JPS62206889A - 磁気センサ - Google Patents
磁気センサInfo
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- JPS62206889A JPS62206889A JP61049769A JP4976986A JPS62206889A JP S62206889 A JPS62206889 A JP S62206889A JP 61049769 A JP61049769 A JP 61049769A JP 4976986 A JP4976986 A JP 4976986A JP S62206889 A JPS62206889 A JP S62206889A
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- magnetic sensor
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N52/00—Hall-effect devices
- H10N52/101—Semiconductor Hall-effect devices
Landscapes
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、DCブラッシュレスモークや磁石の位置検出
装置に使用される磁気センサに関する。
装置に使用される磁気センサに関する。
本発明はシリコン単結晶チップの(100)結晶面に形
成されたホール素子を含む磁気センサにおいて、ホール
素子の一対の電流vA勤電電極間流れる駆動電流の方向
が(100)結晶面上の(100)方位又は(010)
方位と略平行となるように配置したので、シリコンチッ
プのピエゾ抵抗効果により生ずるホール素子のオフセン
ト電圧を小さくすることができ検出誤差を最少化する。
成されたホール素子を含む磁気センサにおいて、ホール
素子の一対の電流vA勤電電極間流れる駆動電流の方向
が(100)結晶面上の(100)方位又は(010)
方位と略平行となるように配置したので、シリコンチッ
プのピエゾ抵抗効果により生ずるホール素子のオフセン
ト電圧を小さくすることができ検出誤差を最少化する。
DCブラフシェレスモークや位置検出装置の小型化や低
電圧動作化にともない磁気センサを高感度化する必要が
あった。
電圧動作化にともない磁気センサを高感度化する必要が
あった。
そこで初期においてはホール素子を用いた高感度磁気セ
ンサは、ガリウム・ひ素やインジウム・アンチモン等の
高移動度の半導体材料を用いて作られていた。しかしな
がら上記の半4体材料ではホール素子の他にコンパレー
タや論理回路を1チツプ中に集積してlチップ磁気セン
サを製造することが困難であった。
ンサは、ガリウム・ひ素やインジウム・アンチモン等の
高移動度の半導体材料を用いて作られていた。しかしな
がら上記の半4体材料ではホール素子の他にコンパレー
タや論理回路を1チツプ中に集積してlチップ磁気セン
サを製造することが困難であった。
そこで近年材料としてシリコン単結晶を用いたホール素
子磁気センサス(開発されて来ている。1チツプ集積化
が簡便だからである。特に(100)結晶面を表面とす
るP−シリコン単結晶板は加工が容易なことから好んで
使われており標準材料とな1ている。
子磁気センサス(開発されて来ている。1チツプ集積化
が簡便だからである。特に(100)結晶面を表面とす
るP−シリコン単結晶板は加工が容易なことから好んで
使われており標準材料とな1ている。
しかしながらシリコン単結晶上に形成されたホール素子
には以下の問題点があった。
には以下の問題点があった。
すなわちシリコン単結晶では、ピエゾ抵抗効果が顕著で
ありしかも異方性を存する。ピエゾ抵抗効果とは半導体
チップに応力を加えるとチップ上に形成された素子に抵
抗が生じる現象である。ピエゾ抵抗効果によってシリコ
ンチップ上のホール素子の出力端子にはオフセント電圧
が生じる。オフセッIt圧とは外部磁場が存在しないに
もかかわらず出力端子に生じる電圧である。シリコンチ
ップホール素子ではこのオフセント電圧が大きく、誤検
出の原因となっていた。なお外部応力の原因としては、
チップ実装(グイボンド、モールド)が考えられる。今
ホール素子の磁気感度が20mV/1Ganssである
とするとピエゾ抵抗効果で1++Vのオフセット電圧が
生じた場合50Ganssの検出膜・差を生じる0通常
−30℃〜100℃で100Ganss以上変動し問題
となっていた。
ありしかも異方性を存する。ピエゾ抵抗効果とは半導体
チップに応力を加えるとチップ上に形成された素子に抵
抗が生じる現象である。ピエゾ抵抗効果によってシリコ
ンチップ上のホール素子の出力端子にはオフセント電圧
が生じる。オフセッIt圧とは外部磁場が存在しないに
もかかわらず出力端子に生じる電圧である。シリコンチ
ップホール素子ではこのオフセント電圧が大きく、誤検
出の原因となっていた。なお外部応力の原因としては、
チップ実装(グイボンド、モールド)が考えられる。今
ホール素子の磁気感度が20mV/1Ganssである
とするとピエゾ抵抗効果で1++Vのオフセット電圧が
生じた場合50Ganssの検出膜・差を生じる0通常
−30℃〜100℃で100Ganss以上変動し問題
となっていた。
本発明は前述した従来技術の問題点を解決することを目
的とする。そのために第1図に示すようなオフセット電
圧の小さな磁気センサを得た。。
的とする。そのために第1図に示すようなオフセット電
圧の小さな磁気センサを得た。。
第1図において0は(100)結晶面を表面とするP−
シリコン単結晶チップである。lはチップ表面に形成さ
れたホール素子であって例えばMOS形のものがある。
シリコン単結晶チップである。lはチップ表面に形成さ
れたホール素子であって例えばMOS形のものがある。
なお磁気センサを構成する他の素子については本発明と
直接関係ないので図示されていない、101及び102
はホール素子1の″21t流駆動電極で各々抵抗等を介
して(図示せず)■。。及び接地電位に接続されている
。Hl及びHtはホール素子のボール電圧出力端子であ
る。
直接関係ないので図示されていない、101及び102
はホール素子1の″21t流駆動電極で各々抵抗等を介
して(図示せず)■。。及び接地電位に接続されている
。Hl及びHtはホール素子のボール電圧出力端子であ
る。
外部磁界が存在しないときこの両端に現れる電圧力5オ
フセツト電圧である0本発明においては電流駆動電極1
01及び102間を流れる駆動電流の方向(矢印で表示
)が(100)結晶面上で方位(TOO)又は(010
)と略平行となるように、電極101及び102が配置
されている(ただし第1図において(OI Q)と略平
行配置の例は省略しである)。
フセツト電圧である0本発明においては電流駆動電極1
01及び102間を流れる駆動電流の方向(矢印で表示
)が(100)結晶面上で方位(TOO)又は(010
)と略平行となるように、電極101及び102が配置
されている(ただし第1図において(OI Q)と略平
行配置の例は省略しである)。
さて単結晶板のピエゾ抵抗効果には異方性がある。第1
図に示す曲線Aは(100)P−シリコン結晶面上のピ
エゾ抵抗係数の平面分布を示す。
図に示す曲線Aは(100)P−シリコン結晶面上のピ
エゾ抵抗係数の平面分布を示す。
図から判るように方位(TTO)及び(TIO)に対し
てピエゾ抵抗係数は大きく逆に(TOO)及び(OI
O)方向に対してピエゾ抵抗係数は小さい、そこで本発
明においてはピエゾ抵抗係数の小さい方向に、ホール素
子の駆動電流が平行となるようにホール素子を配置し、
もってピエゾ抵抗効果を排除しオフセット電圧を小さく
するものである1通常、半導体チップでは臂開面が(了
TOI又は(TIO)方位と平行であるのでスクライブ
もこの方向に行われ従って素子の配置方向もこれに平行
としている。しかるに本願発明においてはホール素子の
配置方向を通常とは45°異ならしめている。
てピエゾ抵抗係数は大きく逆に(TOO)及び(OI
O)方向に対してピエゾ抵抗係数は小さい、そこで本発
明においてはピエゾ抵抗係数の小さい方向に、ホール素
子の駆動電流が平行となるようにホール素子を配置し、
もってピエゾ抵抗効果を排除しオフセット電圧を小さく
するものである1通常、半導体チップでは臂開面が(了
TOI又は(TIO)方位と平行であるのでスクライブ
もこの方向に行われ従って素子の配置方向もこれに平行
としている。しかるに本願発明においてはホール素子の
配置方向を通常とは45°異ならしめている。
(実施例)
以下本発明の好適な実施例を図面に基づいて詳細に説明
する。
する。
第2図は2つのほぼ同じ特性のホール素子を同一チップ
上に形成しており各々の駆動電流の方向が方位(TOO
)及び方位(010)と平行となるよう配置されオフセ
ット電圧の最少化が可能な上、各々のホール電圧の加算
を可能としかつ各々のオフセット電圧の補償を可能にし
た磁気センサの一実施例である。0は半導体チップであ
って、P−シリジン単結晶板(100)からなる、1及
び2はほぼ同じ特性のホール素子である。これらホール
素子は例えばMOS型として半導体チップ0上に形成さ
れる。101及び102はホール素子1の駆動電流電極
であって101はドレインとしてPチャネルトランジス
タ4を介してVllllに接続され、102はソースと
して抵抗5を介してV、8(グランド)に接続されてい
る。駆動電流は矢印で示すように電極101から102
に向かうて流れる。同様に201及び202はホール素
子2の駆動電流電極であって201 (ドレイン)はP
チャネルトランジスタ6を介してv611に接続され、
202 (ソース)はnチャネルトランジスタ7を介し
てVss(グランド)に接続されている。駆動電流は矢
印で示すように電極201から202に向かって流れる
。第2図から判るように、ホール素子1の駆動電流が方
位(010)と略平行に流れ、ホール素子2の駆動電流
が方位(Too)と略平行に流れる。従っていずれもオ
フセット電圧は最少化される。第2図から判るようにホ
ール素子1に流れる駆動電流とホール素子2に流れる駆
動電流の方向は直交している。すなわち直交するように
電極配置されている。これによりオフセット電圧が互に
キャンセルされるのであるが後に説明するsHI及びF
I2はホール素子1のホール出力端子であり互いに逆の
電圧変動を示す。Hl及び!(4はホール素子2のホー
ル出力端子であり互いに逆の電圧変動を示す、3はコン
パレータであり、互いに逆の電圧変動を示すホール出力
端子OX及びHlからの信号を入力しかつnチャネルト
ランジスタ7のゲートに信号を出力する。
上に形成しており各々の駆動電流の方向が方位(TOO
)及び方位(010)と平行となるよう配置されオフセ
ット電圧の最少化が可能な上、各々のホール電圧の加算
を可能としかつ各々のオフセット電圧の補償を可能にし
た磁気センサの一実施例である。0は半導体チップであ
って、P−シリジン単結晶板(100)からなる、1及
び2はほぼ同じ特性のホール素子である。これらホール
素子は例えばMOS型として半導体チップ0上に形成さ
れる。101及び102はホール素子1の駆動電流電極
であって101はドレインとしてPチャネルトランジス
タ4を介してVllllに接続され、102はソースと
して抵抗5を介してV、8(グランド)に接続されてい
る。駆動電流は矢印で示すように電極101から102
に向かうて流れる。同様に201及び202はホール素
子2の駆動電流電極であって201 (ドレイン)はP
チャネルトランジスタ6を介してv611に接続され、
202 (ソース)はnチャネルトランジスタ7を介し
てVss(グランド)に接続されている。駆動電流は矢
印で示すように電極201から202に向かって流れる
。第2図から判るように、ホール素子1の駆動電流が方
位(010)と略平行に流れ、ホール素子2の駆動電流
が方位(Too)と略平行に流れる。従っていずれもオ
フセット電圧は最少化される。第2図から判るようにホ
ール素子1に流れる駆動電流とホール素子2に流れる駆
動電流の方向は直交している。すなわち直交するように
電極配置されている。これによりオフセット電圧が互に
キャンセルされるのであるが後に説明するsHI及びF
I2はホール素子1のホール出力端子であり互いに逆の
電圧変動を示す。Hl及び!(4はホール素子2のホー
ル出力端子であり互いに逆の電圧変動を示す、3はコン
パレータであり、互いに逆の電圧変動を示すホール出力
端子OX及びHlからの信号を入力しかつnチャネルト
ランジスタ7のゲートに信号を出力する。
さてコンパレータ3はホール素子lのホール出力Mlと
ホール素子2のホール出力H3の電圧を比較して、ホー
ル出力H1の電圧が・ホール出力■(2の電圧と等しく
するようにnチャネルトランジスタ7のゲートを駆動す
る。nチャネルトランジスタ7のゲート電圧により、チ
ャネル間の抵抗が変化すると、これに連動してホール素
子2の駆動電流端子201と202の電圧が共に変わり
、ホール出力Haの電圧がホール出力H1の電圧に等し
くなるように調節される。
ホール素子2のホール出力H3の電圧を比較して、ホー
ル出力H1の電圧が・ホール出力■(2の電圧と等しく
するようにnチャネルトランジスタ7のゲートを駆動す
る。nチャネルトランジスタ7のゲート電圧により、チ
ャネル間の抵抗が変化すると、これに連動してホール素
子2の駆動電流端子201と202の電圧が共に変わり
、ホール出力Haの電圧がホール出力H1の電圧に等し
くなるように調節される。
抵抗5はホール素子1の電流駆動電極102の電圧を接
地電圧より少し高い電圧に保ち、ホール出力HtとHl
の大小関係によらず、上記の電圧調節機能を働かせるた
めに挿入されている。従ってホール素子1の電流駆動電
極101からホール出力端子H+、Hzまでの距離をホ
ール素子2のそれよりも短くすれば、抵抗5を省略でき
る。
地電圧より少し高い電圧に保ち、ホール出力HtとHl
の大小関係によらず、上記の電圧調節機能を働かせるた
めに挿入されている。従ってホール素子1の電流駆動電
極101からホール出力端子H+、Hzまでの距離をホ
ール素子2のそれよりも短くすれば、抵抗5を省略でき
る。
なおPチャネルトランジスタ4と6はそれぞれホール素
子lと2に同一の定電流を供給する役割を有している。
子lと2に同一の定電流を供給する役割を有している。
すなわちホール素子1及び2の各々の電流駆動電極間電
位差を常に一定でかつ等しく保っている。
位差を常に一定でかつ等しく保っている。
さて第3図に磁気センサに磁界がかかった時の動作を図
示した。外部磁場によりホール素子1と2のホール出力
電圧が変化すると、第2図のコンパレータ3等からなる
回路が動作して、ホール出力H!の電圧V、とホール出
力Hsの電圧v3を等しくする。この時ホール素子2の
電流駆動端子201及び202の電圧VDtとVStは
一定の電位差を保ったまま、ホール素子1の電流駆動端
子101及び102の電圧VlllとVllに対して相
対的にホール素子1のホール電圧6711分(すなわち
Vz −Vt )だけ上方にシフトする。従って磁気セ
ンサ全体のホール電圧VW (すなわちホール出力H
+ とH4の電位差)は、■よ−v1にさらにホール素
子2の出力Vs−Vsが加えられたVn ” (Vt
−Vt )+(Va Vs ) =2ΔVHとなる。
示した。外部磁場によりホール素子1と2のホール出力
電圧が変化すると、第2図のコンパレータ3等からなる
回路が動作して、ホール出力H!の電圧V、とホール出
力Hsの電圧v3を等しくする。この時ホール素子2の
電流駆動端子201及び202の電圧VDtとVStは
一定の電位差を保ったまま、ホール素子1の電流駆動端
子101及び102の電圧VlllとVllに対して相
対的にホール素子1のホール電圧6711分(すなわち
Vz −Vt )だけ上方にシフトする。従って磁気セ
ンサ全体のホール電圧VW (すなわちホール出力H
+ とH4の電位差)は、■よ−v1にさらにホール素
子2の出力Vs−Vsが加えられたVn ” (Vt
−Vt )+(Va Vs ) =2ΔVHとなる。
即ち2つのホール素子のホール電圧を加算できることに
なる。
なる。
次に第4図に磁気センサに磁界がかかつていない時の動
作を図示した。磁気センサのホール素子1に加わる応力
に基づくピエゾ抵抗効果によりオフセット電圧(Vow
−Vo+)が生じる。同様にしてホール素子2にもオフ
セット電圧(V(+4 Voa)が生じる0図ではそ
の大きさが誇張されているが実際にはll1vオーダ以
下である。すなわちホール素子1及び2の電流方向がそ
れぞれ(010)方位及び(Too)方位に平行なため
ピエゾ抵抗効果が小さくオフセット電圧が最少化されて
いる。
作を図示した。磁気センサのホール素子1に加わる応力
に基づくピエゾ抵抗効果によりオフセット電圧(Vow
−Vo+)が生じる。同様にしてホール素子2にもオフ
セット電圧(V(+4 Voa)が生じる0図ではそ
の大きさが誇張されているが実際にはll1vオーダ以
下である。すなわちホール素子1及び2の電流方向がそ
れぞれ(010)方位及び(Too)方位に平行なため
ピエゾ抵抗効果が小さくオフセット電圧が最少化されて
いる。
さて半導体チップのピエゾ抵抗効果若しくはこの効果の
原因となる応力自体に異方性がある。そしてホール素子
1の駆動電流方向とホール素子2の駆動電流を第2図に
示すように互いに直交するよう各々の電流駆動電極を配
置するとこの異方性が働き、ホール素子1のオフセット
電圧(Vex V。l)とホール素子2のオフセット
電圧(V114 V。、)は絶対値は略等しいながら
極性が逆になる場合が多い、従って両オフセット電圧は
先に述べたコンパレータ3等の働きにより加算され、キ
ャンセル又は相殺される。結果として磁気センサ全体の
オフセット電圧(すなわちホール出力H1とホール出力
H4の無磁界特電位差)もさらに小さくできる。
原因となる応力自体に異方性がある。そしてホール素子
1の駆動電流方向とホール素子2の駆動電流を第2図に
示すように互いに直交するよう各々の電流駆動電極を配
置するとこの異方性が働き、ホール素子1のオフセット
電圧(Vex V。l)とホール素子2のオフセット
電圧(V114 V。、)は絶対値は略等しいながら
極性が逆になる場合が多い、従って両オフセット電圧は
先に述べたコンパレータ3等の働きにより加算され、キ
ャンセル又は相殺される。結果として磁気センサ全体の
オフセット電圧(すなわちホール出力H1とホール出力
H4の無磁界特電位差)もさらに小さくできる。
第5図に第2図の磁気センサの回路構成を簡略化した本
発明の他の実施例を示す、同一番号は第2図と同一の番
号に対応している0個々のホール素子に発生したホール
電圧を加算するという目的のためには、第2図のように
、ホール素子2の電流駆動電極201と202の両方の
電圧を同時に変動させる必要はない、第5図においては
ホール素子2の電流駆動電極202の電圧だけを動がし
てボール出力H1とHコの電圧を等しくしようとするも
のである。このようにしても一般に個々のホール電圧は
電流駆動電極201と202間に印加される電圧と比較
して極めて小さいので、電流駆動電極202の電圧がホ
ール電圧程度変動したとしてもホール素子2の磁気感度
はホール素子lの磁気感度と同じと考えられる。従って
この場合も大略側々のホール電圧の2倍の全ホール電圧
出力を得ることができる。なおゲートにV、の電圧が印
加されたnチャネルトランジスタ9は、第2図の抵抗5
と同じ働きをするものである。
発明の他の実施例を示す、同一番号は第2図と同一の番
号に対応している0個々のホール素子に発生したホール
電圧を加算するという目的のためには、第2図のように
、ホール素子2の電流駆動電極201と202の両方の
電圧を同時に変動させる必要はない、第5図においては
ホール素子2の電流駆動電極202の電圧だけを動がし
てボール出力H1とHコの電圧を等しくしようとするも
のである。このようにしても一般に個々のホール電圧は
電流駆動電極201と202間に印加される電圧と比較
して極めて小さいので、電流駆動電極202の電圧がホ
ール電圧程度変動したとしてもホール素子2の磁気感度
はホール素子lの磁気感度と同じと考えられる。従って
この場合も大略側々のホール電圧の2倍の全ホール電圧
出力を得ることができる。なおゲートにV、の電圧が印
加されたnチャネルトランジスタ9は、第2図の抵抗5
と同じ働きをするものである。
第5図に示す実施例においてもホール素子1の電流方向
は方位(010)に平行でありホール素子2の電流方向
は方位(Too)に平行である。
は方位(010)に平行でありホール素子2の電流方向
は方位(Too)に平行である。
従っていずれもオフセット電圧が最少化されている。
さらに第5図に示す実施例においてもホール素子1と2
とは各々の駆動電流の方向が互いに直交するよう配置さ
れている。従ってピエゾ抵抗効果の異方性又は加わる応
力の異方性により各々のホール素子に発生するオフセッ
ト電圧はキャンセルされることが確かめられた。
とは各々の駆動電流の方向が互いに直交するよう配置さ
れている。従ってピエゾ抵抗効果の異方性又は加わる応
力の異方性により各々のホール素子に発生するオフセッ
ト電圧はキャンセルされることが確かめられた。
最後に本発明は2つのホール素子を結合配置するものに
限られず3つ以上のホール素子を用いても良い。
限られず3つ以上のホール素子を用いても良い。
本発明によればホール素子の駆動電流の流れる方向をチ
ップのピエゾ抵抗効果が最少となる方向に合わせたので
オフセント電圧を小さくすることができ、検出誤差の無
い磁気センサが得られるという効果がある。
ップのピエゾ抵抗効果が最少となる方向に合わせたので
オフセント電圧を小さくすることができ、検出誤差の無
い磁気センサが得られるという効果がある。
第1図は磁気センサチップの平面図、第2図は磁気セン
サの配置及び電気的接続を示す図、第3図は外部磁場が
存在する場合の磁気センサの動作を説明する図、第4図
は外部磁場が存在しない場合の磁気センサの動作を説明
する図、及び第5図は磁気センサの他の実施例を示す図
である。 0・・・・−・(100)P−シリコンチップト−・・
・・−ホール素子 101.102・−・・・・−・電流駆動電極以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 (oto) (HoJ [o
ol窟槍Jセ、ンη′干、ラフ°乎(I犯 *娘イ列加次スゼンザの凶Δa及グ°都縁図凛2図 [0101 イ也の庚9芭イσ11の茅蜘践センV@ム置柩吉(象図
凛5図
サの配置及び電気的接続を示す図、第3図は外部磁場が
存在する場合の磁気センサの動作を説明する図、第4図
は外部磁場が存在しない場合の磁気センサの動作を説明
する図、及び第5図は磁気センサの他の実施例を示す図
である。 0・・・・−・(100)P−シリコンチップト−・・
・・−ホール素子 101.102・−・・・・−・電流駆動電極以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 (oto) (HoJ [o
ol窟槍Jセ、ンη′干、ラフ°乎(I犯 *娘イ列加次スゼンザの凶Δa及グ°都縁図凛2図 [0101 イ也の庚9芭イσ11の茅蜘践センV@ム置柩吉(象図
凛5図
Claims (3)
- (1) シリコン単結晶チップの(100)結晶面に形
成されており、かつ外部磁場に対し互いに逆の電圧変動
を示す第1及び第2のホール出力端子と2つの電流駆動
電極とから構成されるホール素子を少なくとも一つ含む
磁気センサにおいて、電流駆動電極は駆動電流の方向が
〔■00〕方位又は〔010〕方位と略平行となるよう
に(100)結晶面上に配置されることを特徴とする磁
気センサ。 - (2) ホール素子は複数個あり、異なるホール素子間
の第1と第2のホール出力端子の電位を一致させるため
各々のホール素子の電流駆動電極の電位を調節する手段
を具備する特許請求の範囲第1項記載の磁気センサ。 - (3) 各々のホール素子に流れる駆動電流の方向が互
いに直交するよう配置されている特許請求の範囲第1項
又は第2項記載の磁気センサ。
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JP61049769A JPS62206889A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 磁気センサ |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007502965A (ja) * | 2003-08-15 | 2007-02-15 | システマティック デザイン ホールディング ベー.フェー. | ホールセンサーを使用することによって磁場を測定するための方法および装置 |
JP2008022022A (ja) * | 2004-03-30 | 2008-01-31 | Denso Corp | 縦型ホール素子およびその製造方法 |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH669068A5 (de) * | 1986-04-29 | 1989-02-15 | Landis & Gyr Ag | Integrierbares hallelement. |
DE3860447D1 (de) * | 1988-04-26 | 1990-09-13 | Landis & Gyr Betriebs Ag | Anordnung zur verminderung von piezoeffekten in mindestens einem in einem halbleitermaterial angeordneten piezoeffekt-empfindlichen elektrischen bauelement und verfahren zur herstellung dieser anordnung. |
DE3870879D1 (de) * | 1988-10-13 | 1992-06-11 | Siemens Ag | Anordnung zur beruehrungsfreien erfassung der drehzahl eines rotierenden zahnrades. |
JP2522214B2 (ja) * | 1989-10-05 | 1996-08-07 | 日本電装株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
US5119166A (en) * | 1990-02-06 | 1992-06-02 | Honeywell Inc. | Hall effect element aligned to reduce package-induced offsets |
US5396455A (en) * | 1993-04-30 | 1995-03-07 | International Business Machines Corporation | Magnetic non-volatile random access memory |
US5422621A (en) * | 1993-10-29 | 1995-06-06 | International Business Machines Corporation | Oriented granular giant magnetoresistance sensor |
DE19808929A1 (de) * | 1998-03-03 | 1999-09-16 | Fraunhofer Ges Forschung | Sensoranordnung |
US6019086A (en) * | 1998-05-28 | 2000-02-01 | Cummins Engine Co. Inc. | Redundant sensor apparatus for determining engine speed and timing values |
US6094912A (en) * | 1999-02-12 | 2000-08-01 | Stirling Technology Company | Apparatus and method for adaptively controlling moving members within a closed cycle thermal regenerative machine |
US7106233B2 (en) * | 2003-01-30 | 2006-09-12 | Delphi Technologies, Inc. | Integrated galvanomagnetic sensor array system |
JP4505338B2 (ja) * | 2003-01-31 | 2010-07-21 | コミサリア、ア、レネルジ、アトミク−セーエーアー | 無線周波数磁界を感知する素子 |
US6903429B2 (en) * | 2003-04-15 | 2005-06-07 | Honeywell International, Inc. | Magnetic sensor integrated with CMOS |
JP2005333103A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-12-02 | Denso Corp | 縦型ホール素子およびその製造方法 |
JP4039436B2 (ja) * | 2004-08-06 | 2008-01-30 | 株式会社デンソー | 回転角検出装置 |
US9000761B2 (en) | 2012-01-19 | 2015-04-07 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Hall-effect sensor isolator |
CN104303065B (zh) * | 2012-06-29 | 2017-04-12 | 旭化成微电子株式会社 | 霍尔电动势校正装置以及霍尔电动势校正方法 |
US11354558B2 (en) | 2013-01-18 | 2022-06-07 | Amatech Group Limited | Contactless smartcards with coupling frames |
US10283699B2 (en) | 2016-01-29 | 2019-05-07 | Avago Technologies International Sales Pte. Limited | Hall-effect sensor isolator |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50140083A (ja) * | 1974-04-26 | 1975-11-10 | ||
JPS54143085A (en) * | 1978-04-28 | 1979-11-07 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Hall element |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3419798A (en) * | 1965-12-17 | 1968-12-31 | Clark Equipment Co | Displacement sensing transducer using hall effect devices |
JPS561789B2 (ja) * | 1974-04-26 | 1981-01-16 | ||
JPS5412280A (en) * | 1977-06-29 | 1979-01-29 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
NO802936L (no) * | 1979-10-08 | 1981-04-09 | Duraplug Elect Ltd | Elektrisk bryteranordning |
DE3001772A1 (de) * | 1980-01-18 | 1981-07-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Halbleiterbauelement |
JPS57107087A (en) * | 1980-12-25 | 1982-07-03 | Toshiba Corp | Hall effect device |
JPS582084A (ja) * | 1981-06-26 | 1983-01-07 | Toshiba Corp | ホ−ル素子装置 |
JPS582085A (ja) * | 1981-06-26 | 1983-01-07 | Toshiba Corp | ホ−ル素子装置 |
US4465976A (en) * | 1982-01-26 | 1984-08-14 | Sprague Electric Company | Hall element with bucking current and magnet biases |
JPS60130215A (ja) * | 1983-12-19 | 1985-07-11 | Toshiba Corp | ホ−ル素子を用いた高安定スイツチ回路 |
JPS61194885A (ja) * | 1985-02-25 | 1986-08-29 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 磁気センサ |
JPS62208682A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-12 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 磁気センサ |
-
1986
- 1986-03-07 JP JP61049769A patent/JPS62206889A/ja active Pending
-
1987
- 1987-03-04 US US07/021,671 patent/US4875011A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-03-05 EP EP87301930A patent/EP0237280A3/en not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50140083A (ja) * | 1974-04-26 | 1975-11-10 | ||
JPS54143085A (en) * | 1978-04-28 | 1979-11-07 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Hall element |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007502965A (ja) * | 2003-08-15 | 2007-02-15 | システマティック デザイン ホールディング ベー.フェー. | ホールセンサーを使用することによって磁場を測定するための方法および装置 |
JP4785743B2 (ja) * | 2003-08-15 | 2011-10-05 | システマティック デザイン ホールディング ベー.フェー. | ホールセンサーを使用することによって磁場を測定するための方法および装置 |
JP2008022022A (ja) * | 2004-03-30 | 2008-01-31 | Denso Corp | 縦型ホール素子およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US4875011A (en) | 1989-10-17 |
EP0237280A3 (en) | 1989-04-12 |
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