JP3896914B2 - 溶接構造、及びそれを用いた溶接方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子素子のリード部をアーク溶接するための導電板の溶接構造、及びそれを用いた溶接方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に電装品の回路に使用される電子素子には、当該回路へ電気的に接続するためのリード部が設けられ、このリード部が回路を構成するバスバー等の導電板へ接続されている。この接続は、従来リード部と導電板との接続箇所を溶接することよって行なわれていた。この種の溶接は、導電板の一部を溶融させ、電子素子のリード部を被覆させることによって、当該リード部と導電板とを電気的に接続するとともに、リード部を導電板へ固定させるようにしていた。
【0003】
以上のような溶接を行なうのに適した導電板の構造として、特開平6−325803号公報に開示されるビーム溶接端子構造が知られている。
【0004】
図6は、従来のビーム溶接端子構造1の一部を省略して示す斜視図であり、(A)は溶接前の状態、(B)は溶接後の状態をそれぞれ示している。
【0005】
図6の(A)を参照して、ビーム溶接端子構造1は、底壁2と、この底壁2の両端部に立設した一対の挟持壁3とを備え、これら底壁2と各挟持壁3によって、電線4を収容するための電線収容部5が区画されている。この電線収容部5の深さ寸法(すなわち、底壁2の上面から挟持壁3の上面までの寸法)は、電線4の直径寸法と略同一に設定されている。そのため、電線4は、挟持壁3に挟持されるとともに、底壁2上に載置されると、電線収容部5から上方へ露出することなく当該電線収容部5へ収容されるようになっている。また、一方の挟持壁3の上面には、当該挟持壁3の幅よりも小幅寸法に設定された突出部3aが立設されている。このように構成されたビーム溶接端子構造1の電線収容部5には電線4が収容され、突出部3aの下方部へ矢印Y1のようにレーザーが照射される。
【0006】
図6の(B)を参照して、レーザーが照射されると、電線4と挟持壁3との接触部に熱エネルギーが発生し、当該熱エネルギーによって、上記突出部3aと挟持壁3との連結部近傍が溶融され、当該突出部3aが電線4側に撓むとともに、突出部3a自体が溶融して、突出部3aが電線4を被覆する。このように突出部3aが電線4を被覆することによって、ビーム溶接端子構造1と電線4とが電気的に接続されるとともに、レーザー照射後に突出部3aが固化することによって、当該突出部3aの固化部分が電線4をビーム溶接端子構造1へ固定させる。
【0007】
ところが、上述のビーム溶接端子構造1を使用してリード部と導電板とを溶接するには、溶接箇所へレーザーを照射するためのレーザー溶接機が必要となる。この種のレーザー溶接機は、非常に高価なものであり、多種類ある溶接工程を並行して行なう場合、その溶接工程毎にレーザー溶接機を手配する必要があり、その設備投資が多大なものとなる。そこで、より安価な溶接機であるアーク溶接機を使用したアーク溶接によって電子素子と導電板とを接続することが要請されていた。
【0008】
上記アーク溶接機は、その電極と溶接対象となる導電板とを近接させることによって、当該導電板と電極間にアークを発生させ、導電板に熱エネルギーを発生させて溶融することができる。このように導電板が溶融されることによって、電子素子と導電板とが接続される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述のようなビーム溶接端子構造1と電線4とをアーク溶接によって接続するのに際し、図7に示すような不具合があった。
【0010】
図7は、図6のビーム溶接端子構造1と電線4とをアーク溶接によって接続する状態の一部を省略して示す斜視図である。
【0011】
図7を参照して、アーク溶接機の電極から発生するアークは、上述のレーザーと異なり近接する導電部を指向する傾向がある。このため、図6の(A)の矢印Y1に示す位置へ発生させようとしても、ビーム溶接端子構造1の不規則な位置へ発生してしまうおそれがあった。
【0012】
例えば、矢印Y2及びY3で示すように、アークが突出部3aの上端部へ発生してしまう場合がある。このような場合、当該アークによって溶融された突出部3aが電線4と反対側(すなわち電線収容部5の外側)へ撓んでしまうことがあり、このようになると電線4を被覆することができず、その結果電線4がビーム溶接端子構造1へ接続されない。また、仮に溶融された突出部3aが電線4側へ撓んだ場合でも、矢印Y2へアークが発生した場合と矢印Y3へアークが発生した場合とで、突出部3aの溶融状態が異なるとともに、電線4に対する被覆状態が異なり、ビーム溶接端子構造1と電線4との接続強度が異なってしまうおそれがあった。
【0013】
一方、矢印Y4で示すように、アークが電線4へ発生した場合、当該アークによってビーム溶接端子構造1へ熱エネルギーを伝導して突出部3aを溶融させなければならないため、その熱伝導に時間を要し、ビーム溶接端子構造1と電線4との接続が不安定となるだけでなく、当該熱エネルギーによって電線4を破損してしまうおそれがあった。
【0014】
以上のように、ビーム溶接端子構造1へ電線4をアーク溶接で接続する場合、矢印Y2〜Y4のように、アークの発生位置が不安定となるため、ビーム溶接端子構造1と電線4との接続状態が不安定となるとともに、当該接続状態に再現性がなく、さらに電線4を破損してしまうという不具合を引き起こすおそれがあった。
【0015】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、安定した位置へアークを発生させることができ、電子素子を破損することなく、再現性をもって電子素子と導電板とをアーク溶接することができる溶接構造及び、それを用いた溶接方法を提供することを目的としている。
【0016】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明は、電子素子のリード部を導電板へアーク溶接する溶接方法であって、
上記導電板の先端部を板幅方向で先窄まりの形状とする一対の斜辺部と、
これらの斜辺部の交差位置で当該斜辺部によって導電板に形成される頂点部と、
一方の斜辺部から導電板の板幅方向の中央に向けて設けられ、上記リード部を収容可能なスリットと、
このスリットと上記頂点部を含む導電板の先端部との間にスリットの開口部を閉塞するのに必要な容積を有する溶融部を設けた溶接構造に対し、
上記導電板の先端部へアークを発生させ、溶融部を溶融させることによって、当該溶融部の溶融した材料がスリット内を充填する溶接工程を含むことを特徴とする溶接方法である。
【0017】
この発明によれば、導電板の先端部には、一対の斜辺部によって、頂点部が形成されている。これらの斜辺部の一方には、導電板の板幅方向の中央に向けてスリットが設けられ、このスリットへ電子素子のリード部が収容されるようになっている。また、このスリットと上記頂点部を含む導電板の先端部との間には、スリットの開口部を閉塞するのに必要な容積を有する溶融部が設けられている。すなわち、本発明の溶接構造は、導電板の先端部側から順に頂点部、溶融部、スリット(リード部)が設けられている。
【0018】
このような溶接構造へアーク溶接を行なう際には、上記導電板の先端部へ向けてアークを発生させる。上述したように近接する導電部を指向する傾向を有するアークは、上記一対の斜辺部によって先窄まりの形状とされた導電板の先端部へ向けて発生すると、頂点部へ向かうこととなる。アークが頂点部へ発生すると、当該頂点部に熱エネルギーが発生し、上記溶融部が溶融する。上述のように、導電板には、溶融部とスリットが連設されているため、溶融部の溶融した材料は、スリット内へ充填され、当該スリット内のリード部を被覆する(溶接工程)。溶融部の溶融した材料に被覆されたリード部は、導電板へ電気的に接続されるとともに、当該導電板へ固定される。このような溶接工程によって、導電板と電子素子とをアーク溶接することができる。
【0019】
以上のように、本発明の溶接方法は、上述した溶接構造へ溶接工程を行なうことによって、安定して頂点部へアークを発生させることができる。そのため、電子素子へアークを発生させることなく当該電子素子と導電板とを溶接して、電子素子の破損を防止することができるとともに、再現性をもって電子素子と導電板とを溶接することができる。
【0020】
本発明の溶接方法に用いる構造は、電子素子のリード部がアーク溶接される導電板の溶接構造であって、
上記導電板の先端部を板幅方向で先窄まりの形状とする一対の斜辺部と、
これらの斜辺部の交差位置で当該斜辺部によって導電板に形成される頂点部と、
一方の斜辺部から導電板の板幅方向の中央に向けて設けられ、上記リード部を収容可能なスリットとを備え、
このスリットと上記頂点部を含む導電板の先端部との間にスリットの開口部を閉塞するのに必要な容積を有する溶融部を設けたことを特徴とする溶接構造である。
【0021】
この発明の溶接構造によれば、導電板の先端部には、一対の斜辺部によって、頂点部が形成されている。これらの斜辺部の一方には、導電板の板幅方向の中央に向けてスリットが設けられ、このスリットへ電子素子のリード部が収容されるようになっている。また、このスリットと上記頂点部を含む導電板の先端部との間には、スリットの開口部を閉塞するのに必要な容積を有する溶融部が設けられている。
【0022】
このように、本発明の溶接構造には、導電板の先端部に頂点部が設けられているため、当該導電板の先端部へ向けて発生されたアークを頂点部へ指向させることができる。頂点部へ指向されたアークは、当該頂点部へ熱エネルギーを発生させ、溶融部を溶融する。上述のように、導電板には溶融部とスリットが連設されているため、溶融部の溶融した材料は、スリット内へ充填されるとともに、当該スリット内のリード部を被覆して、導電板とリード部とを接続する。
【0023】
以上のように、本発明の溶接構造は、安定して頂点部へアークを発生させることができるため、電子素子の破損を防止することができるとともに、再現性をもって電子素子と導電板とを溶接することができる。
【0024】
さらに、上記溶接構造において、上記頂点部から鉛直方向へ向かう直線の近傍にスリットに収容されたリード部の各斜辺部を含む平面での断面形状における重心が位置するように構成されていることが好ましい。
【0025】
この発明によれば、上記頂点部から鉛直方向へ向かう直線の近傍にスリットに収容されたリード部の各斜辺部を含む平面での断面形状における重心が位置するように構成されている。このような溶接構造に対してアーク溶接を行なうと、当該アークによって溶融された溶融部の材料がその自重によって鉛直方向、すなわちリード部側へ移動する。そのため、溶融部の溶融された材料がより速やかにスリットを充填するとともに、リード部を被覆して、効率的にアーク溶接を行なうことができる。
【0026】
【発明の実施の形態】
以下図面を参照して本発明の好ましい実施形態について説明する。
【0027】
図1は、本発明の第一の実施形態に係る溶接構造10の一部を省略して示す斜視図である。
【0028】
図1を参照して、溶接構造10は、回路を形成する導電板11を含んでいる。この導電板11は、導電性を有する短冊状の板状部材である。導電板11の先端部は、折り返されることによって当該導電板11上へ立設された溶接部11aを構成している。なお、導電板11の溶接部11aの立設された側を仮に前方とし、前方からの視点での左右方向を仮に左右方向として、以下説明する。
【0029】
上記溶接部11aの先端部には、一対の斜辺部11bが設けられ、この斜辺部11bによって当該溶接部11aの先端部が板幅方向で先窄まりの形状とされている。これらの斜辺部が交差することによって、溶接部11aの先端部には、頂点部11cが形成されている。本実施形態では、図2の(A)に示すように、上記各斜辺部11bが、それぞれ溶接部11aの同一高さ位置から45°の角度で互いに内側へ向けて設けられている結果、上記頂点部11cが溶接部11aの板幅方向の中心に位置するとともに、当該頂点部11cで各斜辺部11bが直交するように構成されている。
【0030】
また、上記溶接部11aには、左側の斜辺部11bから溶接部11aの板幅方向の中央に向けて切り欠いて形成されたスリット11dが設けられている。このスリット11dは、溶接部11aの前後方向へ貫通する溝であり、前面視で左側の斜辺部11bの垂線方向へ向けて形成されている。また、スリット11dは、電子素子としてのヒューズ12のリード部12aを前後方向へ向けて収容可能に構成されている。このリード部12aは、導電性を有する円柱状の部材である。本実施形態では、スリット11dに収容されたリード部12aの各斜辺部11bを含む平面での断面円形状の中心が上記頂点部11cから鉛直方向へ向かう直線上に位置するようにスリット11dの溝深さが設定されている(図2の(A)参照)。
【0031】
上記スリット11dと頂点部11cを含む溶接部11aの先端部との間には、溶融部11eが設けられている。この溶融部11eは、後述するようにアークによって溶融され、その溶融された材料が上記スリット11dの開口部を閉塞して、当該スリット11dへ収容されたリード部12aを溶接部11aへ固定するのに十分な容積を持つように上記スリット11dと斜辺部11bとによって、区画されている。すなわち、溶融部11eは、その溶融した材料がリード部12aを被覆して、溶接部11aを所望の強度で溶接部11aへ固定するのに十分な容積に設定されている。具体的に本実施形態では、幅寸法aが0.75mm、深さ寸法bが1.2mmのスリット11dへ直径cが0.63mmのリード部12aが収容され、このリード部12aを被覆して溶接部11aへ固定するために、溶融部11eの幅寸法dが0.5mmに設定されている。
【0032】
以上のような溶接構造10に対して図略のアーク溶接機の電極Dを近接して、溶接工程を行なうことによって、溶接部11aとリード部12aとがアーク溶接される。
【0033】
図2は、図1の溶接構造10に対して溶接工程が行なわれている状態を示す正面図であり、(A)はアーク発生中の状態、(B)は溶融部11eが溶融を開始した状態、(C)は溶接工程が終了した状態をそれぞれ示している。
【0034】
図2の(A)を参照して、上記溶接工程では、電極Dを右側の斜辺部11bの上方から溶接部11aへ近接させて、当該電極Dによってアーク放電を行なう。電極Dによって放電されたアークは、近接する導電部へ指向する傾向があるため、溶接部11aの上方へ最も突出した頂点部11cへ指向する。
【0035】
図2の(B)を参照して、電極Dによってアークが発生した頂点部11cには、当該アークによって熱エネルギーが発生し、頂点部11cを含む溶融部11eが溶融を開始する。溶融された溶融部11eは、その自重によってスリット11dの開口部側(すなわち左側)へ撓みつつ、熱エネルギーによって溶融される。
【0036】
図2の(C)を参照して、さらに溶融された溶融部11eの材料は、リード部12aを被覆するとともに、スリット11d内へ充填される。このように、溶融された溶融部11eの材料は、リード部12aを被覆することによって当該リード部12aと電気的に接続されるとともに、その後固化することによってリード部12aと溶接部11aとを固定する。
【0037】
なお、上述のように溶接工程では、電極Dを右側の斜辺部11bの上方から溶接部11aへ近接させることによって、アークを頂点部11cへ指向するようにしている。ここで、電極Dを溶接部11aに対して近接するのに際し、アークを可及的に頂点部11cへ指向することの可能な電極D位置の適正範囲Tが存在する。この適正範囲Tは、溶接部11aの形状に応じて変化するため、以下溶接構造10の形状に基づく適正範囲Tについて説明する。
【0038】
図3は、図1の溶接構造10に対する電極Dの適正範囲Tを示しており、(A)は溶接構造10の正面に対応した適性範囲T、(B)は溶接構造10の右側面に対応した適正範囲T、(C)は溶接構造10の斜視図に対応した適性範囲Tをそれぞれ示したものである。
【0039】
図3の(A)を参照して、適正範囲Tは、上記頂点部11cから右へ0.2mm、上へ0.2mmに位置する基準点Kから右へ0.5mm、下へ0.5mmの位置へ先端部を向けた辺T1と、この辺T1の先端部から右へ0.1mm、上へ0.5mmの位置へ先端部を向けた辺T2と、この辺T2の先端部から上へ0.6mmの位置へ先端部を向けた辺T3と、この辺T3の先端部から左へ0.6mmの位置へ先端部を向けた辺T4と、この辺T4の先端部と上記基準点Kとを結ぶ辺T5とで区画される五角形の範囲である。なお、図示の点描は、各間隔を0.1mmとして示すものである。また、図3の(B)に示すように、適正範囲Tは、前後方向の厚み寸法が0.4mmである。
【0040】
このような適正範囲Tは、図3の(C)に示すように、溶接部11aに対する電極Dの近接位置を毎回変更しながら溶接工程を行い、頂点部11cの前後方向の中心位置Pへアークが発生した場合における電極D位置の範囲を示したものである。換言すれば、適正範囲Tへ電極Dを位置決めすることによって、当該電極Dから発生するアークは、確実に頂点部11cへ発生することとなる。
【0041】
このような適正範囲Tへ電極Dを位置決めするためには、図3の(A)及び(B)に示す適正範囲Tの重心位置Gへ電極Dを位置決めすることが好ましい。電極Dを適正範囲Tの重心位置Gへ位置決めすると、電極Dは、前後左右各方向において、最小でも±0.2mmの範囲での移動誤差が許容される(すなわち、適正範囲Tの厚み寸法0.4mmの範囲が最小となる)。±0.2mmの誤差範囲内で電極Dを位置決めすることは、周知のアーク溶接機によって実現可能であるため、実質的に溶接構造10は、アークを頂点部11cへ確実に指向させることができる。
【0042】
以上説明したように溶接構造10は、溶接部11aの先端部が一対の斜辺部11bによって先窄まりの形状とされるとともに、一方の斜辺部11bから溶接部11aの中央に向けて設けられたスリット11dへリード部12aが収容されている。また、上記各斜辺部11bが交差することによって溶接部11aの先端に頂点部11cが設けられ、この頂点部11cへアーク溶接機の電極Dを近接させることによって、アークが頂点部11cに発生して、溶融部11eが溶融する。溶融部11eが溶融した材料は、リード部12aを被覆するとともに、スリット11dへ充填され、リード部12aと溶接部11aとを接続する。
【0043】
したがって、溶接構造10は、その頂点部11cへ安定してアークを発生させることができるため、ヒューズ12等の電子素子を破損することなく、リード部12aとアーク溶接させることができる。
【0044】
なお、溶接構造10は、上記第一の実施形態に限定されることはなく、以下のようにすることもできる。
【0045】
図4は、本発明の第二の実施形態に係る溶接構造20を示す正面図であり、(A)は溶接前の状態、(B)は溶接後の状態をそれぞれ示している。
【0046】
図4の(A)を参照して、溶接構造20は、上記溶接構造10と同一の構造を含んでいるため、これら構造の符号を流用するとともに、溶接構造10との相違点のみ説明する。溶接構造20は、スリット11dに収容されたリード部12aの各斜辺部11bを含む平面での断面円形状の中心が頂点部11cから鉛直方向へ向かう直線から若干右側へ離間するようにスリット11bの溝深さが設定されている。また、溶接構造20の溶融部11eは、上記実施形態と同様にスリット11dの開口部を閉塞するのに十分な容積に設定されている。このような溶接構造20も、上記適正範囲Tへアーク溶接機の電極D(図示無し)を位置決めすることによって、アークが頂点部11cへ発生し、溶融部11eを溶融する。
【0047】
図4の(B)を参照して、上述したように、溶融部11eの溶融した材料は、リード部12aを被覆するとともに、スリット11dへ充填され、リード部12aが溶接部11aと電気的に接続されるとともに、溶接部11aに固定される。
【0048】
このように、頂点部11cから鉛直方向へ向かう直線からリード部12aの重心位置が若干離間した溶接構造20においても、溶接構造10と同様に、リード部12aを溶接部11aにアーク溶接することができる。
【0049】
さらに、上記実施形態に代えて図5に示すような溶接構造30のようにすることもできる。
【0050】
図5は、本発明の第三の実施形態に係る溶接構造30を示す正面図であり、(A)は溶接前の状態、(B)は溶接後の状態をそれぞれ示している。
【0051】
図5の(A)を参照して、溶接構造30は、上記実施形態と異なり、一対の斜辺部31bが溶接部11aの同一高さ位置から異なる角度で互いに内側へ向けて設けられている結果、各斜辺部31bの交差位置が溶接部11aの板幅方向の中心から左側にずれた位置となり、この位置に頂点部31cが形成されている。また、スリット11dに収容されたリード部12aの各斜辺部31bを含む平面での断面円形状の中心が頂点部31cから鉛直方向へ向かう直線(図では二点鎖線で示す)から若干右側へ離間するようにスリット11bの溝深さが設定されている。さらに、溶接構造30の溶融部11eは、上記実施形態と同様にスリット11dの開口部を閉塞するのに十分な容積に設定されている。このような溶接構造30も、その頂点部31cへアーク溶接機の電極D(図示無し)を近接させることによって、アークが頂点部31cへ発生し、溶融部11eを溶融する。なお、溶接構造30は、各斜辺部31bの角度が上記実施形態と異なるため、上記適正範囲Tも上記実施形態と異なり、電極Dは、溶接構造30の形状に基づく適正範囲Tへ位置決めされる。
【0052】
図5の(B)を参照して、上述したように溶融部11eの溶融した材料は、リード部12aを被覆するとともに、スリット11dへ充填され、リード部12aが溶接部11aと電気的に接続されるとともに、溶接部11aに固定される。
【0053】
このように、頂点部31cが溶接部11aの板幅方向の中心から離間した溶接構造30においても、上記実施形態と同様に、リード部12aを溶接部11aにアーク溶接することができる。
【0054】
なお、上記各実施形態においては、リード部12aの断面円形状の中心が頂点部11c、31cから鉛直方向へ向かう直線に対して若干右側に離間したものについて説明したが、若干左側に離間していても溶融部11eがスリット11dの開口部を閉塞するのに十分な容積に設定されていれば、上記実施形態と同様にリード部12aと溶接部11aとをアーク溶接することができる。
【0055】
さらに、上記各実施形態においては、溶接構造10〜30をヒューズ12のリード部12aに対する溶接構造として説明したが、その他の電子素子のリード部に対するアーク溶接に採用可能であり、また、一般に圧着等によって電線と接続されている端子類に採用することも可能であり、さらには電気的に接続する必要のない2の部品を物理的に接続する際に利用することもできる。
【0056】
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、その導電板の先端部に頂点部が設けられているため、当該導電板の先端部へ向けて発生されたアークを頂点部へ指向させることができる。頂点部へ指向されたアークは、当該頂点部へ熱エネルギーを発生させ、溶融部を溶融する。導電板には、溶融部とスリットが連設されているため、溶融部の溶融した材料は、スリット内へ充填され、当該スリット内のリード部を被覆する。このように導電板の先端部へアークを発生させることによって、リード部と導電板とをアーク溶接することができる。
【0057】
したがって、本発明は、安定した位置へアークを発生させることができ、電子素子を破損することなく、再現性をもって電子素子と導電板とをアーク溶接することができる溶接構造であり、それを用いた溶接方法である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第一の実施形態に係る溶接構造の一部を省略して示す斜視図である。
【図2】 図1の溶接構造に対して溶接工程が行なわれている状態を示す正面図であり、(A)はアーク発生中の状態、(B)は溶融部11eが溶融を開始した状態、(C)は溶接工程が終了した状態をそれぞれ示している。
【図3】 図1の溶接構造に対する電極の適正範囲を示しており、(A)は溶接構造の正面に対応した適性範囲、(B)は溶接構造の右側面に対応した適正範囲、(C)は溶接構造の斜視図に対応した適性範囲をそれぞれ示したものである。
【図4】 本発明の第二の実施形態に係る溶接構造を示す正面図であり、(A)は溶接前の状態、(B)は溶接後の状態をそれぞれ示している。
【図5】 本発明の第三の実施形態に係る溶接構造を示す正面図であり、(A)は溶接前の状態、(B)は溶接後の状態をそれぞれ示している。
【図6】 従来のビーム溶接端子構造の一部を省略して示す斜視図であり、(A)は溶接前の状態、(B)は溶接後の状態をそれぞれ示している。
【図7】 図6のビーム溶接端子構造と電線とをアーク溶接によって接続する状態の一部を省略して示す斜視図である。
【符号の説明】
10、20、30 溶接構造
11 導電板
11a 溶接部
11b、31b 斜辺部
11c 頂点部
11d スリット
11e 溶融部
12 ヒューズ
12a リード部
Claims (3)
- 電子素子のリード部を導電板へアーク溶接する溶接方法であって、
上記導電板の先端部を板幅方向で先窄まりの形状とする一対の斜辺部と、
これらの斜辺部の交差位置で当該斜辺部によって導電板に形成される頂点部と、
一方の斜辺部から導電板の板幅方向の中央に向けて設けられ、上記リード部を収容可能なスリットと、
このスリットと上記頂点部を含む導電板の先端部との間にスリットの開口部を閉塞するのに必要な容積を有する溶融部を設けた溶接構造に対し、
上記導電板の先端部へアークを発生させ、溶融部を溶融させることによって、当該溶融部の溶融した材料がスリット内を充填する溶接工程を含むことを特徴とする溶接方法。 - 電子素子のリード部がアーク溶接される導電板の溶接構造であって、
上記導電板の先端部を板幅方向で先窄まりの形状とする一対の斜辺部と、
これらの斜辺部の交差位置で当該斜辺部によって導電板に形成される頂点部と、
一方の斜辺部から導電板の板幅方向の中央に向けて設けられ、上記リード部を収容可能なスリットとを備え、
このスリットと上記頂点部を含む導電板の先端部との間にスリットの開口部を閉塞するのに必要な容積を有する溶融部を設けたことを特徴とする溶接構造。 - 請求項2に記載の溶接構造において、上記頂点部から鉛直方向へ向かう直線の近傍にスリットに収容されたリード部の各斜辺部を含む平面での断面形状における重心が位置するように構成されたことを特徴とする溶接構造。
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