JP5601612B2

JP5601612B2 - 眼科撮影装置

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Publication number: JP5601612B2
Application number: JP2010124784A
Authority: JP
Inventors: 光男山本; 成治瀧; 倫全佐竹
Original assignee: Nidek Co Ltd
Current assignee: Nidek Co Ltd
Priority date: 2009-06-02
Filing date: 2010-05-31
Publication date: 2014-10-08
Anticipated expiration: 2030-05-31
Also published as: US8540368B2; JP2011011052A; PL2258257T3; EP2258257B1; US20100302508A1; EP2258257A1

Description

本発明は、被検眼の眼底を撮影する眼科撮影装置に関する。

被検眼の断層画像を非侵襲で得ることができる眼科撮影装置として、低コヒーレント光を用いた光断層干渉計（Optical Coherence Tomography:OCT）が知られている。そして、前述のようなＯＣＴ光学系にスキャニングレーザオフサルモスコープ（ＳＬＯ）光学系、又は眼底カメラ光学系のように眼底の正面画像を取得可能な観察光学系を複合させ、眼底の断層画像と眼底の正面画像を取得することができる装置も提案されている（特許文献１参照）。

特開２００８−２９４６７号公報

ところで、上記のような眼科撮影装置によって取得された眼底の正面画像及び断層画像を用いて病変部等の眼底上での実距離を良好に測定できれば、眼底形状（例えば、乳頭部）の定量評価等が可能となり、眼底診断において有用と思われる。

本発明は、眼底断層像を用いて眼底を好適に測定できる眼科撮影装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。

（１）
光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検者眼眼底に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、眼底で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を第１の受光素子に受光させる干渉光学系と、
前記測定光束の光路中に配置され，眼底上で前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、
光路長を変化させるために、前記測定光束の光路又は参照光束の光路に配置された光学部材を光軸方向に移動させる駆動部と、
駆動部を制御すると共に、前記光スキャナの動作を制御し，ある撮影画角にて測定光束を眼底上で走査させ、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて眼底断層像を得る演算制御ユニットと、を備える眼科撮影装置において、
前記演算制御ユニットは、前記光学部材の位置情報と前記断層像の撮影画角情報とに基づいて、断層画像の撮影範囲を実距離に換算することを特徴とする。
（２）（１）の眼科撮影装置において、
前記演算制御ユニットは、取得された眼底断層像中で特定されたある部分における実距離又は実面積を求めることを特徴とする。
（３）（２）の眼科撮影装置において、
取得された眼底断層像を表示するモニタと、
前記眼底断層像中のある部分を特定するために、モニタ上に表示された眼底断層像におおいて少なくとも２点以上を指定する操作入力ユニットと、を備えることを特徴とする。
（４）（１）〜（３）のいずれかの眼科撮影装置において、
光源から出射された観察光束を被検者眼眼底に導き，眼底で反射した観察光束を第２受光素子に受光させる観察光学系と、
前記観察光束の光路中に配置され，眼底上で前記観察光束を走査させるために前記観察光束の進行方向を変える観察用光スキャナと、
前記演算制御ユニットは、さらに、前記観察用光スキャナの動作を制御し，ある撮影画角にて観察光束を眼底上で走査させ、前記第２の受光素子から出力される受光信号に基づいて眼底正面像を得る演算制御ユニットであって、
前記演算制御ユニットは、さらに、前記光学部材の位置情報と，前記正面像の撮影画角情報と，に基づいて、正面画像の撮影範囲を実距離に換算することを特徴とする。

本発明によれば、眼底断層像を用いて眼底を好適に測定できる。

本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態の眼科撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、本実施形態においては、被検眼の奥行き方向をＺ方向（光軸Ｌ１方向）、水平方向をＸ方向、鉛直方向をＹ方向として説明する。

図１において、その光学系は、被検眼眼底の断層画像を光干渉の技術を用いて非侵襲で得るための干渉光学系（以下、ＯＣＴ光学系とする）２００と、赤外光を用いて被検眼の眼底を照明し観察するためのＳＬＯ眼底像を取得するスキャニングレーザオフサルモスコープ（ＳＬＯ）光学系３００と、に大別される。なお、ＯＣＴ光学系２００には、フーリエ・ドメイン型のＯＣＴ光学系が使用されている。

なお、４０は光分割部材としてのダイクロイックミラーであり、ＯＣＴ光学系２００に用いられる測定光源２７から発せられる測定光（例えば、λ＝８４０ｎｍ付近）を反射し、ＳＬＯ光学系３００に用いられる光出射部６１から発せられるレーザ光（光源２７とは異なる波長の光例えば、λ＝７８０ｎｍ付近）を透過する特性を有する。この場合、ダイクロイックミラー４０は、ＯＣＴ光学系２００の測定光軸Ｌ２とＳＬＯ光学系３００の測定光軸Ｌ１とを同軸にする。

まず、ダイクロイックミラー４０の反射側に設けられたＯＣＴ光学系２００の構成について説明する。２７はＯＣＴ光学系２００の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントな光を発するＯＣＴ光源であり、例えばＳＬＤ光源等が用いられる。ＯＣＴ光源２７には、例えば、中心波長８４０ｎｍで５０ｎｍの帯域を持つ光源が用いられる。２６は光分割部材と光結合部材としての役割を兼用するファイバカプラである。ＯＣＴ光源２７から発せられた光は、導光路としての光ファイバ３８ａを介して、ファイバカプラ２６によって参照光と測定光とに分割される。測定光は光ファイバ３８ｂを介して被検眼Ｅへと向かい、参照光は光ファイバ３８ｃを介して参照ミラー３１へと向かう。

測定光を被検眼Ｅへ向けて出射する光路には、測定光を出射する光ファイバ３８ｂの端部３９ｂ、被検眼の屈折誤差に合わせて光軸方向に移動可能なフォーカシングレンズ２４、走査駆動機構５１の駆動により眼底上でＸＹ方向に測定光を走査させることが可能な２つのガルバノミラーの組み合せからなる走査部２３と、リレーレンズ２２が配置されている。ダイクロイックミラー４０及び対物レンズ１０は、ＯＣＴ光学系２００からのＯＣＴ測定光を被検眼眼底へと導光する導光光学系としての役割を有する。なお、本実施形態の走査部２３では、２つのガルバノミラーによって測定光の反射角度を任意に調整することにより、眼底上に走査させる測定光の走査方向を任意に設定できるような構成となっている。よって、被検眼眼底の任意の領域の断層画像を得ることが可能となる。なお、光ファイバ３８ｂの端部３９ｂは、被検眼眼底と共役となるように配置される。また、走査部２３の２つのガルバノミラーは、被検眼瞳孔と略共役な位置に配置される。

光ファイバ３８ｂの端部３９ｂから出射した測定光は、フォーカシングレンズ２４を介して、走査部２３に達し、２つのガルバノミラーの駆動により反射方向が変えられる。そして、走査部２３で反射された測定光は、リレーレンズ２２を介して、ダイクロイックミラー４０で反射された後、対物レンズ１０を介して、被検眼眼底に集光される。

そして、眼底で反射した測定光は、対物レンズ１０を介して、ダイクロイックミラー４０で反射し、ＯＣＴ光学系２００に向かい、リレーレンズ２２、走査部２３の２つのガルバノミラー、フォーカシングレンズ２４を介して、光ファイバ３８ｂの端部３９ｂに入射する。端部３９ｂに入射した測定光は、光ファイバ３８ｂ、ファイバーカップラー２６、光ファイバ３８ｄを介して、光ファイバ３８ｄの端部８４ａに達する。

一方、参照光を参照ミラー３１に向けて出射する光路には、参照光を出射する光ファイバ３８ｃの端部３９ｃ、コリメータレンズ２９、参照ミラー３１が配置されている。参照ミラー３１は、参照光の光路長を変化させるべく、参照ミラー駆動機構５０により光軸方向に移動可能な構成となっている。

光ファイバ３８ｃの端部３９ｃから出射した参照光は、コリメータレンズ２９で平行光束とされ、参照ミラー３１で反射された後、コリメータレンズ２９により集光されて光ファイバ３８ｃの端部３９ｃに入射する。端部３９ｃに入射した参照光は、光ファイバ３８ｃを介して、ファイバーカップラー２６に達する。

そして、光源２７から発せられた光によって前述のように生成される参照光と被検眼眼底に照射された測定光による眼底反射光は、ファイバーカップラー２６にて合成され干渉光とされた後、光ファイバ３８ｄを通じて端部８４ａから出射される。８００は周波数毎の干渉信号を得るために干渉光を周波数成分に分光する分光光学系８００（スペクトロメータ部）であり、コリメータレンズ８０、グレーティング（回折格子）８１、集光レンズ８２、受光素子８３にて構成されている。受光素子８３は、赤外域に感度を有する一次元素子（ラインセンサ）を用いている。

ここで、端部８４ａから出射された干渉光は、コリメータレンズ８０にて平行光とされた後、グレーティングミラー８１にて周波数成分に分光される。そして、周波数成分に分光された干渉光は、集光レンズ８２を介して、受光素子８３の受光面に集光する。これにより、受光素子８３上で干渉縞のスペクトル情報が記録される。そして、そのスペクトル情報が制御部７０へと入力され、フーリエ変換を用いて解析することで、被験者眼の深さ方向における情報（Ａスキャン信号）が計測可能となる。ここで、制御部７０は、走査部２３により測定光を眼底上で所定の横断方向に走査することにより断層画像を取得できる。例えば、Ｘ方向もしくはＹ方向に走査することにより、被検眼眼底のＸＺ面もしくはＹＺ面における断層画像を取得できる（なお、本実施形態においては、このように測定光を眼底に対して１次元走査し、断層画像を得る方式をＢスキャンとする）。なお、取得された断層画像は、制御部７０に接続されたメモリ７２に記憶される。さらに、測定光をＸＹ方向に２次元的に走査することにより、被検眼眼底の３次元画像を取得することも可能である。なお、本実施形態におけるＯＣＴ画像の取得は、走査部２３に設けられた２つのガルバノミラーによって行われる。

次に、ダイクロイックミラー４０の透過方向に配置されたＳＬＯ光学系（共焦点光学系）３００について説明する。ＳＬＯ光学系３００は、被検眼眼底を照明する照明光学系と、該照明光学系によって照明された眼底反射光を受光素子により受光する受光光学系とに大別され、受光素子から出力される受光信号に基づいて被検眼眼底の正面画像を得る。なお、眼底正面画像を得るための第２撮影光学系としては、以下のようなＳＬＯをベースとした構成の他、いわゆる眼底カメラをベースに構成した構成であってもよい。

光出射部６１は、赤外域の波長の光（例えば、λ＝７８０ｎｍ）を発する第１の光源（ＳＬＯ光源）６１ａと可視域の波長の光（例えば、λ＝６３０ｎｍ）を発する第２の光源（固視光源）６１ｂ、ミラー１００、ダイクロイックミラー１０１とを有する。なお、第１の光源６１ａと第２の光源６１ｂには、輝度が高く、指向性の高い光を発する光源（レーザダイオード光源、ＳＬＤ光源、等）が用いられる。第１の光源６１ａを出射した赤外光は、ダイクロイックミラー１０１を透過し、光出射部６１を出てビームスプリッタ６２に進む。第２の光源６１ｂを出射した可視光は、ミラー１００にて折り曲げられた後、ダイクロイックミラー１０１にて反射して第１の光源６１ａから出射した光と同軸とされる。第１の光源６１ａは観察用の正面眼底画像を得るために用いられ、第２の光源６１ｂは被検眼の視線方向を誘導させるために用いられる。

光出射部６１から発せられるレーザ光を被検眼Ｅに向けて出射する光路には、被検眼の屈折誤差に合わせて光軸方向に移動可能なフォーカシングレンズ６３、走査駆動機構５２の駆動により眼底上でＸＹ方向に測定光を高速で走査させることが可能なガルバノミラーとポリゴンミラーとの組み合せからなる走査部６４、リレーレンズ６５、対物レンズ１０が配置されている。また、走査部６４のガルバノミラー及びポリゴンミラーの反射面は、被検眼瞳孔と略共役な位置に配置される。

また、光出射部６１とフォーカシングレンズ６３との間には、ビームスプリッタ６２が配置されている。ビームスプリッタ６２の反射方向には、共焦点光学系を構成するための集光レンズ６６と、眼底に共役な位置に置かれる共焦点開口６７と、ＳＬＯ用受光素子６８とが設けられている。

ここで、光出射部６１から発せられたレーザ光（測定光、又は固視光束）は、ビームスプリッタ６２を透過した後、フォーカシングレンズ６３を介して、走査部６４に達し、ガルバノミラー及びポリゴンミラーの駆動により反射方向が変えられる。そして、走査部６４で反射されたレーザ光は、リレーレンズ６５を介して、ダイクロイックミラー４０を透過した後、対物レンズ１０を介して、被検眼眼底に集光される。

そして、眼底で反射したレーザ光（測定光）は、対物レンズ１０、リレーレンズ６５、走査部６４のガルバノミラー及びポリゴンミラー、フォーカシングレンズ６３を経て、ビームスプリッタ６２にて反射される。その後、集光レンズ６６にて集光された後、共焦点開口６７を介して、受光素子６８によって検出される。そして、受光素子６８にて検出された受光信号は制御部７０へと入力される。制御部７０は受光素子６８にて得られた受光信号に基づいて被検眼眼底の正面画像を取得する。取得された正面画像はメモリ７２に記憶される。なお、ＳＬＯ画像の取得は、走査部６４に設けられたガルバノミラーによるレーザ光の縦方向の走査（副走査）とポリゴンミラーによるレーザ光の横方向の走査（主走査）によって行われる。

なお、制御部７０は、表示モニタ７５に接続され、その表示画像を制御する。また、制御部７０には、メモリ（記憶部）７２、各種操作を行うための操作部７４、走査駆動機構５１、走査駆動機構５２、参照ミラー駆動機構５０、フォーカシングレンズ６３を光軸方向に移動させるための第１駆動機構６３ａ、フォーカシングレンズ２４を光軸方向に移動させるための第２駆動機構２４ａ、等が接続されている。

ここで、制御部７０は、受光素子８３から出力される受光信号に基づいて画像処理により眼底断層像を形成させると共に、受光素子６８から出力される受光信号に基づいて画像処理により眼底正面像を形成させる。

また、検者によって操作される操作部７４には、各種操作に用いられる操作部材としてのマウス７４ａ、撮影スイッチ７４ｂ、キーボード等が設けられている。なお、マウス７４ａは、モニタ７５上の表示と連動され、測定光の走査位置の設定、固視標位置の設定、等に用いられる。なお、上記制御部７０、メモリ７２、操作部７４、モニタ７５においては、装置として専用の部材を用いるようにしてもよいし、パーソナル・コンピュータ（ＰＣ）を用いるようにしてもよい。

以下に上記のような構成を備える装置において、眼底の正面画像及び断層画像を取得する場合について説明する。まず、検者は、固視灯を注視するように被験者に指示した後、図示なき前眼部観察用カメラによって撮像される前眼部観察像をモニタ７５上で見ながら、被検眼の瞳孔中心に測定光軸Ｌ１が置かれるように、図示無きジョイスティックを用いてアライメント操作を行う。このようにして被検眼に対するアライメントが完了されると、ＳＬＯ光学系３００による被検眼眼底の正面画像（ＳＬＯ眼底像）が取得されるようになり、モニタ７５上にＳＬＯ眼底像Ｇｆが現れる。次に、検者は、表示モニタ７５上のＳＬＯ眼底像Ｇｆを見ながらフォーカスを合わせた後、マウス７４ａを用いてモニタ７５上に表示された自動光路長調整ボタンをクリックする。

制御部７０は、自動光路長調整（自動ＯＰＬ調整）を開始するためのトリガ信号が出力されると、駆動機構５０の駆動を制御して参照ミラー３１を移動させ、眼底の断層像が取得されるように参照光の光路長を調整する。

より具体的には、制御部７０は、予め設定された初期位置から参照ミラー３１を移動させていき、眼底断層像が取得される位置を探索する。制御部７０は、予め設定された初期位置にて断層画像を取得した後、参照ミラー３１を所定のステップで移動させ、各移動位置における断層画像を順次取得していき、眼底断層像が取得される位置を探索していく。

制御部７０は、逐次取得される断層画像の深さ方向における輝度分布に基づいて眼底断層像の有無を判定する。例えば、輝度分布の最大輝度値が所定の閾値以上であるかによって、眼底断層像の有無が判定される。そして、眼底断層像ありと判定された場合、制御部７０は、最大輝度値の検出位置を眼底断層像の像位置Ｐ１として検出する。そして、制御部７０は、深さ方向において予め設定された光路長調整位置Ｋ（図３中の点線Ｋ参照）と像検出位置Ｐ１との深さ方向における偏位量Ｌを算出し、その偏位量Ｌが０になるように参照ミラー３１を移動させた後、参照ミラー３１の移動を停止させる。これにより、被検眼の瞳孔から眼底までの距離に関係なく、眼底断層像の所定部位（例えば、眼底表面）が所定の表示位置にてモニタ７５上に表示される（図２参照）。

上記のようにして自動ＯＰＬ調整が完了したら、制御部７０は、眼底の断層像が取得されたときの参照ミラー３１の位置情報として自動ＯＰＬ完了時における参照ミラー３１の位置をメモリ７２に記憶しておく。また、自動ＯＰＬ調整の後、制御部７０は、マウス７４ａから出力される操作信号に基づいて参照ミラー３１の位置を調整する。これにより、検者は、眼底断層像を所望する位置にて観察可能となる。

また、所定のトリガ信号が出力されると、制御部７０は、被検者の識別情報（例えば、ＩＤ番号）に対応付けて断層画像及び／又は正面画像の画像データをメモリ７２に記憶する。この場合、制御部７０は、眼底上の実距離を測定するための撮影条件として、自動ＯＰＬの完了時における参照ミラー３１の位置情報と、走査部２３又は走査部６４による測定光の走査範囲情報（眼底画像の撮影画角情報）と、を前述の各画像データに対応付けてメモリ７２に記憶しておく。なお、参照ミラー３１の位置情報は、参照ミラー３１の近傍に配置可能な位置検知センサによって検出してもよいし、所定位置からの参照ミラー駆動機構５０の駆動量に基づいて検出してもよい。

次に、上記のようにして取得された眼底画像（断層画像又は正面画像）と眼底の断層画像の取得位置に関連する参照ミラー３１の位置情報とを用いて眼底上の実距離を測定するモード（実距離測定モード）について説明する。図２は実距離測定モードについて説明する図であり、図２左図は正面画像を用いた測定、図２右図は断層画像を用いた測定に対応する。

所定の操作によって実距離測定モードに設定された場合、制御部７０は、メモリ７２に記憶された眼底画像（断層画像又は正面画像）をモニタ７５上に表示させる（図２参照）。そして、制御部７０は、モニタ７５に表示された断層画像Ｇｔと正面画像Ｇｆから任意に選択される少なくともいずれかの眼底画像を用いて眼底上の２点間の実距離を測定する演算処理を行う。

より具体的には、モニタ７５上の眼底画像における任意の２点（図２の点Ａ及び点Ｂ参照）がマウス７４ａ等の操作（例えば、クリック）を介して特定されたとき、制御部７０は、指定された２点間の距離を眼底の実距離に換算する。また、モニタ７５上の眼底画像に対して移動可能に表示される２つのマーカー（指標）間の距離を制御部７０が眼底の実距離に換算するようにしてもよい。なお、実距離測定のために任意の２点間を指定する手法としては、種々の変容が可能であり、上記手法に限るものはない。例えば、サークル状のマーカを用いて中心からの距離又は直径を求めるようにしてもよい。また、上記２点間の距離に、深さ方向を含めた３点以上の点に基づき形状／面積が計測されてもよい。もちろん、３次元画像のＸＹ方向に関する計測が行われてもよい（例えば、層厚マップ上における計測）。また、断層像中のある部分が画像処理により検出されることにより、計測部分が特定されてもよい。

図４は眼底の実距離の測定について説明する図である。眼底画像（断層画像又は正面画像）の撮影範囲Ｗは、半画角θ（撮影画角は２θ）と、軸方向における瞳孔Ｅｐから眼底Ｅｆまでの距離Ｄとによって決定できる（Ｗ＝２×Ｄ×ｔａｎθ）。撮影画角２θは、眼Ｅの瞳孔中心を走査中心Ｃとして眼底上を走査される測定光の走査範囲（走査角度）によって決定できる。したがって、制御部７０は、メモリ７２に記憶された測定光の走査範囲情報のデータを用いて撮影画角２θを算出する。なお、正面画像の撮影範囲Ｗに関して、測定光の上下方向における走査範囲に基づいて上下方向の撮影範囲が決定され、測定光の左右方向における走査範囲に基づいて左右方向の撮影範囲が決定される。

瞳孔から眼底までの距離Ｄは、以下のようにして求めることができる。ここで、測定光路の光路長（説明の便宜上、光源２７〜レンズ１０の眼Ｅ側レンズ面〜受光素子８３の経路における全光路長とし、対物レンズ８３〜眼底までの光路長を除く）をＬＳ、作動距離（レンズ１０の眼Ｅ側レンズ面〜瞳孔Ｅｐ）をＷＤ、瞳孔Ｅｐから眼底Ｅｆ上の表面位置までの距離をＤ、参照ミラー３１が所定の基準位置に配置されたときの参照光路の光路長（光源２７〜参照ミラー３１〜受光素子８３）をＬＲ、参照ミラー３１が所定の基準位置から移動されたときの参照光路の光路長の変化量をΔＬＲ、とすると、以下のような関係が成り立つ：ＬＳ+２ＷＤ+２Ｄ＝ＬＲ＋ΔＬＲ。したがって、距離Ｄは、Ｄ＝｛ＬＲ＋ΔＬＲ−（ＬＳ+２ＷＤ）｝／２（式１）により算出できる。よって、ＬＳ、ＬＲ、ＷＤを
固定値として考えた場合、光路長変化量ΔＬＲを検出することにより距離Ｄが求められる。なお、算出された距離Ｄはメモリ７２に記憶される。このようにすれば、断層画像撮影時における参照ミラー３１の位置情報に基づいて眼底の実距離測定に用いる瞳孔から眼底までの距離Ｄを算出できる。

なお、光路長ＬＲを決定する際、距離Ｄを既知とするキャリブレーション用光学部材（例えば、模型眼）の断層画像を取得する。そして、深さ方向における最大輝度値が所定の光路長調整位置Ｋにて検出されるときの参照ミラー３１の位置を求め、これを基準位置として設定する。これにより、参照光の光路長ＬＲが決定できる。ここで、所定の基準位置に対する参照ミラー３１の偏位量（移動量）を検出することにより、変化量ΔＬＲを算出する。また、作動距離ＷＤは、対物レンズ１０における被検眼側の焦点距離を基に予め決められる。

制御部７０は、上記のようにして取得される撮影画角２θ及び距離Ｄとに基づいて眼底画像の撮影範囲Ｗを決定する。そして、制御部７０は、眼底画像の撮影範囲と、指定された二点間の画面上での座標距離に基づいて、指定された二点間の眼底上での実距離を演算する。断層画像の場合、例えば、制御部７０は、断層画像の横断方向における撮影範囲を実距離に換算し、実距離ベースでの撮影画像において上記二点に対応する座標位置をそれぞれ特定する。また、正面画像の場合、例えば、制御部７０は、正面画像の縦横の撮影範囲を実距離に換算し、実距離ベースでの撮影画像において上記二点に対応する座標位置をそれぞれ特定する。そして、制御部７０は、特定された２点の座標位置の距離を求め、眼底上での実距離を求める。

このようにすれば、眼底の断層像が取得された状態での参照ミラー３１の位置情報を使って眼底の実距離を測定できる。したがって、眼底撮影装置によって取得される断層画像又は正面画像を用いた眼底の実距離測定をスムーズに行うことができる。

なお、以上の説明においては、自動ＯＰＬ調整が完了したときの参照ミラー３１の位置情報を距離Ｄの算出に用いるものとしたが、眼底断層像における所定部位が所定の深さ位置にて取得される状態での参照ミラー３１の位置情報であればよい。例えば、所定の光路長調整位置Ｋに対して偏位量Ｌを持った状態の断層画像の場合（図３（ａ）参照）、参照ミラー３１の位置に対応する変化量ΔＬＲに対して偏位量Ｌに対応する光路長分のオフセットをかけ、これを距離Ｄの算出に用いるようにしてもよい。

なお、以上の説明においては、光路長可変用光学部材としての参照ミラー３１の移動により参照光の光路長を変化させて測定光との光路長を調整するものとしたが、参照光路若しくは測定光路のいずれかに配置された光路長変更部材によって測定光の光路長と参照光の光路長との光路差が変更される構成であればよい。

この場合、測定光の光路長を変化させて参照光との光路長を調整するような構成としてもよい。例えば、図１の光学系において、参照ミラー３１を固定とし、リレーレンズ２４とファイバー端部３９ｂとを一体的に移動させることにより参照光の光路長に対して測定光の光路長を変化させるような構成が考えられる。この場合、参照光路が光ファイバーのみで構成されるものであってもよい。

測定光の光路長を変化させる場合、測定光路に配置された光路長変更用光学部材が所定の基準位置から移動されたときの光路長の変化量ΔＬＳを用いて、距離Ｄを求めることができる。

なお、以上の説明においては、演算処理により撮影範囲を決定するものとしたが、眼底の断層像が取得された光路長変更部材の位置情報と撮影範囲との関係を示すテーブルを予めメモリに記憶しておき、メモリ７５に記憶された位置情報に対応する撮影範囲をテーブルから取得するようにしてもよい。

本実施形態の眼科撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。実距離測定モードの表示画面について説明する図である。自動ＯＰＬ調整について説明する図である。眼底の実距離の測定について説明する図である。

３１参照ミラー
５０参照ミラー駆動機構
６８受光素子
７０制御部
７４ａマウス
７５モニタ
８３受光素子
２００ＯＣＴ光学系
３００ＳＬＯ光学系

Claims

光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検者眼眼底に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、眼底で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を第１の受光素子に受光させる干渉光学系と、
前記測定光束の光路中に配置され，眼底上で前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、
光路長を変化させるために、前記測定光束の光路又は参照光束の光路に配置された光学部材を光軸方向に移動させる駆動部と、
駆動部を制御すると共に、前記光スキャナの動作を制御し，ある撮影画角にて測定光束を眼底上で走査させ、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて眼底断層像を得る演算制御ユニットと、を備える眼科撮影装置において、
前記演算制御ユニットは、前記光学部材の位置情報と前記断層像の撮影画角情報とに基づいて、断層画像の撮影範囲を実距離に換算することを特徴とする眼科撮影装置。
請求項１の眼科撮影装置において、
前記演算制御ユニットは、取得された眼底断層像中で特定されたある部分における実距離又は実面積を求めることを特徴とする眼科撮影装置。
請求項２の眼科撮影装置において、
取得された眼底断層像を表示するモニタと、
前記眼底断層像中のある部分を特定するために、モニタ上に表示された眼底断層像におおいて少なくとも２点以上を指定する操作入力ユニットと、を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
請求項１〜３のいずれかの眼科撮影装置において、
光源から出射された観察光束を被検者眼眼底に導き，眼底で反射した観察光束を第２受光素子に受光させる観察光学系と、
前記観察光束の光路中に配置され，眼底上で前記観察光束を走査させるために前記観察光束の進行方向を変える観察用光スキャナと、
前記演算制御ユニットは、さらに、前記観察用光スキャナの動作を制御し，ある撮影画角にて観察光束を眼底上で走査させ、前記第２の受光素子から出力される受光信号に基づいて眼底正面像を得る演算制御ユニットであって、
前記演算制御ユニットは、さらに、前記光学部材の位置情報と，前記正面像の撮影画角情報と，に基づいて、正面画像の撮影範囲を実距離に換算することを特徴とする眼科撮影装置。