KR20000028917A

KR20000028917A - 전자 사진식 화상 형성 장치, 프로세스 카트리지, 현상장치 및 측정부

Info

Publication number: KR20000028917A
Application number: KR1019990043347A
Authority: KR
Inventors: 가라까마도시유끼; 사까따시로오; 마쯔모또히데끼; 요꼬이아끼요시
Original assignee: 미다라이 후지오; 캐논 가부시끼가이샤
Priority date: 1998-10-09
Filing date: 1999-10-08
Publication date: 2000-05-25
Also published as: CN1254867A; AU5350999A; EP0992866A2; DE69926108T2; US6253036B1; EP0992866A3; EP0992866B1; DE69926108D1; CA2285157A1; CA2285157C; CN1129820C; KR100389244B1; AU744971B2; JP2000122397A; JP3530751B2

Abstract

전자 사진식 화상 형성 장치에 착탈식으로 장착 가능한 프로세스 카트리지로서, 상기 프로세스 카트리지는 (a) 전자 사진식 감광 부재와, (b) 상기 전자 사진식 감광 부재 상에서 작용 가능한 처리 수단과, (c) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제에 접촉하도록 하는 위치에 배열된 측정 전극 부재와, (d) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제와의 접촉에서 벗어나도록 하는 위치에 배열된 기준 전극 부재와, (e) 상기 측정 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 측정 전극 부재용 출력 접촉부와, (f) 상기 기준 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 기준 전극 부재용 출력 접촉부와, (g) 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재의 입력측 전극들에 전기 접속된 공통 입력 접촉부를 포함한다.

Description

전자 사진식 화상 형성 장치, 프로세스 카트리지, 현상 장치 및 측정부{ELECTROPHOTOGRAPHIC IMAGE FORMING APPARATUS, PROCESS CARTRIDGE, DEVELOPING DEVICE AND MEASURING PART}

본 발명은 전자 사진식 화상 형성 장치 및 이에 사용되는 프로세스 카트리지, 현상 장치, 현상제 공급 용기 및 측정부에 관한 것이다.

여기서, 전자 사진식 화상 형성 장치는 전자 사진 복사기, 예를 들어 LED 프린터 또는 레이저 빔 프린터 등의 전자 사진 프린터, 전자 사진 프린터형 팩시밀리 장치, 전자 사진 프린터형 워드프로세서 등을 포함한다.

프로세스 카트리지는 전자 사진식 감광 부재와 대전 수단과 현상 수단 또는 세척 수단인 적어도 하나의 처리 수단을 하나의 유닛으로서 내장하고 있는 카트리지이거나, 또는 전자 사진식 감광 부재와 처리 수단으로서의 적어도 하나의 현상 수단을 하나의 유닛으로서 내장하고 있는 카트리지이며, 상기 프로세스 카트리지는 전자 사진식 화상 형성 장치의 주조립체에 착탈식으로 장착된다.

지금까지는, 전자 사진식 화상 형성 프로세스를 사용하는 화상 형성 장치에 내장되어 널리 사용된 프로세스 카트리지는, 전자 사진식 감광 부재와 이 감광 부재 상에서 작동하는 처리 수단을 하나의 유닛으로서 내장하는 프로세스 카트리지이며, 상기 카트리지는 전자 사진식 화상 형성 장치의 주조립체에 착탈식으로 장착가능하다. 이러한 프로세스 카트리지는 사용자가 보수 작업을 효과적으로 수행할 수 있다고 하는 장점을 갖고 있다. 따라서, 프로세스 카트리지 형태가 전자 사진식 화상 형성 장치에 널리 사용된다.

이러한 프로세스 카트리지 형태의 전자 사진식 화상 형성 장치에서는, 사용자가 프로세스 카트리지를 교환할 수 있는 것으로 가정해서 사용자가 현상제의 소모를 인지할 수 있게 해주는 수단을 마련할 필요가 있다.

지금까지는, 두개의 전극 로드가 현상 수단의 현상제 용기에 마련되었으며, 전극 로드들 사이에서의 정전 용량의 변화가 검출되어 현상제의 양을 나타내도록 되어 있었다.

일본 공개 특허출원 (평)5-100571호에는 두개의 전극 로드 대신에 소정 간극을 갖춘 동일 표면상에 배치된 두개의 평행 전극을 포함하는 현상제 검출 전극 부재가 개시되어 있는데, 상기 현상제 검출 전극 부재는 현상제 용기의 하부 표면상에 위치한다. 상기 전극 부재는 표면상에 배치된 평행한 전극들 사이의 정전 용량의 변화를 검출하여 현상제 잔량을 검출한다.

따라서, 본 발명의 주된 목적은, 현상제의 잔류량이 사실상 실시간으로 검출될 수 있는, 전자 사진식 화상 형성 장치, 프로세스 카트리지, 현상 장치 및 현상제를 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은, 현상제 수용부 내의 현상제 잔류량을 현상제의 소비에 따라 사실상 실시간으로 검출할 수 있는, 전자 사진식 화상 형성 장치, 프로세스 카트리지 및 현상 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 또다른 목적은, 현상제의 잔류량이 전극들 사이의 정전 용량에 의해 검출되고 주변의 변화에 기여하는 측정 오차가 보상되어 검출 오차가 최소화된, 전자 사진식 화상 형성 장치, 프로세스 카트리지 및 현상 장치를 제공하는 것이다. 본 발명의 또다른 목적은 현상제 수용부 내의 현상제의 소비에 따라 실질적으로 실시간으로 현상제의 양을 검출하는 측정부를 제공하는 것이다.

본 발명의 또다른 목적은, 작은 측정 오차로 현상제량을 검출하도록 측정 오차가 주변 조건의 변화에 기여할 수 있기 위해, 전극들 사이의 정전 용량의 변화를 이용하여 현상제의 잔류량을 검출할 수 있는 검출부를 제공하는 것이다.

본 발명의 또다른 목적은, 현상제의 검출 정확도가 향상되고 접촉부의 부품 개수가 감소되어 비용을 억제하는, 프로세스 카트리지, 현상 장치 및 전자 사진식 화상 형성 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 또다른 목적은, 조립 작업이 개선된, 프로세스 카트리지, 현상 장치 및 전자 사진식 화상 형성 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 또다른 목적은 적은 부품 개수로 제조될 수 있는 측정부를 제공하는 것이다.

본 발명의 또다른 목적은, 현상 장치 및 프로세스 카트리지의 조립 작업이 개선된, 측정부를 제공하는 것이다.

