056B1 (ko) | 2014-08-05 | 2015-07-31 | 파워 모듈용 기판의 제조 방법 |
TW104125217A TWI612622B (zh) | 2014-08-05 | 2015-08-04 | 電源模組用基板之製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014159337A JP5954371B2 (ja) | 2014-08-05 | 2014-08-05 | パワーモジュール用基板及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016039163A JP2016039163A (ja) | 2016-03-22 |
JP5954371B2 true JP5954371B2 (ja) | 2016-07-20 |
Family
ID=55263759
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014159337A Active JP5954371B2 (ja) | 2014-08-05 | 2014-08-05 | パワーモジュール用基板及びその製造方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20170229320A1 (ja) |
EP (1) | EP3196928B1 (ja) |
JP (1) | JP5954371B2 (ja) |
KR (1) | KR101759056B1 (ja) |
CN (1) | CN106575639B (ja) |
TW (1) | TWI612622B (ja) |
WO (1) | WO2016021491A1 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6631333B2 (ja) * | 2016-03-11 | 2020-01-15 | 三菱マテリアル株式会社 | パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP6324479B1 (ja) * | 2016-12-16 | 2018-05-16 | Jx金属株式会社 | 回路基板用金属板、回路基板、パワーモジュール、金属板成形品及び、回路基板の製造方法 |
JP6760158B2 (ja) * | 2017-03-21 | 2020-09-23 | 三菱マテリアル株式会社 | 金属−セラミックス接合基板及びその製造方法 |
CN110809910B (zh) | 2017-06-28 | 2022-11-25 | 京瓷株式会社 | 功率模块用基板以及功率模块 |
JP7147232B2 (ja) * | 2018-04-09 | 2022-10-05 | 三菱マテリアル株式会社 | セラミックス-金属接合体の製造方法、多数個取り用セラミックス-金属接合体の製造方法、セラミックス-金属接合体及び多数個取り用セラミックス-金属接合体 |
CN112956006A (zh) * | 2018-10-23 | 2021-06-11 | 三菱电机株式会社 | 半导体装置的制造方法、半导体装置、电力转换装置以及移动体 |
CN109534842B (zh) * | 2018-11-26 | 2021-08-10 | 北京卫星制造厂有限公司 | 功率半导体模块用焊接工艺 |
JP7212700B2 (ja) | 2018-12-28 | 2023-01-25 | デンカ株式会社 | セラミックス-銅複合体、セラミックス回路基板、パワーモジュール及びセラミックス-銅複合体の製造方法 |
JP2020141125A (ja) * | 2019-02-26 | 2020-09-03 | 日本発條株式会社 | 回路基板用半製品板材の製造方法、回路基板用半製品板材、及び金属ベース回路基板の製造方法 |
CN111615266A (zh) * | 2019-02-26 | 2020-09-01 | 日本发条株式会社 | 电路基板用半制品板材的制造方法、电路基板用半制品板材及金属基体电路基板的制造方法 |
JP7272018B2 (ja) * | 2019-03-08 | 2023-05-12 | 三菱マテリアル株式会社 | 絶縁回路基板の製造方法 |
JP7548770B2 (ja) | 2020-10-16 | 2024-09-10 | Shプレシジョン株式会社 | 金属回路パターンおよび金属回路パターンの製造方法 |
JP7574697B2 (ja) | 2021-03-01 | 2024-10-29 | 三菱マテリアル株式会社 | 絶縁回路基板の製造方法 |
CN113745169B (zh) * | 2021-07-23 | 2023-10-24 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 多腔槽ltcc基板与封装盒体焊接结构及方法 |
KR20240165261A (ko) | 2023-05-15 | 2024-11-22 | 코스텍시스템(주) | 칩 접합 장비와 이를 포함하는 칩 접합 시스템 및 그 접합 방법 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07101721B2 (ja) * | 1988-06-03 | 1995-11-01 | 住友特殊金属株式会社 | 集積回路用Agろう付きシールリング及びその製造方法 |
JPH0783033B2 (ja) * | 1988-11-30 | 1995-09-06 | 太陽誘電株式会社 | 半導体素子固着板状体シート及びその使用方法 |
DE3931320C1 (ja) * | 1989-09-20 | 1991-08-08 | Feintool International Holding, Lyss, Ch | |
JPH0973760A (ja) * | 1995-09-07 | 1997-03-18 | Sony Corp | プレート原反の打抜方法とテープカセットのベースプレート |
JP3163075B2 (ja) * | 1999-07-30 | 2001-05-08 | 日本特殊陶業株式会社 | 金属製スティフナ付き配線基板 |
JP2002353351A (ja) * | 2001-05-30 | 2002-12-06 | Kyocera Corp | 電子部品収納用パッケージ |
JP2003197826A (ja) | 2001-12-26 | 2003-07-11 | Toshiba Corp | セラミックス回路基板およびそれを用いた半導体モジュール |
JP2005093935A (ja) * | 2003-09-19 | 2005-04-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | スティフナーとその製造方法およびそれを用いた半導体装置 |
US7464575B2 (en) * | 2004-10-13 | 2008-12-16 | Nakamura Seisakusho Kabushikigaisha | Shearing method for thin plate |
WO2006080356A1 (ja) * | 2005-01-25 | 2006-08-03 | Aisin Aw Co., Ltd. | プレス加工装置、プレス加工方法、及び打抜き加工品 |
JP4711792B2 (ja) * | 2005-09-26 | 2011-06-29 | 三洋電機株式会社 | 回路装置 |
JP5056186B2 (ja) * | 2007-06-12 | 2012-10-24 | 三菱マテリアル株式会社 | パワーモジュール用基板の製造方法 |
