[go: up one dir, main page]

JP4968260B2 - Ms/ms型質量分析装置 - Google Patents

Ms/ms型質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4968260B2
JP4968260B2 JP2008539671A JP2008539671A JP4968260B2 JP 4968260 B2 JP4968260 B2 JP 4968260B2 JP 2008539671 A JP2008539671 A JP 2008539671A JP 2008539671 A JP2008539671 A JP 2008539671A JP 4968260 B2 JP4968260 B2 JP 4968260B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
collision cell
ions
ion
mass
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008539671A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2008047464A1 (ja
Inventor
大輔 奥村
弘人 糸井
和男 向畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2008539671A priority Critical patent/JP4968260B2/ja
Publication of JPWO2008047464A1 publication Critical patent/JPWO2008047464A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4968260B2 publication Critical patent/JP4968260B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • H01J49/0045Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
    • H01J49/005Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by collision with gas, e.g. by introducing gas or by accelerating ions with an electric field
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/06Electron- or ion-optical arrangements
    • H01J49/062Ion guides

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

本発明は、特定の質量電荷比を有するイオンを衝突誘起解離(CID=Collision-Induced Dissociation)により開裂させ、これにより生成されるプロダクトイオン(フラグメントイオン)の質量分析を行うMS/MS型質量分析装置に関する。
分子量が大きな物質の同定やその構造の解析を行うために、質量分析の1つの手法としてMS/MS分析(タンデム分析)という手法が知られている。図15は特許文献1、2、3などに開示されている一般的なMS/MS型質量分析装置の概略構成図である。
このMS/MS型質量分析装置では、真空排気される分析室10の内部にあって、分析対象の試料をイオン化するイオン源11とイオンを検出してイオン量に応じた検出信号を出力する検出器16との間に、それぞれ4本のロッド電極から成る3段の四重極電極12、13、15が配置されている。第1段四重極電極12には直流電圧U1と高周波電圧V1・cosωtとを合成した電圧±(U1+V1・cosωt)が印加され、これにより発生する電場の作用により、イオン源11で生成された各種イオンの中で特定の質量電荷比m/zを有する目的イオンのみがプリカーサイオンとして選別されて第1段四重極電極12を通過する。
第2段四重極電極13は密閉性が高いコリジョンセル14内に収納されており、このコリジョンセル14内にはCIDガスとして例えばArガスなどが導入される。第1段四重極電極12から第2段四重極電極13に送られたプリカーサイオンはコリジョンセル14内でArガスと衝突し、衝突誘起解離による開裂を生じてプロダクトイオンを生成する。この開裂の態様は様々であるため、通常、1種のプリカーサイオンから質量電荷比の異なる複数種のプロダクトイオンが生成され、これらプロダクトイオンがコリジョンセル14を出て第3段四重極電極15に導入される。また、全てのプリカーサイオンが開裂するとは限らないから、開裂しないプリカーサイオンがそのまま第3段四重極電極15に送り込まれることもある。
第3段四重極電極15には直流電圧U3と高周波電圧V3・cosωtとを合成した電圧±(U3+V3・cosωt)が印加され、これにより発生する電場の作用により、特定の質量電荷比を有するプロダクトイオンのみが選別されて第3段四重極電極15を通過し検出器16に到達する。第3段四重極電極15に印加する直流電圧U3及び高周波電圧V3・cosωtを適宜変化させることで、第3段四重極電極15を通過し得るイオンの質量電荷比を走査し、目的イオンの開裂により生じたプロダクトイオンの質量スペクトルを得ることができる。
従来の一般的なMS/MS型質量分析装置では、イオン流の中心軸であるイオン光軸Cに沿った方向のコリジョンセル14の長さが150〜200mm程度に設定されている。また、コリジョンセル14内のガス圧が数mTorrとなるように、CIDガスの供給量は制御される。しかしながら、こうした比較的高いガス圧の雰囲気にある高周波電場の中をイオンが進行する場合、ガスとの衝突によりイオンの運動エネルギーが減衰し、イオンの飛行速度は低下する。上記従来のMS/MS型質量分析装置におけるコリジョンセル14では、イオンの運動エネルギーの減速領域が長いため、イオンの遅延が大きく、甚だしい場合には減速したイオンが停止してしまうことさえある。
例えば液体クロマトグラフなどのクロマトグラフの検出器としてMS/MS型質量分析装置を用いる場合、所定の時間間隔で繰り返し分析を行う必要があるため、上述のようにイオンの遅延が大きくなると、本来、第3段四重極電極15を通り抜けるべきイオンが通り抜けられなくなる場合があり、検出感度低下の要因となる。また、コリジョンセル14内に残留したイオンが実際には出現する筈のないタイミングで出現することで、ゴーストピークの原因となることもある。また、イオンが検出器16に到達するまでに時間が掛かるために、予めこうした状態を考慮して繰り返し分析の時間間隔を決める必要があり、多成分分析の際に分析漏れが起こる可能性がある。
上記のような様々な問題を回避するために、従来一般的には、コリジョンセル14内でイオンの通過方向に電位勾配を有する直流電場を形成しておき、その直流電場の作用によりイオンを加速することが行われている。しかしながら、そのような加速を行ったとしても、従来の構成では、イオンがコリジョンセル14を通過するのに要する時間が無視できない。そのため、それを考慮して後段の第3段四重極電極15での質量走査の速度を低めに設定する必要があり、1回の質量走査に対するデータを収集するのに時間が掛かる。また、上述のようにイオンの通過方向に電位勾配を有する直流電場を形成する場合には、電位勾配のない一定の直流電場を形成する場合に比べて、電極自体の構造や電圧印加回路の構成が複雑になりコストアップの要因となる。さらにまた、上述のように3段の四重極電極12、13、15を直列的に並べた構成では、装置の小形化が難しいという問題もある。
特開平7−201304号公報 特開平8−124519号公報 米国特許第5248875号明細書
本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その主な目的は、高いイオンCID効率を確保しながら、検出器へイオンが到達するまでの時間を短縮することができるMS/MS型質量分析装置を提供することにある。
また本発明の他の目的は、コリジョンセル内の電極の構成やこれに電圧を印加する電圧印加回路の構成を簡単化しながら、検出器へイオンが到達するまでの時間を短縮することができるMS/MS型質量分析装置を提供することにある。
上述のような従来のMS/MS型質量分析装置では、一般的に、コリジョンセル内に配設される四重極電極として質量分離用の四重極と同じ電極が用いられていたため、コリジョンセルの長さは150〜200mm程度の値に設定されていた。しかしながら、運動エネルギーを持つイオンが不活性ガスに衝突する際の衝突エネルギーにより解離が生じる、という開裂のメカニズムを考えると、イオンが相対的に大きな運動エネルギーを持っている、コリジョンセルの入口から数十mm程度の比較的狭い範囲で高い効率で開裂が生じ、それよりもイオンが進んだ位置では、イオンの開裂が生じるとしてもその開裂は全体のCID効率の中での寄与が小さいものと推測できる。こうした推測に基づけば、コリジョンセルがイオンの通過方向において従来のように長い形状である必要はなく、従来より短くしても十分な効率で以て開裂を起こすことができると考えられる。
そこで、本願発明者は、第1質量分離部−コリジョンセル−第2質量分離部、という3段構成のMS/MS型質量分析装置において、コリジョンセルでのプリカーサイオンのCID効率とイオン光軸に沿う方向でのコリジョンセルの長さとの関係を実験的に調査し、従来の一般的なコリジョンセルに比べて格段に短い51mmの長さでも実用的に十分なCID効率を得られることを確認した。またさらに、実験とそれに基づく理論的な検討を行い、従来の一般的なコリジョンセルの長さの約1/2以下である40mm〜80mmの範囲で実用上十分なCID効率を得られるとの結論を得た。
本発明はこうした知見に基づいて成されたものであり、各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第1質量分離部と、前記プリカーサイオンを所定ガスと衝突させて衝突誘起解離により該プリカーサイオンを開裂させるためのコリジョンセルと、前記プリカーサイオンの開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第2質量分離部とを直列的に配設したMS/MS型質量分析装置において、前記コリジョンセルの内部にイオンの通過方向に電位勾配のない一定の直流電場を形成すると共に、イオン光軸に沿う方向の該コリジョンセルの長さを40〜80mmの範囲の値に定め、さらに前記コリジョンセルの内部でイオンの進行方向に逆行する方向に所定ガスの流れを形成するようにしたことを特徴としている。
本発明に係るMS/MS型質量分析装置の一態様として、イオン光軸に沿う方向のコリジョンセルの長さは51mmに定めることができる。
本発明に係るMS/MS型質量分析装置では、従来に比べてコリジョンセルが半分程度以下と格段に短いため、コリジョンセルをイオンが通過する(厳密にはプリカーサイオンが入射してそれが壊れて出来たプロダクトイオンが出射する)のに要する時間がかなり短縮される。一方、コリジョンセルの内部で、プリカーサイオンが十分に開裂するのに必要な領域長は確保することができる。
従って、本発明に係るMS/MS型質量分析装置によれば、実用上十分なイオンCID効率を維持しながら、イオン源から発したイオンに由来するイオン、つまり特定の質量電荷比を有するプロダクトイオンが、検出器に到達するまでの飛行時間を従来よりも短縮することができる。それにより、例えば後段の第2質量分離部での質量走査の速度を上げ、繰り返し分析の時間間隔を短くして分析を密に行うことができるので、成分の見逃しを軽減することができる。また、第2質量分離部を通過させるべきイオンが時間的に大きなばらつきを持たずに第2質量分離部に到達するため、第2質量分離部での上記イオンの通過効率が向上し、検出感度の改善を図ることができる。
また、コリジョンセル内での不所望のイオンの滞留も回避できるので、質量スペクトル上でのゴーストピークの発生も防止することができる。また、イオン通過方向に電位勾配を有するような直流電場をコリジョンセル内に形成しなくてもイオンの通過時間を短縮できるので、コリジョンセル内に配設する電極の構成を簡単化するとともに、該電極への電圧の印加回路の構成も簡単化することができる。これにより、装置のコストを下げるのに有利である。さらにまた、コリジョンセルが短いため、装置全体の小形化にも有利である。
また本発明の構成によれば、コリジョンセルに入射したプリカーサイオンに対し所定ガスが衝突する際にプリカーサイオンが受けるエネルギーをより大きくすることができるので、相対的に低いガス圧で以て高いCID効率を達成することができる。これにより、分析室内を真空排気する真空ポンプの排気能力をそれほど上げずに済むのでコストの点で有利である。
本発明の参考例によるMS/MS型質量分析装置の全体構成図。 参考例のMS/MS型質量分析装置におけるコリジョンセルの詳細断面図。 実測により得た質量スペクトルを示す図。 本発明の実施例のMS/MS型質量分析装置におけるコリジョンセルの詳細断面図。 コリジョンセルに用いられる電極の他の形態を示す図。 コリジョンセルに用いられる電極の他の形態を示す図。 コリジョンセルに用いられる電極の他の形態を示す図。 コリジョンセルに用いられる電極の他の形態を示す図。 コリジョンセルに用いられる電極の他の形態を示す図。 コリジョンセルに用いられる電極の他の形態を示す図。 コリジョンセルに用いられる電極の他の形態を示す図。 コリジョンセルに用いられる電極の他の形態を示す図。 コリジョンセルへのプリカーサイオンの入射停止時点からの時間経過とプロダクトイオンの信号強度との関係についての実測結果を示す図。 コリジョンセル内のプリカーサイオンの遅延についての調査結果であるマスクロマトグラムを示す図。 従来のMS/MS型質量分析装置の全体構成図。
符号の説明
10…分析室
11…イオン源
12…第1段四重極電極
15…第3段四重極電極
16…検出器
20…コリジョンセル
21…イオン入射開口
22…イオン出射開口
23…八重極電極
231…ロッド電極
24…供給管
24a…ガス噴出口
30…CIDガス供給部
32、33、34…RF+DC電圧発生部
C…イオン光軸
参考例
本発明の実施例を説明する前に、コリジョンセルの構成が類似した参考例によるMS/MS型質量分析装置について、図面を参照して説明する。図1は本参考例によるMS/MS型質量分析装置の全体構成図、図2は参考例のMS/MS型質量分析装置におけるコリジョンセルの詳細断面図である。図15に示した従来の構成と同じ構成要素については同一符号を付して詳しい説明を省略する。
本参考例のMS/MS型質量分析装置では、従来と同様に、第1段四重極電極(本発明における第1質量分離部に相当)12と第3段四重極電極(本発明における第2質量分離部に相当)15との間に、プリカーサイオンを開裂させて各種プロダクトイオンを生成するためにコリジョンセル20が配置されている。このコリジョンセル20は、図2に示すように、イオン入射開口21とイオン出射開口22のほかはほぼ密閉された構造体であり、その内部には、八本の円筒形状のロッド電極231をイオン光軸Cを取り囲むように配置した八重極電極23が設けられている。従来、イオン光軸Cに沿う方向のコリジョンセル20の長さは150〜200mmであったのに対し、この参考例の装置では、コリジョンセル20の内空間の長さ(イオン入射開口21側内壁面とイオン出射開口22側内壁面との間の距離)Lを51mm、八重極電極23のロッド電極231の長さL1を50mm、ロッド電極231の端面とコリジョンセル20の内壁面との間隙の長さL2、L3をそれぞれ0.5mmに定めており、従来に比べてコリジョンセル20はかなり短いものとなっている。
第1段四重極電極12には第1RF(高周波電圧)+DC(直流電圧)電圧発生部32から、直流電圧U1と高周波電圧V1・cosωtとを合成した電圧±(U1+V1・cosωt)、或いはこれにさらに所定の直流バイアス電圧Vbias1を加算した電圧±(U1+V1・cosωt)+Vbias1が印加され、第3段四重極電極15には第3RF+DC電圧発生部34から、直流電圧U3と高周波電圧V3・cosωtとを合成した電圧±(U3+V3・cosωt)、或いはこれにさらに所定の直流バイアス電圧Vbias3を加算した電圧±(U3+V3・cosωt)+Vbias3が印加される。これは従来と同じである。また、八重極電極23を構成する8本のロッド電極231は、イオン光軸Cを中心とする周方向に1本おきの4本を1組とし、2つの組の一方には第2RF+DC電圧発生部33から、直流バイアス電圧U2と高周波電圧V2・cosωtとを合成した電圧U2+V2・cosωtが印加され、2つの組の他方には同じく第2RF+DC電圧発生部33から上記直流バイアス電圧Uと上記高周波電圧V2・cosωtとは逆極性の高周波電圧−V2・cosωtとを合成した電圧U2−V2・cosωtが印加される。
Arガス等のCIDガスはCIDガス供給部30からバルブ31を介してコリジョンセル20に供給され、これによってコリジョンセル20内部はその外部の分析室10内のガス圧よりも高い、ほぼ一定のガス圧に維持される。このガス圧は例えば従来のコリジョンセル内のガス圧と同程度の数mTorr程度でよいが、CID効率を上げるためにさらにガス圧を高くしてもよい。
上記構成のMS/MS型質量分析装置では、イオンの通過方向におけるコリジョンセル20内の空間、つまりはイオン入射開口21から入射して来たイオンがCIDガスに衝突するための空間が従来に比べれば短いが、それでも実用上十分なCID効率を得ることができる。この点を実験で確認した結果について説明する。図3は実測により得た質量スペクトルであり、(a)はプリカーサイオンの選別及びプリカーサイオンの開裂を行わない場合の質量スペクトル、(b)は質量電荷比609のイオンをプリカーサイオンとして選別した上で開裂を行った場合の質量スペクトル(つまりプロダクトイオンの質量スペクトル)である。コリジョンセル20や八重極電極23のサイズは上述の通りであり、ガス圧は3mTorr、コリジョンエネルギーは40eVである。
いま図3(b)の質量スペクトルに現れているプロダクトイオンが全て質量電荷比609のプリカーサイオン由来のプロダクトイオンであるとすると、CID効率Pは次のようになる。
P=(プロダクトイオン強度の和)/(プリカーサイオン強度)=1675317/1747771 ×100=95.8[%]
ここで用いたプロダクトイオン強度和は目的とする質量電荷比609ではない質量電荷比607由来のプロダクトイオンの強度も含めて計数している可能性もあるものの、それを考慮して計算し直してもCID効率は60%を超えるので十分に実用的なレベルである。
このようにコリジョンセルを従来に比べて短くしても十分なCID効率を確保できる理由は明確に解明されているわけではないが、CIDによる開裂のメカニズムから考えて次のように推測できる。即ち、従来一般的なコリジョンセルでは、その内部に配設する電極として、コリジョンセルの前段又は後段の質量分離用の四重極電極が利用されることが多い。そのため、その四重極電極の長さに合わせてコリジョンセルの長さが決められており、電極として上記のような四重極電極を利用しない場合であってもコリジョンセルの長さが大きく変更されることはなかった。しかしながら、コリジョンセルに入射してきたプリカーサイオンがCIDガスと衝突し、その衝突エネルギーによってプリカーサイオンの結合が切れて開裂を生じる、という開裂のメカニズムから推測すれば、プリカーサイオンが相対的に大きな運動エネルギーを有している、コリジョンセルのイオン入射開口に近い位置において開裂は生じ易いものと考えられる。換言すれば、イオンの通過方向にコリジョンセルが長くても、イオンが奥深く進行した範囲(位置)では開裂が相対的に起こりにくいと言える。従って、イオンの通過方向にコリジョンセルが或る程度以上の長さを有していれば、或る程度のCID効率を確保することができ、それ以上コリジョンセルが長くてもCID効率の増加はそれほど大きくないと考えられる。
一方、コリジョンセルを短くすることで、イオンがコリジョンセルを通過するのに要する時間はそれだけ確実に短くなる。従って、イオンがイオン源11を出発してから検出器16に到達するまでの所要時間を従来よりも短縮することができる。また、コリジョンセル20内でのイオンの減速が抑制されるため、コリジョンセル20を通過するイオンの遅延による感度低下が軽減される。また、イオンの滞留によるゴーストピークの発生も回避することができる。
上記説明では、コリジョンセル20の長さを実験結果に基づいて51mmに定めていたが、コリジョンセル20の長さについて実用上適当な範囲を定めるために、本願発明者らは、いくつかの実験とそれに基づく検討を行った。その内容と結果について次に説明する。
