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KR102731754B1 - Adhesive tape - Google Patents

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KR102731754B1
KR102731754B1 KR1020217003863A KR20217003863A KR102731754B1 KR 102731754 B1 KR102731754 B1 KR 102731754B1 KR 1020217003863 A KR1020217003863 A KR 1020217003863A KR 20217003863 A KR20217003863 A KR 20217003863A KR 102731754 B1 KR102731754 B1 KR 102731754B1
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이즈미 오카무라
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세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤
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Abstract

본 발명은 260 ℃ 에 이르는 고온 처리를 수반하는 공정에 사용한 경우여도 피착체를 보호하고, 또한, 풀 잔류 없이 박리할 수 있는 점착 테이프를 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명은 기재 필름과 상기 기재 필름의 편면에 적층된 자외선 경화형 점착제층을 갖는 점착 테이프로서, 상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후의 상기 자외선 경화형 점착제층의 겔분율이 90 % 이상이며, 상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 상기 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후의 점착 테이프의 X ℃ 에 있어서의 인장 탄성률을 Et (X) 로 했을 때, Et (270) 의 값이 1.0 × 107 Pa 이상인, 점착 테이프이다.The present invention aims to provide an adhesive tape which protects an adherend even when used in a process involving high-temperature treatment of up to 260°C, and which can be peeled off without leaving a residue. The present invention is an adhesive tape having a substrate film and an ultraviolet-curable adhesive layer laminated on one side of the substrate film, wherein after irradiating the surface of the substrate film side of the adhesive tape with 405 nm ultraviolet rays at 3000 mJ/cm2, the gel fraction of the ultraviolet-curable adhesive layer is 90% or more, and when the tensile modulus of the adhesive tape at X°C is Et (X) after irradiating the surface of the substrate film side of the adhesive tape with 405 nm ultraviolet rays at 3000 mJ/cm2, the value of Et (270) is 1.0 × 10 7 Pa or more.

Description

점착 테이프Adhesive tape

본 발명은 점착 테이프에 관한 것이다.The present invention relates to an adhesive tape.

반도체 칩의 제조 공정에 있어서, 웨이퍼나 반도체 칩의 가공시의 취급을 용이하게 하고, 파손을 방지하기 위해서 점착 테이프가 이용되고 있다. 예를 들어, 고순도의 실리콘 단결정 등에서 잘라낸 후막 웨이퍼를 소정의 두께로까지 연삭하여 박막 웨이퍼로 하는 경우, 후막 웨이퍼에 점착 테이프를 첩합한 후에 연삭이 행해진다.In the manufacturing process of semiconductor chips, adhesive tapes are used to facilitate handling of wafers or semiconductor chips during processing and to prevent damage. For example, when a thick film wafer cut from a high-purity silicon single crystal is ground to a predetermined thickness to make a thin film wafer, an adhesive tape is bonded to the thick film wafer and then the grinding is performed.

이와 같은 점착 테이프에 사용되는 접착제 조성물에는 가공 공정 중에 웨이퍼나 반도체 칩 등의 피착체를 강고하게 고정할 수 있을 만큼의 높은 접착성과 함께, 공정 종료 후에는 웨이퍼나 반도체 칩 등의 피착체를 손상시키지 않고 박리할 수 있을 것이 요구된다 (이하, 「고접착 이박리」라고도 한다.).The adhesive composition used in such adhesive tapes is required to have high adhesiveness that can firmly fix an adherend such as a wafer or semiconductor chip during a processing process, and also to be able to peel off the adherend such as a wafer or semiconductor chip after the processing is completed without damaging it (hereinafter also referred to as “high adhesion peelability”).

고접착 이(易)박리를 실현한 접착제 조성물로서 특허문헌 1 에는 자외선 등의 광을 조사함으로써 경화하여 점착력이 저하되는 광 경화형 점착제를 사용한 점착 테이프가 개시되어 있다. 점착제로서 광 경화형 점착제를 사용함으로써, 가공 공정 중에는 확실하게 피착체를 고정할 수 있음과 함께, 자외선 등을 조사함으로써 용이하게 박리할 수 있다.As an adhesive composition realizing high adhesion and easy peeling, Patent Document 1 discloses an adhesive tape using a photocurable adhesive that hardens by irradiating with light such as ultraviolet rays and has a reduced adhesive strength. By using a photocurable adhesive as the adhesive, an adherend can be reliably fixed during a processing process, and the adhesive can be easily peeled by irradiating with ultraviolet rays or the like.

일본 공개특허공보 평5-32946호Japanese Patent Publication No. 5-32946

최근, 반도체 제품의 박화, 소형화에 의해, 웨이퍼 위에 반도체 칩을 다수 적층한 반도체 디바이스가 제조되고 있다. 이와 같은 다수의 반도체 칩이 적층된 반도체 디바이스의 제조에서는 점착 테이프에 의해 웨이퍼나 반도체 칩을 보호한 상태로, 열 압착 본딩 공정에 의해 반도체 칩을 웨이퍼나 반도체 칩 위에 고정시키고 있다.Recently, due to the thinning and miniaturization of semiconductor products, semiconductor devices in which a large number of semiconductor chips are stacked on a wafer are being manufactured. In the manufacture of semiconductor devices in which a large number of semiconductor chips are stacked, the semiconductor chips are fixed on the wafer or semiconductor chips by a thermal compression bonding process while the wafer or semiconductor chips are protected by adhesive tape.

본 발명자들은 열 압착 본딩에서는 260 ℃ 라는 종래의 고온 처리를 초과한 고온이 가해지기 때문에, 종래의 경화형 점착제를 사용한 점착 테이프여도 고온 처리의 열에 다 견디지 못하고 점착 테이프의 기재 필름이 수축하고, 그 수축에 의해 점착제층이 끌어당겨짐으로써 점착 테이프가 박리되는 것을 알아냈다. 또, 열 압착 본딩에서는 고온에 더해 압력도 가해지기 때문에, 점착제의 접착 항진이 진행되기 쉽고, 풀 잔류가 발생하기 쉬워진다. 또한, 열 압착 본딩 공정이 행해지는 웨이퍼는 점착 테이프의 첩부면에 요철이 큰 범프가 형성되어 있는 경우가 많고, 요철의 안쪽 부분에 점착제가 물려들어가면, 박리시에 잘게 뜯겨져 풀이 잔류되어버린다.The inventors of the present invention have found that since a high temperature exceeding the conventional high temperature treatment of 260°C is applied in thermocompression bonding, even an adhesive tape using a conventional curable adhesive cannot withstand the heat of the high temperature treatment and the base film of the adhesive tape shrinks, and the adhesive layer is pulled together by the shrinkage, causing the adhesive tape to peel off. In addition, since pressure is also applied in thermocompression bonding in addition to the high temperature, the adhesive easily progresses and glue residue easily occurs. In addition, wafers on which the thermocompression bonding process is performed often have large bumps formed on the adhesive tape's bonding surface, and if the adhesive gets caught in the inner part of the irregularities, it is torn off in small pieces during peeling and glue residue occurs.

본 발명은 260 ℃ 에 이르는 고온 처리를 수반하는 공정에 사용한 경우여도 피착체를 보호하고, 또한 풀 잔류 없이 박리할 수 있는 점착 테이프를 제공하는 것을 목적으로 한다.The purpose of the present invention is to provide an adhesive tape that protects an adherend and can be peeled off without leaving any residue even when used in a process involving high-temperature treatment of up to 260°C.

본 발명은 기재 필름과 상기 기재 필름의 편면에 적층된 자외선 경화형 점착제층을 갖는 점착 테이프로서, 상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후의 상기 자외선 경화형 점착제층의 겔분율이 90 % 이상이며, 상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 상기 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후의 점착 테이프의 X ℃ 에 있어서의 인장 탄성률을 Et (X) 로 했을 때, Et (270) 의 값이 1.0 × 107 Pa 이상인 점착 테이프이다.The present invention is an adhesive tape having a base film and an ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer laminated on one side of the base film, wherein after irradiating the surface of the base film side of the adhesive tape with 405 nm ultraviolet rays at 3000 mJ/cm2, the gel fraction of the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer is 90% or more, and when the tensile elastic modulus at X°C of the adhesive tape is Et (X) after irradiating the surface of the base film side of the adhesive tape with 405 nm ultraviolet rays at 3000 mJ/cm2, the value of Et (270) is 1.0 × 10 7 Pa or more.

이하에 본 발명을 상세히 서술한다.The present invention is described in detail below.

본 발명의 점착 테이프는 상기 기재 필름의 편면에 적층된 자외선 경화형 점착제층을 갖는다.The adhesive tape of the present invention has an ultraviolet-curable adhesive layer laminated on one side of the substrate film.

점착 테이프가 자외선 경화형 점착제층을 가짐으로써, 충분한 점착력으로 피착체에 첩부하여 피착체를 보호할 수 있음과 함께, 첩부 후에 자외선 경화형 점착제층을 경화시킴으로써, 고온 처리를 하는 경우에도 피착체를 보호할 수 있다. 또, 보호가 불필요해진 후에는 풀 잔류 없이 용이하게 점착 테이프를 박리할 수 있다.Since the adhesive tape has an ultraviolet-curable adhesive layer, it can be attached to an adherend with sufficient adhesive strength to protect the adherend, and by curing the ultraviolet-curable adhesive layer after attachment, the adherend can be protected even when high-temperature processing is performed. In addition, after protection is no longer necessary, the adhesive tape can be easily peeled off without leaving any adhesive residue.

본 발명의 점착 테이프는 상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후의 상기 자외선 경화형 점착제층의 겔분율이 90 % 이상이다.The adhesive tape of the present invention has a gel fraction of the ultraviolet-curable adhesive layer of 90% or more after irradiating the surface of the substrate film side of the adhesive tape with 405 nm ultraviolet rays at 3000 mJ/cm2.

자외선 조사 후의 자외선 경화형 점착제층의 겔분율이 90 % 이상임으로써, 고온 하에서도 접착 항진이 진행하기 어려워지기 때문에, 보호가 불필요해진 후에 풀 잔류 없이 점착 테이프를 박리할 수 있다. 또, 점착 테이프의 내약품성도 향상시킬 수 있다. 또, 상기 기재 필름측의 표면에 자외선을 조사하여 자외선 경화형 점착제층을 경화시킬 수 있으면, 점착 테이프를 피착체와 첩합한 후에 자외선 경화형 점착제층을 경화시킬 수 있게 된다. 점착 테이프의 접착 항진의 억제성과 내약품성을 보다 향상시키는 관점에서, 자외선 조사 후의 상기 자외선 경화형 점착제층의 겔분율은 93 % 이상인 것이 바람직하고, 95 % 이상인 것이 보다 바람직하고, 97 % 이상인 것이 더욱 바람직하다.Since the gel fraction of the UV-curable adhesive layer after UV irradiation is 90% or more, it becomes difficult for adhesion promotion to progress even at high temperatures, so that the adhesive tape can be peeled off without residue after protection becomes unnecessary. In addition, the chemical resistance of the adhesive tape can also be improved. In addition, if the UV-curable adhesive layer can be cured by irradiating the surface of the substrate film side with UV rays, the UV-curable adhesive layer can be cured after the adhesive tape is bonded to the adherend. From the viewpoint of further improving the adhesion promotion inhibition property and chemical resistance of the adhesive tape, the gel fraction of the UV-curable adhesive layer after UV irradiation is preferably 93% or more, more preferably 95% or more, and still more preferably 97% or more.

또한, 자외선 조사 후의 상기 자외선 경화형 점착제층의 겔분율은 통상 100 % 이하이다.In addition, the gel fraction of the above-mentioned ultraviolet-curable adhesive layer after ultraviolet irradiation is usually 100% or less.

또한, 본 발명의 점착 테이프가 기재 필름의 다른 면에도 점착제층 등의 다른 층이 적층되어 있는 구조인 경우, 상기 기재 필름측이란, 기재 필름의 자외선 경화형 점착제층이 적층된 면과는 반대측인 면을 가리킨다.In addition, when the adhesive tape of the present invention has a structure in which another layer, such as an adhesive layer, is laminated on the other side of the base film, the base film side refers to the side opposite to the side of the base film on which the ultraviolet-curable adhesive layer is laminated.

본 발명의 점착 테이프는 상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 상기 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후의 점착 테이프의 X ℃ 에 있어서의 인장 탄성률을 Et (X) 로 했을 때, Et (270) 의 값이 1.0 × 107 Pa 이상이다.The adhesive tape of the present invention has a tensile elastic modulus at X ℃ of the adhesive tape after irradiating the surface of the substrate film side of the adhesive tape with 3000 mJ/cm2 of 405 nm ultraviolet rays, whereby the value of Et (270) is 1.0 × 10 7 Pa or more.

자외선 조사 후의 점착 테이프가 270 ℃ 에 있어서 상기 범위의 인장 탄성률을 가짐으로써, 내열성이 우수한 점착 테이프로 할 수 있고, 260 ℃ 에 이르는 고온 처리를 실시해도 점착 테이프가 연화, 수축되기 어려워져, 점착 테이프의 의도하지 않은 박리를 억제할 수 있다. 상기 Et (270) 의 바람직한 하한은 3.0 × 107 Pa, 보다 바람직한 하한은 5.0 × 107 Pa, 더욱 바람직한 하한은 1.0 × 108 Pa 이다. 상기 Et (270) 의 상한은 특별히 한정되지 않지만, 점착 테이프의 취급성의 관점에서 1.0 × 109 Pa 인 것이 바람직하다.Since the adhesive tape after ultraviolet irradiation has a tensile elastic modulus in the above range at 270°C, an adhesive tape having excellent heat resistance can be obtained, and even when subjected to high-temperature treatment up to 260°C, the adhesive tape is unlikely to soften or shrink, thereby suppressing unintended peeling of the adhesive tape. The preferable lower limit of the Et (270) is 3.0 × 10 7 Pa, a more preferable lower limit is 5.0 × 10 7 Pa, and a further preferable lower limit is 1.0 × 10 8 Pa. The upper limit of the Et (270) is not particularly limited, but is preferably 1.0 × 10 9 Pa from the viewpoint of handleability of the adhesive tape.

또한, 상기 점착 테이프의 인장 탄성률은 이하의 방법으로 측정할 수 있다.In addition, the tensile elastic modulus of the adhesive tape can be measured by the following method.

405 ㎚ 의 자외선을, 적산 강도가 3000 mJ/㎠ 가 되도록 기재 필름측의 표면으로부터 자외선 경화형 점착제층에 조사함으로써, 자외선 경화형 점착제층을 경화시킨다. 이어서, 장변이 테이프 제조시의 흐름 방향과 동일하게 되도록 타발날을 사용하여 타발함으로써, 5 ㎜ × 35 ㎜ 의 시험편을 제작한다. 얻어진 시험편을 액체 질소에 침지하여 -50 ℃ 까지 냉각시키고, 그 후, 점탄성 스펙트로미터 (DVA-200, 아이티 계측 제어사 제조, 또는 그 동등품) 를 사용하여, 정속 승온 인장 모드의 10 ℃/분, 주파수 10 Hz 의 조건에서 300 ℃ 까지 승온시키고, 인장 탄성률을 측정한다. 이 때의 온도 X ℃ 에 있어서의 인장 탄성률 (E') 의 값을 Et (X) 로 한다. 즉, 온도 270 ℃ 에 있어서의 인장 탄성률 (E') 의 값이 Et (270) 가 된다.By irradiating the UV-curable pressure-sensitive adhesive layer with 405 nm ultraviolet rays from the surface of the base film side so that the accumulated intensity becomes 3000 mJ/cm2, the UV-curable pressure-sensitive adhesive layer is cured. Then, a 5 mm × 35 mm test piece is produced by stamping using a stamping blade so that the long side is the same as the flow direction at the time of tape manufacture. The obtained test piece is immersed in liquid nitrogen and cooled to -50 °C, and thereafter, using a viscoelasticity spectrometer (DVA-200, manufactured by IT Instrumentation and Control Co., Ltd., or its equivalent), the temperature is increased to 300 °C under the conditions of 10 °C/min, frequency 10 Hz in constant-rate temperature-rise tensile mode, and the tensile modulus is measured. The value of the tensile modulus (E') at the temperature X °C at this time is taken as Et (X). That is, the value of the tensile elastic modulus (E') at a temperature of 270 ℃ becomes Et (270).

본 발명의 점착 테이프는 Et (270)/Et (200) 의 값이 0.1 이상인 것이 바람직하다.It is preferable that the adhesive tape of the present invention has a value of Et (270)/Et (200) of 0.1 or more.

자외선 조사 후의 점착 테이프의 270 ℃ 에 있어서의 인장 탄성률과 200 ℃ 에 있어서의 인장 탄성률의 차이가 작음으로써, 보다 내열성이 우수한 점착 테이프로 할 수 있고, 점착 테이프의 의도하지 않은 박리를 보다 억제할 수 있다. 상기 박리를 더욱 억제하는 관점에서, 상기 Et (270)/Et (200) 의 값은 0.2 이상인 것이 보다 바람직하고, 0.3 이상인 것이 더욱 바람직하고, 0.5 이상인 것이 특히 바람직하다. 상기 Et (270)/Et (200) 의 값의 상한은 특별히 한정되지 않고, 1 에 가까우면 가까울수록 좋은 것이지만, 통상 1 이하이며, 0.8 미만인 것이 바람직하다.Since the difference between the tensile elastic modulus at 270°C and the tensile elastic modulus at 200°C of the adhesive tape after ultraviolet irradiation is small, an adhesive tape having better heat resistance can be made, and unintended peeling of the adhesive tape can be further suppressed. From the viewpoint of further suppressing the peeling, the value of Et (270) / Et (200) is more preferably 0.2 or more, further preferably 0.3 or more, and particularly preferably 0.5 or more. The upper limit of the value of Et (270) / Et (200) is not particularly limited, and the closer it is to 1, the better, but it is usually 1 or less, and preferably less than 0.8.

본 발명의 점착 테이프는 상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 상기 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후, 25 ℃ 에서 5 ℃ min 의 속도로 280 ℃ 까지 승온시키고, 승온 후 10 분간 홀드했을 때의 중량 감소율이 5 % 이하인 것이 바람직하다.The adhesive tape of the present invention preferably has a weight reduction rate of 5% or less when the surface of the substrate film side of the adhesive tape is irradiated with 3000 mJ/cm2 of ultraviolet rays of 405 nm, the temperature is increased from 25°C to 280°C at a rate of 5°C min, and the temperature is held for 10 minutes.

280 ℃ 의 고온하에 있어서의 중량 감소가 적은, 요컨대 고온에서 열분해를 일으키기 어려움으로써, 열분해에 의해 생기는 아웃 가스의 양이 적어져, 피착체와 점착 테이프의 계면에 모인 아웃 가스가 기점이 되어 박리되는 것을 억제할 수 있다. 고온하에서의 박리를 억제하는 관점에서, 상기 중량 감소율은 4 % 이하인 것이 보다 바람직하고, 3 % 이하인 것이 더욱 바람직하고, 통상 0 % 이상이다.Since the weight loss at a high temperature of 280℃ is small, that is, it is difficult to cause thermal decomposition at a high temperature, the amount of outgas generated by thermal decomposition is small, and the outgas collected at the interface between the adherend and the adhesive tape can be suppressed from becoming a starting point for peeling. From the viewpoint of suppressing peeling at a high temperature, the weight loss rate is more preferably 4% or less, further preferably 3% or less, and usually 0% or more.

또한, 상기 중량 감소율은 이하의 방법으로 측정할 수 있다.Additionally, the weight reduction rate can be measured by the following method.

405 ㎚ 의 자외선을, 적산 강도가 3000 mJ/㎠ 가 되도록 기재 필름측의 표면으로부터 자외선 경화형 점착제층에 조사함으로써, 자외선 경화형 점착제층을 경화시킨다. 이어서, 점착 테이프를 φ5 ㎜ 의 원상으로 타발하여 측정 샘플을 제작한다. 얻어진 측정 샘플의 중량을 측정하고, 시차열 열중량 동시 측정 장치 (TG-DTA ; STA7200, 히타치 하이테크 사이언스사 제조, 또는 그 동등품) 를 사용하여 측정을 실시한다. 승온 속도는 5 ℃/min 로 하고, 25 ℃ 에서 280 ℃ 까지 승온시키고, 280 ℃ 상태로 10 분간 유지한 후의 측정 샘플의 중량을 측정한다. 가열 전후의 중량으로부터 중량 감소율을 산출할 수 있다.By irradiating the UV-curable pressure-sensitive adhesive layer with 405 nm ultraviolet rays from the surface of the base film side so that the accumulated intensity becomes 3000 mJ/cm2, the UV-curable pressure-sensitive adhesive layer is cured. Next, the adhesive tape is stamped into a φ5 mm circle to produce a measurement sample. The weight of the obtained measurement sample is measured, and the measurement is performed using a differential thermal gravimetric simultaneous measurement device (TG-DTA; STA7200, manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd., or its equivalent). The heating rate is 5 °C/min, the temperature is increased from 25 °C to 280 °C, and the weight of the measurement sample maintained at 280 °C for 10 minutes is measured. The weight reduction rate can be calculated from the weight before and after heating.

상기 기재 필름은 405 ㎚ 의 자외선 투과율이 1 % 이상인 것이 바람직하다.It is preferable that the above-mentioned film have an ultraviolet ray transmittance of 1% or more at 405 nm.

기재 필름의 405 ㎚ 의 자외선 투과율이 1 % 이상임으로써, 기재 필름 너머로 자외선 경화형 점착제층을 경화시킬 수 있어 상기 자외선 조사 후의 자외선 경화형 점착제층의 겔분율을 조정하기 쉬워진다. 이 결과, 접착 항진에 의한 피착체에 대한 풀 잔류를 억제할 수 있다. 상기 자외선 투과율은 10 % 이상인 것이 보다 바람직하고, 50 % 이상인 것이 더욱 바람직하고, 70 % 이상인 것이 특히 바람직하다. 상기 자외선 투과율이 이들 하한 이상임으로써, 광 증감제를 이용하지 않고도, 자외선 경화형 점착제층을 충분히 경화시킬 수 있다. 상기 자외선 투과율의 상한은 특별히 한정되지 않고, 높으면 높을수록 좋고, 통상 100 % 이하이다.Since the 405 nm ultraviolet transmittance of the base film is 1% or more, the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer can be cured beyond the base film, making it easy to adjust the gel fraction of the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer after the ultraviolet irradiation. As a result, glue residue on the adherend due to adhesion promotion can be suppressed. The ultraviolet transmittance is more preferably 10% or more, further preferably 50% or more, and particularly preferably 70% or more. Since the ultraviolet transmittance is equal to or more than these lower limits, the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer can be sufficiently cured without using a photosensitizer. The upper limit of the ultraviolet transmittance is not particularly limited, the higher the better, and is usually 100% or less.

또한, 자외선 투과율은 분광 광도계 (U-3900, 히타치 제작소사 제조, 또는 그 동등품) 를 사용하여 측정할 수 있다. 보다 구체적으로는 800 ~ 200 ㎚ 의 영역에서 스캔 스피드 300 ㎚/min, 슬릿 간격 4 ㎚ 로 측정하고, 405 ㎚ 에 있어서의 투과율을 측정할 수 있다.In addition, the ultraviolet transmittance can be measured using a spectrophotometer (U-3900, manufactured by Hitachi, Ltd., or its equivalent). More specifically, the measurement can be made in the range of 800 to 200 nm at a scan speed of 300 nm/min and a slit spacing of 4 nm, and the transmittance at 405 nm can be measured.

상기 기재 필름은 X ℃ 에 있어서의 인장 탄성률을 Ef (X) 로 했을 때, Ef (270) 의 값이 5.0 × 107 Pa 이상인 것이 바람직하다.The above-described film preferably has a value of Ef (270) of 5.0 × 10 7 Pa or more, when the tensile elastic modulus at X ℃ is represented by Ef (X).

상기 기재 필름의 270 ℃ 에 있어서의 인장 탄성률이 상기 범위임으로써, 보다 내열성이 우수한 점착 테이프로 할 수 있고, 고온 처리중인 기재 필름의 열수축이나 연화에 의한 박리를 억제할 수 있다. 상기 Ef (270) 의 보다 바람직한 하한은 1.0 × 108 Pa, 더욱 바람직한 하한은 5.0 × 108 Pa, 특히 바람직한 하한은 1.0 × 109 Pa 이다. 상기 Ef (270) 의 상한은 특별히 한정되지 않지만, 점착 테이프의 취급성의 관점에서 1.0 × 1010 Pa 인 것이 바람직하다.When the tensile elastic modulus of the above-mentioned base film at 270° C. is within the above-mentioned range, an adhesive tape having superior heat resistance can be made, and peeling due to heat shrinkage or softening of the base film during high-temperature processing can be suppressed. A more preferable lower limit of the above-mentioned Ef (270) is 1.0 × 10 8 Pa, a further preferable lower limit is 5.0 × 10 8 Pa, and a particularly preferable lower limit is 1.0 × 10 9 Pa. The upper limit of the above-mentioned Ef (270) is not particularly limited, but is preferably 1.0 × 10 10 Pa from the viewpoint of handleability of the adhesive tape.

또한, 상기 기재 필름의 인장 탄성률은 상기 점착 테이프의 인장 탄성률과 동일한 방법으로 측정할 수 있다.Additionally, the tensile modulus of the above-described film can be measured by the same method as the tensile modulus of the above-described adhesive tape.

상기 기재 필름은 얻어지는 점착 테이프가 상기 범위의 인장 탄성률 및 겔분율을 만족하면 특별히 한정되지 않지만, 내열성과 강도가 우수한 점에서, 상기 기재 필름은 아미드, 이미드, 에테르 및 케톤으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 반복 단위의 주사슬 골격 중에 갖는 수지를 함유하는 것이 바람직하다.The above-mentioned base film is not particularly limited as long as the obtained adhesive tape satisfies the tensile elastic modulus and gel fraction of the above-mentioned range, but in terms of excellent heat resistance and strength, it is preferable that the above-mentioned base film contains a resin having at least one selected from the group consisting of amide, imide, ether, and ketone in the main chain skeleton of the repeating unit.

상기 아미드, 이미드, 에테르 및 케톤으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 반복 결합 단위의 주사슬 골격 중에 갖는 수지로는 예를 들어, 폴리아미드, 폴리이미드, 폴리에테르, 폴리케톤 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 내열성과 강도가 보다 우수하다는 점에서, 상기 기재 필름은 폴리아미드 수지를 함유하는 것이 바람직하고, 나아가 자외선 투과성도 우수하다는 점에서, 탄소수가 4 이상 12 이하인 장사슬 알킬기 또는 방향족을 반복 단위의 주사슬 골격 중에 갖는 폴리아미드 수지를 함유하는 것이 보다 바람직하다.Examples of the resin having at least one selected from the group consisting of the above amides, imides, ethers, and ketones in the main chain skeleton of repeating bond units include polyamides, polyimides, polyethers, polyketones, etc. Among these, in terms of superior heat resistance and strength, it is preferable that the above-mentioned base film contains a polyamide resin, and further, in terms of superior ultraviolet ray transmittance, it is more preferable that it contains a polyamide resin having a long-chain alkyl group or aromatic group having 4 to 12 carbon atoms in the main chain skeleton of repeating units.

상기 탄소수가 4 이상 12 이하인 장사슬 알킬기 또는 방향족을 반복 단위의 주사슬 골격 중에 갖는 폴리아미드 수지로는 예를 들어, 나일론 9T, 나일론 6T 등을 들 수 있다.Examples of polyamide resins having a long-chain alkyl group or aromatic group having 4 to 12 carbon atoms in the main chain skeleton of repeating units include nylon 9T and nylon 6T.

상기 기재 필름의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 바람직한 하한이 25 ㎛, 보다 바람직한 하한이 50 ㎛, 바람직한 상한이 250 ㎛, 보다 바람직한 상한이 125 ㎛ 이다. 상기 기재 필름이 이 범위임으로써 취급성이 우수한 점착 테이프로 할 수 있다.The thickness of the above-mentioned base film is not particularly limited, but the preferable lower limit is 25 ㎛, the more preferable lower limit is 50 ㎛, the preferable upper limit is 250 ㎛, and the more preferable upper limit is 125 ㎛. When the above-mentioned base film is within this range, an adhesive tape having excellent handling properties can be obtained.

상기 자외선 경화형 점착제층을 구성하는 점착제는 자외선 경화형이면 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 중합성 폴리머를 주성분으로 하고, 중합 개시제로서 자외선 중합 개시제를 함유하는 자외선 경화형 점착제를 들 수 있다. 상기 중합성 폴리머로는 예를 들어, (메트)아크릴 폴리머, 우레탄아크릴레이트 폴리머 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 상기 겔분율과 상기 Et (270) 를 만족시키기 쉬운 점에서, (메트)아크릴 폴리머인 것이 바람직하고, 분자 내에 라디칼 중합성의 불포화 결합을 갖는 (메트)아크릴산알킬에스테르계의 중합성 폴리머인 것이 보다 바람직하다.The adhesive constituting the above-mentioned ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer is not particularly limited as long as it is ultraviolet-curable, and examples thereof include ultraviolet-curable adhesives containing a polymerizable polymer as a main component and an ultraviolet polymerization initiator as a polymerization initiator. Examples of the polymerizable polymer include (meth)acrylic polymers, urethane acrylate polymers, etc. Among these, (meth)acrylic polymers are preferable in that they are easy to satisfy the gel fraction and the Et (270), and (meth)acrylic acid alkyl ester-based polymerizable polymers having a radically polymerizable unsaturated bond in the molecule are more preferable.

상기 (메트)아크릴산알킬에스테르계의 중합성 폴리머는 예를 들어, 분자 내에 관능기를 가진 (메트)아크릴계 폴리머를 미리 합성하고, 분자 내에 상기 관능기와 반응하는 관능기와 라디칼 중합성의 불포화 결합을 갖는 화합물을 반응시킴으로써 얻을 수 있다. 또한, 이하「분자 내에 관능기를 가진 (메트)아크릴계 폴리머」를 「관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머」라고 하고,「분자 내에 상기 관능기와 반응하는 관능기와 라디칼 중합성의 불포화 결합을 갖는 화합물」을「관능기 함유 불포화 화합물」이라고 한다.The above (meth)acrylic acid alkyl ester polymerizable polymer can be obtained, for example, by pre-synthesizing a (meth)acrylic polymer having a functional group in the molecule and reacting a compound having a functional group reactive with the functional group in the molecule and an unsaturated bond capable of radical polymerization. In addition, hereinafter, a "(meth)acrylic polymer having a functional group in the molecule" is referred to as a "functional group-containing (meth)acrylic polymer", and a "compound having a functional group reactive with the functional group and an unsaturated bond capable of radical polymerization in the molecule" is referred to as a "functional group-containing unsaturated compound".

상기 관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머는 알킬기의 탄소수가 통상 2 ~ 18 의 범위에 있는 아크릴산알킬에스테르 및/또는 메타크릴산알킬에스테르를 주모노머로 하고, 이것과 관능기 함유 모노머와, 나아가 필요에 따라 이들과 공중합 가능한 다른 개질용 모노머를 통상적인 방법에 의해 공중합시킴으로써 얻어지는 것이다. 상기 관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머의 중량 평균 분자량은 통상 20 만 ~ 200 만 정도이다. 또한, 본 명세서에 있어서 중량 평균 분자량은 통상, GPC 법에 의해 결정할 수 있고, 예를 들어 40 ℃ 에 있어서 용출액으로서 THF, 칼럼으로서 HSPgel HR MB-M 6.0 × 150 ㎜ (Waters 사 제조) 를 사용하여 폴리스티렌 표준에 의해 결정할 수 있다.The above functional group-containing (meth)acrylic polymer is obtained by using an alkyl acrylic acid ester and/or an alkyl methacrylic acid ester having an alkyl group of usually 2 to 18 carbon atoms as a main monomer, and copolymerizing this with a functional group-containing monomer and, if necessary, other modifying monomers copolymerizable with these by a conventional method. The weight average molecular weight of the functional group-containing (meth)acrylic polymer is usually about 200,000 to 2,000,000. In addition, in the present specification, the weight average molecular weight can be usually determined by the GPC method, and can be determined by a polystyrene standard, for example, using THF as an eluent and HSPgel HR MB-M 6.0 × 150 mm (manufactured by Waters) as a column at 40°C.

상기 관능기 함유 모노머로는 예를 들어, 카르복실기 함유 모노머나, 하이드록실기 함유 모노머나, 에폭시기 함유 모노머나, 이소시아네이트기 함유 모노머나, 아미노기 함유 모노머 등을 들 수 있다. 상기 카르복실기 함유 모노머로는 아크릴산, 메타크릴산 등을 들 수 있다. 상기 하이드록실기 함유 모노머로는 아크릴산하이드록시에틸, 메타크릴산하이드록시에틸 등을 들 수 있다. 상기 에폭시기 함유 모노머로는 아크릴산글리시딜, 메타크릴산글리시딜 등을 들 수 있다. 상기 이소시아네이트기 함유 모노머로는 아크릴산이소시아네이트에틸, 메타크릴산이소시아네이트에틸 등을 들 수 있다. 상기 아미노기 함유 모노머로는 아크릴산아미노에틸, 메타크릴산아미노에틸 등을 들 수 있다.Examples of the functional group-containing monomer include a carboxyl group-containing monomer, a hydroxyl group-containing monomer, an epoxy group-containing monomer, an isocyanate group-containing monomer, an amino group-containing monomer, and the like. Examples of the carboxyl group-containing monomer include acrylic acid, methacrylic acid, and the like. Examples of the hydroxyl group-containing monomer include hydroxyethyl acrylate, hydroxyethyl methacrylate, and the like. Examples of the epoxy group-containing monomer include glycidyl acrylate, glycidyl methacrylate, and the like. Examples of the isocyanate group-containing monomer include ethyl acrylate, ethyl methacrylate, and the like. Examples of the amino group-containing monomer include aminoethyl acrylate, aminoethyl methacrylate, and the like.

상기 공중합 가능한 다른 개질용 모노머로는 예를 들어, 아세트산비닐, 아크릴로니트릴, 스티렌 등의 일반의 (메트)아크릴계 폴리머에 사용되고 있는 각종 모노머를 들 수 있다.Other copolymerizable modifying monomers include, for example, various monomers used in general (meth)acrylic polymers, such as vinyl acetate, acrylonitrile, and styrene.

상기 관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머에 반응시키는 관능기 함유 불포화 화합물로는 상기 관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머의 관능기에 따라 상기 서술한 관능기 함유 모노머와 동일한 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 상기 관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머의 관능기가 카르복실기인 경우에는 에폭시기 함유 모노머나 이소시아네이트기 함유 모노머가 사용된다. 동 관능기가 하이드록실기인 경우에는 이소시아네이트기 함유 모노머가 사용된다. 동 관능기가 에폭시기인 경우에는 카르복실기 함유 모노머나 아크릴아미드 등의 아미드기 함유 모노머가 사용된다. 동 관능기가 아미노기인 경우에는 에폭시기 함유 모노머가 사용된다.As the functional group-containing unsaturated compound to be reacted with the above functional group-containing (meth)acrylic polymer, the same functional group-containing monomer as the functional group-containing monomer described above can be used depending on the functional group of the above functional group-containing (meth)acrylic polymer. For example, if the functional group of the above functional group-containing (meth)acrylic polymer is a carboxyl group, an epoxy group-containing monomer or an isocyanate group-containing monomer is used. If the functional group is a hydroxyl group, an isocyanate group-containing monomer is used. If the functional group is an epoxy group, a carboxyl group-containing monomer or an amide group-containing monomer such as acrylamide is used. If the functional group is an amino group, an epoxy group-containing monomer is used.

상기 자외선 중합 개시제는 예를 들어, 200 ~ 410 ㎚ 의 파장의 자외선을 조사함으로써 활성화되는 것을 들 수 있다. 이와 같은 자외선 중합 개시제로는 예를 들어, 아세토페논 유도체 화합물이나, 벤조인에테르계 화합물, 케탈 유도체 화합물, 포스핀옥사이드 유도체 화합물, 비스(η5-시클로펜타디에닐)티타노센 유도체 화합물, 벤조페논, 미힐러케톤, 클로로티오크산톤, 토데실티오크산톤, 디메틸티오크산톤, 디에틸티오크산톤, α-하이드록시시클로헥실페닐케톤, 2-하이드록시메틸페닐프로판 등을 들 수 있다. 상기 아세토페논 유도체 화합물로는 메톡시아세토페논 등을 들 수 있다. 상기 벤조인에테르계 화합물로는 벤조인프로필에테르, 벤조인이소부틸에테르 등을 들 수 있다. 상기 케탈 유도체 화합물로는 벤질디메틸케탈, 아세토페논디에틸케탈 등을 들 수 있다. 이들 자외선 중합 개시제는 단독으로 이용되어도 되고, 2 종 이상이 병용되어도 된다.The above ultraviolet polymerization initiator may be, for example, one that is activated by irradiating ultraviolet rays having a wavelength of 200 to 410 nm. Examples of such ultraviolet polymerization initiators include acetophenone derivative compounds, benzoin ether compounds, ketal derivative compounds, phosphine oxide derivative compounds, bis(η5-cyclopentadienyl)titanocene derivative compounds, benzophenone, Michler's ketone, chlorothioxanthone, todecylthioxanthone, dimethylthioxanthone, diethylthioxanthone, α-hydroxycyclohexylphenyl ketone, 2-hydroxymethylphenylpropane, and the like. Examples of the acetophenone derivative compounds include methoxyacetophenone, and the like. Examples of the benzoin ether compounds include benzoin propyl ether, benzoin isobutyl ether, and the like. Examples of the above ketal derivative compounds include benzyl dimethyl ketal, acetophenone diethyl ketal, etc. These ultraviolet polymerization initiators may be used alone, or two or more types may be used in combination.

상기 자외선 경화형 점착제층은 라디칼 중합성의 다관능 올리고머 또는 모노머를 함유하는 것이 바람직하다. 상기 자외선 경화형 점착제층이 라디칼 중합성의 다관능 올리고머 또는 모노머를 함유함으로써, 자외선 경화성이 향상된다.It is preferable that the above-mentioned ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer contains a radically polymerizable multifunctional oligomer or monomer. By containing the above-mentioned ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer a radically polymerizable multifunctional oligomer or monomer, ultraviolet-curability is improved.

상기 다관능 올리고머 또는 모노머는 중량 평균 분자량이 1 만 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 자외선의 조사에 의한 자외선 경화형 점착제층의 삼차원 망상화가 효율적으로 되도록, 그 중량 평균 분자량이 5000 이하이고 또한 분자 내의 라디칼 중합성의 불포화 결합의 수가 2 ~ 20 개인 것이다. 상기 중량 평균 분자량은 예를 들어 GPC 측정법을 사용하여 결정할 수 있다.The above-mentioned multifunctional oligomer or monomer preferably has a weight average molecular weight of 10,000 or less, and more preferably, in order to efficiently form a three-dimensional network of an ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer by irradiation with ultraviolet rays, the weight average molecular weight is 5,000 or less and the number of radically polymerizable unsaturated bonds in the molecule is 2 to 20. The above-mentioned weight average molecular weight can be determined using, for example, a GPC measurement method.

상기 다관능 올리고머 또는 모노머는 예를 들어, 트리메틸올프로판트리아크릴레이트, 테트라메틸올메탄테트라아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리아크릴레이트, 펜타에리트리톨테트라아크릴레이트, 디펜타에리트리톨모노하이드록시펜타아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 또는 상기 동일한 메타크릴레이트류 등을 들 수 있다. 그 외에, 1,4-부틸렌글리콜디아크릴레이트, 1,6-헥산디올디아크릴레이트, 폴리에틸렌글리콜디아크릴레이트, 시판되는 올리고에스테르아크릴레이트, 상기 동일한 메타크릴레이트류 등을 들 수 있다. 이들 다관능 올리고머 또는 모노머는 단독으로 이용되어도 되고, 2 종 이상이 병용되어도 된다.The above-mentioned polyfunctional oligomers or monomers include, for example, trimethylolpropane triacrylate, tetramethylolmethane tetraacrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, dipentaerythritol monohydroxypentaacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, or the same methacrylates mentioned above. In addition, 1,4-butylene glycol diacrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, polyethylene glycol diacrylate, commercially available oligoester acrylates, or the same methacrylates mentioned above, or the like. These polyfunctional oligomers or monomers may be used alone, or two or more may be used in combination.

상기 자외선 경화형 점착제층은 자외선 경화형 점착제의 응집력을 높이는 목적으로 가교제를 함유하고 있어도 된다.The above ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer may contain a crosslinking agent for the purpose of increasing the cohesiveness of the ultraviolet-curable adhesive.

상기 가교제로는 예를 들어, 이소시아네이트계 가교제, 에폭시계 가교제, 아지리딘계 가교제, 금속 킬레이트계 가교제 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 보다 자외선 경화형 점착제의 응집력이 높아진다는 점에서 이소시아네이트계 가교제가 바람직하다.Examples of the crosslinking agent include an isocyanate-based crosslinking agent, an epoxy-based crosslinking agent, an aziridine-based crosslinking agent, a metal chelate-based crosslinking agent, etc. Among them, an isocyanate-based crosslinking agent is preferable because it increases the cohesive strength of the ultraviolet-curable adhesive.

상기 가교제는 상기 점착제층 중에 0.1 ~ 20 중량% 함유되어 있는 것이 바람직하다.It is preferable that the crosslinking agent is contained in the adhesive layer in an amount of 0.1 to 20 wt%.

가교제가 상기 범위로 함유되어 있음으로써, 자외선 경화형 점착제를 적당히 가교하고, 높은 점착력을 유지하면서 자외선 경화형 점착제의 응집력을 보다 높일 수 있다. 높은 점착력을 유지하면서 자외선 경화형 점착제의 응집력을 더욱 높이는 관점에서, 상기 가교제의 함유량의 보다 바람직한 하한은 0.5 중량%, 더욱 바람직한 하한은 1.0 중량%, 보다 바람직한 상한은 15 중량%, 더욱 바람직한 상한은 10 중량% 이다.By containing the crosslinking agent in the above range, the ultraviolet-curable adhesive can be appropriately crosslinked and the cohesiveness of the ultraviolet-curable adhesive can be further increased while maintaining high adhesiveness. From the viewpoint of further increasing the cohesiveness of the ultraviolet-curable adhesive while maintaining high adhesiveness, the more preferable lower limit of the content of the crosslinking agent is 0.5 wt%, a more preferable lower limit is 1.0 wt%, a more preferable upper limit is 15 wt%, and a more preferable upper limit is 10 wt%.

상기 자외선 경화형 점착제층은 실리콘 또는 불소 화합물을 함유하는 것이 바람직하다.It is preferable that the above ultraviolet-curable adhesive layer contains a silicone or fluorine compound.

상기 자외선 경화형 점착제층이 실리콘 또는 불소 화합물을 함유함으로써, 자외선 경화형 점착제층과 피착체의 계면에 실리콘 또는 불소 화합물이 블리드 아웃하기 때문에, 처리 종료 후에 점착 테이프를 용이하게 또한 풀 잔류 없이 박리할 수 있다. 상기 실리콘 또는 불소 화합물로는 예를 들어, 실리콘디아크릴레이트, 플루오로알킬기를 갖는 고분자 (예를 들어, 플루오로아크릴레이트에서 유래하는 구성 단위를 갖는 (메트)아크릴계 공중합체) 등을 들 수 있다.Since the above-described ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer contains a silicone or fluorine compound, the silicone or fluorine compound bleeds out at the interface between the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer and the adherend, so that the adhesive tape can be easily peeled off without leaving any residue after the processing is completed. Examples of the silicone or fluorine compound include silicone diacrylate, a polymer having a fluoroalkyl group (for example, a (meth)acrylic copolymer having a structural unit derived from fluoroacrylate), and the like.

상기 실리콘 또는 불소 화합물은 상기 중합성 폴리머와 가교 가능한 관능기를 갖는 것이 바람직하다.It is preferable that the above silicone or fluorine compound has a functional group capable of crosslinking with the polymerizable polymer.

상기 실리콘 또는 불소 화합물이 상기 중합성 폴리머와 가교 가능한 관능기를 가짐으로써, 가교제 또는 자외선 조사에 의해 실리콘 또는 불소 화합물이 중합성 폴리머와 화학 반응하여 중합성 폴리머와 결합할 수 있다. 이로써, 피착체에 실리콘 또는 불소 화합물이 부착하는 것에 의한 오염이 억제된다.Since the above silicone or fluorine compound has a functional group capable of crosslinking with the polymerizable polymer, the silicone or fluorine compound can chemically react with the polymerizable polymer by a crosslinking agent or ultraviolet irradiation and bond with the polymerizable polymer. As a result, contamination due to attachment of the silicone or fluorine compound to the adherend is suppressed.

상기 중합성 폴리머와 가교 가능한 관능기로는 상기 중합성 폴리머에 포함되는 관능기에 따라 적절히 선택되는데, 예를 들어, 카르복실기, 라디칼 중합성의 불포화 결합, 수산기, 아미드기, 이소시아네이트기, 에폭시기 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 라디칼 중합성의 불포화 결합이 바람직하다. 상기 실리콘 또는 불소 화합물이 상기 중합성 폴리머와 가교 가능한 관능기로서 라디칼 중합성의 불포화 결합을 가짐으로써, 자외선 조사에 의해 실리콘 또는 불소 화합물이 중합성 폴리머와 화학 반응하여 중합성 폴리머 중에 도입되기 때문에, 피착체에 실리콘 또는 불소 화합물이 부착하는 것에 의한 오염이 보다 억제된다.The functional group crosslinkable with the polymerizable polymer is appropriately selected depending on the functional group contained in the polymerizable polymer, and examples thereof include a carboxyl group, a radically polymerizable unsaturated bond, a hydroxyl group, an amide group, an isocyanate group, an epoxy group, and the like. Among these, a radically polymerizable unsaturated bond is preferable. Since the silicone or fluorine compound has a radically polymerizable unsaturated bond as the functional group crosslinkable with the polymerizable polymer, the silicone or fluorine compound chemically reacts with the polymerizable polymer by ultraviolet irradiation and is introduced into the polymerizable polymer, so that contamination due to attachment of the silicone or fluorine compound to the adherend is more suppressed.

상기 실리콘 또는 불소 화합물에 있어서의 가교 가능한 관능가는 예를 들어 2 ~ 6 가, 바람직하게는 2 ~ 4 가, 보다 바람직하게는 2 가이다.The crosslinkable functionality in the above silicone or fluorine compound is, for example, 2 to 6 valence, preferably 2 to 4 valence, more preferably 2.

상기 중합성 폴리머와 가교 가능한 관능기로는 상기 중합성 폴리머에 포함되는 관능기에 의해 적절히 결정되는데, 예를 들어, 중합성 폴리머가, 분자 내에 라디칼 중합성의 불포화 결합을 갖는 (메트)아크릴산알킬에스테르계인 경우에는 불포화 결합과 가교 가능한 관능기를 선택하는 것이 바람직하다.The functional group capable of crosslinking with the polymerizable polymer is appropriately determined by the functional group contained in the polymerizable polymer. For example, when the polymerizable polymer is a (meth)acrylic acid alkyl ester having a radically polymerizable unsaturated bond in the molecule, it is preferable to select an unsaturated bond and a crosslinkable functional group.

상기 불포화 결합과 가교 가능한 관능기는 불포화 이중 결합을 갖는 관능기이며, 구체적으로는 예를 들어, 비닐기, (메트)아크릴기, 알릴기, 말레이미드기 등을 함유하는 실리콘 또는 불소 화합물 등을 선택한다.The above unsaturated bond and crosslinkable functional group are functional groups having unsaturated double bonds, and specifically, for example, a silicone or fluorine compound containing a vinyl group, a (meth)acrylic group, an allyl group, a maleimide group, etc. are selected.

상기 자외선 경화형 점착제층 중에 있어서의 상기 실리콘 또는 불소 화합물의 함유량은 바람직한 하한이 2 중량%, 보다 바람직한 하한이 5 중량%, 더욱 바람직한 하한이 10 중량%, 바람직한 상한이 40 중량%, 보다 바람직한 상한이 35 중량%, 더욱 바람직한 상한이 30 중량% 이다.The content of the silicone or fluorine compound in the above ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer is preferably a lower limit of 2 wt%, a more preferably lower limit of 5 wt%, a further preferably lower limit of 10 wt%, a preferably upper limit of 40 wt%, a more preferably upper limit of 35 wt%, and a further preferably upper limit of 30 wt%.

상기 실리콘 또는 불소 화합물의 함유량이 상기 범위임으로써, 점착 테이프로부터 발생하는 아웃 가스량을 저감할 수 있고, 보다 내열성과 풀 잔류 방지 성능이 우수한 점착 테이프로 할 수 있다.By having the content of the above silicone or fluorine compound within the above range, the amount of outgassing generated from the adhesive tape can be reduced, and an adhesive tape having superior heat resistance and glue residue prevention performance can be obtained.

상기 자외선 경화형 점착제층은 우레탄아크릴레이트를 함유하는 것이 바람직하다.It is preferable that the above ultraviolet-curable adhesive layer contains urethane acrylate.

상기 자외선 경화형 점착제층이 우레탄아크릴레이트를 함유함으로써, 점착 테이프의 유연성이 향상되어 얻어지는 점착 테이프를 잘게 뜯겨지기 어렵게 할 수 있다.Since the above-mentioned ultraviolet-curable adhesive layer contains urethane acrylate, the flexibility of the adhesive tape is improved, making it difficult for the resulting adhesive tape to be torn off.

상기 자외선 경화형 점착제층 중에 있어서의 상기 우레탄아크릴레이트의 함유량은 바람직한 상한이 20 중량%, 보다 바람직한 상한이 15 중량%, 더욱 바람직한 상한이 10 중량% 이다. 상기 우레탄아크릴레이트의 함유량이 상기 범위임으로써, 보다 내열성과 풀 잔류 억제 성능이 우수한 점착 테이프로 할 수 있다. 상기 우레탄아크릴레이트의 함유량의 하한은 특별히 한정되지 않지만, 점착 테이프를 보다 잘게 뜯겨지기 어렵게 하고 풀 잔류를 억제하는 관점에서 1 중량% 인 것이 바람직하다.The content of the urethane acrylate in the above-mentioned ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer is preferably an upper limit of 20 wt%, more preferably an upper limit of 15 wt%, and even more preferably an upper limit of 10 wt%. When the content of the urethane acrylate is within the above range, an adhesive tape having better heat resistance and excellent glue residue suppression performance can be obtained. The lower limit of the content of the urethane acrylate is not particularly limited, but is preferably 1 wt% from the viewpoint of making the adhesive tape less likely to be torn off and suppressing glue residue.

상기 자외선 경화형 점착제층 중에 있어서의 상기 실리콘 또는 불소 화합물과 상기 우레탄아크릴레이트의 합계 함유량은 50 중량% 이하인 것이 바람직하다.It is preferable that the total content of the silicone or fluorine compound and the urethane acrylate in the above ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer is 50 wt% or less.

상기 실리콘 또는 불소 화합물과 상기 우레탄아크릴레이트의 합계 함유량이 상기 범위임으로써, 이들 성분의 열분해에 의해 발생하는 아웃 가스의 양을 억제할 수 있다는 점에서, 내열성을 향상시키면서도 아웃 가스에 의한 의도하지 않은 박리를 억제할 수 있다. 상기 박리를 더욱 억제하는 관점에서, 상기 실리콘 또는 불소 화합물과 상기 우레탄아크릴레이트의 합계 함유량의 보다 바람직한 상한은 40 중량%, 더욱 바람직한 상한은 25 중량% 이다.Since the total content of the silicone or fluorine compound and the urethane acrylate is within the above range, the amount of outgas generated by thermal decomposition of these components can be suppressed, thereby improving heat resistance while suppressing unintended peeling due to outgas. From the viewpoint of further suppressing the peeling, a more preferable upper limit of the total content of the silicone or fluorine compound and the urethane acrylate is 40 wt%, and a further preferable upper limit is 25 wt%.

상기 자외선 경화형 점착제층은 필러를 함유하는 것이 바람직하다.It is preferable that the above ultraviolet-curable adhesive layer contains a filler.

상기 자외선 경화형 점착제층이 필러를 함유함으로써 탄성률이 향상된다는 점에서 점착 테이프의 내열성을 향상시킬 수 있다. 상기 필러의 재료로는 예를 들어, 실리카, 알루미나, 카본블랙, 칼슘, 붕소, 마그네슘, 지르코니아 등을 들 수 있다. 그 중에서도 보다 내열성이 향상된다는 점에서 실리카인 것이 바람직하다.The above ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer can improve the heat resistance of the adhesive tape because its elastic modulus is improved by containing filler. Examples of the filler material include silica, alumina, carbon black, calcium, boron, magnesium, zirconia, etc. Among them, silica is preferable because it has improved heat resistance.

상기 필러의 평균 입자경은 특별히 한정되지 않지만, 바람직한 하한이 0.06 ㎛, 보다 바람직한 하한이 0.07 ㎛, 바람직한 상한이 2 ㎛, 보다 바람직한 상한이 1 ㎛ 이다. 필러의 평균 입자경이 상기 범위임으로써, 자외선 경화형 점착제에 대한 분산성을 보다 향상시킬 수 있다.The average particle size of the above filler is not particularly limited, but the preferred lower limit is 0.06 ㎛, the more preferred lower limit is 0.07 ㎛, the preferred upper limit is 2 ㎛, and the more preferred upper limit is 1 ㎛. When the average particle size of the filler is within the above range, the dispersibility for the ultraviolet-curable adhesive can be further improved.

상기 자외선 경화형 점착제층 중에 있어서의 상기 필러의 함유량은 바람직한 하한이 1 중량%, 보다 바람직한 하한이 3 중량%, 바람직한 상한이 18 중량%, 보다 바람직한 상한이 12 중량% 이다.The content of the filler in the above ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer is preferably a lower limit of 1 wt%, a more preferably lower limit of 3 wt%, a more preferably upper limit of 18 wt%, and a more preferably upper limit of 12 wt%.

상기 필러의 함유량이 상기 범위임으로써, 보다 내열성이 우수한 점착 테이프로 할 수 있다.Since the content of the above filler is within the above range, an adhesive tape having superior heat resistance can be produced.

상기 자외선 경화형 점착제층은 자극에 의해 기체를 발생시키는 기체 발생제를 함유하는 것이 바람직하다.It is preferable that the above ultraviolet-curable adhesive layer contains a gas-generating agent that generates gas upon stimulation.

상기 자외선 경화형 점착제층이 기체 발생제를 함유함으로써, 공정 종료 후에 자극을 주어 기체를 발생시킴으로써, 피착체와 점착 테이프 사이에 기체에 의한 간극이 생기기 때문에, 보다 용이하게 점착 테이프를 박리할 수 있다.Since the above-mentioned ultraviolet-curable adhesive layer contains a gas-generating agent, a gap is created between the adherend and the adhesive tape by the gas by stimulating it after the process is completed, so that the adhesive tape can be peeled off more easily.

상기 기체 발생제는 특별히 한정되지 않지만, 고온 처리 공정에 사용할 수 있다는 점에서 광에 의해 기체를 발생시키는 기체 발생제인 것이 바람직하다. 그 중에서도, 가열을 수반하는 처리에 대한 내성이 우수하다는 점에서, 페닐아세트산, 디페닐아세트산, 트리페닐아세트산 등의 카르복실산 화합물 또는 그 염이나, 1H-테트라졸, 5-페닐-1H-테트라졸, 5,5-아조비스-1H-테트라졸 등과 같은 테트라졸 화합물 또는 그 염 등이 바람직하다. 이와 같은 기체 발생제는 자외선 등의 광을 조사함으로써 기체를 발생하는 한편, 260 ℃ 정도의 고온하에서도 분해되지 않는 높은 내열성을 갖는다.The above gas generator is not particularly limited, but is preferably a gas generator that generates gas by light in that it can be used in a high-temperature treatment process. Among these, carboxylic acid compounds such as phenylacetic acid, diphenylacetic acid, and triphenylacetic acid or salts thereof, or tetrazole compounds such as 1H-tetrazole, 5-phenyl-1H-tetrazole, and 5,5-azobis-1H-tetrazole or salts thereof are preferable in that they have excellent resistance to treatment involving heating. Such gas generators generate gas by irradiating light such as ultraviolet rays, and have high heat resistance that does not decompose even at a high temperature of about 260°C.

상기 자외선 경화형 점착제층은 광 증감제를 함유해도 된다. 상기 광 증감제를 함유함으로써, 상기 기재 필름의 405 ㎚ 의 자외선 투과율이 낮은 경우라도, 자외선 경화형 점착제층을 충분히 경화시킬 수 있다. 또, 상기 광 증감제는 상기 기체 발생제에 대한 광에 의한 자극을 증폭하는 효과를 갖는다는 점에서, 보다 적은 광의 조사에 의해 기체를 방출시킬 수 있다. 또, 보다 넓은 파장 영역의 광에 의해 기체를 방출시킬 수 있다.The above-described ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer may contain a photosensitizer. By containing the photosensitizer, even when the 405 nm ultraviolet transmittance of the above-described base film is low, the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer can be sufficiently cured. In addition, since the photosensitizer has an effect of amplifying stimulation by light to the gas generating agent, gas can be released by irradiating less light. In addition, gas can be released by light in a wider wavelength range.

상기 광 증감제로는 예를 들어 2,4-디에틸티오크산톤 등의 티오크산톤계 화합물이나, 디부틸안트라센, 디프로필안트라센 등의 안트라센계 화합물 등을 들 수 있다. 또, 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온, 벤조페논, 2,4-디클로로벤조페논, o-벤조일벤조산메틸, 4,4'-비스(디메틸아미노)벤조페논, 4-벤조일-4'메틸디페닐설파이드 등도 들 수 있다. 이들 광 증감제는 단독으로 사용되어도 되고, 2 종 이상이 조합하여 사용되어도 된다. 또한, 상기 광 증감제는 고온하에서 열분해하여 아웃 가스를 발생시키고, 자외선 경화형 점착제층을 발포시키기 때문에, 대량으로 사용하면 풀 잔류나 의도하지 않은 박리의 원인이 되어 버리는 경우가 있다. 그 때문에, 상기 광 증감제는 가능한 한 사용하는 양을 줄이는 것이 바람직하다.Examples of the photosensitizer include thioxanthone compounds such as 2,4-diethylthioxanthone, anthracene compounds such as dibutyl anthracene, dipropyl anthracene, etc. In addition, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethan-1-one, benzophenone, 2,4-dichlorobenzophenone, o-benzoyl benzoate methyl, 4,4'-bis(dimethylamino)benzophenone, 4-benzoyl-4' methyldiphenyl sulfide, etc. can be mentioned. These photosensitizers may be used alone, or two or more types may be used in combination. In addition, since the photosensitizer thermally decomposes at high temperatures to generate outgas and foams the ultraviolet-curable adhesive layer, if used in large quantities, it may cause glue residue or unintended peeling. Therefore, it is preferable to reduce the amount of the photosensitizer used as much as possible.

상기 자외선 경화형 점착제층은 가소제, 수지, 계면 활성제, 왁스 등의 공지된 첨가제를 함유해도 된다. 이들 첨가제는 단독으로 사용되어도 되고, 복수를 조합하여 사용해도 된다.The above-mentioned ultraviolet-curable adhesive layer may contain known additives such as a plasticizer, resin, surfactant, wax, etc. These additives may be used alone or in combination.

상기 자외선 경화형 점착제층의 자외선 조사 전의 저장 탄성률 G' 는 특별히 한정되지 않지만, 23℃ 에 있어서의 저장 탄성률 G' 가 5.0 × 103 Pa 이상, 1.0 × 105 Pa 이하인 것이 바람직하다. 자외선 조사 전의 자외선 경화형 점착제층의 23℃ 에 있어서의 저장 탄성률 G' 가 상기 범위임으로써, 충분한 점착력으로 피착체를 보호할 수 있다. 자외선 조사 전의 자외선 경화형 점착제층의 23 ℃ 에 있어서의 저장 탄성률 G' 는 자외선 경화형 점착제층을 구성하는 점착제의 종류, 필러의 종류 및 양 등에 따라 조절할 수 있다.The storage elastic modulus G' of the above-mentioned UV-curable pressure-sensitive adhesive layer before UV irradiation is not particularly limited, but it is preferable that the storage elastic modulus G' at 23°C is 5.0 × 10 3 Pa or more and 1.0 × 10 5 Pa or less. When the storage elastic modulus G' at 23°C of the UV-curable pressure-sensitive adhesive layer before UV irradiation is within the above range, the adherend can be protected with sufficient adhesive strength. The storage elastic modulus G' at 23°C of the UV-curable pressure-sensitive adhesive layer before UV irradiation can be controlled depending on the type of adhesive constituting the UV-curable pressure-sensitive adhesive layer, the type and amount of the filler, etc.

상기 자외선 경화형 점착제층의 23℃ 에 있어서의 자외선 조사 전의 저장 탄성률 G' 는 점탄성 스펙트로미터 (예를 들어, DVA-200, 아이티 계측 제어사 제조) 를 사용하여, 정속 승온 전단 모드, 승온 속도 10 ℃/분, 주파수 10 Hz 의 조건에서 저장 탄성률을 측정함으로써 구할 수 있다.The storage elastic modulus G' of the above-mentioned UV-curable pressure-sensitive adhesive layer at 23°C before UV irradiation can be obtained by measuring the storage elastic modulus using a viscoelasticity spectrometer (e.g., DVA-200, manufactured by IT Instrumentation and Control Co., Ltd.) under the conditions of constant-rate heating shear mode, a heating rate of 10°C/min, and a frequency of 10 Hz.

상기 자외선 경화형 점착제층의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 하한이 5 ㎛, 상한이 100 ㎛ 인 것이 바람직하다. 상기 자외선 경화형 점착제층의 두께가 상기 범위이면 충분한 점착력으로 피착체를 보호할 수 있고, 또한 박리시의 풀 잔류를 억제할 수도 있다. 점착력을 더욱 향상시킴과 함께 박리시의 풀 잔류를 더욱 억제하는 관점에서, 상기 자외선 경화형 점착제층의 두께의 보다 바람직한 하한은 10 ㎛, 보다 바람직한 상한은 60 ㎛ 이다.The thickness of the above-described ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer is not particularly limited, but is preferably a lower limit of 5 μm and an upper limit of 100 μm. When the thickness of the above-described ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer is within the above range, the adherend can be protected with sufficient adhesive strength, and also the adhesive residue upon peeling can be suppressed. From the viewpoint of further improving the adhesive strength and further suppressing the adhesive residue upon peeling, the more preferable lower limit of the thickness of the above-described ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer is 10 μm, and the more preferable upper limit is 60 μm.

본 발명의 점착 테이프는 상기 기재 필름의 상기 자외선 경화형 점착제층이 적층하고 있는 면과는 반대측의 면에 점착제층을 갖는 것이 바람직하다.It is preferable that the adhesive tape of the present invention has an adhesive layer on a surface opposite to the surface on which the ultraviolet-curable adhesive layer of the base film is laminated.

본 발명의 점착 테이프가 기재 필름의 편면에 자외선 경화형 점착제층을 갖고, 다른 한쪽의 면에 점착제층을 가진 양면 점착 테이프임으로써, 양면 점착 테이프를 개재하여 유리 등의 지지체와 피착체를 접착할 수 있기 때문에, 지지체를 사용한 반도체 디바이스의 제조 공정을 실시할 수 있다.Since the adhesive tape of the present invention is a double-sided adhesive tape having an ultraviolet-curable adhesive layer on one side of a base film and an adhesive layer on the other side, a support such as glass and an adherend can be bonded through the double-sided adhesive tape, and therefore a process for manufacturing a semiconductor device using the support can be performed.

상기 점착제층을 구성하는 점착제는 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 아크릴계 점착제, 실리콘계 점착제, 우레탄계 점착제 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 내열성이 우수하다는 점에서 아크릴계 또는 실리콘계 점착제가 바람직하다.The adhesive constituting the above adhesive layer is not particularly limited, and examples thereof include acrylic adhesives, silicone adhesives, and urethane adhesives. Among these, acrylic or silicone adhesives are preferable because they have excellent heat resistance.

또, 상기 점착제층을 구성하는 점착제로서 상기 서술한 바와 같은 자외선 경화형 점착제를 사용할 수도 있다. 상기 자외선 경화형 점착제를 사용함으로써, 충분한 점착력으로 지지체를 유지할 수 있고, 지지체가 투명 지지체인 경우에는 첩부 후에 상기 자외선 경화형 점착제로 이루어지는 점착제층을 경화시킴으로써, 고온 처리가 행해지는 경우에도 지지체를 유지할 수 있다. 또, 지지체가 불필요해진 후에는 용이하게 지지체를 제거할 수 있다.In addition, as the adhesive constituting the adhesive layer, the ultraviolet-curable adhesive described above can be used. By using the ultraviolet-curable adhesive, the support can be maintained with sufficient adhesive strength, and when the support is a transparent support, the support can be maintained even when high-temperature processing is performed by curing the adhesive layer made of the ultraviolet-curable adhesive after attachment. In addition, the support can be easily removed after the support becomes unnecessary.

상기 점착제층은 자극에 의해 기체를 발생시키는 기체 발생제를 함유하는 것이 바람직하다.It is preferable that the above adhesive layer contains a gas generating agent that generates gas upon stimulation.

상기 점착제층이 기체 발생제를 함유함으로써, 공정 종료 후에 자극을 주어 기체를 발생시킴으로써, 용이하게 지지체와 점착 테이프를 박리할 수 있다.Since the above adhesive layer contains a gas generating agent, the support and the adhesive tape can be easily separated by stimulating the gas to be generated after the process is completed.

상기 기체 발생제는 상기 자외선 경화형 점착제층의 기체 발생제와 동일한 것을 사용할 수 있다.The above gas generator may be the same as the gas generator of the above ultraviolet-curable adhesive layer.

상기 점착제층의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 하한이 5 ㎛, 상한이 30 ㎛ 인 것이 바람직하다. 상기 점착제층의 두께가 상기 범위이면 충분한 점착력으로 지지체와 접착할 수 있다. 지지체와의 접착력을 더욱 높이는 관점에서, 상기 점착제층의 두께의 보다 바람직한 하한은 10 ㎛, 보다 바람직한 상한은 20 ㎛ 이다.The thickness of the above adhesive layer is not particularly limited, but is preferably 5 ㎛ in the lower limit and 30 ㎛ in the upper limit. When the thickness of the above adhesive layer is within the above range, it can be adhered to the support with sufficient adhesive strength. From the viewpoint of further increasing the adhesive strength with the support, the more preferable lower limit of the thickness of the above adhesive layer is 10 ㎛, and the more preferable upper limit is 20 ㎛.

상기 점착제층은 광 증감제, 가소제, 수지, 계면 활성제, 왁스, 미립자 충전제 등의 공지된 첨가제를 함유해도 된다. 이들 첨가제는 단독으로 사용되어도 되고, 복수를 조합하여 사용해도 된다.The above adhesive layer may contain known additives such as a photosensitizer, a plasticizer, a resin, a surfactant, a wax, or a fine particle filler. These additives may be used alone or in combination.

본 발명의 점착 테이프는 상기 기재 필름과 상기 자외선 경화형 점착제층 사이에 앵커층을 가지고 있어도 된다.The adhesive tape of the present invention may have an anchor layer between the substrate film and the ultraviolet-curable adhesive layer.

상기 기재 필름과 상기 자외선 경화형 점착제층 사이에 앵커층을 가지면 자외선 경화형 점착제층에 실리콘 또는 불소 화합물이 포함되는 경우에, 실리콘 또는 불소 화합물이 기재 필름측으로 블리드 아웃하여 자외선 경화형 점착제층이 기재 필름으로부터 박리되어 버리는 것을 억제할 수 있다.If an anchor layer is provided between the above-described base film and the above-described ultraviolet-curable adhesive layer, when the ultraviolet-curable adhesive layer contains a silicone or fluorine compound, the silicone or fluorine compound can be prevented from bleeding out toward the base film side, thereby preventing the ultraviolet-curable adhesive layer from being peeled off from the base film.

상기 앵커층으로는 예를 들어, 아크릴계 점착제, 우레탄계 점착제 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 앵커 성능이 우수하다는 점에서 아크릴계 점착제가 바람직하다.Examples of the anchor layer include acrylic adhesives, urethane adhesives, etc. Among them, acrylic adhesives are preferable because of their superior anchoring performance.

상기 앵커층은 필요에 따라, 무기 충전제, 열안정제, 산화 방지제, 대전 방지제, 가소제, 수지, 계면 활성제, 왁스 등의 공지된 첨가제를 함유해도 된다. 이들 첨가제는 단독으로 사용되어도 되고, 복수를 조합하여 사용해도 된다.The above anchor layer may contain known additives such as inorganic fillers, heat stabilizers, antioxidants, antistatic agents, plasticizers, resins, surfactants, waxes, etc., as needed. These additives may be used alone or in combination.

상기 앵커층의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 바람직한 하한은 1 ㎛, 바람직한 상한은 30 ㎛ 이다. 상기 앵커층의 두께가 이 범위 내이면, 상기 자외선 경화형 점착제층과 기재 필름의 앵커력을 보다 향상시킬 수 있다. 상기 자외선 경화형 점착제층과 기재 필름의 앵커력을 더욱 향상시키는 관점에서, 상기 앵커층의 두께의 보다 바람직한 하한은 3 ㎛, 보다 바람직한 상한은 10 ㎛ 이다.The thickness of the anchor layer is not particularly limited, but a preferable lower limit is 1 ㎛, and a preferable upper limit is 30 ㎛. When the thickness of the anchor layer is within this range, the anchoring force of the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer and the base film can be further improved. From the viewpoint of further improving the anchoring force of the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer and the base film, a more preferable lower limit of the thickness of the anchor layer is 3 ㎛, and a more preferable upper limit is 10 ㎛.

본 발명의 점착 테이프를 제조하는 방법은 특별히 한정되지 않고, 종래 공지된 방법을 사용할 수 있다. 예를 들어, 이형 처리를 실시한 필름 위에 상기 자외선 경화형 점착제 성분의 용액을 도공, 건조시켜 자외선 경화형 점착제층을 형성하고, 기재 필름과 첩합함으로써 제조할 수 있다. 또, 본 발명의 점착 테이프가 상기 점착제층을 갖는 경우에는 상기 점착제층을 구성하는 점착제의 용액을 사용하여, 상기 자외선 경화형 점착제층과 동일한 방법으로 점착제층을 형성하고, 기재 필름의 상기 자외선 경화형 점착제층이 첩합된 면과는 반대측의 면에 첩합함으로써 제조할 수 있다.The method for manufacturing the adhesive tape of the present invention is not particularly limited, and a conventionally known method can be used. For example, the adhesive tape can be manufactured by coating a solution of the above-described ultraviolet-curable adhesive component on a film that has undergone a release treatment, drying the solution to form an ultraviolet-curable adhesive layer, and bonding the same to a base film. In addition, when the adhesive tape of the present invention has the above-described adhesive layer, the adhesive layer can be manufactured by forming the adhesive layer using a solution of an adhesive constituting the above-described adhesive layer in the same manner as the above-described ultraviolet-curable adhesive layer, and bonding the same to a surface of the base film opposite to the surface on which the above-described ultraviolet-curable adhesive layer is bonded.

본 발명의 점착 테이프의 용도는 특별히 한정되지 않지만, 고온 또한 압력이 가해지는 가혹한 환경에서 사용한 경우에도 피착체를 보호하여 풀 잔류 없이 박리가 가능하기 때문에, 전자 부품의 제조에 있어서 웨이퍼나 반도체 칩 등을 보호하기 위한 보호 테이프로서 특히 바람직하게 사용할 수 있다.The use of the adhesive tape of the present invention is not particularly limited, but since it protects an adherend and can be peeled off without leaving any adhesive residue even when used in a harsh environment where high temperatures and pressures are applied, it can be particularly preferably used as a protective tape for protecting wafers, semiconductor chips, etc. in the manufacture of electronic components.

이와 같은 전자 부품을 제조하는 방법으로서 예를 들어, 다음과 같은 전자 부품의 제조 방법을 들 수 있다. 즉, 본 발명의 점착 테이프를, 자외선 경화형 점착제층으로부터 기판에 첩부하는 기판 첩부 공정과, 자외선을 조사하여 상기 자외선 경화형 점착제층을 경화시키는 경화 공정과, 상기 기판을 260 ℃ 이상의 고온에서 처리하는 열처리 공정과, 상기 기판을 본 발명의 점착 테이프로부터 박리하는 박리 공정을 이 순서로 포함하는 방법이다.As a method for manufacturing such an electronic component, the following method for manufacturing an electronic component can be given. That is, the method includes, in this order, a substrate attachment step of attaching the adhesive tape of the present invention to a substrate from an ultraviolet-curable adhesive layer, a curing step of curing the ultraviolet-curable adhesive layer by irradiating it with ultraviolet rays, a heat treatment step of treating the substrate at a high temperature of 260° C. or higher, and a peeling step of peeling the substrate from the adhesive tape of the present invention.

또, 본 발명의 일 실시 양태인 상기 기재 필름의 상기 자외선 경화형 점착제층이 적층하고 있는 면과는 반대측의 면에 점착제층을 갖는 점착 테이프를 사용한, 다음과 같은 전자 부품의 제조 방법도 들 수 있다. 즉, 점착 테이프를, 자외선 경화형 점착제층으로부터 기판에 첩부하는 기판 첩부 공정과, 상기 점착제층 상에 지지체를 첩부하는 지지체 첩부 공정과, 자외선을 조사하여 상기 자외선 경화형 점착제층을 경화시키는 경화 공정과, 상기 기판을 260 ℃ 이상의 고온에서 처리하는 열처리 공정과, 상기 기판을 점착 테이프로부터 박리하는 박리 공정을 이 순서로 포함하는 방법이다. 또, 점착 테이프를, 자외선 경화형 점착제층으로부터 기판에 첩부하는 기판 첩부 공정과, 자외선을 조사하여 상기 자외선 경화형 점착제층을 경화시키는 경화 공정과, 상기 점착제층 상에 지지체를 첩부하는 지지체 첩부 공정과, 상기 기판을 260 ℃ 이상의 고온에서 처리하는 열처리 공정과, 상기 기판을 점착 테이프로부터 박리하는 박리 공정을 이 순서로 포함하는 방법이다.In addition, the following method for manufacturing an electronic component may be exemplified, which uses an adhesive tape having an adhesive layer on a surface opposite to the surface on which the ultraviolet-curable adhesive layer of the base film, which is an embodiment of the present invention, is laminated. That is, the method includes, in this order, a substrate attaching step of attaching the adhesive tape to a substrate from the ultraviolet-curable adhesive layer, a support attaching step of attaching a support onto the adhesive layer, a curing step of curing the ultraviolet-curable adhesive layer by irradiating it with ultraviolet rays, a heat treatment step of treating the substrate at a high temperature of 260°C or higher, and a peeling step of peeling the substrate from the adhesive tape. In addition, the method includes, in this order, a substrate attachment process of attaching an adhesive tape to a substrate from an ultraviolet-curable adhesive layer, a curing process of curing the ultraviolet-curable adhesive layer by irradiating it with ultraviolet rays, a support attachment process of attaching a support onto the adhesive layer, a heat treatment process of treating the substrate at a high temperature of 260°C or higher, and a peeling process of peeling the substrate from the adhesive tape.

상기 기판은 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 실리콘 웨이퍼, 반도체 웨이퍼, 반도체 칩 등을 들 수 있다.The above substrate is not particularly limited, and examples thereof include a silicon wafer, a semiconductor wafer, a semiconductor chip, etc.

상기 지지체는 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 유리, 폴리이미드 필름, 유리 에폭시 기판 등을 들 수 있다.The support is not particularly limited, and examples thereof include glass, polyimide film, glass epoxy substrate, etc.

상기 260 ℃ 이상의 고온에서 처리하는 열처리 공정의 온도 상한은 특별히 한정되지 않고, 예를 들어 400 ℃, 바람직하게는 300 ℃ 이다.The upper temperature limit of the heat treatment process at a high temperature of 260°C or higher is not particularly limited, and is, for example, 400°C, preferably 300°C.

상기 260 ℃ 이상의 고온에서 처리하는 열처리 공정은 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 기판 제조 공정, 칩 마운트 공정, 열 압착 본딩 공정, 리플로 공정 등을 들 수 있다. 보다 구체적으로는 예를 들어, 점착 테이프가 수십초 ~ 1 분간 정도 260 ℃ 이상으로 가열되는 열 압착 본딩 공정 또는 리플로 공정 등을 들 수 있다.The heat treatment process at a high temperature of 260° C. or higher is not particularly limited, and examples thereof include a substrate manufacturing process, a chip mounting process, a thermal compression bonding process, a reflow process, etc. More specifically, examples thereof include a thermal compression bonding process or a reflow process in which an adhesive tape is heated to 260° C. or higher for several tens of seconds to 1 minute.

본 발명에 의하면, 260 ℃ 에 이르는 고온 처리를 수반하는 공정에 사용한 경우에도 피착체를 보호하고, 또한 풀 잔류 없이 박리할 수 있는 점착 테이프를 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide an adhesive tape that protects an adherend and can be peeled off without leaving any residue even when used in a process involving high-temperature treatment up to 260°C.

이하에 실시예를 들어 본 발명의 양태를 더욱 상세하게 설명하겠지만, 본 발명은 이들 실시예에만 한정되는 것은 아니다.The embodiments of the present invention will be described in more detail below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

(실시예 1)(Example 1)

(자외선 경화형 점착제 A 의 제조)(Manufacture of UV-curable adhesive A)

온도계, 교반기, 냉각관을 구비한 반응기를 준비하고, 이 반응기 내에, (메트)아크릴산알킬에스테르로서 2-에틸헥실아크릴레이트 94 중량부, 관능기 함유 모노머로서 메타크릴산하이드록시에틸 6 중량부, 라우릴메르캅탄 0.01 중량부와, 아세트산에틸 80 중량부를 첨가한 후, 반응기를 가열하여 환류를 개시하였다. 계속해서, 상기 반응기 내에, 중합 개시제로서 1,1-비스(t-헥실퍼옥시)-3,3,5-트리메틸시클로헥산 0.01 중량부를 첨가하고, 환류하에서 중합을 개시시켰다. 다음으로, 중합 개시부터 1 시간 후 및 2 시간 후에도, 1,1-비스(t-헥실퍼옥시)-3,3,5-트리메틸시클로헥산을 0.01 중량부씩 첨가하고, 또한, 중합 개시부터 4 시간 후에 t-헥실퍼옥시피발레이트를 0.05 중량부 첨가하여 중합 반응을 계속시켰다. 그리고, 중합 개시부터 8 시간 후에, 고형분 55 중량%, 중량 평균 분자량 60 만의 관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머의 아세트산에틸 용액을 얻었다.A reactor equipped with a thermometer, a stirrer, and a condenser was prepared, and 94 parts by weight of 2-ethylhexylacrylate as a (meth)acrylic acid alkyl ester, 6 parts by weight of hydroxyethyl methacrylate as a functional group-containing monomer, 0.01 part by weight of lauryl mercaptan, and 80 parts by weight of ethyl acetate were added into the reactor, and then the reactor was heated to initiate reflux. Subsequently, 0.01 part by weight of 1,1-bis(t-hexylperoxy)-3,3,5-trimethylcyclohexane as a polymerization initiator was added into the reactor, and polymerization was initiated under reflux. Next, 0.01 part by weight of 1,1-bis(t-hexylperoxy)-3,3,5-trimethylcyclohexane was added 1 hour and 2 hours after the initiation of polymerization, and further, 0.05 part by weight of t-hexylperoxypivalate was added 4 hours after the initiation of polymerization to continue the polymerization reaction. Then, 8 hours after the initiation of polymerization, an ethyl acetate solution of a functional group-containing (meth)acrylic polymer having a solid content of 55 wt% and a weight average molecular weight of 600,000 was obtained.

얻어진 관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머를 포함하는 아세트산에틸 용액의 수지 고형분 100 중량부에 대해, 관능기 함유 불포화 화합물로서 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트 3.5 중량부를 첨가하고 반응시켜 중합성 폴리머 (아크릴 폴리머) A 를 얻었다. 그 후, 얻어진 아크릴 폴리머 A 의 아세트산에틸 용액의 수지 고형분 100 중량부에 대해, 이형제 (실리콘) 20 중량부, 필러 3 중량부, 우레탄아크릴레이트 10 중량부, 가교제 0.2 중량부, 광 중합 개시제 1 중량부를 혼합하고, 자외선 경화형 점착제 A 의 아세트산에틸 용액을 얻었다. 또한, 이형제 (실리콘), 필러, 우레탄아크릴레이트, 가교제, 광 중합 개시제는 이하의 것을 사용하였다.To 100 parts by weight of the resin solid content of the ethyl acetate solution containing the obtained functional group-containing (meth)acrylic polymer, 3.5 parts by weight of 2-isocyanatoethyl methacrylate as a functional group-containing unsaturated compound was added and reacted to obtain a polymerizable polymer (acrylic polymer) A. Thereafter, to 100 parts by weight of the resin solid content of the ethyl acetate solution of the obtained acrylic polymer A, 20 parts by weight of a release agent (silicone), 3 parts by weight of a filler, 10 parts by weight of a urethane acrylate, 0.2 parts by weight of a crosslinking agent, and 1 part by weight of a photopolymerization initiator were mixed, to obtain an ethyl acetate solution of an ultraviolet-curable adhesive A. In addition, the release agent (silicone), filler, urethane acrylate, crosslinking agent, and photopolymerization initiator were used as follows.

이형제(실리콘) : 실리콘 디아크릴레이트, EBECRYL 350, 다이셀·올넥스사 제조, 중량 평균 분자량 1000Release agent (silicon): Silicone diacrylate, EBECRYL 350, manufactured by Daicel Allnex, weight average molecular weight 1000

필러 : 실리카 필러, 레오로실 MT-10, 토쿠야마사 제조Filler: Silica filler, Leorosil MT-10, manufactured by Tokuyama

우레탄아크릴레이트 : UN-5500, 네가미 공업사 제조Urethane acrylate: UN-5500, manufactured by Negami Industries, Ltd.

가교제 : 이소시아네이트계 가교제, 콜로네이트 L, 일본 우레탄 공업사 제조Crosslinking agent: Isocyanate crosslinking agent, Coronate L, manufactured by Nippon Urethane Industry Co., Ltd.

광 중합 개시제 : 에사큐어 원, 일본 시베르헤그너사 제조Photopolymerization initiator: Esacure One, manufactured by Siberhegner, Japan

(점착제층용 점착제 A 의 제조)(Manufacture of adhesive A for adhesive layer)

자외선 경화형 점착제 A 의 제조에서 얻어진 아크릴 폴리머 A 의 아세트산에틸 용액의 수지 고형분 100 중량부에 대해, 이형제 (실리콘) 10 중량부, 필러 12 중량부, 우레탄아크릴레이트 20 중량부, 가교제 1.2 중량부, 광 중합 개시제 1 중량부, 기체 발생제 10 중량부를 혼합하고, 점착제층용 점착제 A 의 아세트산에틸 용액을 얻었다. 또한, 이형제 (실리콘), 필러, 우레탄아크릴레이트, 가교제 및 광 중합 개시제는 자외선 경화형 점착제의 제조와 동일한 것을 사용하였다. 기체 발생제는 하기 식 (A) 로 나타내는 비스테트라졸 화합물의 염을 사용하였다.In the production of an ultraviolet-curable adhesive A, 10 parts by weight of a release agent (silicone), 12 parts by weight of a filler, 20 parts by weight of a urethane acrylate, 1.2 parts by weight of a crosslinking agent, 1 part by weight of a photopolymerization initiator, and 10 parts by weight of a gas generator were mixed with 100 parts by weight of a resin solid content of an ethyl acetate solution of an acrylic polymer A, to obtain an ethyl acetate solution of an adhesive A for an adhesive layer. In addition, the release agent (silicone), the filler, the urethane acrylate, the crosslinking agent, and the photopolymerization initiator were the same as those used in the production of the ultraviolet-curable adhesive. The gas generator used was a salt of a bistetrazole compound represented by the following formula (A).

Figure 112021015760185-pct00001
Figure 112021015760185-pct00001

(앵커층용 점착제의 제조)(Manufacture of adhesive for anchor layer)

아크릴 폴리머의 아세트산에틸 용액의 수지 고형분 100 중량부에 대해, 필러 12 중량부, 가교제 5 중량부를 혼합하고, 앵커층용 점착제의 아세트산에틸 용액을 얻었다. 또한, 아크릴 폴리머, 필러, 가교제는 이하의 것을 사용하였다.For 100 parts by weight of the resin solid content of an ethyl acetate solution of an acrylic polymer, 12 parts by weight of a filler and 5 parts by weight of a crosslinking agent were mixed to obtain an ethyl acetate solution of an adhesive for an anchor layer. In addition, the acrylic polymer, filler, and crosslinking agent used were as follows.

아크릴 폴리머 : SK 다인 1604N, 소켄 화학사 제조Acrylic polymer: SK Dyne 1604N, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.

필러 : 실리카 필러, 레오로실 MT-10, 토쿠야마사 제조Filler: Silica filler, Leorosil MT-10, manufactured by Tokuyama

가교제 : 이소시아네이트계 가교제, 콜로네이트 L, 일본 우레탄 공업사 제조Crosslinking agent: Isocyanate crosslinking agent, Coronate L, manufactured by Nippon Urethane Industry Co., Ltd.

(점착 테이프의 제조)(Manufacture of adhesive tape)

두께 50 ㎛ 의 이형 처리가 실시된 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET) 필름의 이형 처리면 상에, 얻어진 자외선 경화형 점착제 A 의 아세트산에틸 용액을, 건조 후에 점착제층의 두께가 130 ㎛ 가 되도록 도공한 후, 100 ℃ 에서 10 분간 건조시켜 자외선 경화형 점착제층을 형성하였다.An ethyl acetate solution of the obtained ultraviolet-curable adhesive A was applied onto the release-treated surface of a polyethylene terephthalate (PET) film having a thickness of 50 ㎛, so that the thickness of the adhesive layer became 130 ㎛ after drying, and then dried at 100° C. for 10 minutes to form an ultraviolet-curable adhesive layer.

한편, 또 다른 두께 50 ㎛ 의 이형 처리가 실시된 PET 필름의 이형 처리면 상에, 얻어진 점착제층용 점착제 A 의 아세트산에틸 용액을, 건조 후에 점착제층의 두께가 20 ㎛ 가 되도록 도공한 후, 110 ℃ 에서 5 분간 건조시켜 점착제층을 형성하였다.Meanwhile, an ethyl acetate solution of the adhesive A for the adhesive layer was applied onto the release-treated surface of another 50 ㎛-thick PET film so that the thickness of the adhesive layer became 20 ㎛ after drying, and then dried at 110°C for 5 minutes to form an adhesive layer.

또 다른 두께 50 ㎛ 의 이형 처리가 실시된 PET 필름의 이형 처리 면 상에, 얻어진 앵커층용 점착제의 아세트산에틸 용액을, 건조 후에 점착제층의 두께가 10 ㎛ 가 되도록 도공한 후, 110 ℃ 에서 5 분간 건조시켜 앵커층을 형성하였다.An ethyl acetate solution of the obtained anchor layer adhesive was applied onto the release-treated surface of a PET film having another thickness of 50 ㎛ so that the thickness of the adhesive layer became 10 ㎛ after drying, and then dried at 110° C. for 5 minutes to form an anchor layer.

이어서, 양면에 코로나 처리가 실시된 두께 25 ㎛ 의 나일론 9T (유니아미드, 유니티카사 제조) 로 이루어지는 필름 (나일론 9T 필름) 을 기재 필름으로서 준비하고, 나일론 9T 필름의 편면에 제작한 앵커층을 라미네이트하고, PET 필름을 박리하여 기재 필름 위에 앵커층을 형성하였다. 그 후, 나일론 9T 필름의 앵커층을 형성한 면 상에 얻어진 자외선 경화형 점착제층을 첩합하고, 나일론 9T 필름의 앵커층을 형성한 면과는 반대측의 면 상에 얻어진 점착제층을 첩합하여 자외선 경화형 점착제층/앵커층/기재 필름/점착제층의 구조를 갖는 점착 테이프를 얻었다.Next, a film (nylon 9T film) made of nylon 9T (Uniamid, manufactured by Unitica) having a thickness of 25 ㎛ and subjected to corona treatment on both sides was prepared as a base film, an anchor layer formed on one side of the nylon 9T film was laminated, and the PET film was peeled off to form an anchor layer on the base film. Thereafter, the obtained ultraviolet-curable adhesive layer was bonded to the side of the nylon 9T film on which the anchor layer was formed, and the obtained adhesive layer was bonded to the side of the nylon 9T film opposite to the side on which the anchor layer was formed, to obtain an adhesive tape having a structure of ultraviolet-curable adhesive layer/anchor layer/base film/adhesive layer.

(기재 필름의 자외선 투과율의 측정)(Measurement of UV transmittance of substrate film)

분광 광도계 (U-3900, 히타치 제작소사 제조) 를 사용하여 기재 필름의 405 ㎚ 에 있어서의 자외선의 투과율을 측정하였다.The ultraviolet transmittance of the substrate film at 405 nm was measured using a spectrophotometer (U-3900, manufactured by Hitachi, Ltd.).

(Ef (270) 의 측정)(Measurement of Ef (270))

기재 필름을 5 × 35 ㎜ 의 치수로, 장변이 기재 필름 제조시의 흐름 방향과 동일해지도록 타발날을 사용하여 타발함으로써, 측정 샘플을 얻었다. 얻어진 측정 샘플을 액체 질소에 침지하고 -50 ℃ 까지 냉각시키고, 그 후, 점탄성 스펙트로미터 (DVA-200, 아이티 계측 제어사 제조) 를 사용하여, 정속 승온 인장 모드, 승온 속도 10 ℃/분, 주파수 10 Hz 의 조건에서 인장 탄성률의 측정을 실시하여, 기재 필름의 270 ℃ 에 있어서의 인장 탄성률을 측정하였다.A measurement sample was obtained by punching out a substrate film with dimensions of 5 × 35 mm using a punching blade so that the long side was the same as the flow direction during the manufacture of the substrate film. The obtained measurement sample was immersed in liquid nitrogen and cooled to -50°C, and then the tensile modulus was measured using a viscoelastic spectrometer (DVA-200, manufactured by IT Instrumentation and Control Co., Ltd.) under the conditions of constant temperature-rise tensile mode, a heating rate of 10°C/min, and a frequency of 10 Hz, to measure the tensile modulus of the substrate film at 270°C.

(자외선 조사 전의 저장 탄성률 G'의 측정)(Measurement of storage modulus G' before UV irradiation)

자외선 경화형 점착제층에 대해, 점탄성 스펙트로미터 (DVA-200, 아이티 계측 제어사 제조) 를 사용하여, 정속 승온 전단 모드, 승온 속도 10 ℃/분, 주파수 10 Hz 의 조건에서 저장 탄성률의 측정을 실시하여, 자외선 조사 전의 자외선 경화형 점착제층의 23 ℃ 에 있어서의 저장 탄성률 G' 를 구하였다.For the UV-curable pressure-sensitive adhesive layer, the storage modulus was measured using a viscoelastic spectrometer (DVA-200, manufactured by IT Instrumentation and Control Co., Ltd.) under the conditions of constant-rate heating shear mode, heating rate of 10°C/min, and frequency of 10 Hz, and the storage modulus G' of the UV-curable pressure-sensitive adhesive layer at 23°C before UV irradiation was obtained.

(자외선 조사 후의 겔분율의 측정)(Measurement of gel fraction after UV irradiation)

고압 수은 자외선 조사기를 사용하여, 405 ㎚ 의 자외선을 얻어진 점착 테이프의 기재 필름측으로부터 점착 테이프 표면에 대한 적산 강도가 3000 mJ/㎠ 가 되도록 조사하여 자외선 경화형 점착제층을 가교, 경화시켰다. 이어서, 경화 후의 자외선 경화형 점착제층만을 0.1 g 떼어내어 아세트산에틸 50 ml 속에 침지하고, 진탕기로 온도 23 도, 120 rpm 의 조건에서 24 시간 진탕하였다 (이하, 떼어낸 자외선 경화형 점착제층을 점착제 조성물이라고 한다). 진탕 후, 금속 메시 (눈금 간격 #200 메시) 를 사용하여, 아세트산에틸과 아세트산에틸을 흡수하여 팽윤한 점착제 조성물을 분리하였다. 분리 후의 점착제 조성물을 110 ℃ 의 조건하에서 1 시간 건조시켰다. 건조 후의 금속 메시를 포함하는 점착제 조성물의 중량을 측정하고, 하기 식을 사용하여 자외선 조사 후의 겔분율을 산출하였다.Using a high-pressure mercury ultraviolet irradiator, 405 nm ultraviolet ray was irradiated from the base film side of the obtained adhesive tape so that the accumulated intensity with respect to the surface of the adhesive tape became 3000 mJ/cm2 to crosslink and harden the ultraviolet-curable adhesive layer. Next, only 0.1 g of the cured ultraviolet-curable adhesive layer was removed, immersed in 50 ml of ethyl acetate, and shaken for 24 hours under the conditions of a temperature of 23 degrees and 120 rpm using a shaker (hereinafter, the removed ultraviolet-curable adhesive layer is referred to as an adhesive composition). After shaking, ethyl acetate and the adhesive composition that had absorbed ethyl acetate and swelled were separated using a metal mesh (measurement interval #200 mesh). The separated adhesive composition was dried under the condition of 110 degrees Celsius for 1 hour. The weight of the adhesive composition including the metal mesh after drying was measured, and the gel fraction after ultraviolet irradiation was calculated using the following formula.

겔분율 (%) = 100 × (W1-W2)/W0 Gel fraction (%) = 100 × (W 1 -W 2 )/W 0

(W0 : 초기 점착제 조성물 중량, W1 : 건조 후의 금속 메시를 포함하는 점착제 조성물 중량, W2 : 금속 메시의 초기 중량)(W 0 : initial adhesive composition weight, W 1 : adhesive composition weight including metal mesh after drying, W 2 : initial weight of metal mesh)

(Et (270) 의 측정)(Measurement of Et (270))

고압 수은 자외선 조사기를 사용하여, 405 ㎚ 의 자외선을 얻어진 점착 테이프의 기재 필름측으로부터 점착 테이프 표면에 대한 적산 강도가 3000 mJ/㎠ 가 되도록 조사하여 자외선 경화형 점착제층을 가교, 경화시켰다. 이어서, 장변이 점착 테이프 제조시의 흐름 방향과 동일해지도록 타발날을 사용하여 타발함으로써, 5 ㎜ × 35 ㎜ 의 시험편을 제작하였다. 얻어진 시험편을 액체 질소에 침지하여 -50 ℃ 까지 냉각시키고, 그 후, 점탄성 스펙트로미터 (DVA-200, 아이티 계측 제어사 제조) 를 사용하여, 정속 승온 인장 모드, 승온 속도 10 ℃/분, 주파수 10 Hz 의 조건에서 300 ℃ 까지 승온시켜 인장 탄성률을 측정하였다. 이 때의 온도 X ℃ 에 있어서의 인장 탄성률 (E') 의 값을 Et (X) 로 하였다. 즉, 온도 270 ℃ 에 있어서의 인장 탄성률 (E') 의 값을 Et (270) 로 하였다.Using a high-pressure mercury ultraviolet irradiator, 405 nm ultraviolet ray was irradiated from the base film side of the obtained adhesive tape so that the accumulated intensity with respect to the surface of the adhesive tape became 3000 mJ/cm2 to crosslink and harden the ultraviolet-curable adhesive layer. Then, a punching blade was used to punch out pieces so that the long side was the same as the flow direction during the production of the adhesive tape, thereby producing a 5 mm × 35 mm test piece. The obtained test piece was immersed in liquid nitrogen and cooled to -50 °C, and thereafter, using a viscoelasticity spectrometer (DVA-200, manufactured by IT Instrumentation and Control Co., Ltd.), the temperature was increased to 300 °C under the conditions of constant temperature-rise tensile mode, a heating rate of 10 °C/min, and a frequency of 10 Hz, and the tensile modulus was measured. The value of the tensile modulus (E') at the temperature X °C at this time was taken as Et (X). That is, the value of the tensile elastic modulus (E') at a temperature of 270 ℃ was set to Et (270).

(Et (270)/Et (200) 의 산출)(Production of Et (270)/Et (200))

얻어진 점착 테이프에 대해 Et (270) 와 동일한 방법으로, 200 ℃ 에 있어서의 점착 테이프의 인장 탄성률 (Et (200)) 을 측정하였다. 얻어진 Et (270) 및 Et (200) 의 결과로부터 Et (270)/Et (200) 를 산출하였다.For the obtained adhesive tape, the tensile modulus (Et (200)) of the adhesive tape at 200°C was measured in the same manner as for Et (270). From the results of the obtained Et (270) and Et (200), Et (270)/Et (200) was calculated.

(중량 감소율의 측정)(Measurement of weight loss rate)

고압 수은 자외선 조사기를 사용하여, 405 ㎚ 의 자외선을 얻어진 점착 테이프의 기재 필름측으로부터 점착 테이프 표면에 대한 적산 강도가 3000 mJ/㎠ 가 되도록 조사하여 자외선 경화형 점착제층을 가교, 경화시켰다. 이어서, 점착 테이프를 φ5 ㎜ 의 원상으로 타발하여 측정 샘플을 얻었다. 얻어진 측정 샘플의 중량을 측정하고, 시차열 열중량 동시 측정 장치 (TG-DTA ; STA7200, 히타치 하이테크 사이언스사 제조) 를 사용하여 승온 속도 5 ℃/min 로 25 ℃ 에서 280 ℃ 까지 승온한 후 10 분간 홀드했을 때의 중량 감소량을 측정하였다. 가열 전후의 중량으로부터 중량 감소율을 산출하였다.Using a high-pressure mercury ultraviolet irradiator, 405 nm ultraviolet ray was irradiated from the base film side of the obtained adhesive tape so that the accumulated intensity with respect to the surface of the adhesive tape became 3000 mJ/cm2 to crosslink and harden the ultraviolet-curable adhesive layer. Next, the adhesive tape was stamped into a φ5 mm circle to obtain a measurement sample. The weight of the obtained measurement sample was measured, and the weight loss when the temperature was increased from 25 ℃ to 280 ℃ at a heating rate of 5 ℃/min and then held for 10 minutes was measured using a differential thermal gravimetric measurement device (TG-DTA; STA7200, manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd.). The weight loss rate was calculated from the weight before and after heating.

(실시예 2 ~ 10, 비교예 1 ~ 4)(Examples 2 to 10, Comparative Examples 1 to 4)

기재 필름의 재료 및 두께, 자외선 경화형 점착제층의 조성을 표 1 과 같이 변경한 것 이외에는 실시예 1 과 동일하게 하여 점착 테이프를 얻고, 각 측정을 실시하였다. 각 재료의 상세를 이하에 나타냈다. 또한, 실시예 5 에서는 이하에 나타내는 자외선 경화형 점착제 B 를 사용하였다.Except that the material and thickness of the substrate film and the composition of the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive layer were changed as shown in Table 1, an adhesive tape was obtained and each measurement was performed in the same manner as in Example 1. The details of each material are shown below. In addition, in Example 5, the ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesive B shown below was used.

(1) 기재 필름의 재료(1) Material of the substrate film

엑스피크 : 방향족 폴리에테르에테르케톤, 쿠라보사 제조Xpeak: Aromatic polyetheretherketone, manufactured by Kurabo Corporation

유피렉스 : 비페닐테트라카르복실산 2 무수물과 p-페닐렌디아민의 공중합체, 우베코산사 제조Uprex: Copolymer of biphenyltetracarboxylic acid dianhydride and p-phenylenediamine, manufactured by Ubecosan Co., Ltd.

토르세나 : 특수 폴리에스테르, 쿠라보사 제조Torsena: Special polyester, manufactured by Kurabo

카프톤 : 무수 피로메트산과 디아미노디페닐에테르의 공중합체, 도레이·듀퐁사 제조Kapton: Copolymer of anhydrous pyromet acid and diaminodiphenyl ether, manufactured by Toray and DuPont.

(2) 자외선 경화형 점착제 B(2) UV-curable adhesive B

(자외선 경화형 점착제 B 의 제조)(Manufacture of UV-curable adhesive B)

온도계, 교반기, 냉각관을 구비한 반응기를 준비하고, 이 반응기 내에, (메트)아크릴산알킬에스테르로서 2-에틸헥실아크릴레이트 94 중량부, 관능기 함유 모노머로서 메타크릴산하이드록시에틸 6 중량부, 라우릴메르캅탄 0.01 중량부와 아세트산에틸 80 중량부를 첨가한 후, 반응기를 가열하여 환류를 개시하였다. 계속해서, 상기 반응기 내에, 중합 개시제로서 1,1-비스(t-헥실퍼옥시)-3,3,5-트리메틸시클로헥산 0.01 중량부를 첨가하여 환류하에서 중합을 개시시켰다. 다음으로, 중합 개시부터 1 시간 후 및 2 시간 후에도, 1,1-비스(t-헥실퍼옥시)-3,3,5-트리메틸시클로헥산을 0.01 중량부씩 첨가하고, 나아가, 중합 개시부터 4 시간 후에 t-헥실퍼옥시피발레이트를 0.05 중량부 첨가하여 중합 반응을 계속시켰다. 그리고, 중합 개시부터 8 시간 후에, 고형분 55 중량%, 중량 평균 분자량 60 만의 관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머의 아세트산에틸 용액을 얻었다.A reactor equipped with a thermometer, a stirrer, and a condenser was prepared, and 94 parts by weight of 2-ethylhexylacrylate as a (meth)acrylic acid alkyl ester, 6 parts by weight of hydroxyethyl methacrylate as a functional group-containing monomer, 0.01 parts by weight of lauryl mercaptan, and 80 parts by weight of ethyl acetate were added into the reactor, and then the reactor was heated to initiate reflux. Subsequently, 0.01 parts by weight of 1,1-bis(t-hexylperoxy)-3,3,5-trimethylcyclohexane as a polymerization initiator was added into the reactor to initiate polymerization under reflux. Next, 0.01 part by weight of 1,1-bis(t-hexylperoxy)-3,3,5-trimethylcyclohexane was added 1 hour and 2 hours after the initiation of polymerization, and further, 0.05 part by weight of t-hexylperoxypivalate was added 4 hours after the initiation of polymerization to continue the polymerization reaction. Then, 8 hours after the initiation of polymerization, an ethyl acetate solution of a functional group-containing (meth)acrylic polymer having a solid content of 55 wt% and a weight average molecular weight of 600,000 was obtained.

얻어진 관능기 함유 (메트)아크릴계 폴리머를 포함하는 아세트산에틸 용액의 수지 고형분 100 중량부에 대해, 관능기 함유 불포화 화합물로서 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트 1.0 중량부를 첨가하고 반응시켜 중합성 폴리머 (아크릴 폴리머) B 를 얻었다. 그 후, 얻어진 아크릴 폴리머 B 의 아세트산에틸 용액의 수지 고형분 100 중량부에 대해, 이형제 (실리콘) 20 중량부, 필러 3 중량부, 우레탄아크릴레이트 10 중량부, 가교제 0.2 중량부, 광 중합 개시제 1 중량부를 혼합하여 자외선 경화형 점착제 B 의 아세트산에틸 용액을 얻었다. 또한, 이형제 (실리콘), 필러, 우레탄아크릴레이트, 가교제, 광 중합 개시제는 자외선 경화형 점착제 A 와 동 종류의 것을 사용하였다.To 100 parts by weight of the resin solid content of the ethyl acetate solution containing the obtained functional group-containing (meth)acrylic polymer, 1.0 parts by weight of 2-isocyanatoethyl methacrylate as a functional group-containing unsaturated compound was added and reacted to obtain a polymerizable polymer (acrylic polymer) B. Thereafter, to 100 parts by weight of the resin solid content of the ethyl acetate solution of the obtained acrylic polymer B, 20 parts by weight of a release agent (silicone), 3 parts by weight of a filler, 10 parts by weight of a urethane acrylate, 0.2 parts by weight of a crosslinking agent, and 1 part by weight of a photopolymerization initiator were mixed to obtain an ethyl acetate solution of an ultraviolet-curable adhesive B. In addition, the release agent (silicone), filler, urethane acrylate, crosslinking agent, and photopolymerization initiator were of the same type as those used in the ultraviolet-curable adhesive A.

(3) 그 외(3) Other

광 증감제 : KAYACURE DETX-S, 닛폰 화약사 제조Photosensitive agent: KAYACURE DETX-S, manufactured by Nippon Chemical Co., Ltd.

<평가><Evaluation>

실시예 및 비교예에서 얻은 점착 테이프에 대해, 이하의 방법에 의해 평가를 실시하였다. 결과를 표 1 에 나타냈다.The adhesive tapes obtained in the examples and comparative examples were evaluated by the following method. The results are shown in Table 1.

(내열성의 평가)(Evaluation of heat resistance)

직경 20 ㎝ 의 원형으로 절단한 점착 테이프의 자외선 경화형 점착제층측을 직경 20 ㎝, 두께 약 750 ㎛ 의 실리콘 웨이퍼에 첩부하였다. 이어서, 점착 테이프의 점착제층측을 직경 20 ㎝, 두께 0.6 ㎜ 의 유리 웨이퍼 (Tempax, SCHOTT 사 제조) 에 첩부하였다. 첩부 후, 필터에 의해 365 ㎚ 이하의 파장을 컷한 상태로, 유리 웨이퍼면측으로부터 405 ㎚ 의 파장의 자외광을 자외선 경화형 점착제층에 대한 적산 강도가 3000 mJ/㎠ 가 되도록 조사하여, 자외선 경화형 점착제층 및 점착제층을 가교, 경화시켰다. 얻어진 실리콘 웨이퍼/점착 테이프/유리 웨이퍼의 적층체를 280 ℃ 로 설정된 핫 플레이트 (NINOS ND-3H, AZONE 사 제조) 위에 실리콘 웨이퍼 측을 아래로 하여 올리고 점착 테이프의 박리가 발생할 때까지의 시간을 측정하였다.The UV-curable adhesive layer side of an adhesive tape cut into a circle with a diameter of 20 cm was attached to a silicon wafer with a diameter of 20 cm and a thickness of approximately 750 ㎛. Next, the adhesive layer side of the adhesive tape was attached to a glass wafer (Tempax, manufactured by SCHOTT) with a diameter of 20 cm and a thickness of 0.6 mm. After attachment, ultraviolet light having a wavelength of 405 nm was irradiated from the glass wafer surface side with wavelengths of 365 nm or less cut off by a filter so that the accumulated intensity with respect to the UV-curable adhesive layer became 3000 mJ/cm2, thereby crosslinking and curing the UV-curable adhesive layer and the adhesive layer. The resulting silicon wafer/adhesive tape/glass wafer laminate was placed with the silicon wafer side down on a hot plate (NINOS ND-3H, manufactured by AZONE) set to 280°C, and the time until peeling of the adhesive tape occurred was measured.

(박리성의 평가)(Evaluation of peelability)

점착 테이프의 자외선 경화형 점착제층측과 직경 20 ㎝, 두께 약 750 ㎛ 의 실리콘 웨이퍼를 첩합하고, 나아가, 점착제층측을 직경 20 ㎝, 두께 0.6 ㎜ 의 유리 웨이퍼에 첩부하여 적층체를 얻었다. 이어서, 고압 수은 자외선 조사기를 사용하여, 405 ㎚ 의 자외선을 점착 테이프의 점착 테이프 표면에 대한 조사 강도가 100 ㎽/㎠ 가 되도록 조도를 조절하고, 유리 웨이퍼 측으로부터 30 초간 조사하여, 자외선 경화형 점착제층 및 점착제층을 가교, 경화시켰다. 그 후, 적층체를 280 ℃ 로 설정된 핫 플레이트 위에 실리콘 웨이퍼 측을 아래로 하여 올리고 10 분간의 열처리를 실시하여 방랭하였다.The ultraviolet-curable adhesive layer side of the adhesive tape and a silicon wafer having a diameter of 20 cm and a thickness of approximately 750 ㎛ were bonded together, and further, the adhesive layer side was bonded to a glass wafer having a diameter of 20 cm and a thickness of 0.6 mm, to obtain a laminate. Next, using a high-pressure mercury ultraviolet irradiator, 405 nm ultraviolet ray was irradiated from the glass wafer side for 30 seconds at an illuminance adjusted so that the irradiation intensity to the adhesive tape surface of the adhesive tape was 100 mW/cm2, so as to crosslink and harden the ultraviolet-curable adhesive layer and the adhesive layer. Thereafter, the laminate was placed with the silicon wafer side down on a hot plate set to 280°C, heat treated for 10 minutes, and then allowed to cool.

방랭 후, 점착 테이프를 실리콘 웨이퍼로부터 박리하였다. 박리시에 점착 테이프를 용이하게 박리할 수 있었던 경우를 「○」, 박리할 수 없었던 경우를 「×」로 하여 박리성을 평가하였다. 또한, 점착 테이프가 10 분 이내에 박리되었을 경우, 박리된 단계에서 열처리를 멈추고 방랭한 후의 박리성을 평가하였다.After cooling, the adhesive tape was peeled from the silicon wafer. The peelability was evaluated by marking “○” when the adhesive tape could be easily peeled off during peeling, and “×” when it could not be peeled off. In addition, when the adhesive tape was peeled off within 10 minutes, the heat treatment was stopped at the peeled stage, and the peelability after cooling was evaluated.

(풀 잔류의 평가)(Evaluation of full residual)

박리성의 평가에 있어서 점착 테이프 박리 후의 실리콘 웨이퍼를 광학 현미경으로 관찰하여, 풀 잔류한 면적이 실리콘 웨이퍼 전체의 5 % 미만이었을 경우를 「◎」, 5 % 이상 20 % 미만이었을 경우를 「○」, 20 % 이상 50 % 미만이었을 경우를 「△」, 50 % 이상이었을 경우를 「×」로 하여 풀 잔류를 평가하였다.In evaluating the peelability, the silicon wafer after peeling of the adhesive tape was observed with an optical microscope, and the area where the adhesive residue was less than 5% of the entire silicon wafer was evaluated as “◎”, 5% or more but less than 20% was evaluated as “○”, 20% or more but less than 50% was evaluated as “△”, and 50% or more was evaluated as “×”.

(열 압착시의 박리성의 평가)(Evaluation of peelability during thermal compression)

직경 20 ㎝ 의 원형으로 절단한 점착 테이프의 자외선 경화형 점착제층측을 직경 20 ㎝, 두께 50 ㎛ 의 범프 부착 실리콘 웨이퍼 (범프 직경 φ = 20 ㎛, 범프간 거리 30 ㎛, 범프 높이 45 ㎛) 의 범프가 형성된 면에 첩부하였다. 이어서, 점착 테이프의 점착제층측을 직경 20 ㎝, 두께 0.6 ㎜ 의 유리 웨이퍼 (Tempax, SCHOTT 사 제조) 에 첩부하였다. 첩부 후, 필터에 의해 365 ㎚ 이하의 파장을 컷한 상태로, 유리 웨이퍼면측으로부터 405 ㎚ 의 파장의 자외광을 자외선 경화형 점착제층에 대한 적산 강도가 3000 mJ/㎠ 가 되도록 조사하여 자외선 경화형 점착제층 및 점착제층을 가교, 경화시켰다. 얻어진 실리콘 웨이퍼/점착 테이프/유리 웨이퍼의 적층체를 200 ℃ 로 설정된 오븐에서 유리 웨이퍼측을 아래로 하여 1 시간 정치하고, 가열 처리를 하였다.The UV-curable adhesive layer side of the adhesive tape cut into a circle having a diameter of 20 cm was attached to a surface on which bumps were formed, a silicon wafer with a bump attachment having a diameter of 20 cm and a thickness of 50 ㎛ (bump diameter φ = 20 ㎛, distance between bumps 30 ㎛, bump height 45 ㎛). Next, the adhesive layer side of the adhesive tape was attached to a glass wafer (Tempax, manufactured by SCHOTT) having a diameter of 20 cm and a thickness of 0.6 mm. After attachment, ultraviolet light having a wavelength of 405 nm was irradiated from the glass wafer surface side with wavelengths of 365 nm or less cut off by a filter so that the accumulated intensity with respect to the UV-curable adhesive layer became 3000 mJ/cm2, thereby crosslinking and curing the UV-curable adhesive layer and the adhesive layer. The obtained silicon wafer/adhesive tape/glass wafer laminate was placed in an oven set to 200°C with the glass wafer side facing down for 1 hour and then heat-treated.

가열 처리 후, 상온으로 돌아온 적층체의 실리콘 웨이퍼 위에, 플립 칩 본더 (FC6000, 시바우라 메카트로닉스사 제조) 를 사용하여 두께 50 ㎛ 의 단결정 실리콘박 웨이퍼 칩을 적층하였다. 구체적으로는 80 ℃ 로 설정된 SUS 스테이지 상에, 실리콘 웨이퍼면이 위가 되도록 적층체를 흡착시키고, 단결정 실리콘박 웨이퍼 칩 (9.8 ㎜ × 9.8 ㎜, 두께 50 ㎛, 표면 조도 0.1 ㎛ 미만, 두께 25 ㎛ 의 접합 필름 부착) 을, 헤드 사이즈 10 ㎜ × 10 ㎜ 의 세라믹 툴을 사용하여 적층하였다. 적층시의 헤드 온도는 280 ℃ 로 하고, 압력은 300 N, 적층 시간은 90 초로 하였다.After heat treatment, a 50 ㎛ thick single crystal silicon foil wafer chip was laminated on the silicon wafer of the laminated body which had returned to room temperature using a flip chip bonder (FC6000, manufactured by Shibaura Mechatronics Co., Ltd.). Specifically, the laminated body was adsorbed on a SUS stage set to 80 ℃ with the silicon wafer side facing upward, and the single crystal silicon foil wafer chip (9.8 mm × 9.8 mm, 50 ㎛ thick, surface roughness less than 0.1 ㎛, with a bonding film having a thickness of 25 ㎛ attached) was laminated using a ceramic tool having a head size of 10 mm × 10 mm. The head temperature during lamination was 280 ℃, the pressure was 300 N, and the lamination time was 90 seconds.

단결정 실리콘박 웨이퍼 칩의 적층 후, 점착 테이프를 실리콘 웨이퍼로부터 박리하였다. 박리시에 점착 테이프를 용이하게 박리할 수 있었던 경우를 「○」, 박리할 수 없었던 경우를 「×」로 하여 열 압착시의 박리성을 평가하였다.After laminating the single crystal silicon wafer chips, the adhesive tape was peeled off from the silicon wafer. When the adhesive tape could be easily peeled off during peeling, it was marked as “○”, and when it could not be peeled off, it was marked as “×”, and the peelability during thermal compression was evaluated.

(열 압착시의 풀 잔류의 평가)(Evaluation of glue residue during heat pressing)

열 압착시의 박리성의 평가에 있어서 점착 테이프 박리 후의 실리콘 웨이퍼를 광학 현미경으로 관찰하였다. 500 ㎛ 사방의 범위에 존재하는 범프 중 풀 잔류하고 있는 범프가 5 % 이하였을 경우를 「◎」, 5 % 보다 많고 20 % 이하였을 경우를 「○」, 20 % 보다 많고 50 % 이하였을 경우를 「△」, 50 % 보다 많았던 경우를 「×」로 하여 열 압착시의 풀 잔류를 평가하였다.In evaluating the peelability during thermal compression, the silicon wafer after peeling of the adhesive tape was observed with an optical microscope. When the percentage of bumps with glue residue among those existing in a 500 ㎛ square area was 5% or less, it was marked as "◎", when it was more than 5% but less than 20%, it was marked as "○", when it was more than 20% but less than 50%, it was marked as "△", and when it was more than 50%, it was marked as "×", and the percentage was evaluated as "◎".

Figure 112021015760185-pct00002
Figure 112021015760185-pct00002

산업상 이용가능성Industrial applicability

본 발명에 의하면, 260 ℃ 에 이르는 고온 처리를 수반하는 공정에 사용한 경우에도 피착체를 보호하고, 또한, 풀 잔류 없이 박리할 수 있는 점착 테이프를 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide an adhesive tape that protects an adherend even when used in a process involving high-temperature treatment up to 260°C, and further, can be peeled off without leaving any residue.

Claims (11)

기재 필름과 상기 기재 필름의 편면에 적층된 자외선 경화형 점착제층을 갖는 점착 테이프로서,
상기 자외선 경화형 점착제층은 실리콘 또는 불소 화합물을 함유하고,
상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후의 상기 자외선 경화형 점착제층의 겔분율이 90 % 이상이며,
상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 상기 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후의 점착 테이프의 X ℃ 에 있어서의 인장 탄성률을 Et (X) 로 했을 때, Et (270) 의 값이 1.0 × 107 Pa 이상인, 점착 테이프.
An adhesive tape having a substrate film and an ultraviolet-curable adhesive layer laminated on one side of the substrate film,
The above ultraviolet-curable adhesive layer contains a silicone or fluorine compound,
The gel fraction of the UV-curable adhesive layer is 90% or more after irradiating the surface of the substrate film side of the adhesive tape with 405 nm UV rays at 3000 mJ/cm2,
An adhesive tape, wherein when the tensile elastic modulus of the adhesive tape at X ℃ is represented by Et (X) after irradiating the surface of the substrate film side of the adhesive tape with 3000 mJ/cm2 of 405 nm ultraviolet rays, the value of Et (270) is 1.0 × 10 7 Pa or more.
제 1 항에 있어서,
상기 기재 필름의 405 ㎚ 의 자외선 투과율이 1 % 이상인, 점착 테이프.
In paragraph 1,
An adhesive tape having an ultraviolet ray transmittance of 405 nm of the above-described film of 1% or more.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
Et (270)/Et (200) 의 값이 0.1 이상인, 점착 테이프.
In claim 1 or 2,
An adhesive tape having an Et (270)/Et (200) value of 0.1 or greater.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 기재 필름의 X ℃ 에 있어서의 인장 탄성률을 Ef (X) 로 했을 때, Ef (270) 의 값이 5.0 × 107 Pa 이상인, 점착 테이프.
In claim 1 or 2,
An adhesive tape, wherein the tensile modulus of the above-mentioned film at X ℃ is Ef (X), and the value of Ef (270) is 5.0 × 10 7 Pa or more.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 점착 테이프의 상기 기재 필름측의 표면에 상기 405 ㎚ 의 자외선을 3000 mJ/㎠ 조사한 후, 25 ℃ 에서 5 ℃/min 의 속도로 280 ℃ 까지 승온시키고, 승온 후 10 분간 홀드했을 때의 중량 감소율이 5 % 이하인, 점착 테이프.
In claim 1 or 2,
An adhesive tape, wherein the weight reduction rate when the surface of the substrate film side of the adhesive tape is irradiated with 3000 mJ/cm2 of 405 nm ultraviolet rays, the temperature is increased from 25°C to 280°C at a rate of 5°C/min, and the tape is held for 10 minutes after the temperature increase is increased is 5% or less.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 기재 필름은 아미드, 이미드, 에테르 및 케톤으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 반복 단위의 주사슬 골격 중에 갖는 수지를 함유하는, 점착 테이프.
In claim 1 or 2,
The above-mentioned adhesive tape comprises a resin having at least one selected from the group consisting of amides, imides, ethers and ketones in the main chain skeleton of repeating units.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 기재 필름은 탄소수가 4 이상 12 이하인 장사슬 알킬기 또는 방향족을 반복 단위의 주사슬 골격 중에 갖는 폴리아미드 수지를 함유하는, 점착 테이프.
In claim 1 or 2,
The above-mentioned film is an adhesive tape containing a polyamide resin having a long-chain alkyl group or aromatic group having 4 to 12 carbon atoms in the main chain skeleton of the repeating unit.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 자외선 경화형 점착제층은 분자 내에 라디칼 중합성의 불포화 결합을 갖는 (메트)아크릴산알킬에스테르계의 중합성 폴리머 및 중합 개시제를 함유하고,
상기 실리콘 또는 불소 화합물은 상기 중합성 폴리머와 가교 가능한 관능기를 갖는, 점착 테이프.
In claim 1 or 2,
The above ultraviolet-curable adhesive layer contains a polymerizable polymer of (meth)acrylic acid alkyl ester type having a radical polymerizable unsaturated bond in the molecule and a polymerization initiator,
An adhesive tape wherein the silicone or fluorine compound has a functional group capable of crosslinking with the polymerizable polymer.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 기재 필름의 상기 자외선 경화형 점착제층이 적층되어 있는 면과는 반대측의 면에 점착제층을 갖는, 점착 테이프.
In claim 1 or 2,
An adhesive tape having an adhesive layer on a surface opposite to the surface on which the ultraviolet-curable adhesive layer of the above-mentioned substrate film is laminated.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
전자 부품을 제조하기 위해서 사용되는, 점착 테이프.
In claim 1 or 2,
Adhesive tape used to manufacture electronic components.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 자외선 경화형 점착제층은, 추가로, 필러를 함유하는, 점착 테이프.
In claim 1 or 2,
An adhesive tape wherein the above ultraviolet-curable adhesive layer additionally contains a filler.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115917706A (en) * 2020-09-23 2023-04-04 积水化学工业株式会社 Temporary fixing material and method for manufacturing electronic component
JPWO2022071150A1 (en) * 2020-10-02 2022-04-07
WO2023243488A1 (en) * 2022-06-13 2023-12-21 日東電工株式会社 Adhesive sheet for provisional fixation of electronic component

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011078193A1 (en) 2009-12-22 2011-06-30 古河電気工業株式会社 Adhesive tape for protecting surface of semiconductor wafer

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2601956B2 (en) 1991-07-31 1997-04-23 リンテック株式会社 Removable adhesive polymer
JP2007070432A (en) * 2005-09-06 2007-03-22 Nitto Denko Corp Pressure-sensitive adhesive sheet and method of processing product using the pressure-sensitive adhesive sheet
JP2009057469A (en) * 2007-08-31 2009-03-19 Sekisui Chem Co Ltd Surface protective film
JP4318743B1 (en) * 2008-10-07 2009-08-26 昭和高分子株式会社 Ultraviolet curable removable pressure-sensitive adhesive composition and pressure-sensitive adhesive sheet using the same
EP2617793B1 (en) * 2010-09-16 2020-08-05 Sekisui Chemical Co., Ltd. Pressure-sensitive adhesive compound, pressure-sensitive adhesive tape, and wafer treatment method
JP5367903B2 (en) * 2012-03-19 2013-12-11 古河電気工業株式会社 Adhesive tape for semiconductor wafer surface protection
TWI615453B (en) * 2012-12-10 2018-02-21 Nitto Denko Corp Cutting strip integrated type bonding sheet, manufacturing method of semiconductor device using dicing tape integrated type bonding sheet, and semiconductor device
JP2014189778A (en) * 2013-03-28 2014-10-06 Lintec Corp Double-sided tacky sheet and coiled body
JP6261115B2 (en) * 2013-09-19 2018-01-17 日東電工株式会社 Adhesive sheet
JP5718515B1 (en) * 2014-01-23 2015-05-13 古河電気工業株式会社 Adhesive tape for protecting semiconductor wafer surface and method for processing semiconductor wafer
JP6364200B2 (en) * 2014-02-07 2018-07-25 積水化学工業株式会社 Adhesive tape for electronic parts, method for producing electronic parts, and method for producing image sensors
KR101886939B1 (en) * 2014-03-03 2018-08-08 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 Adhesive tape for semiconductor processing
JP6632324B2 (en) * 2015-10-28 2020-01-22 リンテック株式会社 Adhesive sheet and semiconductor device manufacturing method
JP6802029B2 (en) * 2016-10-07 2020-12-16 積水化学工業株式会社 Semiconductor protective tape
JP2018150521A (en) * 2017-03-10 2018-09-27 積水化学工業株式会社 Surface protective tape
JP6832784B2 (en) * 2017-04-24 2021-02-24 デンカ株式会社 Adhesive tape for stealth dicing and manufacturing method of semiconductor chips using it

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011078193A1 (en) 2009-12-22 2011-06-30 古河電気工業株式会社 Adhesive tape for protecting surface of semiconductor wafer

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