TW420903B - Duty cycle correction circuit for correcting duty cycle of data and method therefor - Google Patents
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
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Description
五、發明說明(1) 發明之背寻 1.發明之領域 本發明係關於一種記憶體積體電路, 有不穩定工作週期之資料為.具有50%工^ —種供修正具 作週期修正電路。 %工作週期之資料之工 2.相關技藝之說明 一 ^近,一種記憶體積體電路以頻率數百死赫操 二=脈訊號之跳脫點處理資料,以便在短時間内 貝科。為供此種操作,需要一種電路,供使自外面蝓入 時脈訊號之工作週期回復至50% ,並應使用自工作週1 復電路輸出之時脈訊號接收資料。 ’° 圖1為一種習知Rambus DRAM半導體裝置之輸入接收器之 方塊圖。請參照圖1,一輸入接收器丨接收—時脈訊號 二資料DB及—參考電壓Vref,轉換f料⑽之電壓^位 千’亚輸出結果。通常’自外面輸入至Rambus dram之資 料有二電晶體電晶體邏輯(TTL)電位準,並且在Rambus 、 DRAM操作之訊號均有一互補金屬氧化物半導體(cM〇s)電乜 午5因此’輸入接收器101放大輸入資料與參考電壓
Vref間之差,以將資料”自τη電平轉換至CM〇s電平;並 輸出CMOS電平之資料DB。時脈訊號Pcu為一工作週期修正 之訊號。 ^ — 如圓2A所示,在資料DB及時脈訊號pclk之工作週期均為 〇 /〇時,資料D β之設定時間(t s )及保待時間(t h )之和等於 0 4。在此,R am bu s D R A Μ在設苳時間(t s )及保持時間(t h )
第6頁 五、發^---—------ 可具有最大容限。然而,如果資料DB及時脈訊號PCLK之工 作週期為在40%之允許範圍,時脈訊號PCLK之工作週期便 回復至50 % ’供在Rambus DRAM操作,同時資料DB按現狀輪 入至輸入接收器1 (Π。在此情形,在工作週期巳減少至4 〇 % 之間隔’其設定時間(ts)及保持時間(th)便較之具有工作 週期5 0 %之資料減少。如果資料Dβ及時脈訊號pc LK之工作 週期為在6 0 %之允許範圍以内,設定時間(t s )及保持時間 (th )較之具有工作週期5 0%之資料增加。 如以上所說明,如果資料之工作週期短於或長於5〇% , 在資料之一邊緣之設定時間(ts)及保持時間(便減少或 增加,從而如改變一樣多使容限減低。 發明之概述 為解決以上問題’本發明之第一目的,為提供一種工作 週期修正電路,供修正資料之不穩定工作週期實際為 5 0%。 u’ .... 本發明之第二目的’為提供一種具有工作週期修正電路 之記憶體積體電路。 本知明之第二目的’為提供一種方法’供修正資料之工 作週期。 ^ 為達成本發明之第一目的,本案提俣一種工作週期修正 電路包含:一時脈工作週期修正器,偎接收—外部時脈气 號,以產生至少二工作週期控制訊號,其與時脆訊號之; 作週期誤差成比例,並在比例有所不同,及—内部時脈訊 號;一第一參考電壓產生器,偎產生一第—參考電壓;一
