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JPS62287045A - 半導体機器リ−ド用鉄合金 - Google Patents

半導体機器リ−ド用鉄合金

Info

Publication number
JPS62287045A
JPS62287045A JP13002886A JP13002886A JPS62287045A JP S62287045 A JPS62287045 A JP S62287045A JP 13002886 A JP13002886 A JP 13002886A JP 13002886 A JP13002886 A JP 13002886A JP S62287045 A JPS62287045 A JP S62287045A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
less
semiconductor device
ferrous alloy
thermal expansion
exceeds
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13002886A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Tsuji
正博 辻
Masayoshi Kubo
久保 正吉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Mining Co Ltd filed Critical Nippon Mining Co Ltd
Priority to JP13002886A priority Critical patent/JPS62287045A/ja
Publication of JPS62287045A publication Critical patent/JPS62287045A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Heat Treatment Of Steel (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 次に本発明合金の組成の限定理由について説明する。
Crは11.5%未満では熱膨張係数が大きすぎ、また
、強度、耐食性も不十分である。逆に18%を超えると
製造性が悪くなり、コスト高となる。
Cは0.1%を超えると加工性、曲げ性が悪くなり、ま
たモールド材との密着性も劣化するため」二限を0.0
2%と定めた。
Pは0.04%を超えると加工性が悪くなり、またモー
ルド材との密着性も劣化するため」二限を0.04%と
定めた。
Sは0.03%を超えると加工性が悪くなり、またモー
ルド材との密着性も劣化するため」二限を0.03%と
定めた。
Siはモールド材との密着性を向上させるとともに脱酸
剤として有効であるが、1.0%を超えると加工性が悪
化するとともに熱膨張係数も大きくなるため好ましくな
い。
Mnはモールド材との密着性を向上させるとともに脱酸
剤、脱硫剤として有効であるが、1.0%を超えると加
工性が悪くなるため好ましくない。
Oは0.01.5%を超えるとモール1〜材との密着性
、あるいはめっき密着性が劣化するため」二限を0.0
15%と定めた。
Nは0.025%を超えると加工性、曲げ性が悪くなり
、またモールド材との密着性も劣化するため上限を0.
025%と定めた。
次に副成分であるが、A1はモール1く材との密着性を
向上させるとともに脱酸剤としても有効であるが、0.
05%未満では効果がなく、]、O%を超えると加工性
が悪くなり、熱膨張係数も大きくなるため好ましくない
Tiはモールド材との密着性を向上させるが、0.01
%未満では効果がなく、1.0%を超えると加工性が悪
くなり、熱膨張係数も大きくなるため好ましくない。
Zrは脱酸剤として有効であるとともに強度の向」二に
有効であるが、0.05%未満では効果がなく、1.0
%を超えると加工性が悪くなり、熱膨張係数も大きくな
るため好ましくない。
Nbは炭化物安定化元素として、特に高Cr4;1の製
造性改善に有効であるとともに、強度の向」二、耐食性
の向上に有効であるが、0.05%未満では効果がなく
、1.0%を超えると熱膨張係数が大きくなるため好ま
しくない。
Cuはモールド材との密着性を向」ニさせるが、0.0
1%未満では効果がなく、2.0%を超えると逆に密着
性を劣化させ、また熱膨張係数も大きくなるため好まし
くない。
Mgは脱酸剤として有効であるとともに強度の向」二に
有効であるが、0.01%未満では効果がなく、0.5
%を超えると熱膨張係数が大きくなるため好ましくない
Caは脱酸剤、脱硫剤として有効であり、ひいては曲げ
加工性等の改善に有効であるが、0.01%未満では効
果がなく、0゜5%を超えると熱膨張係数が大きくなる
ため好ましくない。
■は炭化物安定化元素として、特に高Cr材の製造性改
善に有効であるとともに、強度の向上に有効であるが、
0.01%未満では効果がなく、0.5%を超えると熱
膨張係数が大きくなるため=8− 好ましくない。
Bは強度の向上が極めて有効であるが、0.005%未
満では効果がなく、0.2%を超えると脆性がでてくる
ため、曲げ加工性が劣化するので好ましくない。
なお、結晶粒度は特に限定されるものではない。
〔効 果〕
かくして本発明によれば、半導体素子とも封止摺脂とも
熱膨張の問題がなく、かつ高強度であるとともに、リー
ド材用合金に求められるめっき密着性、曲げ性等につい
て著しく改善された。半導体機器リードに好適な鉄合金
が得られる。
以下、本発明を実施例により詳細に8)2明する。
〔実施例〕
第1表に本発明合金と比較例を示す。
各合金は真空高周波誘導溶解炉により溶解鋳造した後、
熱間圧延と冷間圧延を行い、板厚1.5■の板とした。
この冷延材を焼鈍し、板IIメ0.35■に冷間圧延し
た後、再び光輝焼鈍を行い、最終板厚が0.3mmにな
るように冷間圧延で仕I−げた。         −
・ これらの試料について熱膨張係数、強度、伸び、曲げ性
、めっき密着性を評価した。熱膨張係数は熱膨張計を用
い、25〜250℃までの平均熱膨張係数を求めた。
強度、伸びについては、JIS  13  B 号試験
片により通常の引張試験を行った。
折り曲げ性は、板厚である0、3nwnの曲げRで90
°曲げを行い、曲げ部の目視評価をした。
めっき密着性は、試料に厚さ3μのAgめっきを施し、
この試料を400℃、2分、大気中で加熱し、表面に発
生するフクレの有無を目視観察することにより評価した
これらの結果を第1表に示す。これらの結果かられかる
ように本発明の例は熱膨張特性、引張強さ、伸び、曲げ
性、めっき密着性の全ての諸特性に優れており、42合
金に代替しうる熱膨張特性を有し、樹脂との熱膨張差と
いう観点からは42合金よりも優れた特性を示す。また
、銅合金にくらべ高強度、低熱膨張であるため、42合
金、銅合金では満たすことのできなかった諸特性に優れ
ているとともに、従来のステンレスでは問題のあった曲
げ性、めっき密着性といった項目についても改善がはか
られているため、半導体機器リード用材料として最適で
あり、工業的にその意義は大きいといえる。
以下余白

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)重量%でCr11.5〜18%、C0.1%以下
    、P0.04%以下、S0.03%以下、Si1.0%
    以下、Mn1.0%以下、O0.015%以下、N0.
    025%以下、残部Fe及び不可避的不純物からなるこ
    とを特徴とする半導体機器リード用鉄合金。(2)重量
    %でCr11.5〜18%、C0.1%以下、P0.0
    4%以下、S0.03%以下、Si1.0%以下、Mn
    1.0%以下、O0.015%以下、N0.025%以
    下、副成分としてAl0.05〜1.0%、Ti0.0
    1〜1.0%、Zr0.05〜1.0%、Nb0.05
    〜1.0%、Cu0.01〜2.0%、Mg0.01〜
    0.5%、Ca0.01〜0.5%、V0.01〜0.
    5%、B0.005〜0.2%のうち1種または2種以
    上、残部Fe及び不可避的不純物からなることを特徴と
    する半導体機器リード用鉄合金。
JP13002886A 1986-06-06 1986-06-06 半導体機器リ−ド用鉄合金 Pending JPS62287045A (ja)

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JP13002886A JPS62287045A (ja) 1986-06-06 1986-06-06 半導体機器リ−ド用鉄合金

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JP13002886A JPS62287045A (ja) 1986-06-06 1986-06-06 半導体機器リ−ド用鉄合金

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JPS62287045A true JPS62287045A (ja) 1987-12-12

Family

ID=15024367

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13002886A Pending JPS62287045A (ja) 1986-06-06 1986-06-06 半導体機器リ−ド用鉄合金

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