[go: up one dir, main page]

KR890004171A - 역 배향 ic 검사장치 및 방법 - Google Patents

역 배향 ic 검사장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR890004171A
KR890004171A KR1019880010811A KR880010811A KR890004171A KR 890004171 A KR890004171 A KR 890004171A KR 1019880010811 A KR1019880010811 A KR 1019880010811A KR 880010811 A KR880010811 A KR 880010811A KR 890004171 A KR890004171 A KR 890004171A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
circuit
node
connectors
semiconductor components
Prior art date
Application number
KR1019880010811A
Other languages
English (en)
Other versions
KR920002874B1 (ko
Inventor
쥬니어 에디 엘.윌리엄슨
Original Assignee
디.크레이그 노들런드
휴렛트-팩카드 캄파니
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 디.크레이그 노들런드, 휴렛트-팩카드 캄파니 filed Critical 디.크레이그 노들런드
Publication of KR890004171A publication Critical patent/KR890004171A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR920002874B1 publication Critical patent/KR920002874B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2813—Checking the presence, location, orientation or value, e.g. resistance, of components or conductors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/67—Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

역 배향 IC 검사장치 및 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명의 검사 시스템의 전체적인 개략도. 제 2 도는 검사중인 장치를 포함하는 전형적인 개략 부분회로도. 제 3 도는 검사중인 장치에 대한 한개의 가능한 회로기하학 형태를 개략적으로 도시한 도면.

Claims (2)

  1. 회로의 공통 신호 노드(74,80) 및 공통 전력 노드(60)에 결합된 상기 회로내의 반도체부품(48,50,52)의 배향을 결정하는 방법에 있어서, 상기 반도체 부품(48,50,52)가 상기 회로내에 적당하게 배향될 때마다 상기 전력 노드(60)과 상기 신호 노드(74,80)사이에 결합된 상기 반도체 부품(48,50,52)의 소정의 다이오드 접합부를 순방향 바이어스시키는데 필요하고, 상기 반도체 부품(48,50,52)가 역 배향으로 상기 회로에 접속될 때마다 상기 전력 노드(60)과 상기 신호 노드(74,80)사이에 결합된 상기 반도체 부품의 다이오드 접합부를 순방향 바이어스시키기에 충분한, 전압 레벨미만인 제 1 전압 레벨을 상기 전력 노드(60)상에 유지시키는 단계, 상기 반도체 부품(48,50,52)가 상기 회로 내에 적당하게 배향될 때마다 상기 회로의 접지 노드(68)과 상기 신호노드(74,80)사이의 상기 반도체 부품(48,50,52)의 다이오드 접합부를 순방향 바이어스시키기에 충분한 전류를 제공하는 단계, 및 상기 신호 노드(74,80)에서의 제 1 의 선정된 출력 전압이 상기 반도체 부품(48<50,52)가 상기회로내에 적당하게 배향되었다는 것을 나타내고, 상기 신호노드(74,80)에서의 제 2 의 선정된 출력 전압이 상기 반도체 부품(48,50,52)중의 최소한 한 부품이 역 배향으로 상기 회로에 결합되었다는 것을 나타내도록, 상기 반도체 부품(48,50,52)의 배향의 표시를 제공하기 위해 상기 신호 노드(74,80)에서의 전압 레베를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 신호 접속기(70,72,76,82,78), 전력 접속기(54,56,58), 및 접지 접속기(63,64,66)을 갖고 있는 반도체 부품(48,50,52)의 회로내으 배향을 결정하기 우한 시스템에 있어서, 상기 회로에 상기 반도체 부품(48,50,52)의 상기 신호 접속기(70,72,76,82,78)용의 공통 신호 접속을 제공하기 위한 신호 노드 수단(74,80), 상기 회로에 반도체 부품(48,50,52)의 상기 전력 접속기(54,56,58)용의 공통 전력 공급 접속을 제공하기 위한 전력 노드 수단(60), 상기 회로에 반도체 부품(48,50,52)의 상기 접지 접속기(62,64,66)용의 공통 접지 접속을 제공하기 위한 접지 노드 수단(68), 상기 전력 접속기(54,56,58)과 상기 신호 접속기(70,72,76,82,78)사이에 결합된 상기 반도체 부품(48,50,52)의 제 1 다이오드 접합 수단, 상기 접지 접속기(62,64,66)과 상기 신호 접속기(70,72,76,82,78)사이에 결합된 상기 반도체 부품(48,50,52)의 제 2 다이오드 접합 수단, 상기 반도체 부품(48,50,52)중의 최소한 부품이 역 배향으로 상기 회로에 접속될때마다 제 1 의 선정된 출력전압이 상기 신호 노드 수단(74,80)에서 발생되도록 제 2 다이오드 접합수단을 순방향 바이어스시키기에 충분한 선정된 공급전압을 상기 전력 노드 수단(60)에 인가하기위한 전압 공급 수단, 및 상기 신호 노드(74,80)에 접속된 상기 반도체 부품(48,50,52)가 적당한 배향으로 상기 회로에 접속될 때마다 제 2 의 선정된 출력 전압이 상기 신호 노드 수단에서 발생되도록 제 1 다이오드 접합 수단을 순방향 바이어스시키기에 충분한 선정된 바이어스 전류를 상기 신호 노드에 제공하기 위한 전류 공급 수단(84.66)으로 구성된 것을 특징으로 하는 시스템
    ※ 참고사항 : 최초출원내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880010811A 1987-08-26 1988-08-25 역배향 ic 검사장치 및 방법 KR920002874B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/089,638 US4779043A (en) 1987-08-26 1987-08-26 Reversed IC test device and method
US089,638 1987-08-26
US89,638 1987-08-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR890004171A true KR890004171A (ko) 1989-04-20
KR920002874B1 KR920002874B1 (ko) 1992-04-06