Λ 2 Ο 90 3 五、發明說明(3) 第二參考電壓產生器,供接收第一參考電壓以及第一及第 二工作週期控制訊號,累加第一參考電壓以及第一及第二 工作週期控制訊號,並放大累加之結果,以產生一第二參 考電壓;以及一翰入接收器,供接收翰入資料,内部時脈 訊號及第二參考電壓,響應内部時脈訊號而比較資斜及第 二參考電壓,並放大比較之結果,以修正資料之工作週 期。 為達成本發明之第二目的,本案提供一種記憶體積體電 路包含:許多墊片;一延遲鎖定回路,供經由許多墊片中 之第一墊片接收一外部時脈訊號,以產生與分別具有不同 比例之外部時脈訊號之工作週期誤差成比例之第一及第二 工作週期控制訊號,及一藉修正外部時脈訊號之工作週期 所獲得之内部時脈訊號;一第一參考電壓產生器,侔產生 第一參考電壓;一第二參考電壓產生器,供接收第一參考 電壓以及第一及第二工作週期控制訊號,累加第一參考電 壓以及第一及第二工作週期控制訊號,並放大累加之結 果,以產生一第二參考電壓;及一輸入接收器,供接收經 由許多墊片之第二墊片自外面輸入之資料,内部時热訊號 及第二參考電壓,響應内部時脈訊號而比較資料及第二參 考電壓,並放大比較之結杲,以修正資料之工作週期。 為達成本發明之第三目的,本案提供一種方法,俣修正 輸入資料之工作週期,包含下列步驟:(a)產生與分別有 不同比例之外部時脈訊號之工作.週期誤差成比例之第一及 第二工作週期控制訊號,一内部時脈訊號,及一第一參考
第8頁 3 i磷 ... ·,τ- 五、發明說明(4) 電壓;(b)累加第一參考電壓,以及苐一及第二工作週期 控制訊號1並放大累加之結果,以產生一第二參考電壓; 以及(C )比較輸入資料及第二參考電壓,並放大比較之結 果,以響應内部時脈訊號修正輸入資料之工作遇期、 因此,根據本發明,在資料之工作週期不穩定時,工作 週期可予以修正,提供設定時間及保持時間之最大容限= 附圖之簡要說明 參考附圖詳細說明本發明之較佳實施例 > 將會更明白其 以上諸多目的及優點,在附圖中: 圖1為一習知Rambus DRAM之輸入接收器之方境圖; 圖2A及2B為在輸入至圖1之輸入接收器之資料之資料工 作週期分別為5 0 %及4 0 %時之波形; 圖3為一根據本發明之工作週期修正電路之方塊圖; 圖4A及4β為訊號之波形,例示一種方法,供在輸入資斜 之工作週期分別4 0 %及5 0 %時,修正輸出資料之工作遇期至 5 0¾ ; 圖5為圖3中所示第二參考電壓產生器之電路圖; 圖6為圖3中所示資料輸入接收器之電路圖; 圖7為略圖,示一採用圖3中所示工作週期修正電路之 R a m b u s D R A Μ ;以及 圖8為流程圖例示一種根據本發明修正工作週期之方 法。 較佳實施例之說明 . 請參照圖3,根據本發明之工祚週期修正電路,包括一
第9頁 0S03 ^ 五、發明說明(5) 第一參考電壓產生器3 1 1 ,一時脈工作週期修正器3 3 1 ,及 一第二參考電壓產生器321 ,並產生供一資料接收器341之 訊號。 第一電壓產生器311產生一預定電平之第一參考電壓 Vrefl。在此,第一參考電壓Vrefl為一直流(DC)電壓。 時脈工作週期修正器3 3 1接收一外部時脈訊號CLK,並產 生一第一工作週期控制訊號dec,一第二工作週期控制訊 號deeb,及一内部時脈訊號PCLK。第一及第二工作週期控 制訊號dee及deeb係與具有不同比例之外部時脈訊號CLK之 工作週期誤差成比例。亦即,在外部時脈訊號CLK之工作 週期為50%時,第一及第二工作週期控制訊號dee及deeb各 有一完全相同值。然而,在外部時脈訊號CLK之工作週期 大於5 0 %時,第一工作週期控制訊號d c c高於第二工作週鞀 控制訊號deeb :同時,在外部時脈訊號CLK之工作週期少 於50%時,第一工作週期控制訊號dee低於第二工作週期控 制訊號d c c b =例如,在外部時脈訊號C L K之工作週期等於 50%時,第一及第二工作週期控制訊號dee及deeb均為 1. 2 V。而且,在外部時脈訊號C L K之工作週期為6 0 %時,第 一及第二工作遇期控制訊號d c c及d c c b分別為1 . 4 V及 1 . 0V。同時,在外部時脈訊號CLK之工作週期為40%時,第 一及第二工作週期控制訊號分別為1 . 〇 V及1. 4 V。因此,在 外部時脈訊號C L K之工作週期少於5 0 %時,第一工作週期控 制訊號dee與第二工作週期控制筇號deeb間之差有一負 值,而在外部時级訊號C L K之工_作週期長於5 0 %時有一正
第10頁
五、發明說明 ⑻ 作 铍。在外部時跃訊號CLK之工作週期不穩定時,時脈工 %期修正器331修正外部時脈訊號clk之工作週期至50% 從而輸出修正之結果作為内部時脈訊號PCLK。 第二參考電壓產生器321接收第一參考電壓vrefp,以及 第一及第二工作週期控制訊號(^(:及(1(:。,並累加及放大 趄收之訊號,以產生一苐二參考電壓Vref2。如圖4义所 示,在外部時脈訊號CLK之工作週期少於5〇% ’例如4〇% 時,第二參考電壓Vref2變為低於第一參考電壓矸㊀^。而 且’如圖4B所示’在外部時脈訊號CLK之工作週期長於 5^% '例如60%時,第二參考電壓矸“2變為高於苐一參考 ,壓Vrefl^^在外部時脈訊號CLK之工作週期等於5〇%時, ,二,考電壓Vre不受外部時脈訊號CLK之工作週期所影 響。第一參考電壓產生器3 2 1之電路稍後將參照圖5予以奸 細說明。 ^ 資竹接收裔341接收一資料DB ,第二參考電壓Vref2及内 部時臉:K號PCLK。在資料⑽之工作週期不穩定,亦即不等 貝’ΓΤ长收?I 34 1與内部時脈訊號pCLK同步,以 較資料DB及第-夫去+ π , "丫 乂弟一茶考黾壓h e f 2 =然後,比較之結果被放 2 :=二=正資斜DB之工作週期至5 0¾,並輸出修正之資
Zrunl 5 了吹裔34 1轉換自外靣輪人之資料⑽之電壓電平 為C Μ 0 S電恩τ ,^ 〜电干。貢科接收器34 1與内部時脈訊號DCU之 一之一同步铞作。資料接收器341稍後將參照圖6 于以坪‘戒i兒明 3 圖3為圖3中所示第二參考電壓產生器321之電路圖。請
第11頁 五、發明說明(7) 參圖5 ’弟一參考虿壓產生器321包括緩衝器511及515, 及一操作放大部份513。 緩衝器511接收第二工作週期控制訊號心以,並使接收 之第二工作週期控制訊號反相。缓衝器511包括一運算放 大器521,有一反相輸入端子(_),第二工作週期控制訊號 dccb經由其予以輸入’及一接地非反相輸入端子(+ ),以 及電阻器523及525。電阻器523及525具有相同電阻值。因 此’自緩衝器511之輸出節點n 1輸出一電壓vni等於數學公 式⑴。 _
Vnl=-dccb …(1 ) 操作放大部份513包括一運算放大器531以及電阻器541 ,542,543及544。緩衝器511之第一參考電壓Vreil,第 一工作週期控制訊號dec及輸出電壓Vn 1 ,為分別經甴電阻 器541 ’542及543至放大器531之反相翰入端子(-)之输 入。在此,運算放大器53丨之非反相輸入端子(·〇予以接 地。電阻器541及544具有相同電阻,同時電阻器542及543 具有相同電阻。運算放大器531累加第一參考電壓Vrefl , 第一工作週期控制訊號d c c及缓衝器5 1 1之輸出電壓V π 1 , 並放大累加之結果。因此,運算放大器5 1 3之輸出節點Vn2 ! 輸出一由數學公式(2)所表示之電壓Vn'2。
Vr^-Vrefl-aCdcc-dccb) ...(2) 在數學公式(2 ),11 a"為一依時酿工作週期修正器3 3 1之 輸出及資料DB之邊緣之斜率所確定之常數a 緩衝器5 1 5包括一運算放大器5-5 1以及電阻器5 5 3及5 5 5 =
ο 9〇3 五、發明說明(8) " --- ^作放大部份513之輸出電壓Vn2^電阻器 =大器,之反相輸入端子(_)。在此,運算放大器551之 昨反相_入4(0予以接地。電阻器553及555彼此 相同電阻。運弃放大器551使運算敌大部份513之 =反〜因此’數學公式⑶表示在運算敌大器551之輸 出節點n3之輸出電壓Vn3。
Vn3=Vrefl+a(dcc-dccb) . (3) 如參照圖5所說明,根據本發明之第二參考哭 32i,改變根據第一及第二工作 :1 一/ 心 』控巾〗訊唬dec及dccb之 π幅之第二參考電壓Vref2之振幅。亦即,在第一工作週 瑚控制訊號dec高於苐二工作週期控制訊號dccb J考電阶ef2增加,及㈣一工作週期控制訊號dcc低-於 π二工作〃週期〃控㈣訊號d ccb時減少^在第—工作週期控制 ,號dee等於第二工作週期控制訊號dccb時,二㊉ ^l/ref 2變為與第一參考電壓Vren相同。 毛 圖6為圖3中所示資料接收器341之電路圖。請參照圖6, 貪料接收器3 4 1包括一電平移相器6 2 〇 ,—主放大器6 2 2, 〜電容固定電路624及一靜態元件626。 μ電平移相器6 2 0接收具有小變動之資料卯,將資料⑽與 第二參考電壓Vref 2比較,並翰出具有CMOS ,電平之翰入& :Q5相 號I N1及I N2。輸入訊號丨N !及丨N 2具有彼此互補之值^電。平 移相器620係由一典型微分比較器所構成。—電晶$ τ 電流 作如微分比?交器之有效負載,並有具有預定電平之 過微分比較器3在資料DB高於第.二參考電壓V· ref2時,流
第13頁 '·, 五、發明說明(g) 過電晶體Q3之電流多於流過電晶體^之電流。因此,輸入 訊號IN 1變為少於輸入訊號IN2。同時,在輸入資斜⑽低於 ^二參考電壓vref 2時,流過電晶體Q3之電流少於流過電 曰曰體Q 4之電流。因此,輸入訊號IN1變為高於輸入訊號 IN2。 主放大器622接收來自電平移相器620在内部時脈訊號 PCLK之升緣之輸入訊號I N1及IN2,放大所接收之訊號,並 輸出放大之訊號OUT 1及OUT2。主放大器6 22係由一微分放 大器構成,其與内部時脈訊號PCLK同步操作。内部時脈訊 號PCLK為在”低"電平時,電晶體Q6至“2均被接通,以使 訊號OUT 1及0UT2預先充電至”高”電平。内部時脈訊號PCLK 過渡至"高”電平時’電晶體Q丨5及q 1 6被接通。而且,電晶 體Q13或Q14根據輸入訊號IN1及IM2之電壓電平被接通。因 之,電晶體Q 1 1或Q 1 2之汲極電壓被下拉,轉換放大訊號 0UT1及0UT2之邏輯電平。 例:’彳;:又a又翰入sfL號〖N1局於輸入訊號IN2。在此,電晶 體Q13接通快於電晶趙Q14,因而電晶體Q11没極電壓彳左下 拉快於電晶體Q1 2者。而且,電晶體Q8,Q9及Q1 〇之#作使 電晶體Q 1 1及Q1 2之汲極電壓之電平穩定。電晶體q 1 1及q 12 之汲極電壓之值予以輸出作為放大之訊號OUT 1及0UT2。翰 入資料DB為在"低"電平時,訊號OUT 1及0UT2分別具有11低” 及"高"電平。輸入資料D B為在M高"電平時,訊號〇 u T 1及 ◦ UT2分別具有"高”及”低”電平° . 電容固定電路6 2 4係供使靜態Γ元件6 2 6與主放大器6 2 2之
第14頁 Λ 9〇3 五、發明說明(ίο) _ 輸出節點穩定匹配。電容固定電路624包括反相器π及1*2 。反相器11使訊號OUT 1反相,並輸出反相之訊號,及反相 器12使訊號0UT2反相,並輸出反相之訊號。 靜態元件6 26儲存主放大器6 2 2所放大之訊號0111'广及011丁2 之邏輯狀態,並輸出儲存之訊號。靜態元件626自主放大 器6 22接收訊號OUT 1及0UT2,儲存所接收之訊號,並輸岀 儲存之訊號作為輸出資料D〇及D〇。在訊號〇UT1及〇1}1[2予以 預先充電至”高11電平時,電晶體Q17至q2〇均被斷開。在内 部時脈訊號PCLK巳過渡至”高"電平後,訊號〇υτι·τ2之 一過渡至Π低”狀態時,電晶體q17及Ql8之一,以及存曰知 Qi 9及Q20之一被接诵,β而眘杻冲. > 兒阳户二 至㈣之記憶體元件%H f⑽Q21 入資獅互補之^二㈣26之輸出資獅具有與輸 圖7為-採周圖3中所示工作 DRAM之略圖。請|照圖?,Rambus β^二路U㈣bus 入接收器7 2 1 ,一第 '工作週期修正電路有 I考電壓產生器71 7及 元件陣列75 i ,,馬_人m AM 701包括一記憶體 崎轉介团741,一輪 一墊月711 ,—苐二墊片712 ,以及〜 一第—參考電壓產生器715 ' -第. 一延遲鎖定回路7¾丄。 延遲鎖定回路73】經由第二塾片 CLK,Λ彦咮第一R — 、接收一外部時故訊ΐΐ —乙—矛 及第二工作週期控在 及一内部時脈訊婕pcu。在此,Μ訊號dec及dccb,以 訊號dee及deeb係與具有不同比例之及第二工作週期控制 作週期誤差成比@。+ π / 卜部時脈訊號CIA之工 J在外部時蹲訊楚CLK之工作週期長於
第15頁 Τί.0 90^ ^ 五:發明說明⑴) — 或短於5〇%時,延遲 . 工作週動崎火回路731修正外部時脈訊號CLK之 \ ^主bU%,並發·山^丄 外部時脈訊號CLK 出結果作為内部時脈訊號PCLK。在 予以按頊叶二L> A,工作週期為5 0%時,外部時脈訊號CLK 枚w出作為内却。士 ^
第-參考電廢產生^疒脈訊號PCLK。 J —參考電壓vrefl。器715產生一有一直流(^)電平之第 及第-ίί:ΐί^器7Π接收第-參考電壓Vrefl,以以 -夫去+ "期控制訊號dec及dccb,並彦生一第 —茶考電壓^ ^ 昂 愿Vrpfi — >考電壓Vref2為累加苐一參考雪 科姓β 第—工作週期控制訊號dec及deeb,並 〜恕不放大所獲得。 丄· 輸入接收器721經由第—%ΰ711 ,肉都 笛-夕去兩广rn 塑·片7il ’内部時脈訊號PCLK及 f ::$考电壓Vref2接收—自外面輸入之資料Μ。輸入接 态72 1響應,内部時脈訊號?(:1}(將資料⑽盥第二彖1 號Vref2比較,放大比較之結果’並修正資料作週 ’月亦即,在資料DB之工作週期長於或短於5〇如時,工作 週期予以修正至50%。同時,在資料⑽之工作週期等於亏⑽ 時’資料DB予以按現狀輸出,而無工作週期之侈正。輸入 接收器721將資料DB之電壓電平轉換至CMOS電平 , ^ 丁 5在此, 輸入接收器721玎有二翰入接收部份連接至第〜%片711 : 一接收在内部時跣訊號PCLK之升緣之資料DB,π—▽ ^ r 久另一#仪 在内部時敌訊號PCLK之降緣之資料DB。 邏輯介面7 4 1將自輸入接收器了 2 1輸出之資料鞋存在記作 體元件障列7 5 1 ’並將資料儲存在記憶體元件障列丨1 ^
第16貢 1 \嘩 ^--- 五、發明說明(12) 移介接至延遲鎖定Θ路731 = 雖然圖7中僅示第一及第二墊片711及71 2Rambus DRAM, 但一 Rambus DRAM可包括許多墊片,供接收或輸出資料 DB ’及許多輪入接收器。輸入接收器721 >第一及第二參 考電壓產生器715及717,以及延遲鎖定回路731 ,可予以 加至所有與一時脈訊號同步操作之記憶體積體電路,以及 加至Rambus DRAM 7Ο 1 〇 如參照圖7所說明’根據本發明之Rambus DRAM 701,在 自外面輸入之資料DB之工作週期大於或少於5〇%時,修正 資料DB之工作週期至5 0 %,從而提供輸出資料之設定時間 (t s )及保持時間(t h )之最大容限α 圖8為流程圖,例示一種供根據本發明修正工作週期之 資料之方法。該工作週期修正方法包括第一至第三步驟 8 1 1至8 3 1。圖8中所例示之工作週期修正方法將參照圖3至 6予以詳細說明。 在步驟81 1 ,產生與外部時脈訊號CL1(之工作週期誤差成 比例,並在比例有所不同之第一及第二工作週期控制訊號 dec及dccb,以及第一參考電壓\.ref }。在外部時脈訊號 C L K之工作週期少於5 0 %時’第—及第二工作週期控制訊號^ d c c及d c c b間之差有一負值’並在外部時脈訊號c l K之工作 週期大於50 %時有一正值。 在步肆821 ,第一參考電壓Vrefl以及第一及第二工作週 期控制訊號dec及deeb予以累加:然後並予以放大,以產 生第二參考電壓Vref2。在外部_時脈訊號CLK之工作週期少
第頁 Γ、. 〇;0 案號 87119738 仏 修正 年」3 ^據充 修正 五、發明說明(13) 於50%時,第二參考電壓乂^{2低於第一參考電壓¥^:?1, 並在外部時脈訊號CLI(之工作週期大於50%時高於第一參考 電壓Vr e f 1。 在步驟831 ,自外面輸入之資料DB及第二參考電壓Vref2 予以彼此比較,並且比較之結果予以放大,以輸出一資料 D 0,其工作週期予以修正至5 0 %。因此,輸出資料D 0之設 定時間(t s )及保持時間(t h )之容限變為最大。 如以上所說明,在根據本發明之工作週期修正電路及其 方法,如果輸入資料DB之工作週期大於或少於50%,自外 面輸入之資料D B之工作週期予以修正至5 0 %,因而輸出資 料D 0之設定時間(t s )及保持時間(t h )之容限變為最大。 雖然本發明業經參照特定實施例予以例示及說明,但精 於此項技藝者,在如後附申請專利範圍所界定之本發明之 精神及範圍以内,將會想出另外種修改及更改。 元件符號說明: 10 1 輸 入 接 收 器 3 11 第 —» 電 壓 產 生 器 321 第 二 電 壓 產 生 器 33 1 時 脈 工 作 週 期 修 正 器 341 資 料 接 收 器 5 11 緩 衝 器 513 操 作 放 大 部 分 515 緩 衝 器 521 運 筲 ΎΓ 放 大 器 53 1 運 算 放 大 器 551 運 算 放 大 器 70 1 Ra mb u S DRAM 7 1 1 第 m ·* 塾 片 712 第 二 墊 片 715 第 —- 參 考 電 壓 產生器 717 第 二 參 考 電 壓 產 生 器 721 輸 入 接 收 器 731 延 遲 鎖 定 回 路 741 邏 輯 介 面 751 記 憶 體 元 件 陳 列
O:\56\56111.ptc 第18頁 2000.0¾. 26.018
Claims (1)
- _ Λ ^ 't% α2〇9°^___ 六、申請專利範圍 1. 一種工作週期修正電路,供修正一輸入至資料接收i 之資料之工作週期至50%,包含: 一時脈工作週期修正器,供接收一外部時脈訊號,以 '產生至少二工作週期控制訊號,其與時脈訊號之工%週期 誤差成比例,並在比例有所不同,及一内部時脈訊號; 一第一參考電壓產生器,供產生一第一參考電壓;以 及 一第二參考電壓產生器.,供合併第一參考訊號及至少 二工作週期控制訊號,藉以產生一第二參考電壓,並輸出 苐二參考電壓至資料接收器,供響應内部時脈訊號修正資 料之工作週期至5 C1 %。 2. 如申請專利範圍第1項之工作週期修正電路,其中第 二參考電壓產生器累加苐一參考訊號及至少二工作遇期控 制訊號,並放大累加之結果。 3. 如申請專利範圍第1項之工作週期修正電路,其中在 外部時脈訊號之工作週期少於5 0 %時,第二參考電壓變低 於第一參考電壓,並在外部時脈訊號之工作週期大於5 0 % 時高於第一參考電壓3 4. 如申請專利範園第1項之工作週期修正電路,其中第 二參考電壓產生器包含: —第一緩衝器,供使一第二工作遇期控制訊號反相: 一操作放大部份,供累加第一參考電壓,第一工作週 期控制訊號及第一缓衝器之輸出」以及 —第二緩衝器',彳共使操作放-大部份之輸出反相,以產|| -,q3 ~420903 ^_ 吠&申請專利範圍 生第二參考電壓=» 5. 如申請專利範圍第4項之工作週期修正電路,其中第 一緩衝器包含一運算放大器,有一反相輸入端子供接收第 二工作週期控制訊號及一接地非反相輸入端子。 — 6. 如申請專利範圍第4項之工作週期修正電路,其中運 算放大部份包含一運算放大器,有一反相輸入端子供接收 第一參考電壓,第一工作週期控制訊號及第一缓衝器之翰 出,及一接地非反相輸入端子。 7. 如申請專利範圍第4項之工作週期修正電路,其中第 二缓衝器包含一運算放大器有一反相翰入端子供接收操作 放大部份之輸出,及一接地非反相輸入端子。 8. 如申請專利範圍第3項之工作週期修正電路,其中在 外部時脈訊號之工作週期大於5 0 %時,第一工作週期控制 訊號高於第二工作週期控制訊號,並在外部時脈訊號之工 作週期少於5 0 %時低於第二工作週期控制訊號。 9. 一種記憶體積體電路包含: 許多墊片; 一延遲鎖定回路,供經白許多墊月令之第一墊片接抆 一外部時腺訊號,以產生與分別具有不同比例之外部時,m 訊號之工作週期誤差成比例之第一及第二工作週期控制1?、 號,及一籍修正外部時脈訊號之工作週期所獲得之内部時 踩訊號; 一第一參考電壓產生器,供產生一第一參考電壓; 一第二參考電壓產生器,供_.接收第一參考電壓及第一第20頁 ~ 1 : r Ο 3 -_ 六、申請專利範圍 及第二工作週期控制訊號,累加第一參考電壓以及第—及 第二工作週期控制訊號,並放大累加之結果,以產生一第 二參考電壓;以及 一輸入接收器,供接收自外靣經由許多墊片中/之第二 墊片,内部時脈訊號及第二參考電壓所輸入之資料,響應 内部時脈訊號而比較資料及第二參考電壓,並放大比較之 結果,以修正資料之工作週期。 1 0.如申請專利範圍第9項之記憶體積體電路,其甲記憶 體積體電路為一Rambus DRAM。 1 1 ·如申請專利範圍第9項之記憶體積體電路,其中輸入 接收器將資料之電壓電位準轉換為CMOS電壓電位準》 1 2 ·如申請專利範圍第9項之記憶體積體電路,其中二翰 入接收器予以連接至第一墊片,一供與内部時酿訊號之升 緣同步接收資料,及另一供與内部時脈訊號之升緣同步接 收資料。 1 3. —種修正翰入資料之工作週期之方法,包含下列步 驟: (a )產生與分別具有不同比例之外部時脈訊號之工作 週期誤差成比例之第一及第二工作週期控制訊號,一内部! 時胲訊號,及一第一參考電壓; (b )累加第一參考電壓以及第一及第二二作週期控制 訊號,並放大累加之结果,以產生一第二參考電壓;以及 〔c )比較輸入資料及第二參考電壓,莖放大比較之結 杲,以響應内部時胍訊號修正I入資料之工作週期。第21頁 六、申請專利範圍 14.如申請專利範圍第13項之方法,其中第一與第二工 作週期控制訊號間之差在外部時脈訊號之工作週期少於 50%時為一負值,並在外部時脈訊號之工作週期大於50 %時 為一正值。I第22頁
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