[go: up one dir, main page]

JP2010098060A - ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール - Google Patents

ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール Download PDF

Info

Publication number
JP2010098060A
JP2010098060A JP2008266511A JP2008266511A JP2010098060A JP 2010098060 A JP2010098060 A JP 2010098060A JP 2008266511 A JP2008266511 A JP 2008266511A JP 2008266511 A JP2008266511 A JP 2008266511A JP 2010098060 A JP2010098060 A JP 2010098060A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aluminum
heat sink
power module
substrate
top plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008266511A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5335361B2 (ja
Inventor
Hiromasa Hayashi
浩正 林
Yoshiyuki Nagatomo
義幸 長友
Toshiyuki Nagase
敏之 長瀬
Yoshio Kuromitsu
祥郎 黒光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Materials Corp filed Critical Mitsubishi Materials Corp
Priority to JP2008266511A priority Critical patent/JP5335361B2/ja
Publication of JP2010098060A publication Critical patent/JP2010098060A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5335361B2 publication Critical patent/JP5335361B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

【課題】電子部品等から発生した熱を効率良く放散させることができるとともに、高い熱サイクル信頼性を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュールを提供する。
【解決手段】絶縁基板11の一方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる回路層12が形成されるとともに絶縁基板11の他方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる金属層13が形成されたパワーモジュール用基板10と、金属層13側に接合されるヒートシンク30と、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、 ヒートシンク30は、金属層13に接合される天板部31を有しており、この天板部31が、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されていることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

この発明は、大電流、高電圧を制御する半導体装置に用いられるヒートシンク付パワーモジュール用基板及びこのヒートシンク付パワーモジュール用基板を用いたヒートシンク付パワーモジュールに関するものである。
半導体素子の中でも電力供給のためのパワーモジュールは発熱量が比較的高いため、これを搭載する基板としては、例えば、AlN(窒化アルミ)からなるセラミックス基板上にAl(アルミニウム)の金属板がAl−Si系のろう材を介して接合されたパワーモジュール用基板が用いられる。
この金属板は回路層として形成され、その金属板の上には、はんだ材を介してパワー素子の半導体チップが搭載される。
また、セラミックス基板の下面にも放熱のためにAl等の金属板が接合されて金属層とされ、この金属層を介してヒートシンクが接合されたヒートシンク付パワーモジュール用基板が提案されている。このようなヒートシンク付パワーモジュール用基板においては、通常、例えば特許文献1の図1に示すように、パワーモジュール用基板が放熱板に接合され、この放熱板がヒートシンクの上面にグリースを介して積層固定されていた。
特開2001−148451号公報
ところで、近年、パワーモジュールの小型化・薄肉化が進められるとともに、その使用環境も厳しくなってきており、電子部品からの発熱量が大きくなる傾向にあり、熱を効率的にヒートシンク側へと放散することができるヒートシンク付パワーモジュール用基板が要求されている。ところが、特許文献1の図1に示すようなヒートシンク付パワーモジュール用基板では、放熱板とヒートシンクとの間にグリースが介在しているため、このグリースが熱抵抗となって熱を効率的に放散することができない。
そこで、例えば特許文献1の図4に示すように、パワーモジュール用基板をヒートシンクの天板部に直接接合したヒートシンク付パワーモジュール用基板が提案されている。
しかしながら、パワーモジュール用基板の熱膨張係数はセラミックス基板に依存して比較的小さく、ヒートシンクの天板部はアルミニウム等で構成されていて熱膨張係数が比較的大きいため、ヒートシンク付パワーモジュールに熱サイクルが負荷された際には、熱膨張率の差によって熱応力が生じ、パワーモジュール用基板に反り変形が生じるおそれがあった。また、熱応力によってセラミックス基板自体が破損したり、金属板(回路層及び金属層)とセラミックス基板との間で剥離が生じたりしてしまうおそれがあった。
この発明は、前述した事情に鑑みてなされたものであって、パワーモジュール用基板に搭載された電子部品等から発生した熱を効率良く放散させることができるとともに、高い熱サイクル信頼性を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュールを提供することを目的とする。
このような課題を解決して、前記目的を達成するために、本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板は、絶縁基板の一方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる回路層が形成されるとともに前記絶縁基板の他方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる金属層が形成されたパワーモジュール用基板と、前記金属層側に接合されるヒートシンクと、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、前記ヒートシンクは、前記金属層に接合される天板部を有しており、この天板部が、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されていることを特徴としている。
この構成のヒートシンク付パワーモジュール用基板においては、ヒートシンクの天板部に、直接、パワーモジュール用基板が接合されているので、パワーモジュール用基板に配設された電子部品から発生した熱をヒートシンク側に向けて効率良く放散することが可能となる。
さらに、絶縁基板の他方の面に金属層が形成されているので、この金属層によって熱応力を吸収することができる。
また、天板部が、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されているので、天板部の熱膨張係数は、アルミニウム又はアルミニウム合金で構成された従来のヒートシンク(天板部)に比べて小さくなり、パワーモジュール用基板との熱膨張係数の差が小さく、熱サイクル負荷時の熱応力の発生を抑制することができ、熱サイクル信頼性を向上させることができる。さらに、このアルミニウム基複合材料は、熱伝導性の高い炭素質部材を有しているので、電子部品から発生した熱を効率良く放散することが可能となる。
ここで、前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、純度が99%以上のアルミニウムが充填されていてもよい。
この場合、アルミニウム基複合材料中のアルミニウムが、例えばAl−Si等のろう材の融点よりも高くなることから、天板部とパワーモジュール用基板の金属層とをろう付けによって接合することができる。
また、前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、融点が600℃以下のアルミニウム合金が充填されていてもよい。
この場合、ヒートシンクの天板部とパワーモジュール用基板とを積層方向に加圧した状態で前記融点以上に加熱することにより、アルミニウム基複合材料(天板部)中のアルミニウム合金が溶融または半溶融し、ヒートシンクの天板部とパワーモジュール用基板とを接合することが可能となる。
さらに、前記アルミニウム基複合材料は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、アルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたものであり、前記黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上が前記アルミニウム又はアルミニウム合金によって置換され、前記アルミニウム又はアルミニウム合金の含有率が、前記アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされていることが好ましい。
この場合、ヒートシンクの天板部が、炭素成分量が比較的高く強度に優れるとともに熱伝導性が確保されているので、熱サイクル信頼性を向上させることができるとともに熱の放散をさらに促進することができる。
また、前記天板部のうち前記金属層側に、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層が形成されていることが好ましい。
この場合、天板部とパワーモジュール用基板とが、スキン層を介して接合されることになる。ここで、パワーモジュール用基板の金属層と天板部とがアルミニウム同士の接合となるため、パワーモジュール用基板と天板部とを強固に接合することが可能となる。また、スキン層が比較的変形抵抗の小さなアルミニウム又はアルミニウム合金で構成されているので、熱応力をスキン層で吸収することができ、熱サイクル信頼性をさらに向上させることが可能となる。
ここで、前記スキン層の平均厚さtsが、0.03mm≦ts≦3mmの範囲内に設定されていることが好ましい。
この場合、前記スキン層の平均厚さtsが0.03mm以上とされているので、このスキン層において熱応力を確実に吸収することができる。また、前記スキン層の平均厚さtsが3mm以下とされているので、熱伝導性を確保することができ、熱の放散を効率良く行うことができる。なお、この効果をさらに奏功せしめるためには、スキン層の平均厚さtsを0.05mm≦ts≦0.6mmの範囲内に設定することが好ましい。
また、前記スキン層が、純度99%以上のアルミニウムで構成されていることが好ましい。
純度99%以上のアルミニウム、いわゆる純アルミニウムは、比較的軟らかく応力を吸収しやすいため、前記スキン層を純度99%以上のアルミニウムで構成することによって、スキン層において熱応力を確実に吸収することができる。なお、この効果をさらに奏功せしめるためには、スキン層を、純度99.9%以上あるいは純度99.99%以上の高純度アルミニウムで構成することが好ましい。
本発明のヒートシンク付パワーモジュールは、前述のヒートシンク付パワーモジュール用基板と、このヒートシンク付パワーモジュール用基板上に搭載された電子部品と、を備えることを特徴としている。
この構成のヒートシンク付パワーモジュールによれば、電子部品から発生する熱を効率良くヒートシンク側に放散することができるとともに、熱サイクル信頼性を向上させることができる。
本発明によれば、パワーモジュール用基板に搭載された電子部品等から発生した熱を効率良く放散させることができるとともに、高い熱サイクル信頼性を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュールを提供することが可能となる。
以下に、本発明の実施形態について添付した図面を参照して説明する。図1に本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュールを示す。
このヒートシンク付パワーモジュール1は、回路層12が配設されたパワーモジュール用基板10と、回路層12の表面にはんだ層2を介して接合された半導体チップ3と、ヒートシンク30とを備えている。ここで、はんだ層2は、例えばSn−Ag系、Sn−In系、若しくはSn−Ag−Cu系のはんだ材とされている。なお、本実施形態では、回路層12とはんだ層2との間にNiメッキ層(図示なし)が設けられている。
パワーモジュール用基板10は、セラミックス基板11と、このセラミックス基板11の一方の面(図1において上面)に配設された回路層12と、セラミックス基板11の他方の面(図1において下面)に配設された金属層13とを備えている。
セラミックス基板11は、回路層12と金属層13との間の電気的接続を防止するものであって、絶縁性の高いAlN(窒化アルミ)で構成されている。また、セラミックス基板11の厚さは、0.2〜1.5mmの範囲内に設定されており、本実施形態では、0.635mmに設定されている。
回路層12は、図3に示すように、セラミックス基板11の一方の面に導電性を有する金属板22が接合されることにより形成されている。本実施形態においては、回路層12は、純度が99.99%以上のアルミニウム(いわゆる4Nアルミニウム)の圧延板からなる金属板22がセラミックス基板11に接合されることにより形成されている。ここで、セラミックス基板11と金属板22の接合には、融点降下元素であるSiを含有したAl−Si系のろう材箔24を用いている。
金属層13は、図3に示すように、セラミックス基板11の他方の面に金属板23が接合されることにより形成されている。本実施形態においては、金属層13は、回路層12と同様に、純度が99.99%以上のアルミニウム(いわゆる4Nアルミニウム)の圧延板からなる金属板23がセラミックス基板11に接合されることで形成されている。ここで、セラミックス基板11と金属板23の接合には、融点降下元素であるSiを含有したAl−Si系のろう材箔25を用いている。
ヒートシンク30は、前述のパワーモジュール用基板10を冷却するためのものであり、パワーモジュール用基板10と接合される天板部31と、この天板部31の下面側に立設された複数のフィン32とを備えている。
そして、ヒートシンク30の天板部31は、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されている。
ここで、天板部31を構成するアルミニウム基複合材料の熱膨張係数は、セラミックス基板11の熱膨張係数よりも大きく、かつ、アルミニウムの熱膨張係数よりも小さく設定されている。より具体的には、AlNからなるセラミックス基板11の熱膨張係数は、約4.5ppm/Kとされ、アルミニウムの熱膨張係数は、約23.5ppm/Kとされており、天板部31を構成するアルミニウム基複合材料の熱膨張係数は6〜15ppm/K程度とされている。
また、天板部31を構成するアルミニウム基複合材料の熱伝導率は300〜400W/m・K程度とされており、アルミニウムの熱伝導率(約238W/m・K)よりも高くされている。
そして、図1及び図2に示すように、ヒートシンク30の天板部31のうちパワーモジュール用基板10側部分には、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層33が形成されている。
このスキン層33の平均厚さtsは、天板部31全体の厚さtbに対して、0.03×tb≦ts≦0.20×tbの範囲内とされており、より具体的には、0.03mm≦ts≦3mmの範囲内に設定されている。
ここで、本実施形態では、天板部31は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されており、黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上が純アルミニウムによって置換され、この純アルミニウムの含有率が、アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされている。
また、前述のスキン層33は、天板部31に充填された純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)で構成されている。なお、本実施形態では、後述するように、ろう材箔34を介して天板部31とパワーモジュール用基板10の金属層13とを接合していることから、スキン層33の一部において、ろう材箔34の成分元素であるSiの拡散によって純度が99.98%未満となる。
このような構成とされたヒートシンク付パワーモジュール用基板50は、以下のようにして製造される。
まず、パワーモジュール用基板10の製造方法について説明する。
図3に示すように、セラミックス基板11の一方の面に、回路層12となる金属板22(4Nアルミニウムの圧延板)がろう材箔24を介して積層され、セラミックス基板11の他方の面に金属層13となる金属板23(4Nアルミニウムの圧延板)がろう材箔25を介して積層される。
このようにして形成された積層体をその積層方向に加圧(0.1〜0.3MPa)した状態で真空炉内に装入して加熱し、ろう材箔24、25を溶融して凝固させる。
このようにして、回路層12及び金属層13となる金属板22、23とセラミックス基板11とが接合され、前述のパワーモジュール用基板10が製造される。
次に、ヒートシンク30の天板部31の製造方法について説明する。
図4に示すように、気孔率10〜30体積%の黒鉛板35を準備し、この黒鉛板35の両面にそれぞれ気孔率5体積%以下の黒鉛からなる挟持板36、36を配設し、この挟持板36と黒鉛板35とを、ステンレス製の押圧板37,37によって挟持する。これを、例えば100〜200MPaで加圧した状態で750〜850℃に加熱し、純度99.98%以上の溶融アルミニウムを黒鉛板35に含浸させ、これを冷却凝固させ、アルミニウム基複合材料を得る。このとき、溶融アルミニウムの一部が、黒鉛板35の表面に滲み出してアルミニウム層38が形成される。このアルミニウム層38に切削加工を施してスキン層33の厚さを調整することにより、前述の天板部31が製出される。
次に、ヒートシンク付パワーモジュール用基板50の製造方法について説明する。
図5に示すように、スキン層33を有するヒートシンク30の天板部31の上に、ろう材箔34を介して、パワーモジュール用基板10を積層する。これを積層方向に加圧した状態で加熱してろう材箔34を溶融させた後に冷却して凝固させ、パワーモジュール用基板10の金属層13とヒートシンク30の天板部31を接合することにより、本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板50が製造される。
このような構成とされたヒートシンク付パワーモジュール用基板50は、回路層12の表面に半導体チップ3がはんだによって接合され、ヒートシンク付パワーモジュール1として使用される。
以上のような構成とされた本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板50及びヒートシンク付パワーモジュール1においては、ヒートシンク30の天板部31に、直接、パワーモジュール用基板10が接合されているので、セラミックス基板11の一方の面に形成された回路層12上に配設された電子部品から発生した熱をヒートシンク30側に向けて効率良く放散することが可能となる。
また、天板部31が、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されており、天板部31の熱膨張係数が6〜15ppm/K程度であって、AlNからなるセラミックス基板11の熱膨張係数(約4.5ppm/K)との差が小さいので、熱サイクル負荷時の熱応力の発生を抑制することができ、熱サイクル信頼性を向上させることができる。
また、天板部31を構成するアルミニウム基複合材料が、熱伝導性の高い炭素質部材を有しており、その熱伝導率が300〜400W/m・K程度と、アルミニウムの熱伝導率(約238W/m・K)よりも高くなっているので、電子部品から発生した熱を効率良く放散することができる。
また、天板部31を構成するアルミニウム基複合材料が、炭素質部材に純度99.98%以上のアルミニウムが充填されたものとされているので、本実施形態のようにAl−Si系のろう材箔34を使用しても、充填されたアルミニウムが溶け出すことがなく、天板部31とパワーモジュール用基板10の金属層13とをろう付けによって接合することができる。
また、本実施形態においては、天板部31を構成するアルミニウム基複合材料が、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)を充填したものであり、黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上が純アルミニウムによって置換され、この純アルミニウムの含有率が、アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされているので、天板部31が、炭素成分量が比較的高く強度に優れるとともに熱伝導性が確保され、このヒートシンク付パワーモジュール1の熱の放散を促進することができるとともに熱サイクル信頼性を向上させることができる。
さらに、本実施形態では、天板部31のうち金属層13側部分に、純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)からなるスキン層33が形成されているので、天板部31と金属層13とが、スキン層33を介して接合されることになり、パワーモジュール用基板10と天板部31とを強固に接合することができる。
また、スキン層33が、比較的変形抵抗の低いアルミニウムで構成されているので、熱膨張係数が異なる天板部31とパワーモジュール用基板10との間の熱応力を、スキン層33によって吸収することができる。これにより、熱サイクルが負荷された際の熱変形や反りが抑えられ、このヒートシンク付パワーモジュール1の熱サイクル信頼性を大幅に向上させることができる。
ここで、スキン層33の平均厚さtsが0.03mm以上とされているので、このスキン層33において熱応力を確実に吸収することができる。また、スキン層33の平均厚さtsが3mm以下とされているので、熱伝導性を確保することができ、熱の放散を効率良く行うことができる。
さらに、本実施形態においては、セラミックス基板11の一方の面に回路層12が形成され、他方の面に金属層13が形成されているので、図3に示すようにパワーモジュール用基板10を製造した際に、反りの発生を抑制することができる。さらに、金属層13によって熱応力を吸収することもできる。
このように、本実施形態のヒートシンク付パワーモジュール1によれば、半導体チップ3から発生する熱を効率良くヒートシンク30側に放散することができるとともに、熱サイクル信頼性を大幅に向上させることが可能となる。
次に、本発明の第2の実施形態について図6、図7を参照して説明する。なお、第1の実施形態と同一の部材には同じ符号を付して詳細な説明を省略する。
この第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール101においては、ヒートシンク130の天板部131の構成が第1の実施形態と異なっている。
本実施形態における天板部131には、図6に示すように、パワーモジュール用基板10側(金属層13側)にスキン層が形成されていない。
また、天板部131は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、融点が600℃以下のアルミニウム合金(本実施形態では、Al−Si合金)が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されており、黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上がAl−Si合金によって置換され、このAl−Si合金の含有率が、アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされている。
次に、本実施形態のヒートシンク付パワーモジュール用基板150の製造方法について説明する。
図7に示すように、天板部131の上面に、パワーモジュール用基板10(金属層13)を直接積層する。なお、天板部131の外面のうち、パワーモジュール用基板10(金属層13)が積層される面以外の部分には、天板部131中のAl−Si合金の滲み出しによる溶着を防止するために、黒鉛あるいはBN(窒化硼素)の粉末を塗布しておく。
これを積層方向に加圧(0.15〜3.0MPa)した状態で500〜620℃まで加熱する。すると、天板部131中に充填されているAl−Si合金の一部が表面に滲み出してきて、パワーモジュール用基板10の金属層13と天板部131とが接合されることになる。このとき、天板部131の外面のうちパワーモジュール用基板10(金属層13)が積層される面以外の部分からのAl−Si合金の滲み出しは、黒鉛あるいはBN(窒化硼素)の粉末によって抑制される。このようにして、本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板150が製出される。
以上のような構成とされた第2の本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板150及びヒートシンク付パワーモジュール101においては、ヒートシンク130の天板部131に、直接、パワーモジュール用基板10が接合されているので、セラミックス基板11の一方の面に形成された回路層12上に配設された電子部品から発生した熱をヒートシンク130側に向けて効率良く放散することが可能となる。
また、前述のように、ろう材箔を用いることなく天板部131とパワーモジュール用基板10の金属層13とを接合することができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、その発明の技術的思想を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
例えば、第1の実施形態において、スキン層を備えた天板部をろう材箔を介して接合したものとして説明したが、これに限定されることはなく、スキン層を有していない天板部をろう付けによって接合してもよい。
一方、第2の実施形態において、スキン層を有していない天板部をろう材を使用せずに接合したものとして説明したが、これに限定されることはなく、スキン層を有する天板部をろう材を使用せずに接合してもよい。この場合、スキン層の一部が溶融又は半溶融して金属層と天板部とが接合されることになる。
また、炭素質部材として、黒鉛結晶含有炭素質マトリックス(黒鉛部材)を用いたものとして説明したが、これに限定されることはなく、炭化ケイ素(SiC)やダイヤモンド等で構成された炭素質部材であってもよい。
さらに、第2の実施形態において、黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に充填する融点が600℃以下のアルミニウム合金として、Al−Si合金を用いたものとして説明したが、これに限定されることはなく、例えばAl−Mg合金、Al−Si−Mg合金等の他のアルミニウム合金を用いても良い。
また、スキン層を、天板部を構成するアルミニウム基複合材料中に充填されたアルミニウム又はアルミニウム合金を滲み出させて形成するものとして説明したが、これに限定されることはなく、図8に示すように、天板部331を形成する際に、黒鉛板335とともにアルミニウム又はアルミニウム合金の板材339を挟持板336,336の間に挟みこんで、スキン層333を形成してもよい。この場合、天板部を構成するアルミニウム基複合材料中に充填されるアルミニウム又はアルミニウム合金と異なる組成のスキン層を形成することが可能となる。
さらに、一つのヒートシンク(天板部)の上に一つの緩衝層が配設され、一つの緩衝層の上に一つのパワーモジュール用基板が配設されたものを図示して説明したが、これに限定されることはなく、図9に示すように、一つのヒートシンク430(天板部431)の上に複数のパワーモジュール用基板10が配設されていてもよい。
また、セラミックス基板をAlNで構成されたものとして説明したが、これに限定されることはなく、Si、Al等の他のセラミックスで構成されていてもよい。
さらに、回路層を構成する金属板を純度99.99%の純アルミニウムの圧延板としたものとして説明したが、これに限定されることはなく、純度99%のアルミニウム(2Nアルミニウム)等で構成されていてもよい。
さらに、ヒートシンクとして天板部にフィンを立設したものとして説明したが、これに限定されることはなく、冷却媒体の流路を有するものであってもよく、ヒートシンクの構造に特に限定はない。
本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュールの概略説明図である。 図1に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板に備えられた天板部の拡大説明図である。 図1に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板に備えられたパワーモジュール用基板の製造方法の説明図である。 図1に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板に備えられた天板部の製造方法を示す説明図である。 図1に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法の説明図である。 本発明の第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュールの概略説明図である。 図5に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法の説明図である。 天板部の製造方法の他の例を示す説明図である。 本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板の他の例を示す説明図である。
符号の説明
1,101 ヒートシンク付パワーモジュール
2 半導体チップ(電子部品)
10 パワーモジュール用基板
11 セラミックス基板
12 回路層
13 金属層
30、130、430 ヒートシンク
31、131、331、431 天板部
33、133、333 スキン層
50、150、450 ヒートシンク付パワーモジュール用基板

Claims (8)

  1. 絶縁基板の一方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる回路層が形成されるとともに前記絶縁基板の他方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる金属層が形成されたパワーモジュール用基板と、前記金属層側に接合されるヒートシンクと、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、
    前記ヒートシンクは、前記金属層に接合される天板部を有しており、この天板部が、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されていることを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  2. 前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、純度が99%以上のアルミニウムが充填されていることを特徴とする請求項1に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  3. 前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、融点が600℃以下のアルミニウム合金が充填されていることを特徴とする請求項1に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  4. 前記アルミニウム基複合材料は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、アルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたものであり、前記黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上が前記アルミニウム又はアルミニウム合金によって置換され、前記アルミニウム又はアルミニウム合金の含有率が、前記アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  5. 前記天板部のうち前記金属層側には、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層が形成されていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  6. 前記スキン層の平均厚さtsが、0.03mm≦ts≦3mmの範囲内に設定されていることを特徴とする請求項5に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  7. 前記スキン層が、純度99%以上のアルミニウムで構成されていることを特徴とする請求項5または請求項6に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  8. 請求項1から請求項7のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板と、前記回路層上に搭載される電子部品と、を備えたことを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール。
JP2008266511A 2008-10-15 2008-10-15 ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール Active JP5335361B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008266511A JP5335361B2 (ja) 2008-10-15 2008-10-15 ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008266511A JP5335361B2 (ja) 2008-10-15 2008-10-15 ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010098060A true JP2010098060A (ja) 2010-04-30
JP5335361B2 JP5335361B2 (ja) 2013-11-06

Family

ID=42259550

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008266511A Active JP5335361B2 (ja) 2008-10-15 2008-10-15 ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5335361B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017183716A (ja) * 2016-03-25 2017-10-05 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付絶縁回路基板の製造方法、及び、ヒートシンク付絶縁回路基板

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000203973A (ja) * 1998-11-11 2000-07-25 Sentan Zairyo:Kk 炭素基金属複合材料およびその製造方法
JP2001058255A (ja) * 1999-06-11 2001-03-06 Sentan Zairyo:Kk 炭素基金属複合材料板状成形体および製造方法
JP2001148451A (ja) * 1999-03-24 2001-05-29 Mitsubishi Materials Corp パワーモジュール用基板
JP2002033423A (ja) * 2000-07-17 2002-01-31 Denki Kagaku Kogyo Kk モジュール構造体
JP2005095944A (ja) * 2003-09-25 2005-04-14 Sentan Zairyo:Kk 金属基板−炭素基金属複合材料構造体および該構造体の製造方法。

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000203973A (ja) * 1998-11-11 2000-07-25 Sentan Zairyo:Kk 炭素基金属複合材料およびその製造方法
JP2001148451A (ja) * 1999-03-24 2001-05-29 Mitsubishi Materials Corp パワーモジュール用基板
JP2001058255A (ja) * 1999-06-11 2001-03-06 Sentan Zairyo:Kk 炭素基金属複合材料板状成形体および製造方法
JP2002033423A (ja) * 2000-07-17 2002-01-31 Denki Kagaku Kogyo Kk モジュール構造体
JP2005095944A (ja) * 2003-09-25 2005-04-14 Sentan Zairyo:Kk 金属基板−炭素基金属複合材料構造体および該構造体の製造方法。

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017183716A (ja) * 2016-03-25 2017-10-05 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付絶縁回路基板の製造方法、及び、ヒートシンク付絶縁回路基板

Also Published As

Publication number Publication date
JP5335361B2 (ja) 2013-11-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI521651B (zh) 附散熱器之電力模組用基板之製造方法、附散熱器之電力模組用基板及電力模組
JP2010098057A (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール及び緩衝層付パワーモジュール用基板
JP5067187B2 (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール
JP2014183119A (ja) パワーモジュール用基板の製造方法
JP5935292B2 (ja) パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2010098059A (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール、緩衝層付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP5504842B2 (ja) パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、パワーモジュール及びパワーモジュール用基板の製造方法
JP5423076B2 (ja) パワーモジュール用基板、パワーモジュール及びパワーモジュール用基板の製造方法
WO2018180159A1 (ja) ヒートシンク付き絶縁回路基板の製造方法
JP2011222669A (ja) パワーモジュール用基板及びパワーモジュール
JP2011119652A (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びパワーモジュール
JP2011035308A (ja) 放熱板、半導体装置及び放熱板の製造方法
JP6201297B2 (ja) 銅板付きパワーモジュール用基板及び銅板付きパワーモジュール用基板の製造方法
TWI708754B (zh) 接合體,電源模組用基板,電源模組,接合體的製造方法及電源模組用基板的製造方法
JP5648705B2 (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール及び緩衝層付パワーモジュール用基板
JP2011082502A (ja) パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、パワーモジュール及びパワーモジュール用基板の製造方法
JP2010098058A (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2010238965A (ja) パワーモジュール用基板、パワーモジュール用基板の製造方法及びパワーモジュール
JP5335361B2 (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール
JP2010238963A (ja) パワーモジュール用基板、パワーモジュール用基板の製造方法及びパワーモジュール
JP2013041913A (ja) パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、パワーモジュール及びパワーモジュール用基板の製造方法
JP6673635B2 (ja) 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法、及び、接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク
JP2011119653A (ja) ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びパワーモジュール
JP5359953B2 (ja) パワーモジュール用基板、パワーモジュール及びパワーモジュール用基板の製造方法
JP6819385B2 (ja) 半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110928

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120829

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120904

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121101

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130108

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130731

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5335361

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250