JP5356837B2 - 研磨パッドの処理方法 - Google Patents
研磨パッドの処理方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5356837B2 JP5356837B2 JP2009005951A JP2009005951A JP5356837B2 JP 5356837 B2 JP5356837 B2 JP 5356837B2 JP 2009005951 A JP2009005951 A JP 2009005951A JP 2009005951 A JP2009005951 A JP 2009005951A JP 5356837 B2 JP5356837 B2 JP 5356837B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- polishing pad
- chuck table
- pad
- turning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims abstract description 252
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 10
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 abstract description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 20
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 12
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 8
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 8
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 4
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 3
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 2
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
該研摩パッドの研摩面を旋削する旋削バイトを備えた旋削工具を該チャックテーブルに保持する旋削工具保持工程と、
該研摩送り手段を作動して該研摩パッドの研摩面に該チャックテーブルに保持された該旋削工具の旋削バイトが作用する処理位置に位置付ける研摩パッド位置付け工程と、
該研摩パッドを回転しつつ該移動手段を作動して該チャックテーブルと該研摩パッドとを相対移動することにより該旋削工具の旋削バイトによって該研摩パッドの研摩面を旋削する旋削工程と、を含み、
該旋削工程において、該研摩送り手段は該研摩パッドの研摩面の傾斜に対応して該研摩パッドを該チャックテーブルの保持面に対して垂直な方向に移動せしめる、
ことを特徴とする研摩パッドの処理方法が提供される。
また、上記旋削工程において、研摩送り手段が研摩パッドの研摩面の傾斜に対応して研摩手段をチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向に移動せしめることにより、研摩パッドの研摩面が傾斜して形成されていても研摩面を傾斜に沿って均一に旋削することができる。
図1には、本発明による研摩パッドの処理方法を実施する研摩装置の斜視図が示されている。図1に示す研磨装置は、全体を番号2で示す装置ハウジングを具備している。この装置ハウジング2は、直方体形状の主部21と、該主部21の後端部(図1において右上端)に設けられ上方に延びる直立壁22とを有している。直立壁22の前面には、上下方向に延びる一対の案内レール221、221が設けられている。この一対の案内レール221、221に研摩手段としての研摩ユニット3が上下方向に移動可能に装着されている。
図2に示すように回転スピンドル42の下端に設けられたマウント44は、円盤状に形成されている。このように構成された回転スピンドル42およびマウント44には、軸心に沿って形成され研摩液を流通せしめる研摩液供給通路421が設けられている。なお、研摩液供給通路421は、図示しない研摩液供給手段に接続されている。上記マウント44の下面に装着される研摩工具45は、円形状の基台46と該基台46の下面に装着された研摩パッド47とからなっており、基台46が上記マウント44の下面に締結ボルト48によって取り付けられる。なお、研摩パッド47は、図示の実施形態においては発泡ウレタンやフェルトによって形成されており、その厚みは均一に形成されている。従って、研摩パッド47の下面である研摩面47aは、水平(後述するチャックテーブルの保持面と平行)に位置付けられる。このように構成された研摩工具45の基台46および研摩パッド47には、それぞれ軸心に上記研摩液供給通路421と連通する穴461および471が設けられている。
図1に示すように研磨装置の被加工物搬入・搬出域24に位置付けられているチャックテーブル62の上面である保持面上に被加工物としての半導体ウエーハWを載置する。なお、半導体ウエーハWのデバイスが形成された表面には保護テープTが貼着されており、この保護テープT側をチャックテーブル62に載置する。このようにしてチャックテーブル62上に載置された半導体ウエーハWは、図示しない吸引手段によってチャックテーブル62上に吸引保持される。チャックテーブル62上に半導体ウエーハWを吸引保持したならば、上記移動手段7を作動してチャックテーブル62を矢印23aで示す方向に移動し研削域25に位置付ける。このようにしてチャックテーブル62が研削域25に位置付けられると、図5に示すように研摩工具45の研摩パッド47がチャックテーブル62に保持された半導体ウエーハWの全面を覆う状態となる。そして、図5に示すようにチャックテーブル62を矢印62aで示す方向に例えば300rpmの回転速度で回転するとともに、研摩工具45を矢印45aで示す方向に例えば3000rpmの回転速度で回転する。そして、研摩工具45を下降して研摩パッド47の下面である研摩面47aを半導体ウエーハWの上面である裏面(被研摩面)に所定の圧力で押圧する。このとき、回転スピンドル42およびマウント44に形成された研摩液供給通路421と研摩工具45の基台46および研摩パッド47に設けられた穴461および471を通して研摩液が供給される。この結果、半導体ウエーハWの被研磨面は全面に渡って研摩される(研摩工程)。
そこで、本発明においては、旋削工具を用いて研摩パッド47の研磨面47aを旋削することによって再生処理する。
図6には、本発明による研摩パッドの処理方法に用いる旋削工具の斜視図が示されている。図6に示す旋削工具10は、円形状の基台11と、該基台11の上面中心に配設された旋削バイト12とからなっている。旋削バイト12は、基台11の上面に接合されたバイト本体121と、該バイト本体121の上端に装着されたダイヤモンドからなる切れ刃122とによって構成されている。
研摩パッド47の研磨面47aを再生処理するには、旋削工具10の基台11を図1において被加工物搬入・搬出域24に位置付けられているチャックテーブル62の上面である保持面上に載置する。このようにしてチャックテーブル62の保持面上に旋削工具10を載置したならば、図示しない吸引手段を作動することにより、チャックテーブル62上に旋削工具10を吸引保持する(旋削工具保持工程)。
図9に示す研摩工具45は、研摩パッド47の下面である研摩面47bが内周から外周に向けて上方に傾斜して形成されている。このような研摩パッドは一般に使用されている。即ち、研摩パッドは回転して被加工物を研摩するため、外周部の周速度が内周部の周速度より速い。従って、研摩パッドの研摩面を平面に形成すると、外周部の研摩量が内周部の研摩量より多くなり、研摩された被加工物の被研摩面は中央部が高い円錐形となる。研摩パッドの研摩面における研摩量を均一にして、被加工物の被研摩面を平面に研摩するために、図9に示すように研摩面47bが内周から外周に向けて上方に傾斜して形成された研摩パッド47が用いられている。なお、研摩パッド47の研摩面47bの傾斜角(θ)および該傾斜角(θ)に基づく研摩パッド47の直径(D)間における例えば1μm毎の研摩面47bの水平面に対する変位量が、制御手段9のランダムアクセスメモリ(RAM)93に格納されている。
図11に示す研摩工具45は、研摩パッド47の下面である研摩面47cが内周から外周に向けて下方に傾斜して形成されている。このような研摩面47cを備えた研摩パッド47は、被加工物の被研摩面を中央部が高い円錐形に研摩する際に用いられている。なお、研摩パッド47の研摩面47cの傾斜角(α)および該傾斜角(α)に基づく研摩パッド47の直径(D)間における例えば1μm毎の研摩面47cの水平面に対する変位量が、制御手段9のランダムアクセスメモリ(RAM)93に格納されている。図11に示す研摩工具45の研摩パッド47を再生処理する際にも、上記図9および図10に示す実施形態と同様に、図12に示すようにチャックテーブル62を実線で示す再生処理開始位置から2点鎖線で示す再生処理終了位置まで移動する際に、制御手段9は上記チャックテーブル機構移動位置検出手段8の読み取りヘッド82からの検出信号とランダムアクセスメモリ(RAM)93に格納されている研摩パッド47の直径(D)間における研摩面47cの水平面に対する変位量に基づいて、研摩送り手段5のパルスモータ54を制御し、研摩工具45を図12において矢印Zで示すようにチャックテーブル62の保持面に対して垂直な方向(上下方向)に移動せしめる。この結果、研摩パッド47の下面である研摩面47cは、旋削バイト12の切れ刃122によって傾斜に沿って全面が均一に旋削され、新たな研摩面が露出される。
3:研摩ユニット
31:移動基台
4:スピンドルユニット
41:スピンドルハウジング
42:回転スピンドル
43: サーボモータ
44: ホイールマウント
45:研摩工具
46:研摩工具の基台
47:研摩パッド
5:研摩送り手段
6:チャックテーブル機構
62:チャックテーブル
7:移動手段
8:チャックテーブル機構移動位置検出手段
9:制御手段
10:旋削工具
12:旋削バイト
Claims (1)
- 被加工物を保持する保持面を備えたチャックテーブルと、該チャックテーブルの保持面に保持された被加工物に研磨液を供給しつつ研磨する研摩パッドを備えた研磨手段と、該研磨手段を該チャックテーブルの保持面に対して垂直な方向に研摩送りする研摩送り手段と、該研摩手段を該チャックテーブルの保持面と平行に相対的に移動せしめる移動手段と、を具備する研摩装置における研摩パッドの処理方法であって、
該研摩パッドの研摩面を旋削する旋削バイトを備えた旋削工具を該チャックテーブルに保持する旋削工具保持工程と、
該研摩送り手段を作動して該研摩パッドの研摩面に該チャックテーブルに保持された該旋削工具の旋削バイトが作用する処理位置に位置付ける研摩パッド位置付け工程と、
該研摩パッドを回転しつつ該移動手段を作動して該チャックテーブルと該研摩パッドとを相対移動することにより該旋削工具の旋削バイトによって該研摩パッドの研摩面を旋削する旋削工程と、を含み、
該旋削工程において、該研摩送り手段は該研摩パッドの研摩面の傾斜に対応して該研摩パッドを該チャックテーブルの保持面に対して垂直な方向に移動せしめる、
ことを特徴とする研摩パッドの処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009005951A JP5356837B2 (ja) | 2009-01-14 | 2009-01-14 | 研磨パッドの処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009005951A JP5356837B2 (ja) | 2009-01-14 | 2009-01-14 | 研磨パッドの処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010162637A JP2010162637A (ja) | 2010-07-29 |
JP5356837B2 true JP5356837B2 (ja) | 2013-12-04 |
Family
ID=42579242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009005951A Active JP5356837B2 (ja) | 2009-01-14 | 2009-01-14 | 研磨パッドの処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5356837B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5484172B2 (ja) * | 2010-04-19 | 2014-05-07 | 株式会社ディスコ | 研磨パッドのテーパ面形成方法 |
JP2011224697A (ja) * | 2010-04-19 | 2011-11-10 | Disco Corp | 研磨パッドの修正方法 |
JP5777383B2 (ja) * | 2011-04-14 | 2015-09-09 | 株式会社ディスコ | 研磨パッド及び該研磨パッドを使用した板状物の研磨方法 |
JP2019141925A (ja) * | 2018-02-16 | 2019-08-29 | 株式会社ディスコ | 研磨加工方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0899265A (ja) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Disco Abrasive Syst Ltd | 研磨装置 |
JP2000190204A (ja) * | 1998-12-28 | 2000-07-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 研磨方法と装置、それらに用いる目立て方法、研磨具 |
JP3675237B2 (ja) * | 1999-07-09 | 2005-07-27 | 株式会社東京精密 | 平面加工装置 |
KR100449630B1 (ko) * | 2001-11-13 | 2004-09-22 | 삼성전기주식회사 | 화학기계적 연마장치의 연마패드 컨디셔닝 장치 |
JP4733943B2 (ja) * | 2004-08-23 | 2011-07-27 | 株式会社ディスコ | 研磨パッドのドレッシング方法 |
JP5127270B2 (ja) * | 2007-03-09 | 2013-01-23 | 株式会社ディスコ | ドレッシング方法およびドレッサボード |
-
2009
- 2009-01-14 JP JP2009005951A patent/JP5356837B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010162637A (ja) | 2010-07-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5179158B2 (ja) | ドレッサボード | |
JP2007210074A (ja) | 研削装置および研磨装置、並びに研削方法および研磨方法 | |
JP2011062759A (ja) | 両面研磨装置の研磨布の研削方法及び研削装置 | |
JP5356837B2 (ja) | 研磨パッドの処理方法 | |
JP2018062048A (ja) | 保持テーブルの保持面形成方法、研削装置及び研削ホイール | |
JP5898982B2 (ja) | 研削装置 | |
JP5943766B2 (ja) | 研削装置 | |
JP2005028550A (ja) | 結晶方位を有するウエーハの研磨方法 | |
JP4977493B2 (ja) | 研削砥石のドレッシング方法およびドレッシング工具 | |
JP4927504B2 (ja) | ウエーハの研削方法および研削装置 | |
JP5350127B2 (ja) | 被加工物の研削方法 | |
JP4469707B2 (ja) | 平面研削盤の砥石成形装置を用いて砥石車をドレッシングする方法 | |
JP2012106293A (ja) | ウエーハの研磨方法および研磨装置 | |
JP4977449B2 (ja) | ウエーハの研削方法および研削装置 | |
JP2011031371A (ja) | 複合平面研削装置 | |
JP6851761B2 (ja) | 板状物の加工方法 | |
JP5399829B2 (ja) | 研磨パッドのドレッシング方法 | |
JP2005262385A (ja) | 接触検出装置 | |
JP5484171B2 (ja) | 研磨パッドの溝形成方法 | |
JP2011224697A (ja) | 研磨パッドの修正方法 | |
JP2007260880A (ja) | 砥石車のツルーイング方法及び研削盤 | |
JP2006181697A (ja) | 平面研磨装置及び平面研磨方法 | |
JP5484172B2 (ja) | 研磨パッドのテーパ面形成方法 | |
CN110634737B (zh) | 磨削磨具的修锐方法和修锐用晶片 | |
JP2002127009A (ja) | 研削装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111219 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130514 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130521 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130719 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130806 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130829 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5356837 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |