KR101976703B1

KR101976703B1 - 검사용 소켓 및 도전성 입자

Info

Publication number: KR101976703B1
Application number: KR1020170110660A
Authority: KR
Inventors: 정영배
Original assignee: 주식회사 아이에스시
Priority date: 2017-08-31
Filing date: 2017-08-31
Publication date: 2019-05-09
Anticipated expiration: 2037-08-31
Also published as: WO2019045426A1; TW201920973A; CN111051894B; TWI708065B; CN111051894A; KR20190024070A

Abstract

본 발명은 검사용 소켓 및 도전성 입자에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스와 검사장치 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 검사용 소켓에 있어서, 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 마련되고 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 상하방향으로 배열되어 있는 복수의 도전부; 및 상기 복수의 도전부 사이에 마련되고 각각의 도전부를 지지하면서 도전부를 서로 전기적으로 절연시키는 절연성 지지부;를 포함하되, 상기 도전성 입자 중 적어도 하나는, 금속소재로 이루어지며 도전성 입자의 외형을 구성하는 몸체부와, 일부는 상기 몸체부 내에 고정되고 나머지 일부는 상기 몸체부로부터 돌출되며, 도전부를 구성하는 탄성 절연물질과 접촉되어 상기 탄성 절연물질과 견고하게 결합되는 다수의 실리카 미립자를 포함하는 검사용 소켓에 대한 것이다.

Description

검사용 소켓 및 도전성 입자{Test socket and conductive particle}

본 발명은 검사용 소켓 및 도전성 입자에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 검사과정에서 도전성 입자가 도전부로부터 이탈되는 것을 방지하는 검사용 소켓 및 도전성 입자에 대한 것이다.

일반적으로 검사용 소켓은, 제조된 피검사 디바이스의 불량여부를 판단하기 위한 검사과정에서 사용되는 것이다. 즉, 제조된 피검사 디바이스는 불량여부를 판단하기 위하여 소정의 전기적 검사를 수행하게 되는데, 이때 검사가 요구되는 피검사 디바이스와 검사를 위한 검사장치는 서로 직접 접촉되는 것이 아니라 검사용 소켓을 통하여 간접적으로 접속되게 된다. 그 이유는 검사를 위한 검사장치는 비교적 고가이기 때문에 빈번한 피검사 디바이스와의 접촉으로 인한 마모 또는 손상시 교체가 용이하지 않고 교체비용이 많이 들기 때문이다. 이에 따라 검사용 소켓은 검사장치의 상측에 교체가능하게 장착되고 상기 피검사 디바이스는 검사장치가 아닌 검사용 소켓과 접촉함으로서 상기 검사장치와 전기적으로 연결되게 된다. 따라서, 검사장치로부터 나오는 검사신호는 상기 검사용 소켓을 통하여 상기 피검사 디바이스로 전달되게 되는 것이다.

이러한 검사용 소켓은, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 피검사 디바이스(140)와 검사장치(130)의 사이에 배치되어 피검사 디바이스(140)의 단자(141)와 검사장치(130)의 패드(131)를 서로 전기적으로 연결시키는 검사용 소켓에 있어서, 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 배치되고 두께방향으로의 도전성을 나타내는 도전부로서, 상기 도전부(110)는 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자(111)가 두께방향으로 배열되어 배치되는 도전부(110); 및 상기 각각의 도전부(110)를 지지하면서 절연시키는 절연성 지지부(120)를 포함하여 구성된다. 이때, 상기 검사용 소켓(100)은 검사장치(130)에 탑재된 상태에서 검사장치(130)의 패드(131)와 상기 도전부(110)가 서로 접촉되어 있으며, 피검사 디바이스(140)는 검사용 소켓(100)의 도전부(110)에 접촉될 수 있도록 구성된다.

인서트에 의하여 이동되어 오는 피검사용 디바이스(140)는 상기 검사용 소켓(100)의 도전부(110)에 접촉됨으로서, 상기 검사용 소켓(100)에 안착되고, 이후에 검사장치(130)로부터 소정의 전기적인 신호가 인가되면 그 신호는 검사용 소켓(100)을 거쳐서 피검사용 디바이스(140)로 전달됨으로서 소정의 전기적인 검사가 수행된다.

한편, 검사용 소켓의 도전부는 절연물질 내부에 다수의 도전성 입자가 배열되어 구성되는데, 이때 피검사 디바이스의 단자가 빈번하게 상기 도전부에 접촉된다. 이와 같이 피검사 디바이스의 단자가 빈번하게 도전부에 접촉되면 절연물질 내에 분포되어 있는 도전성 입자는 쉽게 외부로 이탈될 수 있다. 특히, 도전성 입자는 구형으로 이루어지게 되는데, 이와 같이 구형의 도전성 입자는 쉽게 절연물질로부터 이탈되게 된다. 이와 같이 도전성 입자가 이탈되는 경우에는 전체적인 도전성능을 저해하게 되고 이에 따라서 전체적인 검사의 신뢰성에 영향을 미치게 되는 단점이 있다.

이러한 문제점을 해결하기 위하여 본 출원인에 의하여 출원되어 등록된 대한민국 등록특허 1339166호(2013. 12. 9. 공고)에는 도전성 입자에 관통공을 형성하고 상기 관통공에 주변 탄성 절연물질이 충전되도록 하여 도전성 입자가 도전부에서 이탈을 방지하는 기술이 개시되어 있다.

이러한 종래기술은 구형 도전성 입자에 비해서 도전부에서 이탈이 방지되는 효과가 있으나, 기본적으로 도전성을 가지면서 금속소재로 이루어진 도전성 입자와, 상기 도전성 입자 주변을 감싸는 실리콘 고무로 이루어진 탄성 절연물질 사이의 소재의 차이로 인하여 계면에서의 접착력이 약하다는 단점까지 극복하지 못하고 있다.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 더욱 상세하게는 도전성 입자가 주변 탄성 절연물질과 견고할 결합력을 유지하여 검사과정에서도 전도성을 일정하게 유지할 수 있는 검사용 소켓 및 도전성 입자를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 검사용 소켓은, 피검사 디바이스와 검사장치 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 검사용 소켓에 있어서,

상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 마련되고 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 상하방향으로 배열되어 있는 복수의 도전부; 및

상기 복수의 도전부 사이에 마련되고 각각의 도전부를 지지하면서 도전부를 서로 전기적으로 절연시키는 절연성 지지부;를 포함하되,

상기 도전성 입자 중 적어도 하나는,

금속소재로 이루어지며 도전성 입자의 외형을 구성하는 몸체부와,

일부는 상기 몸체부 내에 고정되고 나머지 일부는 상기 몸체부로부터 돌출되며, 도전부를 구성하는 탄성 절연물질과 접촉되어 상기 탄성 절연물질과 견고하게 결합되는 다수의 실리카 미립자를 포함한다.

상기 검사용 소켓에서,

상기 실리카 미립자는 몸체부의 표면 전체에 걸쳐서 고르게 분포될 수 있다.

상기 검사용 소켓에서,

상기 도전부는 액상의 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열된 상태에서 경화되어 제조되고,

상기 실리카 미립자는 액상의 탄성 절연물질이 경화되는 과정에서 탄성 절연물질과의 강한 결합을 유도함으로서, 상기 도전성 입자가 탄성 절연물질로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다.

상기 검사용 소켓에서,

상기 몸체부는, 고도전성 금속과 자성체가 혼합되거나 고도전성 금속과 자성체가 물리적 또는 화학적으로 접촉하여 결합된 상태로 될 수 있다.

상기 검사용 소켓에서,

상기 몸체부에는 오목하게 패여지고 탄성 절연물질이 채워지는 다수의 오목부가 마련되어 있으며,

상기 오목부의 내면에 실리카 미립자가 고정돌출되어 상기 오목부 내의 탄성 절연물질과 견고하게 결합될 수 있다.

상기 도전성 입자 중 적어도 하나는,

일부는 상기 몸체부 내에 고정되고 나머지 일부는 상기 몸체부로부터 돌출되며 도전부를 구성하는 탄성 절연물질과 접촉되어, 상기 탄성 절연물질과 견고한 결합을 구성하는 다수의 고결합성 미립자를 포함하되,

상기 고결합성 미립자는, 상기 몸체부를 이루는 금속소재보다 탄성 절연물질에 접착되는 접착력이 높은 소재로 이루어진다.

상기 검사용 소켓에서,

상기 고결합성 미립자는, 탄산칼슘을 소재로 할 수 있다.

상기 검사용 소켓에서,

상기 고결합성 미립자는 몸체부의 표면 전체에 걸쳐서 고르게 분포될 수 있다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 도전성 입자는, 전기적 검사가 요구되는 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 마련되고 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 상하방향으로 배열되어 있는 복수의 도전부와, 상기 복수의 도전부 사이에 마련되어 각각의 도전부를 지지하면서 도전부를 서로 전기적으로 절연시키는 절연성 지지부;를 포함하는 검사용 소켓에 마련되는 도전성 입자에 있어서,

상기 도전부 내에 마련된 도전성 입자 중 적어도 하나는,

일부는 상기 몸체부 내에 고정되고 나머지 일부는 상기 몸체부로부터 돌출되며, 상기 탄성 절연물질과 접촉되어 상기 탄성 절연물질과 견고하게 결합되는 다수의 실리카 미립자를 포함한다.

상기 도전성 입자에서,

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 도전성 입자는,

피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 마련되고 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 상하방향으로 배열되어 있는 복수의 도전부와, 상기 복수의 도전부 사이에 마련되어 각각의 도전부를 지지하면서 도전부를 서로 전기적으로 절연시키는 절연성 지지부;를 포함하는 검사용 소켓에 마련되는 도전성 입자에 있어서,

상기 도전성 입자 중 적어도 하나는,

일부는 상기 몸체부 내에 고정되고 나머지 일부는 상기 몸체부로부터 돌출되며, 도전부를 구성하는 탄성 절연물질과 접촉되어 상기 탄성 절연물질과 견고하게 결합되는 다수의 고결합성 미립자를 포함하되,

상기 고결합성 미립자는, 상기 몸체부를 이루는 금속소재보다 탄성 절연물질에 접착력이 높은 소재로 이루어진다.

상기 도전성 입자는,

본 발명은 도전성 입자의 표면에 실리카 미립자가 마련되어 있어서 탄성 절연물질과의 강한 결합을 유도함으로서 검사과정에서 도전부가 압축되는 과정에서도 도전성 입자가 이탈되는 것을 방지하고, 이에 따라서 도전부의 도전성능을 일정하게 유지할 수 있는 장점이 있다.

도 1은 종래기술의 검사용 소켓을 나타내는 도면.
도 2는 도 1의 작동도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사용 소켓을 나타내는 도면.
도 4는 도 3의 검사용 소켓에 사용되는 도전성 입자를 나타내는 도면.
도 5 및 도 6은 본 발명의 검사용 소켓을 제조하는 방법을 나타내는 도면.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 도전성 입자를 나타내는 도면.

이하, 본 발명에 따른 검사용 소켓을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.

본 발명에 따른 검사용 소켓(10)은, 피검사 디바이스(60)와 검사장치(70) 사이에 배치되어 피검사 디바이스(60)의 단자(61)와 검사장치(70)의 패드(71)를 서로 전기적으로 연결시키는 것으로서, 도전부(20)와 절연성 지지부(30)를 포함하여 구성된다.

상기 도전부(20)는, 상기 피검사 디바이스(60)의 단자(61)와 대응되는 위치마다 다수개가 배치되는 것이다. 이러한 도전부(20)는 각각이 면방향으로 서로 이격되어 배치되어 있게 되며, 두께방향으로 도전성을 나타내고 두께방향과 직각인 면방향으로는 도전성을 나타내지 않는 것이다. 이러한 도전부(20)는 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자(21)가 두께방향으로 배열되어 배치된다. 상기 도전부(20)의 상면을 가압하게 되면 상기 도전부(20)는 두께방향으로 압축되면서 면방향으로 팽창된다.

상기 도전부(20)를 구성하는 탄성 절연물질은, 가교 구조를 갖는 고분자 물질이 바람직하다. 이러한 탄성 절연물질을 얻기 위해서 이용할 수 있는 경화성의 고분자 물질 형성 재료로서는, 여러가지 것을 사용할 수 있고, 그 구체예로서는, 폴리부타디엔 고무, 천연 고무, 폴리이소프렌 고무, 스티렌-부타디엔 공중합체 고무, 아크릴로니트릴-부타디엔 공중합체 고무 등의 공액 디엔계 고무 및 이들의 수소 첨가물, 스티렌-부타디엔-디엔 블록 공중합체 고무, 스티렌-이소프렌 블록 공중합체 등의 블록 공중합체 고무 및 이들 수소 첨가물, 클로로프렌 고무, 우레탄 고무, 폴리에스테르계 고무, 에피클로로히드린 고무, 실리콘 고무, 에틸렌-프로필렌 공중합체 고무, 에틸렌-프로필렌-디엔 공중합체 고무 등을 들 수 있다.

이상에 있어서, 얻어지는 도전부(20)에 내후성이 요구되는 경우에는, 공액 디엔계 고무 이외의 것을 이용하는 것이 바람직하고, 특히 성형 가공성 및 전기 특성 측면에서, 실리콘 고무를 이용하는 것이 바람직하다.

실리콘 고무로서는, 액상 실리콘 고무를 가교 또는 축합한 것이 바람직하다. 액상 실리콘 고무는, 그의 점도가 변형 속도 10^-1초에서 10⁵ 푸아즈 이하인 것이 바람직하고, 축합형의 것, 부가형의 것, 비닐기나 히드록실기를 함유하는 것 등 중의 어느 것일 수도 있다. 구체적으로는, 디메틸 실리콘 생고무, 메틸비닐실리콘 생고무, 메틸페닐비닐 실리콘 생고무 등을 들 수 있다.

도전성 입자(21)로서는, 전체적으로 전도성을 가지는 것으로서 도전부(20) 내에서 전기가 흐를 수 있도록 하는 기능을 수행한다. 상기 도전성 입자(21)는 다수개가 절연성 탄성물질 내에 함유되어 있게 된다.

이러한 도전성 입자(21)는 몸체부(21a)와, 실리카 미립자(21b)를 포함한다.

상기 몸체부(21a)는 금속소재로 이루어지며, 도전성 입자(21)의 전체적인 외형을 구성하는 것으로서 통상적인 구형상을 가질 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 기둥형, 별형, 비정형 등 다양한 형상을 가질 수 있다.

몸체부(21a)는 자성을 나타내는 소재가 이용된다. 이러한 자성을 나타내는 소재의 구체예로서는, 철(Fe), 코발트(Co), 니켈(Ni), 알니코, 페라이트, 네오디움(NdFeB), 사마륨(SmCo) 등의 자성을 갖는 금속의 입자 또는 이들의 합금의 입자 또는 이들 금속을 함유하는 입자, 또는 이들 입자를 코어 입자로 하여, 상기 코어 입자의 표면에 금, 은, 팔라듐, 로듐 등의 도전성이 양호한 금속의 도금을 실시한 것, 또는 비자성 금속 입자 또는 유리 비드 등의 무기 물질 입자 또는 중합체 입자를 코어 입자로 하여, 상기 코어 입자의 표면에 니켈, 코발트 등의 도전성 자성 금속의 도금을 실시한 것 등을 들 수 있다. 이 중에서는, 니켈 입자를 코어 입자로 하여, 그 표면에 도전성이 양호한 금의 도금을 실시한 것을 이용하는 것이 바람직하다.

