JP5497746B2 - 慣性センサおよびその製造方法 - Google Patents
慣性センサおよびその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5497746B2 JP5497746B2 JP2011509166A JP2011509166A JP5497746B2 JP 5497746 B2 JP5497746 B2 JP 5497746B2 JP 2011509166 A JP2011509166 A JP 2011509166A JP 2011509166 A JP2011509166 A JP 2011509166A JP 5497746 B2 JP5497746 B2 JP 5497746B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inertial sensor
- sensor
- space
- movable part
- generating material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 25
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 152
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 93
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 36
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 26
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 20
- -1 butoxycarbonyloxy Chemical group 0.000 claims description 8
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 103
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 44
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 22
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 22
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 19
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 17
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 17
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N Butyl acetate Natural products CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N hexanoic acid Chemical compound CCCCCC(O)=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 8
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 7
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 6
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 6
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 5
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 5
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 4
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 4
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 3
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 150000001336 alkenes Chemical class 0.000 description 2
- 238000002144 chemical decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000002427 irreversible effect Effects 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000005459 micromachining Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000010587 phase diagram Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P15/0802—Details
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B7/00—Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
- B81B7/02—Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems containing distinct electrical or optical devices of particular relevance for their function, e.g. microelectro-mechanical systems [MEMS]
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C1/00—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
- B81C1/00015—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate for manufacturing microsystems
- B81C1/00261—Processes for packaging MEMS devices
- B81C1/00277—Processes for packaging MEMS devices for maintaining a controlled atmosphere inside of the cavity containing the MEMS
- B81C1/00293—Processes for packaging MEMS devices for maintaining a controlled atmosphere inside of the cavity containing the MEMS maintaining a controlled atmosphere with processes not provided for in B81C1/00285
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/56—Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
- G01C19/5719—Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
- G01C19/5733—Structural details or topology
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/56—Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
- G01C19/5719—Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
- G01C19/5769—Manufacturing; Mounting; Housings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P15/125—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/02—Sensors
- B81B2201/0228—Inertial sensors
- B81B2201/0235—Accelerometers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/02—Sensors
- B81B2201/0228—Inertial sensors
- B81B2201/0242—Gyroscopes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P2015/0805—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
- G01P2015/0808—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate
- G01P2015/0811—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass
- G01P2015/0814—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining in-plane movement of the mass, i.e. movement of the mass in the plane of the substrate for one single degree of freedom of movement of the mass for translational movement of the mass, e.g. shuttle type
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/10—Methods of surface bonding and/or assembly therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
- Gyroscopes (AREA)
- Micromachines (AREA)
Description
実施例1では、角速度センサが置かれた空間を400Paに、加速度センサが置かれた空間を2×105Pa(=2気圧)に、それぞれ封止した複合型慣性センサを1チップ上に形成するための製造方法と構成と効果について記載する。
n0=P0V/(RT)=1.6×10−14[mol]―――(1)
で表せる。更に、加速度センサの置かれた空間の目的圧力P1が2.0×105Pa(2気圧)の場合、発生ガスの必要モル量Δnは、理想気体のシャルルの法則より(2)(3)式から算出できて、
n0/P0=(n0+Δn)/P1―――(2)
Δn=(P1/P0−1)n0=(P1/P0−1)(P0V/(RT))
=8.0×10−12[mol]―――(3)
と表せる。tBOC体保有体の熱分解反応は、化学量論的には図4で示す反応式に従うので、高分子鎖n=1のtBOC体保有体1モルに対して、1モルの炭酸ガスが生成すると解釈できる。つまり、ガス発生材料であるtBOC体保有体のモル量は、発生する炭酸ガスのモル量Δnに等しい。尚、初期圧力P0をそれぞれ400Pa、1.0×104Pa、1.0×105Paの三通りとしたとき、本実施例で作成している加速度センサの置かれた空間の目的圧力P1と、目的圧力P1を達成するのに必要なtBOC体保有体のモル量Δnは、図8に示すグラフで表される関係があり、Δnを変えることで目的圧力P1は自由に設定することが出来る。
C=96ηeffLW3/(π4g3)―――(4)
ηeff=η/(1+9.638Kn 1.159)―――(5)
Kn=λ/Lc=kBT/((√2)πd2 gasPLc)―――(6)
と表される。但し、lは突起構造の長さ、wは突起構造の幅、gは突起構造間の距離(ギャップ)、ηeffは周辺気体の粘性の実効値、ηは周辺気体の粘性定数、Knはクヌッセン数、λは周辺気体の平均自由行程、Lは流れ場の代表長さであり突起構造間の距離に相当する長さ、kBはボルツマン定数、Tは絶対温度、dgasは周辺気体の分子の直径、Pは周辺気体の圧力である。よって、まったく同じ構造の加速度センサが、400Paと2.0×105Pa(2気圧)の2つの圧力下に置かれている場合、空気粘性抵抗係数Cの値は(4)式より102倍、2.0×105Pa(2気圧)に置かれているものに比べて、400Paに置かれている加速度センサのほうが、大きい。
Q=1/(2ζ)=√(mk)/C―――(7)
(fc/f0)2=−(ζ−1)+√((ζ−1)2+1)―――(8)
と表せる。加速度センサの固有振動数f0が3000Hz、2.0×105Pa(2気圧)における減衰定数が50のとき、400Paの圧力下に置かれた加速度センサと、2.0×105Pa(2気圧)に置かれた加速度センサの周波数特性は図9のように表せ、カットオフ周波数fcとQ値は表1のようになる。
実施例2では、2個の加速度センサを同一チップ上に形成し、それぞれを5000Pa、3.0×105Paと異なる圧力の空間中に封止して、段階的に振動ノイズに影響を受けにくい加速度センサを得るための製造方法と構成と効果について記載する。
n0=P0V/(RT)=2.0×10−13[mol]―――(1)
で表せる。更に、y軸加速度センサの置かれた空間の目的圧力P1が3.0×105Pa(3気圧)の場合、発生ガスの必要モル量Δnは、理想気体のシャルルの法則より(2)(3)式から算出できて、
n0/P0=(n0+Δn)/P1―――(2)
Δn=(P1/P0−1)n0=(P1/P0−1)(P0V/(RT))
=1.2×10−11[mol]―――(3)
と表せる。tBOC体保有体の熱分解反応は、化学量論的には図4で示す反応式に従うので、高分子鎖n=1のtBOC体保有体1モルに対して、1モルの炭酸ガスが生成すると解釈できる。つまり、ガス発生材料であるtBOC体保有体のモル量は、発生する炭酸ガスのモル量Δnに等しい。
302 BOX酸化膜
303 SOI層
304 シリコン酸化膜
305 貫通孔
306 メタル配線
307 ホトレジスト
308 角速度センサ
309 加速度センサ
310 キャップ部材
311 角速度センサ用空間
312 加速度センサ用空間
313 ガス発生材料
314 ガス分子
315 ガス脱後の生成物
316 パッド
500 基板
502 BOX酸化膜
504 SOI層
506 x軸加速度センサ
507 y軸加速度センサ
508 キャップ部材
510 x軸加速度センサ用空間
511 y軸加速度センサ用空間
512 ガス発生材料
514 パッド
516 ホトレジスト
520 ガス発生後の生成物
Claims (16)
- 基板と、
該基板上に形成された可動部分と、
該可動部分を覆うように封止するキャップ部材と、
を有する慣性センサであって、
前記キャップ部材の前記可動部分側にガス発生材料を塗布したことを特徴とする慣性センサ。 - 請求項1記載の慣性センサにおいて、
平面視において、前記ガス発生材料の塗布領域は、前記可動部分の領域を内包していることを特徴とする慣性センサ。 - 請求項1記載の慣性センサにおいて、
前記ガス発生材料を加熱することにより、前記可動部分が可動する空間を、大気圧よりも高い圧力にしたことを特徴とする慣性センサ。 - 請求項3記載の慣性センサにおいて、
前記空間内の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることを特徴とする慣性センサ。 - 請求項1記載の慣性センサにおいて、
前記ガス発生材料は、ターシャリーブトキシカルボニルオキシ体保有体であることを特徴とする慣性センサ。 - 角速度センサと加速度センサが一体化されている慣性センサであって、
前記角速度センサの可動部分及び前記加速度センサの可動部分を同一の基板上に形成し、
前記2つの可動部分を覆うように封止するキャップ部材を有し、
前記キャップ部材の前記加速度センサに相当する部分側にだけガス発生材料を塗布したことを特徴とする慣性センサ。 - 請求項6記載の慣性センサにおいて、
前記ガス発生材料を加熱することにより、前記加速度センサの可動部分が可動する第1の空間の圧力を、前記角速度センサの可動部分が可動する第2の空間の圧力よりも高くしたことを特徴とする慣性センサ。 - 請求項7記載の慣性センサにおいて、