Family

ID=22218754

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019880010811A KR920002874B1 (ko) 1987-08-26 1988-08-25 역배향 ic 검사장치 및 방법

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4779043A (ko)
EP (1) EP0305148B1 (ko)
JP (1) JP2664429B2 (ko)
KR (1) KR920002874B1 (ko)
DE (1) DE3877862T2 (ko)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4964737A (en) * 1989-03-17 1990-10-23 Ibm Removable thermocouple template for monitoring temperature of multichip modules
US5045782A (en) * 1990-01-23 1991-09-03 Hewlett-Packard Company Negative feedback high current driver for in-circuit tester
KR920007535B1 (ko) * 1990-05-23 1992-09-05 삼성전자 주식회사 식별회로를 구비한 반도체 집적회로 칩
US5265099A (en) * 1991-02-28 1993-11-23 Feinstein David Y Method for heating dynamic memory units whereby
US5132612A (en) * 1991-03-14 1992-07-21 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Apparatus for electrostatic discharge (ESD) stress/testing
DE4110551C1 (ko) * 1991-03-30 1992-07-23 Ita Ingenieurbuero Fuer Testaufgaben Gmbh, 2000 Hamburg, De
JP2969391B2 (ja) * 1991-05-24 1999-11-02 株式会社新川 ボンド点極性設定装置
US5426361A (en) * 1991-09-09 1995-06-20 Simmons; Selwyn D. Electronic reconfigurable interconnect system
US5355082A (en) * 1992-03-27 1994-10-11 Tandy Corporation Automatic transistor checker
GB9212646D0 (en) * 1992-06-15 1992-07-29 Marconi Instruments Ltd A method of and equipment for testing the electrical conductivity of a connection
DE4319710C1 (de) * 1993-06-15 1994-09-29 Ita Ingb Testaufgaben Gmbh Testverfahren für einen auf einer Platine eingelöteten IC und Testvorrichtung zum Durchführen des Testverfahrens
US5521513A (en) * 1994-10-25 1996-05-28 Teradyne Inc Manufacturing defect analyzer
US6429670B2 (en) * 1995-07-18 2002-08-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of examining posture of an electronic part
US5811980A (en) * 1995-08-21 1998-09-22 Genrad, Inc. Test system for determining the orientation of components on a circuit board
US5786700A (en) * 1996-05-20 1998-07-28 International Business Machines Corporation Method for determining interconnection resistance of wire leads in electronic packages
US5818251A (en) * 1996-06-11 1998-10-06 National Semiconductor Corporation Apparatus and method for testing the connections between an integrated circuit and a printed circuit board
US6005385A (en) * 1996-06-24 1999-12-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Test board circuit for detecting tester malfunction and protecting devices under test
KR100479501B1 (ko) * 1997-09-13 2005-07-08 삼성전자주식회사 엘씨디구동용인쇄회로기판의테스트시스템
EP0927888B1 (en) * 1997-12-29 2004-09-29 Deutsche Thomson Brandt Automatically adapting forward or reversed biased photodiode detection circuit
EP0928971A1 (en) * 1997-12-29 1999-07-14 Deutsche Thomson Brandt Automatically adapting forward or reversed biased photodiode detection circuit
WO2001013698A1 (de) * 1999-08-12 2001-02-22 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum erkennen der lage oder der oberflächenstruktur eines gegenstands und anwendung des verfahrens sowie eine maschine zur verarbeitung von gegenständen
KR100684842B1 (ko) * 2004-12-10 2007-02-20 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 표시 장치 및 그 검사 방법
NL2009490C2 (en) * 2012-09-19 2014-03-20 Prodrive B V Testing device for printed circuit boards.
DE102013208690A1 (de) * 2013-05-13 2014-11-13 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen einer Polung einer Freilaufdiode, Aktuatorschaltung und Sicherheitsvorrichtung für ein Fahrzeug

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1376595A (en) * 1970-10-29 1974-12-04 Gen Electric Co Ltd Methods of testing electric circuit arrangements
US3995215A (en) * 1974-06-26 1976-11-30 International Business Machines Corporation Test technique for semiconductor memory array
US3969670A (en) * 1975-06-30 1976-07-13 International Business Machines Corporation Electron beam testing of integrated circuits
GB1512950A (en) * 1975-07-28 1978-06-01 Plessey Co Ltd Electrical testing apparatus
JPS6010400B2 (ja) * 1980-10-09 1985-03-16 富士通株式会社 半導体集積回路装置
US4418403A (en) * 1981-02-02 1983-11-29 Mostek Corporation Semiconductor memory cell margin test circuit
JPS5853775A (ja) * 1981-09-26 1983-03-30 Fujitsu Ltd Ｉｃメモリ試験方法
JPS5891594A (ja) * 1981-11-27 1983-05-31 Fujitsu Ltd ダイナミツク型半導体記憶装置
US4502140A (en) * 1983-07-25 1985-02-26 Mostek Corporation GO/NO GO margin test circuit for semiconductor memory
GB8428405D0 (en) * 1984-11-09 1984-12-19 Membrain Ltd Automatic test equipment
US4719418A (en) * 1985-02-19 1988-01-12 International Business Machines Corporation Defect leakage screen system
EP0195839B1 (en) * 1985-03-29 1989-08-09 Ibm Deutschland Gmbh Stability testing of semiconductor memories

Also Published As

Publication number Publication date
KR920002874B1 (ko) 1992-04-06
EP0305148A1 (en) 1989-03-01
DE3877862T2 (de) 1993-08-26
EP0305148B1 (en) 1993-01-27
DE3877862D1 (de) 1993-03-11
US4779043A (en) 1988-10-18
JPH01112179A (ja) 1989-04-28
JP2664429B2 (ja) 1997-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR890004171A (ko) 역 배향 ic 검사장치 및 방법
KR880014380A (ko) 직접 회로 전송 검사 시스템 및 방법
KR850004352A (ko) 반도체 ic중의 트랜지스터의 도통상태의 시험방법 및 장치
IT1100622B (it) Dispositivo per la prova di circuiti integrati
KR880012008A (ko) 전원절환회로
KR890003132A (ko) 온도 안정 rf 검출기
ATE99435T1 (de) Stabiler referenzspannungsgenerator.
US4611123A (en) High voltage analog solid state switch
KR860007753A (ko) 반도체 집전회로
IE823102L (en) Test circuit
KR890000901A (ko) 회로-내 트랜지스터 베타 검사 장치 및 방법
KR970063275A (ko) 반도체집적회로 및 그것을 사용한 회로장치
KR900000707A (ko) 회로 소자 측정 장치
DK0705439T3 (da) Testindretning og fremgangsmåde for et integreret kredsløb fastloddet på et kredsløbskort
KR870011617A (ko) 반도체 집적회로 장치
KR920010306A (ko) 오픈 본드 검출 회로
ATE120013T1 (de) Elektrische messanordnung mit zwei schaltungskonfigurationen.
KR930008854A (ko) 반도체 메모리의 내부전압공급장치
KR890012485A (ko) 전자기기의 접지회로장치
DE68913902D1 (de) Integrierte Schaltung mit einer Signaldiskriminierungsschaltung und Verfahren zu deren Prüfung.
KR890702007A (ko) 조셉슨 접합을 이용한 광파장 분석기 및 영상처리 시스템
Bouvet et al. Asics failure analysis using two complementary techniques: External electrical testing and internal contactless laser beam testing
SU684714A1 (ru) Ключевой усилитель мощности
JPS6484166A (en) Testing method for electronic circuit module
KR910005814Y1 (ko) 아날로그 영상신호 및 티티엘 영상신호 입력 처리회로

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 19880825

A201 Request for examination
PA0201 Request for examination

Patent event code: PA02012R01D

Patent event date: 19890201

Comment text: Request for Examination of Application

Patent event code: PA02011R01I

Patent event date: 19880825

Comment text: Patent Application

PG1501 Laying open of application
G160 Decision to publish patent application
PG1605 Publication of application before grant of patent

Comment text: Decision on Publication of Application

Patent event code: PG16051S01I

Patent event date: 19920310

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 19920629

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 19920807

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 19920807

End annual number: 3

Start annual number: 1

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19950324

Start annual number: 4

End annual number: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19960329

Start annual number: 5

End annual number: 5

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19970402

Start annual number: 6

End annual number: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19980331

Start annual number: 7

End annual number: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19990330

Start annual number: 8

End annual number: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20000331

Start annual number: 9

End annual number: 9

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20010331

Start annual number: 10

End annual number: 10

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20020330

Start annual number: 11

End annual number: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030328

Year of fee payment: 12

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20030328

Start annual number: 12

End annual number: 12

LAPS Lapse due to unpaid annual fee
PC1903 Unpaid annual fee