KR100543913B1 - Sdr/ddr 모드를 지원하는 콤보형 동기식 디램 - Google Patents
Sdr/ddr 모드를 지원하는 콤보형 동기식 디램 Download PDFInfo
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 title claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 4
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
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- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1066—Output synchronization
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- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
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- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
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- G11C2207/105—Aspects related to pads, pins or terminals
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Abstract
Description
Claims (23)
- SDR 모드 및 DDR 모드를 지원하는 콤보형 동기식 디램의 데이터(DQ) 출력 드라이버에 있어서,풀업 트랜지스터의 드레인단과 데이터 입출력 패드 사이에 접속된 제1입출력라인;풀다운 트랜지스터의 드레인단과 상기 데이터 입출력 패드의 사이에 접속된 제2입출력라인;상기 제1 및 제2 입출력라인 상에 각기 형성되는 스위칭수단들; 및상기 스위칭수단과 병렬적으로 상기 제1 및 제2 입출력라인 상에 각기 형성되는 저항들을 구비하며,상기 스위칭수단들은 SDR 모드 또는 DDR 모드의 선택에 따라 온 또는 오프되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 출력 드라이버.
- 제1항에 있어서,상기 제1 및 제2 입출력라인은 각각 제1도전층이고, 상기 저항은 상기 제1도전층과 콘택되는 제2도전층을 포함하는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 출력 드라이버.
- 제2항에 있어서,상기 제1도전층상의 제1노드 및 제2노드 - 상기 제1노드 및 제2노드에서 상기 제1도전층은 상기 제2도전층과 콘택됨 - 사이에서 상기 제2도전층이 존재하지 않는 것에 의해서 상기 스위칭수단의 오프가 구현되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 출력 드라이버.
- 제1항 내지 제3항 중 어느한 항에 있어서,DDR 모드의 선택시에 상기 제2입출력라인상의 스위칭수단이 오프되어, 상기 풀다운 트랜지스터의 드레인단이 상기 저항을 통해 상기 데이터 입출력 패드에 접속되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 출력 드라이버.
- 제2항에 있어서,상기 제1도전층과 상기 제2도전층간의 콘택 갯수에 의해 상기 저항의 저항값이 결정되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 출력 드라이버.
- 제2항에 있어서,상기 제2도전층의 폭/길이 비에 의해 상기 저항의 저항값이 결정되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 출력 드라이버.
- SDR 모드 및 DDR 모드를 지원하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 스트로브 출력 드라이버에 있어서,풀업 트랜지스터의 드레인단과 데이터 스트로브 입출력 패드 사이에 접속된 제1입출력라인;풀다운 트랜지스터의 드레인단과 상기 데이터 스트로브 입출력 패드의 사이에 접속된 제2입출력라인;상기 제1 및 제2 입출력라인 상에 각기 형성되는 제1스위칭수단; 및상기 제1스위칭수단과 병렬적으로 상기 제1 및 제2 입출력라인 상에 각기 형성되는 저항들; 및상기 제1스위칭수단 출력측의 제1 및 제2 입출력라인과 상기 데이터 스트로브 출력 패드 사이에 각기 형성되는 제2스위칭수단들;상기 제2스위칭수단 출력측의 제1 및 제2 입출력라인과 접지전원단 사이에 각기 형성된 제3스위칭수단들을 구비하며,상기 제1 내지 제3 스위칭수단은 SDR 모드 또는 DDR 모드의 선택에 따라 온 또는 오프되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 스트로브 출력 드라이버.
- 제7항에 있어서,상기 제1 및 제2 입출력라인은 각각 제1도전층이고, 상기 저항은 상기 제1도전층과 콘택되는 제2도전층을 포함하는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 스트로브 출력 드라이버.
- 제8항에 있어서,상기 제1도전층상의 제1노드 및 제2노드 - 상기 제1노드 및 제2노드에서 상기 제1도전층은 상기 제2도전층과 콘택됨 - 사이에서 상기 제2도전층이 존재하지 않는 것에 의해서 상기 제1스위칭수단의 오프가 구현되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 스트로브 출력 드라이버.