前記第1の空間の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることを特徴とする慣性センサ。 - 請求項6記載の慣性センサにおいて、
前記ガス発生材料は、ターシャリーブトキシカルボニルオキシ体保有体であることを特徴とする慣性センサ。 - 基板上に可動部分を形成する工程と、
前記可動部分を覆うキャップであって、該キャップに凹部を形成する工程と、
前記凹部にガス発生材料を塗布する工程と、
前記基板上に前記キャップを接合する工程と、
前記ガス発生材料を加熱する工程とを含むことを特徴とする慣性センサの製造方法。 - 請求項10記載の慣性センサの製造方法において、
平面視において、前記ガス発生材料の塗布領域は、前記可動部分の領域を内包していることを特徴とする慣性センサの製造方法。 - 基板上に角速度を計測する第1の可動部分と、加速度を計測する第2の可動部分を形成する工程と、
前記第1の可動部分と第2の可動部分を覆うキャップであって、該キャップに前記第1の可動部分と前記第2の可動部分に相当する凹部を形成する工程と、
前記第2の可動部分にガス発生材料を塗布する工程と、
前記基板上に前記キャップを接合する工程と、
前記ガス発生材料を加熱する工程とを含むことを特徴とする慣性センサの製造方法。 - 互いに直交する2つの加速度センサが一体化されている慣性センサであって、
前記2つの加速度センサの可動部分を同一の基板上に形成し、
前記可動部分を覆うように封止するキャップ部材を有し、
前記キャップ部材の前記2つの加速度センサの一方に相当する部分側にだけガス発生材料を塗布したことを特徴とする慣性センサ。 - 請求項13記載の慣性センサにおいて、
前記ガス発生材料を加熱することにより、前記2つの加速度センサの一方の可動部分が可動する第1の空間の圧力を、前記2つの加速度センサの他方の可動部分が可動する第2の空間の圧力よりも高くしたことを特徴とする慣性センサ。 - 請求項14記載の慣性センサにおいて、
前記第1の空間の圧力は、大気圧以上5.1気圧以下であることを特徴とする慣性センサ。 - 請求項13記載の慣性センサにおいて、
前記ガス発生材料は、ターシャリーブトキシカルボニルオキシ体保有体であることを特徴とする慣性センサ。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2009/057800 WO2010119573A1 (ja) | 2009-04-17 | 2009-04-17 | 慣性センサおよびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2010119573A1 JPWO2010119573A1 (ja) | 2012-10-22 |
JP5497746B2 true JP5497746B2 (ja) | 2014-05-21 |
Family
ID=42982253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011509166A Expired - Fee Related JP5497746B2 (ja) | 2009-04-17 | 2009-04-17 | 慣性センサおよびその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8429969B2 (ja) |
EP (1) | EP2375219B1 (ja) |
JP (1) | JP5497746B2 (ja) |
WO (1) | WO2010119573A1 (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008016004B4 (de) * | 2008-03-27 | 2024-07-25 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Mikroelektromechanischer Inertialsensor mit atmosphärischer Bedämpfung |
JP2010217170A (ja) | 2009-02-17 | 2010-09-30 | Seiko Epson Corp | 複合センサー、電子機器 |
JP5732203B2 (ja) * | 2010-05-21 | 2015-06-10 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 複合センサの製造方法 |
JP2012154802A (ja) * | 2011-01-26 | 2012-08-16 | Denso Corp | 加速度角速度センサ装置の製造方法 |
JP5425824B2 (ja) | 2011-02-16 | 2014-02-26 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 複合センサ |
KR20130016607A (ko) * | 2011-08-08 | 2013-02-18 | 삼성전기주식회사 | 관성센서 및 그 제조방법 |
FR2980034B1 (fr) * | 2011-09-08 | 2014-07-04 | Commissariat Energie Atomique | Procede de realisation d'une structure a cavite fermee hermetiquement et sous atmosphere controlee |
JPWO2013080238A1 (ja) * | 2011-11-28 | 2015-04-27 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 複合センサおよびその製造方法 |
DE102012202183B4 (de) * | 2012-02-14 | 2020-03-19 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanische Struktur und Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Struktur |
DE102012209973B4 (de) | 2012-06-14 | 2024-03-07 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Vorrichtung |
DE102012219605B4 (de) * | 2012-10-26 | 2021-09-23 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanisches Bauelement |
JP5953252B2 (ja) * | 2013-03-08 | 2016-07-20 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 物理量センサの構造 |
US9726689B1 (en) * | 2013-03-15 | 2017-08-08 | Hanking Electronics Ltd. | Wafer level micro-electro-mechanical systems package with accelerometer and gyroscope |
US20140352264A1 (en) * | 2013-06-03 | 2014-12-04 | Craig Filicetti | Container with Orientation Sensor |
EP2813465B1 (en) * | 2013-06-12 | 2020-01-15 | Tronic's Microsystems | MEMS device with getter layer |
JP6123613B2 (ja) | 2013-09-26 | 2017-05-10 | 株式会社デンソー | 物理量センサおよびその製造方法 |
US9725301B2 (en) * | 2013-11-19 | 2017-08-08 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Structures and formation methods of micro-electro mechanical system device |
WO2015103220A1 (en) * | 2013-12-30 | 2015-07-09 | Robert Bosch Gmbh | Robust inertial sensors |
SE538346C2 (sv) * | 2014-02-07 | 2016-05-24 | Silex Microsystems Ab | Reglering av tryck i kaviteter på substrat |
JP6331535B2 (ja) | 2014-03-18 | 2018-05-30 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイス、電子機器および移動体 |
JP6451062B2 (ja) | 2014-03-18 | 2019-01-16 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイス、電子モジュール、電子機器および移動体 |
US9891244B2 (en) * | 2014-08-15 | 2018-02-13 | Nxp Usa, Inc. | Microelectronic packages having split gyroscope structures and methods for the fabrication thereof |
JP6416704B2 (ja) * | 2015-06-22 | 2018-10-31 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 樹脂封止型センサ装置 |
US10041854B2 (en) * | 2015-12-10 | 2018-08-07 | Panasonic Corporation | Identification of a seal failure in MEMS devices |
US10209157B2 (en) * | 2015-12-10 | 2019-02-19 | Invensense, Inc. | Dual-sealed MEMS package with cavity pressure monitoring |
CN107777656A (zh) * | 2016-08-26 | 2018-03-09 | 深迪半导体(上海)有限公司 | 一种mems器件及腔体气压控制方法 |
JP6990997B2 (ja) * | 2017-06-06 | 2022-01-12 | 株式会社日立製作所 | Memsデバイス |
DE102018209483A1 (de) * | 2018-06-14 | 2019-12-19 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Systems, umfassend ein erstes mikroelektromechanisches Element und ein zweites mikroelektromechanisches Element; System |
FR3090615B1 (fr) * | 2018-12-20 | 2020-12-11 | Soitec Silicon On Insulator | Procédé de fabrication d’un dispositif comprenant une membrane surplombant une cavité |
US11040870B2 (en) * | 2019-07-25 | 2021-06-22 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Microelectromechanical systems device having a mechanically robust anti-stiction/outgassing structure |
CN110937570A (zh) * | 2019-12-23 | 2020-03-31 | 中芯集成电路制造(绍兴)有限公司 | Mems器件晶圆级封装方法及封装结构 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000100984A (ja) * | 1998-09-21 | 2000-04-07 | Murata Mfg Co Ltd | 減圧容器の製造方法 |
JP2002005950A (ja) * | 2000-06-23 | 2002-01-09 | Murata Mfg Co Ltd | 複合センサ素子およびその製造方法 |
JP2007012728A (ja) * | 2005-06-29 | 2007-01-18 | Citizen Watch Co Ltd | 圧電振動子パッケージ及びその製造方法ならびに物理量センサー |
JP2007059736A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-08 | Citizen Watch Co Ltd | 圧電振動子パッケージ及びその製造方法ならびに物理量センサ |
JP2007214315A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Citizen Holdings Co Ltd | 電子部品封止体 |
WO2007113325A1 (de) * | 2006-04-06 | 2007-10-11 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Mikromechanische gehäusung mit mindestens zwei kavitäten mit unterschiedlichem innendruck und/oder unterschiedlicher gaszusammensetzung sowie verfahren zu deren herstellung |
JP2008501535A (ja) * | 2004-06-04 | 2008-01-24 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 複数の空洞を備えた微細構造の構成要素及び該構成要素の製造のための方法 |
JP2008182103A (ja) * | 2007-01-25 | 2008-08-07 | Olympus Corp | 気密封止パッケージ |
JP2010141088A (ja) * | 2008-12-11 | 2010-06-24 | Dainippon Printing Co Ltd | 封止型デバイス、物理量センサ、その製造方法、及びその内部圧力制御方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3998948B2 (ja) * | 2001-10-31 | 2007-10-31 | セイコーインスツル株式会社 | 圧電振動子及びその製造方法 |
US20070056370A1 (en) * | 2005-08-19 | 2007-03-15 | Honeywell International Inc. | Mems sensor package |
US7557491B2 (en) * | 2006-02-09 | 2009-07-07 | Citizen Holdings Co., Ltd. | Electronic component package |
DE102007022509B4 (de) * | 2007-05-14 | 2015-10-22 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanisches Bauteil mit Dünnschichtverkappung und Herstellungsverfahrung |
JP5319122B2 (ja) * | 2008-01-21 | 2013-10-16 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 慣性センサ |
DE102008016004B4 (de) * | 2008-03-27 | 2024-07-25 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Mikroelektromechanischer Inertialsensor mit atmosphärischer Bedämpfung |
US8418554B2 (en) * | 2009-06-01 | 2013-04-16 | The Boeing Company | Gyroscope packaging assembly |
JP5463173B2 (ja) * | 2010-03-12 | 2014-04-09 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 角速度検出装置 |
-
2009
- 2009-04-17 WO PCT/JP2009/057800 patent/WO2010119573A1/ja active Application Filing
- 2009-04-17 EP EP09839840.7A patent/EP2375219B1/en not_active Not-in-force
- 2009-04-17 US US12/867,472 patent/US8429969B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-04-17 JP JP2011509166A patent/JP5497746B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000100984A (ja) * | 1998-09-21 | 2000-04-07 | Murata Mfg Co Ltd | 減圧容器の製造方法 |
JP2002005950A (ja) * | 2000-06-23 | 2002-01-09 | Murata Mfg Co Ltd | 複合センサ素子およびその製造方法 |
JP2008501535A (ja) * | 2004-06-04 | 2008-01-24 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 複数の空洞を備えた微細構造の構成要素及び該構成要素の製造のための方法 |
JP2007012728A (ja) * | 2005-06-29 | 2007-01-18 | Citizen Watch Co Ltd | 圧電振動子パッケージ及びその製造方法ならびに物理量センサー |
JP2007059736A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-08 | Citizen Watch Co Ltd | 圧電振動子パッケージ及びその製造方法ならびに物理量センサ |
JP2007214315A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Citizen Holdings Co Ltd | 電子部品封止体 |
WO2007113325A1 (de) * | 2006-04-06 | 2007-10-11 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Mikromechanische gehäusung mit mindestens zwei kavitäten mit unterschiedlichem innendruck und/oder unterschiedlicher gaszusammensetzung sowie verfahren zu deren herstellung |
JP2008182103A (ja) * | 2007-01-25 | 2008-08-07 | Olympus Corp | 気密封止パッケージ |
JP2010141088A (ja) * | 2008-12-11 | 2010-06-24 | Dainippon Printing Co Ltd | 封止型デバイス、物理量センサ、その製造方法、及びその内部圧力制御方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2375219A4 (en) | 2014-08-06 |
US20110048129A1 (en) | 2011-03-03 |
US8429969B2 (en) | 2013-04-30 |
JPWO2010119573A1 (ja) | 2012-10-22 |
WO2010119573A1 (ja) | 2010-10-21 |
EP2375219A1 (en) | 2011-10-12 |
EP2375219B1 (en) | 2019-02-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5497746B2 (ja) | 慣性センサおよびその製造方法 | |
Knechtel et al. | Wafer level encapsulation of microsystems using glass frit bonding | |
KR101646999B1 (ko) | 수직으로 집적된 전자장치를 갖는 환경에 노출된 부분을 구비한 기밀하게 밀봉된 mems 디바이스 | |
Knechtel | Glass frit bonding: an universal technology for wafer level encapsulation and packaging | |
Choa | Reliability of MEMS packaging: vacuum maintenance and packaging induced stress | |
JP2007144617A (ja) | Mems装置パッケージング方法 | |
CN105628973B (zh) | 惯性传感器的制造方法以及惯性传感器 | |
US9686864B2 (en) | Device including interposer between semiconductor and substrate | |
US9651408B2 (en) | Structure of physical sensor | |
JP2008101917A (ja) | 圧力センサのパッケージ | |
JP2015011002A (ja) | 複合センサ | |
JPWO2015151946A1 (ja) | 加速度センサ | |
US20130320466A1 (en) | Package for Damping Inertial Sensor | |
TWI715705B (zh) | 具有擴散停止通道的微機械構件 | |
JP2001133479A (ja) | 慣性力センサおよびその製造方法 | |
Schröder et al. | Stress-minimized packaging of inertial sensors using wire bonding | |
Merz et al. | Combined MEMS inertial sensors for IMU applications | |
KR100506073B1 (ko) | 고진공패키징마이크로자이로스코프및그제조방법 | |
US20150191349A1 (en) | Semiconductor secured to substrate via hole in substrate | |
JP6285128B2 (ja) | 角速度センサ | |
Chang-Chien | Wafer-level packaging and frequency trimming by localized mass deposition | |
Hong | Understanding Material Limits for Encapsulated Combo Sensor Design and Fabrication | |
JPWO2013080238A1 (ja) | 複合センサおよびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130514 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130627 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140212 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140306 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5497746 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |