JP3154492U - Exposure equipment - Google Patents
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
【課題】露光プラットホームの特定エリアに対して露光作業を行い、相対して熱現象が発生しにくく、更に設備体積及びコストを下げる露光装置を提供する。【解決手段】露光装置は、主に露光プラットホームの二個の相対する側に、それぞれ第一リニアガイドを設置し、第二リニアガイド42を二個の第一リニアガイド41の間に架設する。該第二リニアガイド上には光源ユニット50を設置して露光プラットホームに向けて照射する露光光源を発し、更に第一駆動ユニット61を設置して第二リニアガイドを第一リニアガイドに沿って位置移動させ、第二駆動ユニット62を設置して光源ユニット50を第二リニアガイド42に沿って位置移動させ、露光光源を露光プラットホームの預定エリアに当て、露光プラットホーム上の被加工物に対して露光現像を行う。【選択図】図3An exposure apparatus is provided that performs an exposure operation on a specific area of an exposure platform, is less likely to cause a thermal phenomenon, and further reduces equipment volume and cost. In the exposure apparatus, a first linear guide is installed mainly on two opposite sides of the exposure platform, and a second linear guide is installed between the two first linear guides. A light source unit 50 is installed on the second linear guide to emit an exposure light source that irradiates the exposure platform, and a first drive unit 61 is installed to position the second linear guide along the first linear guide. The second drive unit 62 is moved to move the position of the light source unit 50 along the second linear guide 42, the exposure light source is applied to the exposure platform depositing area, and the workpiece on the exposure platform is exposed. Develop. [Selection] Figure 3
Description
本考案は、露光装置に関するもので、特に露光プラットホームの特定エリアに対して露光作業を行い、相対して熱現象が発生しにくく、更に設備体積及びコストを下げる露光装置構造に係る。 The present invention relates to an exposure apparatus, and more particularly, to an exposure apparatus structure that performs an exposure operation on a specific area of an exposure platform and is less likely to cause a thermal phenomenon, and further reduces equipment volume and cost.
一般のプリント基板もしくは半導体ウエハーが露光現像プロセスを行う時、先ず被加工物表面に一層のフォトレジストを塗布し、次に光源を照射してオリジナル上の回路レイアウト図を被加工物表面のフォトレジスト層上に映写し、フォトレジスト層の化学的性質が光源の照射によって変化する。その後フォトレジスト除去剤で光源照射されたフォトレジストもしくは露光されていないフォトレジストを被加工物表面から除去し、オリジナルの回路レイアウトに対応させる。 When a general printed circuit board or semiconductor wafer is subjected to an exposure and development process, first, a layer of photoresist is applied to the surface of the workpiece, and then a light source is irradiated to display the original circuit layout diagram on the surface of the workpiece. Projected onto the layer, the chemistry of the photoresist layer changes upon illumination of the light source. Thereafter, the photoresist irradiated with the light source with the photoresist remover or the unexposed photoresist is removed from the surface of the workpiece to correspond to the original circuit layout.
そのうち,露光現像加工プロセスを実施する露光装置基本構造は、図1に示すとおりで、主に筐体11から構成される露光室12、及び露光室12へ送る露光プラットホーム13、更に該露光室12内部で露光プラットホーム13の上方もしくは下方位置に相対して設置する少なくとも一光源ユニット14を備える。更に図2に示すとおり、該露光プラットホーム13は被加工物20とオリジナル(図略)を置く透明のプラットホームで、露光プラットホーム13全体は、一組のリニアガイド15によって露光室12へ進む。 Among them, the basic structure of the exposure apparatus for performing the exposure development process is as shown in FIG. 1. The exposure chamber 12 mainly composed of the housing 11, the exposure platform 13 to be sent to the exposure chamber 12, and the exposure chamber 12. At least one light source unit 14 is provided in the interior of the exposure platform 13 so as to be opposed to the upper or lower position. Further, as shown in FIG. 2, the exposure platform 13 is a transparent platform on which the workpiece 20 and the original (not shown) are placed, and the entire exposure platform 13 is advanced to the exposure chamber 12 by a set of linear guides 15.
該露光プラットホーム13は、被加工物及びオリジナルを伴って露光室12の定位置へ進んだ後、一般に露光室12内部で一定時間(約3〜5秒の一様でない)留まり、被加工物に光源ユニット14の露光光源照射を受けさせ、露光完成を待って次に露光プラットホーム13から被加工物を送り出す。 The exposure platform 13 moves to a fixed position of the exposure chamber 12 along with the workpiece and the original, and then generally stays within the exposure chamber 12 for a certain period of time (not uniform for about 3 to 5 seconds). The exposure light source unit 14 is irradiated with the exposure light source, and after completion of the exposure, the workpiece is sent out from the exposure platform 13.
一般公知の露光装置の多くは露光プラットホーム13が露光室12内部に留まる方式の露光作業を採用している。このため、その光源ユニット14に列配置方式の電球141を大量に設置し、露光プラットホーム13全体の平行光源を覆い、大量電球141を同時に使用することにより、筐体11内部部に非常に強い熱現象を発生させる。そのため、他に冷却システムの放熱を設置しなければならないので、コストが高くなる。 Many commonly known exposure apparatuses employ an exposure operation in which the exposure platform 13 stays inside the exposure chamber 12. For this reason, a large amount of row arrangement type bulbs 141 are installed in the light source unit 14, the parallel light sources of the entire exposure platform 13 are covered, and the mass bulbs 141 are used at the same time. Cause a phenomenon. Therefore, since the heat dissipation of a cooling system must be installed elsewhere, the cost increases.
他に一種公知の露光装置は、複眼装置で電球の光線を必要な平行光及び面積の大きさを修正する。その動作方式は光源電球を楕円鏡で光線を通し、一組の第一反射鏡で複眼装置に向けてその光線を均一化し、続けて一組の第二反射鏡で光線を前進方向へ変更させ、最後に一組の凸レンズで光線を必要な平行光及び面積の大きさに修正し、更に必要な露光光源を投射して電球の数を減らす。 Another known exposure apparatus is a compound eye apparatus that corrects the size of the parallel light and the area required for the light beam of the bulb. The operating method is to pass the light beam through the light source bulb with an elliptical mirror, uniform the light beam toward the compound eye device with a set of first reflectors, and then change the light beam in the forward direction with a set of second reflectors. Finally, a set of convex lenses is used to correct the light beam to the required parallel light and the size of the area, and the necessary exposure light source is projected to reduce the number of light bulbs.
このような設計は、露光装置全体の構造が複雑なだけでなく、且つ露光装置全体の体積が相対して大きくなってしまう。更に同様に露光プラットホーム全体に露光光源を被加工物に対して覆って露光現像を行う方法を採用している。 Such a design not only makes the structure of the entire exposure apparatus complicated, but also makes the volume of the entire exposure apparatus relatively large. Further, similarly, a method is employed in which the exposure light source is covered with respect to the workpiece and the exposure development is performed on the entire exposure platform.
解決しようとする問題点は、実際の露光現像プロセスにおいて、全ての被加工物の露光エリアはすべての露光プラットホームに相当しないため、露光プラットホーム全体の一部のエリアに露光光源を照射する必要がない。そのため、過度に不必要な加工コストをかけることになる点である。 The problem to be solved is that in the actual exposure development process, the exposure area of all the workpieces does not correspond to all the exposure platforms, so it is not necessary to irradiate a part of the entire exposure platform with the exposure light source. . Therefore, an excessively unnecessary processing cost is required.
本考案は、主に露光プラットホームの二個の相対する側に、それぞれ第一リニアガイドを設置し、別に少なくとも一第二リニアガイドは二個の第一リニアガイドの間に架設する。該少なくとも一第二リニアガイド上には光源ユニットを設置して露光プラットホームに向けて照射する露光光源を発し、更に第一駆動ユニットを設置して第二リニアガイドを第一リニアガイドに沿って位置移動させ、第二駆動ユニットを設置して光源ユニットを第二リニアガイドに沿って位置移動させ、露光光源を露光プラットホームの預定エリアに当て、露光プラットホーム上の被加工物に対して露光現像を行うことを最も主要な特徴とする。 In the present invention, first linear guides are mainly installed on two opposite sides of the exposure platform, and at least one second linear guide is installed between the two first linear guides. On the at least one second linear guide, a light source unit is installed to emit an exposure light source that irradiates the exposure platform, and a first drive unit is installed to position the second linear guide along the first linear guide. Move the second drive unit, move the light source unit along the second linear guide, place the exposure light source on the exposure area of the exposure platform, and perform exposure development on the workpiece on the exposure platform This is the main feature.
本考案の露光装置は、下述の利点がある。
1.露光効果を発する光源は、ひとつの光源でよく、露光プラットホーム全体の大面積をカバーしないので、光源ユニットの電球数を大幅に減らし、相対して露光装置全体の体積を縮小し、及び設備コストを下げる。
2.使用する制御回路は、露光光源が預定行程に達した時、光源ユニットの効率を上げるため、相対して露光装置全体の熱現象を下げる。
3.露光装置全体は、被加工物の規格変動に合わせ、光源ユニット全体の行程設定を適時調整し、露光装置の適用性及び実用性を大幅に向上させる。
4.光源ユニットは、露光プラットホームの露光光源照射が必要なエリアだけを通過するため、不必要な加工コストを浪費することがない。
The exposure apparatus of the present invention has the following advantages.
1. The light source that produces the exposure effect may be a single light source and does not cover the large area of the entire exposure platform, so the number of light bulbs in the light source unit is greatly reduced, the volume of the entire exposure apparatus is relatively reduced, and the equipment Reduce costs.
2. When the exposure light source reaches the depositing process, the control circuit to be used lowers the thermal phenomenon of the exposure apparatus as a whole in order to increase the efficiency of the light source unit.
3. The exposure apparatus as a whole adjusts the stroke setting of the entire light source unit in accordance with the standard variation of the workpiece, thereby greatly improving the applicability and practicality of the exposure apparatus.
4. Since the light source unit passes only through the area of the exposure platform where exposure light source irradiation is necessary, unnecessary processing costs are not wasted.
露光プラットホームの特定エリアに対して露光作業を行い、相対して熱現象を起こさず、及び設備体積及びコストを下げる露光装置構造を提供することを本考案の主な目的とする。 The main object of the present invention is to provide an exposure apparatus structure that performs an exposure operation on a specific area of the exposure platform, does not cause a thermal phenomenon, and reduces the equipment volume and cost.
上述の目的を達成するため、本考案の露光装置は、主に露光プラットホームの二個の相対する側に、それぞれ第一リニアガイドを設置し、別に少なくとも一第二リニアガイドは二個の第一リニアガイドの間に架設し、該少なくとも一第二リニアガイド上には光源ユニットが設置されて光源ユニットで露光プラットホームに向けて照射される露光光源を発するのに用いる。 In order to achieve the above-described object, the exposure apparatus of the present invention mainly includes a first linear guide on each of two opposite sides of the exposure platform, and at least one second linear guide is provided with two first linear guides. A light source unit is installed on the at least one second linear guide and used to emit an exposure light source that is emitted toward the exposure platform by the light source unit.
更に、第一駆動ユニットを設置して第二リニアガイドを第一リニアガイドに沿って位置移動させ、第二駆動ユニットを設置して光源ユニットを属する第二リニアガイドに沿って位置移動させる。光源ユニットが属する第二リニアガイドに沿って位置移動し、及び第二リニアガイドが第一リニアガイドに沿って位置移動する方式によって、露光光源は露光プラットホームの預定エリアに達し、露光プラットホーム上の被加工物に対して露光現像を行う。 Further, the first drive unit is installed and the second linear guide is moved along the first linear guide, and the second drive unit is installed and moved along the second linear guide to which the light source unit belongs. By moving the position along the second linear guide to which the light source unit belongs, and moving the second linear guide along the first linear guide, the exposure light source reaches the exposure area of the exposure platform, and the object on the exposure platform is covered. Exposure and development is performed on the workpiece.
図3及び図4に示すとおり、本考案の露光装置は、露光プラットホーム30、二個の第一リニアガイド41、少なくとも一個の第二リニアガイド42、少なくとも一個の光源ユニット50、少なくとも一個の第一駆動ユニット61,及び少なくとも一個の第二駆動ユニット62を含む。そのうち、 As shown in FIGS. 3 and 4, the exposure apparatus of the present invention includes an exposure platform 30, two first linear guides 41, at least one second linear guide 42, at least one light source unit 50, and at least one first light guide unit. A drive unit 61 and at least one second drive unit 62 are included. Of which
該露光プラットホーム30は、被加工物及びオリジナルを載せる。該二個の第一リニアガイド41は平行状態で、それぞれ該露光プラットホーム30の二相対応側に設置する。該少なくとも一第二リニアガイド42は、該二個の第一リニアガイド41の間に横向きに架設する。該少なくとも一光源ユニット50は、該少なくとも一第二リニアガイド42上に設置し、各光源ユニット50は単一の光源51(電球もしくは発光ダイオードがよい)を備えて該露光プラットホーム30に向けて照射する露光光源として用いる。該光源ユニット50は少なくとも一光源51でもよく、図8に示すとおり、複数の光源51で照射効果を形成しても良い。 The exposure platform 30 carries a workpiece and an original. The two first linear guides 41 are installed in parallel on the two-phase side of the exposure platform 30. The at least one second linear guide 42 is installed horizontally between the two first linear guides 41. The at least one light source unit 50 is installed on the at least one second linear guide 42, and each light source unit 50 includes a single light source 51 (which may be a light bulb or a light emitting diode) and irradiates the exposure platform 30. Used as an exposure light source. The light source unit 50 may be at least one light source 51, and a plurality of light sources 51 may form an irradiation effect as shown in FIG.
該少なくとも一第一駆動ユニット61は、該第二リニアガイド42を該第一リニアガイド41に沿って移動させるのに用いる。該少なくとも一第二駆動ユニット62は、各光源ユニット50を属する第二リニアガイド42に沿って移動させるのに用いる。図5に示すとおり、露光装置全体は、使用する制御回路に従って該少なくとも一第二リニアガイド42と該少なくとも一光源ユニット50の移動行程と移動速度を設定する。仮に露光装置全体に複数の光源ユニット50を設置する場合には図7に示すとおり、該制御回路もまた各第二リニアガイド42上の各光源ユニット50間の隙間距離a,及び各光源ユニット50上光源51の角度を制御して露光装置全体が特定サイズの工作プラットホームに制限されない。 The at least one first drive unit 61 is used to move the second linear guide 42 along the first linear guide 41. The at least one second drive unit 62 is used to move each light source unit 50 along the second linear guide 42 to which it belongs. As shown in FIG. 5, the entire exposure apparatus sets the moving stroke and moving speed of the at least one second linear guide 42 and the at least one light source unit 50 according to the control circuit to be used. If a plurality of light source units 50 are installed in the entire exposure apparatus, as shown in FIG. 7, the control circuit also has a gap distance a between the light source units 50 on each second linear guide 42 and each light source unit 50. The entire exposure apparatus is not limited to a work platform of a specific size by controlling the angle of the upper light source 51.
本考案の露光装置を使用する時、被加工物20及びオリジナルを該露光プラットホーム30上(もしくはその他輸送装置で被加工物及びオリジナルを該露光プラットホームの定点箇所に運ぶ)に固定する。次に光源ユニット50を、それに係る第二リニアガイド42へ位置移動させ、第二リニアガイド42が第一リニアガイド41に沿って位置移動する方式により、光源ユニット50が発する露光光源を確かに露光プラットホーム30の預定エリアへ当て、更に該露光プラットホーム30上の被加工物20に対して露光現像を実施する。 When the exposure apparatus of the present invention is used, the workpiece 20 and the original are fixed on the exposure platform 30 (or the workpiece and the original are transported to a fixed point on the exposure platform by other transport devices). Next, the light source unit 50 is moved to the second linear guide 42 and the second linear guide 42 is moved along the first linear guide 41 so that the exposure light source emitted by the light source unit 50 is surely exposed. Exposure to the work area 20 on the exposure platform 30 is further performed by exposure to the deposit area of the platform 30.
図6に示す本考案を具体的に実施する時、該二個の第一リニアガイド41の間に複数組の第二リニアガイド42及び光源ユニット50,及び複数組の個別に各第二リニアガイド42及び各光源ユニット50を位置移動させる第一、第二駆動ユニット61、62を設置する。複数組の第二リニアガイド42及び光源ユニット50の分工作業によって、被加工物20の露光現像の時間を短縮したり、もしくは同時に複数個の被加工物に対して露光現像を実施したりする。 When the present invention shown in FIG. 6 is concretely implemented, a plurality of sets of second linear guides 42 and light source units 50 between the two first linear guides 41 and a plurality of sets of second linear guides individually. 42 and the 1st, 2nd drive units 61 and 62 which move the position of each light source unit 50 are installed. The time required for the exposure and development of the workpiece 20 is shortened by the division work of the plurality of sets of the second linear guide 42 and the light source unit 50, or the exposure and development are simultaneously performed on the plurality of workpieces.
更に露光装置全体は、少なくとも、そのうち一個の第一リニアガイド41両端,及び各第二リニアガイド42両端に停電スイッチ70を設置し、各第二リニアガイド42及び各光源ユニット50が安全範囲を超過するのに制限を加え、関連部品が第二リニアガイド42もしくは光源ユニット50に当たって壊れるのを防止する。 Further, the entire exposure apparatus is provided with power failure switches 70 at both ends of at least one first linear guide 41 and both ends of each second linear guide 42, and each second linear guide 42 and each light source unit 50 exceed the safe range. Therefore, the related parts are prevented from colliding with the second linear guide 42 or the light source unit 50 and being broken.
図9に示すのは、本考案の別の一実施例で、同様に露光プラットホーム30、二個の第一リニアガイド41、少なくとも一第二リニアガイド42、少なくとも一光源ユニット50、少なくとも一第一駆動ユニット61,及び少なくとも一第二駆動ユニット62を設置する。そして該第二リニアガイド42上に第三リニアガイド43を設置し、該少なくとも一光源ユニット50は該第三リニアガイド43上に設置し、該少なくとも一光源ユニット50を該第一リニアガイド41によって第一方向(X方向)に動かし、第二リニアガイド42によって第二方向(Y方向)へ動かし、第三リニアガイド43によって第三方向(Z方向)へ動かす。更に、そのうち該露光プラットホーム30は図に示すとおり、単一平面の形式である。また図10に示すとおり、該露光プラットホーム30は、複数の支持部31及び透空部32を設置し、該支持部31は第一リニアガイド41の近くに設置して被加工物20を設置するのに用いる。 FIG. 9 shows another embodiment of the present invention. Similarly, the exposure platform 30, two first linear guides 41, at least one second linear guide 42, at least one light source unit 50, at least one first. A drive unit 61 and at least one second drive unit 62 are installed. A third linear guide 43 is installed on the second linear guide 42, the at least one light source unit 50 is installed on the third linear guide 43, and the at least one light source unit 50 is moved by the first linear guide 41. It moves in the first direction (X direction), moves in the second direction (Y direction) by the second linear guide 42, and moves in the third direction (Z direction) by the third linear guide 43. Furthermore, the exposure platform 30 is in the form of a single plane as shown in the figure. As shown in FIG. 10, the exposure platform 30 is provided with a plurality of support portions 31 and air-permeable portions 32, and the support portion 31 is installed near the first linear guide 41 to install the workpiece 20. Used for
また、該透光部32は、二個の第一リニアガイド41の間に設置し、各支持部31及び透空部32は上下に排列し、上下の各支持部31によってそれぞれ多数の個の被加工物20を設置し、且つそのうちの一被加工物20が加工を完了して出力された時、図11に示す実施例に於いて、該上方の被加工物20が出されると、該光源ユニット50は第三リニアガイド43によって下向きに下層の被加工物20箇所へ移動して加工を行い、加工効率を大幅に向上させる。 The translucent part 32 is installed between the two first linear guides 41, and the support parts 31 and the air permeable parts 32 are arranged in the vertical direction. When the workpiece 20 is installed and one of the workpieces 20 is processed and output, in the embodiment shown in FIG. The light source unit 50 is moved downward to the lower workpiece 20 by the third linear guide 43 to perform processing, and the processing efficiency is greatly improved.
具体的に説明すると、本考案は、露光効果を発生させる光源はひとつの光源でよく、露光プラットホーム全体の大面積に光源を広げないので、光源ユニットの電球数を大幅に減らし、相対して露光装置全体の体積を小さくし、且つ相対して設備コストを下げる。更に使用する制御回路は、露光光源が予定の場所に達する時、光源ユニットの効率を高めるので、相対して露光装置全体の熱現象を下げる。 Specifically, in the present invention, the light source that generates the exposure effect may be a single light source, and the light source is not spread over a large area of the entire exposure platform. The volume of the entire apparatus is reduced, and the equipment cost is relatively reduced. Furthermore, the control circuit to be used increases the efficiency of the light source unit when the exposure light source reaches a predetermined location, and thus reduces the thermal phenomenon of the entire exposure apparatus.
特に、露光装置全体は、被加工物の規格によって変化させ、適時光源ユニットの行程設定を調整し、露光装置の適用性及び実用性を大幅に向上させる。加えて光源ユニットは露光プラットホームの露光光源を照射する必要のあるエリアだけを通るので、不必要な加工コストを浪費する必要がない。 In particular, the entire exposure apparatus is changed according to the workpiece standard, and the stroke setting of the light source unit is adjusted in a timely manner, thereby greatly improving the applicability and practicality of the exposure apparatus. In addition, since the light source unit passes only in an area where the exposure light source of the exposure platform needs to be irradiated, it is not necessary to waste unnecessary processing costs.
上述のとおり、本考案は実行可能な露光装置を提供し、実用新案を請求する。本考案の技術内容及び技術特徴は、上述のとおりであるが、本領域に習熟した者が本考案の提示に基づき、各種の本考案の創作精神からから乖離しない入替え及び修飾を行うかもしれない。そのため、本考案の保護範囲は、應不限於実施例に示すものに制限されず、各種本考案から乖離しない入替え及び修飾を含み、以下の請求範囲を含むものとする As described above, the present invention provides an executable exposure apparatus and claims a utility model. The technical contents and technical features of the present invention are as described above. However, those skilled in the field may make substitutions and modifications that do not depart from the creative spirit of the present invention based on the presentation of the present invention. . Therefore, the scope of protection of the present invention is not limited to that shown in the examples, but includes various substitutions and modifications that do not depart from the present invention, and includes the following claims.
11 筐体
12 露光室
13 露光プラットホーム
14 光源ユニット
141 電球
15 リニアガイド
20 被加工物
30 露光プラットホーム
31 支持部
32 透空部
41 第一リニアガイド
42 第二リニアガイド
43 第三リニアガイド
50 光源ユニット
51 電球
61 第一駆動ユニット
62 第二駆動ユニット
70 停電スイッチ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Housing | casing 12 Exposure chamber 13 Exposure platform 14 Light source unit 141 Light bulb 15 Linear guide 20 Work piece 30 Exposure platform 31 Support part 32 Air-permeable part 41 First linear guide 42 Second linear guide 43 Third linear guide 50 Light source unit 51 Light bulb 61 First drive unit 62 Second drive unit 70 Power failure switch
Claims (6)
被加工物及びオリジナルを載せる露光プラットホームと、
平行状態で、それぞれを該露光プラットホームの二個の相対側面に配置する二個の第一リニアガイドと、
該二個の第一リニアガイドの間を横に架設する少なくとも一第二リニアガイドと、
該少なくとも一第二リニアガイド上に設置して,該露光プラットホームに向けて露光光源を照射する少なくとも一光源ユニットと、
該第二リニアガイドを該第一リニアガイドに沿って位置移動させる少なくとも一第一駆動ユニットと、
各光源ユニットを、それに対応する第二リニアガイドに沿って位置移動する少なくとも一第二駆動ユニットを含み、
使用する制御回路によって該少なくとも一第二リニアガイドと該少なくとも一光源ユニットの移動行程と移動速度を設定することを特徴とする露光装置。 In the exposure apparatus,
An exposure platform on which workpieces and originals are placed;
Two first linear guides arranged in parallel on each of two relative sides of the exposure platform;
At least one second linear guide horizontally installed between the two first linear guides;
At least one light source unit installed on the at least one second linear guide and irradiating an exposure light source toward the exposure platform;
At least one first drive unit that moves the second linear guide along the first linear guide;
Each light source unit includes at least one second drive unit that moves along a corresponding second linear guide;
An exposure apparatus, wherein a moving stroke and a moving speed of the at least one second linear guide and the at least one light source unit are set by a control circuit to be used.
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KR101607578B1 (en) * | 2015-01-22 | 2016-03-30 | 충남대학교산학협력단 | Apparatus for lithography and mask aligner |
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2009
- 2009-07-15 JP JP2009004911U patent/JP3154492U/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101607578B1 (en) * | 2015-01-22 | 2016-03-30 | 충남대학교산학협력단 | Apparatus for lithography and mask aligner |
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