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JPS6235051B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6235051B2
JPS6235051B2 JP53064453A JP6445378A JPS6235051B2 JP S6235051 B2 JPS6235051 B2 JP S6235051B2 JP 53064453 A JP53064453 A JP 53064453A JP 6445378 A JP6445378 A JP 6445378A JP S6235051 B2 JPS6235051 B2 JP S6235051B2
Authority
JP
Japan
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frequency
signal
optical
light
inspection
Prior art date
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Expired
Application number
JP53064453A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS53149351A (en
Inventor
Konto Joruju
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Cables de Lyon SA
Original Assignee
Cables de Lyon SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Cables de Lyon SA filed Critical Cables de Lyon SA
Publication of JPS53149351A publication Critical patent/JPS53149351A/ja
Publication of JPS6235051B2 publication Critical patent/JPS6235051B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88—Lidar systems specially adapted for specific applications
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3172—Reflectometers detecting the back-scattered light in the frequency-domain, e.g. OFDR, FMCW, heterodyne detection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光フアイバ中の欠陥を検査乃至検出す
る欠陥検査装置に関する。
従来の技術 光フアイバは、減衰が低いこと、使用搬送波周
波数が可視領域または赤外領域に位置する光の周
波数であるため伝送信号の周波数帯域が広いこと
により非常に注目されている伝送手段である。
しかしその伝送特性は、光フアイバの局所的な
特性の規則性、より詳しくは、長さ方向に沿つて
の光フアイバの径や屈折率分布の規則性に大きく
依存する。この規則性をその長さに沿つてチエツ
クする有効な手段はほとんどない。このため従来
の電気のケーブルに対して用いたやり方をこれら
の光フアイバに適用することが試みられて来た。
すなわち、検査されるべき伝送線路の入力部に検
査用パルスを与え、伝送線路中に欠陥がある場合
に得られる検査用パルスの戻りエコー乃至エコー
信号を観測し、（欠陥がある場合）欠陥の位置を
決定すべく、検査用パルスの送信からエコー信号
の到着までの時間を測定する。
発明が解決しようとする問題点 このような技術を、たとえばガリウム・ヒ素レ
ーザのようなレーザ（発振器）からの光パルスを
光フアイバに与え、ホトダイオード、ホトトラン
ジスタまたは光電子増倍管によりエコー信号を検
出することに適用するとすれば、低レベル光検出
器（光電変換器）のすべてに特有の二乗特性のた
めに、最終的に電気信号の形で得られるエコー信
号は欠陥の大きさの二乗に比例するものとなる。
その結果、たとえば光フアイバの断線のような大
きな欠陥しか検出し得ない虞れがある。すなわ
ち、前記のような技術では、検出器が、その二乗
特性の故に、信号レベルの低い場合の感度が相対
的に低くなり、実際には多数あるかもしれない小
さな欠陥を感知し得ない虞れがある。
エコー信号が線形電圧検出によりエコー信号に
対して線形に依存する電気信号として検出され得
るならば大変に具合がよい。しかしこれにはエコ
ー信号を低い周波数帯域（たとえばデシメートル
波またはセンチ波の周波数域）の信号に置き換え
ることが必要である。このような低い周波数帯域
である場合線形検出器および線形増幅器が存在す
るからである。しかしこの試みは今日に至るまで
成功していない。何故ならばこの周波数変換には
検査用光パルス発生器の搬送波周波数に対して極
めて安定した周波数差の発振周波数を有するロー
カル光発振器が必要となるからである。これは光
の周波数（すなわち極めて高い周波数）で動作す
るふたつの独立の発振器を用いる場合非常に困難
なことである。何故ならば、たとえば１μｍの波
長の場合、３×1014Hz程度の周波数の発振器にお
いて、デシメートル波乃至センチ波の周波数に相
当する109×1010Hz程度の安定した発振周波数差
でなければならないからである。
本発明は前記した点に鑑みなされたものであ
り、その目的とするところは、 光フアイバ中の比較的小さい欠陥の有無を検査
し得る光フアイバの欠陥検査装置を提供すること
にある。
問題点を解決するための手段 本発明では、基本的には光信号をデシメートル
波またはセンチ波の周波数の信号に安定したやり
方で置き換えることにより上述の困難を克服し
た。
より詳しくは、本発明によれば、前記した目的
は、周波数Ｆの連続的な光を発する光源と、 該光源からの周波数Ｆの光を受け取り、該周波
数Ｆの光を変調して周波数Ｆ＋△Ｆの検査用光信
号を、欠陥が検査されるべき光フアイバに与える
検査用光信号送信手段と、 前記光源からの周波数Ｆの光を受け取り、該周
波数Ｆの光を変調して、周波数Ｆ＋ｆの連続的光
信号を出力する変調信号発生手段と、 前記光フアイバ中の欠陥で反射された前記検査
用光信号のエコー信号と前記変調信号発生手段か
らの周波数Ｆ＋ｆの光信号とを受け取るように構
成されており、前記エコー信号を受け取つた際周
波数ｆ−△Ｆの電気信号を出力する光混合器とを
有しており、 前記周波数ｆは、前記電気信号が線形増幅され
得るようにｆ／Ｆ≪１であり、且つｆ＞△Ｆであ
る光フアイバの欠陥検査装置によつて達成され
る。
すなわち、本発明は光フアイバの欠陥検査装置
では、 欠陥が検査されるべき光フアイバに周波数Ｆ＋
△Ｆの検査用光信号を与える検査用光信号送信手
段が、周波数Ｆの連続的な光を発する光源から受
け取つた該周波数Ｆの光を変調して前記周波数Ｆ
＋△Ｆの検査用光信号を生成・送出するように構
成されており、且つ変調信号発生手段が、前記検
査用光信号送信手段と同一の光源から周波数Ｆの
光を受け取り、この周波数Ｆの光を変調して周波
数Ｆ＋ｆの連続的光信号を生成・送出するように
構成されている故に、周波数Ｆ＋△Ｆ及び周波数
Ｆ＋ｆの二つの光信号の周波数差Ｆ−△Ｆを比較
的高確度に所定の値乃至範囲に保ち得るのみなら
ず、光混合物が光フアイバ中の欠陥で反射された
前記検査用光信号のエコー信号と前記変調信号発
生手段からの周波数Ｆ＋ｆの光とを受け取るよう
に構成されており、前記エコー信号を受け取つた
際周波数ｆ−△Ｆの電気信号を出力する故に、エ
コー信号がある場合には、エコー信号の振幅に比
例する周波数ｆ−△Ｆの電気信号が光混合器から
出力される。
ここで、周波数ｆは、前記電気信号が線形増幅
され得るようにｆ／Ｆ〓１である故に、光混合器
から出力される周波数ｆ−△Ｆの電気信号は、エ
コー信号の振幅に比例するように増幅され得る。
尚、エコー信号がない場合、光混合器に入力され
る光信号は、周波数Ｆ＋ｆの連続光信号のみであ
り、光混合器としての例えばホトダイオード等の
電気出力として周波数Ｆ＋ｆの連続光信号の強度
に対応する直流電気信号が光混合器から出力され
るが、この直流信号は、例えば光混合器の出力と
増幅器との間に周波数ｆ−△Ｆのバンドパスフイ
ルタを設けておくことにより（又は増幅器として
周波数ｆ−△Ｆ程度の帯域増幅器を用いることに
より）波すればよい。
以上の結果、検査されるべき光フアイバ中に欠
陥がある場合、周波数Ｆ＋△Ｆのエコー信号が光
混合器に入力され、増幅器からエコー信号の大き
さに比例する、周波数ｆ−△Ｆの増幅された電気
信号が出力されるが、一方、検査されるべき光フ
アイバ中に欠陥が実質的にない場合、光混合器に
はエコー信号が入力されず、増幅器の出力は例え
ば、実質的に零（又は直流成分のみ（フイルタが
実質的にない場合））になる。
本発明の好ましい一具体例によれば、前記光源
が非変調レーザ発振器からなる。
また、本発明の好ましい一具体例によれば、前
記光源からの光が、ビーム・スプリツタを介し
て、前記検査用光信号送信手段と前記変調信号発
生手段とに与えられるように構成されている。
また、本発明の好ましい一具体例によれば、前
記検査用光信号送信手段が、周波数Ｆの光をパル
ス変調して周波数Ｆ＋△Ｆの検査用光パルス信号
に変換するように構成されている。
また、本発明の好ましい一具体例によれば、前
記変調信号発生手段は、 前記光源からの周波数Ｆの信号を周波数ｆの第
一の変調信号によつて変調する第一の変調器と、 前記光源からの周波数Ｆの信号を、前記第一の
変調信号とは90度位相がずれている周波数ｆの第
二の変調信号によつて変調する第二の変調器と、 第一及び第二の変調器によつて変調された二種
類の光信号に基づき周波数Ｆ＋ｆの光信号を出力
する結合器とを有している。
また、本発明の好ましい一具体例によれば、前
記光混合器からの出力信号の周波数がデシメート
ル波又はセンチ波の周波数であり、該光混合器
が、例えば、ホトダイオードである。
本発明の別の目的は、光フアイバ中の比較的小
さい欠陥でも、その有無のみならず光フアイバの
長さ方向の位置を知り得る光フアイバの欠陥検査
装置を提供することにある。
このため、上記した検査用光信号送信手段は、
周波数Ｆ＋△Ｆの検査用光信号として、光パルス
信号を、第一の時点において光フアイバに与える
ように構成されており、 更に、光フアイバ中の欠陥の位置が決定される
ように、光混合器から周波数ｆ−△Ｆの電気的信
号の出力が開始される第二の時点を検出する手段
が設けられている。
より詳しくは、本発明によれば前記した第二の
目的は、 周波数Ｆの連続的な光を発する光源と、 該光源からの周波数Ｆの光を受け取り、該周波
数Ｆの光を変調して周波数Ｆ＋△Ｆの検査用光パ
ルス信号を、第一の時点において、欠陥が検査さ
れるべき光フアイバに与える検査用光信号送信手
段と、 前記光源からの周波数Ｆの光を受け取り、該周
波数Ｆの光を変調して周波数Ｆ＋ｆの連続的光信
号を出力する変調信号発生手段と、 前記光フアイバ中の欠陥で反射された前記検査
用光信号のエコー信号と前記変調信号発生手段か
らの周波数Ｆ＋ｆの光信号とを受け取るように構
成されており、前記エコー信号を受け取つた際周
波数ｆ−△Ｆの電気信号を出力する光混合器と、 光フアイバ中の欠陥の位置が決定されるよう
に、光混合器から周波数ｆ−△Ｆの電気信号の出
力が開始される第二の時点を検出する手段とを有
しており、 前記周波数ｆは、前記電気信号が線形増幅され
得るようにｆ／Ｆ≪１であり、且つｆ＞△Ｆであ
る光フアイバの欠陥検査装置によつて達成され
る。
この場合、前記第二の時点と第一の時点との差
を（所望ならば自動的に）求め、該差の時間に対
応する欠陥の光フアイバ中での位置を、光フアイ
バ中での光信号の伝送速度に基づいて、光信号の
入力端からの距離として求めればよい。
尚、第一の時点は、例えば周波数△Ｆの変調用
信号による検査用光信号送信手段の変調動作の起
動時点として設定され得、第二の時点は、例え
ば、増幅器からの周波数ｆ−△Ｆの電気信号の出
力時点として検出され得る。
具体例 次に本発明の好ましい一具体例を図面に基づい
て説明する。
たとえばヘリウム−ネオンレーザ（632.8nｍで
動作）、ガリウム・ヒ素レーザ（820〜850nｍの
間で動作）またはイツトリウム−アルミニウム−
ガーネツト（YAG）レーザ（約1050nｍで動作）
のような周波数Ｆの可視または赤外レーザ発振器
１１は特定の周波数Ｆの連続光を発する。この出
力光はビームスプリツタ乃至光線分割器１２によ
つてふたつに分割される。ビームスプリツタ１２
は、例えば、光フアイバを結合させてなるもので
も、基体上にガラスを堆積させてなるものでもよ
い。次いでこの光線の一方は変調器１３に与えら
れる。この変調器１３としては、たとえばカーセ
ルのような電気光学型のものか、音響光学型のも
の、例えば複屈折結晶か、吸収結晶が用いられ
る。この変調器１３は持続時間の短かいパルスを
発生するパルス発生器１４に接続されており、パ
ルス発生器１４から変調信号を受ける。エコー信
号が周波数変調信号であるべき場合には、パルス
発生器１４として例えばスイープ周波数発生器を
用いる。このパルス発生器１４の周波数△Ｆは
500MHzまでとすることができる。
この結果周波数帯域Ｆ＋△Ｆで変調された検査
用信号が得られる。このようにして変調された検
査用光信号、検査すべき光フアイバ１６の軸に対
して45度傾斜した半透明板５を介してこの光フア
イバ１６の入力端に入射される。
以上において、発振器１１からの周波数Ｆの光
をビームスプリツタ１２を介して受け取り、該周
波数Ｆの光を変調して周波数Ｆ＋△Ｆの検査用光
パルス信号を、第一の時点t1において、欠陥が検
査されるべき光フアイバ１６に与える検査用光信
号送信手段は変調器１３とパルス発生器１４とか
らなる。
光フアイバ１６中に欠陥がある場合、光フアイ
バ１６の入力端と該欠陥との間の距離に対応する
時間遅れを伴つて、該欠陥で反射されたエコー信
号が光フアイバ１６の前記入力端側から出力さ
れ、半透明板１５で入射ビームの光軸に垂直な方
向に偏向されて光混合器１７に達する。
ビームスプリツタ１２で分割された周波数Ｆの
光のうち他方の光出力はエス、イー、ミラー（S.
E.Miller）の論文（Integrated Optics、Bell
System Technical Journal、Vol 48、No.７、
Sept.1969、P2027）に記載されているものと同
形のＴ型ハイブリツドカプラー１８に与えられ
る。このハイブリツドカプラーは第２ａ図及び第
２ｂ図に基づいて後述する。
ビームスプリツタ１２からハイブリツドカプラ
ー１８に与えられた周波数Ｆの光はふたつに分割
される。一方のビームは変調器１３と同様な変調
器１９において発振器２２からの周波数ｆの第一
の変調信号によつて振幅変調される。他方のビー
ムは変調器１３と同様な変調器２０において、発
生器２２からの出力信号を移相器乃至転相器２１
で＋90゜だけ移相してなる周波数ｆの第二の変調
信号により変調される。周波数ｆのこれらふたつ
の信号は同じ発生器２２から出されたもので、そ
の周波数ｆは500MHzないし5000MHzである。
発生器２２から変調器１９に与えられる周波数
ｆの変調信号および移相器２１を介して変調器２
０に与えられる周波数ｆの変調信号が同一の振幅
を有しており、且つハイブリツドカプラー１８お
よび変調器１９，２０が適当にバランスせしめら
れると、周波数Ｆ＋ｆの一方の側波帯のみを有す
る光波がハイブリツドカプラー１８の第４のブラ
ンチから出力される。この周波数Ｆ＋ｆの連続的
光信号は周波数Ｆの入力信号の周波数変換で得ら
れたものである。
ここで、周波数Ｆ＋ｆの光信号において連続的
とは、光フアイバ１６中に検出されるべき欠陥が
存在する場合に光混合器１７にエコー信号が入射
される可能性のある時間の間は継続的乃至引き続
いてカプラー１８から周波数Ｆ＋ｆの光信号が光
混合器１７に与えられることを指す。
以上において、光源１２からの周波数Ｆの光を
受け取り、該周波数Ｆの光を変調して周波数Ｆ＋
ｆの連続的光信号を出力する変調信号発生手段
は、カプラー１８、変調器１９，２０、移相器２
１、及び発生器２２からなる。
周波数Ｆ＋ｆに変換されたカプラー１８からの
連続的光信号は次いで、混合器１７に与えられ
る。この混合器１７はPN型ホトダイオード、ア
バランシエ型ホトダイオードまたはホトトランジ
スタで構成され得る。
光フアイバ１６中に欠陥がある場合、変調信号
Ｆ＋△Ｆのフアイバ１６への入射時点から、欠陥
位置に依存する時間遅れの後、周波数Ｆ＋△Ｆの
エコー信号が混合器１７に入る。
周波数Ｆ＋ｆの連続的光信号を受けている光混
合器１７に周波数Ｆ＋△Ｆのエコー信号が入る
と、Ｆ＋ｆ−（Ｆ＋△ｆ）＝ｆ−△Ｆの周波数を有
する電流がこの混合器１７の出力において得られ
る。この変換周波数ｆをデシメートル波またはセ
ンチ波の周波数範囲に選んでおけば、エコー信号
を周波数ｆ−△Ｆに変換してなる電気信号は、デ
シメートル波またはセンチ波の周波数範囲内とな
り（△Ｆはｆよりもはるかに小）、真空管式また
はトランジスタ式進行波増幅器２３により困難な
く増幅され得る。このためこれらの信号は従来の
電子的検出器２４（たとえばシリコン検出器）に
より線形検出するに充分なレベルにもち来たらさ
れ、オシロスコープ等で観察されたり記録され得
る。
尚、ハイブリツドカプラー１８の内部構造は第
２ａ図および第２ｂ図に示されている。銀被膜よ
りなるハーフミラーＭが４つのブランチＡ−Ｄの
中央に設けてある。この鏡の前面はブランチＡか
らブランチＢにのびる仮想直線に対して45度傾い
ている。各ブランチにはコリメート用レンズＬが
設けてある。第２ａ図において、ブランチＡから
入る光ビームはブランチＢおよびＣに等しく分割
される。他方、ブランチＢから入る光ビームは第
２ｂ図に示すようにブランチＡおよびＤに等しく
分割される。
このハイブリツドカプラーは、1977年２月米国
ヴアージニア州ウイリアムスバークにおいて開催
されたトピカル・ミーテイング・オン・オプテイ
カル・フアイバ・トランスミツシヨンの技術要約
（テクニカル・ダイジエスト）中の高橋、野中氏
の論文「オプテイカル・ダイレクシヨナル・カプ
ラー」に記載されているのと同種類のカプラーで
ある。周波数はマイクロ波領域であるけれども、
同様な機能を有するマジツクＴ型ハイブリツドカ
プラーについては、マグローヒル社により1947年
に出版された「テクニツク・オブ・マイクロウエ
ーブ・メジヤメント」（シ．ジー．モンゴメリー
著）第331−332頁を参照されたい。
尚、第２ａ図および第２ｂ図に示したハイブリ
ツドカプラーを第１図の光回路に接続するには、
ブランチＡをビームスプリツタ１２に、ブランチ
Ｂを変調器１９に、ブランチＣを変調器２０に、
ブランチＤを混合器１７に接続すればよい。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の好ましい一具体例の光フアイ
バの欠陥検査装置のブロツク図、第２ａ図および
第２ｂ図は第１図の具体例に用いられるＴ型ハイ
ブリツドカプラーの内部構造を説明する概略断面
説明図である。 １１……可視光または赤外光発振器、１２……
ビームスプリツタ、１３，１９，２０……変調
器、１４……パルス発生器、１５……半透明板、
１６……光フアイバ、１７……混合器、１８……
Ｔ型ハイブリツドカプラー、２１……移相器、２
２……発生器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 周波数Ｆの連続的な光を発する光源と、 該光源からの周波数Ｆの光を受け取り、該周波
    数Ｆの光を変調して周波数Ｆ＋△Ｆの検査用光信
    号を、欠陥が検査されるべき光フアイバに与える
    検査用光信号送信手段と、 前記光源からの周波数Ｆの光を受け取り、該周
    波数Ｆの光を変調して、周波数Ｆ＋ｆの連続的光
    信号を出力する変調信号発生手段と、 前記光フアイバ中の欠陥で反射された前記検査
    用光信号のエコー信号と前記変調信号発生手段か
    らの周波数Ｆ＋ｆの光信号とを受け取るように構
    成されており、前記エコー信号を受け取つた際周
    波数ｆ−△Ｆの電気信号を出力する光混合器とを
    有しており、 前記周波数ｆは、前記電気信号が線形増幅され
    得るようにｆ／Ｆ≪１であり、且つｆ＞△Ｆであ
    る光フアイバの欠陥検査装置。 ２ 前記光源が非変調レーザ発振器からなる特許
    請求の範囲第１項に記載の装置。 ３ 前記光源からの光が、ビーム・スプリツタを
    介して、前記検査用光信号送信手段と、前記変調
    信号発生手段とに与えられるように構成されてい
    る特許請求の範囲第１項又は第２項に記載の装
    置。 ４ 前記検査用光信号送信手段が、周波数Ｆの光
    をパルス変調して周波数Ｆ＋△Ｆの検査用光パル
    ス信号に変換するように構成されている特許請求
    の範囲第１項乃至第３項のいずれかに記載の装
    置。 ５ 前記変調信号発生手段は、 前記光源からの周波数Ｆの信号を周波数ｆの第
    一の変調信号によつて変調する第一の変調器と、 前記光源からの周波数Ｆの信号を、前記第一の
    変調信号とは90度位相がずれている周波数ｆの第
    二の変調信号によつて変調する第二の変調器と、 第一及び第二の変調器によつて変調された二種
    類の光信号に基づき周波数Ｆ＋ｆの光信号を出力
    する結合器と を有する特許請求の範囲第１項乃至第４項のいず
    れかに記載の装置。 ６ 前記光混合器からの出力信号の周波数がデシ
    メートル波又はセンチ波の周波数である特許請求
    の範囲第１項乃至第５項のいずれかに記載の装
    置。 ７ 前記光混合器がホトダイオードである特許請
    求の範囲第１項乃至第６項のいずれかに記載の装
    置。 ８ 周波数Ｆの連続的な光を発する光源と、 前記光源からの周波数Ｆの光を受け取り、該周
    波数Ｆの光を変調して周波数Ｆ＋△Ｆの検査用光
    パルス信号を、第一の時点において、欠陥が検査
    されるべき光フアイバに与える検査用光信号送信
    手段と、 前記光源からの周波数Ｆの光を受け取り、該周
    波数Ｆの光を変調して周波数Ｆ＋ｆの連続的光信
    号を出力する変調信号発生手段と、 前記光フアイバ中の欠陥で反射された前記検査
    用光信号のエコー信号と前記変調信号発生手段か
    らの周波数Ｆ＋ｆの光信号とを受け取るように構
    成されており、前記エコー信号を受けとつた際周
    波数ｆ−△Ｆの電気信号を出力する光混合器と、 光フアイバ中の欠陥の位置が決定されるよう
    に、光混合器から周波数ｆ−△Ｆの電気信号の出
    力が開始される第二の時点を検出する手段とを有
    しており、 前記周波数ｆは、前記電気信号が線形増幅され
    得るようにｆ／Ｆ≪１であり、且つｆ＞△Ｆであ
    る光フアイバの欠陥検査装置。 ９ 前記光源が非変調レーザ発振器からなる特許
    請求の範囲第８項に記載の装置。 １０ 前記光源からの光が、ビームスプリツタを
    介して、前記検査用光信号送信手段と前記変調信
    号発生手段とに与えられるように構成されている
    特許請求の範囲第８項又は第９項に記載の装置。 １１ 前記変調信号発生手段は、 前記光源からの周波数Ｆの信号を、周波数ｆの
    第一の変調信号によつて変調する第一の変調器
    と、 前記光源からの周波数Ｆの信号を、前記第一の
    変調信号とは位相が90度ずれている周波数ｆの第
    二の変調信号によつて変調する第二の変調器と、 第一及び第二の変調器によつて変調された二種
    類の光信号に基づき周波数Ｆ＋ｆの光信号を出力
    する結合器と を有する特許請求の範囲第８項乃至第１０項のい
    ずれかに記載の装置。 １２ 前記光混合器からの出力信号の周波数がデ
    シメートル波又はセンチ波の周波数である特許請
    求の範囲第８項乃至第１１項のいずれかに記載の
    装置。 １３ 前記光混合器がホトダイオードである特許
    請求の範囲第８項乃至第１２項のいずれかに記載
    の装置。
JP6445378A 1977-05-31 1978-05-31 Reflection investigating meter Granted JPS53149351A (en)

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CH623417A5 (ja) 1981-05-29
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IT1094629B (it) 1985-08-02
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NL7805870A (nl) 1978-12-04
JPS53149351A (en) 1978-12-26
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