KR960026781A - 반도체 기억장치 - Google Patents
반도체 기억장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR960026781A KR960026781A KR1019950046691A KR19950046691A KR960026781A KR 960026781 A KR960026781 A KR 960026781A KR 1019950046691 A KR1019950046691 A KR 1019950046691A KR 19950046691 A KR19950046691 A KR 19950046691A KR 960026781 A KR960026781 A KR 960026781A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- array
- memory
- register
- memory cell
- data
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 8
- 238000003491 array Methods 0.000 claims 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4096—Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/403—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration common to a multiplicity of memory cells, i.e. external refresh
- G11C11/404—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration common to a multiplicity of memory cells, i.e. external refresh with one charge-transfer gate, e.g. MOS transistor, per cell
- G11C11/4045—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration common to a multiplicity of memory cells, i.e. external refresh with one charge-transfer gate, e.g. MOS transistor, per cell using a plurality of serially connected access transistors, each having a storage capacitor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/103—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using serially addressed read-write data registers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
Description
Claims (6)
- 복수의 메모리셀이 직렬로 접속된 메모리셀 유니트가 어레이상으로 배치되고, 동일 디코더로 워드선이 구동되는 메모리 어레이 또는 동일의 행어드레스로 동작하는 복수의 디코더로 구동되는 복수의 메모리 어레이와, 한 쌍 또는 복수 쌍의 비트선마다 감지증폭기가 설치되어 상기 메모리셀로부터 데이터를 독출하기 위한 감지증폭기 어레이 및, 상기 감지증폭기로 독출된 데이터를 각각 저장하는 레지스터로 이루어진 레지스터 어레이를 구비하여 이루어지고, 상기 감지증폭기 어레이 및 레지스터 어레이는 복수의 블록으로 분할되고, 분할된 블록을 독립적으로 제어하여 각각의 블록마다상기 레지스터로부터 독립적으로 데이터를 독출하는 제어회로를 갖춘 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 복수의 메모리셀이 직렬로 접속된 메모리셀 유니트가 어레이상으로 배치되고, 동일 디코더로 워드선이 구동되는 메모리 어레이 또는 동일의 행어드레스로 동작하는 복수의 디코더로 구동되는 복수의 메모리 어레이와, 한 쌍 또는 복수 쌍의 비트선마다 감지증폭기가 설치되어 상기 메모리셀로부터 데이터를 독출하기 위한 감지증폭기 어레이 및, 상기 감지증폭기로서 독출된 데이터를 각각 저장하는 레지스터로 이루어진 레지스터 어레이를 구비하여 이루어지고, 상기감지증폭기 어레이 및 레지스터 어레이는 복수의 블록으로 분할되고, 행어드레스 및 열어드레스는 특히 상기 각 블록마다 레지스터를 선택하는 어드레스를 입력하는 수단을 갖추어 상기 각 블록의 레지스터로부터 독립적으로 데이터를 독출하는 제어회로를 갖춘 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 레지스터는 독출된 메모리셀 유니트의 데이터를 일시적으로 기억하는 수단과 함께,상기 메모리셀 유니트에 데이터를 되돌리지 않고 데이터를 외부로 독출하는 수단으로서 이용하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 비트선과 워드선의 각 교차부에 메모리셀이 설치되고, 동일 디코드로 워드선이 구동되는 메모리 어레이 또는 동일의 행어드레스로 동작하는 복수의 디코더로 구동되는 복수의 메모리 어레이와, 상기 비트선의 복수쌍마다 하나의감지증폭기가 설치되어 상기 메모리셀로부터 데이터를 독출하기 위한 감지증폭기 어레이 및, 상기 각 비트선쌍과 해당 비트선쌍에 대응하는 감지증폭기어레이 및, 상기 각 비트선쌍과 해당 비트선쌍에 대응하는 감지증폭기 사이에 각각 스위치소자가 설치되고, 각각의 감지증폭기에 각각 한 쌍의 비트선을 접속하는 스위치 어레이를 구비하여 이루어지며, 상기 스위치 어레이 및 감지증폭기 어레이는 복수의 블록으로 분할되고, 분할된 각각의 블록을 독립적으로 제어하여 각각의 블록마다 데이터를 독립으로 독출하는 제어회로를 갖춘 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 비트선과 워드선의 각 교차부에 메모리셀이 설치되고, 동일 디코더로 워드선이 구동되는 메모리 어레이 또는 동일의 행디코더로 동작하는 복수의 디코더로 구동되는 복수의 메모리 어레이와, 상기 비트선의 복수쌍마다 하나의 감지증폭기가 설치되어 상기 메모리셀로부터 데이터를 독출하기 위한 감지증폭기, 상기 각 비트선쌍과 해당 비트선쌍에 대응하는 감지증폭기 사이에 각각 스위치소자가 설치되고, 각각의 감지증폭기에 각각 한 쌍의 비트선을 접속하는 스위치 어레이 및, 상기 감지증폭기로 독출된 데이터를 각각 저장하는 레지스터로 이루어진 레지스터 어레이를 구비하여 이루어지고, 상기 감지증폭기 어레이 및 레지스터 어레이는 복수의 블록으로 분할되고, 분할된 블록을 독립으로 제어하여 각각의블록마다 상기 레지스터로부터 데이터를 독립으로 독출하는 제어회로를 갖춘 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 제2항에 있어서, 상기 레지스터는 독출된 메모리셀 유니트의 데이터를 일시적으로 기억하는 수단과 함께,상기 메모리셀 유니트에 데이터를 되돌리지 않고 데이터를 외부로 독출하는 수단으로서 이용하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6304039A JPH08167285A (ja) | 1994-12-07 | 1994-12-07 | 半導体記憶装置 |
JP94-304039 | 1994-12-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960026781A true KR960026781A (ko) | 1996-07-22 |
KR0180065B1 KR0180065B1 (ko) | 1999-03-20 |
Family
ID=17928322
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950046691A KR0180065B1 (ko) | 1994-12-07 | 1995-12-05 | 반도체 기억장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5654912A (ko) |
JP (1) | JPH08167285A (ko) |
KR (1) | KR0180065B1 (ko) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR940016288A (ko) * | 1992-12-25 | 1994-07-22 | 오가 노리오 | 반도체메모리 및 그 선별방법 |
JP3099931B2 (ja) * | 1993-09-29 | 2000-10-16 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
EP0757357B1 (en) * | 1995-08-03 | 2000-01-26 | STMicroelectronics S.r.l. | Current detecting circuit |
JP3299900B2 (ja) * | 1996-12-27 | 2002-07-08 | シャープ株式会社 | 不揮発性メモリ及びその動作方法 |
JP3492168B2 (ja) * | 1997-10-21 | 2004-02-03 | シャープ株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2000011640A (ja) * | 1998-06-23 | 2000-01-14 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
TW504694B (en) * | 2000-01-12 | 2002-10-01 | Hitachi Ltd | Non-volatile semiconductor memory device and semiconductor disk device |
KR100481857B1 (ko) * | 2002-08-14 | 2005-04-11 | 삼성전자주식회사 | 레이아웃 면적을 줄이고 뱅크 마다 독립적인 동작을수행할 수 있는 디코더를 갖는 플레쉬 메모리 장치 |
KR20100042072A (ko) * | 2008-10-15 | 2010-04-23 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
US8296628B2 (en) * | 2009-03-06 | 2012-10-23 | Texas Instruments Incorporated | Data path read/write sequencing for reduced power consumption |
JP5798933B2 (ja) * | 2011-01-26 | 2015-10-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 信号処理回路 |
US9116781B2 (en) * | 2011-10-17 | 2015-08-25 | Rambus Inc. | Memory controller and memory device command protocol |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07122989B2 (ja) * | 1990-06-27 | 1995-12-25 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
JP3322936B2 (ja) * | 1992-03-19 | 2002-09-09 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
JP3302726B2 (ja) * | 1992-07-31 | 2002-07-15 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
JPH06302189A (ja) * | 1993-02-22 | 1994-10-28 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP3237971B2 (ja) * | 1993-09-02 | 2001-12-10 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
-
1994
- 1994-12-07 JP JP6304039A patent/JPH08167285A/ja active Pending
-
1995
- 1995-12-05 KR KR1019950046691A patent/KR0180065B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-12-07 US US08/568,500 patent/US5654912A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08167285A (ja) | 1996-06-25 |
KR0180065B1 (ko) | 1999-03-20 |
US5654912A (en) | 1997-08-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970071789A (ko) | 반도체 기억 장치 | |
KR970017611A (ko) | 다수의 메모리 어레이내에 분포된 다수의 뱅크들을 갖는 동기성 반도체 메모리 장치 | |
KR960008833A (ko) | 반도체 기억 장치 | |
KR920020495A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR890017706A (ko) | 다이나믹형 반도체 기억장치 | |
KR850008569A (ko) | 반도체 메모리장치 | |
KR940002864A (ko) | 멀티-이씨씨(ecc)회로를 내장하는 반도체 메모리 장치 | |
KR890005993A (ko) | 프로그래블 로직디바이스 | |
KR900000904A (ko) | 반도체기억장치와 이것을 이용한 데이터패스(data path) | |
KR950030151A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR960006039A (ko) | 반도체 기억 장치 | |
KR960026781A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR960012002A (ko) | 반도체 메모리와 그 사용방법, 컬럼 디코더 및 화상 프로세서 | |
KR950015389A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR960032497A (ko) | 불휘발성 반도체 기억 장치 | |
KR930022206A (ko) | 비트라인 스위치 어레이를 가진 전자 컴퓨터 메모리 | |
KR980700664A (ko) | 레지스터 파일 판독/기록 셀(Register file read/write cell) | |
KR960035627A (ko) | 고속의 반도체 메모리 시스템 | |
KR860002155A (ko) | 반도체 장치 | |
KR920001545A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR880000968A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR910020724A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR920000080A (ko) | 비휘발성 메모리장치의 시그네쳐(signature)회로 | |
KR920006983A (ko) | 저잡음 감지 구조를 가진 반도체 메모리 장치 | |
KR920013440A (ko) | 열 디코드에 의한 비트 라인 등화 기능을 구비한 반도체 메모리 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19951205 |
|
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19951205 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 19980831 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 19981130 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 19981130 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20011031 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20021030 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20031030 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20041101 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20051031 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20061031 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20071029 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20081027 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20091028 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20101028 Start annual number: 13 End annual number: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20111028 Year of fee payment: 14 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20111028 Start annual number: 14 End annual number: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121114 Year of fee payment: 15 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20121114 Start annual number: 15 End annual number: 15 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20141009 |