KR100743384B1 - 3차원 자기 방위센서 및 마그네토-임피던스 센서 소자 - Google Patents
3차원 자기 방위센서 및 마그네토-임피던스 센서 소자 Download PDFInfo
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- 235000002595 Solanum tuberosum Nutrition 0.000 claims abstract description 70
- 244000061456 Solanum tuberosum Species 0.000 claims abstract description 70
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 63
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 56
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 35
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 19
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 14
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 5
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 229910019230 CoFeSiB Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 2
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
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- G01C17/02—Magnetic compasses
- G01C17/28—Electromagnetic compasses
- G01C17/30—Earth-inductor compasses
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- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
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- G01R33/0206—Three-component magnetometers
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- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/063—Magneto-impedance sensors; Nanocristallin sensors
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- G—PHYSICS
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
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- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
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- G01R33/075—Hall devices configured for spinning current measurements
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- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
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- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
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- G01R33/09—Magnetoresistive devices
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- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
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Abstract
Description
본 예의 상기 신구조 센서와의 비교를 위해서 도 16에 도시하는 종래의 보빈타입의 MI 소자인 보빈소자(9)로 이루어지는 종래 센서를 비교예로 하였다. 이 보빈소자(9)는 어모르퍼스 와이어(92)와 전자코일(93)의 사이에 절연성을 가지는 권취 프레임(보빈; 94)을 개재하여, 전기적인 절연을 확보한 것이다. 또한, 감자체는 CoFeSiB계 합금을 사용한 직경이 30㎛인 어모르퍼스 와이어(92)이다.
설계치 | 실측치 | 허용치 | 단위 | |
D1 | 0.6 | 0.4~0.9 | 0.2~1.2 | mm |
D2 | 1.2 | 0.5~1.5 | 0.3~2.0 | mm |
D3 | 1.0 | 0.8~1.2 | 0.3~2.5 | mm |
D4 | 1.0 | 0.6~1.6 | 0.2~2.5 | mm |
D5 | 0.5 | 0.2~1.0 | 0.2~2.0 | mm |
D6 | 0.4 | 0.2~0.6 | 0.2~2.5 | mm |
D7 | 0.5 | 0.3~1.1 | 0.2~2.0 | mm |
D8 | 1.0 | 0.8~1.5 | 0.2~2.5 | mm |
D9 | 0.4 | 0.2~0.8 | 0.2~2.5 | mm |
설계치 | 실측치 | 허용치 | 단위 | |
D1 | 0.6 | 0.2~0.8 | 0.2~1.2 | mm |
D2 | 1.2 | 0.6~1.6 | 0.3~2.0 | mm |
D3 | 1.0 | 0.5~1.4 | 0.3~2.5 | mm |
W34 | 0.025 | 0.010~0.050 | 0.005~0.100 | mm |
W35 | 0.025 | 0.015~0.040 | 0.005~0.100 | mm |
설계치 | 실측치 | 허용치 | 단위 | |
D4(D7) | 0.5 | 0.2~0.8 | 0.2~1.0 | mm |
D5(D8) | 0.5 | 0.3~1.0 | 0.2~2.0 | mm |
D6(D9) | 1.5 | 0.9~2.1 | 0.3~2.5 | mm |
W14(W24) | 0.025 | 0.015~0.055 | 0.005~0.100 | mm |
W15(W25) | 0.025 | 0.015~0.060 | 0.005~0.100 | mm |
설계치 | 실측치 | 허용치 | 단위 | |
M1 | 0.15 | 0.08~0.6 | 0.05~1.2 | mm |
M2 | 0.15 | 0.10~0.3 | 0.03~2.0 | mm |
W53 | 0.1 | 0.07~0.3 | 0.03~2.5 | mm |
Claims (18)
- 삭제
- 외부자계에 따라서 특성이 변화하는 감자체와, 상기 감자체를 관통시키도록 형성한 절연체와, 상기 절연체의 외측 표면에 인접하는 호일형상의 도전패턴으로 이루어지는 동시에 상기 감자체에 통전하는 전류를 변화시켰을 때에 외부자계에 따라서 양단에 전압 또는 전류를 발생하는 검출용의 전자코일을 갖는 마그네토 임피던스 센서 소자로 이루어지는 제 1 센서, 제 2 센서 및 제 3 센서를 포함하고,상기 제 1 센서, 상기 제 2 센서 및 상기 제 3 센서는 상기 각 감자체의 자계 검출 감도가 최대로 되는 방향이 서로 대략 직교하도록 배치되며,상기 제 1 센서, 상기 제 2 센서 및 상기 제 3 센서는 오목홈형의 연장홈을 설치한 전극배선기판과, 상기 연장홈의 홈 방향과 교차하도록 상기 연장홈의 내주면에 배치되어 있는 동시에 상기 전극배선기판의 표면에 양 단부가 연장되어 설치된 제 1 도전패턴과, 상기 감자체로서의 어모르퍼스 와이어를 관통시킨 상태에서 상기 연장홈에 수용된 상기 절연체와, 상기 연장홈을 넘도록 상기 절연체의 외측 표면에 배치된 제 2 도전패턴을 갖고 있고,상기 전자코일은 상기 제 1 도전패턴으로 이루어지는 한쪽의 코일부와, 인접하는 상기 제 1 도전패턴의 단부를 전기적으로 접속하는 상기 제 2 도전패턴으로 이루어지는 다른쪽의 코일부를 조합한 것인 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 2 항에 있어서,상기 3차원 자기 방위센서는 4면의 측벽면을 구비한 대략 직사각형상을 이루고, 그 내부에 전자회로를 형성한 IC를 갖고, 상기 제 1 센서, 상기 제 2 센서 및 상기 제 3 센서를 상기 IC에 배치하여 이루어지고,상기 제 3 센서는 상기 연장홈의 홈 방향이 상기 IC의 두께 방향과 거의 일치하도록 상기 측벽면의 어느 하나에 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 3 항에 있어서,상기 제 1 센서 및 상기 제 2 센서는 상기 IC의 서로 직교하는 2면의 상기 측벽면에 각각 배치되어 있고, 상기 각 센서의 상기 연장홈의 홈 방향이, 각각, 다른쪽의 상기 센서를 배치한 상기 측벽면과 대략 직교하고 있는 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 3 항에 있어서,상기 제 3 센서는 상기 IC의 표면이 면하는 측을 향하는 표면에 전극을 형성하여 이루어지고, 또한, 이 전극이, 상기 IC의 표면에 배치된 전극과 리드선을 통해 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 4 항에 있어서,상기 제 3 센서는 상기 IC의 표면이 면하는 측을 향하는 표면에 전극을 형성하여 이루어지고, 또한, 이 전극이, 상기 IC의 표면에 배치된 전극과 리드선을 통해 전기적으로 접속되어 있고,상기 제 1 센서 및 상기 제 2 센서는 상기 IC의 표면이 면하는 측을 향하는 표면에 전극을 형성하여 이루어지고, 또한, 이 전극이, 상기 IC의 표면에 배치된 전극과 리드선을 통해 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 6 항에 있어서,상기 3차원 자기 방위센서는 세로 3mm 이내이고, 또한, 가로 3mm 이내이고, 또한, 높이 1.5mm 이내인 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 2 항에 있어서,상기 3차원 자기 방위센서는 전자회로를 형성하여 이루어지는 IC와, 상기 IC를 실장하는 공통기판을 갖고, 상기 제 1 센서, 상기 제 2 센서 및 상기 제 3 센서를 상기 공통기판에 배치하여 이루어지고,상기 제 3 센서는 상기 연장홈의 홈 방향이 상기 공통기판의 두께 방향과 거의 일치하도록 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 삭제
- 제 2 항에 있어서,상기 제 1 센서, 상기 제 2 센서 및 상기 제 3 센서에서는 상기 감자체로서의 어모르퍼스 와이어 혹은 자기 이방성 박막의 외주에 상기 절연체를 형성하고 있고, 상기 전자코일이, 상기 절연체의 외주면에 배치한 상기 도전패턴으로 이루어지며,상기 3차원 자기 방위센서는 4면의 측벽면을 구비한 대략 직사각형을 이루고, 그 내부에 전자회로를 형성한 IC를 갖고, 상기 제 1 센서, 상기 제 2 센서 및 상기 제 3 센서를 상기 IC에 배치하여 이루어지고,상기 제 3 센서는 상기 IC의 표면과 대략 직교하는 상태에서 상기 측벽면의 어느 하나에 배치된 도터 기판에 표면실장되어 있고, 또한, 상기 감자체에 있어서의 자계 검출 감도가 최대로 되는 방향이 상기 IC의 두께 방향과 거의 일치하고 있는 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 10 항에 있어서,상기 제 1 센서 및 상기 제 2 센서는 상기 IC의 표면에 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 10 항에 있어서,상기 제 3 센서는 상기 도터 기판의 실장표면에 대면하는 전극을 갖고, 또한, 이 전극이, 상기 도터 기판의 전극과 접촉하는 상태로 표면실장되어 있는 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 11 항에 있어서,상기 제 3 센서는 상기 도터 기판의 실장표면에 대면하는 전극을 갖고, 또한, 이 전극이, 상기 도터 기판의 전극과 접촉하는 상태로 표면실장되어 있고,상기 제 1 센서 및 상기 제 2 센서는 상기 IC의 표면에 대면하는 전극을 갖고, 또한, 이 전극이, 상기 IC의 전극과 접촉하는 상태로 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 제 13 항에 있어서,상기 3차원 자기 방위센서는 세로 3mm 이내이고, 또한, 가로 3mm 이내이고, 또한, 높이 1.5mm 이내인 것을 특징으로 하는 3차원 자기 방위센서.
- 삭제
- 삭제
- 외부자계에 따라서 특성이 변화하는 감자체의 외주에 검출용 전자코일을 권취하여 이루어지는 마그네토 임피던스 센서 소자로서,상기 감자체를 보유하는 센서기판과, 상기 감자체를 관통시키도록 형성된 절연체와, 상기 절연체의 외측 표면에 인접하여 배치된 호일형상의 도전패턴으로 이루어지는 전자코일을 갖고,상기 전자코일은 상기 감자체에 통전하는 전류를 변화시켰을 때에 외부자계에 따라서 양단에 전압 또는 전류를 발생하도록 구성되어 있고,상기 센서기판은 그 외측 표면 중 상기 감자체의 축 방향에 대략 직교하는 면에, 상기 전자코일 및 상기 감자체로부터 각각 연장되어 설치된 전극을 갖고,상기 마그네토 임피던스 센서 소자는 오목홈형의 연장홈을 설치한 상기 센서기판으로서의 전극배선기판과, 상기 연장홈의 홈 방향과 대략 직교하도록 상기 연장홈의 내주면에 배치되어 있는 동시에 상기 전극배선기판의 표면에 양 단부가 연장되어 설치된 제 1 도전패턴와, 상기 감자체로서의 어모르퍼스 와이어를 관통시킨 상태에서 상기 연장홈에 수용된 상기 절연체와, 상기 연장홈을 넘도록 상기 절연체의 외측 표면에 배치한 제 2 도전패턴을 갖고,상기 전자 코일은 상기 제 1 도전패턴으로 이루어지는 한쪽의 코일부와, 인접하는 상기 제 1 도전패턴의 단부를 전기적으로 접속하는 상기 제 2 도전패턴으로 이루어지는 다른쪽의 코일부를 조합하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 마그네토 임피던스 센서 소자.
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Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2003-00199533 | 2003-07-18 | ||
JP2003199533 | 2003-07-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060024307A KR20060024307A (ko) | 2006-03-16 |
KR100743384B1 true KR100743384B1 (ko) | 2007-07-30 |
Family
ID=34074420
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020047020304A Expired - Lifetime KR100743384B1 (ko) | 2003-07-18 | 2004-07-13 | 3차원 자기 방위센서 및 마그네토-임피던스 센서 소자 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7298140B2 (ko) |
EP (1) | EP1647830A4 (ko) |
JP (1) | JP3781056B2 (ko) |
KR (1) | KR100743384B1 (ko) |
CN (1) | CN100502077C (ko) |
TW (1) | TWI284211B (ko) |
WO (1) | WO2005008268A1 (ko) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0105 | International application |
Patent event date: 20041213 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PA0201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20060228 Patent event code: PE09021S01D |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
AMND | Amendment | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Final Notice of Reason for Refusal Patent event date: 20060828 Patent event code: PE09021S02D |
|
E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20070216 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20060828 Comment text: Final Notice of Reason for Refusal Patent event code: PE06011S02I Patent event date: 20060228 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |
|
AMND | Amendment | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
PJ0201 | Trial against decision of rejection |
Patent event date: 20070322 Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal Patent event code: PJ02012R01D Patent event date: 20070216 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PJ02011S01I Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal Decision date: 20070430 Appeal identifier: 2007101003171 Request date: 20070322 |
|
AMND | Amendment | ||
PB0901 | Examination by re-examination before a trial |
Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20070416 Patent event code: PB09011R02I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20070322 Patent event code: PB09011R02I Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal Patent event date: 20070322 Patent event code: PB09011R01I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20060428 Patent event code: PB09011R02I |
|
B701 | Decision to grant | ||
PB0701 | Decision of registration after re-examination before a trial |
Patent event date: 20070430 Comment text: Decision to Grant Registration Patent event code: PB07012S01D Patent event date: 20070424 Comment text: Transfer of Trial File for Re-examination before a Trial Patent event code: PB07011S01I |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20070723 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20070724 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
G170 | Re-publication after modification of scope of protection [patent] | ||
PG1701 | Publication of correction | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100603 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110525 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120629 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130705 Year of fee payment: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130705 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140716 Year of fee payment: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20140716 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150710 Year of fee payment: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20150710 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PC1801 | Expiration of term |
Termination date: 20250113 Termination category: Expiration of duration |