JP2010098060A - ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール - Google Patents
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Abstract
【解決手段】絶縁基板11の一方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる回路層12が形成されるとともに絶縁基板11の他方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる金属層13が形成されたパワーモジュール用基板10と、金属層13側に接合されるヒートシンク30と、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、 ヒートシンク30は、金属層13に接合される天板部31を有しており、この天板部31が、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されていることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
この金属板は回路層として形成され、その金属板の上には、はんだ材を介してパワー素子の半導体チップが搭載される。
そこで、例えば特許文献1の図4に示すように、パワーモジュール用基板をヒートシンクの天板部に直接接合したヒートシンク付パワーモジュール用基板が提案されている。
さらに、絶縁基板の他方の面に金属層が形成されているので、この金属層によって熱応力を吸収することができる。
この場合、アルミニウム基複合材料中のアルミニウムが、例えばAl−Si等のろう材の融点よりも高くなることから、天板部とパワーモジュール用基板の金属層とをろう付けによって接合することができる。
この場合、ヒートシンクの天板部とパワーモジュール用基板とを積層方向に加圧した状態で前記融点以上に加熱することにより、アルミニウム基複合材料(天板部)中のアルミニウム合金が溶融または半溶融し、ヒートシンクの天板部とパワーモジュール用基板とを接合することが可能となる。
この場合、ヒートシンクの天板部が、炭素成分量が比較的高く強度に優れるとともに熱伝導性が確保されているので、熱サイクル信頼性を向上させることができるとともに熱の放散をさらに促進することができる。
この場合、天板部とパワーモジュール用基板とが、スキン層を介して接合されることになる。ここで、パワーモジュール用基板の金属層と天板部とがアルミニウム同士の接合となるため、パワーモジュール用基板と天板部とを強固に接合することが可能となる。また、スキン層が比較的変形抵抗の小さなアルミニウム又はアルミニウム合金で構成されているので、熱応力をスキン層で吸収することができ、熱サイクル信頼性をさらに向上させることが可能となる。
この場合、前記スキン層の平均厚さtsが0.03mm以上とされているので、このスキン層において熱応力を確実に吸収することができる。また、前記スキン層の平均厚さtsが3mm以下とされているので、熱伝導性を確保することができ、熱の放散を効率良く行うことができる。なお、この効果をさらに奏功せしめるためには、スキン層の平均厚さtsを0.05mm≦ts≦0.6mmの範囲内に設定することが好ましい。
純度99%以上のアルミニウム、いわゆる純アルミニウムは、比較的軟らかく応力を吸収しやすいため、前記スキン層を純度99%以上のアルミニウムで構成することによって、スキン層において熱応力を確実に吸収することができる。なお、この効果をさらに奏功せしめるためには、スキン層を、純度99.9%以上あるいは純度99.99%以上の高純度アルミニウムで構成することが好ましい。
この構成のヒートシンク付パワーモジュールによれば、電子部品から発生する熱を効率良くヒートシンク側に放散することができるとともに、熱サイクル信頼性を向上させることができる。
このヒートシンク付パワーモジュール1は、回路層12が配設されたパワーモジュール用基板10と、回路層12の表面にはんだ層2を介して接合された半導体チップ3と、ヒートシンク30とを備えている。ここで、はんだ層2は、例えばSn−Ag系、Sn−In系、若しくはSn−Ag−Cu系のはんだ材とされている。なお、本実施形態では、回路層12とはんだ層2との間にNiメッキ層(図示なし)が設けられている。
セラミックス基板11は、回路層12と金属層13との間の電気的接続を防止するものであって、絶縁性の高いAlN(窒化アルミ)で構成されている。また、セラミックス基板11の厚さは、0.2〜1.5mmの範囲内に設定されており、本実施形態では、0.635mmに設定されている。
そして、ヒートシンク30の天板部31は、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されている。
また、天板部31を構成するアルミニウム基複合材料の熱伝導率は300〜400W/m・K程度とされており、アルミニウムの熱伝導率(約238W/m・K)よりも高くされている。
このスキン層33の平均厚さtsは、天板部31全体の厚さtbに対して、0.03×tb≦ts≦0.20×tbの範囲内とされており、より具体的には、0.03mm≦ts≦3mmの範囲内に設定されている。
また、前述のスキン層33は、天板部31に充填された純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)で構成されている。なお、本実施形態では、後述するように、ろう材箔34を介して天板部31とパワーモジュール用基板10の金属層13とを接合していることから、スキン層33の一部において、ろう材箔34の成分元素であるSiの拡散によって純度が99.98%未満となる。
図3に示すように、セラミックス基板11の一方の面に、回路層12となる金属板22(4Nアルミニウムの圧延板)がろう材箔24を介して積層され、セラミックス基板11の他方の面に金属層13となる金属板23(4Nアルミニウムの圧延板)がろう材箔25を介して積層される。
このようにして形成された積層体をその積層方向に加圧(0.1〜0.3MPa)した状態で真空炉内に装入して加熱し、ろう材箔24、25を溶融して凝固させる。
このようにして、回路層12及び金属層13となる金属板22、23とセラミックス基板11とが接合され、前述のパワーモジュール用基板10が製造される。
図4に示すように、気孔率10〜30体積%の黒鉛板35を準備し、この黒鉛板35の両面にそれぞれ気孔率5体積%以下の黒鉛からなる挟持板36、36を配設し、この挟持板36と黒鉛板35とを、ステンレス製の押圧板37,37によって挟持する。これを、例えば100〜200MPaで加圧した状態で750〜850℃に加熱し、純度99.98%以上の溶融アルミニウムを黒鉛板35に含浸させ、これを冷却凝固させ、アルミニウム基複合材料を得る。このとき、溶融アルミニウムの一部が、黒鉛板35の表面に滲み出してアルミニウム層38が形成される。このアルミニウム層38に切削加工を施してスキン層33の厚さを調整することにより、前述の天板部31が製出される。
図5に示すように、スキン層33を有するヒートシンク30の天板部31の上に、ろう材箔34を介して、パワーモジュール用基板10を積層する。これを積層方向に加圧した状態で加熱してろう材箔34を溶融させた後に冷却して凝固させ、パワーモジュール用基板10の金属層13とヒートシンク30の天板部31を接合することにより、本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板50が製造される。
また、天板部31を構成するアルミニウム基複合材料が、熱伝導性の高い炭素質部材を有しており、その熱伝導率が300〜400W/m・K程度と、アルミニウムの熱伝導率(約238W/m・K)よりも高くなっているので、電子部品から発生した熱を効率良く放散することができる。
また、スキン層33が、比較的変形抵抗の低いアルミニウムで構成されているので、熱膨張係数が異なる天板部31とパワーモジュール用基板10との間の熱応力を、スキン層33によって吸収することができる。これにより、熱サイクルが負荷された際の熱変形や反りが抑えられ、このヒートシンク付パワーモジュール1の熱サイクル信頼性を大幅に向上させることができる。
この第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール101においては、ヒートシンク130の天板部131の構成が第1の実施形態と異なっている。
また、天板部131は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、融点が600℃以下のアルミニウム合金(本実施形態では、Al−Si合金)が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されており、黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上がAl−Si合金によって置換され、このAl−Si合金の含有率が、アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされている。
図7に示すように、天板部131の上面に、パワーモジュール用基板10(金属層13)を直接積層する。なお、天板部131の外面のうち、パワーモジュール用基板10(金属層13)が積層される面以外の部分には、天板部131中のAl−Si合金の滲み出しによる溶着を防止するために、黒鉛あるいはBN(窒化硼素)の粉末を塗布しておく。
また、前述のように、ろう材箔を用いることなく天板部131とパワーモジュール用基板10の金属層13とを接合することができる。
例えば、第1の実施形態において、スキン層を備えた天板部をろう材箔を介して接合したものとして説明したが、これに限定されることはなく、スキン層を有していない天板部をろう付けによって接合してもよい。
一方、第2の実施形態において、スキン層を有していない天板部をろう材を使用せずに接合したものとして説明したが、これに限定されることはなく、スキン層を有する天板部をろう材を使用せずに接合してもよい。この場合、スキン層の一部が溶融又は半溶融して金属層と天板部とが接合されることになる。
さらに、回路層を構成する金属板を純度99.99%の純アルミニウムの圧延板としたものとして説明したが、これに限定されることはなく、純度99%のアルミニウム(2Nアルミニウム)等で構成されていてもよい。
2 半導体チップ(電子部品)
10 パワーモジュール用基板
11 セラミックス基板
12 回路層
13 金属層
30、130、430 ヒートシンク
31、131、331、431 天板部
33、133、333 スキン層
50、150、450 ヒートシンク付パワーモジュール用基板
Claims (8)
- 絶縁基板の一方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる回路層が形成されるとともに前記絶縁基板の他方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる金属層が形成されたパワーモジュール用基板と、前記金属層側に接合されるヒートシンクと、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、
前記ヒートシンクは、前記金属層に接合される天板部を有しており、この天板部が、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されていることを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール用基板。 - 前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、純度が99%以上のアルミニウムが充填されていることを特徴とする請求項1に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
- 前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、融点が600℃以下のアルミニウム合金が充填されていることを特徴とする請求項1に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
- 前記アルミニウム基複合材料は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、アルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたものであり、前記黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上が前記アルミニウム又はアルミニウム合金によって置換され、前記アルミニウム又はアルミニウム合金の含有率が、前記アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
- 前記天板部のうち前記金属層側には、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層が形成されていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
- 前記スキン層の平均厚さtsが、0.03mm≦ts≦3mmの範囲内に設定されていることを特徴とする請求項5に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
- 前記スキン層が、純度99%以上のアルミニウムで構成されていることを特徴とする請求項5または請求項6に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
- 請求項1から請求項7のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板と、前記回路層上に搭載される電子部品と、を備えたことを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール。
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