まず、図1、図2に示したものと同様の配置において、コリジョンセル20の長さ(内空間の長さL)を80mmとし、八重極電極23のロッド電極231の長さL1を79mmとし、CIDガス圧を10mTorr、コリジョンエネルギーを30eVとした。そして、第1段四重極電極12により質量電荷比340であるパパベリン(papaverine、分子式:C2021NO4)をプリカーサイオンとして選別し、これをコリジョンセル20に導入して開裂させた後、質量電荷比が202であるプロダクトイオンを第3段四重極電極15で選別して検出器16により検出するような分析条件を設定した。コリジョンセル20へ上記プリカーサイオンを連続的に入射させている状態から或る時点でその入射を停止させると、それに伴ってコリジョンセル20における上記プロダクトイオンの生成も停止するが、コリジョンセル20内でのプリカーサイオンの遅延が大きければプリカーサイオンの入射停止後もそのプリカーサイオンに由来するプロダクトイオンが暫く生成され続け、該プロダクトイオンが検出される筈である。
そこで、コリジョンセル20へのプリカーサイオンの入射を停止した時点からの時間経過tと質量電荷比202であるプロダクトイオンの信号強度Iとの関係を実測したのが図13である。この結果を見ると、コリジョンセル20へのプリカーサイオンの入射停止後にもコリジョンセル20からのプロダクトイオンの出射は続くが、約4m秒の時間内でプロダクトイオンの出射はほぼ終了することが分かる。なお、ここで示している経過時間tにはコリジョンセル20から出射したイオンが第3段四重極電極15を通過して検出器16に到達するまでの所要時間も含むものの、これはコリジョンセル20内での遅延時間に比べれば無視できる程度に小さい。プロダクトイオンがコリジョンセル20から出射し終わるまでの時間が短いほど、プリカーサイオンの遅延は小さので、好ましい状態であると言えるが、上記出射終了まで時間は5m秒以内であれば実用上殆ど問題はない。従って、上記実験で得られた結果は、プリカーサイオンの遅延を小さくするという観点において許容範囲内である。
また、図14は、上記と同一条件の下で、コリジョンセル20へのプリカーサイオンの入射を開始した時点から6.5m秒経過後の質量電荷比202のマスクロマトグラムのピークを観察した状態(a)と、コリジョンセル20へのプリカーサイオンの入射を停止した時点から6.5m秒経過後の質量電荷比202のマスクロマトグラムのピークを観察した状態(b)とを実測した図である。図14(b)ではプロダクトイオンのピークは殆ど見えず、図14(a)と比較してもピーク相対強度は0.01%程度になっていることから、コリジョンセル20内にプロダクトイオンが残っていないものと判断することができる。即ち、この結果からみても、コリジョンセル20へのプリカーサイオンの入射を停止した時点から6.5m秒経過時点ではコリジョンセル20からのプロダクトイオンの出射は終了していることが分かる。
以上の結果から、コリジョンセル20の長さ(内空間の長さL)を80mmとした場合、コリジョンセル20内で直流電場によるイオンの加速を行わなくても、開裂により生成したイオンが十分に短い時間内でコリジョンセル20から排出されることが分かる。また、上記条件の下でのパパベリンのCID効率は約80%であり、CID効率の点からも問題ないレベルである。従って、コリジョンセル20の長さは80mmでもよく、これよりもコリジョンセル20を長くするとプロダクトイオンがコリジョンセル20から出射し終わるのに5m秒以上の時間を要することが予想されるため、これがコリジョンセル20の長さの上限であると考えることができる。
一方、コリジョンセル20の長さが短い場合には、当然のことながら上述のようなイオンの遅延の問題はないものの、プリカーサイオンの開裂が生じる領域が短くなることでCID効率が低下することが考えられる。従って、コリジョンセル20の長さの下限は主としてCID効率で以て決めることができる。CID効率はコリジョンセル20の長さに依存するほか、コリジョンセル20内の真空度(CIDガス圧)などにも大きく依存する。従って、コリジョンセル20を短くすることでCID効率が落ちても、CIDガス圧を上げることでCID効率の低下を補うことができる。但し、分析室10内の真空度は維持する必要があるため、CIDガス圧を上げるためにCIDガスの供給量を増加させると真空排気能力も上げる必要が生じ、より能力の高い真空ポンプを使用しなければならなくなるとコストが大幅に増加する。本願発明者の実験によれば、こうしたコスト的な大きな負担を伴わないCIDガス圧の増加によるCID効率、つまりは感度の改善の効果は15%程度見込むことができる。また、イオンの透過効率は質量電荷比依存性があるため、CID効率も質量電荷比、つまり分析対象のサンプルに依存する。例えばマクロライド系抗生物質であるエリスロマイシンは上記パパベリンに比べてCID効率が40%程度増加することが確認できる。パパベリンは比較的透過効率が悪い物質であるため、これより透過効率の良い物質を標準的な分析対象物質として想定することができる。そこで、上記のようなCIDガス圧増加による改善効果と合わせて、パパベリンを用いた実験結果よりも20%程度のCID効率の改善を見込むことができる。
一般的に、CID効率Pは理論的には次のような計算式に従う。
P[%]=1−exp(−A・X)×100