- 제7항 내지 제9항 중 어느한 항에 있어서,DDR 모드의 선택시에 상기 제2입출력라인상의 제1스위칭수단이 오프되어, 상기 풀다운 트랜지스터의 드레인단이 상기 저항을 통해 상기 데이터 스트로브 입출력 패드에 접속되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 스트로브 출력 드라이버.
- 제7항에 있어서,상기 제2스위칭수단은 SDR 모드에서 오프되고 상기 제3스위칭수단은 SDR 모드에서 온되어, 상기 제2스위칭수단 출력측의 제1 및 제2 입출력라인이 플로팅되는 것을 방지하는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 스트로브 출력 드라이버.
- 제8항에 있어서,상기 제1도전층이 국부적으로 존재하지 않는 것에 의해서 상기 제2 및 제 3 스위칭수단의 오프가 구현되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 스트로브 출력 드라이버.
- 제8항에 있어서,상기 제1도전층과 상기 제2도전층간의 콘택 갯수에 의해 상기 저항의 저항값이 결정되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 스트로브 출력 드라이버.
- 제8항에 있어서,상기 제2도전층의 폭/길이 비에 의해 상기 저항의 저항값이 결정되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램의 데이터 스트로브 출력 드라이버.
- 데이터 출력 드라이버와 데이터 스트로브 출력 드라이버 및 데이터 마스크 드라이버를 구비하며 SDR 모드 및 DDR 모드를 지원하는 콤보형 동기식 디램에 있어서,상기 데이터 출력 드라이버와 데이터 스트로브 출력 드라이버 및 데이터 마스크 드라이버는 각각,풀업 트랜지스터의 드레인단과 입출력 패드 사이에 접속된 제1입출력라인;풀다운 트랜지스터의 드레인단과 상기 입출력 패드의 사이에 접속된 제2입출력라인;상기 트랜지스터 드레인단측의 상기 제1 및 제2 입출력라인 상에 각기 형성되는 제1스위칭수단; 및상기 제1스위칭수단과 병렬적으로 상기 제1 및 제2 입출력라인 상에 각기 형성되는 제1저항들;상기 입출력 패드측의 상기 제1 및 제2 입출력라인 상에 각기 형성되는 제2스위칭수단들;상기 제2스위칭수단과 병렬적으로 상기 제1 및 제2 입출력라인 상에 각기 형 성되는 제2저항들;상기 제1스위칭수단과 상기 제2스위칭수단 사이의 상기 제1 및 제2 입출력라인 상에 각기 형성되는 제3스위칭수단들을 구비하여,상기 제1 내지 제3 스위칭수단은 SDR 모드 또는 DDR 모드의 선택에 따라 온 또는 오프되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램.
- 제15항에 있어서,상기 데이터 스트로브 출력 드라이버는 상기 제2스위칭수단 출력측의 제1 및 제2 입출력라인과 접지전원단 사이에 각기 형성된 제4스위칭수단들을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램.
- 제15항 또는 제16항에 있어서,상기 제1 및 제2 입출력라인은 각각 제1도전층이고, 상기 제1 및 제2 저항은 상기 제1도전층과 콘택되는 제2도전층을 포함하는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램.
- 제17항에 있어서,상기 제1도전층상의 제1노드 및 제2노드 - 상기 제1노드 및 제2노드에서 상기 제1도전층은 상기 제2도전층과 콘택됨 - 사이에서 상기 제2도전층이 존재하지 않는 것에 의해서 상기 제1 및 제2 스위칭수단의 오프가 구현되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램.
- 제15항, 제16항 또는 제18항중 어느한 항에 있어서,DDR 모드의 선택시에 상기 제2입출력라인상의 제1스위칭수단이 오프되어, 상기 풀다운 트랜지스터의 드레인단이 상기 저항을 통해 상기 입출력 패드에 접속되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램.
- 제16항에 있어서,상기 데이터 스트로브 출력 드라이버의 상기 제3스위칭수단은 SDR 모드에서 오프되고 상기 제4스위칭수단은 SDR 모드에서 온되어, 상기 제2스위칭수단 출력측의 제1 및 제2 입출력라인이 플로팅되는 것을 방지하는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램.
- 제15항 또는 제16항에 있어서,상기 제1 및 제2 입출력라인은 각각 제1도전층이고, 상기 제1도전층이 국부적으로 존재하지 않는 것에 의해서 상기 제2, 제3 및 제4 스위칭수단의 오프가 구현되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램.
- 제17항에 있어서,상기 제1도전층과 상기 제2도전층간의 콘택 갯수에 의해 상기 저항의 저항값이 결정되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램.
- 제17에 있어서,상기 제2도전층의 폭/길이 비에 의해 상기 저항의 저항값이 결정되는 것을 특징으로 하는 콤보형 동기식 디램.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030035132A KR100543913B1 (ko) | 2003-05-31 | 2003-05-31 | Sdr/ddr 모드를 지원하는 콤보형 동기식 디램 |
US10/748,557 US6977864B2 (en) | 2003-05-31 | 2003-12-29 | Synchronous dynamic random access memory device with single data rate/double data rate mode |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030035132A KR100543913B1 (ko) | 2003-05-31 | 2003-05-31 | Sdr/ddr 모드를 지원하는 콤보형 동기식 디램 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040103203A KR20040103203A (ko) | 2004-12-08 |
KR100543913B1 true KR100543913B1 (ko) | 2006-01-23 |
Family
ID=33448324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030035132A KR100543913B1 (ko) | 2003-05-31 | 2003-05-31 | Sdr/ddr 모드를 지원하는 콤보형 동기식 디램 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6977864B2 (ko) |
KR (1) | KR100543913B1 (ko) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6678811B2 (en) * | 2001-04-07 | 2004-01-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Memory controller with 1X/MX write capability |
US6633965B2 (en) * | 2001-04-07 | 2003-10-14 | Eric M. Rentschler | Memory controller with 1×/M× read capability |
KR100650775B1 (ko) * | 2005-12-28 | 2006-11-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | 출력신호를 스위칭할 수 있는 차동 증폭기 |
US7586799B2 (en) * | 2007-09-27 | 2009-09-08 | Micron Technology, Inc. | Devices, systems, and methods for independent output drive strengths |
KR100945801B1 (ko) * | 2008-06-24 | 2010-03-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 라인 제어 장치 및 이를 이용한 반도체 집적회로 |
US8402208B2 (en) * | 2009-10-06 | 2013-03-19 | Dell Products L.P. | Configurable memory controller/memory module communication system |
US8723573B1 (en) * | 2012-06-20 | 2014-05-13 | Integrated Device Technology, Inc. | Method and apparatus for reducing crowbar current and controlling slew rate |
US10884639B2 (en) * | 2017-02-27 | 2021-01-05 | Qualcomm Incorporated | Providing single data rate (SDR) mode or double data rate (DDR) mode for the command and address (CA) bus of registering clock drive (RCD) for dynamic random access memory (DRAM) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3705842B2 (ja) * | 1994-08-04 | 2005-10-12 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
KR100278653B1 (ko) | 1998-01-23 | 2001-02-01 | 윤종용 | 이중 데이터율 모드 반도체 메모리 장치 |
JP4446137B2 (ja) * | 2000-07-31 | 2010-04-07 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP2002230972A (ja) * | 2001-02-06 | 2002-08-16 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
KR100464437B1 (ko) * | 2002-11-20 | 2004-12-31 | 삼성전자주식회사 | 온칩 dc 전류 소모를 최소화할 수 있는 odt 회로와odt 방법 및 이를 구비하는 메모리장치를 채용하는메모리 시스템 |
-
2003
- 2003-05-31 KR KR1020030035132A patent/KR100543913B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2003-12-29 US US10/748,557 patent/US6977864B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6977864B2 (en) | 2005-12-20 |
KR20040103203A (ko) | 2004-12-08 |
US20040240275A1 (en) | 2004-12-02 |
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JP2003045181A (ja) | 半導体装置 | |
JPH1125676A (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20030531 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20050429 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20051230 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20060110 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20060111 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090102 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20091222 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20101224 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20111221 Year of fee payment: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20111221 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121224 Year of fee payment: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20121224 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |