[go: up one dir, main page]

JP2003110243A - プリント基板およびその製造方法 - Google Patents

プリント基板およびその製造方法

Info

Publication number
JP2003110243A
JP2003110243A JP2001338119A JP2001338119A JP2003110243A JP 2003110243 A JP2003110243 A JP 2003110243A JP 2001338119 A JP2001338119 A JP 2001338119A JP 2001338119 A JP2001338119 A JP 2001338119A JP 2003110243 A JP2003110243 A JP 2003110243A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal
printed circuit
circuit board
particles
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001338119A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3473601B2 (ja
Inventor
Yoshitaro Yazaki
芳太郎 矢▲崎▼
Yoshihiko Shiraishi
芳彦 白石
Koji Kondo
宏司 近藤
Toshiichi Harada
敏一 原田
Tomohiro Yokochi
智宏 横地
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2001338119A priority Critical patent/JP3473601B2/ja
Priority to MXPA01013269A priority patent/MXPA01013269A/es
Priority to EP01130722A priority patent/EP1220591A3/en
Priority to KR1020010082664A priority patent/KR20020052959A/ko
Priority to US10/024,470 priority patent/US6641898B2/en
Priority to TW090132071A priority patent/TW507481B/zh
Priority to CNB011338407A priority patent/CN100346676C/zh
Priority to SG200108065A priority patent/SG108290A1/en
Publication of JP2003110243A publication Critical patent/JP2003110243A/ja
Priority to US10/643,919 priority patent/US6972070B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3473601B2 publication Critical patent/JP3473601B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4611Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
    • H05K3/4626Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials
    • H05K3/4632Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials laminating thermoplastic or uncured resin sheets comprising printed circuits without added adhesive materials between the sheets
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4038Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
    • H05K3/4053Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques
    • H05K3/4069Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques for via connections in organic insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4611Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
    • H05K3/4614Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards the electrical connections between the circuit boards being made during lamination
    • H05K3/4617Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards the electrical connections between the circuit boards being made during lamination characterized by laminating only or mainly similar single-sided circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • H05K1/092Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
    • H05K1/095Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks for polymer thick films, i.e. having a permanent organic polymeric binder
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/01Dielectrics
    • H05K2201/0104Properties and characteristics in general
    • H05K2201/0129Thermoplastic polymer, e.g. auto-adhesive layer; Shaping of thermoplastic polymer
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/02Fillers; Particles; Fibers; Reinforcement materials
    • H05K2201/0203Fillers and particles
    • H05K2201/0263Details about a collection of particles
    • H05K2201/0272Mixed conductive particles, i.e. using different conductive particles, e.g. differing in shape
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0302Properties and characteristics in general
    • H05K2201/0305Solder used for other purposes than connections between PCB or components, e.g. for filling vias or for programmable patterns
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0332Structure of the conductor
    • H05K2201/0335Layered conductors or foils
    • H05K2201/0355Metal foils
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0332Structure of the conductor
    • H05K2201/0388Other aspects of conductors
    • H05K2201/0394Conductor crossing over a hole in the substrate or a gap between two separate substrate parts
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09818Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
    • H05K2201/09827Tapered, e.g. tapered hole, via or groove
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09818Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
    • H05K2201/09863Concave hole or via
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/04Soldering or other types of metallurgic bonding
    • H05K2203/0425Solder powder or solder coated metal powder
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/11Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
    • H05K2203/1131Sintering, i.e. fusing of metal particles to achieve or improve electrical conductivity
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24802Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
    • Y10T428/24917Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.] including metal layer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 層間接続の信頼性低下を防止できるプリント
基板およびプリント基板の製造方法を提供すること。 【解決手段】 (a)に示すように、ビアホール24内
に錫粒子61と銀粒子62とを含む導電ペースト50を
充填した銅パターン22を有する絶縁基材23を適宜積
層し、両面から加熱プレスする。これにより、(b)に
示すように、錫粒子61は融解し銀粒子62と合金化す
るとともに焼結して一体化した導電性組成物51とな
る。また、導電性組成物51中の錫成分と銅パターン2
2とは相互に固相拡散して固相拡散層52を形成し、複
数の導体パターン22(下方の導体パターンは図示せ
ず)の層間を、接触導通によらない信頼性の高い接合に
より電気的接続を行なうことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板およ
びその製造方法に関し、特に、両面プリント基板あるい
は多層プリント基板に形成される複数の導体パターン層
間を電気的に接続したプリント基板およびその製造方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術として、例えば特開平7−17
6846号公報に開示された技術がある。この技術は、
プリント基板のビアホール内に金属粒子とバインダ樹脂
を含有する導電ペーストを充填した後、加圧しつつ加熱
することによって、プリント基板の導体パターン層間の
電気的接続を行なうものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術では、導体パターンの層間の電気的接続は、ビ
アホール内の金属粒子同士の接触導通と導体パターンと
金属粒子との接触導通により行なわれる。従って、車載
用途等の厳しい温度条件下で使用されるプリント基板に
おいては、層間接続抵抗値が変化し易い。
【0004】例えば、高温環境下においては、バインダ
樹脂の膨張により金属粒子同士の接触抵抗値や導体パタ
ーンと金属粒子との接触抵抗値が大きくなり、層間接続
抵抗値が増大し、層間接続の信頼性低下に繋がるという
問題がある。この問題は、プリント基板の高密度化が進
むとさらに深刻なものとなる。
【0005】本発明は上記点に鑑みてなされたもので、
複数の導体パターン層の層間接続の信頼性低下を防止で
きるプリント基板およびプリント基板の製造方法を提供
することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載の発明では、絶縁基材(23)に、
導体パターン(22)を複数層有するプリント基板(1
00)であって、絶縁基材(23)に設けられたビアホ
ール(24)中に、導体パターン(22)を形成する金
属と合金を形成し得る第1の金属と、層間接続時の加熱
温度より高い融点を有する第2の金属との合金を含む一
体化した導電性組成物(51)が充填され、導体パター
ン(22)を形成する金属と導電性組成物(51)中の
第1の金属との固相拡散層(52)を介し、導体パター
ン(22)間相互を導電性組成物(51)により電気的
に接続しているプリント基板であることを特徴としてい
る。
【0007】これによると、複数層の導体パターン(2
2)相互は、ビアホール(24)中の一体化した導電性
組成物(51)と、導電性組成物(51)中の第1の金
属と導体パターン(22)を形成する金属との固相拡散
層(52)により電気的に接続される。従って、導体パ
ターン(22)相互の電気的接続が接触導通により行な
われることはないので、層間接続抵抗値は変化し難い。
このようにして、層間接続の信頼性低下を防止できる。
【0008】また、請求項2に記載の発明のように、第
1の金属は、具体的には、錫、インジウムから選ばれる
少なくとも1つの金属とすることができる。
【0009】また、請求項3に記載の発明のように、第
2の金属は、具体的には、銀、銅、金、白金、パラジウ
ム、ニッケル、亜鉛から選ばれる少なくとも1つの金属
とすることができる。
【0010】また、請求項4に記載の発明では、第1の
金属が、導電性組成物(51)中の金属成分の20〜8
0重量%を占めることを特徴としている。
【0011】これによると、導電性組成物(51)中の
第1の金属と導体パターン(22)を形成する金属との
固相拡散層(52)を確実に形成することができる。従
って、層間接続の信頼性低下を確実に防止できる。
【0012】また、請求項5に記載の発明では、導体パ
ターン(22)を形成する金属が銅であることを特徴と
している。
【0013】これによると、価格面等より一般的な導体
パターン材料である銅を導体パターン(22)に用いた
プリント基板(100)においても、導体パターン(2
2)を形成する銅と導電性組成物(51)中の第1の金
属との固相拡散層(52)を形成することができる。
【0014】また、請求項6に記載の発明では、絶縁基
材(23)は、熱可塑性樹脂あるいは熱硬化性樹脂から
なることを特徴としている。
【0015】これによると、複数の導体パターン(2
2)層の積層一体化と、複数の導体パターン(22)層
間の層間接続とを、加圧しつつ加熱することにより、同
時に行なうことができる。
【0016】また、請求項7に記載の発明では、絶縁基
材(23)に形成されたビアホール(24)内に、第1
の金属からなる第1の金属粒子(61)と、層間接続時
の加熱温度より高い融点を有するとともに、第1の金属
と合金を形成し得る第2の金属からなる第2の金属粒子
(62)とを含む層間接続材料(50)を充填する充填
工程と、層間接続材料(50)を複数の導体パターン
(22)の層間で加圧しつつ加熱して、第1の金属粒子
(61)を形成する第1の金属と第2の金属粒子(6
2)を形成する第2の金属とを合金化し、一体化した導
電性組成物(51)を形成するとともに、導電性組成物
(51)中の第1の金属と導体パターン(22)を形成
する金属とを相互に固相拡散することで、複数の導体パ
ターン(22)の層間を電気的に接続する層間接続工程
とを備えるプリント基板の製造方法であることを特徴と
している。
【0017】これによると、請求項1に記載のプリント
基板(100)を製造することができる。従って、導体
パターン(22)相互の電気的接続が接触導通により行
なわれることはないので、層間接続抵抗値は変化し難
い。このようにして、層間接続の信頼性低下を防止でき
る。
【0018】また、請求項8に記載の発明のように、第
1の金属は、具体的には、錫、インジウムから選ばれる
少なくとも1つの金属とすることができる。
【0019】また、請求項9に記載の発明のように、第
2の金属は、具体的には、銀、銅、金、白金、パラジウ
ム、ニッケル、亜鉛から選ばれる少なくとも1つの金属
とすることができる。
【0020】また、請求項10に記載の発明では、第1
の金属粒子(61)が、層間接続材料(50)中の金属
成分の20〜80重量%を占めることを特徴としてい
る。
【0021】これによると、導電性組成物(51)中の
第1の金属と導体パターン(22)を形成する金属との
固相拡散を確実に行なうことができる。従って、層間接
続の信頼性低下を確実に防止できる。
【0022】また、請求項11に記載の発明では、絶縁
基材(23)に形成されたビアホール(24)内に、第
1の金属と層間接続時の加熱温度より高い融点を有する
第2の金属との合金粒子(162)を含む層間接続材料
(150)を充填する充填工程と、層間接続材料(15
0)を複数の導体パターン(22)の層間で加圧しつつ
加熱して、一体化した導電性組成物(51)を形成する
とともに、導電性組成物(51)中の第1の金属と導体
パターン(22)を形成する金属とを相互に固相拡散す
ることで、複数の導体パターン(22)の層間を電気的
に接続する層間接続工程を備えるプリント基板の製造方
法であることを特徴としている。
【0023】これによると、請求項7に記載の発明と同
様に、請求項1に記載のプリント基板(100)を製造
することができる。従って、導体パターン(22)相互
の電気的接続が接触導通により行なわれることはないの
で、層間接続抵抗値は変化し難い。このようにして、層
間接続の信頼性低下を防止できる。
【0024】また、請求項12に記載の発明のように、
第1の金属は、具体的には、錫、インジウムから選ばれ
る少なくとも1つの金属とすることができる。
【0025】また、請求項13に記載の発明のように、
第2の金属は、具体的には、銀、銅、金、白金、パラジ
ウム、ニッケル、亜鉛から選ばれる少なくとも1つの金
属とすることができる。
【0026】また、請求項14に記載の発明では、前記
第1の金属が、層間接続材料(150)中の金属成分の
20〜80重量%を占めることを特徴としている。
【0027】これによると、導電性組成物(51)中の
第1の金属と導体パターン(22)を形成する金属との
固相拡散を確実に行なうことができる。従って、層間接
続の信頼性低下を確実に防止できる。
【0028】また、請求項15に記載の発明では、導体
パターン(22)を形成する金属が銅であることを特徴
としている。
【0029】これによると、価格面等より一般的な導体
パターン材料である銅を導体パターン(22)に用いた
プリント基板(100)の製造時においても、導体パタ
ーン(22)を形成する銅と導電性組成物(51)中の
第1の金属との固相拡散を行なうことができる。
【0030】また、請求項16に記載の発明では、絶縁
基材(23)は、熱可塑性樹脂あるいは熱硬化性樹脂か
らなることを特徴としている。
【0031】これによると、層間接続工程において、基
板の両面から加圧しつつ加熱することにより、複数の導
体パターン(22)層の積層一体化と、複数の導体パタ
ーン(22)層間の層間接続とを、同時に行なうことが
できる。
【0032】また、請求項17に記載の発明では、層間
接続材料(50)を加圧しつつ加熱するときの加熱温度
は、220℃以上であることを特徴としている。
【0033】これによると、一体化した導電性組成物
(51)の形成および固相拡散層(52)の形成を良好
に行なうことができる。
【0034】また、請求項18に記載の発明では、請求
項17に記載の発明において、層間接続材料(50)を
加圧しつつ加熱するときの加圧力は、0.5MPa以上
であることを特徴としている。
【0035】これによると、一体化した導電性組成物
(51)の形成および固相拡散層(52)の形成を確実
に行なうことができる。
【0036】また、請求項19に記載の発明では、層間
接続材料(50)は、少なくとも有機溶剤を含有し、ペ
ースト状であることを特徴としている。
【0037】これによると、層間接続材料(50)がペ
ースト状であるため、充填工程において、ビアホール
(24)内に層間接続材料(50)が充填が容易にな
る。
【0038】また、請求項20に記載の発明では、層間
接続材料(50)は、層間接続材料(50)中の固形分
100重量%に対し、さらに分散剤を0.01〜1.5
重量%含有することを特徴としている。
【0039】これによると、ペースト状の層間接続材料
(50)中に金属粒子(61、62)を均一に分散させ
易くなる。
【0040】また、請求項21に記載の発明では、層間
接続材料(50)は、層間接続材料(50)中の金属粒
子(61、62)に拡散し得る金属からなるバインダ粒
子(63)を含有し、充填工程後に、バインダ粒子(6
3)を加熱することにより、バインダ粒子(63)を形
成する金属を介して層間接続材料(50)中の金属粒子
(61、62)間相互を接続することを特徴としてい
る。
【0041】従来から、ビアホール内に充填する層間接
続材料の保形性が良好でない場合、プリント基板製造
時、ビアホール内に層間接続材料を充填した絶縁基材を
取り扱っているときに、充填した層間接続材料が脱落す
る場合があるという問題がある。
【0042】ところが、本発明によると、バインダ粒子
(63)を形成する金属を加熱して拡散することで、こ
の金属を介して、ビアホール(24)内に充填された層
間接続材料(50)に含まれる他の金属粒子(61、6
2)間相互を接続することができる。従って、ビアホー
ル(24)内の層間接続材料(50)の保形性を向上す
ることができる。このようにして、ビアホール(24)
内から層間接続材料(50)が脱落することを防止でき
る。
【0043】また、請求項22に記載の発明のように、
具体的には、バインダ粒子(63)を第1の金属の融点
および第2の金属の融点より低い融点を有する金属によ
り形成し、充填工程後に、層間接続材料(50)を第1
の金属の融点および第2の金属の融点より低い温度で加
熱することにより、バインダ粒子(63)を形成する金
属を介して、層間接続材料(50)中の金属粒子(6
1、62)間相互を接続することができる。
【0044】また、請求項23に記載の発明のように、
具体的には、バインダ粒子(64)を粒径が1〜100
nmの粒子とし、充填工程後に、層間接続材料(50)
を第1の金属の融点および第2の金属の融点より低い温
度で加熱することにより、バインダ粒子(64)を形成
する金属を介して、層間接続材料(50)中の金属粒子
(61、62)間相互を接続することができる。これ
は、粒径が約100nm以下の金属粒子は表面エネルギ
ーが大きく、加熱することで容易に拡散するためであ
る。
【0045】また、請求項24に記載の発明では、層間
接続材料(50)中の金属粒子(61、62)は、平均
粒径が0.1〜20μmであるとともに、比表面積が
0.1〜2.5m2/gであることを特徴としている。
【0046】これによると、ペースト状の層間接続材料
(50)を、ビアホール(24)内への充填に適した粘
度に調整し易くなる。
【0047】また、請求項25に記載の発明では、絶縁
基材(23)に形成されたビアホール(24)内に、粒
径が1〜500nmである金属微粒子(72)を含む層
間接続材料(250)を充填する充填工程と、層間接続
材料(250)を複数の導体パターン(22)の層間で
加圧しつつ加熱して、一体化した導電性組成物(25
1)を形成するとともに、導電性組成物(251)中の
前記金属微粒子(72)を形成していた金属成分と前記
導体パターン(22)を形成する金属とを相互に固相拡
散することで、前記複数の導体パターン(22)の層間
を電気的に接続する層間接続工程とを備えることを特徴
としている。
【0048】これによると、複数層の導体パターン(2
2)相互は、ビアホール(24)中の一体化した導電性
組成物(251)と、導電性組成物(251)中に存在
する層間接続材料(250)中において金属微粒子(7
2)を形成していた金属成分と導体パターン(22)を
形成する金属との固相拡散層(252)により電気的に
接続される。従って、導体パターン(22)相互の電気
的接続が接触導通により行なわれることはないので、層
間接続抵抗値は変化し難い。このようにして、層間接続
の信頼性低下を防止できる。
【0049】また、請求項26に記載の発明のように、
金属微粒子(72)を形成する金属は、具体的には、亜
鉛、アルミニウム、ニッケルから選ばれる少なくとも1
つの金属とすることができる。
【0050】また、請求項27に記載の発明のように、
層間接続材料(250)は、金属微粒子(72)と同一
材質の金属大径粒子(71)を含有することができる。
【0051】また、請求項28に記載の発明のように、
層間接続材料(250)は、金属微粒子(72)を形成
する金属と合金を形成し得る金属からなる金属大径粒子
を含有することができる。
【0052】これらの請求項27および請求項28に記
載の発明によると、層間接続材料(250)において、
一般的に高価である金属微粒子(72)の含有量を抑え
ることが可能である。
【0053】また、請求項29に記載の発明では、絶縁
基材(23)に形成されたビアホール(24)内に、粒
径が1〜500nmである金属微粒子と、この金属微粒
子を形成する金属と合金を形成し得る金属からなる金属
大径粒子とを含む層間接続材料を充填する充填工程と、
層間接続材料を複数の導体パターン(22)の層間で加
圧しつつ加熱して、一体化した導電性組成物を形成する
とともに、導電性組成物中の前記金属大径粒子を形成し
ていた金属成分と導体パターン(22)を形成する金属
とを相互に固相拡散することで、複数の導体パターン
(22)の層間を電気的に接続する層間接続工程とを備
えることを特徴としている。
【0054】これによると、複数層の導体パターン(2
2)相互は、ビアホール(24)中の一体化した導電性
組成物と、導電性組成物中に存在する層間接続材料中に
おいて金属大径粒子を形成していた金属成分と導体パタ
ーン(22)を形成する金属との固相拡散層により電気
的に接続される。従って、導体パターン(22)相互の
電気的接続が接触導通により行なわれることはないの
で、層間接続抵抗値は変化し難い。このようにして、層
間接続の信頼性低下を防止できる。
【0055】また、請求項30に記載の発明のように、
金属大径粒子(71)を形成する金属は、具体的には、
亜鉛、アルミニウム、ニッケルから選ばれる少なくとも
1つの金属とすることができる。
【0056】また、請求項31に記載の発明では、導体
パターン(22)を形成する金属が銅であることを特徴
としている。
【0057】これによると、価格面等より一般的な導体
パターン材料である銅を導体パターン(22)に用いた
プリント基板(200)の製造時においても、導体パタ
ーン(22)を形成する銅と導電性組成物(251)中
の金属成分との固相拡散を行なうことができる。
【0058】また、請求項32に記載の発明では、絶縁
基材(23)は、熱可塑性樹脂あるいは熱硬化性樹脂か
らなることを特徴としている。
【0059】これによると、層間接続工程において、基
板の両面から加圧しつつ加熱することにより、複数の導
体パターン(22)層の積層一体化と、複数の導体パタ
ーン(22)層間の層間接続とを、同時に行なうことが
できる。
【0060】また、請求項33に記載の発明では、層間
接続材料(250)を加圧しつつ加熱するときの加熱温
度は、220℃以上であることを特徴としている。
【0061】これによると、一体化した導電性組成物
(251)の形成および固相拡散層(252)の形成を
良好に行なうことができる。
【0062】また、請求項34に記載の発明では、請求
項33に記載の発明において、層間接続材料(250)
を加圧しつつ加熱するときの加圧力は、0.5MPa以
上であることを特徴としている。
【0063】これによると、一体化した導電性組成物
(251)の形成および固相拡散層(252)の形成を
確実に行なうことができる。
【0064】また、請求項35に記載の発明では、層間
接続材料(250)は、少なくとも有機溶剤を含有し、
ペースト状であることを特徴としている。
【0065】これによると、層間接続材料(250)が
ペースト状であるため、充填工程において、ビアホール
(24)内に層間接続材料(250)が充填が容易にな
る。
【0066】また、請求項36に記載の発明では、層間
接続材料(250)は、層間接続材料(250)中の固
形分100重量%に対し、さらに分散剤を0.01〜
1.5重量%含有することを特徴としている。
【0067】これによると、ペースト状の層間接続材料
(250)中に金属粒子(71、72)を均一に分散さ
せ易くなる。
【0068】なお、上記各手段に付した括弧内の符号
は、後述する実施形態記載の具体的手段との対応関係を
示す。
【0069】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
基づいて説明する。
【0070】(第1の実施形態)図1は、本実施形態に
おけるプリント基板の製造工程を示す工程別断面図であ
る。
【0071】図1(a)において、21は絶縁基材であ
る樹脂フィルム23の片面に貼着された導体箔(本例で
は厚さ18μmの銅箔)をエッチングによりパターン形
成した導体パターン22を有する片面導体パターンフィ
ルムである。本例では、樹脂フィルム23としてポリエ
ーテルエーテルケトン樹脂65〜35重量%とポリエー
テルイミド樹脂35〜65重量%とからなる厚さ25〜
75μmの熱可塑性樹脂フィルムを用いている。
【0072】図1(a)に示すように、導体パターン2
2の形成が完了すると、次に、図1(b)に示すよう
に、樹脂フィルム23側から炭酸ガスレーザを照射し
て、導体パターン22を底面とする有底ビアホールであ
るビアホール24を形成する。ビアホールの形成は、炭
酸ガスレーザの出力と照射時間等を調整することで、導
体パターン22に穴を開けないようにしている。
【0073】ビアホール24の形成には、炭酸ガスレー
ザ以外にエキシマレーザ等が使用可能である。レーザ以
外のドリル加工等のビアホール形成方法も可能である
が、レーザビームで穴あけ加工すると、微細な径で穴あ
けでき、導体パターン22にダメージを与えることが少
ないため好ましい。
【0074】図1(b)に示すように、ビアホール24
の形成が完了すると、次に、図1(c)に示すように、
ビアホール24内に層間接続材料である導電ペースト5
0を充填する。
【0075】導電ペースト50は、平均粒径5μm、比
表面積0.5m2/gの錫粒子(本実施形態の第1の金
属粒子)300gと、平均粒径1μm、比表面積1.2
2/gの銀粒子(本実施形態の第2の金属粒子)30
0gとに、有機溶剤であるテルピネオール60gを加
え、これをミキサーによって混練しペースト化したもの
である。
【0076】なお、錫は、本実施形態における第1の金
属であり、銀は、本実施形態における第2の金属であ
る。
【0077】導電ペースト50は、メタルマスクを用い
たスクリーン印刷機により、片面導体パターンフィルム
21のビアホール24内に印刷充填された後、140〜
160℃で30分間テルピネオールを乾燥させる。ビア
ホール24内への導電ペースト50の充填は、本例では
スクリーン印刷機を用いたが、確実に充填ができるので
あれば、ディスペンサ等を用いる他の方法も可能であ
る。
【0078】ここで、ペースト化のために添加する有機
溶剤として、テルピネオール以外を用いることも可能で
あるが、沸点が150〜300℃の有機溶剤を用いるこ
とが好ましい。沸点が150℃未満の有機溶剤では、導
電ペースト50の粘度の経時変化が大きくなるという不
具合を発生し易い。一方、沸点が300℃を超える有機
溶剤では、乾燥に要する時間が長くなり好ましくない。
【0079】また、本例では、導電ペースト50を構成
する金属粒子として、平均粒径5μm、比表面積0.5
2/gの錫粒子と、平均粒径1μm、比表面積1.2
2/gの銀粒子とを用いたが、これらの金属粒子は、
平均粒径が0.1〜20μmであるとともに、比表面積
が0.1〜2.5m2/gであることが好ましい。
【0080】金属粒子の平均粒径が0.1μm未満であ
ったり、比表面積が2.5m2/gを超える場合には、
ビアホール充填に適した粘度にペースト化するために多
量の有機溶剤を必要とする。多量の有機溶剤を含んだ導
電ペーストは乾燥に時間を要し、乾燥が不充分である
と、層間接続時の加熱により多量のガスを発生するた
め、ビアホール24内にボイドが発生し易く、層間接続
信頼性を低下させる。
【0081】一方、金属粒子の平均粒径が20μmを超
えたり、比表面積が0.1m2/g未満の場合には、ビ
アホール24内に充填し難くなるとともに、金属粒子が
偏在し易くなり、加熱しても均一な合金からなる導電性
組成物51を形成し難く、層間接続信頼性を確保し難い
という問題があり好ましくない。
【0082】また、ビアホール24内へ導電ペースト5
0を充填する前に、導体パターン22のビアホール24
に面する部位を薄くエッチング処理したり還元処理して
もよい。これによると、後述する層間接続時の固相拡散
が一層良好に行なわれる。
【0083】ビアホール24内への導電ペースト50の
充填および乾燥が完了すると、図1(d)に示すよう
に、片面導体パターンフィルム21を複数枚(本例では
4枚)積層する。このとき、下方側の2枚の片面導体パ
ターンフィルム21は導体パターン22が設けられた側
を下側として、上方側の2枚の片面導体パターンフィル
ム21は導体パターン22が設けられた側を上側として
積層する。
【0084】すなわち、中央の2枚の片面導体パターン
フィルム21を導体パターン22が形成されていない面
同士を向かい合わせて積層し、残りの2枚の片面導体パ
ターンフィルム21は、導体パターン22が形成された
面と導体パターン22が形成されていない面とが向かい
合うように積層する。
【0085】そしてさらに、積層された複数層の片面導
体パターンフィルム21の上方側には、最上層の導体パ
ターン22を覆うようにレジスト膜であるカバーレイヤ
ー36aを積層し、積層された複数層の片面導体パター
ンフィルム21の下方側には、最下層の導体パターン2
2を覆うようにレジスト膜であるカバーレイヤー36b
を積層する。
【0086】カバーレイヤー36aには、最上層の導体
パターン22の電極となるべき位置に対応して、電極3
2を露出するように開口39aが穴あけ加工されてい
る。また、カバーレイヤー36bには、最下層の導体パ
ターン22の電極となるべき位置に対応して、電極37
を露出するように開口39bが穴あけ加工されている。
本例では、カバーレイヤー36a、36bには、樹脂フ
ィルム23と同じ熱可塑性樹脂材料であるポリエーテル
エーテルケトン樹脂65〜35重量%とポリエーテルイ
ミド樹脂35〜65重量%とからなる樹脂フィルムを用
いている。
【0087】図1(d)に示すように片面導体パターン
フィルム21およびカバーレイヤー36a、36bを積
層したら、これらの上下両面から真空加熱プレス機によ
り加熱しながら加圧する。本例では、240〜350℃
の温度に加熱し2〜10MPaの圧力で10〜20分間
加圧した。
【0088】これにより、図1(e)に示すように、各
片面導体フィルムパターン21およびカバーレイヤー3
6a、36b相互が接着される。樹脂フィルム23およ
びカバーレイヤー36a、36bが熱融着して一体化す
るとともに、ビアホール24内の導電ペースト50によ
り隣接する導体パターン22の層間接続が行なわれ、両
面に電極32、37を備える多層のプリント基板100
が得られる。樹脂フィルム23とカバーレイヤー36
a、36bとは同じ熱可塑性樹脂材料によって形成され
ているので、加熱により軟化し、加圧されることで確実
に一体化することができる。
【0089】なお、上述の製造工程において、図1
(c)に示す工程が本実施形態における充填工程であ
り、図1(d)、(e)に示す工程が本実施形態におけ
る層間接続工程である。
【0090】ここで、層間接続のメカニズムを図2に基
づいて説明する。図2はビアホール24内の状態を模式
的に示す部分拡大図である。ビアホール24内に充填さ
れ乾燥されたペースト50は、真空加熱プレス機により
加熱される前には、図2(a)に示す状態にある。すな
わち、第1の金属粒子である錫粒子61と第2の金属粒
子である銀粒子62とが混合された状態にある。
【0091】そして、このペースト50が240〜35
0℃に加熱されると、錫粒子61の融点は232℃であ
り、銀粒子62の融点は961℃であるため、錫粒子6
1は融解し、銀粒子62の外周を覆うように付着する。
この状態で加熱が継続すると、融解した錫は、銀粒子6
2の表面から拡散を始め、錫と銀との合金(融点480
℃)を形成する。このとき、導電ペースト50には2〜
10MPaの圧力が加えられているため、錫と銀との合
金形成に伴い、図2(b)に示すように、ビアホール2
4内には、焼結により一体化した合金からなる導電性組
成物51が形成される。
【0092】また、ビアホール24内で導電性組成物5
1が形成されているときには、この導電性組成物51は
加圧されているため、導体パターン22のビアホール2
4の底部を構成している面に圧接される。これにより、
導電性組成物51中の錫成分と、導体パターン22を構
成する銅箔の銅成分とが相互に固相拡散し、導電性組成
物51と導体パターン22との界面に固相拡散層52を
形成する。
【0093】図2には図示していないが、ビアホール2
4の下方側の導体パターン22と導電性組成物51との
界面にも、導電性組成物51中の錫成分と、導体パター
ン22を構成する銅箔の銅成分との固相拡散層が形成さ
れる。従って、ビアホール24の上下の導体パターン2
2間は、一体化した導電性組成物51と固相拡散層52
とにより電気的に接続される。
【0094】上述の構成および製造方法によれば、プリ
ント基板100の複数層の導体パターン22相互は、ビ
アホール24中の焼結により一体化した錫と銀との合金
からなる導電性組成物51と、導体パターン22と導電
性組成物51との界面において形成された導電性組成物
51中の錫成分と導体パターン22を形成する銅との固
相拡散層52により電気的に接続される。従って、導体
パターン22相互の電気的接続が接触導通により行なわ
れることはないので、層間接続抵抗値は変化し難い。こ
のようにして、層間接続の信頼性低下を防止できる。
【0095】また、片面導体パターンフィルム21およ
びカバーレイヤー36a、36bの積層一体化と、導体
パターン22層間の層間接続とを、加圧しつつ加熱する
ことにより、同時に行なうことができる。従って、プリ
ント基板100の加工工数が低減でき、製造コストを低
減することができる。
【0096】なお、本実施形態では、導電ペースト50
中の金属成分は、錫が50重量%、銀が50重量%であ
ったが、金属成分中の錫の含有率は20〜80%である
ことが好ましい。
【0097】図3は、本発明者らが行なった導体パター
ンを形成する銅箔と導電性組成物との密着性の評価結果
であり、導電ペースト中の錫と銀との比率を変化させた
ときの銅箔と導電性組成物との密着強度を示すグラフで
ある。
【0098】評価方法を説明すると、まず、錫粒子およ
び銀粒子は本実施形態に前述した導電ペースト50に加
えたものを用い、金属成分に対し10重量%のテルピネ
オールを加えてペースト化したものを銅箔のシャイニー
面(光沢面)に印刷し、前述の乾燥条件で乾燥した。次
に、乾燥したペーストの表面に銅箔のマット面(非光沢
面)が接触するように銅箔を積層し、前述の条件で加熱
しながら加圧し、2枚の銅箔を導電性組成物を介して接
合した。
【0099】なお、銅箔のシャイニー面とマット面とを
接合したのは、プリント基板製造時に片面導体パターン
フィルムを同一方向に積層した場合に、上記の両面間に
ビアホール内に導電性組成物が充填されたビアが形成さ
れるためである。そして、接合した2枚の銅箔を10m
m/minの速度で剥離し、このときのピール強度を密
着強度とした。
【0100】錫の含有率が20〜80%であれば、絶縁
基材と銅箔との密着強度である1.0N/mm以上の良
好な密着強度が得られることがわかる。なお、錫の含有
率が20〜80%の場合の剥離による破壊モードは、銅
箔と導電性組成物との界面剥離でなく導電性組成物の母
材破壊であり、銅箔と導電性組成物との界面には、導電
性組成物よりも強固な固相拡散層が形成されていること
がわかる。
【0101】また、図4は、本発明者らが行なった層間
接続信頼性の評価結果であり、ビアホールに充填する導
電ペースト中の錫と銀との比率を変化させたときに、プ
リント基板のビア連結抵抗の初期値に対し、プリント基
板のリフロー半田付け工程通過後の抵抗値変化を示すグ
ラフである。
【0102】評価方法を説明すると、まず、錫粒子およ
び銀粒子は本実施形態に前述した導電ペースト50に加
えたものを用い、金属成分に対し10重量%のテルピネ
オールを加えてペースト化したものを片面導体パターン
フィルムのビアホール中に充填し、前述の乾燥条件で乾
燥した。次に、片面導体パターンフィルムの絶縁基材側
の面に銅箔を積層し、前述の条件で加熱しながら加圧し
て、ビア連結抵抗が測定できる導体パターンを形成した
両面基板を作製した。
【0103】そして、作製した両面基板のビア連結抵抗
と、この両面基板を250℃、5分間のリフロー工程を
通過させた後のビア連結抵抗を測定し、抵抗変化率を算
出した。
【0104】錫の含有率が20〜80%であれば、リフ
ロー後の抵抗変化率は、一般に接続信頼性が良好である
と言われる抵抗変化率の上限20%以下を確保できるこ
とがわかる。
【0105】上記のように、金属成分中の錫の含有率が
20〜80%の導電ペースト50を層間接続材料として
プリント基板を製造すれば、確実に接続信頼性の高いプ
リント基板を得ることができる。
【0106】なお、本実施形態では、層間接続工程にお
ける加熱温度は240〜350℃であったが、少なくと
も加熱温度は220℃以上であることが好ましい。
【0107】図5は、本発明者らが行なった導体パター
ンを形成する銅箔と導電性組成物との密着力の加熱温度
依存性の評価結果であり、加熱温度を変化させたときの
銅箔と導電性組成物との密着強度を示すグラフである。
【0108】評価方法を説明すると、まず、本実施形態
に前述した導電ペースト50を銅箔のシャイニー面(光
沢面)に印刷し、前述の乾燥条件で乾燥した。次に、乾
燥したペーストの表面に銅箔のマット面(非光沢面)が
接触するように銅箔を積層し、試料毎に加熱温度を変
え、前述の条件で加圧し、2枚の銅箔を導電性組成物を
介して接合した。
【0109】なお、銅箔のシャイニー面とマット面とを
接合したのは、プリント基板製造時に片面導体パターン
フィルムを同一方向に積層した場合に、上記の両面間に
ビアホール内に導電性組成物が充填されたビアが形成さ
れるためである。そして、接合した2枚の銅箔を10m
m/minの速度で剥離し、このときのピール強度を密
着強度とした。
【0110】加熱温度が220℃以上であれば、絶縁基
材と銅箔との密着強度である1.0N/mm以上の良好
な密着強度が得られることがわかる。なお、加熱温度が
220℃以上の場合の剥離による破壊モードは、銅箔と
導電性組成物との界面剥離でなく導電性組成物の母材破
壊であり、銅箔と導電性組成物との界面には、導電性組
成物よりも強固な固相拡散層が形成されていることがわ
かる。
【0111】上記のように、層間接続工程における加熱
温度が220℃以上であれば、導電性組成物と固相拡散
層による良好な層間接続を行なうことができる。