본 발명의 한 태양에 따르면, 전자 사진식 화상 형성 장치에 착탈식으로 장착 가능한 프로세스 카트리지가 마련되며, 이 프로세스 카트리지는, (a) 전자 사진식 감광 부재와, (b) 전자 사진식 감광 부재 상에서 작용 가능한 처리 수단과, (c) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제에 접촉하도록 하는 위치에 배열된 측정 전극 부재와, (d) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제와의 접촉에서 벗어나도록 하는 위치에 배열된 기준 전극 부재와, (e) 측정 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 측정 전극 부재용 출력 접촉부와, (f) 기준 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 기준 전극 부재용 출력 접촉부와, (g) 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재의 입력측 전극들에 전기 접속된 공통 입력 접촉부를 포함한다.

본 발명에 다른 태양에 따르면, 현상제의 양을 검출하기 위한 측정부로서, (a) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력측 전극 및 출력측 전극을 갖는 측정 전극과, (b) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력측 전극 및 출력측 전극을 갖는 기준 전극과, (c) 상기 측정 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 측정 전극 부재용 출력 접촉부와, (d) 상기 기준 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 기준 전극 부재용 출력 접촉부와, (e) 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재의 입력측 전극들에 전기 접속된 공통 입력 접촉부를 포함하는 측정부가 마련된다.

본 발명의 상기한 목적 및 다른 목적, 특징 및 장점은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 양호한 실시예들에 대한 다음의 설명으로부터 더욱 분명해질 것이다.

도1은 본 발명의 실시예에 따른 전자 사진식 화상 형성 장치의 일반적인 구성을 도시한 도면.

도2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 사진식 화상 형성 장치의 외관의 사시도.

도3은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로세스 카트리지의 종단면도.

도4는 하부에서 바라본 본 발명의 일 실시예에 따른 프로세스 카트리지의 외관의 사시도.

도5는 프로세스 카트리지를 장착시키기 위한 장치의 주조립체의 장착부를 도시한 외관의 사시도.

도6은 양을 측정하는 측정 장치의 설명을 위한 현상제 용기의 사시도.

도7은 본 발명의 일 실시예에 따른 측정 전극 부재와 기준 전극 부재의 정면도.

도8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 측정 장치 부재와 기준 전극 부재의 정면도.

도9는 현상제량의 검출 원리를 설명하는 그래프.

도10은 본 발명의 일 실시예에 따른 현상제량의 검출 원리를 설명한 그래프.

도11은 본 발명의 일 실시예에 따른 현상제량의 검출 장치를 위한 현상제량 검출 회로를 도시한 도면.

도12는 측정 전극 부재와 기준 전극 부재의 구성을 도시한 도면.

도13은 본 발명의 일 실시예에 따른 현상제량 검출 장치를 갖는 현상제 용기의 사시도.

도14는 도13과 유사한 도면으로, 기준 전극을 내부에 갖는 현상제 용기를 도시하는 현상제 용기의 사시도.

도15는 측정 전극 부재와 기준 전극 부재의 접점의 접속을 도시하는 도면.

도16은 프로세스 카트리지 내에 마련된 3개의 접점을 도시하는 도면.

도17은 본 발명의 실시예에 따라 현상제량을 표시하는 것을 도시한 도면.

도18은 본 발명의 실시예에 따라 현상제량을 표시하는 다른 실시예를 도시하는 도면.

도19는 본 발명의 실시예에 따라 현상제량을 표시하는 또 다른 실시예를 도시하는 도면.

〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉

1 : 광학 수단

2 : 기록재

4 : 전사 롤러

5 : 정착 수단

6 : 토출 트레이

7 : 감광 드럼

8 : 대전 롤러

9 : 현상 수단

10 : 세척 수단

11 : 현상제 프레임

12 : 현상 장치 프레임

13 : 세척 프레임

20A : 측정 전극 부재

20B : 기준 전극 부재

21 : 격벽

22 : 기판

23, 24 : 전극

첨부된 도면을 참조하여, 전자 사진식 화상 형성 장치, 프로세스 카트리지, 현상 장치, 현상제 공급 용기에 대해 설명하기로 한다.

(실시예 1)

도1 내지 도3을 참조로, 본 발명의 한 실시예에 따른 프로세스 카트리지가 착탈식으로 장착 가능한 전자 사진식 화상 형성 장치에 대해 설명하기로 한다. 본 실시예에서, 전자 사진식 화상 형성 장치는 내부에서 전자 사진식 화상 형성 과정을 거쳐 화상을 기록지, OHP 시트 또는 섬유와 같은 기록재에 형성하는 레이저 빔 프린터(A) 형태이다.

레이저 빔 프린터(A)는 전자 사진식 감광 부재, 즉 감광 드럼(7)을 포함한다. 감광 드럼(7)은 대전 롤러(8; 대전 수단)에 의해 전기적으로 대전되고, 레이저 다이오드(1a), 다면경(1b), 렌즈(1c), 반사경(1d)을 구비한 광학 수단(1)으로부터 들어오는 화상 정보에 따라 변조되는 레이저 빔에 노출되어 있어서, 그 결과 잠상은 화상 정보에 따라 감광 드럼 상에 형성된다. 잠상은 현상 수단(9)에 의해 가시 화상, 즉 토너 화상으로 현상된다.

현상 수단(9)은 현상 롤러(9a; 현상제 운반 부재)를 구비한 현상제 챔버(9A)를 포함하고, 현상제 챔버(9A)에 인접 배치된 현상제 용기(11A; 현상제 수용부) 내의 현상제는 현상제 공급 부재(9b)의 회전에 의해 현상제 챔버(9A) 내의 현상 롤러(9a)로 공급된다. 현상제 챔버(9A)에는 현상제 챔버 내에서 현상제를 순환시키도록 현상 롤러(9a)에 인접한 현상제 교반 부재(9e)가 제공된다. 현상 롤러(9a)는 고정 자석을 내장하고 있어서, 현상제는 현상 롤러(9a)의 회전에 의해 공급되고 현상 블레이드(9d)의 마찰에 의한 마찰 전기 대전에 의해 전기 대전되어 소정 두께의 현상제 층으로 형성되고, 현상제 층은 감광 드럼(7)의 형상 영역으로 공급된다. 현상 영역으로 공급되는 현상제는 감광 드럼(7) 상에 잠상으로 전사되어서, 토너 화상이 형성된다. 현상 롤러(9a)는 직류 전압으로 편의된 교류 전압 형태의 현상 바이어스 전압이 공급되는 현상 바이어스 회로에 전기적으로 접속되어 있다.

한편, 시트 공급 카세트(3a) 내의 기록재(2)는 토너 화상이 제시간에 형성되도록 픽업 롤러(3b), 한 쌍의 공급 롤러(3C, 3d) 및 한 쌍의 정합 롤러에 의해 화상 전사 위치로 공급된다. 전사 위치에, 전압을 공급함으로써 감광 드럼(7)으로부터 기록재(2)에 토너 화상을 전사하도록 기능하는 전사 롤러(4; 전사 수단)가 제공된다.

토너 화상이 전사된 기록재(2)는 공급 가이드(3f)를 따라 정착 수단(5)으로 공급된다. 정착 수단(5)은 토너 화상을 기록재(2) 상에 정착시키기 위해 통과하는 기록재(2)에 압력과 열을 가하는 구동 롤러(5c)와 정착 롤러(5b)를 포함한다.

기록재는 이어서, 토출 롤러(3g, 3h, 3i)의 쌍들에 의해 공급되고 횡방향 경로(3j)를 따라서 토출 트레이(6)로 토출된다.

토출 트레이(6)는 레이저 비임 프린터(A)의 형태로 전자 사진식 화상 형성 장치의 주조립체(4)의 상부면에 배치된다. 역전 통로(3j)를 이용하지 않고 한 쌍의 토출 롤러에 의해 기록재(2)를 토출하도록 편향 가능한 플랩퍼(3K)가 사용 가능하다. 이 실시예에서, 토출 롤러(3g, 3h, 3i), 한 쌍의 공급 롤러(3c, 3d), 한 쌍의 등록 롤러, 공급 가이드(3f) 및 한 쌍의 토출 롤러(3m)가 시트 공급 수단을 구성한다.

감광 드럼(7)은 전사 롤러(4)가 토너 화상을 기록재(2)로 전사한 후에 감광 드럼(7) 상에 남아 있는 현상제가 제거되어 다음의 화상 형성 공정 작업을 위해 마련되도록 세척 수단(10)에 의해 세척된다. 세척 수단(10)은 감광 드럼(7)에 접촉되어 제공된 탄성 세척 블레이드에 의해 잔류 현상제를 감광 드럼(7)으로부터 문질러서 제거하고, 그 잔류 현상제를 잔류 현상제 용기(10b)로 수집한다.

이 실시예에서, 프로세스 카트리지(B)는 현상제를 수용하는 현상제 용기(11A)와 현상제 공급 부재(9b)를 포함하는 현상제 프레임(11)과, 현상 롤러(9a) 및 현상 블레이드(9d)와 같은 현상 수단(9)을 지지하는 현상 장치 프레임(12)을 포함하는 현상 유닛을 포함하고, 또한 프로세스 카트리지(B)는 감광 드럼(7), 세척 블레이드(10a)와 같은 세척 수단(10) 및 대전 롤러(8)를 지지하는 세척 프레임(13)을 포함한다.

프로세스 카트리지(B)는 사용자에 의해 전자 사진식 화상 형성 장치의 주조립체(14) 내의 카트리지 장착 수단에 분리 가능하게 장착된다. 이 실시예에서, 카트리지 장착 수단은 도4 및 도5에 도시된 바와 같이 프로세스 카트리지(B)의 외면 상에 가이드 수단(13R)(13L)과, 가이드 수단(13R)(13L)을 안내하기 위한 장치 주조립체(14)의 가이드(16R)(16L)를 포함한다.

본 발명의 실시예에 따르면, 프로세스 카트리지(B)에는 현상제 용기(11A) 내의 현상제가 소모될 때 현상제의 잔류량의 실질적인 실시간을 검출하기 위한 현상제량 검출 장치가 제공된다.

도6에 도시된 바와 같이, 현상제량 검출 장치는 현상제의 양을 검출하기 위한 측정 전극 부재(20A)와, 주변 온도 및 습도의 검출을 기초로 기준 신호를 생성하기 위한 기준 전극 부재(20B)를 포함한다.

측정 전극 부재(20A)는 도6에 도시된 바와 같이 현상 수단(9)의 현상제 용기(11A)의 내면에 제공되거나 또는 현상제 용기(11A) 내에서 현상제에 접촉되고 현상제를 갖는 그 접촉 영역이 현상제의 감소를 겪게 되는 하부와 같은 부분에 제공된다. 도13 및 도14에 도시된 바와 같이, 기준 전극 부재(20B)는 현상제에 접촉되지 않는다면 장치의 주조립체(14)의 임의의 위치에 제공될 수 있으나, 기준 전극 부재(20B)는 측정 전극 부재(20A)에 대향하고 현상제와 접촉하지 않도록 격벽(21)에 의해 분리된 그러한 위치에 배치될 수 있다.

도7에 도시된 바와 같이, 측정 전극 부재(20A)는 기판(22) 상의 소정의 간극으로 서로에 대해 평행하게 연장된 한 쌍의 전도부[입력측 전극(23) 및 출력측 전극 24)]를 포함한다. 이 실시예에서, 전극(23, 24)은 소정의 간극(G)으로 평행하게 병치된 적어도 한 쌍의 전극부(23a-23f, 24a-24f)를 구비하고, 이 전극부(23a-23f, 24a-24f)는 접속 전극부(23g, 24g)에 각각 접속된다. 따라서, 2개의 전극(23, 24)은 서로 얽혀져 있는 분지부와 빗형(comb-like) 구조를 이룬다. 그러나, 측정 전극 부재(20)의 전극 패턴은 그러한 실시예들로 제한되지는 않으며, 예컨대 도11에 도시된 바와 같이 전극(23, 24)은 일정한 간극으로 나선형으로 연장될 수 있다.

측정 전극 부재(20A)는 평행한 전극(23, 24) 사이의 정전 용량을 검출함으로써 현상제 용기(11A) 내의 현상제의 잔류량을 검출한다. 이 현상제는 공기보다 큰 유전 상수를 가지므로, 측정 전극 부재(20A)의 표면 상의 현상제의 접촉이 전극(23, 24) 사이의 정전 용량을 증가시킨다.

그러므로, 이 실시예에 따르면, 측정 전극 부재(20A)는 현상제 용기(11A)의 단면 구성 또는 측정 전극 부재(20A)의 구성에 상관없이 소정의 측정 곡률을 이용하여 측정 전극 부재(20A)의 표면에 접촉된 현상제의 영역을 기초로 하여 현상제 용기(11A) 내의 현상제를 검출할 수 있다.

측정 전극 부재(20A)의 전극 패턴(23, 24)은 예컨대 0.4 내지 1.6 mm의 두께를 갖는 종이 페놀, 유리질 에폭시 수지 등과 같은 경성 인쇄 기판(22) 상에서 또는 0.1 mm의 두께를 갖는 폴리에스테르, 폴리이미드 등과 같은 수지 재료의 가요성 인쇄 기판(22) 상에서 에칭 또는 프린팅을 통해 구리 등의 전도성 금속 패턴(23, 24)을 형성함으로써 제공될 수 있다. 즉, 측정 전극 부재는 통상의 인쇄 기판 및 배선 패턴에서 이용되는 제조 방법으로 에칭 또는 프린팅을 통해 제조될 수 있다. 그러므로, 도10 및 도11에 도시된 바와 같은 복잡한 전극 패턴이 동일한 비용으로서 간단한 패턴으로 용이하게 제조될 수 있다.

도10 또는 도11에 도시된 복잡한 패턴이 이용되면, 전극(23, 24)들이 서로 대향하는 길이는 증가될 수 있고, 에칭과 같은 패턴 형성 방법을 이용함으로써 전극(23, 24)들 사이의 간극은 대략 수십 마이크로미터로 감소될 수 있어서 큰 정전 용량이 제공될 수 있다. 검출은 정전 용량의 변화량을 증가시킴으로써 증대될 수 있다. 특히, 전극(23, 24)은 0.1 내지 0.5mm의 폭과, 사이에 0.1 내지 0.5mm의 간극을 구비한 17.5 내지 70㎛의 두께를 갖는다. 금속 패턴이 형성되는 표면은 예컨대 12.5 내지 125㎛의 두께를 가진 얇은 수지 필름으로 적층될 수 있다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 현상제의 양에 대한 검출 장치에 따르면, 측정 전극 부재(20A)는 현상제 용기의 내측 표면 상에 또는 현상제와의 접촉 영역이 현상제의 소비와 함께 감소되는 내측 바닥면 상에 배치되고, 현상제 용기 내의 현상제의 전체량은 측정 전극 부재(20A)의 정전 용량의 변화에 의해 검출될 수 있으며 이러한 변화는 현상제와의 접촉 영역의 변화를 지시한다.

현상제의 유전율이 공기의 유전율보다 크므로, 정전 용량은 현상제가 측정 전극 부재에 접촉하지 않는 (현상제가 존재하지 않는) 부분보다 현상제가 측정 전극 부재(20A)에 접촉하는 (현상제가 존재하는) 부분에서 더 크다. 따라서, 현상제 용기(11A) 내의 현상제의 양은 정전 용량의 변화를 검출함으로써 검출될 수 있다.

본 발명에 따르면, 도6에 도시된 바와 같은 현상제 잔류량 검출 장치는 측정 전극 부재(20A)와 유사한 구조를 갖는 기준 전극 부재(20B)를 다른 부재로 포함한다.

기준 전극 부재(20B)는 측정 전극 부재(20A)와 동일한 구조를 갖는다. 구체적으로, 도7에 도시된 바와 같이, 기준 전극 부재는 기판(22) 상에서 간극(G)과 평행하게 형성된 한 쌍의 전극{입력측 전극[23(23a 내지 23f)] 및 출력측 전극[24(24a 내지 24f)]}을 포함하며, 2개의 전극(23, 24)은 교차되거나, 도8에 도시된 바와 같이 나선 형상일 수도 있다. 기준 전극 부재(20B)는 인쇄 기판 및 배선 패턴에서와 동일한 제조 공정을 통해 제조될 수 있다. 상기 실시예에 따르면, 기준 전극 부재(20B)의 정전 용량은 상기된 바와 같이 온도 및 습도 등의 주변 조건에 따라 변하므로, 기준 전극 부재는 측정 전극 부재(20A)를 위한 보정 부재(기준 전극 또는 부재)로서 기능을 한다.

이와 같이, 상기 실시예의 현상제의 양을 검출하는 장치에 따르면, 측정 전극 부재(20A)의 출력은 주변 조건의 변화에 의해 영향을 받는 기준 전극 부재(20B)의 출력과 비교된다. 예컨대, 소정의 상태에 있는 기준 전극 부재(20B)의 정전 용량이 현상제가 존재하지 않을 때의 측정 전극 부재(20A)의 정전 용량과 동일하게 설정되면, 기준 전극 부재(20B)와 측정 전극 부재(20A)의 출력차는 현상제의 존재에 의해 유발되는 정전 용량의 변화를 지시하므로, 현상제 잔류량의 검출 정확성은 향상될 수 있다.

현상제의 양을 검출하는 원리에 대해 상세하게 설명하기로 한다. 측정 전극 부재(20A)는 현상제 용기(11A) 내의 현상제의 양을 추정하기 위해 패턴 표면의 접촉 부분의 정전 용량을 검출하므로, 출력은 주변(습도 또는 온도 등)의 변화에 의해 영향을 받는다.

예컨대, 습도가 높다는 것은 공기 중의 습기의 함량이 높다는 것을 의미하는데, 이 때 검출 부재(20A)에 접촉된 대기의 유전 상수는 높다. 따라서, 현상제의 양이 동일할 때에도, 측정 전극 부재(20A)의 출력은 주변 조건의 변화에 따라 변한다. 또한, 패턴을 구성하는 기판(22)의 재료가 습기를 흡수하면, 유전 상수는 주변 조건 변화에 따라 실제로 변한다.

주변 조건 변화에 따라 측정 전극 부재(20A)와 동일한 변화를 나타내는 보정 요소로서의 기준 전극 부재(20B)의 사용에 의해, 즉 측정 전극 부재(20A)와 동일한 구조를 갖지만 현상제에 접촉되지 않고 측정 전극 부재(20A)와 동일한 조건에 놓인 기준 전극 부재(20B)의 사용에 의해, 현상제 잔류량은 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)의 출력차가 검출을 위해 사용될 때에 주변 조건 변화의 영향을 받지 않고 검출될 수 있다.

도9의 막대 그래프에 도시된 바와 같이, 가장 좌측 부분에서, 정전 용량은 검출 부재의 표면에 접촉된 현상제의 변화와 주변 조건의 변화를 지시하는 현상제의 양을 검출하는 측정 전극 부재(20A)에 의해 결정된다. 측정 전극 부재가 고온 및 고습 조건에 놓여 있으면, 정전 용량이 도16의 가장 좌측 부분에 지시된 바와 같이 주변 조건 변화에 대응하여 증가하므로 현상제의 양이 동일하다는 사실에도 불구하고 정전 용량은 증가한다.

도9 및 도10의 중앙 부분에 도시된 바와 같이, 주변 조건 변화에 대해 측정 전극 부재(검출 부재, 20A)와 동일한 반응을 나타내는 기준 전극 부재(보정 전극, 20B)가 사용되고, 그 사이의 차이(막대 그래프 우측)가 취해지므로, 현상제의 양만을 지시하는 정전 용량이 제공될 수 있다.

도11을 참조로 상기 원리를 구현하는 현상제의 양을 검출하는 장치를 설명하기로 한다. 도11은 현상제 검출, 구체적으로 화상 형성 장치에서의 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B) 사이의 연결을 위한 회로의 하나의 예를 도시한다.

현상제의 양에 따라 변하는 정전 용량(Ca)을 갖는 검출 부재로서의 측정 전극 부재(20A)와, 주변 조건에 따라 변하는 정전 용량(Cb)을 갖는 보상 전극으로서의 기준 전극 부재(20B)는 다음과 같이 연결된다. 즉, 입력측 전극(23)은 접촉부[30C, 주조립체측 접촉부(32C)]를 통해 현상 바이어스 회로(101, 현상 바이어스 인가 수단)에 연결되고, 출력측 전극(24)은 접촉부{30A[주조립체측 접촉부(32A)], 30B[주조립체측 접촉부(32B)]}를 통해 현상제의 양을 검출하는 회로(100)의 제어 회로(102)에 연결된다. 기준 전극 부재(20B)는 현상 바이어스 회로(101)를 통해 공급되는 AC(교류) 전류(I₁)를 사용하며, 현상제 잔류량을 검출하는 기준 전압(V1)이 설정된다.

도11에 도시된 바와 같은 제어 회로(102)에는 저항(R3)에 의해 설정되는 전압(V3)과, 저항(R4)과, 저항(R2)에 의해 결정되는 전압 강하(V2)와, 기준 전극 부재(20B)에 공급되는 AC 전류(I₁)로부터의 전압(VR1), 즉 임피던스 요소에 의해 분기되는 전류인 AC 전류(I₁)가 부가된다.

측정 전극 부재(20A)에 인가된 AC(교류) 전류(I₂)는 증폭기로 입력되고, 현상제 잔류량을 지시하는 검출값[V4(V1-I₂×R5)]으로서 출력된다. 전압 출력은 현상제 잔류량을 지시하는 검출값이다.

상기된 바와 같이, 상기 실시예의 현상제의 양을 검출하는 장치에 따르면, 주변 조건 변화에 따른 정전 용량 변화가 측정 전극 부재(20A)와 동일하게 나타나는 기준 전극 부재(보정 요소, 20B)와 함께 사용되므로, 주변 조건의 변화로 인한 검출 에러가 상쇄되거나 보상되어 현상제 잔류량의 검출 정확성이 성취될 수 있다.

이 실시예에 따라, 측정 전극 부재(20B)와 보정 부재로서 기준 전극 부재(20B)는 도12 내지 도14에 도시된 바와 같이, 동일한 구조를 갖고 현상제 용기(11A) 내에 배치된다. 이 구조에 따라, 현상제 용기에는 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재 모두가 제공되어, 주변 환경에 의한 변화가 제거 또는 취소될 수 있고, 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재가 실질적으로 동일한 주변 환경 조건 하에 위치될 수 있기 때문에, 검출 정확도는 향상될 수 있다.

또한, 상기 실시예에 따라, 도11 및 도12에 도시된 바와 같이, 프로세스 카트리지(B)에는 세 개의 접촉부, 즉 검출과 비교에 공통으로 사용되는 입력측 접촉부(30C), 검출 및 비교 출력 접촉부(30A, 30B)가 제공된다. 이러한 구조에 따라, 접촉부의 개수는 감소될 수 있다. 대안으로서, 입력을 위한 공통 접촉부를 사용함으로써, 입력 펄스는 동일화되어 정확도가 향상된다.

상기 실시예에 따라, 도13 및 도14로부터 이해될 수 있는 것처럼, 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)의 전극(23, 24)들은 가요성 인쇄 기판과 같은 한 개의 굴곡 가능한 기판(22)의 일 측부 상에 형성되고, 현상제 용기에 장착될 경우 절첩된다. 상기 실시예에서, 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)는 동일한 전극 패턴을 갖는다. 따라서, 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)의 전극(23, 24)들의 패턴은 실질적으로 동일한 정전 용량을 제공하고, 폭, 길이, 간극 및 대향 면적은 실질적으로 동일하다. 따라서, 제조된 기준 전극 부재(20B)는 기판의 중앙에서 실질적으로 후방으로 절첩되고, 격벽(21)에 의해 분할되고 현상제와 접촉하지 않는, 측정 전극 부재를 함유하는 현상제 용기(11A) 내의 위치로 배치된다.

측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)는 인쇄 기판의 통상의 제조 단계와 유사한 방법으로 제조되고, 그러므로 습기 흡수율 및/또는 장치 또는 재료의 유전 상수 및/또는 에칭 조건의 변화로부터 초래되는 전극 패턴의 폭과 높이의 변화에 의해 기판의 정전 용량이 변화된다. 상기 실시예에 따라, 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)는 기판의 동일한 측부 상에 형성되어 단일 기판은 검출 부재와 보정 부재 모두에 사용되고, 따라서 비용이 절약될 수 있다. 다른적으로, 전극 패턴은 동일한 재료 상에 형성되고 기저 재료의 서로 다른 성질에 의한 변화는 최소화될 수 있다. 게다가, 패턴은 기저 재료의 동일한 측부 상에 형성되기 때문에, 에칭 과정과 같은 패턴 형성 중의 변화는 억제될 수 있다. 더욱이, 이런 구조에 의해, 검출 패턴은 현상제 용기의 상부를 향해 제공될 수 있고, 따라서 현상제의 검출은 현상제 용기가 상부까지 충전되더라도 가능하다. 상기 실시예에 따라, 도13에 도시된 바와 같이, 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)가 형성되는 기판(22)으로부터, 측정 전극 부재(20A)의 출력측 전극(24)과 전기적으로 연결된 측정 전극을 위한 돌출된 출력 접촉부(31A), 기준 전극 부재(20B)의 출력측 전극(24)과 전기적으로 연결된 기준 전극을 위한 출력 접촉부(31B), 및 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)의 입력측 전극(23)과 연결된 공통 입력 접촉부(31C)가 제공된다.

