JP2003067980A - 光記録媒体表面の摩擦特性測定方法 - Google Patents
光記録媒体表面の摩擦特性測定方法Info
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- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光記録媒体表面、特に光透過層若しくはハー
ドコート層表面の摩擦特性を正確に測定する方法を提供
する。 【解決手段】 光記録媒体の表面に測定用薄膜片２及び
重り３を載せ、この状態において光記録媒体を回転させ
る。この時、測定用薄膜片２に生じる引っ張り力をトラ
ンスデューサ４によって検出する。これにより、光記録
媒体の回転中における対物レンズやこれを支持する支持
体との接触によって生じる光記録媒体表面の傷を低減す
べく光記録媒体表面の摩擦係数を所定値以下に抑制する
場合において、製造時における光記録媒体の評価を正確
且つ簡便にに行うことが可能となる。
ドコート層表面の摩擦特性を正確に測定する方法を提供
する。 【解決手段】 光記録媒体の表面に測定用薄膜片２及び
重り３を載せ、この状態において光記録媒体を回転させ
る。この時、測定用薄膜片２に生じる引っ張り力をトラ
ンスデューサ４によって検出する。これにより、光記録
媒体の回転中における対物レンズやこれを支持する支持
体との接触によって生じる光記録媒体表面の傷を低減す
べく光記録媒体表面の摩擦係数を所定値以下に抑制する
場合において、製造時における光記録媒体の評価を正確
且つ簡便にに行うことが可能となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光記録媒体表面の
摩擦特性測定方法に関し、さらに詳細には、光記録媒体
表面の摩擦力及び／又は摩擦係数の測定方法に関する。
摩擦特性測定方法に関し、さらに詳細には、光記録媒体
表面の摩擦力及び／又は摩擦係数の測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、大容量のデジタルデータを記録す
るための記録媒体として、ＣＤやＤＶＤに代表される光
記録媒体が広く用いられている。一般に、再生専用の光
記録媒体は光入射面側から、光透過層（光透過性基
板）、反射層、保護層の順に各層が積層され、書き込み
可能な光記録媒体は光入射面側から、光透過層（光透過
性基板）、記録層、反射層、保護層の順に各層が積層さ
れてなり、いずれのタイプの光記録媒体においても、デ
ータの読み出しに際しては、光透過層側から再生用レー
ザが照射されてその反射光が検出される。また、書き込
み可能な光記録媒体におけるデータの書き込みに際して
は、光透過層側から記録用レーザが照射され、その熱エ
ネルギー及び／又は光エネルギーによって記録層の化学
的状態乃至は物理的状態が記録すべきデータに基づいて
変化させられる。
るための記録媒体として、ＣＤやＤＶＤに代表される光
記録媒体が広く用いられている。一般に、再生専用の光
記録媒体は光入射面側から、光透過層（光透過性基
板）、反射層、保護層の順に各層が積層され、書き込み
可能な光記録媒体は光入射面側から、光透過層（光透過
性基板）、記録層、反射層、保護層の順に各層が積層さ
れてなり、いずれのタイプの光記録媒体においても、デ
ータの読み出しに際しては、光透過層側から再生用レー
ザが照射されてその反射光が検出される。また、書き込
み可能な光記録媒体におけるデータの書き込みに際して
は、光透過層側から記録用レーザが照射され、その熱エ
ネルギー及び／又は光エネルギーによって記録層の化学
的状態乃至は物理的状態が記録すべきデータに基づいて
変化させられる。
【０００３】ここで、光記録媒体に照射されるレーザ
は、反射層若しくは記録層において所定の径をもつビー
ムスポットが形成されるように光学系によって集光され
る。このため、光透過層の表面に傷が存在するとビーム
スポットが正しく形成されず、読み出しエラーや書き込
みエラーが生じることがある。このような傷の発生を防
止する方法としては、従来より、光透過層の表面に硬度
の高いハードコート層を設ける方法が知られている。
は、反射層若しくは記録層において所定の径をもつビー
ムスポットが形成されるように光学系によって集光され
る。このため、光透過層の表面に傷が存在するとビーム
スポットが正しく形成されず、読み出しエラーや書き込
みエラーが生じることがある。このような傷の発生を防
止する方法としては、従来より、光透過層の表面に硬度
の高いハードコート層を設ける方法が知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、記録
／再生レーザ光を集束するための対物レンズの開口数
（ＮＡ）を０．７以上、例えば、０．８５程度まで大き
くするとともに、記録／再生レーザ光の波長λを４００
ｎｍ程度まで短くすることによってレーザ光の集光スポ
ット径を小さくし、これにより大容量のデジタルデータ
を記録する試みがなされている。このように高ＮＡ化す
ると、光記録媒体の反りや傾きの許容度、すなわちチル
トマージンが小さくなるため、十分なチルトマージンを
確保するためには、光透過層（光透過性基板）の厚さを
薄くする必要がある。例えば、ＮＡ＝０．８５、λ＝４
００ｎｍ程度に設定した場合、十分なチルトマージンを
確保するためには、光透過層の厚さを１００μｍ程度ま
で薄くすることが要求される。
／再生レーザ光を集束するための対物レンズの開口数
（ＮＡ）を０．７以上、例えば、０．８５程度まで大き
くするとともに、記録／再生レーザ光の波長λを４００
ｎｍ程度まで短くすることによってレーザ光の集光スポ
ット径を小さくし、これにより大容量のデジタルデータ
を記録する試みがなされている。このように高ＮＡ化す
ると、光記録媒体の反りや傾きの許容度、すなわちチル
トマージンが小さくなるため、十分なチルトマージンを
確保するためには、光透過層（光透過性基板）の厚さを
薄くする必要がある。例えば、ＮＡ＝０．８５、λ＝４
００ｎｍ程度に設定した場合、十分なチルトマージンを
確保するためには、光透過層の厚さを１００μｍ程度ま
で薄くすることが要求される。
【０００５】また、高ＮＡ化を図ると、対物レンズと光
記録媒体の表面との作動距離（ワーキング・ディスタン
ス）が小さくなり、例えば、ＮＡ＝０．８５程度に設定
した場合、ワーキング・ディスタンスは１００μｍ程度
と従来に比べて著しく狭くなる。
記録媒体の表面との作動距離（ワーキング・ディスタン
ス）が小さくなり、例えば、ＮＡ＝０．８５程度に設定
した場合、ワーキング・ディスタンスは１００μｍ程度
と従来に比べて著しく狭くなる。
【０００６】しかしながら、ワーキング・ディスタンス
が非常に狭くなると、光記録媒体の回転中に、光記録媒
体の表面と対物レンズやこれを支持する支持体とが接触
を起こす可能性が非常に高くなり、光記録媒体の回転中
にこのような接触が発生すると、光記録媒体の光透過層
の表面には致命的な傷が生じるおそれがある。このよう
な接触による傷の発生は、上述したハードコート層を設
けることによってある程度抑制することができるが、光
透過層を１００μｍ程度まで薄膜化した場合、光透過層
表面における記録／再生レーザ光の集光径も著しく小さ
くなるため、従来の光記録媒体では読み取りエラーや書
き込みエラーとならないようなサイズの傷や汚れであっ
ても、容易に読み取りエラーや書き込みエラーとなって
しまう。このため、ハードコート層の硬度を高めるだけ
では、回転中の接触によって生じる傷を低減するには不
十分である。
が非常に狭くなると、光記録媒体の回転中に、光記録媒
体の表面と対物レンズやこれを支持する支持体とが接触
を起こす可能性が非常に高くなり、光記録媒体の回転中
にこのような接触が発生すると、光記録媒体の光透過層
の表面には致命的な傷が生じるおそれがある。このよう
な接触による傷の発生は、上述したハードコート層を設
けることによってある程度抑制することができるが、光
透過層を１００μｍ程度まで薄膜化した場合、光透過層
表面における記録／再生レーザ光の集光径も著しく小さ
くなるため、従来の光記録媒体では読み取りエラーや書
き込みエラーとならないようなサイズの傷や汚れであっ
ても、容易に読み取りエラーや書き込みエラーとなって
しまう。このため、ハードコート層の硬度を高めるだけ
では、回転中の接触によって生じる傷を低減するには不
十分である。
【０００７】本発明者らは、回転中の接触によって生じ
る光記録媒体表面の傷を効果的に低減するためには、ハ
ードコート層の硬度を高めるのみならず、ハードコート
層表面の摩擦係数を低減させることが有効であるとの結
論に達した。このようなハードコート層表面の摩擦係数
を低減させた光記録媒体を製造する場合、ハードコート
層表面の摩擦特性（摩擦力及び／又は摩擦係数）を正確
に測定することにより、光記録媒体の評価を行うことが
必要である。
る光記録媒体表面の傷を効果的に低減するためには、ハ
ードコート層の硬度を高めるのみならず、ハードコート
層表面の摩擦係数を低減させることが有効であるとの結
論に達した。このようなハードコート層表面の摩擦係数
を低減させた光記録媒体を製造する場合、ハードコート
層表面の摩擦特性（摩擦力及び／又は摩擦係数）を正確
に測定することにより、光記録媒体の評価を行うことが
必要である。
【０００８】したがって、本発明の目的は、光記録媒体
表面、特に光透過層若しくはハードコート層表面の摩擦
特性（摩擦力及び／又は摩擦係数）を正確に測定する方
法を提供することである。
表面、特に光透過層若しくはハードコート層表面の摩擦
特性（摩擦力及び／又は摩擦係数）を正確に測定する方
法を提供することである。
【０００９】また、本発明の他の目的は、物理的な接触
を伴わずにデータの記録／再生を行うタイプの光記録媒
体表面の摩擦特性を正確に測定する方法を提供すること
である。
を伴わずにデータの記録／再生を行うタイプの光記録媒
体表面の摩擦特性を正確に測定する方法を提供すること
である。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上述の通り、本発明は、
光記録媒体の回転中における対物レンズやこれを支持す
る支持体との接触によって生じる光記録媒体表面の傷を
効果的に低減するためには、光記録媒体表面の摩擦係数
を低減させ、接触時のダメージを緩和することが有効で
あるとの着想に基づき、かかる摩擦係数を正確に測定す
ることができる方法を提供するものである。
光記録媒体の回転中における対物レンズやこれを支持す
る支持体との接触によって生じる光記録媒体表面の傷を
効果的に低減するためには、光記録媒体表面の摩擦係数
を低減させ、接触時のダメージを緩和することが有効で
あるとの着想に基づき、かかる摩擦係数を正確に測定す
ることができる方法を提供するものである。
【００１１】本発明のかかる目的は、光記録媒体の表面
に測定用部材を平面的に接触させて、前記測定用部材に
生じる引っ張り力を検出することを特徴とする光記録媒
体表面の摩擦特性測定方法によって達成される。
に測定用部材を平面的に接触させて、前記測定用部材に
生じる引っ張り力を検出することを特徴とする光記録媒
体表面の摩擦特性測定方法によって達成される。
【００１２】本発明によれば、非常に正確に光記録媒体
表面の摩擦特性を測定することができる。これにより、
光記録媒体の回転中における対物レンズやこれを支持す
る支持体との接触によって生じる光記録媒体表面の傷を
低減すべく光記録媒体表面の摩擦係数を所定値以下に抑
制する場合において、製造時における光記録媒体の評価
を正確且つ簡便にに行うことが可能となる。したがっ
て、本発明による摩擦特性の測定方法は、光透過層が５
〜３００μｍ程度、特に、５０〜１５０μｍ程度まで薄
膜化された光記録媒体表面の摩擦特性の測定に好適であ
る。
表面の摩擦特性を測定することができる。これにより、
光記録媒体の回転中における対物レンズやこれを支持す
る支持体との接触によって生じる光記録媒体表面の傷を
低減すべく光記録媒体表面の摩擦係数を所定値以下に抑
制する場合において、製造時における光記録媒体の評価
を正確且つ簡便にに行うことが可能となる。したがっ
て、本発明による摩擦特性の測定方法は、光透過層が５
〜３００μｍ程度、特に、５０〜１５０μｍ程度まで薄
膜化された光記録媒体表面の摩擦特性の測定に好適であ
る。
【００１３】本発明の好ましい実施態様においては、前
記光記録媒体の前記表面が、光入射面である。
記光記録媒体の前記表面が、光入射面である。
【００１４】本発明のさらに好ましい実施態様において
は、前記測定用部材に面接触により荷重を与えながら前
記引っ張り力を検出する。
は、前記測定用部材に面接触により荷重を与えながら前
記引っ張り力を検出する。
【００１５】ここでいう面接触とは、平面での接触に加
えて、多数の点接触で代用することもできる。
えて、多数の点接触で代用することもできる。
【００１６】本発明のさらに好ましい実施態様において
は、前記測定用部材が、薄膜状である。
は、前記測定用部材が、薄膜状である。
【００１７】本発明のさらに好ましい実施態様において
は、前記測定用部材が、不織布である。
は、前記測定用部材が、不織布である。
【００１８】本発明のさらに好ましい実施態様において
は、前記摩擦特性が、摩擦力及び／又は摩擦係数であ
る。
は、前記摩擦特性が、摩擦力及び／又は摩擦係数であ
る。
【００１９】本発明のさらに好ましい実施態様において
は、前記光記録媒体が、物理的な接触を伴わずにデータ
の記録／再生を行うタイプの光記録媒体である。
は、前記光記録媒体が、物理的な接触を伴わずにデータ
の記録／再生を行うタイプの光記録媒体である。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の好ましい実施態様について詳細に説明する。
本発明の好ましい実施態様について詳細に説明する。
【００２１】図１は、本発明の好ましい実施態様にかか
る摩擦特性測定方法を説明するための図である。
る摩擦特性測定方法を説明するための図である。
【００２２】図１に示されるように、本実施態様にかか
る摩擦特性測定方法においては、測定対象となる光記録
媒体を回転させる回転機構１と、測定用部材としての測
定用薄膜片２と、測定用薄膜片２を測定対象となる光記
録媒体の表面に押し付ける重り３と、測定用薄膜片２に
生じている引っ張り力を検出するトランスデューサ４と
が用いられる。
る摩擦特性測定方法においては、測定対象となる光記録
媒体を回転させる回転機構１と、測定用部材としての測
定用薄膜片２と、測定用薄膜片２を測定対象となる光記
録媒体の表面に押し付ける重り３と、測定用薄膜片２に
生じている引っ張り力を検出するトランスデューサ４と
が用いられる。
【００２３】測定用薄膜片２は、回転する光記録媒体の
表面との間で生じる摩擦力を引っ張り力に変換するため
に用いられ、特に限定されるものではないが、その材料
としては不織布を用いることが好ましい。
表面との間で生じる摩擦力を引っ張り力に変換するため
に用いられ、特に限定されるものではないが、その材料
としては不織布を用いることが好ましい。
【００２４】重り３は、底面が平坦な円柱形状であり、
その底面部分には、測定用薄膜片２への荷重が平面的に
均等となるように緩衝材５が設けられている。特に限定
されるものではないが、緩衝材の材料としてはポリウレ
タン、シリコーンゴム等を用いることが好ましい。
その底面部分には、測定用薄膜片２への荷重が平面的に
均等となるように緩衝材５が設けられている。特に限定
されるものではないが、緩衝材の材料としてはポリウレ
タン、シリコーンゴム等を用いることが好ましい。
【００２５】図２は、本実施態様にかかる摩擦特性測定
方法の測定対象となる光記録媒体１０の一例を概略的に
示す断面図である。
方法の測定対象となる光記録媒体１０の一例を概略的に
示す断面図である。
【００２６】図２に示されるように、測定対象の一例で
ある光記録媒体１０は、厚さが約１．１ｍｍの基板１１
と、厚さが７０〜１３０ｎｍの反射層１２と、厚さが１
００〜２５０ｎｍの記録層１３と、厚さが５〜３００μ
ｍの光透過層１４と、厚さが０．５〜１０μｍのハード
コート層１５によって構成される。また、光記録媒体１
０の中央部分には孔１６が設けられている。基板１１は
ポリカーボネートからなり、反射層１２は銀を主成分と
する合金からなる。また、記録層１３は、実際にデータ
が記録される相変化膜の上下を誘電体膜で挟んだ多層構
造を有する。さらに、光透過層１４及びハードコート層
１５は紫外線硬化性樹脂からなる。このような構造を有
する光記録媒体１０からのデータの読み出しに際して
は、ハードコート層１５側から読み出し用レーザが照射
されてその反射光量差が検出される。また、光記録媒体
１０へのデータの書き込みに際しては、ハードコート層
１５側から書き込み用レーザが照射され、これにより記
録層１３の状態（相変化膜の結晶構造）を変化させる。
ある光記録媒体１０は、厚さが約１．１ｍｍの基板１１
と、厚さが７０〜１３０ｎｍの反射層１２と、厚さが１
００〜２５０ｎｍの記録層１３と、厚さが５〜３００μ
ｍの光透過層１４と、厚さが０．５〜１０μｍのハード
コート層１５によって構成される。また、光記録媒体１
０の中央部分には孔１６が設けられている。基板１１は
ポリカーボネートからなり、反射層１２は銀を主成分と
する合金からなる。また、記録層１３は、実際にデータ
が記録される相変化膜の上下を誘電体膜で挟んだ多層構
造を有する。さらに、光透過層１４及びハードコート層
１５は紫外線硬化性樹脂からなる。このような構造を有
する光記録媒体１０からのデータの読み出しに際して
は、ハードコート層１５側から読み出し用レーザが照射
されてその反射光量差が検出される。また、光記録媒体
１０へのデータの書き込みに際しては、ハードコート層
１５側から書き込み用レーザが照射され、これにより記
録層１３の状態（相変化膜の結晶構造）を変化させる。
【００２７】このように、本実施態様にかかる摩擦特性
測定方法の測定対象となる光記録媒体１０は、レーザ光
の照射によってデータの記録／再生が行われるタイプの
光記録媒体である。尚、本実施態様にかかる摩擦特性測
定方法の測定対象としては、光磁気記録媒体のような磁
界変調型の光記録媒体であっても良く、この場合には、
磁気ヘッドが接する側ではなく、記録再生光の入射面が
測定対象となる。
測定方法の測定対象となる光記録媒体１０は、レーザ光
の照射によってデータの記録／再生が行われるタイプの
光記録媒体である。尚、本実施態様にかかる摩擦特性測
定方法の測定対象としては、光磁気記録媒体のような磁
界変調型の光記録媒体であっても良く、この場合には、
磁気ヘッドが接する側ではなく、記録再生光の入射面が
測定対象となる。
【００２８】次に、本実施態様にかかる摩擦特性測定の
方法について説明する。
方法について説明する。
【００２９】摩擦特性測定に際しては、まず、測定対象
となる光記録媒体１０をハードコート層１５が上となる
ようにして測定装置の回転テーブル（図示せず）上に載
置し、次いで、ハードコート層１５の表面に測定用薄膜
片２及び重り３を載置する。この状態において回転機構
１を動作させ、光記録媒体１０を回転させる。図１に
は、かかる状態が示されている。
となる光記録媒体１０をハードコート層１５が上となる
ようにして測定装置の回転テーブル（図示せず）上に載
置し、次いで、ハードコート層１５の表面に測定用薄膜
片２及び重り３を載置する。この状態において回転機構
１を動作させ、光記録媒体１０を回転させる。図１に
は、かかる状態が示されている。
【００３０】このとき、光記録媒体１０の表面と重り３
によって荷重がかけられた測定用薄膜片２との間に生じ
る摩擦力によって、測定用薄膜片２は光記録媒体１０の
回転方向に引っ張られる。かかる引っ張り力は、トラン
スデューサ４によって電気信号に変換され、これによっ
て光記録媒体１０の表面の摩擦特性、すなわち、摩擦力
及び／又は摩擦係数を特定することが可能となる。
によって荷重がかけられた測定用薄膜片２との間に生じ
る摩擦力によって、測定用薄膜片２は光記録媒体１０の
回転方向に引っ張られる。かかる引っ張り力は、トラン
スデューサ４によって電気信号に変換され、これによっ
て光記録媒体１０の表面の摩擦特性、すなわち、摩擦力
及び／又は摩擦係数を特定することが可能となる。
【００３１】
【実施例】それぞれ異なるハードコート層が形成された
６枚の光記録媒体（サンプル＃１〜サンプル＃６）表面
の摩擦係数を、本実施態様にかかる摩擦特性測定方法を
用いて測定した。
６枚の光記録媒体（サンプル＃１〜サンプル＃６）表面
の摩擦係数を、本実施態様にかかる摩擦特性測定方法を
用いて測定した。
【００３２】かかる測定においては、測定用薄膜片２と
して、長さ及び幅がそれぞれ１００ｍｍ及び２５ｍｍの
不織布（旭化成（株）製、ベンコットリントフリーＣＴ
−８）を用いた。ここで、測定用薄膜片２の長さとは、
引っ張り力の働く方向であり、図１においては左右方向
である。また、重り３としては、直径が２０ｍｍであり
重さが３１ｇのものを用いた。重り３は、その中心が光
記録媒体の中心から４０ｍｍの距離に位置するように載
置した。このような条件の下、回転機構１による光記録
媒体の回転数を６７０ｒｐｍに設定して、各光記録媒体
について摩擦係数の測定を行った。
して、長さ及び幅がそれぞれ１００ｍｍ及び２５ｍｍの
不織布（旭化成（株）製、ベンコットリントフリーＣＴ
−８）を用いた。ここで、測定用薄膜片２の長さとは、
引っ張り力の働く方向であり、図１においては左右方向
である。また、重り３としては、直径が２０ｍｍであり
重さが３１ｇのものを用いた。重り３は、その中心が光
記録媒体の中心から４０ｍｍの距離に位置するように載
置した。このような条件の下、回転機構１による光記録
媒体の回転数を６７０ｒｐｍに設定して、各光記録媒体
について摩擦係数の測定を行った。
【００３３】ここで、測定対象である６枚の光記録媒体
（サンプル＃１〜サンプル＃６）としては、ハードコー
ト層１５がいずれも紫外線硬化性樹脂（日本化薬（株）
製、ＨＯＤ−３２００）からなり、紫外線硬化性樹脂中
に添加した潤滑剤の種類及び添加量が互いに異なる光記
録媒体を用意した。各サンプルのハードコート層１５に
含まれる潤滑剤の種類及び添加量を表１に示す。また、
いずれのサンプルにおいても、ハードコート層の厚みは
３．５μｍとした。
（サンプル＃１〜サンプル＃６）としては、ハードコー
ト層１５がいずれも紫外線硬化性樹脂（日本化薬（株）
製、ＨＯＤ−３２００）からなり、紫外線硬化性樹脂中
に添加した潤滑剤の種類及び添加量が互いに異なる光記
録媒体を用意した。各サンプルのハードコート層１５に
含まれる潤滑剤の種類及び添加量を表１に示す。また、
いずれのサンプルにおいても、ハードコート層の厚みは
３．５μｍとした。
【００３４】
【表１】
図３は、サンプル＃１〜サンプル＃６の摩擦係数の測定
結果を示すグラフである。図３において、縦軸は摩擦係
数を示し、横軸は光記録媒体の累積回転数を示す。
結果を示すグラフである。図３において、縦軸は摩擦係
数を示し、横軸は光記録媒体の累積回転数を示す。
【００３５】図３を参照すれば、サンプル＃１〜サンプ
ル＃６の摩擦係数の差が明確に現れていることが分か
る。また、図３を参照すれば、光記録媒体の累積回転
数、すなわち測定用薄膜片２の摺動回数に基づく摩擦係
数の変化量も明確に現れている。ここで、光記録媒体の
累積回転数に基づく摩擦係数の増加は、ハードコート層
１５に含まれる潤滑剤が測定用薄膜片２によって払拭さ
れたためである。したがって、図３における摩擦係数の
変化は、ユーザが光記録媒体の表面に付着した塵埃や汚
れを不織布やティッシュペーパー紙等で頻繁に払拭した
場合に、光記録媒体の摩擦係数にどのような影響を与え
るのか、すなわち、耐久性を知る重要なデータとして用
いることができる。
ル＃６の摩擦係数の差が明確に現れていることが分か
る。また、図３を参照すれば、光記録媒体の累積回転
数、すなわち測定用薄膜片２の摺動回数に基づく摩擦係
数の変化量も明確に現れている。ここで、光記録媒体の
累積回転数に基づく摩擦係数の増加は、ハードコート層
１５に含まれる潤滑剤が測定用薄膜片２によって払拭さ
れたためである。したがって、図３における摩擦係数の
変化は、ユーザが光記録媒体の表面に付着した塵埃や汚
れを不織布やティッシュペーパー紙等で頻繁に払拭した
場合に、光記録媒体の摩擦係数にどのような影響を与え
るのか、すなわち、耐久性を知る重要なデータとして用
いることができる。
【００３６】次に、サンプル＃２と同じハードコート層
を有するサンプル＃２’について、上述した測定条件と
同じ条件で摩擦係数を測定した。かかる測定の結果を図
４に示す。
を有するサンプル＃２’について、上述した測定条件と
同じ条件で摩擦係数を測定した。かかる測定の結果を図
４に示す。
【００３７】図４を参照すれば、全く同じハードコート
層を有する２つのサンプル＃２及びサンプル＃２’より
得られた摩擦係数がほとんど一致していることが分か
る。このことは、本発明による摩擦特性測定方法の再現
性が非常に良好であることを意味している。
層を有する２つのサンプル＃２及びサンプル＃２’より
得られた摩擦係数がほとんど一致していることが分か
る。このことは、本発明による摩擦特性測定方法の再現
性が非常に良好であることを意味している。
【００３８】尚、比較例として、磁界変調型の光記録媒
体であるＭＤ（ミニディスク）の光ピックアップ側でな
い磁界変調ヘッド側の表面の摩擦特性を測定するための