【0112】なお、本実施形態では、層間接続工程にお
ける加圧力は2〜10MPaであったが、加圧力は0.
5MPa以上であることが好ましい。加圧力が0.5M
Pa未満であると、金属粒子の焼結一体化が良好に行な
われないとともに、固相拡散層の形成も良好に行なわれ
ない。層間接続工程における加圧力を0.5MPa以上
にすることにより、良好な層間接続を確実に行なうこと
ができることを本発明者らは確認している。
【0113】上記各評価において、銅箔にはマット面に
防錆皮膜が形成されているものを用いたが、良好な層間
接続が行なえることが確認できた。
【0114】(第2の実施形態)次に、第2の実施形態
について図に基づいて説明する。
【0115】第2の実施形態は、第1の実施形態に対
し、導電ペースト50の保形性を向上するために導電ペ
ースト50の配合と充填工程後の加工条件が異なる。な
お、第1の実施形態と同様の部分については、同一の符
号をつけ、その説明を省略する。
【0116】図1(a)、(b)に示すように、第1の
実施形態と同様に導体パターン22とビアホール24の
形成が完了すると、次に、図1(c)に示すように、片
面導体パターンフィルム21のビアホール24内に層間
接続材料である導電ペースト50を充填する。
【0117】導電ペースト50は、平均粒径5μm、比
表面積0.5m2/gの錫粒子(本実施形態の第1の金
属粒子)300gと、平均粒径1μm、比表面積1.2
2/gの銀粒子(本実施形態の第2の金属粒子)30
0gと、平均粒径3μm、比表面積0.8m2/gのイ
ンジウム粒子(本実施形態のバインダ粒子)6gとに、
有機溶剤であるテルピネオール60gを加え、これをミ
キサーによって混練しペースト化したものである。
【0118】なお、錫は、本実施形態における第1の金
属であり、銀は、本実施形態における第2の金属であ
る。
【0119】導電ペースト50の充填が完了したら、1
40〜160℃で30分間テルピネオールを乾燥させ
る。そして、テルピネオールの乾燥が完了したら、片面
導体パターンフィルム21を180〜200℃で加熱す
る。
【0120】加熱する前には、図6(a)に示すよう
に、ビアホール24内において錫粒子61や銀粒子62
とともに混在していたインジウム粒子63は、融点が1
60℃であるので、この加熱により融解し、図6(b)
に示すように、錫粒子61および銀粒子62間相互をイ
ンジウム部63aが接続する。このとき、錫粒子61お
よび銀粒子62にはインジウム部63aの一部が拡散
し、冷却後は各粒子間を強固に接続する。
【0121】これにより、導電ペースト50も保形性は
格段に向上し、この後の工程において、ビアホール24
から脱落するような不具合は発生しない。
【0122】インジウム部63aによる各粒子間の接続
は、本例では180〜200℃に加熱することによりお
こなったが、錫の融点(232℃)および銀の融点(9
61℃)より低い温度(すなわち、錫の融点より低い温
度)であればよい。錫粒子61および銀粒子62を融解
することなく、各粒子間を接続することができる。ま
た、加熱のみでなく、加圧しつつ加熱することによって
インジウムにより各粒子間を接続するものであってもよ
い。例えば、加熱ロールの間等で、140〜160℃で
加熱しながら加圧することでもインジウムの一部を錫粒
子や銀粒子に拡散させ各粒子間を接続することが可能で
ある。
【0123】なお、本例では、バインダ粒子にインジウ
ム粒子63を用いたが、錫の融点および銀の融点より低
い融点を有するとともに、錫粒子61や銀粒子62に拡
散可能な金属により形成される粒子であればよい。
【0124】ビアホール24内への導電ペースト50の
充填、乾燥および加熱による保形性向上が完了すると、
図1(d)、(e)に示すように、第1の実施形態と同
様の工程を実施し、多層のプリント基板100が得られ
る。
【0125】なお、ビアホール24内で導電性組成物5
1が形成されるときには、インジウムも導電性組成物5
1に拡散して取り込まれる。
【0126】上述の構成および製造方法によれば、第1
の実施形態と同様の効果が得られる。これに加えて、導
電ペースト50のビアホール24内への充填後の保形性
が向上し、脱落することはなくなるので、層間接続の信
頼性低下を確実に防止することができる。
【0127】また、導電ペースト50の保形性向上のた
めにバインダ樹脂を添加する方法もあるが、バインダ樹
脂を多量に添加すると、層間接続時に層間の接続抵抗の
増大を招く可能性があり好ましくない。本発明では、バ
インダ樹脂を多量に必要としないので層間接続抵抗が大
きくなることもない。
【0128】なお、本実施形態において説明を省略した
各構成の材質や加工条件等は、第1の実施形態と同様で
ある。
【0129】(第3の実施形態)次に、第3の実施形態
について図に基づいて説明する。
【0130】第3の実施形態は、第1の実施形態に対
し、第2の実施形態と同様に、導電ペースト50の保形
性を向上するために導電ペースト50の配合と充填工程
後の加工条件が異なる。なお、第1の実施形態と同様の
部分については、同一の符号をつけ、その説明を省略す
る。
【0131】図1(a)、(b)に示すように、第1の
実施形態と同様に導体パターン22とビアホール24の
形成が完了すると、次に、図1(c)に示すように、片
面導体パターンフィルム21のビアホール24内に層間
接続材料である導電ペースト50を充填する。
【0132】導電ペースト50は、平均粒径5μm、比
表面積0.5m2/gの錫粒子(本実施形態の第1の金
属粒子)300gと、平均粒径1μm、比表面積1.2
2/gの銀粒子(本実施形態の第2の金属粒子)30
0gと、粒径5〜7nmの銀粒子(本実施形態のバイン
ダ粒子)0.6gとに、有機溶剤であるテルピネオール
60gを加え、これをミキサーによって混練しペースト
化したものである。
【0133】なお、錫は、本実施形態における第1の金
属であり、銀は、本実施形態における第2の金属であ
る。
【0134】導電ペースト50の充填が完了したら、1
40〜160℃で30分間テルピネオールを乾燥させ
る。そして、テルピネオールの乾燥が完了したら、片面
導体パターンフィルム21を加熱ロールの間等で140
〜160℃で加熱しながら加圧する。
【0135】加圧しつつ加熱する前には、図7(a)に
示すように、ビアホール24内において錫粒子61や平
均粒径1μmの銀粒子62とともに混在していた粒径5
〜7nmの銀粒子64は、表面エネルギーが非常に大き
いので、この加熱により銀粒子64の一部は、錫粒子6
1および銀粒子62に容易に拡散し、図7(b)に示す
ように、錫粒子61および銀粒子62間相互を接続す
る。
【0136】これにより、導電ペースト50も保形性は
格段に向上し、この後の工程において、ビアホール24
から脱落するような不具合は発生しない。
【0137】銀粒子64による各粒子間の接続は、本例
では140〜160℃に加熱しつつ加圧することにより
行なったが、錫の融点(232℃)および銀の融点(9
61℃)より低い温度(すなわち、錫の融点より低い温
度)であればよい。錫粒子61および銀粒子62を融解
することなく、各粒子間を接続することができる。ま
た、加熱のみで加圧することなく銀粒子64により各粒
子間を接続するものであってもよい。
【0138】なお、本例では、バインダ粒子に粒径5〜
7nmの銀粒子64を用いたが、粒径が1〜100nm
であるとともに、錫粒子61や銀粒子62に拡散可能な
金属により形成される粒子であればよい。粒径が100
nmを超えると表面エネルギーが小さくなり、錫の融点
より低い温度で各粒子を接続することが難しくなる。ま
た粒径が1nmより小さな粒子は製造が非常に困難であ
り高価なため好ましくない。
【0139】ビアホール24内への導電ペースト50の
充填、乾燥および加熱しつつ加圧することによる保形性
向上が完了すると、図1(d)、(e)に示すように、
第1の実施形態と同様の工程を実施し、多層のプリント
基板100が得られる。
【0140】なお、ビアホール24内で導電性組成物5
1が形成されるときには、銀粒子64も導電性組成物5
1に拡散して取り込まれる。
【0141】上述の構成および製造方法によれば、第1
の実施形態と同様の効果が得られる。これに加えて、導
電ペースト50のビアホール24内への充填後の保形性
が向上し、脱落することはなくなるので、層間接続の信
頼性低下を確実に防止することができる。
【0142】また、導電ペースト50の保形性向上のた
めにバインダ樹脂を添加する方法もあるが、バインダ樹
脂を多量に添加すると、層間接続時に層間の接続抵抗の
増大を招く可能性があり好ましくない。本発明では、バ
インダ樹脂を多量に必要としないので層間接続抵抗が大
きくなることもない。
【0143】なお、本実施形態において説明を省略した
各構成の材質や加工条件等は、第1の実施形態と同様で
ある。
【0144】(第4の実施形態)次に、第4の実施形態
について図に基づいて説明する。
【0145】第4の実施形態は、第1の実施形態に対
し、導電ペーストの構成がが異なる。なお、第1の実施
形態と同様の部分については、同一の符号をつけ、その
説明を省略する。
【0146】図1(a)、(b)に示すように、第1の
実施形態と同様に導体パターン22とビアホール24の
形成が完了すると、次に、図1(c)に示すように、片
面導体パターンフィルム21のビアホール24内に層間
接続材料である導電ペーストを充填する。図1(c)で
は導電ペースト50を充填した状態を図示しているが、
本実施形態では、図8(a)に示すように層間接続材料
である導電ペースト250を充填する。
【0147】導電ペースト250は、平均粒径1μm、
比表面積1.2m2/gの亜鉛粒子(本実施形態の金属
大径粒子)300gと、粒径5〜10nmの亜鉛粒子
(本実施形態の金属微粒子)300gとに、有機溶剤で
あるテルピネオール60gを加え、これをミキサーによ
って混練しペースト化したものである。
【0148】導電ペースト250の充填が完了したら、
140〜160℃で30分間テルピネオールを乾燥させ
る。ビアホール24内への導電ペースト250の充填お
よび乾燥が完了すると、図1(d)、(e)に示すよう
に、第1の実施形態と同様の工程を実施し、多層のプリ
ント基板が得られる。図1(e)ではプリント基板10
0を図示しているが、本実施形態では、図8(b)に示
すように層間接続されたプリント基板200が得られ
る。
【0149】ここで、層間接続のメカニズムを図8に基
づいて説明する。図8はビアホール24内の状態を模式
的に示す部分拡大図である。ビアホール24内に充填さ
れ乾燥されたペースト250は、真空加熱プレス機によ
り加熱される前には、図8(a)に示す状態にある。す
なわち、金属大径粒子である亜鉛粒子71と金属微粒子
である亜鉛粒子72とが混合された状態にある。
【0150】そして、このペースト250が240〜3
50℃に加熱されると、亜鉛粒子71の融点は419℃
であるため溶融することはないが、粒径5〜10nmの
亜鉛粒子72は表面エネルギーが非常に大きいので、こ
の加熱により溶融し、亜鉛粒子71間相互を接続する。
【0151】このとき、導電ペースト250には2〜1
0MPaの圧力が加えられているため、亜鉛粒子71間
の接続に伴い、図8(b)に示すように、ビアホール2
4内には、一体化した亜鉛からなる導電性組成物251
が形成される。
【0152】また、ビアホール24内で導電性組成物2
51が形成されているときには、この導電性組成物25
1は加圧されているため、導体パターン22のビアホー
ル24の底部を構成している面に圧接される。これによ
り、導電性組成物251を形成する亜鉛成分と、導体パ
ターン22を構成する銅箔の銅成分とが相互に固相拡散
し、導電性組成物251と導体パターン22との界面に
固相拡散層252を形成する。
【0153】図8には図示していないが、ビアホール2
4の下方側の導体パターン22と導電性組成物251と
の界面にも、導電性組成物251を形成する亜鉛成分
と、導体パターン22を構成する銅箔の銅成分との固相
拡散層が形成される。従って、ビアホール24の上下の
導体パターン22間は、一体化した導電性組成物251
と固相拡散層252とにより電気的に接続される。
【0154】上述の構成および製造方法によれば、導体
パターン22相互の電気的接続が接触導通により行なわ
れることはないので、層間接続抵抗値は変化し難い。こ
のようにして、層間接続の信頼性低下を防止できる。ま
た、第1の実施形態と同様に、片面導体パターンフィル
ム21およびカバーレイヤー36a、36bの積層一体
化と、導体パターン22層間の層間接続とを、加圧しつ
つ加熱することにより、同時に行なうことができる。従
って、プリント基板200の加工工数が低減でき、製造
コストを低減することができる。
【0155】なお、本例では、金属微粒子である亜鉛粒
子に粒径5〜10nmの亜鉛粒子72を用いたが、粒径
は1〜500nmであることが好ましい。粒径が500
nmを超えると表面エネルギーが小さくなり、亜鉛の融
点より低い温度で亜鉛粒子71を接続することが難しく
なる。また粒径が1nmより小さな粒子は製造が非常に
困難であり高価なため好ましくない。さらに、金属微粒
子である亜鉛粒子の粒径は1〜100nmであればより
好ましい。
【0156】また、本実施形態では、層間接続工程にお
ける加熱温度は240〜350℃であったが、少なくと
も加熱温度は220℃以上であることが好ましい。加熱
温度が220℃以上であれば、導電性組成物251およ
び固相拡散層252が良好に形成され、良好な層間接続
が行なうことが可能なことを本発明者らは確認してい
る。
【0157】さらに、本実施形態では、層間接続工程に
おける加圧力は2〜10MPaであったが、加圧力は
0.5MPa以上であることが好ましい。加圧力が0.
5MPa未満であると、亜鉛粒子の一体化が良好に行な
われないとともに、固相拡散層の形成も良好に行なわれ
ない。層間接続工程における加圧力を0.5MPa以上
にすることにより、良好な層間接続を確実に行なうこと
ができることを本発明者らは確認している。
【0158】なお、本実施形態において説明を省略した
各構成の材質や加工条件等は、第1の実施形態と同様で
ある。
【0159】(他の実施形態)上記第1、第2および第
3の実施形態では、第1の金属粒子として錫粒子を用い
たが、導体パターンを形成する金属(上記各例では銅)
と相互に拡散し合金を形成できる金属からなる粒子であ
ればよい。採用できる金属としては、インジウム等があ
る。第1の金属粒子として、これらを単独で用いてもよ
いし、適宜混合して用いてもよい。
【0160】また、上記第1、第2および第3の実施形
態では、第2の金属粒子として銀粒子を用いたが、層間
接続時に溶融せず第1の金属(上記各例では錫)と合金
を形成できる金属からなる粒子であればよい。採用でき
る金属としては、銅(融点1083℃)、金(融点10
63℃)、白金(融点1769℃)、パラジウム(融点
1552℃)、ニッケル(融点1453℃)、亜鉛(融
点419℃)等がある。第2の金属粒子として、これら
を単独で用いてもよいし、適宜混合して用いてもよい。
【0161】また、上記第1、第2および第3の実施形
態において、第1の金属粒子と第2の金属粒子とを含む
導電ペースト50を用いたが、第1の金属粒子を構成す
る金属(請求項11に記載の第1の金属に相当)と第2
の金属粒子を構成する金属(請求項11に記載の第2の
金属に相当)との合金粒子を含む導電ペーストを用いて
もよい。
【0162】例えば、図9(a)に示すように、片面導
体パターンフィルム21のビアホール24内に、錫50
重量%、銀50重量%の合金粒子162と有機溶剤とか
らなる導電ペースト150を充填し乾燥した後、片面導
体パターンフィルム21を適宜積層し、これらの上下両
面から加熱しながら加圧することで、図9(b)に示す
ように、ビアホール24内に、合金粒子の焼結により一
体化した導電性組成物51を形成する。
【0163】そして、ビアホール24内で導電性組成物
51が形成されているときには、この導電性組成物51
は加圧されているため、導体パターン22のビアホール
24の底部を構成している面に圧接される。これによ
り、導電性組成物51中の錫成分と、導体パターン22
を構成する銅箔の銅成分とが相互に固相拡散し、導電性
組成物51と導体パターン22との界面に固相拡散層5
2を形成するものであってもよい。これによっても、上
記第1の実施形態と同様の効果が得られる。
【0164】またこのとき、第1の金属は錫に限らず、
上記したように、インジウム等を単独あるいは混合して
用いることが可能である。さらに、第2の金属は銀に限
らず、上記したように、銅、金、白金、パラジウム、ニ
ッケル、亜鉛等を単独あるいは混合して用いることが可
能である。
【0165】また、導電ペースト150中の金属成分
は、錫が50重量%、銀が50重量%であったが、上記
第1、第2および第3の実施形態と同様に、金属成分中
の錫の含有率は20〜80%であることが好ましい。
【0166】また、上記第4の実施形態において、導電
ペースト250は、金属成分として金属大径粒子である
亜鉛粒子71と金属微粒子である亜鉛粒子72とを含有
していたが、導体パターンを形成する金属(上記例では
銅)と相互に拡散し合金を形成できる金属からなる粒子
であればよい。採用できる金属としては、アルミニウ
ム、ニッケル等がある。金属大径粒子および金属微粒子
として、これらを単独で用いてもよいし、適宜混合して
用いてもよい。
【0167】また、導電ペースト250は、金属成分と
して金属大径粒子を含まず、導体パターンを形成する金
属と相互に拡散し合金を形成できる金属からなる金属微
粒子のみを含むものであってもかまわない。層間接続工
程において金属微粒子が溶融することにより、ビアホー
ル内において導電性組成物を形成し、形成された導電性
組成物と導体パターンとの間で相互固相拡散層が形成で
きる構成であればよい。
【0168】すなわち、金属微粒子を形成する金属が導
体パターンを形成する金属と相互に拡散し合金を形成で
きる金属でなくても、金属大径粒子が、金属微粒子を形
成する金属と合金を形成できるとともに、導体パターン
を形成する金属と相互に拡散し合金を形成できる金属で
あればよい。また、金属微粒子を形成する金属が導体パ
ターンを形成する金属と相互に拡散し合金を形成できる
金属である場合には、金属大径粒子は、金属微粒子を形
成する金属と合金を形成できる金属であれば、導体パタ
ーンを形成する金属と合金を形成できる金属に限られる
ものではない。
【0169】言い換えれば、金属微粒子を形成する金属
と金属大径粒子を形成する金属とが合金を形成できる組
み合わせであれば、金属微粒子を形成する金属と金属大
径粒子を形成する金属との少なくとも片方が導体パター
ンを形成する金属と相互固相拡散して合金を形成できる
金属であればよい。従って、例えば、金属大径粒子に亜
鉛、アルミニウム、ニッケルから選ばれる少なくとも1
つの金属を採用し、金属微粒子に銀、銅、金、白金、パ
ラジウムから選ばれる少なくとも1つの金属を採用する
構成であってもよい。また、金属大径粒子に採用される
金属と金属微粒子に採用される金属とを上記と逆の組み
合わせとしてもかまわない。
【0170】また、上記第1の実施形態において、導電
ペースト50中の金属成分は、第1の金属粒子および第
2の金属粒子のみであり、第2および第3の実施形態に
おいては、第1の金属粒子、第2の金属粒子およびバイ
ンダ粒子のみであったが、第1の金属である錫と合金を
形成しない金属粒子等を含むものであってもよい。例え
ば、導電性組成物51の熱膨張率を絶縁基材である樹脂
フィルム23の熱膨張率近傍に調節することを目的に他
の金属粒子や非導電性無機フィラ等を混合してもよい。
ただし、導電性組成物51の一体化を阻害するほど多量
に混入することは好ましくない。
【0171】また、上記第4の実施形態において、導電
ペースト250中の金属成分は、金属大径粒子および金
属微粒子のみであったが、これらの粒子を形成する金属
と合金を形成しない金属粒子等を含むものであってもよ
い。例えば、導電性組成物251の熱膨張率を絶縁基材
である樹脂フィルム23の熱膨張率近傍に調節すること
を目的に他の金属粒子や非導電性無機フィラ等を混合し
てもよい。ただし、導電性組成物251の一体化を阻害
するほど多量に混入することは好ましくない。
【0172】また、上記各実施形態において、プリント
基板製造時に、図1(d)に示すように片面導体パター
ンフィルム21を積層したが、層間接続が必要な多層プ
リント基板もしくは両面プリント基板を得るための構成
であれば、この積層パターンに限定されるものではな
い。
【0173】例えば、図10に示すように、導体パター
ンが全面銅箔である片面導体パターンフィルム71と片
面導体パターンフィルム21と銅箔81とを積層し、加
熱プレスした後両面の銅箔をパターニングして多層プリ
ント基板を得るものであってもよいし、図11に示すよ
うに、片面導体パターンフィルム21と両面基板91を
積層し、加熱プレスして多層プリント基板を得るもので
あってもよいし、図12に示すように、両面基板91の
両面に樹脂フィルム23を積層し、さらにその両面に銅
箔81を積層し、加熱プレスした後両面の銅箔をパター
ニングして多層プリント基板を得るものであってもよ
い。
【0174】また、図13に示すように、樹脂フィルム
23の両面に銅箔を積層し、加熱プレスした後両面の銅
箔をパターニングして両面プリント基板を得るものであ
ってもよいし、図14に示すように、導体パターンが全
面銅箔である片面導体パターンフィルム71と銅箔81
とを積層し、加熱プレスした後両面の銅箔をパターニン
グして両面プリント基板を得るものであってもよい。
【0175】また、上記各実施形態において、樹脂フィ
ルム23およびカバーレイヤー36a、36bとしてポ
リエーテルエーテルケトン樹脂65〜35重量%とポリ
エーテルイミド樹脂35〜65重量%とからなる樹脂フ
ィルムを用いたが、これに限らず、ポリエーテルエーテ
ルケトン樹脂とポリエーテルイミド樹脂に非導電性フィ
ラを充填したフィルムであってもよいし、ポリエーテル
エーテルケトン(PEEK)もしくはポリエーテルイミ
ド(PEI)を単独で使用することも可能である。
【0176】さらに樹脂フィルムやカバーレイヤーとし
て、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエチレ
ンテレフタレート(PET)、ポリエーテルサルフォン
(PES)や熱可塑性ポリイミド、または所謂液晶ポリ
マー等を用いてもよい。あるいは、ポリイミドフィルム
にPEEK、PEI、PEN、PET、PES、熱可塑
性ポリイミド、液晶ポリマーの少なくともいずれかの熱
可塑性樹脂からなる層を積層した構造のものを使用して
もよい。加熱プレスにより接着が可能であり、後工程で
ある半田付け工程等で必要な耐熱性を有する樹脂フィル
ムであれば好適に用いることができる。
【0177】なお、ポリイミドフィルムに熱可塑性樹脂
層を積層したものを用いた場合には、ポリイミドの熱膨
張係数が15〜20ppm程度で、配線として利用され
ることが多い銅の熱膨張係数(17〜20ppm)と近
いため、剥がれや基板の反り等の発生を防止することが
できる。
【0178】また、プリント基板が両面プリント基板で
ある場合には、例えば、Bステージ状態のエポキシ樹
脂、ビスマレイドトリアジン(BT)、ポリフェニレン
エーテル(PPE)、ポリイミド(PI)等の熱硬化性
樹脂を用いることもできる。また、プリント基板が多層
プリント基板であっても、順次加熱プレスにより積層し
ていく所謂ビルドアップ工法の場合には、Bステージ状
のエポキシ樹脂、BT、PPE、PI等の熱硬化性樹脂
を用いることも可能である。
【0179】また、上記各実施形態において、導体パタ
ーン22を構成する金属として銅を用いたが、上記第
1、第2および第3の実施形態においては、導電性組成
物51中の第1の金属(上記各例では錫)と相互に固相
拡散できるものであればこれに限らない。また、導体パ
ターン22がすべて導電性組成物51中の第1の金属と
相互固相拡散できる金属である必要もなく、表面に例え
ば銀や金のような導電性組成物51中の第1の金属と相
互固相拡散できる金属めっき層が設けられた導体パター
ンであってもよい。導体パターン22のビアホール24
に対応する位置に、導電性組成物51中の第1の金属と
相互固相拡散できる金属が配置されているものであれば
よい。
【0180】また、上記第4の実施形態においては、導
電性組成物251中の金属成分(上記例では亜鉛)と相
互に固相拡散できるものであればこれに限らない。ま
た、導体パターン22がすべて導電性組成物251中の
金属成分と相互固相拡散できる金属である必要もなく、
表面に例えば銀や金のような導電性組成物251中の金
属成分と相互固相拡散できる金属めっき層が設けられた
導体パターンであってもよい。導体パターン22のビア
ホール24に対応する位置に、導電性組成物251中の
金属成分と相互固相拡散できる金属が配置されているも
のであればよい。
【0181】また、上記第1の実施形態において、導電
ペースト50は金属粒子61、62および有機溶剤によ
り構成し、上記第2の実施形態においては、金属粒子6
1、62、63および有機溶剤により構成し、上記第3
の実施形態においては、金属粒子61、62、64およ
び有機溶剤により構成し、上記第4の実施形態において
は、導電ペースト250は金属粒子71、72および有
機溶剤により構成したが、導電ペースト50、250の
固形分(例えば上記第1の実施形態では金属粒子61、
62)100重量%に対し分散剤を0.01〜1.5重
量%添加してもよい。これによると、導電ペースト5
0、250中に金属粒子を均一に分散させ易くなる。た
だし、分散剤の添加量が0.01%未満では分散効果が
得られ難く、1.5重量%を超えると焼結により導電性
組成物が一体化することを妨げやすい。なお、分散剤と
しては、例えば、リン酸エステルやステアリン酸エステ
ル等を用いることができる。
【0182】また、上記各実施形態において、層間接続
用材料は導電ペースト50もしくは導電ペースト250
であったが、ビアホール内に充填が可能であれば、ペー
スト状ではなく粒状等であってもよい。
【0183】また、上記各実施形態において、プリント
基板100、200は4層基板であったが、複数の導体
パターン層を有するものであれば、層数が限定されるも
のではないことは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における第1の実施形態のプリント基板
の概略の製造工程を示す工程別断面図である。
【図2】本発明における第1の実施形態のビアホール2
4内の状態を模式的に示す部分拡大図であり、(a)は
導電ペースト50充填後の状態、(b)は層間接続後の
状態を示す。
【図3】導体パターンを形成する銅箔と導電性組成物と
の密着性の評価結果を示すグラフである。
【図4】プリント基板のリフロー半田付け工程通過後の
ビア連結抵抗変化率を示すグラフである。
【図5】導体パターンを形成する銅箔と導電性組成物と
の密着性の評価結果を示すグラフである。
【図6】本発明における第2の実施形態のビアホール2
4内の状態を模式的に示す部分拡大図であり、(a)は
導電ペースト50充填後の状態、(b)は粒子間接続に
よる保形性向上後の状態を示す。
【図7】本発明における第3の実施形態のビアホール2
4内の状態を模式的に示す部分拡大図であり、(a)は
導電ペースト50充填後の状態、(b)は粒子間接続に
よる保形性向上後の状態を示す。
【図8】本発明における第4の実施形態のビアホール2
4内の状態を模式的に示す部分拡大図であり、(a)は
導電ペースト250充填後の状態、(b)は層間接続後
の状態を示す。
【図9】本発明における他の実施形態のビアホール24
内の状態を模式的に示す部分拡大図であり、(a)は導
電ペースト150充填後の状態、(b)は層間接続後の
状態を示す。
【図10】他の実施形態における多層プリント基板製造
のための要素積層構成を示す図である。
【図11】他の実施形態における多層プリント基板製造
のための要素積層構成を示す図である。
【図12】他の実施形態における多層プリント基板製造
のための要素積層構成を示す図である。
【図13】他の実施形態における両面プリント基板製造
のための要素積層構成を示す図である。
【図14】他の実施形態における両面プリント基板製造
のための要素積層構成を示す図である。
【符号の説明】
21 片面導体パターンフィルム 22 導体パターン 23 樹脂フィルム(絶縁基材) 24 ビアホール(有底ビアホール) 50、150、250 導電ペースト(層間接続材料) 51、251 導電性組成物 52、252 固相拡散層 61 錫粒子(第1の金属粒子) 62 銀粒子(第2の金属粒子) 63 インジウム粒子(第2の実施形態におけるバイン
ダ粒子) 64 銀粒子(第3の実施形態におけるバインダ粒子) 71 亜鉛粒子(金属大径粒子) 72 亜鉛粒子(金属微粒子) 100、200 プリント基板 162 合金粒子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 近藤 宏司 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 (72)発明者 原田 敏一 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 (72)発明者 横地 智宏 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 Fターム(参考) 4E351 AA02 AA16 BB01 BB24 BB26 BB31 BB35 BB49 CC11 DD04 DD05 DD06 DD08 DD10 DD12 DD19 DD20 DD52 EE03 EE11 GG06 5E317 AA24 BB01 BB11 BB12 BB13 BB14 BB15 CC25 CC52 CD21 CD31 CD32 GG11 5E346 AA05 AA12 AA15 AA22 AA35 AA38 AA43 BB01 BB16 CC02 CC08 CC31 DD02 DD33 EE02 EE06 EE07 EE42 FF18 FF35 FF36 GG19 GG28 HH07

Claims (36)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁基材(23)に、導体パターン(2
    2)を複数層有するプリント基板(100)であって、 前記絶縁基材(23)に設けられたビアホール(24)
    中に、前記導体パターン(22)を形成する金属と合金
    を形成し得る第1の金属と、層間接続時の加熱温度より
    高い融点を有する第2の金属との合金を含む一体化した
    導電性組成物(51)が充填され、 前記導体パターン(22)を形成する金属と前記導電性
    組成物(51)中の前記第1の金属とが相互に固相拡散
    して形成された固相拡散層(52)を介し、前記導体パ
    ターン(22)間相互を前記導電性組成物(51)によ
    り電気的に接続していることを特徴とするプリント基
    板。
  2. 【請求項2】 前記第1の金属は、錫、インジウムから
    選ばれる少なくとも1つの金属であることを特徴とする
    請求項1に記載のプリント基板。
  3. 【請求項3】 前記第2の金属は、銀、銅、金、白金、
    パラジウム、ニッケル、亜鉛から選ばれる少なくとも1
    つの金属であることを特徴とする請求項1または請求項
    2に記載のプリント基板。
  4. 【請求項4】 前記第1の金属が、前記導電性組成物
    (51)中の金属成分の20〜80重量%を占めること
    を特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1つに
    記載のプリント基板。
  5. 【請求項5】 前記導体パターン(22)を形成する金
    属が銅であることを特徴とする請求項1ないし請求項4
    のいずれか1つに記載のプリント基板。
  6. 【請求項6】 前記絶縁基材(23)は、熱可塑性樹脂
    あるいは熱硬化性樹脂からなることを特徴とする請求項
    1ないし請求項5のいずれか1つに記載のプリント基
    板。
  7. 【請求項7】 絶縁基材(23)に形成されたビアホー
    ル(24)内に、第1の金属からなる第1の金属粒子
    (61)と、層間接続時の加熱温度より高い融点を有す
    るとともに、前記第1の金属と合金を形成し得る第2の
    金属からなる第2の金属粒子(62)とを含む層間接続
    材料(50)を充填する充填工程と、 前記層間接続材料(50)を複数の導体パターン(2
    2)の層間で加圧しつつ加熱して、前記第1の金属粒子
    (61)を形成する前記第1の金属と前記第2の金属粒
    子(62)を形成する前記第2の金属とを合金化し、一
    体化した導電性組成物(51)を形成するとともに、前
    記導電性組成物(51)中の前記第1の金属と前記導体
    パターン(22)を形成する金属とを相互に固相拡散す
    ることで、前記複数の導体パターン(22)の層間を電
    気的に接続する層間接続工程とを備えることを特徴とす
    るプリント基板の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記第1の金属は、錫、インジウムから
    選ばれる少なくとも1つの金属であることを特徴とする
    請求項7に記載のプリント基板の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記第2の金属は、銀、銅、金、白金、
    パラジウム、ニッケル、亜鉛から選ばれる少なくとも1
    つの金属であることを特徴とする請求項7または請求項
    8に記載のプリント基板の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記第1の金属粒子(61)が、前記
    層間接続材料(50)中の金属成分の20〜80重量%
    を占めることを特徴とする請求項7ないし請求項9のい
    ずれか1つに記載のプリント基板の製造方法。
  11. 【請求項11】 絶縁基材(23)に形成されたビアホ
    ール(24)内に、第1の金属と層間接続時の加熱温度
    より高い融点を有する第2の金属との合金粒子(16
    2)を含む層間接続材料(150)を充填する充填工程
    と、 前記層間接続材料(150)を複数の導体パターン(2
    2)の層間で加圧しつつ加熱して、一体化した導電性組
    成物(51)を形成するとともに、前記導電性組成物
    (51)中の前記第1の金属と前記導体パターン(2
    2)を形成する金属とを相互に固相拡散することで、前
    記複数の導体パターン(22)の層間を電気的に接続す
    る層間接続工程とを備えることを特徴とするプリント基
    板の製造方法。
  12. 【請求項12】 前記第1の金属は、錫、インジウムか
    ら選ばれる少なくとも1つの金属であることを特徴とす
    る請求項11に記載のプリント基板の製造方法。
  13. 【請求項13】 前記第2の金属は、銀、銅、金、白
    金、パラジウム、ニッケル、亜鉛から選ばれる少なくと
    も1つの金属であることを特徴とする請求項11または
    請求項12に記載のプリント基板の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記第1の金属が、前記層間接続材料
    (150)中の金属成分の20〜80重量%を占めるこ
    とを特徴とする請求項11ないし請求項13のいずれか
    1つに記載のプリント基板の製造方法。
  15. 【請求項15】 前記導体パターン(22)を形成する
    金属が銅であることを特徴とする請求項7ないし請求項
    14のいずれか1つに記載のプリント基板の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記絶縁基材(23)は、熱可塑性樹
    脂あるいは熱硬化性樹脂からなることを特徴とする請求
    項7ないし請求項15のいずれか1つに記載のプリント
    基板の製造方法。
  17. 【請求項17】 前記層間接続材料(50)を前記加圧
    しつつ加熱するときの加熱温度は、220℃以上である
    ことを特徴とする請求項7ないし請求項16のいずれか
    1つに記載のプリント基板の製造方法。
  18. 【請求項18】 前記層間接続材料(50)を前記加圧
    しつつ加熱するときの加圧力は、0.5MPa以上であ
    ることを特徴とする請求項17に記載のプリント基板の
    製造方法。
  19. 【請求項19】 前記層間接続材料(50)は、少なく
    とも有機溶剤を含有し、ペースト状であることを特徴と
    する請求項7ないし請求項18のいずれか1つに記載の
    プリント基板の製造方法。
  20. 【請求項20】 前記層間接続材料(50)は、前記層
    間接続材料(50)中の固形分100重量%に対し、さ
    らに分散剤を0.01〜1.5重量%含有することを特
    徴とする請求項19に記載のプリント基板の製造方法。
  21. 【請求項21】 前記層間接続材料(50)は、前記層
    間接続材料(50)中の金属粒子(61、62)に拡散
    し得る金属からなるバインダ粒子(63)を含有し、 前記充填工程後に、前記バインダ粒子(63)を加熱す
    ることにより、前記バインダ粒子(63)を形成する金
    属を介して前記層間接続材料(50)中の前記金属粒子
    (61、62)間相互を接続することを特徴とする請求
    項19または請求項20に記載のプリント基板の製造方
    法。
  22. 【請求項22】 前記バインダ粒子(63)は、前記第
    1の金属の融点より低くかつ前記第2の金属の融点より
    低い融点を有する金属により形成されており、 前記充填工程後に、前記層間接続材料(50)を、前記
    第1の金属の融点より低くかつ前記第2の金属の融点よ
    り低い温度で加熱することにより、前記層間接続材料
    (50)中の前記金属粒子(61、62)間相互を接続
    することを特徴とする請求項21に記載のプリント基板
    の製造方法。
  23. 【請求項23】 前記バインダ粒子(64)は、粒径が
    1〜100nmの粒子であり、 前記充填工程後に、前記層間接続材料(50)を、前記
    第1の金属の融点より低くかつ前記第2の金属の融点よ
    り低い温度で加熱することにより、前記層間接続材料
    (50)中の前記金属粒子(61、62)間相互を接続
    することを特徴とする請求項21に記載のプリント基板
    の製造方法。
  24. 【請求項24】 前記層間接続材料(50)中の金属粒
    子(61、62)は、平均粒径が0.1〜20μmであ
    るとともに、比表面積が0.1〜2.5m2/gである
    ことを特徴とする請求項19ないし請求項22のいずれ
    か1つに記載のプリント基板の製造方法。
  25. 【請求項25】 絶縁基材(23)に形成されたビアホ
    ール(24)内に、粒径が1〜500nmである金属微
    粒子(72)を含む層間接続材料(250)を充填する
    充填工程と、 前記層間接続材料(250)を複数の導体パターン(2
    2)の層間で加圧しつつ加熱して、一体化した導電性組
    成物(251)を形成するとともに、前記導電性組成物
    (251)中の前記金属微粒子(72)を形成していた
    金属成分と前記導体パターン(22)を形成する金属と
    を相互に固相拡散することで、前記複数の導体パターン
    (22)の層間を電気的に接続する層間接続工程とを備
    えることを特徴とするプリント基板の製造方法。
  26. 【請求項26】 前記金属微粒子(72)を形成する金
    属は、亜鉛、アルミニウム、ニッケルから選ばれる少な
    くとも1つの金属であることを特徴とする請求項25に
    記載のプリント基板の製造方法。
  27. 【請求項27】 前記層間接続材料(250)は、前記
    金属微粒子(72)と同一材質の金属大径粒子(71)
    を含有することを特徴とする請求項25または請求項2
    6に記載のプリント基板の製造方法。
  28. 【請求項28】 前記層間接続材料(250)は、前記
    金属微粒子(72)を形成する金属と合金を形成し得る
    金属からなる金属大径粒子を含有することを特徴とする
    請求項25または請求項26に記載のプリント基板の製
    造方法。
  29. 【請求項29】 絶縁基材(23)に形成されたビアホ
    ール(24)内に、粒径が1〜500nmである金属微
    粒子と、この金属微粒子を形成する金属と合金を形成し
    得る金属からなる金属大径粒子とを含む層間接続材料を
    充填する充填工程と、 前記層間接続材料を複数の導体パターン(22)の層間
    で加圧しつつ加熱して、一体化した導電性組成物を形成
    するとともに、前記導電性組成物中の前記金属大径粒子
    を形成していた金属成分と前記導体パターン(22)を
    形成する金属とを相互に固相拡散することで、前記複数
    の導体パターン(22)の層間を電気的に接続する層間
    接続工程とを備えることを特徴とするプリント基板の製
    造方法。
  30. 【請求項30】 前記金属大径粒子を形成する金属は、
    亜鉛、アルミニウム、ニッケルから選ばれる少なくとも
    1つの金属であることを特徴とする請求項29に記載の
    プリント基板の製造方法。
  31. 【請求項31】 前記導体パターン(22)を形成する
    金属が銅であることを特徴とする請求項25ないし請求
    項30のいずれか1つに記載のプリント基板の製造方
    法。
  32. 【請求項32】 前記絶縁基材(23)は、熱可塑性樹
    脂あるいは熱硬化性樹脂からなることを特徴とする請求
    項25ないし請求項31のいずれか1つに記載のプリン
    ト基板の製造方法。
  33. 【請求項33】 前記層間接続材料(250)を前記加
    圧しつつ加熱するときの加熱温度は、220℃以上であ
    ることを特徴とする請求項25ないし請求項32のいず
    れか1つに記載のプリント基板の製造方法。
  34. 【請求項34】 前記層間接続材料(250)を前記加
    圧しつつ加熱するときの加圧力は、0.5MPa以上で
    あることを特徴とする請求項33に記載のプリント基板
    の製造方法。
  35. 【請求項35】 前記層間接続材料(250)は、少な
    くとも有機溶剤を含有し、ペースト状であることを特徴
    とする請求項25ないし請求項34のいずれか1つに記
    載のプリント基板の製造方法。
  36. 【請求項36】 前記層間接続材料(250)は、前記
    層間接続材料(250)中の固形分100重量%に対
    し、さらに分散剤を0.01〜1.5重量%含有するこ
    とを特徴とする請求項35に記載のプリント基板の製造
    方法。
JP2001338119A 2000-12-26 2001-11-02 プリント基板およびその製造方法 Expired - Fee Related JP3473601B2 (ja)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001338119A JP3473601B2 (ja) 2000-12-26 2001-11-02 プリント基板およびその製造方法
MXPA01013269A MXPA01013269A (es) 2000-12-26 2001-12-18 Tablero de conexiones impresas y metodo de fabricacion del mismo.
KR1020010082664A KR20020052959A (ko) 2000-12-26 2001-12-21 인쇄배선기판 및 그의 제조방법
US10/024,470 US6641898B2 (en) 2000-12-26 2001-12-21 Printed wiring board and method of manufacturing a printed wiring board
EP01130722A EP1220591A3 (en) 2000-12-26 2001-12-21 Printed wiring board and method of manufacturing a printed wiring board
TW090132071A TW507481B (en) 2000-12-26 2001-12-24 Printed wiring board and method of manufacturing a printed wiring board
CNB011338407A CN100346676C (zh) 2000-12-26 2001-12-25 印刷线路板和制造印刷线路板的方法
SG200108065A SG108290A1 (en) 2000-12-26 2001-12-26 Printed wiring board and method of manufacturing printed wiring board
US10/643,919 US6972070B2 (en) 2000-12-26 2003-08-20 Method of manufacturing a printed wiring board