또한, 몸체부(21a)는 자성을 나타내는 철, 코발트, 니켈 등의 자성체와, 금, 은, 구리 등의 고도전성 금속을 혼합한 합금과 더불어 자성체와 고도전성 금속이 물리적 또는 화학적으로 접촉하여 결합된 상태를 포함하는 것도 가능하다.

상기 실리카 미립자(21b)는, 몸체부(21a)보다 작은 크기를 가지며 알갱이 형상을 가지는 것으로서, 화학식을 SiO₂로 한다. 이러한 실리카 미립자(21b)는 금속소재에 비하여 탄성절연 물질을 구성하는 실리콘 고무와 결합력이 우수하다. 즉, 실리콘 고무와 계면에서의 접착력이 우수하여 결합되었을 때 쉽게 박리되지 않게 된다.

이러한 실리카 미립자(21b)는 몸체부(21a)의 표면에 일부는 파묻혀서 상기 몸체부(21a)에 견고하게 고정되고, 나머지 일부는 몸체부(21a)로부터 돌출되어 있게 된다. 몸체부(21a)로부터 돌출된 실리카 미립자(21b)는 탄성 절연물질과 접촉되면서 상기 탄성 절연물질과 견고한 결합을 이루게 된다. 이러한 실리카 미립자(21b)는 몸체부(21a)의 표면 전체에 걸쳐서 고르게 분포되어 있게 된다. 다만 도전성 입자(21)가 인접한 도전성 입자(21)와 표면에서 전기적 접촉이 가능하게 될 수 있도록 실리카 미립자(21b)가 완전하게 몸체부(21a) 표면을 덮고 있는 것은 아니며 각 실리카 미립자(21b)들이 서로 이격되어 있게 된다.

또한, 실리카 미립자(21b)의 성분 비율을 높이는 경우 전도성은 감소할 수 있으나 효율적인 성분비 조절을 통해 탄성 절연물질과의 접착력을 더욱더 향상시켜 검사용 소켓(10)의 수명을 높일 수 있다.

상기 절연성 지지부(30)는, 상기 각각의 도전부(20)를 지지하면서 도전부(20) 간에 전기가 흐르지 않도록 각각의 도전부(20)들을 절연시키는 것으로서, 상기 탄성 절연물질과 동일한 소재로 이루어질 수 있으며, 구체적으로는 실리콘 고무가 사용될 수 있다. 다만 이에 한정되는 것은 아니며 도전부(20)를 구성하는 탄성 절연물질과 다른 소재가 사용되는 것도 가능하다.

이러한 본 발명의 검사용 소켓(10)의 제조방법에 대하여 도 5 및 도 6을 참조하면서 설명한다.

먼저, 액상의 절연성 탄성물질 중에 자성을 나타내는 도전성 입자(21)를 분산시킴으로써 유동성의 성형재료를 제조하고, 도 5에 나타낸 바와 같이 이 성형재료를 금형의 캐비티 내에 충전함과 동시에, 프레임판(40)을, 상형 (50)의 강자성체층 (52)와 이에 대응하는 하형 (55)의 강자성체층 (57) 사이에 위치된 상태로 금형 내에 매설한다. 이어서, 상형 (50)에 있어서의 강자성체 기판 (51)의 상면 및 하형 (55)에 있어서의 강자성체 기판 (56)의 하면에, 예를 들면 한쌍의 전자석(도시 생략)을 배치하고, 상기 전자석을 작동시킴으로써, 강도 분포를 갖는 평행 자장, 즉 상형 (50)의 강자성체 부분 (52)과 이에 대응하는 하형 (55)의 강자성체 부분 (57) 사이에 큰 강도를 갖는 평행 자장을 성형재료의 두께 방향으로 작용시킨다.

그 결과, 성형재료(20A)에서는, 도 6에 나타낸 바와 같이 상기 성형재료층 (20A) 중에 분산되어 있던 도전성 입자(21)가, 상형 (50)의 강자성체 부분 (52)와 이에 대응하는 하형 (55)의 강자성체 부분 (57) 사이에 위치하는 도전부(20)가 되어야 할 부분에 집합하는 동시에, 상기 성형재료(20A)의 두께 방향으로 배열하도록 배향한다.

또한, 이 상태에 있어서, 성형재료(20A)를 경화 처리함으로써, 상형 (50)의 강자성체 부분 (52)와 이에 대응하는 하형 (55)의 강자성체 부분 (57) 사이에 배치된, 절연성 탄성물질 중에 도전성 입자(21)가 두께 방향으로 배열하도록 배향한 상태로 조밀하게 충전된 도전부(20)와, 이 도전부(20)의 주위에 도전성 입자(21)가 전혀 또는 거의 존재하지 않는 절연성 지지부(30)를 갖는 검사용 소켓(10)이 제조된다.

이와 같이 제조된 검사용 소켓(10)에서는, 실리카 미립자(21b)가 절연성 탄성물질의 경화과정에서 도전성 입자(21)와 강한 결합을 유도함으로서 피검사 디바이스(60)의 검사과정에서 도전부(20)가 압축되더라도 도전성 입자(21)간의 미끄러짐을 방지할 수 있게 된다.

또한, 도전성 입자(21)와 탄성 절연물질 간의 강한 결합으로 인하여 도전부(20)가 압축되는 과정에서도 단단한 결합을 유지하여 전도성을 일정하게 유지할 수 있게 된다.

또한, 실리카 미립자(21b)는 실리콘 고무와 같은 탄성 절연물질과 접착력이 크기 때문에 도전성 입자(21)가 도전부(20)로부터 이탈될 우려가 적고, 검사용 소켓(10)의 전체적인 수명을 향상시킬 수 있게 된다.

이러한, 본 발명의 일 실시예에 따른 검사용 소켓(10)은, 다음과 같은 작용효과 가진다.

먼저, 검사장치(70)에 검사용 소켓(10)을 안착시킨 후에, 피검사용 디바이스를 상기 검사용 소켓(10)에 안착시킨다. 이때, 상기 검사용 소켓(10)의 도전부(20)는 피검사용 디바이스의 단자(61)에 의하여 눌림에 의하여 전기적으로 도통가능한 상태에 놓이게 된다. 이때, 검사장치(70)로부터 소정의 전기적인 신호를 인가함에 따라서 상기 전기적인 신호는 도전부(20)를 통하여 피검사 디바이스(60)의 단자(61)로 전달되게 되고, 이에 따라서 소정의 검사가 수행될 수 있다.

이러한 본 발명의 검사용 소켓은, 도전성 입자에 마련된 실리콘 미립자가 도전성 입자와 탄성 절연물질인 실리콘 고무와의 견고한 결합을 유도함으로서 전도성을 일정하게 유지할 수 있게 하는 장점이 있다.

또한, 종래의 도전성 입자는 탄성 절연물질이 고온환경에서 팽창할 경우 도전성 입자 간의 접촉면이 항상 떨어지게 되는데 본 실시예에서 제시하는 실리카 ㅁ미립자가 부착된 도전성 입자는 실리카와 탄성 절연물질간의 강한 결합을 그대로 유지하고 있기 때문에 탄성 절연물질이 팽창하여도 도전성 입자 간의 접촉을 유지할 수 있어 고온 환경에서 더욱 안정적인 전기적 접촉을 유지할 수 있다.

또한, 본 발명에 따른 도전성 입자에서는 고도전성을 위해 몸체부 표면에 도금층을 형성하여도 실리카 미립자에는 도금이 되지 않기 때문에 실리카 미립자의 노출을 그대로 유지시킬 수 있다.

이러한 본 발명에 따른 검사용 소켓은 다음과 같이 변형되는 것도 가능하다.

본 발명의 도전성 입자는 실리카 미립자는 몸체부에 형성시키는 것을 예시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 몸체부를 구성하는 금속소재보다 탄성물질에 접착되는 접착력이 우수한 소재라면 다른 소재의 고결합성 미립자가 이용되는 것도 가능하다. 이러한 고결합성 미립자로는 탄산칼슘, 인산칼슘, 알루미나, 산화티타늄 등이 사용될 수 있다. 또한, 실리카 미립자와 탄산칼슘 미립자 등을 단독으로 사용하거나, 서로 다른 이종물질을 서로 혼합하여 몸체부에 형성시키는 것도 가능하다.

이와 같이 몸체부의 표면에 부착된 미립자는 고유의 성질을 그대로 가지고 있어서 탄성 절연물질과 접착력이 그대로 유지될 수 있게 된다.

또한, 상술한 실시예에서는 구형 몸체부 표면에 실리카 미립자가 형성되는 것을 예시하고 있으나, 도 7에 도시된 바와 같이 도전성 입자(21')의 몸체부(21a') 표면에 오목하게 패여진 오목부(22')가 다수 형성되고 상기 오목부(22') 내면까지 실리카 미립자(21b')가 형성되는 것도 가능하다. 즉, 탄성 절연물질이 오목하게 패여진 오목부(22')까지 채워져서 도전성 입자(21')와 탄성 절연물질 간의 견고한 결합이 가능하게 된 상태에서, 오목부(22')의 내면까지 실리카 미립자(21b')가 형성되어 있어서 보다 확실한 고정결합이 가능하게 되는 장점이 있게 된다.

이상에서 바람직한 실시예를 들어 본 발명을 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예들 및 변형예에 한정되는 것은 아니고 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다.

10...검사용 소켓 20...도전부
21...도전성 입자 21a...몸체부
21b...실리카 미립자 30...절연성 지지부
40...프레임판 50...상형
51...강자성체 기판 52...강자성체 부분
55...하형 56...강자성체 기판
57...강자성체 부분 60...피검사 디바이스
61...단자 70...검사장치
71...패드

Claims

피검사 디바이스와 검사장치 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 검사용 소켓에 있어서,
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 마련되고 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 상하방향으로 조밀하게 배열되어 있는 복수의 도전부; 및
상기 복수의 도전부 사이에 마련되고 각각의 도전부를 지지하면서 도전부를 서로 전기적으로 절연시키는 절연성 지지부;를 포함하되,
상기 도전성 입자 중 적어도 하나는,
금속소재로 이루어지며 도전성 입자의 외형을 구성하는 몸체부와,
일부는 상기 몸체부 내에 고정되고 나머지 일부는 상기 몸체부로부터 돌출되며, 도전부를 구성하는 탄성 절연물질과 접촉되어 상기 탄성 절연물질과 견고하게 결합되는 다수의 실리카 미립자를 포함하되,
상기 몸체부의 표면은 전도성을 가지는 전도성 부분과, 상기 실리카 미립자가 마련된 비전도성 부분으로 구성되며, 인접한 도전성 입자와 전도성 부분이 접촉됨으로서 상기 도전부가 전기적 도통가능한 상태가 되게 하는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 실리카 미립자는 몸체부의 표면 전체에 걸쳐서 고르게 분포되어 있는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 도전부는 액상의 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열된 상태에서 경화되어 제조되고,
상기 실리카 미립자는 액상의 탄성 절연물질이 경화되는 과정에서 탄성 절연물질과의 강한 결합을 유도함으로서, 상기 도전성 입자가 탄성 절연물질로부터 이탈되는 것을 방지하는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 몸체부는, 고도전성 금속과 자성체가 혼합되거나 고도전성 금속과 자성체가 물리적 또는 화학적으로 접촉하여 결합된 상태로 되어 있는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 몸체부에는 오목하게 패여지고 탄성 절연물질이 채워지는 다수의 오목부가 마련되어 있으며,
상기 오목부의 내면에 실리카 미립자가 고정돌출되어 상기 오목부 내의 탄성 절연물질과 견고하게 결합되는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓.
피검사 디바이스와 검사장치 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 검사용 소켓에 있어서,
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 마련되고 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 상하방향으로 조밀하게 배열되어 있는 복수의 도전부; 및
상기 복수의 도전부 사이에 마련되고 각각의 도전부를 지지하면서 도전부를 서로 전기적으로 절연시키는 절연성 지지부;를 포함하되,
상기 도전성 입자 중 적어도 하나는,
금속소재로 이루어지며 도전성 입자의 외형을 구성하는 몸체부와,
일부는 상기 몸체부 내에 고정되고 나머지 일부는 상기 몸체부로부터 돌출되며, 도전부를 구성하는 탄성 절연물질과 접촉되어 상기 탄성 절연물질과 견고한 결합을 구성하는 다수의 고결합성 미립자를 포함하되,
상기 고결합성 미립자는, 상기 몸체부를 이루는 금속소재보다 탄성 절연물질에 접착되는 접착력이 높은 소재로 이루어지며,
상기 몸체부의 표면은 전도성을 가지는 전도성 부분과, 상기 고결합성 미립자가 마련된 비전도성 부분으로 구성되며, 인접한 도전성 입자와 전도성 부분이 접촉됨으로서 상기 도전부가 전기적 도통가능한 상태가 되게 하는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓.
제6항에 있어서,
상기 고결합성 미립자는, 탄산칼슘을 소재로 하는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 고결합성 미립자는 몸체부의 표면 전체에 걸쳐서 고르게 분포되어 있는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓.
전기적 검사가 요구되는 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 마련되고 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 상하방향으로 조밀하게 배열되어 있는 복수의 도전부와, 상기 복수의 도전부 사이에 마련되어 각각의 도전부를 지지하면서 도전부를 서로 전기적으로 절연시키는 절연성 지지부;를 포함하는 검사용 소켓에 마련되는 도전성 입자에 있어서,
상기 도전부 내에 마련된 도전성 입자 중 적어도 하나는,
금속소재로 이루어지며 도전성 입자의 외형을 구성하는 몸체부와,
일부는 상기 몸체부 내에 고정되고 나머지 일부는 상기 몸체부로부터 돌출되며, 상기 탄성 절연물질과 접촉되어 상기 탄성 절연물질과 견고하게 결합되는 다수의 실리카 미립자를 포함하되,
상기 몸체부의 표면은 전도성을 가지는 전도성 부분과, 상기 실리카 미립자가 마련된 비전도성 부분으로 구성되며, 인접한 도전성 입자와 전도성 부분이 접촉됨으로서 상기 도전부가 전기적 도통가능한 상태가 되게 하는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
제9항에 있어서,
상기 실리카 미립자는 몸체부의 표면 전체에 걸쳐서 고르게 분포되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
제9항에 있어서,
상기 몸체부는, 고도전성 금속과 자성체가 혼합되거나 고도전성 금속과 자성체가 물리적 또는 화학적으로 접촉하여 결합된 상태로 되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 마련되고 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 상하방향으로 조밀하게 배열되어 있는 복수의 도전부와, 상기 복수의 도전부 사이에 마련되어 각각의 도전부를 지지하면서 도전부를 서로 전기적으로 절연시키는 절연성 지지부;를 포함하는 검사용 소켓에 마련되는 도전성 입자에 있어서,
상기 도전성 입자 중 적어도 하나는,
금속소재로 이루어지며 도전성 입자의 외형을 구성하는 몸체부와,
일부는 상기 몸체부 내에 고정되고 나머지 일부는 상기 몸체부로부터 돌출되며, 도전부를 구성하는 탄성 절연물질과 접촉되어 상기 탄성 절연물질과 견고하게 결합되는 다수의 고결합성 미립자를 포함하되,
상기 고결합성 미립자는, 상기 몸체부를 이루는 금속소재보다 탄성 절연물질에 접착력이 높은 소재로 이루어지고,
상기 몸체부의 표면은 전도성을 가지는 전도성 부분과, 상기 고결합성 미립자가 마련된 비전도성 부분으로 구성되며, 인접한 도전성 입자와 전도성 부분이 접촉됨으로서 상기 도전부가 전기적 도통가능한 상태가 되게 하는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
제12항에 있어서,
상기 고결합성 미립자는 몸체부의 표면 전체에 걸쳐서 고르게 분포되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.