이들 세 개의 접촉부(31A, 31B, 31C)들은 도15에 도시된 바와 같이, 현상제 용기(11A)의 현상 장치 프레임(12, 도16)에 대한 접합부를 연결하는 현상제 프레임(11)의 전방 벽 부분(11a)에 고정되고, 세 개의 접촉부(31A, 31B, 31C)들은 도16 및 도4에 도시된 바와 같이, 현상 장치 프레임(12)의 측부에 고정된 측부 부재(12b) 내에 형성된 접촉 포트로부터 외측으로 노출되고, 측정 전극의 출력 접촉부(30A) 및 측부 부재(12b)에 장착된 공통 입력 접촉부(30C)의 출력 접촉부(30B)에 전기적으로 연결된다. 도5에 도시된 바와 같이, 프로세스 카트리지의 접촉부(30A, 30B, 30C)들은, 프로세스 카트리지(B)가 장치의 주조립체(14)에 장착된 때, 장치의 주조립체(14) 내의 접촉부(32A, 32B, 32C)에 전기적으로 연결되고, 그러므로 프로세스 카트리지(B) 내에 제공된 측정 전극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)는 도11에 도시된 현상제 함량 측정 회로(100)에 연결된다.

전술된 실시예의 설명에서, 기준 전극 부재(20B)와 측정 전극 부재(20A)의 전극(23, 24)들의 패턴은 실질적으로 동일한 정전 용량, 패턴 폭, 길이, 간극 및 대향 면적을 갖는다. 그러나, 보정을 위한 기준 전극 부재(20B)의 전극 패턴(23, 24)의 면적은 측정 전극 부재(20A)의 전극 패턴(23, 24)의 면적과 상이할 수 있다. 이 경우에서, 기준 전극 부재(20B)의 출력에 예비 설정된 계수를 곱하고, 그 결과는 측정 전극 부재(20A)의 출력과 비교된다. 이런 구조를 사용하여, 기준 전극 부재(20B)의 크기는 검출 부재에 의해 점유되는 공간이 감소하도록 감소될 수 있다. 부재(20A, 20B)들은 동일한 측부에서 현상제 용기(11A)의 동일한 벽 상에 위치될 수 있고, 기준 전극 부재(20B)는 현상제에 대한 접촉이 방지되고, 이 경우에, 제한된 면적 내의 검출 부재(20A)의 패턴 면적의 비율이 증가될 수 있고, 따라서 정전 용량과 검출 정확도의 변화의 양은 향상될 수 있다.

상기의 설명에서, 동일한 형상 또는 동일한 크기는 정확하게 동일한 형상 또는 크기를 의미하지는 않으며, 실용적인 정확도로 검출될 수 있는 한, 제조 오차 등에 기인한 차이를 갖는 형상 또는 크기를 배제하지 않는다.

전술한 바와 같이, 본 실시예에 의하면, 현상제 용기(11A)에는 현상제 잔류량을 거의 실시간으로 검출하기 위한 측정 적극 부재(20A)와 기준 전극 부재(20B)가 제공되고, 더욱 바람직하게는 현상 수단(9)의 현상제 챔버(9A)에는 안테나 로드 즉, 현상 롤러(9a)로부터 소정의 여유 간격을 가지며 현상 롤러(9a)의 길이 방향으로의 소정정의 길이로 연장되는 전극 로드(9h)가 제공된다. 이런 구조로, 현상 롤러(9a)와 전극 로드(9h) 사이의 전극 용량의 변화를 검출함으로써 현상제 용기 내의 현상제가 고갈되었음이 검출된다.

본 실시예의 화상 형성 장치에 의하면, 현상제 용기(11A) 내의 현상제량은 거의 실시간으로 검출될 수 있고, 이러한 검출에 근거하여, 현상제의 소비량은 사용자가 카트리지의 보충을 준비하고 고갈이 표시될 때 현상제 공급을 원활하게 하도록 표시될 수도 있다.

현상제의 양을 표시하는 방법이 기술될 것이다. 현상제량 검출 장비에 의해 제공되는 검출 정보는 도20 및 도21에 도시된 방법으로 사용자의 개인용 컴퓨터와 같은 단말 장치의 화면 상에 표시된다. 도20 및 도21에서, 지시기(41)는 사용자가 현상제의 양을 인지하도록 현상제의 양에 따라 이동한다.

도22는 전자 사진식 화상 형성 장치의 주조립체에는 현상제의 양에 따라 점등하는 발광 다이오드(LED; 43)등과 같은 표시부가 제공된다는 점에서 다른 실시예를 도시한다.

본 발명의 태양에 의하면, 측정 전극 부재는 처리 수단과 같은 현상 수단에 의한 정전 잠상의 현상에 사용되도록 현상제를 수용하는 현상제 수용부 내에 배치되고, 측정 전극 부재는 현상제 수용부 내의 현상제에 접촉하도록 위치되고, 기준 전극 부재는 현상제 수용부 내의 현상제에 접촉하지 않도록 위치된다.

본 발명의 다른 태양에 의하면, 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 하나의 회로 기판의 동일 측면 상에 전극 패턴을 형성함으로써 제조되고, 바람직하게는 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 전압이 가해지는 경우 대체로 동일한 전극 용량을 발생시킨다. 본 발명의 다른 태양에 의하면, 측정 전극 부재의 병치된 부분의 대향부와 틈새는 기준 전극 부재의 것과 대체로 각각 동일하다.

본 발명의 다른 태양에 의하면, 현상 수단은 현상제가 거의 고갈되었음을 검출하기 위한 전극 로드를 가진다.

상술한 바와 같이, 본 발명은 다음의 장점을 가진다.

(1) 현상제 수용부 내의 현상제의 잔류량은 현상제가 소비됨에 따라 사실상 실시간으로 검출될 수 있다.

(2) (1)의 검출은 주변 환경의 변화로 인해 측정 에러를 최소화할 수 있다.

(3) 접촉부의 부품 갯수는 감소될 수 있으므로 제조 비용은 감소될 수 있다.

(4) 현상 장비 및/또는 프로세스 카트리지의 조립 작업은 개선될 수 있다.

전술한 실시예에 있어서, 현상제의 잔류량의 거의 실시간 검출 범위는 최대 범위 즉, 100%(가득찬 상태) 내지 0%(비어있는 상태)의 범위에 제한되지 않는다. 거의 실시간 검출 범위는 예컨대, 100% 내지 25% 또는 30% 내지 0% 등과 같은 공지된 기술에 의해 적절히 결정될 수도 있다. 0%의 잔류량은 현상제가 전혀 없음을 반드시 의미하지 않는다. 0%의 잔류량은 소정의 화상 질이 제공되지 않은 범위로 현상제가 감소될 때를 지시할 수도 있다.

전술한 바와 같이, 본 발명은 현상제량을 거의 실시간으로 검출함으로써 달성된다. 또한, 본 발명은 부품들의 갯수를 감소시킬 수 있다.

본 발명은 본 명세서에 개시된 구조물을 참조하여 기재되었지만, 이는 개시된 상세한 설명에 한정되지 않으며, 본 출원은 개선의 목적 또는 이하의 청구범위 안에서 일어날 수 있는 수정 또는 변경을 포함하는 것을 의미한다.

Claims

전자 사진식 화상 형성 장치에 착탈식으로 장착 가능한 프로세스 카트리지로서, 상기 프로세스 카트리지가,

(a) 전자 사진식 감광 부재와,

(b) 상기 전자 사진식 감광 부재 상에서 작용 가능한 처리 수단과,

(c) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제에 접촉하도록 하는 위치에 배열된 측정 전극 부재와,

(d) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제와의 접촉에서 벗어나도록 하는 위치에 배열된 기준 전극 부재와,

(e) 상기 측정 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 측정 전극 부재용 출력 접촉부와,

(f) 상기 기준 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 기준 전극 부재용 출력 접촉부와,

(g) 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재의 입력측 전극들에 전기 접속된 공통 입력 접촉부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제1항에 있어서, 상기 측정 전극 부재는 상기 처리 수단으로서의 현상 수단에 의해 정전 잠상을 현상하는 데 사용될 현상제를 수용하는 현상제 수용부에 배치되고, 상기 측정 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제에 접촉되도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 기준 전극 부재는 상기 처리 수단으로서의 현상 수단에 의해 정전 잠상을 현상하는 데 사용될 현상제를 수용하는 현상제 수용부에 배치되고, 상기 기준 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제에 접촉되도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 한 기판의 동일 측면 상에 전극 패턴을 형성함으로써 제조되는 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제4항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 전압이 가해질 때 사실상 동일한 정전 용량을 발생시키는 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제4항에 있어서, 상기 병치된 부분의 대향 부분의 길이와 상기 측정 전극 부재에서 그 사이의 간극은 각각 상기 기준 전극 부재의 길이 및 간극과 사실상 동일한 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제1항 내지 제6항중 어느 한 항에 있어서, 상기 현상 수단은 현상제의 실질 존재를 검출하기 위한 전극 로드를 갖는 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제1항 내지 제7항중 어느 한 항에 있어서, 상기 프로세스 카트리지는 상기 전자 사진식 감광 부재와, 상기 처리 수단으로서 대전 수단, 현상 수단 및 세척 수단중 적어도 하나를 하나의 유닛으로서 포함하는 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제1항 내지 제7항중 어느 한 항에 있어서, 상기 프로세스 카트리지는 상기 전자 사진식 감광 부재와, 상기 처리 수단으로서의 현상 수단을 한 유닛으로서 포함하는 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
기록재 상에 화상을 형성하고 프로세스 카트리지가 착탈식으로 장착 가능한 전자 사진식 화상 형성 장치에 있어서,

(a) 전자 사진식 화상 형성 장치의 주조립체에 프로세스 카트리지를 장착하기 위한 장착 수단과,

(b) 상기 기록재를 공급하기 위한 공급 수단을 포함하며,

상기 프로세스 카트리지는,

전자 사진식 감광 부재와,

상기 전자 사진식 감광 부재 상에서 작용 가능한 처리 수단과,

적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제에 접촉하도록 하는 위치에 배열된 측정 전극 부재와,

적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제와의 접촉에서 벗어나도록 하는 위치에 배열된 기준 전극 부재와,

상기 측정 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 측정 전극 부재용 출력 접촉부와,

상기 기준 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 기준 전극 부재용 출력 접촉부와,

상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재의 입력측 전극들에 전기 접속된 공통 입력 접촉부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제10항에 있어서, 상기 측정 전극 부재는 상기 처리 수단으로서의 현상 수단에 의해 정전 잠상을 현상하는 데 사용될 현상제를 수용하는 현상제 수용부에 배치되고, 상기 측정 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제에 접촉되도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제10항 또는 제11항에 있어서, 상기 기준 전극 부재는 상기 처리 수단으로서의 현상 수단에 의해 정전 잠상을 현상하는 데 사용될 현상제를 수용하는 현상제 수용부에 배치되고, 상기 기준 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제에 접촉되도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제10항 또는 제11항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 한 기판의 동일 측면 상에 전극 패턴을 형성함으로써 제조되는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제13항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 전압이 가해질 때 사실상 동일한 정전 용량을 발생시키는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제13항에 있어서, 상기 병치된 부분의 대향 부분의 길이와 상기 측정 전극 부재에서 그 사이의 간극은 각각 상기 기준 전극 부재의 길이 및 간극과 사실상 동일한 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제10항 내지 제15항중 어느 한 항에 있어서, 상기 현상 수단은 현상제의 실질 존재를 검출하기 위한 전극 로드를 갖는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제10항 내지 제16항중 어느 한 항에 있어서, 상기 프로세스 카트리지는 상기 전자 사진식 감광 부재와, 상기 처리 수단으로서 대전 수단과, 현상 수단 및 세척 수단중 어느 하나를 하나의 유닛으로서 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제10항 내지 제16항중 어느 한 항에 있어서, 상기 프로세스 카트리지는 상기 전자 사진식 감광 부재와, 상기 처리 수단으로서의 현상 수단을 하나의 유닛으로서 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
전자 사진식 화상 형성 장치의 주조립체에 마련되는 현상 장치에 있어서,

(a) 전자 사진식 감광 부재 상에 형성된 정전 잠상을 현상하는 데 사용될 현상제 수용부와,

(b) 상기 현상제 수용부에 수용된 현상제로 정전 잠상을 현상시키기 위한 현상 수단과,

(c) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제에 접촉하도록 하는 위치에 배열된 측정 전극 부재와,

(d) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제와의 접촉에서 벗어나도록 하는 위치에 배열된 기준 전극 부재와,

(e) 상기 측정 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 측정 전극 부재용 출력 접촉부와,

(f) 상기 기준 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 기준 전극 부재용 출력 접촉부와,

(g) 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재의 입력측 전극들에 전기 접속된 공통 입력 접촉부를 포함하는 것을 특징으로 하는 현상 장치.
제19항에 있어서, 상기 측정 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제에 접촉되도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 현상 장치.
제19항 또는 제20항에 있어서, 상기 기준 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제와의 접촉으로부터 벗어나도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 현상 장치.
제19항 또는 제20항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 한 기판의 동일 측면 상에 전극 패턴을 형성함으로써 제조되는 것을 특징으로 하는 현상 장치.
제22항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 전압이 가해질 때 사실상 동일한 정전 용량을 발생시키는 것을 특징으로 하는 현상 장치.
제19항 또는 제22항에 있어서, 상기 병치된 부분의 대향 부분의 길이와 상기 측정 전극 부재에서 그 사이의 간극은 각각 상기 기준 전극 부재의 길이 및 간극과 사실상 동일한 것을 특징으로 하는 현상 장치.
제19항 내지 제24항중 어느 한 항에 있어서, 상기 현상 수단은 현상제의 실질 존재를 검출하기 위한 전극 로드를 갖는 것을 특징으로 하는 현상 장치.
기록재 상에 화상을 형성하기 위한 전자 사진식 화상 형성 장치에 있어서, 상기 전자 사진식 화상 형성 장치는,

전자 사진식 감광 부재와,

상기 전자 사진식 감광 부재 상에 형성된 정전 잠상을 현상제로 현상하기 위한 현상 수단과,

적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제에 접촉하도록 하는 위치에 배열된 측정 전극 부재와,

적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력 및 출력측 전극을 갖고 현상제와의 접촉에서 벗어나도록 하는 위치에 배열된 기준 전극 부재와,

상기 측정 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 측정 전극 부재용 출력 접촉부와,

상기 기준 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 기준 전극 부재용 출력 접촉부와,

상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재의 입력측 전극들에 전기 접속된 공통 입력 접촉부와,

상기 정전 감광 부재 상에 정전 잠상을 형성하기 위한 정전 잠상 형성 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 정전 화상 형성 장치.
제26항에 있어서, 상기 측정 전극 부재는 상기 처리 수단으로서의 현상 수단에 의해 정전 잠상을 현상하는 데 사용될 현상제를 수용하는 현상제 수용부에 배치되고, 상기 측정 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제에 접촉되도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제27항 또는 제28항에 있어서, 상기 기준 전극 부재는 상기 처리 수단으로서의 현상 수단에 의해 정전 잠상을 현상하는 데 사용될 현상제를 수용하는 현상제 수용부에 배치되고, 상기 기준 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제에 접촉되도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제27항 또는 제28항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 한 기판의 동일 측면 상에 전극 패턴을 형성함으로써 제조되는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제29항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 전압이 가해질 때 사실상 동일한 정전 용량을 발생시키는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제26항 또는 제29항에 있어서, 상기 병치된 부분의 대향 부분의 길이와 상기 측정 전극 부재에서 그 사이의 간극은 각각 상기 기준 전극 부재의 길이 및 간극과 사실상 동일한 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제26항 내지 제31항중 어느 한 항에 있어서, 상기 현상 수단은 현상제의 실질 존재를 검출하기 위한 전극 로드를 갖는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
현상제의 양을 검출하기 위한 측정부에 있어서,

(a) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력측 및 출력측 전극을 갖는 측정 전극 부재와,

(b) 적어도 하나의 병치된 부분을 갖는 입력측 및 출력측 전극을 갖는 기준 전극 부재와,

(c) 상기 측정 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 측정 전극 부재용 출력 접촉부와,

(d) 상기 기준 전극 부재의 출력측 전극에 전기 접속된 기준 전극 부재용 출력 접촉부와,

(e) 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재의 입력측 전극들에 전기 접속된 공통 입력 접촉부를 포함하는 것을 특징으로 하는 측정부.
제33항에 있어서, 상기 측정 전극 부재는 상기 처리 수단으로서의 현상 수단에 의해 정전 잠상을 현상하는 데 사용될 현상제를 수용하는 현상제 수용부에 배치되고, 상기 측정 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제에 접촉되도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 측정부.
제33항 또는 제34항에 있어서, 상기 기준 전극 부재는 상기 처리 수단으로서의 현상 수단에 의해 정전 잠상을 현상하는 데 사용될 현상제를 수용하는 현상제 수용부에 배치되고, 상기 기준 전극 부재의 위치는 상기 현상제 수용부의 현상제에 접촉되도록 하는 위치인 것을 특징으로 하는 측정부.
제33항 또는 제34항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 한 기판의 동일 측면 상에 전극 패턴을 형성함으로써 제조되는 것을 특징으로 하는 측정부.
제36항에 있어서, 상기 측정 전극 부재 및 기준 전극 부재는 전압이 가해질 때 사실상 동일한 정전 용량을 발생시키는 것을 특징으로 하는 측정부.
제36항에 있어서, 상기 병치된 부분의 대향 부분의 길이와 상기 측정 전극 부재에서 그 사이의 간극은 각각 상기 기준 전극 부재의 길이 및 간극과 사실상 동일한 것을 특징으로 하는 측정부.
제33항 내지 제38항중 어느 한 항에 있어서, 상기 현상 수단은 현상제의 실질 존재를 검출하기 위한 전극 로드를 갖는 것을 특징으로 하는 측정부.
제1항에 있어서, 상기 측정 전극 부재의 병치된 부분은 규칙적인 간격으로 배열된 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제1항 또는 제40항에 있어서, 상기 기준 전극 부재의 병치된 부분은 규칙적인 간격으로 배열된 것을 특징으로 하는 프로세스 카트리지.
제10항 또는 제26항에 있어서, 상기 측정 전극 부재의 병치된 부분은 규칙적인 간격으로 배열되는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제10항, 제26항 또는 제42항에 있어서, 상기 기준 전극 부재의 병치된 부분은 규칙적인 간격으로 배열되는 것을 특징으로 하는 전자 사진식 화상 형성 장치.
제19항에 있어서, 상기 측정 전극 부재의 병치된 부분은 일정한 간격으로 배열되는 것을 특징으로 하는 현상 장치.
제19항 또는 제44항에 있어서, 상기 기준 전극 부재의 병치된 부분은 일정한 간격으로 배열되는 것을 특징으로 하는 현상 장치.
제33항에 있어서, 상기 측정 전극 부재의 병치된 부분은 일정한 간격으로 배열되는 것을 특징으로 하는 측정부.
제33항 또는 제46항에 있어서, 상기 기준 전극 부재의 병치된 부분은 일정한 간격으로 배열되는 것을 특징으로 하는 측정부.