ここでXはコリジョンセルの長さ、AはCIDガス圧等のコリジョンセルの長さ以外の要因で決まる定数である。ここでは、上記コリジョンセル20の長さが80mmである場合にCID効率が80%であるという実験結果に基づいて上記定数Aを算出し、このAを上記式に導入してCID効率の導出式を作成した。さらに、上述したようにCIDガス圧の増加及びサンプルの種類の相違によるCID効率の改善効果を見込んで導出式を修正する。この修正式によれば、コリジョンセル20の長さが43mmであるときにCID効率は約70%となり、40mmであるときにCID効率は約66%となる。実用上どの程度のCID効率が必要であるのかは分析目的などによっても異なるが、概略的に言えば65%程度以上は必要であると考えられる。そうしたことから、コリジョンセル20の長さはCID効率の点において40mm程度以上であることが望ましい。
以上のような実験とそれに基づく検討により、望ましいコリジョンセル20の長さの範囲としてはおおよそ40〜80mmであると考えることができ、上述した51mmという長さはプリカーサイオンの遅延とCID効率とのバランスを考えたときに最適に近い値である考えられる。
以上のように上記参考例によるMS/MS型質量分析装置では、コリジョンセルの長さを従来に比べて格段に短くすることで、イオンが検出器に到達するまでの時間を短縮しながら、実用上十分なCID効率を確保することができる。
[実施例]
本発明の実施例であるMS/MS型質量分析装置について、図面を参照して説明する。実施例では上記参考例とコリジョンセルの構成が一部異なるだけであるので、この構成を図4により説明する。
図4に示すように、この実施例のコリジョンセル20ではCIDガスを供給するための供給管24のガス噴出口24aが前方に屈曲された構造となっている。そのため、ガス噴出口24aからコリジョンセル20内に噴出するCIDガスは、図中に点線矢印で示すように、イオンの進行方向と逆行する方向に進む。それにより、上記参考例の構成に比べて、コリジョンセル20内に導入されたイオンはより大きなエネルギーを持つCIDガスに衝突することとなり、開裂の効率が高まる。従って、イオンが通過する方向のコリジョンセル20の長さが従来より短くても、CID効率を維持するのに有効である。
[変形例]
コリジョンセル20内に配置される高周波電場形成用の電極の構造は、上記実施例のように八重極電極に限らず、従来知られている各種構造を含んで様々に変形が可能である。具体的には、四重極電極、六重極電極などの八重極電極以外の多重極の構成としてもよい。こうした単純な多重極の構成ではイオン光軸C方向に一定の直流電場となる。コリジョンセルが短いため、一定の直流電場であっても短い時間でコリジョンセル内にイオンを通過させることができる。
また、図5〜図12にそれぞれ示すような異なる構造の電極を用いてもよい。これら変形例はいずれもイオン光軸Cに沿った方向に電位勾配を持つ直流電場を形成し、それによってイオンを加速することが可能な構成である。なお、図6〜図10の構成は例えば米国特許第5847386号明細書などに開示されているものであり、図11の構成は例えば特許3379485号公報などに開示されているものである。
図5に示した電極40は、四重極電極の4本のロッド電極の代わりに、それぞれ円板状の電極(例えば401a、401b、401c)をイオン光軸Cに沿って所定間隔離して複数(この例では3枚)配置した例である。この3枚の電極を1本のロッド電極とみなして電圧を印加するようにしてもよいが、イオン光軸Cに沿う方向にそれぞれ異なる直流電圧を印加することでイオン加速用の直流電場を形成することもできる。
図6に示した電極41は、主四重極電極411の入口側及び出口側にそれぞれ4本1組の補助ロッド電極から成る補助四重極電極412、413を配置した構成である。この構成では、補助四重極電極412、413にそれぞれ印加する直流電圧を適宜に設定することでイオン加速用の電場を形成することができる。
図7に示した電極42は、主四重極電極421に4本1組でイオン光軸Cに平行ではなくイオン進行方向に傾斜する補助ロッド電極から成る補助四重極電極422を配置した構成である。この構成では、補助四重極電極422に或る直流電圧を印加すると、イオン光軸C付近ではイオン加速用の電場を形成することができる。
図8に示した電極43は、四重極電極を構成する各ロッド電極を、イオン光軸Cに沿う方向に複数に分割して短い長さのロッド電極(例えば431a〜431e)を狭い間隙を挟んで並べたものである。
図9に示した電極44は、四重極電極441を囲むように円筒形状の電極442を2段に設けた構成であり、2つの電極442にそれぞれ印加する直流電圧を適宜に設定することでイオン加速用の電場を形成することができる。
図10に示した電極45は、円環状の電極451をイオン光軸Cに沿った複数枚並べた構成である。さらに図11に示した電極46は、複数(この例では5枚)の円板状の電極板(例えば461a〜461e)の径をイオン光軸Cに沿って順次縮小するとともに、イオン光軸Cに近付くように配置した構成である。
さらにまた、図12に示した電極47は、同心的に径の異なる円環状の電極をイオン光軸Cに直交する面内に並べたものであり、これがコリジョンセル20内のイオン出射開口22に近い位置に設けられている。径方向に隣接する電極には極性が反転した高周波電圧が印加され、さらに周囲から中央に向かってイオンが移動するような直流電場を形成するための直流バイアス電圧が各電極に印加される。
また上記実施例や変形例はいずれも本発明の一例であるから、上記記載以外に本発明の趣旨の範囲で適宜に変形、追加、修正を行っても本願請求の範囲に包含されることは明らかである。

Claims (2)

  1. 各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第1質量分離部と、前記プリカーサイオンを所定ガスと衝突させて衝突誘起解離により該プリカーサイオンを開裂させるためのコリジョンセルと、前記プリカーサイオンの開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第2質量分離部とを直列的に配設したMS/MS型質量分析装置において、
    前記コリジョンセルの内部にイオンの通過方向に電位勾配のない一定の直流電場を形成すると共に、イオン光軸に沿う方向の該コリジョンセルの長さを40〜80mmの範囲の値に定め、さらに前記コリジョンセルの内部でイオンの進行方向に逆行する方向に所定ガスの流れを形成するようにしたことを特徴とするMS/MS型質量分析装置。
  2. 請求項1に記載のMS/MS型質量分析装置であって、イオン光軸に沿う方向の前記コリジョンセルの長さを51mmに定めたことを特徴とするMS/MS型質量分析装置。
JP2008539671A 2006-10-19 2007-08-24 Ms/ms型質量分析装置 Active JP4968260B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008539671A JP4968260B2 (ja) 2006-10-19 2007-08-24 Ms/ms型質量分析装置

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006284453 2006-10-19
JP2006284453 2006-10-19
JP2008539671A JP4968260B2 (ja) 2006-10-19 2007-08-24 Ms/ms型質量分析装置
PCT/JP2007/000899 WO2008047464A1 (fr) 2006-10-19 2007-08-24 Analyseur de masse de type ms/ms

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2008047464A1 JPWO2008047464A1 (ja) 2010-02-18
JP4968260B2 true JP4968260B2 (ja) 2012-07-04

Family

ID=39313720

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008539671A Active JP4968260B2 (ja) 2006-10-19 2007-08-24 Ms/ms型質量分析装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8148675B2 (ja)
JP (1) JP4968260B2 (ja)
WO (1) WO2008047464A1 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9673034B2 (en) * 2006-12-08 2017-06-06 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
WO2010089798A1 (ja) * 2009-02-05 2010-08-12 株式会社島津製作所 Ms/ms型質量分析装置
JP5408107B2 (ja) * 2010-11-10 2014-02-05 株式会社島津製作所 Ms/ms型質量分析装置及び同装置用プログラム
GB2497799B (en) * 2011-12-21 2016-06-22 Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh Collision cell multipole
US9887075B2 (en) * 2013-06-07 2018-02-06 Micromass Uk Limited Method of generating electric field for manipulating charged particles
CN107845561A (zh) * 2016-09-18 2018-03-27 江苏可力色质医疗器械有限公司 一种减少交叉干扰的质谱碰撞反应池及分析方法
US10262850B2 (en) 2016-12-19 2019-04-16 Perkinelmer Health Sciences Canada, Inc. Inorganic and organic mass spectrometry systems and methods of using them
US11848184B2 (en) * 2018-12-19 2023-12-19 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
GB201904135D0 (en) * 2019-03-26 2019-05-08 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Interference suppression in mass spectrometers
US11501962B1 (en) 2021-06-17 2022-11-15 Thermo Finnigan Llc Device geometries for controlling mass spectrometer pressures

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004303719A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Hitachi High-Technologies Corp 質量分析計

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4644606A (en) * 1985-04-08 1987-02-24 Mcculloch Corporation Lawn/garden blower/vacuum
US5248875A (en) 1992-04-24 1993-09-28 Mds Health Group Limited Method for increased resolution in tandem mass spectrometry
JP3404849B2 (ja) 1993-12-29 2003-05-12 株式会社島津製作所 Ms/ms型質量分析装置
JPH07240171A (ja) * 1994-02-24 1995-09-12 Shimadzu Corp Ms/ms型質量分析装置
JPH08124519A (ja) 1994-10-21 1996-05-17 Shimadzu Corp Ms/ms質量分析装置用データ処理装置
US5783824A (en) 1995-04-03 1998-07-21 Hitachi, Ltd. Ion trapping mass spectrometry apparatus
JP3495512B2 (ja) 1996-07-02 2004-02-09 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析装置
CA2229070C (en) * 1995-08-11 2007-01-30 Mds Health Group Limited Spectrometer with axial field
US6331702B1 (en) * 1999-01-25 2001-12-18 University Of Manitoba Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use
JP3379485B2 (ja) 1998-09-02 2003-02-24 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP4054493B2 (ja) * 1999-09-20 2008-02-27 株式会社日立製作所 イオン源
US6781117B1 (en) * 2002-05-30 2004-08-24 Ross C Willoughby Efficient direct current collision and reaction cell
DE112004000453B4 (de) * 2003-03-19 2021-08-12 Thermo Finnigan Llc Erlangen von Tandem-Massenspektrometriedaten für Mehrfachstammionen in einer Ionenpopulation
JP4287261B2 (ja) * 2003-12-05 2009-07-01 本田技研工業株式会社 動力送風機
US7868289B2 (en) * 2007-04-30 2011-01-11 Ionics Mass Spectrometry Group Inc. Mass spectrometer ion guide providing axial field, and method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004303719A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Hitachi High-Technologies Corp 質量分析計

Also Published As

Publication number Publication date
US8148675B2 (en) 2012-04-03
US20100102217A1 (en) 2010-04-29
WO2008047464A1 (fr) 2008-04-24
JPWO2008047464A1 (ja) 2010-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4968260B2 (ja) Ms/ms型質量分析装置
JP4877327B2 (ja) 質量分析装置
US7064319B2 (en) Mass spectrometer
EP3411897B1 (en) Segmented linear ion trap for enhanced ion activation and storage
JP6237907B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP5459664B2 (ja) イオン熱化の方法および装置
US7825374B2 (en) Tandem time-of-flight mass spectrometer
US8384028B2 (en) MS/MS mass spectrometer
WO2010044370A1 (ja) 質量分析装置および質量分析方法
US8916819B2 (en) Method and apparatus for improving the throughput of a charged particle analysis system
JP4957805B2 (ja) Ms/ms型質量分析装置
JP5257334B2 (ja) 質量分析装置
JPWO2008044290A1 (ja) Ms/ms質量分析装置
JP6544430B2 (ja) 質量分析装置
CN111656483B (zh) 离子化装置和质谱分析装置
JP5299476B2 (ja) 質量分析装置及びイオンガイド
US20240079224A1 (en) Mass spectrometer
JP3830344B2 (ja) 垂直加速型飛行時間型質量分析装置
JPH08138620A (ja) 質量分析装置
JP2009146913A (ja) 質量分析計

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110308

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110411

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20110411

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110628

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110812

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120306

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120319

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150413

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4968260

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150413

Year of fee payment: 3