装置を用いて、上記サンプル＃１〜サンプル＃６の表面
の摩擦係数を測定したが、各サンプルの測定結果に有意
義な差異は現れなかった。また、再現性も乏しかった。
体であるＭＤ（ミニディスク）の光ピックアップ側でな
い磁界変調ヘッド側の表面の摩擦特性を測定するための
装置を用いて、上記サンプル＃１〜サンプル＃６の表面
の摩擦係数を測定したが、各サンプルの測定結果に有意
義な差異は現れなかった。また、再現性も乏しかった。
【００３９】ここで、ＭＤ（ミニディスク）の表面の摩
擦特性を測定するための装置は、磁界変調ヘッドが接触
する側の面の摩擦力及び／又は摩擦係数を測定するため
に用いられる装置であり、このような装置を用いた測定
に関しては、ミニディスクシステム規格書（Ｒａｉｎｂ
ｏｗ Ｂｏｏｋ）付属書の第２０頁に記載されている。
このように、磁界変調ヘッド等による物理的な接触を行
いながらデータの記録／再生が行われるタイプの光記録
媒体用の測定装置は、物理的な接触を行わずにデータの
記録／再生が行われるタイプの光記録媒体の光入射面表
面の摩擦力及び／又は摩擦係数の測定には適さないこと
が分かる。
擦特性を測定するための装置は、磁界変調ヘッドが接触
する側の面の摩擦力及び／又は摩擦係数を測定するため
に用いられる装置であり、このような装置を用いた測定
に関しては、ミニディスクシステム規格書（Ｒａｉｎｂ
ｏｗ Ｂｏｏｋ）付属書の第２０頁に記載されている。
このように、磁界変調ヘッド等による物理的な接触を行
いながらデータの記録／再生が行われるタイプの光記録
媒体用の測定装置は、物理的な接触を行わずにデータの
記録／再生が行われるタイプの光記録媒体の光入射面表
面の摩擦力及び／又は摩擦係数の測定には適さないこと
が分かる。
【００４０】以上説明したように、本実施態様にかかる
摩擦特性測定方法によれば、底面が平坦である重り３を
用い、光記録媒体の表面と測定用薄膜片２とを平面的に
均等な荷重をかけて接触させながら摩擦特性を測定して
いるので、物理的な接触を伴わずにデータの記録／再生
を行うタイプの光記録媒体の光入射面表面の摩擦特性を
正確且つ再現性よく測定することが可能となる。このた
め、特に、光透過層が薄膜化された光記録媒体におい
て、回転中における対物レンズやこれを支持する支持体
との接触によって生じる光記録媒体表面の傷を低減すべ
く、光記録媒体表面の摩擦係数を所定値以下に抑制する
場合において、製造時における光記録媒体の評価を正確
に行うことが可能となる。
摩擦特性測定方法によれば、底面が平坦である重り３を
用い、光記録媒体の表面と測定用薄膜片２とを平面的に
均等な荷重をかけて接触させながら摩擦特性を測定して
いるので、物理的な接触を伴わずにデータの記録／再生
を行うタイプの光記録媒体の光入射面表面の摩擦特性を
正確且つ再現性よく測定することが可能となる。このた
め、特に、光透過層が薄膜化された光記録媒体におい
て、回転中における対物レンズやこれを支持する支持体
との接触によって生じる光記録媒体表面の傷を低減すべ
く、光記録媒体表面の摩擦係数を所定値以下に抑制する
場合において、製造時における光記録媒体の評価を正確
に行うことが可能となる。
【００４１】本発明は、以上の実施態様に限定されるこ
となく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲内で種
々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含
されるものであることはいうまでもない。
となく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲内で種
々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含
されるものであることはいうまでもない。
【００４２】例えば、上記実施態様においては、光透過
層が薄膜化された光記録媒体の光入射面表面の摩擦特性
を測定しているが、本発明による方法で測定可能な光記
録媒体がこれに限定されるものではなく、物理的な接触
を伴わずにデータの記録／再生を行うタイプの光記録媒
体である限り、他の種類の光記録媒体の光入射面に対し
ても測定を行うことができる。
層が薄膜化された光記録媒体の光入射面表面の摩擦特性
を測定しているが、本発明による方法で測定可能な光記
録媒体がこれに限定されるものではなく、物理的な接触
を伴わずにデータの記録／再生を行うタイプの光記録媒
体である限り、他の種類の光記録媒体の光入射面に対し
ても測定を行うことができる。
【００４３】また、上記実施態様においては、底面が平
坦である重り３を用いることによって、光記録媒体の表
面と測定用薄膜片２とを平面的に均等な荷重をかけて接
触させているが、これらを平面的に均等な荷重をかけて
接触させられる限り、どのような方法で測定用薄膜片２
に荷重をかけても構わない。また、測定用薄膜片の代わ
りに有効な測定を行うのに十分な重さを有する測定用部
材を用い、重り３を用いることなく、測定用部材の自重
によって光記録媒体の表面との摩擦を得ても構わない。
坦である重り３を用いることによって、光記録媒体の表
面と測定用薄膜片２とを平面的に均等な荷重をかけて接
触させているが、これらを平面的に均等な荷重をかけて
接触させられる限り、どのような方法で測定用薄膜片２
に荷重をかけても構わない。また、測定用薄膜片の代わ
りに有効な測定を行うのに十分な重さを有する測定用部
材を用い、重り３を用いることなく、測定用部材の自重
によって光記録媒体の表面との摩擦を得ても構わない。
【００４４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
物理的な接触を伴わずにデータの記録／再生を行うタイ
プの光記録媒体の光入射面表面の摩擦特性を正確に測定
することが可能な摩擦特性測定方法を提供することがで
きる。
物理的な接触を伴わずにデータの記録／再生を行うタイ
プの光記録媒体の光入射面表面の摩擦特性を正確に測定
することが可能な摩擦特性測定方法を提供することがで
きる。
【図１】本発明の好ましい実施態様にかかる摩擦特性測
定方法を説明するための図である。
定方法を説明するための図である。
【図２】本発明の好ましい実施態様にかかる摩擦特性測
定方法の測定対象となる光記録媒体１０の一例を概略的
に示す断面図である。
定方法の測定対象となる光記録媒体１０の一例を概略的
に示す断面図である。
【図３】サンプル＃１〜サンプル＃６の摩擦係数の測定
結果を示すグラフである。
結果を示すグラフである。
【図４】サンプル＃２及びサンプル＃２’の摩擦係数の
測定結果を示すグラフである。
測定結果を示すグラフである。
１ 回転機構
２ 測定用薄膜片
３ 重り
４ トランスデューサ
５ 緩衝材
１０ 光記録媒体
１１ 基板
１２ 反射層
１３ 記録層
１４ 光透過層
１５ ハードコート層
１６ 孔
Claims (8)
- 【請求項１】 光記録媒体の表面に測定用部材を平面的
に接触させて、前記測定用部材に生じる引っ張り力を検
出することを特徴とする光記録媒体表面の摩擦特性測定
方法。 - 【請求項２】 前記光記録媒体の前記表面が、光入射面
であることを特徴とする請求項１に記載の摩擦特性測定
方法。 - 【請求項３】 前記測定用部材に面接触により荷重を与
えながら前記引っ張り力を検出することを特徴とする請
求項１または２に記載の摩擦特性測定方法。 - 【請求項４】 前記測定用部材が、薄膜状であることを
特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の摩擦
特性測定方法。 - 【請求項５】 前記測定用部材が、不織布であることを
特徴とする請求項４に記載の摩擦特性測定方法。 - 【請求項６】 前記摩擦特性が、摩擦力及び／又は摩擦
係数であることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか
１項に記載の摩擦特性測定方法。 - 【請求項７】 前記光記録媒体の光透過層の厚みが、５
〜３００μｍであることを特徴とする請求項１乃至６の
いずれか１項に記載の摩擦特性測定方法。 - 【請求項８】 前記光記録媒体が、物理的な接触を伴わ
ずにデータの記録／再生を行うタイプの光記録媒体であ
ることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記
載の摩擦特性測定方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001259547A JP2003067980A (ja) | 2001-08-29 | 2001-08-29 | 光記録媒体表面の摩擦特性測定方法 |
| PCT/JP2002/008602 WO2003021591A1 (fr) | 2001-08-29 | 2002-08-27 | Procede permettant de mesurer la caracteristique de frottement de la surface d'un support d'enregistrement optique |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001259547A JP2003067980A (ja) | 2001-08-29 | 2001-08-29 | 光記録媒体表面の摩擦特性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003067980A true JP2003067980A (ja) | 2003-03-07 |
Family
ID=19086905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001259547A Pending JP2003067980A (ja) | 2001-08-29 | 2001-08-29 | 光記録媒体表面の摩擦特性測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003067980A (ja) |
| WO (1) | WO2003021591A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004003518A1 (ja) * | 2002-07-01 | 2004-01-08 | Tdk Corporation | 非接触型記録媒体についての摩擦特性測定方法、および非接触型記録媒体用の摩擦特性測定装置 |
| JP2011210304A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Wd Media Singapore Pte Ltd | 磁気ディスクの評価方法及び磁気ディスクの製造方法並びに磁気ディスク |
| CN109557024A (zh) * | 2018-12-04 | 2019-04-02 | 河南工业大学 | 一种检测谷物颗粒间摩擦力的检测装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001155334A (ja) * | 1999-11-26 | 2001-06-08 | Sony Corp | 表面分析装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5118591A (ja) * | 1974-08-07 | 1976-02-14 | Sumitomo Metal Ind | Yoshayoshitajimennotekihio teiryotekinisokuteisuruhoho |
| JPS59135461U (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-10 | 富士通株式会社 | 摩擦測定器 |
| JPS6352037A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-05 | Sony Corp | 磁気デイスクの摩擦測定方法 |
| JPH04269642A (ja) * | 1991-02-25 | 1992-09-25 | Dainippon Printing Co Ltd | 摩擦係数測定装置 |
| JP3200808B2 (ja) * | 1992-12-28 | 2001-08-20 | 株式会社ニッテク | 摩擦評価装置 |
| JPH07113635A (ja) * | 1993-10-18 | 1995-05-02 | Kuraray Co Ltd | 光ディスク検査装置 |
| JPH10302309A (ja) * | 1997-04-25 | 1998-11-13 | Sony Corp | 光学記録媒体 |
-
2001
- 2001-08-29 JP JP2001259547A patent/JP2003067980A/ja active Pending
-
2002
- 2002-08-27 WO PCT/JP2002/008602 patent/WO2003021591A1/ja active Application Filing
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001155334A (ja) * | 1999-11-26 | 2001-06-08 | Sony Corp | 表面分析装置 |
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| WO2004003518A1 (ja) * | 2002-07-01 | 2004-01-08 | Tdk Corporation | 非接触型記録媒体についての摩擦特性測定方法、および非接触型記録媒体用の摩擦特性測定装置 |
| JP2011210304A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Wd Media Singapore Pte Ltd | 磁気ディスクの評価方法及び磁気ディスクの製造方法並びに磁気ディスク |
| US8908315B2 (en) | 2010-03-29 | 2014-12-09 | Wd Media (Singapore) Pte. Ltd. | Evaluation method of magnetic disk, manufacturing method of magnetic disk, and magnetic disk |
| CN109557024A (zh) * | 2018-12-04 | 2019-04-02 | 河南工业大学 | 一种检测谷物颗粒间摩擦力的检测装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2003021591A1 (fr) | 2003-03-13 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080527 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110228 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110627 |