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000-395601 2000-12-26
JP2000395601 2000-12-26
JP2001094176 2001-03-28
JP2001-94176 2001-03-28
JP2001-224962 2001-07-25
JP2001224962 2001-07-25
JP2001338119A JP3473601B2 (ja) 2000-12-26 2001-11-02 プリント基板およびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003110243A true JP2003110243A (ja) 2003-04-11
JP3473601B2 JP3473601B2 (ja) 2003-12-08

Family

ID=27481920

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001338119A Expired - Fee Related JP3473601B2 (ja) 2000-12-26 2001-11-02 プリント基板およびその製造方法

Country Status (8)

Country Link
US (2) US6641898B2 (ja)
EP (1) EP1220591A3 (ja)
JP (1) JP3473601B2 (ja)
KR (1) KR20020052959A (ja)
CN (1) CN100346676C (ja)
MX (1) MXPA01013269A (ja)
SG (1) SG108290A1 (ja)
TW (1) TW507481B (ja)

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005353785A (ja) * 2004-06-10 2005-12-22 Mitsubishi Plastics Ind Ltd 多層配線基板用導電性ペースト組成物
JP2006165508A (ja) * 2004-11-09 2006-06-22 Sony Corp 多層配線基板及び基板製造方法
JP2006269706A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Furukawa Circuit Foil Kk 積層回路基板とその製造方法
JP2007042695A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Furukawa Circuit Foil Kk 積層回路基板
JP2007042696A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Furukawa Circuit Foil Kk 積層回路基板
JP2007096121A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Mitsubishi Plastics Ind Ltd 多層配線基板
JP2007266183A (ja) * 2006-03-28 2007-10-11 Fujitsu Ltd 多層配線基板およびその作製方法
JP2007299988A (ja) * 2006-05-01 2007-11-15 Sij Technology:Kk 電気接続体、電気接続体の形成方法及びカートリッジ
US7565739B2 (en) 2006-01-26 2009-07-28 Fujitsu Limited Method of making zinc-aluminum alloy connection
JP2010003835A (ja) * 2008-06-19 2010-01-07 Denso Corp 層間接続用導電体の製造方法
JP2010123760A (ja) * 2008-11-19 2010-06-03 Denso Corp 導電用充填材料およびその充填方法
JP2011138862A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Fujikura Ltd 多層配線板及びその製造方法
JP2013102210A (ja) * 2013-01-25 2013-05-23 Furukawa Electric Co Ltd:The 多層プリント基板およびその製造方法
JP2015153550A (ja) * 2014-02-13 2015-08-24 有限会社 ナプラ 微細空間内に導体を形成する製造方法
JP2015177174A (ja) * 2014-03-18 2015-10-05 富士通株式会社 配線基板および配線基板の製造方法
JP2016204228A (ja) * 2015-04-27 2016-12-08 京セラ株式会社 回路基板およびこれを備える電子装置
US9668362B2 (en) 2013-08-28 2017-05-30 Denso Corporation Multilayer printed circuit board and method of manufacturing the same
WO2017199680A1 (ja) * 2016-05-19 2017-11-23 株式会社デンソー 電子部品、電子装置、電子部品の製造方法および電子装置の製造方法
WO2019003729A1 (ja) * 2017-06-26 2019-01-03 株式会社村田製作所 多層配線基板、及び、多層配線基板の製造方法
KR20190005191A (ko) 2016-06-09 2019-01-15 가부시키가이샤 덴소 다층 기판의 제조 방법

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3473601B2 (ja) * 2000-12-26 2003-12-08 株式会社デンソー プリント基板およびその製造方法
JP2002217510A (ja) * 2001-01-15 2002-08-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 基板の接続構造とその製造方法
US6855222B2 (en) * 2002-06-19 2005-02-15 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method for manufacturing laminated multilayer electronic components
US8623448B2 (en) 2004-02-19 2014-01-07 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from chalcogenide microflake particles
US8309163B2 (en) * 2004-02-19 2012-11-13 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer by use of chalcogen-containing vapor and inter-metallic material
US8846141B1 (en) 2004-02-19 2014-09-30 Aeris Capital Sustainable Ip Ltd. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from microflake particles
US7663057B2 (en) 2004-02-19 2010-02-16 Nanosolar, Inc. Solution-based fabrication of photovoltaic cell
US8372734B2 (en) 2004-02-19 2013-02-12 Nanosolar, Inc High-throughput printing of semiconductor precursor layer from chalcogenide nanoflake particles
US7605328B2 (en) * 2004-02-19 2009-10-20 Nanosolar, Inc. Photovoltaic thin-film cell produced from metallic blend using high-temperature printing
US7700464B2 (en) 2004-02-19 2010-04-20 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from nanoflake particles
US8329501B1 (en) 2004-02-19 2012-12-11 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of semiconductor precursor layer from inter-metallic microflake particles
US7604843B1 (en) 2005-03-16 2009-10-20 Nanosolar, Inc. Metallic dispersion
KR100687394B1 (ko) * 2004-09-24 2007-02-27 산에이카가쿠 가부시키가이샤 다층회로기판과 그 제조방법
US7342183B2 (en) * 2005-07-11 2008-03-11 Endicott Interconnect Technologies, Inc. Circuitized substrate with sintered paste connections, multilayered substrate assembly, electrical assembly and information handling system utilizing same
US7442879B2 (en) * 2005-07-11 2008-10-28 Endicott Interconect Technologies, Inc. Circuitized substrate with solder-coated microparticle paste connections, multilayered substrate assembly, electrical assembly and information handling system utilizing same and method of making said substrate
US7334323B2 (en) * 2005-07-11 2008-02-26 Endicott Interconnect Technologies, Inc. Method of making mutilayered circuitized substrate assembly having sintered paste connections
US8063315B2 (en) 2005-10-06 2011-11-22 Endicott Interconnect Technologies, Inc. Circuitized substrate with conductive paste, electrical assembly including said circuitized substrate and method of making said substrate
US7629559B2 (en) * 2005-12-19 2009-12-08 Endicott Interconnect Technologies, Inc. Method of improving electrical connections in circuitized substrates
JP2007324550A (ja) * 2006-06-05 2007-12-13 Denso Corp 多層基板
JP2009059814A (ja) * 2007-08-30 2009-03-19 Denso Corp 多層プリント基板の製造方法
JP5436774B2 (ja) 2007-12-25 2014-03-05 古河電気工業株式会社 多層プリント基板およびその製造方法
JP5424632B2 (ja) * 2008-12-19 2014-02-26 キヤノン株式会社 インクジェット記録ヘッド用基板の製造方法
JP4833307B2 (ja) * 2009-02-24 2011-12-07 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 半導体モジュール、端子板、端子板の製造方法および半導体モジュールの製造方法
JP5238609B2 (ja) * 2009-05-26 2013-07-17 パナソニック株式会社 金属微粒子発生装置
KR20120041224A (ko) * 2009-08-19 2012-04-30 피코드릴 에스 아 기판에 전기 도전성 바이어를 제조하는 방법
JP5526720B2 (ja) * 2009-11-13 2014-06-18 株式会社村田製作所 樹脂回路基板およびその製造方法
KR101219139B1 (ko) * 2009-12-24 2013-01-07 제일모직주식회사 이방 도전성 페이스트, 필름 및 이를 포함하는 회로접속구조체
US8723049B2 (en) * 2011-06-09 2014-05-13 Tessera, Inc. Low-stress TSV design using conductive particles
CN103608876B (zh) 2011-06-15 2017-08-15 株式会社村田制作所 层叠线圈部件及该层叠线圈部件的制造方法
EP2722857B1 (en) * 2011-06-15 2017-09-27 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer coil part
CN103596382A (zh) * 2013-11-08 2014-02-19 溧阳市江大技术转移中心有限公司 一种印刷电路板
KR20160046621A (ko) * 2014-10-21 2016-04-29 삼성전자주식회사 반도체 칩 패키지 테스트용 테스트 소켓 및 이의 제조 방법
WO2017124200A2 (en) * 2016-01-20 2017-07-27 Jaquet Technology Group Ag Manufacturing method for a sensing element and sensor device
CN107087355A (zh) * 2017-06-16 2017-08-22 东莞职业技术学院 一种采用丝网印刷技术实现pcb内层互联的方法
JP2019055414A (ja) * 2017-09-21 2019-04-11 トヨタ自動車株式会社 接合材
JP2019067994A (ja) * 2017-10-04 2019-04-25 トヨタ自動車株式会社 積層基板とその製造方法
DE102019213241A1 (de) * 2019-07-26 2021-01-28 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum thermischen Sprühen von Leiterbahnen und Elektronikmodul
CN112449514B (zh) * 2019-08-31 2022-12-20 鹏鼎控股(深圳)股份有限公司 多层线路板及其制作方法
CN114501856B (zh) * 2021-12-13 2024-07-12 深圳市华鼎星科技有限公司 多层导电线路及其制作方法及显示模组
CN116322279B (zh) * 2021-12-17 2024-10-22 腾讯科技(深圳)有限公司 硅片及其硅孔的填充方法
JP7507502B2 (ja) * 2022-03-24 2024-06-28 佳勝科技股▲ふん▼有限公司 多層基板

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3947956A (en) * 1974-07-03 1976-04-06 The University Of Sherbrooke Multilayer thick-film hybrid circuits method and process for constructing same
JPS56134404A (en) * 1980-03-24 1981-10-21 Sony Corp Conductive material and method of prdoducing same
JPS61236192A (ja) * 1985-04-12 1986-10-21 株式会社日立製作所 セラミツク基板の電極形成方法
JPS62265796A (ja) * 1986-05-14 1987-11-18 株式会社住友金属セラミックス セラミツク多層配線基板およびその製造法
US5031308A (en) * 1988-12-29 1991-07-16 Japan Radio Co., Ltd. Method of manufacturing multilayered printed-wiring-board
US5948533A (en) * 1990-02-09 1999-09-07 Ormet Corporation Vertically interconnected electronic assemblies and compositions useful therefor
US5280414A (en) * 1990-06-11 1994-01-18 International Business Machines Corp. Au-Sn transient liquid bonding in high performance laminates
US5439164A (en) 1992-06-05 1995-08-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Methods for joining copper or its alloys
AU4531793A (en) * 1992-06-12 1994-01-04 Aluminum Company Of America Method of fabricating multilayer structures with nonplanar surfaces
CN1044762C (zh) * 1993-09-22 1999-08-18 松下电器产业株式会社 印刷电路板及其制造方法
EP0651602B1 (en) * 1993-10-29 1999-04-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive paste compound for via hole filling, printed circuit board which uses the conductive paste, and method of manufacturing the same
JP2603053B2 (ja) 1993-10-29 1997-04-23 松下電器産業株式会社 ビアホール充填用導体ペースト組成物並びにそれを用いた両面及び多層プリント基板とその製造方法
JP3587884B2 (ja) * 1994-07-21 2004-11-10 富士通株式会社 多層回路基板の製造方法
JP3331083B2 (ja) * 1995-03-06 2002-10-07 株式会社住友金属エレクトロデバイス 低温焼成セラミック回路基板
JPH09116273A (ja) * 1995-08-11 1997-05-02 Shinko Electric Ind Co Ltd 多層回路基板及びその製造方法
US5906042A (en) * 1995-10-04 1999-05-25 Prolinx Labs Corporation Method and structure to interconnect traces of two conductive layers in a printed circuit board
GB9524475D0 (en) * 1995-11-30 1996-01-31 Zeneca Ltd Compound preparation and use
CA2196024A1 (en) * 1996-02-28 1997-08-28 Craig N. Ernsberger Multilayer electronic assembly utilizing a sinterable composition and related method of forming
US5822856A (en) * 1996-06-28 1998-10-20 International Business Machines Corporation Manufacturing circuit board assemblies having filled vias
JP3241605B2 (ja) * 1996-09-06 2001-12-25 松下電器産業株式会社 配線基板の製造方法並びに配線基板
US6703565B1 (en) 1996-09-06 2004-03-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Printed wiring board
US6143116A (en) * 1996-09-26 2000-11-07 Kyocera Corporation Process for producing a multi-layer wiring board
JP3574738B2 (ja) * 1998-01-29 2004-10-06 京セラ株式会社 配線基板
JPH11251703A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 回路基板、両面回路基板、多層回路基板及び回路基板の製造方法
JP3595152B2 (ja) * 1998-02-27 2004-12-02 京セラ株式会社 配線基板およびその製造方法
US6139777A (en) 1998-05-08 2000-10-31 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive paste for filling via-hole, double-sided and multilayer printed circuit boards using the same, and method for producing the same
JP3187373B2 (ja) 1998-07-31 2001-07-11 京セラ株式会社 配線基板
JP2000138457A (ja) 1998-11-02 2000-05-16 Kyocera Corp 多層配線基板およびその製造方法
US6207259B1 (en) * 1998-11-02 2001-03-27 Kyocera Corporation Wiring board
JP3236829B2 (ja) * 1999-02-15 2001-12-10 松下電器産業株式会社 バイアホール部の接続構造及び配線基板
JP4486196B2 (ja) * 1999-12-08 2010-06-23 イビデン株式会社 多層プリント配線板用片面回路基板およびその製造方法
US6459046B1 (en) * 2000-08-28 2002-10-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Printed circuit board and method for producing the same
JP3867523B2 (ja) * 2000-12-26 2007-01-10 株式会社デンソー プリント基板およびその製造方法
JP3473601B2 (ja) * 2000-12-26 2003-12-08 株式会社デンソー プリント基板およびその製造方法

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005353785A (ja) * 2004-06-10 2005-12-22 Mitsubishi Plastics Ind Ltd 多層配線基板用導電性ペースト組成物
JP2006165508A (ja) * 2004-11-09 2006-06-22 Sony Corp 多層配線基板及び基板製造方法
JP2006269706A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Furukawa Circuit Foil Kk 積層回路基板とその製造方法
JP2007042695A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Furukawa Circuit Foil Kk 積層回路基板
JP2007042696A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Furukawa Circuit Foil Kk 積層回路基板
TWI386141B (zh) * 2005-08-01 2013-02-11 Furukawa Electric Co Ltd Laminated circuit board
KR101173444B1 (ko) * 2005-08-01 2012-08-16 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 적층 회로 기판
JP2007096121A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Mitsubishi Plastics Ind Ltd 多層配線基板
US7565739B2 (en) 2006-01-26 2009-07-28 Fujitsu Limited Method of making zinc-aluminum alloy connection
US8158503B2 (en) 2006-03-28 2012-04-17 Fujitsu Limited Multilayer interconnection substrate and method of manufacturing the same
JP2007266183A (ja) * 2006-03-28 2007-10-11 Fujitsu Ltd 多層配線基板およびその作製方法
JP2007299988A (ja) * 2006-05-01 2007-11-15 Sij Technology:Kk 電気接続体、電気接続体の形成方法及びカートリッジ
JP2010003835A (ja) * 2008-06-19 2010-01-07 Denso Corp 層間接続用導電体の製造方法
JP2010123760A (ja) * 2008-11-19 2010-06-03 Denso Corp 導電用充填材料およびその充填方法
JP2011138862A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Fujikura Ltd 多層配線板及びその製造方法
JP2013102210A (ja) * 2013-01-25 2013-05-23 Furukawa Electric Co Ltd:The 多層プリント基板およびその製造方法
US9668362B2 (en) 2013-08-28 2017-05-30 Denso Corporation Multilayer printed circuit board and method of manufacturing the same
JP2015153550A (ja) * 2014-02-13 2015-08-24 有限会社 ナプラ 微細空間内に導体を形成する製造方法
JP2015177174A (ja) * 2014-03-18 2015-10-05 富士通株式会社 配線基板および配線基板の製造方法
JP2016204228A (ja) * 2015-04-27 2016-12-08 京セラ株式会社 回路基板およびこれを備える電子装置
WO2017199680A1 (ja) * 2016-05-19 2017-11-23 株式会社デンソー 電子部品、電子装置、電子部品の製造方法および電子装置の製造方法
JP2017208489A (ja) * 2016-05-19 2017-11-24 株式会社デンソー 電子部品、電子装置、電子部品の製造方法および電子装置の製造方法
KR20190005191A (ko) 2016-06-09 2019-01-15 가부시키가이샤 덴소 다층 기판의 제조 방법
US11160174B2 (en) 2016-06-09 2021-10-26 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of manufacturing multilayer substrate
US11856712B2 (en) 2016-06-09 2023-12-26 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of manufacturing multilayer substrate
WO2019003729A1 (ja) * 2017-06-26 2019-01-03 株式会社村田製作所 多層配線基板、及び、多層配線基板の製造方法
JPWO2019003729A1 (ja) * 2017-06-26 2020-02-06 株式会社村田製作所 多層配線基板、及び、多層配線基板の製造方法
US10980112B2 (en) 2017-06-26 2021-04-13 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer wiring board

Also Published As

Publication number Publication date
US20040052932A1 (en) 2004-03-18
US6972070B2 (en) 2005-12-06
CN1361655A (zh) 2002-07-31
US6641898B2 (en) 2003-11-04
MXPA01013269A (es) 2004-05-21
KR20020052959A (ko) 2002-07-04
TW507481B (en) 2002-10-21
JP3473601B2 (ja) 2003-12-08
SG108290A1 (en) 2005-01-28
EP1220591A2 (en) 2002-07-03
EP1220591A3 (en) 2004-07-21
US20020086145A1 (en) 2002-07-04
CN100346676C (zh) 2007-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3473601B2 (ja) プリント基板およびその製造方法
CN1180666C (zh) 印刷线路板和制造印刷线路板的方法
US5906042A (en) Method and structure to interconnect traces of two conductive layers in a printed circuit board
JP3051700B2 (ja) 素子内蔵多層配線基板の製造方法
JP3867593B2 (ja) プリント基板の製造方法およびその製造方法によって形成されるプリント基板
JP2001044641A (ja) 半導体素子内蔵配線基板およびその製造方法
JP2008294441A (ja) 導電ペーストを有する回路基板
JP2002374067A (ja) プリント基板のおよびその製造方法
JP2007324550A (ja) 多層基板
US20110005822A1 (en) Structure of a package for electronic devices and method for manufacturing the package
US8541687B2 (en) Coreless layer buildup structure
WO2004016054A1 (ja) 配線基板および配線基板の接続構造
JP2008124459A (ja) ハンダペースト接続部を有する回路基板の製造方法
KR20090068227A (ko) 다층 프린트 배선판 및 그 제조 방법
JP2003017859A (ja) プリント基板の製造方法およびその製造方法によって形成されるプリント基板
JP2000312063A (ja) 配線基板及びその製造方法
US9351408B2 (en) Coreless layer buildup structure with LGA and joining layer
US8536459B2 (en) Coreless layer buildup structure with LGA
JP2001352171A (ja) 接着シート、接着シートを用いた回路基板及びその製造方法
JP3956087B2 (ja) プリント基板の製造方法
WO1995013901A1 (en) Metallurgically bonded polymer vias
JP2003347738A (ja) 多層配線基板及びその製造方法
JP4821276B2 (ja) 多層プリント配線板の製造方法及び多層プリント配線板
JP2002374068A (ja) 多層プリント配線板の製造方法
JP2004172533A (ja) プリント基板の製造方法およびその製造方法によって形成されるプリント基板

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20030819

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090919

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100919

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100919

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110919

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110919

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120919

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120919

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130919

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees