KR100868832B1 - 촬상소자 및 그것을 이용한 촬상장치, 및 촬상소자를제조하는 제조방법 - Google Patents
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- 촬상을 행하는 촬상소자에 있어서,입사광에 감응해서 촬상(撮像)을 행하는 촬상수단과, 그 입사광의 강도에 따른 신호전하를 전압으로 변환하는 전하전압 변환수단과, 상기 촬상수단과 상기 전하전압 변환수단의 사이에 신호전하를 증배(增倍)시키는 전하증배수단을 갖추며, 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 대해서 적어도 일부를 서로 분리하여 기반(基盤) 상에 설치하고,상기 촬상수단은, 입사광을 전하로 변환함으로써 그 광의 강도에 따른 신호전하를 발생시키는 광전(光電) 변환수단, 및 그 광전변환수단으로부터 발생한 신호전하를 전송하는 전하 전송수단을 포함해서 구성되어 있으며,상기 소자는 상기 광전변환수단으로부터 발생한 상기 신호전하를 검출해서 전압으로서 출력하는 전하 검출수단을 갖추고, 상기 촬상수단과 상기 전하증배수단의 사이를 상기 전압으로 전송하며, 촬상수단과 전하증배수단의 사이에 그 전송된 전압을 전하로 변환하는 전압전하 변환수단을 갖추는 것을 특징으로 하는 촬상소자.
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- 제4 항에 있어서,상기 소자는, 입사광을 전하로 변환함으로써, 그 광의 강도에 따른 신호전하를 발생시켜서 전송하는 CCD형 고체촬상소자(固體撮像素子)인 것을 특징으로 하는 촬상소자.
- 촬상을 행하는 촬상소자에 있어서,입사광에 감응해서 촬상(撮像)을 행하는 촬상수단과, 그 입사광의 강도에 따른 신호전하를 전압으로 변환하는 전하전압 변환수단과, 상기 촬상수단과 상기 전하전압 변환수단의 사이에 신호전하를 증배(增倍)시키는 전하증배수단을 갖추며, 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 대해서 적어도 일부를 서로 분리하여 기반(基盤) 상에 설치하고,상기 촬상수단은, 입사광을 전압으로 변환함으로써 그 광의 강도에 따른 전압을 발생시키도록 구성되어 있으며, 촬상수단과 상기 전하증배수단의 사이를 상기 전압으로 전송하고, 촬상수단과 전하증배수단의 사이에 그 전송된 전압을 전하로 변환하는 전압전하 변환수단을 갖추는 것을 특징으로 하는 촬상소자.
- 제7 항에 있어서,상기 소자는, 입사광을 전압으로 변환함으로써 그 광의 강도에 따른 전압을 발생시키는 CMOS형 고체촬상소자인 것을 특징으로 하는 촬상소자.
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- 촬상소자를 이용한 촬상장치에 있어서,그 촬상소자는, 입사광에 감응해서 촬상을 행하는 촬상수단과, 그 입사광의 강도에 따른 신호전하를 전압으로 변환하는 전하전압 변환수단과, 상기 촬상수단과 상기 전하전압 변환수단의 사이에 신호전하를 증배시키는 전하증배수단을 갖추고, 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 대해서 적어도 일부를 서로 분리하여 기반 상에 설치해서 상기 소자를 구성하고,상기 촬상수단은, 입사광을 전하로 변환함으로써 그 광의 강도에 따른 신호전하를 발생시키는 광전변환수단, 및 그 광전변환수단으로부터 발생한 신호전하를 전송하는 전하 전송수단을 포함해서 구성되어 있으며,상기 소자는, 상기 광전변환수단으로부터 발생한 상기 신호전하를 검출해서 전압으로서 출력하는 전하 검출수단을 갖추고, 상기 촬상수단과 상기 전하증배수단의 사이를 상기 전압으로 전송하며, 촬상수단과 전하증배수단의 사이에 그 전송된 전압을 전하로 변환하는 전압전하 변환수단을 갖추는 것을 특징으로 하는 촬상장치.
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- 촬상소자를 이용한 촬상장치에 있어서,그 촬상소자는, 입사광에 감응해서 촬상을 행하는 촬상수단과, 그 입사광의 강도에 따른 신호전하를 전압으로 변환하는 전하전압 변환수단과, 상기 촬상수단과 상기 전하전압 변환수단의 사이에 신호전하를 증배시키는 전하증배수단을 갖추고, 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 대해서 적어도 일부를 서로 분리하여 기반 상에 설치해서 상기 소자를 구성하고,상기 촬상수단은, 입사광을 전압으로 변환함으로써 그 광의 강도에 따른 전압을 발생시키도록 구성되어 있으며, 상기 소자는, 촬상수단과 상기 전하증배수단 의 사이를 상기 전압으로 전송하고, 촬상수단과 전하증배수단의 사이에 그 전송된 전압을 전하로 변환하는 전압전하 변환수단을 갖추는 것을 특징으로 하는 촬상장치.
- 입사광에 감응해서 촬상을 행하는 촬상수단과, 그 입사광의 강도에 따른 신호전하를 전압으로 변환하는 전하전압 변환수단을 갖추는 동시에, 상기 촬상수단과 상기 전하전압 변환수단의 사이에 신호전하를 증배시키는 전하증배수단을 갖춘 촬상소자를 제조하는 제조방법에 있어서,제1 판상부재(板狀部材)에, 촬상수단 및 전하증배수단을 설치하기 위한 제2 판상부재를 적층(積層)하고, 그 적층 후에 촬상수단과 전하증배수단의 사이에 상당하는 개소에 상기 제2 판상부재의 형상가공(形狀加工)을 행하여, 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 대해서 일부를 서로 분리하고, 제2 판상부재의 형상가공 후의 제1 및 제2 판상부재를, 상기 소자를 설치하기 위한 기반(基盤)에 적층하는 것을 특징으로 하는 촬상소자를 제조하는 제조방법.
- 제15 항에 있어서,상기 제1 판상부재는 전열기판(傳熱基板)이며, 분리해야 할 상기 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 상당하는 각각의 개소에 상기 전열기판에 방열부재(放熱部材)를 설치함으로써 촬상수단과 전하증배수단을 서로 열적으로 분리하는 열분리 구조를 구성하는 것을 특징으로 하는 촬상소자를 제조하는 제조방법.
- 입사광에 감응해서 촬상을 행하는 촬상수단과, 그 입사광의 강도에 따른 신호전하를 전압으로 변환하는 전하전압 변환수단을 갖추는 동시에, 상기 촬상수단과 상기 전하전압 변환수단의 사이에 신호전하를 증배시키는 전하증배수단을 갖춘 촬상소자를 제조하는 제조방법에 있어서,제1 판상부재에, 촬상수단 및 전하증배수단을 설치하기 위한 제2 판상부재를 적층하기 전에, 촬상수단과 전하증배수단의 사이에 상당하는 개소에 상기 제2 판상부재의 형상가공을 미리 행하여, 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 대해서 일부를 서로 분리하고, 제2 판상부재의 형상가공 후에 상기 제1 판상부재에 형상가공 후의 제2 판상부재를 적층하고, 그 적층 후의 제1 및 제2 판상부재를, 상기 소자를 설치하기 위한 기반(基盤)에 적층하는 것을 특징으로 하는 촬상소자를 제조하는 제조방법.
- 제17 항에 있어서,상기 제1 판상부재는 전열기판이며, 분리해야 할 상기 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 상당하는 각각의 개소에 상기 전열기판에 방열부재를 설치함으로써 촬상수단과 전하증배수단을 서로 열적으로 분리하는 열분리 구조를 구성하는 것을 특징으로 하는 촬상소자를 제조하는 제조방법.
- 제4 항에 있어서,분리해야 할 상기 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 상당하는 각각의 개소에 전열기판에 방열부재(放熱部材)를 설치함으로써 촬상수단과 전하증배수단을 서로 열적으로 분리하는 열분리 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 촬상소자.
- 제7 항에 있어서,분리해야 할 상기 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 상당하는 각각의 개소에 전열기판에 방열부재(放熱部材)를 설치함으로써 촬상수단과 전하증배수단을 서로 열적으로 분리하는 열분리 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 촬상소자.
- 제12 항에 있어서,분리해야 할 상기 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 상당하는 각각의 개소에 전열기판에 방열부재(放熱部材)를 설치함으로써 촬상수단과 전하증배수단을 서로 열적으로 분리하는 열분리 구조를 상기 소자가 갖는 것을 특징으로 하는 촬상장치.
- 제14 항에 있어서,분리해야 할 상기 촬상수단 및 상기 전하증배수단에 상당하는 각각의 개소에 전열기판에 방열부재(放熱部材)를 설치함으로써 촬상수단과 전하증배수단을 서로 열적으로 분리하는 열분리 구조를 상기 소자가 갖는 것을 특징으로 하는 촬상장치.
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Families Citing this family (6)
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---|---|---|---|---|
GB2350003A (en) * | 1999-05-14 | 2000-11-15 | Roke Manor Research | Locating transmitter |
WO2009150829A1 (ja) * | 2008-06-10 | 2009-12-17 | 国立大学法人東北大学 | 固体撮像素子及びその駆動方法 |
JP2010093752A (ja) * | 2008-10-10 | 2010-04-22 | Sony Corp | 固体撮像素子及び信号処理システム |
US8847285B2 (en) | 2011-09-26 | 2014-09-30 | Semiconductor Components Industries, Llc | Depleted charge-multiplying CCD image sensor |
US9257478B2 (en) * | 2012-05-22 | 2016-02-09 | The Regents Of The University Of California | Spatially resolved spectral-imaging device |
JP6083554B2 (ja) * | 2012-08-07 | 2017-02-22 | 国立大学法人静岡大学 | 撮像モジュール |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5900649A (en) * | 1995-02-18 | 1999-05-04 | Hewlett-Packard Company | Electronic assembly having improved thermal characteristics |
JP2002330352A (ja) * | 2001-04-27 | 2002-11-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | 撮像装置 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH065728B2 (ja) * | 1982-09-24 | 1994-01-19 | 富士通株式会社 | 光 検 知 方 式 |
JPS6331378A (ja) * | 1986-07-25 | 1988-02-10 | Nec Corp | アナログ−デジタル変換器付きイメ−ジセンサ |
JPS63221667A (ja) * | 1987-03-11 | 1988-09-14 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
JPH05198787A (ja) * | 1991-11-08 | 1993-08-06 | Canon Inc | 固体撮像装置及びその製造方法 |
JP3483261B2 (ja) | 1992-07-10 | 2004-01-06 | テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド | イメージセンサ |
US5665959A (en) * | 1995-01-13 | 1997-09-09 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Adminstration | Solid-state image sensor with focal-plane digital photon-counting pixel array |
GB2323471B (en) | 1997-03-22 | 2002-04-17 | Eev Ltd | CCd imagers |
GB2371403B (en) * | 2001-01-18 | 2005-07-27 | Marconi Applied Techn Ltd | Solid state imager arrangements |
US7420605B2 (en) * | 2001-01-18 | 2008-09-02 | E2V Technologies (Uk) Limited | Solid state imager arrangements |
US7139023B2 (en) * | 2001-03-12 | 2006-11-21 | Texas Instruments Incorporated | High dynamic range charge readout system |
US7190400B2 (en) * | 2001-06-04 | 2007-03-13 | Texas Instruments Incorporated | Charge multiplier with logarithmic dynamic range compression implemented in charge domain |
JP2003158679A (ja) * | 2001-08-20 | 2003-05-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電荷増倍型固体電子撮像装置およびその制御方法 |
US7184085B2 (en) * | 2001-08-20 | 2007-02-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Charge multiplying solid-state electronic image sensing device and method of controlling same |
US6784412B2 (en) * | 2001-08-29 | 2004-08-31 | Texas Instruments Incorporated | Compact image sensor layout with charge multiplying register |
US6717190B2 (en) * | 2002-02-14 | 2004-04-06 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Solid-state image pick-up device |
US6822325B2 (en) * | 2002-08-01 | 2004-11-23 | Altera Corporation | Isolating temperature sensitive components from heat sources in integrated circuits |
US20060044430A1 (en) * | 2004-08-24 | 2006-03-02 | Chandra Mouli | Thermoelectric cooling for imagers |
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