JP4397838B2 - 多層相変化型光記録媒体 - Google Patents
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Description
相変化型記録材料は、レーザ光照射による加熱とその後の冷却によって、結晶状態とアモルファス状態の間を相変化し、急速加熱後に急冷するとアモルファスとなり、徐冷すると結晶化するものであり、相変化型光記録媒体は、この性質を情報の記録と再生に応用したものである。
更に光照射による加熱によって起こる記録層の酸化、蒸散又は変形を阻止する目的で、通常、基板と記録層との間に下部保護層(下部誘電体層ともいう)、及び記録層と反射層との間に上部保護層(上部誘電体層ともいう)が設けられている。更に、これらの保護層は、その厚さを調節することによって、記録媒体の光学特性の調節機能を有するものであり、また下部保護層は、記録層への記録時の熱によって基板が軟化するのを防止する機能を併せ持つものである。
このような相変化型光記録媒体を用いて高記録密度化する方法として、例えば使用するレーザ波長を青色領域まで短波長化すること、或いは記録再生を行なうピックアップに用いられる対物レンズの開口数NAを大きくして、光記録媒体に照射されるレーザ光のスポットサイズを小さくすることが提案され、研究、開発が行なわれ、更に実用化されるところまで来ている。
しかし、この2層相変化型光記録媒体については未だ多くの課題が存在している。例えば、レーザ光照射側から見て手前側にある情報層(第1情報層)をレーザ光が十分に透過しなければ、奥側にある情報層(第2情報層)の記録層に情報を記録しそれを再生できないために、第1情報層を構成する反射層は極薄な半透明反射層としなければならない。
記録容量を増大させる流れの他に、記録速度を向上させることも要求されている。記録速度を高める方法として、相変化記録材料の結晶化速度を高めることが挙げられる。これにより、情報を短時間で消去し易くなるという特徴がある。また記録する際にはレーザ光の加熱急冷を極短時間で行なう必要がある。
多層相変化型光記録媒体に関する公知文献としては、記録層にSbTe系材料を用いたもの(特許文献1〜6)、GeBiSbTe系材料を用いたもの(特許文献9)、GeSbTe系材料を用いたもの(特許文献7〜8)などがあるが、本発明で用いたInSbGe系の組成に関する記述はない。
本発明は、このような要求を満たす記録材料を用いた多層相変化型光記録媒体の提供を目的とする。
1) レーザ光の照射によって相変化を起こすことにより情報を記録し得る相変化記録層を含む情報層が複数備えられ、レーザ光が照射される側から見て一番奥側以外の各情報層が、少なくとも下部保護層、相変化記録層、上部保護層、反射層、熱拡散層からなり、該反射層が、Cu、又は、Cuに対してMo、Ta、Nb、Cr、Zr、Ni、Geのうちの少なくとも1つの金属元素を0.6〜2.0重量%添加した材料からなり、前記相変化記録層がその組成をInαSbβGeγ(α、β、γは原子%、α+β+γ=100)とした場合に、以下の要件を満たしていることを特徴とする多層相変化型光記録媒体。
10≦α≦20
65≦β≦85
2≦γ≦20
2) レーザ光が照射される側から見て一番奥側以外の上部保護層が、Snの酸化物を含むことを特徴とする1)記載の多層相変化型光記録媒体。
3) 熱拡散層がInの酸化物を含むことを特徴とする1)又は2)記載の多層相変化型光記録媒体。
4) 熱拡散層にZnの酸化物が混合されていることを特徴とする3)記載の多層相変化型光記録媒体。
5) 熱拡散層にSnの酸化物が混合されていることを特徴とする3)記載の多層相変化型光記録媒体。
従来の記録層の材料開発には、大きく分けて2通りの流れがある。即ち、追記型の記録層材料であるGeTe、及び可逆的に相変化できるSbとTeの合金であるSb2Te3、この2つの材料の固溶体又は共晶組成から発展したGeSbTeの3元合金からなる記録層材料が1つの流れである。もう1つの流れは、同じくSbとTeの合金であるが、SbとSb2Te3との共晶組成であるSb含有量が70%前後となるSbTeに、微量元素を添加した記録層材料である。
2層記録層を有する光記録媒体では、特にレーザ光照射側から見て手前側の情報層は、奥側の情報層の記録及び再生のことを考慮すると、透過率が高いことが要求され、そのために金属層の吸収率を少なくする取り組みと並行して、記録層を薄膜化することが要求される。記録層を薄くしていくと結晶化速度が低下するのは公知であるから、記録材料自体を結晶化速度の速いものにすることが有利である。そのため、この材料系列の流れの中では、後者のSb含有量が70%前後となるSbTe共晶組成の方が好ましい。
ここで転移線速とは、相変化記録層の結晶化速度の代用特性である。記録層を融点以上に加熱することのできる程度のパワーを持つ連続光(DC光)で照射することにより得られる反射率の線速依存性R(v)を取った場合、結晶レベルからアモルファスレベルに変化する線速をいう。転移線速という物理量で代用する理由としては、相変化記録層の結晶化速度の絶対的な値を知ることが困難なためである。
以上説明したように、多層相変化型光記録媒体の相変化記録層において、高速記録が可能で、かつ高い再生光パワーでも再生ができ、保存状態が安定とできる相変化記録層材料としては、少なくともInSbGeの3元系からなるものが好ましい。
本発明1において、Sb量(β)が上記規定範囲にある場合には、相変化を利用した記録材料として安定した記録再生を行なうことができる。Sb量が65原子%未満では安定した記録が行なえず、更に多層の相変化型光記録媒体としては高速記録に向かない記録層となってしまう。Sb量が85原子%よりも多いと、結晶化速度を向上させることができるが結晶化温度が下がり始めてしまい、高い再生光パワーで再生しづらくなり保存状態が不安定である。
Ge量(γ)が上記記載の範囲にある場合では、高パワーでの再生が可能で、保存状態を良好とすることができる。Ge量が2%未満では、Geの効果が現れず保存状態が良好とならない。また、Ge量が20%よりも多いと、結晶化速度が遅くなってしまい高速記録に対応できなくなり、更にはGe自身の融点が高いために記録感度が悪くなってしまうという不具合が生じる。
下部保護層の膜厚は、20〜250nmの範囲にあることが望ましい。20nmより薄い場合は膜厚に対する反射率変動が大きいことから安定に作成することが難しく、250nmより厚い場合は光透過率が低くなり奥の情報層へ光を透過させ難くなるし、成膜時間が長くなり光記録媒体の生産性が落ちる。
本発明1の組成範囲で規定するInSbGeからなる相変化記録層の膜厚は、4〜14nmの範囲にあることが好ましい。4nmよりも薄い場合は均一な膜を作ることが困難となり好ましくない。14nmよりも厚い場合は光透過率が低くなり奥の情報層へ光を透過させ難くなる。
反射層の膜厚は、5〜15nmの範囲にあることが好ましい。5nmよりも薄い場合は均一な膜を作ることが困難となるし、放熱効果が得られ難くなるため好ましくない。15nmよりも厚い場合は反射層による光吸収が大きくなり光透過率が低くなって奥の情報層へ光を透過させ難くなる。
熱拡散層の膜厚は、40〜250nmの範囲にあることが好ましい。40nmよりも薄い場合は極薄の反射層の放熱効果を補う役割を担うことができなくなり記録し難くなる。250nmよりも厚い場合は放熱効果は得られるものの光透過率が低くなり、奥の情報層へ光を透過させ難くなる。
図2のように、記録層が2層含まれる相変化型光記録媒体では、第2情報層に記録再生用のレーザ光をできるだけ多く透過させることが必要である。したがって、第1反射層を考えた場合に考慮されるべき事項として、第1反射層において吸収され難くかつ透過し易い材料が好ましい。そこで本発明者らは、各種の反射膜について波長660nmにおける光学的な測定を行なった。ここではA(吸収率)、R(反射率)、T(透過率)のデータを測定した。測定用サンプルは、0.6mmのポリカーボネート基板上に各金属膜10nmを成膜したものを用いた。その結果は図3のようになった。図3からPt、Pd、Tiは透過率が低く吸収率が高いため第1反射層としては好ましくないことが予想される。
更に、分光透過率の測定結果を図6に示すが、450nm程度の波長域でAgとCuの透過率が交差していることが分かった。これにより、450nm程度の波長域よりも長い波長領域ではCuの方が透過率が高く、660nm付近でのレーザ光に対しては、第1反射層としてCuを用いた方が好適であることが分った。
更に、第1反射層がAg、Cu、Auの3通りの記録媒体に対し、波長660nmにおいて3Tシングルパターンを第1記録層に記録してそのC/Nを測定したところ、図7のような結果となった。第1反射層をCuとした場合に一番高いC/Nが得られ、記録特性の観点から見ても、Cuが好適であることが分かった。
Ta、Nbは、酸素及び窒素との親和力が強い金属であり、酸素及び窒素のゲッター材として使われることがある。元々、金属層の劣化は化学的には酸化であることが多く、特にCuの場合、緑青として知られる反応物は酸化物である。その点からTa、Nbに関してはCuの劣化に対し効果がある。
次に、Mo、Zr、Cr、Ni、Geに関しては、これらの金属を添加すると、再結晶化の際に膜表面や銅の結晶粒界にCuとの合金が析出し、Cuの粒界拡散を抑制するためCuのマイグレーションが阻止され劣化が防止される。
第2反射層は、第1反射層のように半透明である必要は無い。以上のような第1反射層及び第2反射層は、各種の気相成長法、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、プラズマCVD法、光CVD法、イオンプレーティング法、電子ビーム蒸着法などによって形成できる。中でも、スパッタリング法が量産性、膜質等に優れている。
単層相変化型光記録媒体で上部保護層に用いられる材料は、透明で光を良く通し、かつ融点が記録層よりも高い材料からなるものが好ましく、記録層の劣化変質を防ぎ、記録層との接着強度を高め、かつ記録特性を高めるなどの作用を有するもので、特にZnS−SiO2が良く用いられ、ZnS:SiO2=80:20(モル%)が最も好ましい。
しかし、多層相変化型光記録媒体の場合、第1記録層に情報の記録を行なう際に、第1反射層の膜厚が薄いために放熱性が悪くなり記録しづらくなるという不具合が生じる。そのため、第1上部保護層はできるだけ熱伝導性の良い材料を用いた方が良い。したがって、ZnS−SiO2よりも放熱性が高いSnの酸化物を用いることが好ましい。またSnの酸化物に金属系酸化物(例えば、Ta酸化物、Al酸化物)が含まれていても良い。
Snの酸化物を用いることによって、第1反射層の膜厚が比較的薄くても第1記録層にアモルファスマークを形成させ易くなる。Sn酸化物、Ta酸化物、Al酸化物は、それぞれが反射層に対して劣化を促進しない材料であり、組成比率は生産工程、コスト、生産許容時間などにより選択すればよい。但し、Sn酸化物が多い場合は記録に必要なパワーが大きくなる傾向にある。Ta酸化物が多い場合は、成膜速度を低下させない材料ではあるが、第一情報層において記録特性が出難くなる。Al酸化物が多い場合は成膜速度が低下する傾向にある。
なお、第2上部保護層については従来どおりZnS−SiO2を用いても良いし、Snの酸化物を用いても良い。理由は、第2記録層に記録する場合は、第2反射層を充分厚く成膜できるため充分な放熱性が得られるためである。
以上のような第1上部保護層、第2上部保護層、第1下部保護層及び第2下部保護層は、各種の気相成長法、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、プラズマCVD法、光CVD法、イオンプレーティング法、電子ビーム蒸着法などによって形成できる。中でも、スパッタリング法が量産性、膜質等に優れている。
熱拡散層としては、レーザ照射された第1記録層を急冷させるために熱伝導率が大きいことが望まれる。また、奥側の第2情報層が記録再生できるように、レーザ波長での吸収率が小さいことも望まれる。以上のことから、窒化物、酸化物、硫化物、炭化物、弗化物の少なくとも一種を含んでいることが好ましい。例えば、AlN、Al2O3、SiC、SiN、IZO(酸化インジウム−酸化亜鉛)、ITO(酸化インジウム−酸化スズ)、DLC(ダイヤモンドライクカーボン)、BNなどが挙げられる。中でも、IZO(本発明4に対応)、若しくはITO(本発明5に対応)が最も好ましい。
まず、ITO(酸化インジウム−酸化スズ)に含まれている酸化スズは、1〜10重量%含まれていることが好ましい。この範囲より少ないか又は多いと、熱伝導率及び透過率が低下してしまう。また、保存安定性の向上などを目的に他の元素を添加しても良い。これらの元素は、光学的性質に影響を与えない範囲で添加することができ、0.1〜5重量%含まれていることが好ましい。0.1重量%より少ないと効果が得られなくなるし、5重量%より多いと、光吸収が大きくなり透過率が減少してしまう。また、情報の記録再生に用いるレーザ光の波長において、吸収係数が1.0以下、更には、0.5以下であることが好ましい。1.0よりも大きいと第一情報層での吸収率が増大し、第2情報層の記録再生が困難になる。
また、ITO(酸化インジウム−酸化スズ)の代りに、IZO(酸化インジウム−酸化亜鉛)を用いると、光記録媒体中での内部応力が小さくなるため、極微少な膜厚の変化などが起こり難くなり好ましい。
以上のような熱拡散層は、各種の気相成長法、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、プラズマCVD法、光CVD法、イオンプレーティング法、電子ビーム蒸着法などによって形成できる。中でも、スパッタリング法が量産性、膜質等に優れている。
樹脂としては、例えばポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコン系樹脂、フッ素系樹脂、ABS樹脂、ウレタン樹脂などが挙げられるが、成形性、光学特性、コストの点で優れるポリカーボネート樹脂やポリメチルメタクリレート(PMMA)などのアクリル系樹脂が好ましい。
第1基板上の情報層を形成する面には、必要に応じてレーザ光のトラッキング用のスパイラル状又は同心円状の溝などであって、通常グルーブ部及びランド部と称される凹凸パターンが形成されていてもよく、これは射出成形法又はフォトポリマー法などによって形成される。第1基板の厚さは、10〜600μm程度が好ましい。
第2基板の材料としては、第1基板と同様の材料を用いても良いが、記録再生光に対して不透明な材料を用いてもよく、第1基板とは材質や溝形状が異なってもよい。第2基板の厚さは特に限定されないが、第1基板の厚さとの合計が1.2mmになるように厚さを選択することが好ましい。
成膜工程では、図2において、第1基板のグルーブが設けられた面に第1情報層を、第2基板のグルーブが設けられた面に第2情報層をそれぞれ成膜する。第1情報層、第2情報層は、前述した各種気相成長法で形成できる。中でも、量産性、膜質等に優れたスパッタリング法は、一般にアルゴンなどの不活性ガスを流しながら成膜を行なうが、その際、酸素、窒素などを混入させながら反応スパッタリングさせても良い。
初期化工程では、第1情報層、第2情報層に対して、レーザ光などのエネルギー光を照射することにより全面を初期化、即ち記録層を結晶化させる。初期化工程の際にレーザ光エネルギーにより膜が浮いてきてしまう恐れのある場合には、初期化工程の前に、第1情報層、第2情報層の上にUV樹脂などをスピンコートし、紫外線を照射して硬化させ、オーバーコートを施しても良い。また、次の密着工程を先に行なった後に、第1基板側から第1情報層、第2情報層を初期化させても構わない。
密着工程では、第1情報層と第2情報層とを向かい合わせながら、第1基板と第2基板とを中間層を介して貼り合わせる。例えば、何れか一方の膜面にUV樹脂を塗布し、膜面同士を向かい合わせて両基板を加圧、密着させ、紫外線を照射して樹脂を硬化させることができる。
直径12cm、厚さ0.6mmで、片面にトラックピッチ0.74μmの連続溝によるトラッキングガイドの凹凸を持つポリカーボネート樹脂からなる第1基板上に、ZnS(80モル%)−SiO2(20モル%)からなる膜厚220nmの第1下部保護層、In 20 Sb65Ge15からなる膜厚8nmの第1記録層、SnO2(90モル%)−Ta2O5(10モル%)からなる膜厚12.5nmの第1上部保護層、Cuからなる膜厚8nmの第1反射層、In2O3(90モル%)−ZnO(10モル%)からなる膜厚140nmの熱拡散層の順に、Arガス雰囲気中のスパッタリング法で成膜した。
一方、第1基板と同じ基板を第2基板として、第2基板上に、Agからなる膜厚140nmの第2反射層、SnO2(80モル%)−Ta2O5(4モル%)−Al2O3(16モル%)からなる膜厚11nmの第2上部保護層、Ag0.2In3.5Sb71.4Te21.4Ge3.5からなる膜厚14nmの第2記録層、ZnS(80モル%)−SiO2(20モル%)からなる膜厚120nmの第2下部保護層の順に、Arガス雰囲気中のスパッタリング法で成膜した。
次に、第1情報層、第2情報層に対して、それぞれ第1基板側、第2情報層膜面側からレーザ光を照射し、初期化処理を行なった。初期化は、半導体レーザ(発光波長810±10nm)から出射されるレーザ光を、光ピックアップ(NA=0.55)により集光することにより行なった。初期化条件は、CLV(線速度一定)モードにより光記録媒体を回転させ、線速3m/s、送り量36μm/回転、半径位置23mm〜58mm、初期化パワー700mWとした。
次に、第1情報層の膜面側上に紫外線硬化樹脂(日本化薬製カヤラッドDVD576M)を塗布し、第2基板の第2情報層面側を貼り合わせてスピンコートし、第1基板側から紫外線光を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させて中間層とし、2つの情報層を有する2層相変化型光記録媒体を作成した。中間層の厚さは45μmとした。
第1記録層へ記録を行なう際の記録線速は7m/sとした。
第1記録層の組成を表1に記載のものに変えた点以外は、実施例1と同様にして実施例2〜10、及び比較例1〜4の各2層相変化光記録媒体を作製した。第1記録層へ記録を行なう際の記録線速は表1のとおりとした。
結果を纏めて表1に示したが、第1記録層の組成が本発明の範囲を外れると、8Tシングルパターン記録時のC/N比が不合格になったり、保存特性が×になることが分る。
第1記録層の組成をIn15Sb80Ge5に変え、第1反射層をCuに対して表2に記載の金属を表2に記載の割合で添加したものに変えた点以外は、実施例1と同様にして実施例11〜17及び比較例5〜7各2層相変化光記録媒体を作製した。
これらの媒体について、実施例1と同様にして保存特性を調べた。
評価基準は、80℃85%RHで100時間保存後に、C/N比の低下が1.5dB以下(変化量が−1.5dB以下)の場合を合格、1.5dB以上の場合を不合格とした。
結果を表2に示すが、比較例では、変化量が−1.5dBを超えていることが分かる。
なお、上記各媒体について、実施例1と同様にして保存試験前に8Tシングルパターン記録を行なったところ、何れもC/N比50dB以上が得られた。
R 反射率
T 透過率
A 吸収率
Claims (5)
- レーザ光の照射によって相変化を起こすことにより情報を記録し得る相変化記録層を含む情報層が複数備えられ、レーザ光が照射される側から見て一番奥側以外の各情報層が、少なくとも下部保護層、相変化記録層、上部保護層、反射層、熱拡散層からなり、該反射層が、Cu、又は、Cuに対してMo、Ta、Nb、Cr、Zr、Ni、Geのうちの少なくとも1つの金属元素を0.6〜2.0重量%添加した材料からなり、前記相変化記録層がその組成をInαSbβGeγ(α、β、γは原子%、α+β+γ=100)とした場合に、以下の要件を満たしていることを特徴とする多層相変化型光記録媒体。
10≦α≦20
65≦β≦85
2≦γ≦20 - レーザ光が照射される側から見て一番奥側以外の上部保護層が、Snの酸化物を含むことを特徴とする請求項1記載の多層相変化型光記録媒体。
- 熱拡散層がInの酸化物を含むことを特徴とする請求項1又は2記載の多層相変化型光記録媒体。
- 熱拡散層にZnの酸化物が混合されていることを特徴とする請求項3記載の多層相変化型光記録媒体。
- 熱拡散層にSnの酸化物が混合されていることを特徴とする請求項3記載の多層相変化型光記録媒体。
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