JPH07113635A - 光ディスク検査装置 - Google Patents
光ディスク検査装置Info
- Publication number
- JPH07113635A JPH07113635A JP25976193A JP25976193A JPH07113635A JP H07113635 A JPH07113635 A JP H07113635A JP 25976193 A JP25976193 A JP 25976193A JP 25976193 A JP25976193 A JP 25976193A JP H07113635 A JPH07113635 A JP H07113635A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical disk
- optical disc
- detection head
- detection
- protrusions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 例えば単繊維繊度が１デニール以下の極細繊
維布からなる検出ヘッド３と、検出ヘッド３を光ディス
ク２の表面に押圧する押圧部６と、検出ヘッド３と光デ
ィスク２の表面との間で生じる摩擦力を検出する圧電セ
ンサ等からなる検出部４と、光ディスクを支持し、回転
駆動させるスピンドルモータ等からなる支持部５とを備
える。 【効果】 極細繊維布からなる検出ヘッドを用いて、実
際の記録時に近い条件での検査が可能であるから、光デ
ィスク表面に存在する異物、突起を効率的に、かつ、確
実に検出することができる。
維布からなる検出ヘッド３と、検出ヘッド３を光ディス
ク２の表面に押圧する押圧部６と、検出ヘッド３と光デ
ィスク２の表面との間で生じる摩擦力を検出する圧電セ
ンサ等からなる検出部４と、光ディスクを支持し、回転
駆動させるスピンドルモータ等からなる支持部５とを備
える。 【効果】 極細繊維布からなる検出ヘッドを用いて、実
際の記録時に近い条件での検査が可能であるから、光デ
ィスク表面に存在する異物、突起を効率的に、かつ、確
実に検出することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク表面の異物、
突起を検査する装置に関する。
突起を検査する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁界変調方式の光磁気ディスク装置で
は、磁気ヘッドが光ディスクの表面に接触する方式が多
く採用されている。接触型の磁気ヘッドを用いれば、磁
気ヘッドと光ディスクの記録膜との距離が小さくなるこ
とから、記録時に必要な外部磁界が小さくてよく、この
ため、外部磁界を発生させるコイルの小形化、省電力化
を図ることができる。
は、磁気ヘッドが光ディスクの表面に接触する方式が多
く採用されている。接触型の磁気ヘッドを用いれば、磁
気ヘッドと光ディスクの記録膜との距離が小さくなるこ
とから、記録時に必要な外部磁界が小さくてよく、この
ため、外部磁界を発生させるコイルの小形化、省電力化
を図ることができる。
【０００３】しかしながら、上記の光磁気ディスク装置
では、回転する光ディスクに磁気ヘッドが接触しながら
動作するので、光ディスクの表面に装置の外部から侵入
した塵・埃などの微小な異物が付着していたり、製造過
程で生じる微小な突起物が存在すると、該異物および突
起物が磁気ヘッドと光ディスクとの接触面に噛み込ま
れ、光ディスクの表面または磁気ヘッドの表面を傷付け
ることがある。また、異物や突起物を噛み込んだ時に、
小刻みな異常振動が発生して光ディスクが揺れ、記録不
良の原因となることがある。さらに、光ディスクが揺れ
ることにより、磁気ヘッドが光ディスク上で弾んでディ
スク面に衝突するなどにより、光ディスクまたは磁気ヘ
ッドが損傷することもある。
では、回転する光ディスクに磁気ヘッドが接触しながら
動作するので、光ディスクの表面に装置の外部から侵入
した塵・埃などの微小な異物が付着していたり、製造過
程で生じる微小な突起物が存在すると、該異物および突
起物が磁気ヘッドと光ディスクとの接触面に噛み込ま
れ、光ディスクの表面または磁気ヘッドの表面を傷付け
ることがある。また、異物や突起物を噛み込んだ時に、
小刻みな異常振動が発生して光ディスクが揺れ、記録不
良の原因となることがある。さらに、光ディスクが揺れ
ることにより、磁気ヘッドが光ディスク上で弾んでディ
スク面に衝突するなどにより、光ディスクまたは磁気ヘ
ッドが損傷することもある。
【０００４】そこで、光ディスク表面の異物、突起の有
無を検査装置を用いて検査することが一般的である。
無を検査装置を用いて検査することが一般的である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】かかる検査装置として
一般的なものは、異物、突起の有無を光学的に検出する
ものであって、光ディスク表面に光ビームを照射する光
源と、突起等がない光ディスク表面での反射光を検出す
る光検出器と、突起等により散乱反射された光を検出す
る光検出器とを備えたものが知られている。しかし、こ
のタイプの検査装置では、突起等の高さではなくその傾
きを主に検出していることになり、なだらかな傾斜の突
起等の場合、大きな（高い）突起等であっても検出され
ないことがある。逆に、急な傾斜の突起等であれば、動
作上問題ない程度の小さなものであっても突起等として
カウントされてしまい過剰な検査になることがある。
一般的なものは、異物、突起の有無を光学的に検出する
ものであって、光ディスク表面に光ビームを照射する光
源と、突起等がない光ディスク表面での反射光を検出す
る光検出器と、突起等により散乱反射された光を検出す
る光検出器とを備えたものが知られている。しかし、こ
のタイプの検査装置では、突起等の高さではなくその傾
きを主に検出していることになり、なだらかな傾斜の突
起等の場合、大きな（高い）突起等であっても検出され
ないことがある。逆に、急な傾斜の突起等であれば、動
作上問題ない程度の小さなものであっても突起等として
カウントされてしまい過剰な検査になることがある。
【０００６】本発明は上記の課題に鑑みてなされたもの
で、光ディスク表面に存在する異物、突起を効率的に、
かつ、確実に検出することのできる光ディスク検査装置
を提供することを目的とする。
で、光ディスク表面に存在する異物、突起を効率的に、
かつ、確実に検出することのできる光ディスク検査装置
を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の光ディスク検査装置は、極細繊維布からな
る検出ヘッドと、該検出ヘッドを光ディスク表面に押圧
する押圧部と、該検出ヘッドと光ディスク表面との間で
生じる摩擦力を検出する検出部と、光ディスクを支持す
る支持部とを備えることを特徴とする。
め、本発明の光ディスク検査装置は、極細繊維布からな
る検出ヘッドと、該検出ヘッドを光ディスク表面に押圧
する押圧部と、該検出ヘッドと光ディスク表面との間で
生じる摩擦力を検出する検出部と、光ディスクを支持す
る支持部とを備えることを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明によれば、極細繊維布からなる検出ヘッ
ドを光ディスク表面に押圧して光ディスク表面の異物、
突起を検査しており、実際の記録時に近い条件での検査
が可能であることから、記録時に障害となる突起等を確
実に検出することができる。
ドを光ディスク表面に押圧して光ディスク表面の異物、
突起を検査しており、実際の記録時に近い条件での検査
が可能であることから、記録時に障害となる突起等を確
実に検出することができる。
【０００９】
【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
る。本発明の光ディスク検査装置の一例の内部構成を示
す平面図を図１に示し、その側面図を図２に示す。光デ
ィスク検査装置１の内部では、光ディスク２がスピンド
ルモータ５（図２）によって支持されて矢印Ａの方向へ
回転駆動される。光ディスク２の上方には単繊維繊度が
１デニール以下の極細繊維布からなる検出ヘッド３が配
設されている。検出ヘッド３と光ディスク２の表面との
間で生じる摩擦力を検出するため検出ヘッド３には圧電
センサ４からなる検出部が取付けられており、検出ヘッ
ド３を光ディスク２の表面に押圧するため検出ヘッド３
および圧電センサ４は支持アーム６ａを介して押圧部６
（図２）に取り付けられている。検査時には、回転する
光ディスクに対し、押圧部６で予め設定した一定荷重で
検出ヘッド３を押圧しつつ、光ディスク２の径方向（矢
印Ｂの方向）に検出ヘッド３等を移動（シーク動作）さ
せる。一方、圧電センサ４から取り出された信号を適宜
処理することにより異物、突起等の有無を検出する。上
記構成によれば、例えば実際の記録時における磁気ヘッ
ドの光ディスクに対する荷重と同程度の荷重が検出ヘッ
ド３により光ディスクに付加されるように押圧部で調整
することによって、実際の記録時に近い条件で突起等の
検査を行うことができる。また、本発明で検出ヘッドに
用いる極細繊維布はレンズ拭き等に用いられるものと同
様のものであるから、突起等の検査にあわせて、光ディ
スクの表面をクリーニングすることができる。
る。本発明の光ディスク検査装置の一例の内部構成を示
す平面図を図１に示し、その側面図を図２に示す。光デ
ィスク検査装置１の内部では、光ディスク２がスピンド
ルモータ５（図２）によって支持されて矢印Ａの方向へ
回転駆動される。光ディスク２の上方には単繊維繊度が
１デニール以下の極細繊維布からなる検出ヘッド３が配
設されている。検出ヘッド３と光ディスク２の表面との
間で生じる摩擦力を検出するため検出ヘッド３には圧電
センサ４からなる検出部が取付けられており、検出ヘッ
ド３を光ディスク２の表面に押圧するため検出ヘッド３
および圧電センサ４は支持アーム６ａを介して押圧部６
（図２）に取り付けられている。検査時には、回転する
光ディスクに対し、押圧部６で予め設定した一定荷重で
検出ヘッド３を押圧しつつ、光ディスク２の径方向（矢
印Ｂの方向）に検出ヘッド３等を移動（シーク動作）さ
せる。一方、圧電センサ４から取り出された信号を適宜
処理することにより異物、突起等の有無を検出する。上
記構成によれば、例えば実際の記録時における磁気ヘッ
ドの光ディスクに対する荷重と同程度の荷重が検出ヘッ
ド３により光ディスクに付加されるように押圧部で調整
することによって、実際の記録時に近い条件で突起等の
検査を行うことができる。また、本発明で検出ヘッドに
用いる極細繊維布はレンズ拭き等に用いられるものと同
様のものであるから、突起等の検査にあわせて、光ディ
スクの表面をクリーニングすることができる。
【００１０】
【発明の効果】以上、本発明によれば、極細繊維布から
なる検出ヘッドを用いて、実際の記録時に近い条件での
検査が可能であるから、光ディスクの表面を傷つけるこ
となく、光ディスク表面に存在する異物、突起を効率的
に、かつ、確実に検出することができる。
なる検出ヘッドを用いて、実際の記録時に近い条件での
検査が可能であるから、光ディスクの表面を傷つけるこ
となく、光ディスク表面に存在する異物、突起を効率的
に、かつ、確実に検出することができる。
【図１】本発明の一実施例による光ディスク検査装置の
内部構成を示す平面図である。
内部構成を示す平面図である。
【図２】同装置の側面図である。
１ 光ディスク検査装置 ２ 光ディスク ３ 検出ヘッド ４ 圧電センサ（検出部） ５ スピンドルモータ（支持部） ６ 押圧部
Claims (1)
- 【請求項１】 極細繊維布からなる検出ヘッドと、該検
出ヘッドを光ディスク表面に押圧する押圧部と、該検出
ヘッドと光ディスク表面との間で生ずる摩擦力を検出す
る検出部と、光ディスクを支持する支持部とを備えるこ
とを特徴とする光ディスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25976193A JPH07113635A (ja) | 1993-10-18 | 1993-10-18 | 光ディスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25976193A JPH07113635A (ja) | 1993-10-18 | 1993-10-18 | 光ディスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07113635A true JPH07113635A (ja) | 1995-05-02 |
Family
ID=17338599
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25976193A Pending JPH07113635A (ja) | 1993-10-18 | 1993-10-18 | 光ディスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07113635A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003021591A1 (fr) * | 2001-08-29 | 2003-03-13 | Tdk Corporation | Procede permettant de mesurer la caracteristique de frottement de la surface d'un support d'enregistrement optique |
| WO2004003518A1 (ja) * | 2002-07-01 | 2004-01-08 | Tdk Corporation | 非接触型記録媒体についての摩擦特性測定方法、および非接触型記録媒体用の摩擦特性測定装置 |
| JP2008070169A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Nagoya Institute Of Technology | 表面凸部検出装置および表面凸部検出方法 |
-
1993
- 1993-10-18 JP JP25976193A patent/JPH07113635A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003021591A1 (fr) * | 2001-08-29 | 2003-03-13 | Tdk Corporation | Procede permettant de mesurer la caracteristique de frottement de la surface d'un support d'enregistrement optique |
| WO2004003518A1 (ja) * | 2002-07-01 | 2004-01-08 | Tdk Corporation | 非接触型記録媒体についての摩擦特性測定方法、および非接触型記録媒体用の摩擦特性測定装置 |
| JP2008070169A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Nagoya Institute Of Technology | 表面凸部検出装置および表面凸部検出方法 |
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