JPS5972746A - フイルムマウント形集積回路の保護方法および装置 - Google Patents
フイルムマウント形集積回路の保護方法および装置Info
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- JPS5972746A JPS5972746A JP58171031A JP17103183A JPS5972746A JP S5972746 A JPS5972746 A JP S5972746A JP 58171031 A JP58171031 A JP 58171031A JP 17103183 A JP17103183 A JP 17103183A JP S5972746 A JPS5972746 A JP S5972746A
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
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- H01L23/49572—Lead-frames or other flat leads consisting of thin flexible metallic tape with or without a film carrier
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K1/02—Details
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、フィルムにマウントされた集積回路(マイク
ロパック)を取扱う際に静電気帯電による破壊からその
集積回路を保護する方法および装置に関する。
ロパック)を取扱う際に静電気帯電による破壊からその
集積回路を保護する方法および装置に関する。
MO8技術で製作された集積回路が静電気帯電に対して
敏感なことは知られている。このような静電気帯電は集
積回路自体、あるいはこの集積回路が取付けられている
アセンブリを取扱う際に生ぜしめられ、集積回路を破壊
する。しかしながら、別の技術で構成された集積回路に
おいても、そのないし第6項のいずれかに記載の装置。
敏感なことは知られている。このような静電気帯電は集
積回路自体、あるいはこの集積回路が取付けられている
アセンブリを取扱う際に生ぜしめられ、集積回路を破壊
する。しかしながら、別の技術で構成された集積回路に
おいても、そのないし第6項のいずれかに記載の装置。
(4)
危険はこの集積回路の集積密度が増せば増す程問題とな
る。そのために、将来は静電気帯電に対する集積回路の
一般的な保護が必要となる。このことは、フィルム・キ
ャリヤにマウントされマイクロパックとして取扱われて
処理されるような集積回路に対して特にあてはまる。
る。そのために、将来は静電気帯電に対する集積回路の
一般的な保護が必要となる。このことは、フィルム・キ
ャリヤにマウントされマイクロパックとして取扱われて
処理されるような集積回路に対して特にあてはまる。
静電気帯電に対して集積回路を保護する普通の方法はこ
の集積回路を短絡または接地することである。たとえば
フィルムに÷ラントされた集積回路においては、集積回
路の導体路接続体を外部ボンディング領域を越えて延ば
して1個または複数個の短絡点にまとめ、この短絡点を
さらにフィルム全長に亘って設けられているアース・バ
ーに接続することが知られている。
の集積回路を短絡または接地することである。たとえば
フィルムに÷ラントされた集積回路においては、集積回
路の導体路接続体を外部ボンディング領域を越えて延ば
して1個または複数個の短絡点にまとめ、この短絡点を
さらにフィルム全長に亘って設けられているアース・バ
ーに接続することが知られている。
集積回路の電気試験を行なうためにはその接続体は分離
されなければならず、その試験後は別の取扱いのために
再びアース・バーに接続されなけノ にばならない。このことはたとえば、短絡点を切するこ
とによって行なうことができる。しかしながらこの方法
は、切取られた短絡点の寸法が小さいために再閉鎖の際
に高精密な作業を必要とし、たいてい手作業でしか実施
可能ではない。そこで集積回路の導体路接続体を次のよ
うに形成することも既に提案されている。すなわち、短
絡点とアース・バーとの間の導線内に両者を互いに結合
する導電性面を設け、この導電性面は2辺が切断されて
フィルムの切抜き部の上に配置され、第3辺の切開後筒
4辺によって上下に折り返されて短絡点に至るすべての
導線を覆うように設計することである。このような措置
は非常に良好な結果を生じるが、しかしながら集積回路
の接続体が多いためにそのような導電性面を取付けるた
めのスペースがもはや得られないような場合には使用す
ることができない。
されなければならず、その試験後は別の取扱いのために
再びアース・バーに接続されなけノ にばならない。このことはたとえば、短絡点を切するこ
とによって行なうことができる。しかしながらこの方法
は、切取られた短絡点の寸法が小さいために再閉鎖の際
に高精密な作業を必要とし、たいてい手作業でしか実施
可能ではない。そこで集積回路の導体路接続体を次のよ
うに形成することも既に提案されている。すなわち、短
絡点とアース・バーとの間の導線内に両者を互いに結合
する導電性面を設け、この導電性面は2辺が切断されて
フィルムの切抜き部の上に配置され、第3辺の切開後筒
4辺によって上下に折り返されて短絡点に至るすべての
導線を覆うように設計することである。このような措置
は非常に良好な結果を生じるが、しかしながら集積回路
の接続体が多いためにそのような導電性面を取付けるた
めのスペースがもはや得られないような場合には使用す
ることができない。
本発明は、非常に多くの外部接続体を有する集!積回路
においても簡単かつ確実なやり方で、フィlルムにマウ
ントされた集積回路(マイクロパック)の外部導体路構
造を短絡することができるような、静電気帯電による破
壊からマイクロパックを保護する方法および装置を提供
することを目的とする。
においても簡単かつ確実なやり方で、フィlルムにマウ
ントされた集積回路(マイクロパック)の外部導体路構
造を短絡することができるような、静電気帯電による破
壊からマイクロパックを保護する方法および装置を提供
することを目的とする。
この目的は本発明によれば、かかる保護方法に関しては
、それぞれのマイクロパックがフィルム・テープから分
離された後に保持フレーム内に入れられてそこに固定さ
れ、前記マイクロパックが次に前記保持フレーム内で試
験され、その後前記マイクロパックの外部導体路構造を
短絡する第2のフレームが前記保持フレーム内に入れら
れてそこに固定され、前記マイクロパックが最終の組立
てに至るまで両フレーム間にとどめられるようにするこ
とによって達成される。
、それぞれのマイクロパックがフィルム・テープから分
離された後に保持フレーム内に入れられてそこに固定さ
れ、前記マイクロパックが次に前記保持フレーム内で試
験され、その後前記マイクロパックの外部導体路構造を
短絡する第2のフレームが前記保持フレーム内に入れら
れてそこに固定され、前記マイクロパックが最終の組立
てに至るまで両フレーム間にとどめられるようにするこ
とによって達成される。
この本発明による方法によれば、短絡導体路を有してい
ないフィルムマウント形集積回路(フィルムにマウント
された集積回路)および短絡導体路を有しているフィル
ムマウント形集積回路を保護することができ、その際外
部導体路接続体がボンディング領域を越えて延ばされて
短絡点にまとめられているような集積回路においては、
保持フレーム内にマイクロパックを入れた後に短絡点が
打ち抜かれる。
ないフィルムマウント形集積回路(フィルムにマウント
された集積回路)および短絡導体路を有しているフィル
ムマウント形集積回路を保護することができ、その際外
部導体路接続体がボンディング領域を越えて延ばされて
短絡点にまとめられているような集積回路においては、
保持フレーム内にマイクロパックを入れた後に短絡点が
打ち抜かれる。
さらに本発明による方法によれば、マイクロパックの個
々の導体路接続体あるいは短絡点での行なうべき困難な
作業および非常に多数の接続体を有するマイクロパック
において行なうべき困難な作業を回避して、静電気帯電
による破壊から優れた保護を得ることが可能である。本
発明による他の利点は、マイクロパックが最終的な組立
てに至るまで保護され、組立て後初めて極めて簡単な操
作によって保護装置から解放されることである。
々の導体路接続体あるいは短絡点での行なうべき困難な
作業および非常に多数の接続体を有するマイクロパック
において行なうべき困難な作業を回避して、静電気帯電
による破壊から優れた保護を得ることが可能である。本
発明による他の利点は、マイクロパックが最終的な組立
てに至るまで保護され、組立て後初めて極めて簡単な操
作によって保護装置から解放されることである。
しかして上記目的は本発明によれば、かかる保護装置に
関しては、外形寸法が基本的には光波術における通常の
スライドフレームに相当する保持フレームが設けられ、
この保持フレームは加工すべきマイクロパックに自由に
接近できるように内部に備えられた中央窓とマイクロパ
ックの孔内に置および平面位置を固定するために分散配
置された複数個の保持用突起とを有し、分散配置された
閉鎖ノブを備えた短絡フレームが設けられ、この閉鎖ノ
ブは短絡フレームを保護フレーム内に入れた後に保持フ
レームの切欠孔と係合するようにされ、さらに分散配置
された平面状の短絡領域が前記短絡フレームに設けられ
るようにすることによって達成される。
関しては、外形寸法が基本的には光波術における通常の
スライドフレームに相当する保持フレームが設けられ、
この保持フレームは加工すべきマイクロパックに自由に
接近できるように内部に備えられた中央窓とマイクロパ
ックの孔内に置および平面位置を固定するために分散配
置された複数個の保持用突起とを有し、分散配置された
閉鎖ノブを備えた短絡フレームが設けられ、この閉鎖ノ
ブは短絡フレームを保護フレーム内に入れた後に保持フ
レームの切欠孔と係合するようにされ、さらに分散配置
された平面状の短絡領域が前記短絡フレームに設けられ
るようにすることによって達成される。
このような本発明による保護装置をいつでも再使用でき
るようにすることは好ましいことである。
るようにすることは好ましいことである。
次に、本発明を図面に示した実施例に基づいて詳細に説
明する。
明する。
第1図にはフィルムにマウントされた集積回路(マイク
ロパック)16が示されている。このマイクロパック1
6においては、マイクロパックの中央部に配置された集
積回路の外部導体路接続体17はその外部ボンディング
領域を越えて延ばされ、短絡点18にまとめられている
。この短絡点この短絡導体路21を介して接地すること
ができる。マイクロパンク16内の集積回路の電気試験
を行なうために、外部導体路接続体17または試験点2
5は導体路2J−から分離される。この分離は、符号2
6で示されているように、たとえば短絡点18の打ち抜
きによって行なわれる。
ロパック)16が示されている。このマイクロパック1
6においては、マイクロパックの中央部に配置された集
積回路の外部導体路接続体17はその外部ボンディング
領域を越えて延ばされ、短絡点18にまとめられている
。この短絡点この短絡導体路21を介して接地すること
ができる。マイクロパンク16内の集積回路の電気試験
を行なうために、外部導体路接続体17または試験点2
5は導体路2J−から分離される。この分離は、符号2
6で示されているように、たとえば短絡点18の打ち抜
きによって行なわれる。
第2図には保持フレーム1の一実施例が示されている。
この保持フレームJの外形寸法は基本的には光波術にお
ける通常のスライドフレームに相当している。保持フレ
ーム1の内部には、加工すべきマイクロパック16に自
由に接近できるように中央窓5が備えられている。さら
に、保持フレーム1にはフレームのたとえば2つの側辺
側に複数個の保持用突起2,3が設けられており、この
保持用突起2,3はマイクロパック]6の孔と係合して
、フレーム]の内部にそのマイクロノシック]6の側辺
位置および平面位置を固定する。さらに、保持フレーム
Jには分散して配設された切欠”1LlOの列が設けら
れている。この切欠孔10内には、第3図に示されてい
るように、短絡フレーム1.1,1.3の一方の面上に
配設されている閉鎖ノブ12が入り込む。さらに保持フ
レーム1には切欠23が設けられており、この切欠23
はマイクロパック16が保持フレーム1内にある場合に
もそのマイクロパンクJ6の短絡点18を打ち抜くこと
ができるようにするために使われる。
ける通常のスライドフレームに相当している。保持フレ
ーム1の内部には、加工すべきマイクロパック16に自
由に接近できるように中央窓5が備えられている。さら
に、保持フレーム1にはフレームのたとえば2つの側辺
側に複数個の保持用突起2,3が設けられており、この
保持用突起2,3はマイクロパック]6の孔と係合して
、フレーム]の内部にそのマイクロノシック]6の側辺
位置および平面位置を固定する。さらに、保持フレーム
Jには分散して配設された切欠”1LlOの列が設けら
れている。この切欠孔10内には、第3図に示されてい
るように、短絡フレーム1.1,1.3の一方の面上に
配設されている閉鎖ノブ12が入り込む。さらに保持フ
レーム1には切欠23が設けられており、この切欠23
はマイクロパック16が保持フレーム1内にある場合に
もそのマイクロパンクJ6の短絡点18を打ち抜くこと
ができるようにするために使われる。
第3図Cには対称線の左と右に短絡フレームの2つの異
なった実施例が示されており、一つの実施例は短絡フレ
ーム1]として示され、他の実施例は短絡フレーム]3
として示されている。短絡フレーム]i、、13の重要
な点は、この短絡フレームがマイクロパック16の短絡
点]8または外部導体路接続体ゴー7の上に置かれる導
電性ニレメン)1.4,1.5を有することである。そ
の際に、その導電性エレメント1.4,1.5はウェブ
またはダイアフラム28を介して短絡フレーム1,1゜
、1315は、第4図に拡大図が示されているように、
たとえば短絡点18の周りを取り巻く領域27に押圧さ
れる。
なった実施例が示されており、一つの実施例は短絡フレ
ーム1]として示され、他の実施例は短絡フレーム]3
として示されている。短絡フレーム]i、、13の重要
な点は、この短絡フレームがマイクロパック16の短絡
点]8または外部導体路接続体ゴー7の上に置かれる導
電性ニレメン)1.4,1.5を有することである。そ
の際に、その導電性エレメント1.4,1.5はウェブ
またはダイアフラム28を介して短絡フレーム1,1゜
、1315は、第4図に拡大図が示されているように、
たとえば短絡点18の周りを取り巻く領域27に押圧さ
れる。
短絡フレームはたとえば炭素繊維が充填された合成樹脂
のような静電気防止特性を有する合成樹脂から成るのが
好ましく、また導電性エレメント14.1.5は少なく
ともその表面がメタライズされると良い。
のような静電気防止特性を有する合成樹脂から成るのが
好ましく、また導電性エレメント14.1.5は少なく
ともその表面がメタライズされると良い。
第5図にはフィルムにマウントされた集積回路]6の別
の例が示されている。この集積回路16においては、第
1−図の例と反対に、外部導体路接続体17および試験
点25は長く延ばされておらず、短絡点にまとめられる
か、あるいは短絡点を介して接地される。フィルムにマ
ウントされたこの種の集積回路が本発明による装置によ
って静電気帯電に対して確実に保護される様子は第6図
にの導電性エレメント15はウェブあるいはダイアフラ
ム28を介して短絡フレーム13の本体と結合されてい
る。この細片状あるいはフレーム状の導電性エレメント
15は、第5図に示したマイクロパック16の場合には
、第6図aに符号2/Iで明示したように、外部ボンデ
ィング領域1−7を試験点25と結合する外部導体路区
間上に直接置かれる。
の例が示されている。この集積回路16においては、第
1−図の例と反対に、外部導体路接続体17および試験
点25は長く延ばされておらず、短絡点にまとめられる
か、あるいは短絡点を介して接地される。フィルムにマ
ウントされたこの種の集積回路が本発明による装置によ
って静電気帯電に対して確実に保護される様子は第6図
にの導電性エレメント15はウェブあるいはダイアフラ
ム28を介して短絡フレーム13の本体と結合されてい
る。この細片状あるいはフレーム状の導電性エレメント
15は、第5図に示したマイクロパック16の場合には
、第6図aに符号2/Iで明示したように、外部ボンデ
ィング領域1−7を試験点25と結合する外部導体路区
間上に直接置かれる。
第2図、第3図、第4図および第6図に示した保持フレ
ームlおよび短絡フレーム2の実施例は単に例としてあ
げられただけにすぎず、本発明の精神を逸脱しない範囲
内で、保護されるべきフィルムマウント形集積回路(フ
ィルムにマウントされた集積回路)の形態に応じて変え
ることができる。
ームlおよび短絡フレーム2の実施例は単に例としてあ
げられただけにすぎず、本発明の精神を逸脱しない範囲
内で、保護されるべきフィルムマウント形集積回路(フ
ィルムにマウントされた集積回路)の形態に応じて変え
ることができる。
第1図は短絡導体路によって保護されたフイ明による保
持フレームの一実施例を示す概略図、第3図a、b、c
はそれぞれ保持フレーム、フイルムマウン+、形集積回
路(マイクロパック)および短絡フレームの相対的位置
関係を示すための分解図、第4図a、b、cはそれぞれ
リング状の導電性短絡エレメントの形状および位置を示
すための部分的拡大図、第5図は短絡導体路構造によっ
ては保護されていないフィルムマウント形集積回路の概
略図、第6図a、bはそれぞれ細片状あるいはフレーム
状の導電性短絡エレメントの位置および構成を示す部分
拡大図である。 ]・・・保持フレーム、2,3・・・保持用突起、5・
・・中央窓、10・・・切欠孔、1.1.13・・・短
絡フレーム、12・・・閉鎖ノブ、1−4.、1.5・
・・導電性エレメント、16・・・マイクロパック(フ
ィルムマウント形集積回路)、]7・・・外部導体路接
続体、18・・・短絡点、21・・・短絡導体路、23
・・・切欠。
持フレームの一実施例を示す概略図、第3図a、b、c
はそれぞれ保持フレーム、フイルムマウン+、形集積回
路(マイクロパック)および短絡フレームの相対的位置
関係を示すための分解図、第4図a、b、cはそれぞれ
リング状の導電性短絡エレメントの形状および位置を示
すための部分的拡大図、第5図は短絡導体路構造によっ
ては保護されていないフィルムマウント形集積回路の概
略図、第6図a、bはそれぞれ細片状あるいはフレーム
状の導電性短絡エレメントの位置および構成を示す部分
拡大図である。 ]・・・保持フレーム、2,3・・・保持用突起、5・
・・中央窓、10・・・切欠孔、1.1.13・・・短
絡フレーム、12・・・閉鎖ノブ、1−4.、1.5・
・・導電性エレメント、16・・・マイクロパック(フ
ィルムマウント形集積回路)、]7・・・外部導体路接
続体、18・・・短絡点、21・・・短絡導体路、23
・・・切欠。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)静電気帯電による破壊からフィルムにマウントされ
た集積回路(マイクロパック)を保護する方法であって
、次のステップ、すなわち、 a)それぞれのマイクロパック(16)がフィルム・テ
ープから分離された後に保持フレーム(1)内に入れら
れてそこに固定され、b)前記マイクロパック(16)
が試験され、 C)前記マイクロパックの外部導体路構造を短絡(14
,15)する第2のフレーム(短絡71)−ム)(11
,13)が前記保持フレーム(1)内に入れられてそこ
に固定され、d)前記マイクロパック(16)は最終の
間にとどめられる、 という各ステップを有することを特徴とするフィルムマ
ウント形集積回路の保護方法。 2)外部導体路接続体(17)はボンディング領域を越
えて延ばされて、1個または複数個の短絡点(18,2
1)にまとめられ、マイクロパック(16)を保持フレ
ーム(]、 ) 内に入れた後に前記短絡点(18)が
打ち抜かれることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の方法。 3)静電気帯電による破壊からフィルムにマウントされ
た集積回路(マイクロパック)を保護する方法を実施す
るための装置であって、外形寸法が基本的には光波術に
おける通常のスライドフレームに相当する保持フレーム
(1)が設けられ、この保持フレーム(]、 )は加工
すべきマイクロパック(16)に自由に接近できるよう
に内部に備えられた中央窓んで前記保持フレーム内に前
記マイクロパック(16)の位置および平面位置を固定
するために分散して配設された複数個の保持用突起(2
,3)とを有し、さらに分散して配設された閉鎖ノブ(
12)を備えた短絡フレーム(11,、]、]3が設け
られ、前記閉鎖ノブは前記短絡フレーム(11,,1,
3)を前記保持フレーム(1)内に入れた後に前記保持
フレーム(1)の切欠孔(10)と係合するようにされ
、また分散して配設された平面状の短絡領域(1,4−
、]−5)が前記短絡フレームに設けられていることを
特徴とするフィルムマウント形集積回路の保護装置。 4)前記マイクロパック(]、 ]6)の短絡点(1−
8)の上に置かれる11個または複数個のリング状の導
電性ニレメン) (14,)が設けられ、このリング状
の導電性エレメントはウェブまたはダイアフラム(28
)によって前記短絡フとする特許請求の範囲第3項記載
の装置。 5)前記マイクロパック(]、 O)の外部導体路接続
体(17)の上に置かれる1個または複数個の細片状あ
るいはフレーム状の導電性エレメント115)が設けら
れ、この導電性エレメントはウェブあるいはダイアフラ
ム(2B)によって短絡フレーム(13)と結合されて
いることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の装置
。 6)前記短絡フレーム(11,,11)は静電気防止特
性を有する合成樹脂から成ることを特徴とする特許請求
の範囲第3項ないし第5項のいずれかに記載の装置。 7)前記マイクロパック(16)の短絡されるべき外部
導体路接続体(17)または短絡点(18)の上に置か
れるエレメント(1−4。 15)の少なくとも表面がメタライズされていることを
特徴とする特許請求の範囲第3項し−ム(11)と結合
されていることを特徴(3) 8)前記保持フレーム(J、)には、この保持フレーム
内に前記マイクロノザック(16)が取付けられた際に
そのマイクロパックの短絡点(18)を打ち抜くことが
できるようにするための切欠(23)が設けられている
ことを特徴とする特許請求の範囲第3項ないし第7項の
いずれかに記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3234745A DE3234745C2 (de) | 1982-09-20 | 1982-09-20 | Verfahren zur Handhabung von filmmontierten integrierten Schaltkreisen und Vorrichtung zu seiner Durchführung |
DE3234745.6 | 1982-09-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5972746A true JPS5972746A (ja) | 1984-04-24 |
JPS6334624B2 JPS6334624B2 (ja) | 1988-07-11 |
Family
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---|---|---|---|---|
US4744009A (en) * | 1986-10-31 | 1988-05-10 | Amp Incorporated | Protective carrier and securing means therefor |
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US5008614A (en) * | 1988-10-11 | 1991-04-16 | Hewlett-Packard Company | TAB frame and process of testing same |
US4999700A (en) * | 1989-04-20 | 1991-03-12 | Honeywell Inc. | Package to board variable pitch tab |
JPH0727927B2 (ja) * | 1990-03-12 | 1995-03-29 | 株式会社東芝 | テープキャリア |
EP0468275B1 (de) * | 1990-07-23 | 1996-06-12 | Siemens Nixdorf Informationssysteme Aktiengesellschaft | Filmträger zur bandautomatischen Verdrahtung |
US5400219A (en) * | 1992-09-02 | 1995-03-21 | Eastman Kodak Company | Tape automated bonding for electrically connecting semiconductor chips to substrates |
US5396032A (en) * | 1993-05-04 | 1995-03-07 | Alcatel Network Systems, Inc. | Method and apparatus for providing electrical access to devices in a multi-chip module |
US6127196A (en) * | 1995-09-29 | 2000-10-03 | Intel Corporation | Method for testing a tape carrier package |
JP3080175B2 (ja) | 1996-05-17 | 2000-08-21 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 半導体チップ用の支持部材 |
DE19635732A1 (de) * | 1996-09-03 | 1998-03-05 | Siemens Ag | Trägerelement für einen Halbleiterchip |
DE19620025A1 (de) * | 1996-05-17 | 1997-11-20 | Siemens Ag | Trägerelement für einen Halbleiterchip |
EP1360724B1 (en) * | 2000-07-21 | 2006-07-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of fabricating integrated circuits, providing improved so-called "saw bow" conductive tracks |
WO2010099217A1 (en) | 2009-02-25 | 2010-09-02 | Braincells, Inc. | Modulation of neurogenesis using d-cycloserine combinations |
USD984397S1 (en) * | 2021-03-16 | 2023-04-25 | Yidong Cai | Circuit board |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5338838U (ja) * | 1976-09-09 | 1978-04-05 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3027004A (en) * | 1957-08-13 | 1962-03-27 | Ind Electronic Hardware Corp | Pin-receiving contacts for printed circuit board |
US3774075A (en) * | 1970-09-23 | 1973-11-20 | Motorola Inc | Package including electrical equipment lead shorting element |
US3746157A (en) * | 1971-10-26 | 1973-07-17 | Motorola Inc | Protective carrier for semiconductor devices |
GB1326437A (en) * | 1971-12-22 | 1973-08-15 | Bowthorpe Hellermann Ltd | Retaining clips |
US3784960A (en) * | 1972-05-01 | 1974-01-08 | Bunker Ramo | Carrier for integrated circuit packages |
DE2315711B2 (de) * | 1973-03-29 | 1980-07-17 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zum Kontaktieren einer integrierten Schaltungsanordnung |
US3820152A (en) * | 1973-04-24 | 1974-06-25 | Du Pont | Circuit package with fugitive shorting bar |
US3823350A (en) * | 1973-09-05 | 1974-07-09 | Atomic Energy Commission | Protective carrier for semiconductor chips |
US4007479A (en) * | 1976-03-29 | 1977-02-08 | Honeywell Information Systems, Inc. | Fixture for an integrated circuit chip |
US4069496A (en) * | 1976-12-30 | 1978-01-17 | Honeywell Information Systems Inc. | Reusable fixture for an integrated circuit chip |
US4132856A (en) * | 1977-11-28 | 1979-01-02 | Burroughs Corporation | Process of forming a plastic encapsulated molded film carrier CML package and the package formed thereby |
DE2830937A1 (de) * | 1978-07-14 | 1980-01-24 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zum schutz einer elektronischen schaltgruppe |
US4249196A (en) * | 1978-08-21 | 1981-02-03 | Burroughs Corporation | Integrated circuit module with integral capacitor |
DE3035125C2 (de) * | 1980-09-17 | 1986-07-31 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Integrierter Schaltkreis |
DE3207458C1 (de) * | 1982-03-02 | 1983-06-09 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Halterung fuer die Einzelverarbeitung von filmmotierten integrierten Schaltkreisen |
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JPS5338838U (ja) * | 1976-09-09 | 1978-04-05 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US5338973A (en) * | 1990-08-22 | 1994-08-16 | Nec Corporation | Carrier for film carrier type semiconductor device |
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