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JP2010098057A - ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール及び緩衝層付パワーモジュール用基板 - Google Patents

ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール及び緩衝層付パワーモジュール用基板 Download PDF

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JP2010098057A JP2008266508A JP2008266508A JP2010098057A JP 2010098057 A JP2010098057 A JP 2010098057A JP 2008266508 A JP2008266508 A JP 2008266508A JP 2008266508 A JP2008266508 A JP 2008266508A JP 2010098057 A JP2010098057 A JP 2010098057A
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aluminum
power module
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Hiromasa Hayashi
浩正 林
Yoshiyuki Nagatomo
義幸 長友
Toshiyuki Nagase
敏之 長瀬
Yoshio Kuromitsu
祥郎 黒光
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Mitsubishi Materials Corp
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Abstract

【課題】電子部品等から発生した熱を効率良く放散させることができるとともに、高い熱サイクル信頼性を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板を提供する。
【解決手段】絶縁基板11の一方の面に回路層12が形成され、他方の面に金属層13が形成されたパワーモジュール用基板10と、金属層13側に接合されるヒートシンク4と、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、金属層13とヒートシンク4との間には、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料からなる緩衝層30が設けられ、この緩衝層30の熱膨張係数Kが、絶縁基板11の熱膨張係数Kc及びヒートシンク4の熱膨張係数Ktに対して、Kc<K<Ktの関係とされており、緩衝層30のうちヒートシンク4側にはアルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層31が形成されている。
【選択図】図1

Description

この発明は、大電流、高電圧を制御する半導体装置に用いられるヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール及び緩衝層付パワーモジュール用基板に関するものである。
半導体素子の中でも電力供給のためのパワーモジュールは発熱量が比較的高いため、これを搭載する基板としては、例えば、AlN(窒化アルミ)からなるセラミックス基板上にAl(アルミニウム)の金属板がAl−Si系のろう材を介して接合されたパワーモジュール用基板が用いられる。
この金属板は回路層として形成され、その金属板の上には、はんだ材を介してパワー素子の半導体チップが搭載される。
また、セラミックス基板の下面にも放熱のためにAl等の金属板が接合されて金属層とされ、この金属層を介してヒートシンクが接合されたヒートシンク付パワーモジュール用基板が提案されている。このようなヒートシンク付パワーモジュール用基板においては、通常、例えば特許文献1の図1に示すように、パワーモジュール用基板が放熱板に接合され、この放熱板がヒートシンクの上面にグリースを介して積層固定されていた。
特開2001−148451号公報
ところで、近年、パワーモジュールの小型化・薄肉化が進められるとともに、その使用環境も厳しくなってきており、電子部品からの発熱量が大きくなる傾向にあり、熱を効率的にヒートシンク側へと放散することができるヒートシンク付パワーモジュール用基板が要求されている。ところが、特許文献1の図1に示すようなヒートシンク付パワーモジュール用基板では、放熱板とヒートシンクとの間にグリースが介在しているため、このグリースが熱抵抗となって熱を効率的に放散することができない。
そこで、例えば特許文献1の図4に示すように、パワーモジュール用基板をヒートシンクの天板部に直接接合したヒートシンク付パワーモジュール用基板が提案されている。
しかしながら、パワーモジュール用基板の熱膨張係数はセラミックス基板に依存し比較的小さく、ヒートシンクの天板部はアルミニウム等で構成されていて熱膨張係数が比較的大きいため、ヒートシンク付パワーモジュールに熱サイクルが負荷された際には、熱膨張率の差によって熱応力が生じ、パワーモジュール用基板に反り変形が生じるおそれがあった。また、熱応力によってセラミックス基板自体が破損したり、金属板とセラミックス基板との間で剥離が生じたりしてしまうおそれがあった。
この発明は、前述した事情に鑑みてなされたものであって、パワーモジュール用基板に搭載された電子部品等から発生した熱を効率良く放散させることができるとともに、高い熱サイクル信頼性を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール及び緩衝層付パワーモジュール用基板を提供することを目的とする。
このような課題を解決して、前記目的を達成するために、本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板は、絶縁基板の一方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる回路層が形成されるとともに前記絶縁基板の他方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる金属層が形成されたパワーモジュール用基板と、前記金属層側に接合されるアルミニウム又はアルミニウム合金からなるヒートシンクと、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、前記金属層と前記ヒートシンクとの間には、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料からなる緩衝層が設けられ、この緩衝層の熱膨張係数Kが、前記絶縁基板の熱膨張係数Kc及び前記ヒートシンクの熱膨張係数Ktに対して、Kc<K<Ktの関係とされており、前記緩衝層のうち前記ヒートシンク側には、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層が形成されていることを特徴としている。
この構成のヒートシンク付パワーモジュール用基板においては、パワーモジュール用基板の金属層とヒートシンクとの間に、熱膨張係数Kが、前記絶縁基板の熱膨張係数Kc及び前記ヒートシンクの熱膨張係数Ktに対して、Kc<K<Ktの関係とされた緩衝層が設けられているので、熱サイクルが負荷されてもヒートシンクの変形量とパワーモジュール用基板の変形量の差を緩衝層によって吸収することが可能となり、熱応力によるパワーモジュール用基板の変形や破損を防止することができ、熱サイクル信頼性を大幅に向上させることができる。
また、緩衝層のうちヒートシンク側に、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層が形成されているので、ヒートシンクと緩衝層との間の熱膨張係数の差がさらに小さくなる。これにより、スキン層によって熱応力を効果的に吸収することが可能となる。さらに、このスキン層を介することにより、ヒートシンクと緩衝層とがアルミニウム又はアルミニウム合金同士の接合となるため、ヒートシンクと緩衝層とを強固に接合することが可能となる。
また、金属層がヒートシンクに緩衝層を介して接合されるとともに、この緩衝層が、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されているので、緩衝層の熱伝導率が比較的高く、パワーモジュール用基板側で発生した熱をヒートシンク側へと効率良く放散することができる。
ここで、前記スキン層の平均厚さtsが、0.03mm≦ts≦3mmの範囲内に設定されていることが好ましい。
この場合、前記スキン層の平均厚さtsが0.03mm以上とされているので、このスキン層においても熱応力を確実に吸収することができる。また、前記スキン層の平均厚さtsが3mm以下とされているので、熱伝導性を確保することができ、熱の放散を効率良く行うことができる。なお、この効果をさらに奏功せしめるためには、スキン層の平均厚さtsを0.05mm≦ts≦0.6mmの範囲内に設定することが好ましい。
また、前記スキン層が、純度99%以上のアルミニウムで構成されていることが好ましい。
純度99%以上のアルミニウム、いわゆる純アルミニウムは、比較的軟らかく応力を吸収しやすいため、前記スキン層を純度99%以上のアルミニウムで構成することによって、スキン層において熱応力を確実に吸収することができる。なお、この効果をさらに奏功せしめるためには、スキン層を、純度99.9%以上あるいは純度99.99%以上の高純度アルミニウムで構成することが好ましい。
前記緩衝層のうち前記金属層側に、アルミニウム又はアルミニウム合金からなる第2スキン層が形成されていてもよい。
この場合、第2スキン層を介することにより、緩衝層とパワーモジュール用基板(金属層)との接合がアルミニウム又はアルミニウム合金同士の接合となるため、パワーモジュール用基板と緩衝層とを強固に接合することが可能となる。
また、前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、純度が99%以上のアルミニウムが充填されていてもよい。
この場合、アルミニウム基複合材料中のアルミニウムが、例えばAl−Si等のろう材の融点よりも高くなることから、緩衝層とヒートシンク及び緩衝層とパワーモジュール用基板をろう付けによって接合することができる。
また、前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、融点が600℃以下のアルミニウム合金が充填されていてもよい。
この場合、緩衝層とヒートシンク及び緩衝層とパワーモジュール用基板を積層方向に加圧した状態で前記融点以上に加熱することにより、アルミニウム基複合材料中のアルミニウムが溶融または半溶融し、緩衝層とヒートシンク及び緩衝層とパワーモジュール用基板を接合することが可能となる。
さらに、前記アルミニウム基複合材料は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、アルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたものであり、前記黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上が前記アルミニウム又はアルミニウム合金によって置換され、前記アルミニウム又はアルミニウム合金の含有率が、前記アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされていることが好ましい。
この場合、緩衝層が、炭素成分量が比較的高く強度に優れるとともに熱伝導性が確保されているので、熱サイクル信頼性を向上させることができるとともに熱の放散を促進することができる。
本発明のヒートシンク付パワーモジュールは、前述のヒートシンク付パワーモジュール用基板と、このヒートシンク付パワーモジュール用基板上に搭載された電子部品と、を備えることを特徴としている。
この構成のヒートシンク付パワーモジュールによれば、電子部品から発生する熱を効率良くヒートシンク側に放散することができるとともに、熱サイクル信頼性を向上させることができる。
本発明の緩衝層付パワーモジュール用基板は、前述のヒートシンク付パワーモジュール用基板に用いられる緩衝層付パワーモジュール用基板であって、前記緩衝層のうち前記パワーモジュール用基板とは反対側の面には、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層が形成されていることを特徴としている。
この構成の緩衝層付パワーモジュール用基板によれば、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるヒートシンクに接合することにより、前述のヒートシンク付パワーモジュール用基板を構成することができる。
本発明によれば、パワーモジュール用基板に搭載された電子部品等から発生した熱を効率良く放散させることができるとともに、高い熱サイクル信頼性を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール及び緩衝層付パワーモジュール用基板を提供することが可能となる。
以下に、本発明の実施形態について添付した図面を参照して説明する。図1に本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク付パワーモジュール及び緩衝層付パワーモジュール用基板を示す。
このヒートシンク付パワーモジュール1は、回路層12が配設されたパワーモジュール用基板10と、回路層12の表面にはんだ層2を介して接合された半導体チップ3と、ヒートシンク4とを備えている。ここで、はんだ層2は、例えばSn−Ag系、Sn−In系、若しくはSn−Ag−Cu系のはんだ材とされている。なお、本実施形態では、回路層12とはんだ層2との間にNiメッキ層(図示なし)が設けられている。
パワーモジュール用基板10は、セラミックス基板11と、このセラミックス基板11の一方の面(図1において上面)に配設された回路層12と、セラミックス基板11の他方の面(図1において下面)に配設された金属層13とを備えている。
セラミックス基板11は、回路層12と金属層13との間の電気的接続を防止するものであって、絶縁性の高いAlN(窒化アルミ)で構成されている。また、セラミックス基板11の厚さは、0.2〜1.5mmの範囲内に設定されており、本実施形態では、0.635mmに設定されている。
回路層12は、図3に示すように、セラミックス基板11の一方の面に導電性を有する金属板22が接合されることにより形成されている。本実施形態においては、回路層12は、純度が99.99%以上のアルミニウム(いわゆる4Nアルミニウム)の圧延板からなる金属板22がセラミックス基板11に接合されることにより形成されている。ここで、セラミックス基板11と金属板22の接合には、融点降下元素であるSiを含有したAl−Si系のろう材箔24を用いている。
金属層13は、図3に示すように、セラミックス基板11の他方の面に金属板23が接合されることにより形成されている。本実施形態においては、金属層13は、回路層12と同様に、純度が99.99%以上のアルミニウム(いわゆる4Nアルミニウム)の圧延板からなる金属板23がセラミックス基板11に接合されることで形成されている。ここで、セラミックス基板11と金属板23の接合には、融点降下元素であるSiを含有したAl−Si系のろう材箔25を用いている。
ヒートシンク4は、前述のパワーモジュール用基板10を冷却するためのものであり、パワーモジュール用基板10と接合される天板部5と冷却媒体(例えば冷却水)を流通するための流路6とを備えている。ヒートシンク4(天板部5)は、熱伝導性が良好な材質で構成されることが望ましく、本実施形態においては、A6063(アルミニウム合金)で構成されている。
パワーモジュール用基板10の金属層13とヒートシンク4の天板部5との間には、緩衝層30が設けられている。この緩衝層30は、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されており、緩衝層30の熱膨張係数Kが、セラミックス基板11の熱膨張係数Kc及びヒートシンク4の熱膨張係数Ktに対して、Kc<K<Ktの関係とされている。
より具体的には、AlNからなるセラミックス基板11の熱膨張係数Kcは、約4.5ppm/Kとされ、アルミニウム合金(A6063)からなるヒートシンク4の熱膨張係数Ktは、約23.5ppm/Kとされており、緩衝層30の熱膨張係数Kは6〜15ppm/K程度とされている。
また、アルミニウムの熱伝導率は約238W/m・Kとされ、緩衝層30の熱伝導率は300〜400W/m・K程度とされている。つまり、緩衝層30の熱伝導率は、金属層13やヒートシンク4の熱伝導率よりも高くされているのである。
そして、図1及び図2に示すように、緩衝層30のうち天板部5との界面部分に、アルミニウム又はアルミニウム合金からなる第1スキン層31が形成され、緩衝層30のうち金属層13との界面部分には、アルミニウム又はアルミニウム合金からなる第2スキン層32が形成されている。
ここで、本実施形態では、緩衝層30は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されており、黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上が純アルミニウムによって置換され、この純アルミニウムの含有率が、アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされている。
また、前述の第1スキン層31、第2スキン層32は、緩衝層30に充填された純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)で構成されている。
第1スキン層31の平均厚さtsは、緩衝層30全体の厚さtbに対して、0.03×tb≦ts≦0.20×tbの範囲内とされており、より具体的には、0.03mm≦ts≦3mmの範囲内に設定されている。なお、緩衝層30全体の厚さtbが、0.5mm≦tb≦5.0mmとされている場合には、第1スキン層31の平均厚さtsは、0.05mm≦ts≦0.6mmの範囲内に設定されていることが好ましい。
このような構成とされたヒートシンク付パワーモジュール1は、以下のようにして製造される。
まず、パワーモジュール用基板10の製造方法について説明する。
図3に示すように、セラミックス基板11の一方の面に、回路層12となる金属板22(4Nアルミニウムの圧延板)がろう材箔24を介して積層され、セラミックス基板11の他方の面に金属層13となる金属板23(4Nアルミニウムの圧延板)がろう材箔25を介して積層される。
このようにして形成された積層体20をその積層方向に加圧(0.1〜0.3MPa)した状態で真空炉内に装入して加熱し、ろう材箔24、25を溶融して凝固させる。
このようにして、回路層12及び金属層13となる金属板22、23とセラミックス基板11とが接合され、前述のパワーモジュール用基板10が製造される。
次に、緩衝層30の製造方法について説明する。
図4に示すように、気孔率10〜30体積%の黒鉛板35を準備し、この黒鉛板35の両面にそれぞれ気孔率5体積%以下の黒鉛からなる挟持板36、36を配設し、この挟持板36と黒鉛板35とを、ステンレス製の押圧板37,37によって挟持する。これを、例えば200〜300MPaで加圧した状態で750〜850℃に加熱し、純度99.98%以上の溶融アルミニウムを黒鉛板35に含浸させ、これを冷却凝固させ、アルミニウム基複合材料を得る。このとき、溶融アルミニウムの一部が、黒鉛板35の表面に滲み出してアルミニウム層38が形成される。このアルミニウム層38に切削加工を施して第1スキン層31、第2スキン層32の厚さを調整することにより、前述の緩衝層30が製出される。
次に、前述のパワーモジュール用基板10と緩衝層30とを備えた緩衝層付パワーモジュール用基板40及び、この緩衝層付パワーモジュール用基板40にヒートシンク4を接合したヒートシンク付パワーモジュール用基板50の製造方法について説明する。
図5に示すように、第1スキン層31及び第2スキン層32を有する緩衝層30の上面に、ろう材箔33を介して前述のパワーモジュール用基板10を積層する。これを積層方向に加圧した状態で加熱してろう材箔33を溶融させた後に冷却して凝固させ、パワーモジュール用基板10の金属層13と緩衝層30を接合することにより、本実施形態である緩衝層付パワーモジュール用基板40が製出される。
そして、この緩衝層付パワーモジュール用基板40の下面(緩衝層30の下面)に、ろう材箔34を介してヒートシンク4を積層させる。これを積層方向に加圧した状態で加熱してろう材箔34を溶融させた後に冷却して凝固させ、緩衝層付パワーモジュール用基板40の緩衝層30とヒートシンク4の天板部5を接合し、本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板50が製出される。
このような構成とされたヒートシンク付パワーモジュール用基板50は、回路層12の表面に半導体チップ3がはんだによって接合され、ヒートシンク付パワーモジュール1として使用される。
以上のような構成とされた本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板50及びヒートシンク付パワーモジュール1においては、パワーモジュール用基板10の金属層13とヒートシンク4の天板部5との間に、熱膨張係数Kが、セラミックス基板11の熱膨張係数Kc(約4.5ppm/K)及びヒートシンク4の天板部5の熱膨張係数Kt(約23.5ppm/K)に対して、Kc<K<Ktの関係とされた緩衝層30が設けられており、さらに緩衝層30のうちヒートシンク4の天板部5側に、純度99.98%以上のアルミニウムからなる第1スキン層31が形成されているので、熱膨張係数が大きく異なるヒートシンク4とセラミックス基板11(パワーモジュール用基板10)との間の熱応力を、これらヒートシンク4とセラミックス基板11(パワーモジュール用基板10)の中間の熱膨張係数Kを有する緩衝層30によって効率的に吸収することができる。よって、熱サイクルが負荷された際の熱変形や反りが抑えられ、このヒートシンク付パワーモジュール1の熱サイクル信頼性を大幅に向上させることができる。
また、金属層13がヒートシンク4の天板部5に緩衝層30を介して接合されるとともに、この緩衝層30が、炭素質部材中にアルミニウムが充填されたアルミニウム基複合材料で構成されていて、その熱伝導率が300〜400W/m・K程度とアルミニウムよりも高くされているので、パワーモジュール用基板10側で発生した熱をヒートシンク4側へと効率良く放散することができる。
また、第1スキン層31がヒートシンク4の天板部5に接合されるため、天板部5と緩衝層30とが強固に接合されるとともに、接合界面における熱抵抗が抑えられ、熱の放散をさらに促進させることができる。
本実施形態では、第1スキン層31の平均厚さtsが0.03mm以上とされているので、この第1スキン層31において熱応力を確実に吸収することができる。また、第1スキン層31の平均厚さtsが3mm以下とされているので、熱伝導性を確保することができ、熱の放散を効率良く行うことができる。
さらに、第1スキン層31が純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)で構成されており、比較的軟らかく応力を吸収しやすいため、第1スキン層31における熱応力の吸収をさらに促進させることができる。
また、本実施形態では、緩衝層30のうち金属層13側に、純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)からなる第2スキン層32が形成されているので、この第2スキン層32を介することにより、パワーモジュール用基板10の金属層13と緩衝層30とを強固に接合することができる。
なお、本実施形態では、ろう材箔33、34を介して、パワーモジュール用基板10と緩衝層30及び緩衝層30とヒートシンク4を接合していることから、第1スキン層31及び第2スキン層32においては、ろう材箔33,34の成分元素であるSiが拡散していて、純度が99.98%未満となることもある。
また、緩衝層30を構成するアルミニウム基複合材料が、炭素質部材に純度が99.98%以上のアルミニウムが充填されたものとされているので、本実施形態のようにAl−Si系のろう材箔33、34を使用しても、充填されたアルミニウムが溶け出すことがなく、緩衝層30とヒートシンク4の天板部5及び緩衝層30とパワーモジュール用基板10の金属層13とをろう付けによって接合することができる。
また、本実施形態においては、緩衝層30を構成するアルミニウム基複合材料が、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、純度99.98%以上のアルミニウム(純アルミニウム)が充填されたものであり、黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上が純アルミニウムによって置換され、この純アルミニウムの含有率が、アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされているので、緩衝層30が、炭素成分量が比較的高く強度に優れるとともに熱伝導性が確保され、このヒートシンク付パワーモジュール1の熱の放散を促進することができるとともに熱サイクル信頼性を向上させることができる。
このように、本実施形態のヒートシンク付パワーモジュール1によれば、半導体チップ3から発生する熱を効率良くヒートシンク4側に放散することができるとともに、熱サイクル信頼性を大幅に向上させることが可能となる。
次に、本発明の第2の実施形態について図6〜図8を参照して説明する。なお、第1の実施形態と同一の部材には同じ符号を付して詳細な説明を省略する。
この第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール101においては、緩衝層130の構成が第1の実施形態と異なっている。
緩衝層130においては、図6及び図7に示すように、ヒートシンク4の天板部5側に第1スキン層131が形成されている。この第1スキン層131の平均厚さtsは、第1の実施形態と同様に、緩衝層130全体の厚さtbに対して、0.03×tb≦ts≦0.20×tbの範囲内とされており、より具体的には、0.03mm≦ts≦3mmの範囲内に設定されている。
ここで、緩衝層130は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、融点が600℃以下のアルミニウム合金(本実施形態では、Al−Si合金)が充填されたアルミニウム基複合材料で構成されており、黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上がAl−Si合金によって置換され、このAl−Si合金の含有率が、アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされている。
また、前述の第1スキン層131は、緩衝層130に充填されたAl−Si合金で構成されている。
次に、前述のパワーモジュール用基板10と緩衝層130とを備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板150の製造方法について説明する。
図8に示すように、第1スキン層131を有する緩衝層130の上面に前述のパワーモジュール用基板10(金属層13)を直接積層し、緩衝層130の下面にヒートシンク4の天板部5を直接積層させる。なお、緩衝層130の外面のうち、パワーモジュール用基板10及びヒートシンク4が積層される面以外の部分には、緩衝層130中のAl−Si合金の滲み出しによる溶着を防止するために、黒鉛あるいはBN(窒化硼素)の粉末を塗布しておく。
これを積層方向に加圧(0.15〜3.0MPa)した状態で500〜620℃まで加熱する。すると、第1スキン層131の表面の一部が溶融し、ヒートシンク4の天板部5と接合される。また、緩衝層130中に充填されているAl−Si合金の一部が表面に滲み出してきて、パワーモジュール用基板10の金属層13と緩衝層130とが接合されることになる。このとき、緩衝層130の外面のうちパワーモジュール用基板10及びヒートシンク4が積層される面以外の部分からのAl−Si合金の滲み出しは、黒鉛あるいはBN(窒化硼素)の粉末によって抑制される。
このようにして、パワーモジュール用基板10の金属層13と緩衝層130、緩衝層130とヒートシンク4の天板部5が接合され、本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板150が製造される。
以上のような構成とされた第2の本実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板150及びヒートシンク付パワーモジュール101においては、緩衝層130に第1スキン層131のみが形成されており、この第1スキン層131がAl−Si合金で構成されているので、熱膨張係数が、ヒートシンク4側からパワーモジュール用基板10側に向けて段階的に小さくなるように構成されることになる。よって、熱サイクルを負荷した際に生じる熱応力を、緩衝層130と第1スキン層131とで効率良く吸収することができ、熱サイクル信頼性を大幅に向上させることが可能となる。
また、ろう材箔を用いることなく緩衝層130とパワーモジュール用基板10及び緩衝層130とヒートシンク4とを接合することができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、その発明の技術的思想を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
例えば、第1の実施形態において、第1スキン層及び第2スキン層を備えた緩衝層をろう材箔を介して接合したものとして説明したが、これに限定されることはなく、第1スキン層のみが形成された緩衝層をろう材箔を介して接合してもよい。
一方、第2の実施形態において、第1スキン層のみが形成された緩衝層をろう材を使用せずに接合したものとして説明したが、これに限定されることはなく、第1スキン層及び第2スキン層が形成された緩衝層をろう材を使用せずに接合してもよい。
また、第1の実施形態において、パワーモジュール用基板と緩衝層とをろう付けして緩衝層付パワーモジュール用基板を製出し、この緩衝層付パワーモジュール用基板とヒートシンクとをろう付けしてヒートシンク付パワーモジュール用基板を製出するものとして説明したが、これに限定されることはなく、パワーモジュール用基板と緩衝層及び緩衝層とヒートシンクのろう付けを同時に行ってもよい。
さらに、第2の実施形態において、黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に充填する融点が600℃以下のアルミニウム合金として、Al−Si合金を用いたものとして説明したが、これに限定されることはなく、例えばAl−Mg合金、Al−Si−Mg合金等の他のアルミニウム合金を用いても良い。
また、炭素質部材として、黒鉛結晶含有炭素質マトリックス(黒鉛部材)を用いたものとして説明したが、これに限定されることはなく、炭化ケイ素(SiC)やダイヤモンド等で構成された炭素質部材であってもよい。
また、第1スキン層(スキン層)を、緩衝層中に充填されたアルミニウム又はアルミニウム合金を滲み出させて形成するものとして説明したが、これに限定されることはなく、図9に示すように、緩衝層230を形成する際に、アルミニウム又はアルミニウム合金の板材39を挟持板36,36の間に挟みこんで、第1スキン層231(スキン層)を形成してもよい。この場合、緩衝層230内に充填されるアルミニウム又はアルミニウム合金と異なる組成の第1スキン層(スキン層)を形成することが可能となる。
さらに、一つのヒートシンク(天板部)の上に一つの緩衝層が配設され、一つの緩衝層の上に一つのパワーモジュール用基板が配設されたものを図示して説明したが、これに限定されることはなく、図10に示すように、一つのヒートシンク404(天板部405)の上に、複数の緩衝層430及びパワーモジュール用基板10が配設されていてもよい。あるいは、図11に示すように、一つのヒートシンク504(天板部505)の上に一つの緩衝層530が配設され、この上に複数のパワーモジュール用基板10が配設されていてもよい。
また、セラミックス基板をAlNで構成されたものとして説明したが、これに限定されることはなく、Si、Al等の他のセラミックスで構成されていてもよい。
さらに、回路層及び金属層を構成する金属板を純度99.99%の純アルミニウムの圧延板としたものとして説明したが、これに限定されることはなく、純度99%のアルミニウム(2Nアルミニウム)等で構成されていてもよい。
さらに、ヒートシンクをA6063(アルミニウム合金)で構成したものとして説明したが、これに限定されることはなく、アルミニウム又はアルミニウム合金で構成されていてもよい。さらに、ヒートシンクとして冷却媒体の流路を有するもので説明したが、ヒートシンクの構造に特に限定はない。
本発明の第1の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュールの概略説明図である。 図1に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板に備えられた緩衝層の拡大説明図である。 図1に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板に備えられたパワーモジュール用基板の製造方法の説明図である。 図1に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板に備えられた緩衝層の製造方法の説明図である。 図1に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法の説明図である。 本発明の第2の実施形態であるヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュールの概略説明図である。 図6に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板に備えられた緩衝層の拡大説明図である。 図6に示すヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法の説明図である。 緩衝層の製造方法の他の例を示す説明図である。 本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板の他の例を示す説明図である。 本発明のヒートシンク付パワーモジュール用基板の他の例を示す説明図である。
符号の説明
1,101 ヒートシンク付パワーモジュール
3 半導体チップ(電子部品)
4、404、504 ヒートシンク
5、405、505 天板部
10 パワーモジュール用基板
11 セラミックス基板
13 金属層
30、130、230、430、530 緩衝層
31、131、231 第1スキン層(スキン層)
32 第2スキン層
40 緩衝層付パワーモジュール用基板
50、150 ヒートシンク付パワーモジュール用基板

Claims (9)

  1. 絶縁基板の一方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる回路層が形成されるとともに前記絶縁基板の他方の面にアルミニウム又はアルミニウム合金からなる金属層が形成されたパワーモジュール用基板と、前記金属層側に接合されるアルミニウム又はアルミニウム合金からなるヒートシンクと、を備えたヒートシンク付パワーモジュール用基板であって、
    前記金属層と前記ヒートシンクとの間には、炭素質部材中にアルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたアルミニウム基複合材料からなる緩衝層が設けられ、この緩衝層の熱膨張係数Kが、前記絶縁基板の熱膨張係数Kc及び前記ヒートシンクの熱膨張係数Ktに対して、Kc<K<Ktの関係とされており、
    前記緩衝層のうち前記ヒートシンク側には、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層が形成されていることを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  2. 前記スキン層の平均厚さtsが、0.03mm≦ts≦3mmの範囲内に設定されていることを特徴とする請求項1に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  3. 前記スキン層が、純度99%以上のアルミニウムで構成されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  4. 前記緩衝層のうち前記金属層側に、アルミニウム又はアルミニウム合金からなる第2スキン層が形成されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  5. 前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、純度が99%以上のアルミニウムが充填されていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  6. 前記アルミニウム基複合材料において、前記炭素質部材には、融点が600℃以下のアルミニウム合金が充填されていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  7. 前記アルミニウム基複合材料は、平均面間隔d002が0.340nm以下の黒鉛結晶含有炭素質マトリックス中に、アルミニウム又はアルミニウム合金が充填されたものであり、前記黒鉛結晶含有炭素質マトリックスの気孔の90体積%以上が前記アルミニウム又はアルミニウム合金によって置換され、前記アルミニウム又はアルミニウム合金の含有率が、前記アルミニウム基複合材料全体積基準で35%以下とされていることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板。
  8. 請求項1から請求項7のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板と、前記回路層上に搭載される電子部品と、を備えたことを特徴とするヒートシンク付パワーモジュール。
  9. 請求項1から請求項7のいずれか一項に記載のヒートシンク付パワーモジュール用基板に用いられる緩衝層付パワーモジュール用基板であって、
    前記緩衝層のうち前記パワーモジュール用基板とは反対側の面には、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるスキン層が形成されていることを特徴とする緩衝層付パワーモジュール用基板。
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