EP2036631B1 (de) * | 2007-09-14 | 2010-11-24 | Feintool Intellectual Property AG | Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen von Stanzteilen mit vergrösserter Funktionsfläche |
WO2013018344A1 (ja) * | 2011-07-29 | 2013-02-07 | 三洋電機株式会社 | 素子搭載用基板およびその製造方法、ならびに半導体モジュールおよびその製造方法 |
KR101586157B1 (ko) * | 2011-08-12 | 2016-01-15 | 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 | 파워 모듈용 기판, 히트 싱크가 형성된 파워 모듈용 기판, 파워 모듈 및 파워 모듈용 기판의 제조 방법 |
JP6028352B2 (ja) * | 2012-03-16 | 2016-11-16 | 三菱マテリアル株式会社 | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP2013229579A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-11-07 | Mitsubishi Materials Corp | パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びパワーモジュール |
-
2014
- 2014-08-05 JP JP2014159337A patent/JP5954371B2/ja active Active
-
2015
- 2015-07-31 WO PCT/JP2015/071776 patent/WO2016021491A1/ja active Application Filing
- 2015-07-31 EP EP15829203.7A patent/EP3196928B1/en active Active
- 2015-07-31 CN CN201580041285.6A patent/CN106575639B/zh active Active
- 2015-07-31 US US15/501,632 patent/US20170229320A1/en not_active Abandoned
- 2015-07-31 KR KR1020177004802A patent/KR101759056B1/ko active IP Right Grant
- 2015-08-04 TW TW104125217A patent/TWI612622B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3196928B1 (en) | 2019-09-04 |
JP2016039163A (ja) | 2016-03-22 |
EP3196928A4 (en) | 2018-06-20 |
WO2016021491A1 (ja) | 2016-02-11 |
CN106575639B (zh) | 2019-03-15 |
EP3196928A1 (en) | 2017-07-26 |
KR20170029630A (ko) | 2017-03-15 |
US20170229320A1 (en) | 2017-08-10 |
TWI612622B (zh) | 2018-01-21 |
CN106575639A (zh) | 2017-04-19 |
KR101759056B1 (ko) | 2017-07-17 |
TW201626510A (zh) | 2016-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5954371B2 (ja) | パワーモジュール用基板及びその製造方法 | |
EP3208839A1 (en) | Substrate with cooler for power modules and method for producing same | |
JP5125241B2 (ja) | パワーモジュール用基板の製造方法 | |
JP6455056B2 (ja) | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法及び加圧装置 | |
JP5989465B2 (ja) | 絶縁基板の製造方法 | |
JP2010097963A (ja) | 回路基板及びその製造方法、電子部品モジュール | |
JP5056186B2 (ja) | パワーモジュール用基板の製造方法 | |
JP6631333B2 (ja) | パワーモジュール用基板の製造方法 | |
JP6357917B2 (ja) | ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びその製造方法、パワーモジュール | |
JP4682889B2 (ja) | パワーモジュール用基板およびパワーモジュール並びにパワーモジュール用基板の製造方法 | |
JP2013222758A (ja) | 絶縁基板の製造方法 | |
JP4725412B2 (ja) | パワーモジュール用基板の製造方法 | |
JP6481409B2 (ja) | パワーモジュール用基板及びパワーモジュール | |
JP6056446B2 (ja) | パワーモジュール用基板の製造方法 | |
JP5917992B2 (ja) | 絶縁基板の製造方法 | |
JP5966275B2 (ja) | パワーモジュール用基板の製造方法 | |
JP6008544B2 (ja) | 絶縁基板の製造方法 | |
JP6409621B2 (ja) | セラミックス基板とアルミニウム板との接合体の製造方法 | |
JP7272018B2 (ja) | 絶縁回路基板の製造方法 | |
JP6102271B2 (ja) | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 | |
JP6152681B2 (ja) | パワーモジュール用基板およびその製造方法 | |
JP2020155444A (ja) | 絶縁回路基板及びその製造方法 | |
JP6079345B2 (ja) | パワーモジュール用基板およびその製造方法 | |
JP5630355B2 (ja) | パワーモジュール用基板の製造方法および製造装置 | |
JP2016163035A (ja) | パワーモジュール用基板の製造方法及びパワーモジュール用基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20151218 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20160105 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160209 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160407 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160517 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160530 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5954371 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |