JPS5841358A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPS5841358A JPS5841358A JP56138444A JP13844481A JPS5841358A JP S5841358 A JPS5841358 A JP S5841358A JP 56138444 A JP56138444 A JP 56138444A JP 13844481 A JP13844481 A JP 13844481A JP S5841358 A JPS5841358 A JP S5841358A
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N2035/00346—Heating or cooling arrangements
- G01N2035/00356—Holding samples at elevated temperature (incubation)
- G01N2035/00386—Holding samples at elevated temperature (incubation) using fluid heat transfer medium
- G01N2035/00396—Holding samples at elevated temperature (incubation) using fluid heat transfer medium where the fluid is a liquid
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- G01N2035/00346—Heating or cooling arrangements
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、自動分析装置に係り、特に試料に試薬を添加
して化学反応を生ぜしめ、試料の呈色状態を光学的に測
定して試料中の成分を分析する装置に関する。
して化学反応を生ぜしめ、試料の呈色状態を光学的に測
定して試料中の成分を分析する装置に関する。
従来のディスクリートタイプの臨床用自動分析装置は、
反応ライン上にある反応容器に試料をサンプリング機構
によってサンプリングする。その後、試料を収容した反
応容器に分析項目に応じて試薬を試薬分配装置によって
供給する。反応容器に試薬が供給されると試料は化学反
応を起こし、試料の呈色状態を光学的に測定する。光学
的な測定方法としては、反応容器内の反応液を別のフロ
ーセルに導いて光度計で吸光度を測定をして、あるいは
反応容器に直接光を照射して吸光度測定をして測定すべ
き分析項目を求めている。
反応ライン上にある反応容器に試料をサンプリング機構
によってサンプリングする。その後、試料を収容した反
応容器に分析項目に応じて試薬を試薬分配装置によって
供給する。反応容器に試薬が供給されると試料は化学反
応を起こし、試料の呈色状態を光学的に測定する。光学
的な測定方法としては、反応容器内の反応液を別のフロ
ーセルに導いて光度計で吸光度を測定をして、あるいは
反応容器に直接光を照射して吸光度測定をして測定すべ
き分析項目を求めている。
一般に、この種の分析装置では、1つの試料について多
数の分析項目を分析している。また1つの分析項目に対
して複数種の試薬を必要とするとともある。このように
分析装置は試料の分析のために多数の試薬を必要とする
。従来の分析装置の試薬分配装置は、試薬に応じて専用
のシリンジ機構を持っていた。たとえば、18項目の分
析項目を測定するのに30種の試薬が必要であれば、試
薬分配装置は30台のシリンジ機構が必要であった。
数の分析項目を分析している。また1つの分析項目に対
して複数種の試薬を必要とするとともある。このように
分析装置は試料の分析のために多数の試薬を必要とする
。従来の分析装置の試薬分配装置は、試薬に応じて専用
のシリンジ機構を持っていた。たとえば、18項目の分
析項目を測定するのに30種の試薬が必要であれば、試
薬分配装置は30台のシリンジ機構が必要であった。
また、従来の分析装置は、試薬交換時に反応ラインに試
薬をこぼして汚染するのを防止するために、試薬を収容
する試薬液槽を反応ラインとは位置的に離れた場所に保
存している。この場合、試薬分配装置のシリンジ機構は
、試薬液槽からチューブを介して試薬を吸入し、さらに
チューブを反応ラインまで延ばして試薬を反応容器に排
出する構成になっている。
薬をこぼして汚染するのを防止するために、試薬を収容
する試薬液槽を反応ラインとは位置的に離れた場所に保
存している。この場合、試薬分配装置のシリンジ機構は
、試薬液槽からチューブを介して試薬を吸入し、さらに
チューブを反応ラインまで延ばして試薬を反応容器に排
出する構成になっている。
さらに、はとんどの試薬は長期間の使用による変質防止
のため、低温保存される。しかしながら低温にすると結
晶析出等により使用不能になる試薬もある。このため、
従来より自動分析装置は試薬を低温保存する冷蔵庫と常
温保存する試薬収納部を有している。冷蔵庫は前面開閉
蓋方式が一般的であシ、試薬収納後完全に密閉しないと
冷気が下方よシ放散してしまうため、板ガラス2重構造
で、且つそのガラス間を真空引きをして断熱するという
複雑な構造と々っていた。
のため、低温保存される。しかしながら低温にすると結
晶析出等により使用不能になる試薬もある。このため、
従来より自動分析装置は試薬を低温保存する冷蔵庫と常
温保存する試薬収納部を有している。冷蔵庫は前面開閉
蓋方式が一般的であシ、試薬収納後完全に密閉しないと
冷気が下方よシ放散してしまうため、板ガラス2重構造
で、且つそのガラス間を真空引きをして断熱するという
複雑な構造と々っていた。
さらにまた、反応容器は恒温槽によって常に恒温化され
ているが、恒温槽の温度制御には専用の機構が必要であ
った。
ているが、恒温槽の温度制御には専用の機構が必要であ
った。
このように従来の分析装置では、分析項目が増大すると
装置全体としても大型化せざるを得ない欠点があった。
装置全体としても大型化せざるを得ない欠点があった。
したがって、本発明は全体的にコンパクト化した自動分
析装置を実現し、多数の分析項目を小形の分析装置で測
定できるようにすることを目的としている。
析装置を実現し、多数の分析項目を小形の分析装置で測
定できるようにすることを目的としている。
本発明では、上述の目的を達成するために、各試薬毎に
専用のシリンジ機構を設けることなく、各試薬に共通の
ピペッティング機構を採用し、また試薬を低温保存する
冷蔵庫と常温保存する収納部とをユニット化して一体の
試薬貯留部を構成し、かつ冷蔵庫と恒温槽とを共通の冷
凍機で温度制御するようにした。
専用のシリンジ機構を設けることなく、各試薬に共通の
ピペッティング機構を採用し、また試薬を低温保存する
冷蔵庫と常温保存する収納部とをユニット化して一体の
試薬貯留部を構成し、かつ冷蔵庫と恒温槽とを共通の冷
凍機で温度制御するようにした。
第1図は、本発明の一実施例である自動分析装置の全体
構成概略図である。第1図において、分析装置は機能的
にはサンプリング系1反応系、試薬貯留部、試薬分配系
および信号処理・制御系に分けることができる。
構成概略図である。第1図において、分析装置は機能的
にはサンプリング系1反応系、試薬貯留部、試薬分配系
および信号処理・制御系に分けることができる。
まず、サンプリング系について説明する。サンプリング
系はサンプラ一部とサンプリング機構40とで構成され
る。
系はサンプラ一部とサンプリング機構40とで構成され
る。
サンプラ一部10は試料テーブル11と、イオン分析槽
15と、これらを回転させる駆動部を備えている。試料
テーブル11には、外周側の複数の孔に分析すべき試料
を装填した普通試料容器列12と、内周側の複数の孔に
緊急検査用試料や標準試料を装填配列した特殊試料容器
列13が形成されておシ、これらの試料容器は必要に応
じて試料吸入位置44および44′に回転移送される。
15と、これらを回転させる駆動部を備えている。試料
テーブル11には、外周側の複数の孔に分析すべき試料
を装填した普通試料容器列12と、内周側の複数の孔に
緊急検査用試料や標準試料を装填配列した特殊試料容器
列13が形成されておシ、これらの試料容器は必要に応
じて試料吸入位置44および44′に回転移送される。
試料テーブルエ1の内側には回転可能なイオン分析槽1
5があり、内部にナトリウムイオン用、カリウムイオン
用、塩素イオン用等の複数のイオン選択電極16、比較
電極17とが延在されている。
5があり、内部にナトリウムイオン用、カリウムイオン
用、塩素イオン用等の複数のイオン選択電極16、比較
電極17とが延在されている。
これらの電極は図示しないサンプリング機構によって、
試料容器列からサンプリングされた試料が分析槽15内
に導入され、希釈液によって希釈されたときに、その液
に浸漬される状態になるよう調節される。
試料容器列からサンプリングされた試料が分析槽15内
に導入され、希釈液によって希釈されたときに、その液
に浸漬される状態になるよう調節される。
サンプリング機構4oは、試料吸排管4工を保持した回
転腕と、この回転腕の上下機構と、サンプル用ピペッタ
42を備えておシ、試料吸排管41を試料吸入位置44
および44′と、試料吐出位置450間に移動し得、各
位置において試料吸排管を上下動し得る。
転腕と、この回転腕の上下機構と、サンプル用ピペッタ
42を備えておシ、試料吸排管41を試料吸入位置44
および44′と、試料吐出位置450間に移動し得、各
位置において試料吸排管を上下動し得る。
サンプリング機構40の試料吸排管41は、試料吸入前
に洗浄部41で洗浄される。洗浄部41は試料吸排管4
1の移動経路中に設けられている。
に洗浄部41で洗浄される。洗浄部41は試料吸排管4
1の移動経路中に設けられている。
次に反応系について説明する。
反応部20は、ドーナツ状の恒温通路23とその上に配
設された反応テーブル21を備えており、反応テーブル
21の高さ位置は、試料テーブル11とほぼ同じである
。恒温通路23は恒温槽からなり、恒温水供給部29か
ら恒温液を循環される。恒温水供給部29はたとえば、
250〜37Cにわたって水温が可変できる。反応テー
ブル21には多数の孔があシ、それらの孔に角形透明セ
ルからなる反応容器22が装填され、反応容器列を形成
する。反応容器の下部は恒温液に浸される。
設された反応テーブル21を備えており、反応テーブル
21の高さ位置は、試料テーブル11とほぼ同じである
。恒温通路23は恒温槽からなり、恒温水供給部29か
ら恒温液を循環される。恒温水供給部29はたとえば、
250〜37Cにわたって水温が可変できる。反応テー
ブル21には多数の孔があシ、それらの孔に角形透明セ
ルからなる反応容器22が装填され、反応容器列を形成
する。反応容器の下部は恒温液に浸される。
図示しない駆動機構によって連続的および間欠的に回転
される反応テーブル21の内側には光源25があシ、光
源25からの光束26は恒温通路23内の反応容器22
を通過して光度計27に導かれ、光度計27内で回折格
子によって光分散された後、特定の波長光が光検知器を
介して取り出される。反応容器22内の内容物は攪拌機
28によって攪拌される。
される反応テーブル21の内側には光源25があシ、光
源25からの光束26は恒温通路23内の反応容器22
を通過して光度計27に導かれ、光度計27内で回折格
子によって光分散された後、特定の波長光が光検知器を
介して取り出される。反応容器22内の内容物は攪拌機
28によって攪拌される。
反応容器列上には純水吐出管および液体吸出管をそれぞ
れ複数備えた洗浄機24があり、反応テーブル21の停
止時にこれらの管が反応容器内に挿入されて洗浄操作が
行なわれる。洗浄機24は洗浄用シリンジ58を備えて
おり、液体吸出管による液体吸出−純水吐出管による純
水吐出−液体吸出管による純水吸出を一工程とした洗浄
操作を行う。1個の反応容器に対して3回洗浄操作を行
う。
れ複数備えた洗浄機24があり、反応テーブル21の停
止時にこれらの管が反応容器内に挿入されて洗浄操作が
行なわれる。洗浄機24は洗浄用シリンジ58を備えて
おり、液体吸出管による液体吸出−純水吐出管による純
水吐出−液体吸出管による純水吸出を一工程とした洗浄
操作を行う。1個の反応容器に対して3回洗浄操作を行
う。
次に試薬貯留部について説明する。
試薬液貯留部30は、反応部2oと近接して配置され、
試薬液容器31.31’の高さ位置は反応テーブル21
とほぼ同じにされる。貯留部30は冷蔵庫から成9、内
部に直方体形状の試薬液容器31.31’が直列に2列
並べられている。各試薬液容器31は分析項目に応じて
準備される。
試薬液容器31.31’の高さ位置は反応テーブル21
とほぼ同じにされる。貯留部30は冷蔵庫から成9、内
部に直方体形状の試薬液容器31.31’が直列に2列
並べられている。各試薬液容器31は分析項目に応じて
準備される。
各容器31.31’には開口32.32’がある。
が、これらの開口は、反応容器22の列との関係貯留部
30の詳細はFig、3およびFig、4を参照して後
述する。
30の詳細はFig、3およびFig、4を参照して後
述する。
次に試薬分配系について説明する。
試薬用ピペッタ35は、図示しないレール上を移送され
る試薬ピペッティング部36.37を備エテおり、これ
らのピペッティング部36.37には試薬吸排管38,
39が取り付けられている。
る試薬ピペッティング部36.37を備エテおり、これ
らのピペッティング部36.37には試薬吸排管38,
39が取り付けられている。
これらの試薬吸排管38と39は、それぞれ独立に往復
移動される。試薬吸排管38は開口32の列に沿って移
動され、試薬吐出位置46まで移動される。試薬吸排管
39は開口32′の列に沿って移動され、試薬吐出位置
47まで移動される。
移動される。試薬吸排管38は開口32の列に沿って移
動され、試薬吐出位置46まで移動される。試薬吸排管
39は開口32′の列に沿って移動され、試薬吐出位置
47まで移動される。
試薬液容器31の列と31′の列は平行に配列され、開
口32と32′の列も平行に配列されている。試薬液槽
31.31’は直方体であるので、極めて密に隣接して
多数並べることができる。試薬吸排管38,39は分析
項目に応じて適切な試薬液槽31.31’の開口上に停
止され、下降して試薬液を吸入保持し、上昇後、保持し
た試薬液を反応容器22内に吐出し得る。試薬吸排管3
8゜39は、試薬吸入前に洗浄部38A、39Aでそれ
ぞれ洗浄される。試薬容器列31の開口32と、洗浄部
38Aと、反応テーブル21の試薬吐出位置46は1直
線上にある。また試薬容器列31′の開口32′と、洗
浄部39Aと、反応テーブル21の試薬吐出位置47の
関係も同じである。試薬吸排管38,39は、図示して
いないが試薬の液面センサを備えており、その液面セン
サの出力によって試薬の液面位置を検出する。このセン
サの働きによって試薬吸排管38,39は常に一定量の
試薬を管内に吸入する。試薬ピペッティング部36.3
7は、図示しないがブレヒートを備えておシ、試薬吸排
管38,39が試薬吐出位置46.47に移動する間に
反応に適した温度まで試薬を加熱する。
口32と32′の列も平行に配列されている。試薬液槽
31.31’は直方体であるので、極めて密に隣接して
多数並べることができる。試薬吸排管38,39は分析
項目に応じて適切な試薬液槽31.31’の開口上に停
止され、下降して試薬液を吸入保持し、上昇後、保持し
た試薬液を反応容器22内に吐出し得る。試薬吸排管3
8゜39は、試薬吸入前に洗浄部38A、39Aでそれ
ぞれ洗浄される。試薬容器列31の開口32と、洗浄部
38Aと、反応テーブル21の試薬吐出位置46は1直
線上にある。また試薬容器列31′の開口32′と、洗
浄部39Aと、反応テーブル21の試薬吐出位置47の
関係も同じである。試薬吸排管38,39は、図示して
いないが試薬の液面センサを備えており、その液面セン
サの出力によって試薬の液面位置を検出する。このセン
サの働きによって試薬吸排管38,39は常に一定量の
試薬を管内に吸入する。試薬ピペッティング部36.3
7は、図示しないがブレヒートを備えておシ、試薬吸排
管38,39が試薬吐出位置46.47に移動する間に
反応に適した温度まで試薬を加熱する。
最後に信号処理・制御系について説明する。対数変換器
53は光度−計27からの透過光強度に応じた測定信号
を対数変換を行う。この変換値はA/Df侯器54にと
りこまれ、ディジタル信号に変換される。プリンタ55
は試料の分析項目毎に測定結果を印字する。CRT56
は測定結果や分析条件等を表示する。カセットテープレ
コーダ57は分析条件が記憶されたカセットテープを用
いて分析を行うときに使用する。カセットテープレコー
ダ57でカセットテープを読ませた後、試薬液槽を交換
すれば、自動的に分析項目は変更できる。
53は光度−計27からの透過光強度に応じた測定信号
を対数変換を行う。この変換値はA/Df侯器54にと
りこまれ、ディジタル信号に変換される。プリンタ55
は試料の分析項目毎に測定結果を印字する。CRT56
は測定結果や分析条件等を表示する。カセットテープレ
コーダ57は分析条件が記憶されたカセットテープを用
いて分析を行うときに使用する。カセットテープレコー
ダ57でカセットテープを読ませた後、試薬液槽を交換
すれば、自動的に分析項目は変更できる。
操作パネル52は、外部から項目キー、プロファイルキ
ー、テンキーを用いて分析項目1項目別分析条件を入力
するために使用する。マイクロコンピュータ51は本装
置の全体の制御を受は持つ。
ー、テンキーを用いて分析項目1項目別分析条件を入力
するために使用する。マイクロコンピュータ51は本装
置の全体の制御を受は持つ。
マイクロコンピュータ51はインターフェイス回路50
を介してA/D変換器54、プリンタ55、CRT56
、カセットテープレコーダ57、操作パネル52との情
報のやシとりゃサンプリング系、反応系、試薬貯蔵部、
試薬分配系の制御を行う。
を介してA/D変換器54、プリンタ55、CRT56
、カセットテープレコーダ57、操作パネル52との情
報のやシとりゃサンプリング系、反応系、試薬貯蔵部、
試薬分配系の制御を行う。
分析すべき試料を載置した試料テーブル11をサンプラ
ー10に設置して、操作パネル52のスタートボタンを
押すと、分析装置の動作が開始される。サンプリング機
構40の試料吸排管41が、試料吸入位置44または4
4′から試料を吸入保持し、試料吐出位1145に保持
試料を吐出すると、反応容器22の列は光束26を横切
るように移送され、反応テーブル21が1回転と1ステ
ツプして試料を受入れた反応容器の次の反応容器が試料
吐出位置45に位置づけられる。このサンプリング動作
は連続的にくり返される。試料テーブル11は、分析項
目数だけサンプリングが行なわれたのち、1ステツプ回
転し、次の試料の分析に備える。
ー10に設置して、操作パネル52のスタートボタンを
押すと、分析装置の動作が開始される。サンプリング機
構40の試料吸排管41が、試料吸入位置44または4
4′から試料を吸入保持し、試料吐出位1145に保持
試料を吐出すると、反応容器22の列は光束26を横切
るように移送され、反応テーブル21が1回転と1ステ
ツプして試料を受入れた反応容器の次の反応容器が試料
吐出位置45に位置づけられる。このサンプリング動作
は連続的にくり返される。試料テーブル11は、分析項
目数だけサンプリングが行なわれたのち、1ステツプ回
転し、次の試料の分析に備える。
このように試料のサンプリング動作毎に反、6テーブル
21が1回転と1ステップ進みながら、最初に試料を受
は入れた反応容器が試薬吐出位置48に達する。試薬ピ
ペッティング部37は、分析項目に応じた試薬を試薬液
槽31′から吸入し、それを保持した状態で試料吐出位
置48まで移動し、反応容器に吐出する。反応容器の試
料は試薬が添加されると化学反応を起し呈色を示す。
21が1回転と1ステップ進みながら、最初に試料を受
は入れた反応容器が試薬吐出位置48に達する。試薬ピ
ペッティング部37は、分析項目に応じた試薬を試薬液
槽31′から吸入し、それを保持した状態で試料吐出位
置48まで移動し、反応容器に吐出する。反応容器の試
料は試薬が添加されると化学反応を起し呈色を示す。
試薬ピペッティング部37は試薬吐出佼、洗浄部39A
で試薬吸#管39を洗浄し、次の反応容器の試薬吐出に
備える。そして最初の反応容器が試薬吐出位置46に到
達すると、分析項目に応じて試薬分配の必要性があれば
、試薬ピペッティング部36が試薬分配を実施する。
で試薬吸#管39を洗浄し、次の反応容器の試薬吐出に
備える。そして最初の反応容器が試薬吐出位置46に到
達すると、分析項目に応じて試薬分配の必要性があれば
、試薬ピペッティング部36が試薬分配を実施する。
flA/1”−’ツIイ/グl’+li :S (i
、 l 7 +、Iそ71ぞれレールに垂下されておシ
、レールに沿って移動するが、これらは、レールととも
に上下動することができる。試薬吸排管38,39は各
試薬液槽の開口32,32’の立置に必要に応じて停止
し得る。
、 l 7 +、Iそ71ぞれレールに垂下されておシ
、レールに沿って移動するが、これらは、レールととも
に上下動することができる。試薬吸排管38,39は各
試薬液槽の開口32,32’の立置に必要に応じて停止
し得る。
ピペッティング部36.37の駆動部の動作はマイクロ
コンピュータ51によって制御される。吐出位置46.
47に来た試料の分析項目に対応する試薬が試薬ピペッ
ティング部36.37によって選択され、対応する試薬
液槽31,31’の上で吸排管38,39が一旦停止す
る。続いてピペッティング部36.37が下降して試染
用ピペッタ35の動作によシ、吸排管38,39内に所
定量の試薬液を吸入保持した後ピペッティング部36.
37を上昇し、吸排管38,39を試薬吐出位置46.
47まで水平移動して、対応する反応容器内へ吸排管内
に保持していた試薬液を吐出する。
コンピュータ51によって制御される。吐出位置46.
47に来た試料の分析項目に対応する試薬が試薬ピペッ
ティング部36.37によって選択され、対応する試薬
液槽31,31’の上で吸排管38,39が一旦停止す
る。続いてピペッティング部36.37が下降して試染
用ピペッタ35の動作によシ、吸排管38,39内に所
定量の試薬液を吸入保持した後ピペッティング部36.
37を上昇し、吸排管38,39を試薬吐出位置46.
47まで水平移動して、対応する反応容器内へ吸排管内
に保持していた試薬液を吐出する。
反応容器内の試料は、反応テーブル21がサンプリング
動作の都度回転されるから、サンプリング動作にともな
って光束26を横切り、呈色状態を観測できる。つまり
、反応容器が洗浄機24の位置に達するまでの間複数回
にわたって同じ試料について光学的特性が観測される。
動作の都度回転されるから、サンプリング動作にともな
って光束26を横切り、呈色状態を観測できる。つまり
、反応容器が洗浄機24の位置に達するまでの間複数回
にわたって同じ試料について光学的特性が観測される。
光度計27の光電検出器によって受光された光は、図示
しない波長選択回路により分析項目に応じた必要な波長
が選択され、透過光強度に応じた大きさの信号が対数変
侠器53に導かれる。アナログ信号はそのfA/D変換
器54によってデイジタル信号に変換され、インターフ
ニー150回路ヲ介してマイクロコンピュータ51に導
かれ、必要な演算が行なわれ、結果がメモリに記憶され
る。特定分析項目についての複数回にわたる測光動作の
すべてが終了したとき、複数回の測光データが比較され
、必要な演算がなされて、当該分析項目の濃度値がプリ
ンタ55に印字される。
しない波長選択回路により分析項目に応じた必要な波長
が選択され、透過光強度に応じた大きさの信号が対数変
侠器53に導かれる。アナログ信号はそのfA/D変換
器54によってデイジタル信号に変換され、インターフ
ニー150回路ヲ介してマイクロコンピュータ51に導
かれ、必要な演算が行なわれ、結果がメモリに記憶され
る。特定分析項目についての複数回にわたる測光動作の
すべてが終了したとき、複数回の測光データが比較され
、必要な演算がなされて、当該分析項目の濃度値がプリ
ンタ55に印字される。
このようにして最初に試料を入れた反応容器が光度計位
置を通過すると測定は完了する。そして洗浄位置に達す
ると洗浄機24によって洗浄され、次の試料の測定に備
える。
置を通過すると測定は完了する。そして洗浄位置に達す
ると洗浄機24によって洗浄され、次の試料の測定に備
える。
第2図は第1図に示した分析装置の外観図を示す。第2
図に示すように、サンプラ一部10、反応部20および
試薬貯蔵部30は隣接し、はぼ同一面上に配置されてい
る。恒温水供給部29、サンプル用ピペッタ42、洗浄
用シリンジ58、試薬用ピペッタ35、マイクロコンピ
ュータ51、インターフェイス回路50、対数変換器5
3、A/D変換器54の低電源回路、洗浄用蒸留水タン
ク、廃液タンク等は本体に内蔵されている。サンプラ一
部10において、試料テーブル11は2個の穴が形成さ
れた。テーブルカバー1OAによってぶたされる。2個
の穴はそれぞれ普通試料容器12と特殊試料容器13に
そ−れぞれ対応し、サンプリング+!j、構40の試料
吸排管41は、テーブルカバー1OAの穴を通して試料
を吸入する。テーブルカバー1OAは試料容器に収容し
た試料が汚染するのを防止する。また、カバー61は、
分析を行っている間ぶたされており、反応部20、試薬
貯留部30?外部汚染から防止している。
図に示すように、サンプラ一部10、反応部20および
試薬貯蔵部30は隣接し、はぼ同一面上に配置されてい
る。恒温水供給部29、サンプル用ピペッタ42、洗浄
用シリンジ58、試薬用ピペッタ35、マイクロコンピ
ュータ51、インターフェイス回路50、対数変換器5
3、A/D変換器54の低電源回路、洗浄用蒸留水タン
ク、廃液タンク等は本体に内蔵されている。サンプラ一
部10において、試料テーブル11は2個の穴が形成さ
れた。テーブルカバー1OAによってぶたされる。2個
の穴はそれぞれ普通試料容器12と特殊試料容器13に
そ−れぞれ対応し、サンプリング+!j、構40の試料
吸排管41は、テーブルカバー1OAの穴を通して試料
を吸入する。テーブルカバー1OAは試料容器に収容し
た試料が汚染するのを防止する。また、カバー61は、
分析を行っている間ぶたされており、反応部20、試薬
貯留部30?外部汚染から防止している。
第2図からも明らかなように、従来の分析装置に比べ、
簡素で小形な構造となる。
簡素で小形な構造となる。
次に試薬貯留部30について第3図〜第11図を参照し
て説明する。第3図は、試薬貯留部の全体構成を示し、
分析装置の冷蔵装置としてユニットで組み込まれている
。第3図において、試薬貯留部30はふた70によって
、ふたがなされ、冷凍機部80によって冷蔵される。な
お、恒温水供給部29は反応部20へ恒温水を共給する
。ふた70には案内枠70A、70Bが取り付けられて
いる。案内枠70A、70Bはそれぞれ試薬ピペッティ
ング部36.37の試薬吸排管38,39の通路となる
。
て説明する。第3図は、試薬貯留部の全体構成を示し、
分析装置の冷蔵装置としてユニットで組み込まれている
。第3図において、試薬貯留部30はふた70によって
、ふたがなされ、冷凍機部80によって冷蔵される。な
お、恒温水供給部29は反応部20へ恒温水を共給する
。ふた70には案内枠70A、70Bが取り付けられて
いる。案内枠70A、70Bはそれぞれ試薬ピペッティ
ング部36.37の試薬吸排管38,39の通路となる
。
第4図および第5図は、試薬貯留部30の内部4造を示
す。第4図および第5図において、冷媒ガスを通す蒸発
器301の全側壁に冷蔵箱302が溶接などで取り付け
ている。収納箱303は室温を保持する。冷蔵箱302
と収納箱303は外箱304によってつつまれている。
す。第4図および第5図において、冷媒ガスを通す蒸発
器301の全側壁に冷蔵箱302が溶接などで取り付け
ている。収納箱303は室温を保持する。冷蔵箱302
と収納箱303は外箱304によってつつまれている。
冷蔵箱302の全側面および下面は断熱材309が外箱
304との間に隙1…なくつめられている。冷蔵箱30
2と収納箱303との間には断冷バッキング310がは
めこまれており、収納箱303が冷蔵されるの?防ぐ。
304との間に隙1…なくつめられている。冷蔵箱30
2と収納箱303との間には断冷バッキング310がは
めこまれており、収納箱303が冷蔵されるの?防ぐ。
外気が高湿度の場合や高温の場合、冷蔵箱302内の冷
気伝導による外箱304の結露防止のために、外箱30
4の内側にはヒータ311が張りめぐらしである。冷蔵
箱302と収納箱303内には、試薬液槽31.31’
が規定位置にセットできるように仕切板305,306
が取りはずし可能に入っている。仕切板305,306
は、中間板307,308を持ち上げることによって、
冷蔵箱302と収納箱303から出すことができる。
気伝導による外箱304の結露防止のために、外箱30
4の内側にはヒータ311が張りめぐらしである。冷蔵
箱302と収納箱303内には、試薬液槽31.31’
が規定位置にセットできるように仕切板305,306
が取りはずし可能に入っている。仕切板305,306
は、中間板307,308を持ち上げることによって、
冷蔵箱302と収納箱303から出すことができる。
蕗6図および第7図を参照して冷蔵箱302の仕切板3
05と中間板307の一実施例を説明する。中間板30
7の上部には第4図に示す通り開口部を狭くした2個の
溝が設けている。一方仕切板305の上部には中間板3
07をほめ込む長溝312が設けられている。中間板3
07を仕切板305の長溝312にほめ込んだ後、溶接
等により中間板307を仕切板305に固定する。31
3は中間板307を持ち上げるための把手である。
05と中間板307の一実施例を説明する。中間板30
7の上部には第4図に示す通り開口部を狭くした2個の
溝が設けている。一方仕切板305の上部には中間板3
07をほめ込む長溝312が設けられている。中間板3
07を仕切板305の長溝312にほめ込んだ後、溶接
等により中間板307を仕切板305に固定する。31
3は中間板307を持ち上げるための把手である。
把手313は第7図に示すように、両端面には、中間板
307が入る溝314とピ/315を挿入する2段の穴
316が設けられている。穴316に挿入したピン31
5には押しばね317が、抜は止めリング318により
保持されている。このピン315を矢印方向に押しなが
ら中間板317の溝にeよめて手を離すとピン315の
太い部分が中間板307の抜は止めとなる。
307が入る溝314とピ/315を挿入する2段の穴
316が設けられている。穴316に挿入したピン31
5には押しばね317が、抜は止めリング318により
保持されている。このピン315を矢印方向に押しなが
ら中間板317の溝にeよめて手を離すとピン315の
太い部分が中間板307の抜は止めとなる。
試薬貯留部30の蓋70の詳細を第8図〜第10図に示
す。
す。
蓋70には前述の試薬液容器31,31’の開口32.
32’に合致する孔701,701’があけてあり、そ
の上に通常は閉じていて試薬吸引管38.39が試薬を
吸引するときのみ矢印方向に開く/キノターフ02が取
付けである。シャッター702の両側面各々4箇所には
第9図に示すボールベアリング703がピン704に回
転可能に取付けてる。このボールベアリング703は蓋
70の両端面4ケ所に堀込んだ第10図の溝705゜7
06に保合しその中で回転移動する。
32’に合致する孔701,701’があけてあり、そ
の上に通常は閉じていて試薬吸引管38.39が試薬を
吸引するときのみ矢印方向に開く/キノターフ02が取
付けである。シャッター702の両側面各々4箇所には
第9図に示すボールベアリング703がピン704に回
転可能に取付けてる。このボールベアリング703は蓋
70の両端面4ケ所に堀込んだ第10図の溝705゜7
06に保合しその中で回転移動する。
第11図、に冷却配管系路(太線)と眠気制御回路図を
示す。冷凍機80は、詳細に図示されていないが圧縮機
と受液器と凝縮器等により構成されている。付凍1lf
i80から出たガスは一方、キャピラリーチューブ80
1を通#)電磁弁802および803に分岐されている
。電磁弁802は試薬液貯留部30に巻付けられている
蒸発器301に接続され、また電磁弁803は蒸発器3
0iの出口に接続されていて、電磁弁802と電磁弁8
03との開閉は互に反対に作動するように回路構成され
ている。
示す。冷凍機80は、詳細に図示されていないが圧縮機
と受液器と凝縮器等により構成されている。付凍1lf
i80から出たガスは一方、キャピラリーチューブ80
1を通#)電磁弁802および803に分岐されている
。電磁弁802は試薬液貯留部30に巻付けられている
蒸発器301に接続され、また電磁弁803は蒸発器3
0iの出口に接続されていて、電磁弁802と電磁弁8
03との開閉は互に反対に作動するように回路構成され
ている。
試薬液貯留部30を通ったガスは、電磁弁804と80
5に分岐され、一方の電磁弁804側は恒温槽部29内
の蒸発器291に接続されている。
5に分岐され、一方の電磁弁804側は恒温槽部29内
の蒸発器291に接続されている。
また他方の電磁弁805側は、冷気放出器806内の蒸
発器807に接続されていてその出口は前記蒸発器29
1の出口と結合し冷凍機80に戻される。電磁弁804
と805との開閉は互に反対に作動するように回路構成
されている。
発器807に接続されていてその出口は前記蒸発器29
1の出口と結合し冷凍機80に戻される。電磁弁804
と805との開閉は互に反対に作動するように回路構成
されている。
冷凍機80から分岐した他方はキャピラリーチューブ8
08を通シ電磁弁809に接続されている。電磁弁80
9の出口は前述の電磁弁804の出口と納会一体化され
ている。これ等一群の電磁弁のうち802と803は試
薬液貯溜部30の冷蔵箱302に取付けたサーモスタッ
ト320によって作動する接点部321に接続され、冷
蔵箱302が設定した温度以下になったときに接点32
1は■1側に接続されて電磁弁802は閉路し、電磁弁
803は開路となる。電磁弁804,805は、自動分
析装置のメインスイッチ810によって制御される。即
ちON側に投入したとき電磁弁804が開路になり恒温
槽部29内の水は冷却されていく。該恒温槽部29内に
はヒータ292およびサーミスタ293が取付けてあり
、水温検知して一定温度になるようにマイクロコンピュ
ータ51により制御される。冷気放出器806には冷気
を消滅させるヒータ811が取付けである。リレー81
2は接点部321のL側に接続されていて電磁弁802
の駆動回路を開閉する。試薬液貯溜部30は昼夜連続運
転とし恒温槽部29は試料を分析測定する昼間のみの運
転とするため、この切換えをメインスイッチ810で行
っている。即ち、メインスイッチ8101rOFF側に
したとき、冷凍機部80と電磁弁802と電磁弁805
およびヒータ811が接点部321のH側で動作し、冷
媒ガスが泥れて試薬液貯溜部30は冷却される。
08を通シ電磁弁809に接続されている。電磁弁80
9の出口は前述の電磁弁804の出口と納会一体化され
ている。これ等一群の電磁弁のうち802と803は試
薬液貯溜部30の冷蔵箱302に取付けたサーモスタッ
ト320によって作動する接点部321に接続され、冷
蔵箱302が設定した温度以下になったときに接点32
1は■1側に接続されて電磁弁802は閉路し、電磁弁
803は開路となる。電磁弁804,805は、自動分
析装置のメインスイッチ810によって制御される。即
ちON側に投入したとき電磁弁804が開路になり恒温
槽部29内の水は冷却されていく。該恒温槽部29内に
はヒータ292およびサーミスタ293が取付けてあり
、水温検知して一定温度になるようにマイクロコンピュ
ータ51により制御される。冷気放出器806には冷気
を消滅させるヒータ811が取付けである。リレー81
2は接点部321のL側に接続されていて電磁弁802
の駆動回路を開閉する。試薬液貯溜部30は昼夜連続運
転とし恒温槽部29は試料を分析測定する昼間のみの運
転とするため、この切換えをメインスイッチ810で行
っている。即ち、メインスイッチ8101rOFF側に
したとき、冷凍機部80と電磁弁802と電磁弁805
およびヒータ811が接点部321のH側で動作し、冷
媒ガスが泥れて試薬液貯溜部30は冷却される。
このときの冷媒ガスは、キャピラリーチューブ801、
電磁弁802、蒸発器3011電磁弁805、蒸発器8
07を通って冷凍機部80に戻る。所定温度に冷却され
るとサーモスタット320が動作して接点部321のL
側に切換えられ、電磁弁803が動作して開路となり、
またリレー812が動作して電磁弁802を閉路として
ガス流路を確芙に閉じる。このときの冷媒ガスは冷凍機
部80の動作停止により流れは止まるが圧縮・部内の圧
力差が無くなるまで流れて試薬液貯溜部30を冷却する
ため電磁弁802を動作させて閉路とする必要がある。
電磁弁802、蒸発器3011電磁弁805、蒸発器8
07を通って冷凍機部80に戻る。所定温度に冷却され
るとサーモスタット320が動作して接点部321のL
側に切換えられ、電磁弁803が動作して開路となり、
またリレー812が動作して電磁弁802を閉路として
ガス流路を確芙に閉じる。このときの冷媒ガスは冷凍機
部80の動作停止により流れは止まるが圧縮・部内の圧
力差が無くなるまで流れて試薬液貯溜部30を冷却する
ため電磁弁802を動作させて閉路とする必要がある。
従来の冷蔵庫は単に試薬を保冷するために使用されるの
が一般的であった。本実施例の冷蔵装置60は試薬を保
冷する一方、恒温槽部29内の水を一定温度例えば25
tll’、30C,37tl’±0.05Cに制御する
ための冷却源としても利用しているところに特徴がある
。即ち試薬液貯溜部30は空気冷却方式であり、恒温槽
部29は水冷却方式である。このように負荷条件の全く
異なる冷却物を直列に接続して1個の冷凍機部80で制
御する従来にない大きな違いがある。メインスイッチ8
10がOFF状態にしてサーモスタッ)320の接点部
321がHにあるとき、恒温槽部29を接続したと同じ
負荷に担当する冷気放出器806が接続されていて昼夜
運転での負荷条件のバランスを保っている。
が一般的であった。本実施例の冷蔵装置60は試薬を保
冷する一方、恒温槽部29内の水を一定温度例えば25
tll’、30C,37tl’±0.05Cに制御する
ための冷却源としても利用しているところに特徴がある
。即ち試薬液貯溜部30は空気冷却方式であり、恒温槽
部29は水冷却方式である。このように負荷条件の全く
異なる冷却物を直列に接続して1個の冷凍機部80で制
御する従来にない大きな違いがある。メインスイッチ8
10がOFF状態にしてサーモスタッ)320の接点部
321がHにあるとき、恒温槽部29を接続したと同じ
負荷に担当する冷気放出器806が接続されていて昼夜
運転での負荷条件のバランスを保っている。
恒温槽部29内の水は前述したように温度精度士0.0
50に制御する必要がある。このため恒温槽部29内に
は蒸発器291とヒータ292およびサーミスタ293
が水中に侵されている。蒸発器291には常に一定の冷
媒ガスが流されているが、試薬液貯溜部30に取付けた
サーモスタンド320の動作により電磁弁803開路か
ら電磁弁802開路に切換えられたとき、ガス流路の長
さの比により一時的に恒温槽部29の蒸発器291に冷
却能力のあるガスが流れてこないときが出る。このため
ヒータ292の動作が停止してもその余熱によシ一時的
に0.2CI?程度水温上昇となる。この温度ドリフト
を防止するために設けたのが前述のキャピラリーチュー
ブ808と電磁弁809によるバイパス回路である。即
ち上述の温度ドリフトを鑑みて考案された回路であり、
電磁弁802と803の如何なる動作にも無関係にしか
もマイクロコンピュータ51によって制御される電磁弁
809は試薬液貯溜部30が最初に冷却を始めるときの
み閉路し、通常は開路にしておく。従って恒温槽部29
の蒸発器291には常に冷媒ガスが流れ、諦度ドリフト
を完全に防止することができる。第11図において、簡
単化のために、電磁弁809とキャピラリーチューブ8
08の経路と電磁弁802を省略してもよい。
50に制御する必要がある。このため恒温槽部29内に
は蒸発器291とヒータ292およびサーミスタ293
が水中に侵されている。蒸発器291には常に一定の冷
媒ガスが流されているが、試薬液貯溜部30に取付けた
サーモスタンド320の動作により電磁弁803開路か
ら電磁弁802開路に切換えられたとき、ガス流路の長
さの比により一時的に恒温槽部29の蒸発器291に冷
却能力のあるガスが流れてこないときが出る。このため
ヒータ292の動作が停止してもその余熱によシ一時的
に0.2CI?程度水温上昇となる。この温度ドリフト
を防止するために設けたのが前述のキャピラリーチュー
ブ808と電磁弁809によるバイパス回路である。即
ち上述の温度ドリフトを鑑みて考案された回路であり、
電磁弁802と803の如何なる動作にも無関係にしか
もマイクロコンピュータ51によって制御される電磁弁
809は試薬液貯溜部30が最初に冷却を始めるときの
み閉路し、通常は開路にしておく。従って恒温槽部29
の蒸発器291には常に冷媒ガスが流れ、諦度ドリフト
を完全に防止することができる。第11図において、簡
単化のために、電磁弁809とキャピラリーチューブ8
08の経路と電磁弁802を省略してもよい。
第12図に冷蔵装置60の温度状態を示す。即ち試薬液
容器31,31’内の温度変化は322の如くなだらか
な冷却曲線を画き、また恒温槽部29内の水温変化は3
23の如くハイレスポンスで短時間に一定温度に制御さ
れている。
容器31,31’内の温度変化は322の如くなだらか
な冷却曲線を画き、また恒温槽部29内の水温変化は3
23の如くハイレスポンスで短時間に一定温度に制御さ
れている。
以上の自動分析装置の動作を順を追って説明する。分析
すべき試料を載置した試料テーブル11をサンプラー1
0に設置して、第1図および第2図に示す操作パネル5
2のスタートボタンを押すと、分析装置の動作が開始さ
れる。第3図のサンプリング機構40の試料吸排管41
が、試料吸入位置44または44′から試料を吸入保持
し、試料吐出位置45に保持試料を吐出すると、反応容
器22の列は光束26を横切るように移送され、反応テ
ーブル21が1回転と1ステツプして試料を受入れた反
応容器の次の反応容器が試料吐出位置45に位置づけら
れる。このサンプリング動作は連続的にくり返される。
すべき試料を載置した試料テーブル11をサンプラー1
0に設置して、第1図および第2図に示す操作パネル5
2のスタートボタンを押すと、分析装置の動作が開始さ
れる。第3図のサンプリング機構40の試料吸排管41
が、試料吸入位置44または44′から試料を吸入保持
し、試料吐出位置45に保持試料を吐出すると、反応容
器22の列は光束26を横切るように移送され、反応テ
ーブル21が1回転と1ステツプして試料を受入れた反
応容器の次の反応容器が試料吐出位置45に位置づけら
れる。このサンプリング動作は連続的にくり返される。
反応テーブル21が停止している間に、攪拌機28の撹
拌棒や洗浄機24の各管等が、それぞれ所定位置の反応
容器内に挿入され、必要な動作がなされる。
拌棒や洗浄機24の各管等が、それぞれ所定位置の反応
容器内に挿入され、必要な動作がなされる。
反応テーブル21が停止している間に、試薬吐出位置4
6および47の位置で反応容器に試薬が添〃目され、呈
色反応が開始される。反応のための試薬が1種類で済む
分析項目に対しては、試薬ピペッティング部37だけに
よって吐出位置470反LG’44器に試薬を添加する
。反応テーブル21上には種々の分析項目用の試料を並
べることができる。1つのやり方は、1つの試料を分析
項目の数だけ反応容器に分配したあと、次の試料も同様
にして複数の反応容器例えば16個の反応容器に分配し
、各分析項目に対応した試薬を試薬ピペッティング部3
6.37によって必要な反応容器に添加するものである
。
6および47の位置で反応容器に試薬が添〃目され、呈
色反応が開始される。反応のための試薬が1種類で済む
分析項目に対しては、試薬ピペッティング部37だけに
よって吐出位置470反LG’44器に試薬を添加する
。反応テーブル21上には種々の分析項目用の試料を並
べることができる。1つのやり方は、1つの試料を分析
項目の数だけ反応容器に分配したあと、次の試料も同様
にして複数の反応容器例えば16個の反応容器に分配し
、各分析項目に対応した試薬を試薬ピペッティング部3
6.37によって必要な反応容器に添加するものである
。
試薬ピペッティング部36.37はそれぞれレールに垂
下されており、レールに沿って移動するが、これらは、
レールとともに上下動することができる。試薬吸排y3
s、3c+は各試薬液僧の開口32.32’の位置に必
要に応じて停止し得る。
下されており、レールに沿って移動するが、これらは、
レールとともに上下動することができる。試薬吸排y3
s、3c+は各試薬液僧の開口32.32’の位置に必
要に応じて停止し得る。
ピペッティング部36.37の駆動部の動作はマイクロ
コンピュータ51によって制御される。吐出位置46.
47に来た試料の分析項目に対応する試薬が試薬ピペッ
ティング部36.37によって選択され、対応する試薬
液槽31.31’の上で吸排管38,39が一旦停止す
る。同時に試薬液貯留部30の蓋70に取付けられたン
ヤノター702が開いて孔701,701’が現われる
。
コンピュータ51によって制御される。吐出位置46.
47に来た試料の分析項目に対応する試薬が試薬ピペッ
ティング部36.37によって選択され、対応する試薬
液槽31.31’の上で吸排管38,39が一旦停止す
る。同時に試薬液貯留部30の蓋70に取付けられたン
ヤノター702が開いて孔701,701’が現われる
。
続いてピペッティング部36,37が下降して試薬用ピ
ペッタ35により、吸排管38,39内に所定菫の試薬
液を吸入保持した後ピベソティング部36.37を上昇
する。上昇が終ると直ちにシャッター702は閉じその
上を吸排管38,39は試薬吐出位置46.47まで水
平移動して、対応する反応容器へ吸排管内に保持してい
た試薬液を吐出する。
ペッタ35により、吸排管38,39内に所定菫の試薬
液を吸入保持した後ピベソティング部36.37を上昇
する。上昇が終ると直ちにシャッター702は閉じその
上を吸排管38,39は試薬吐出位置46.47まで水
平移動して、対応する反応容器へ吸排管内に保持してい
た試薬液を吐出する。
反応容器内の試料は、反応テーブル21がサンプリング
動作の都度回転されるから、回転する毎光束26を横切
り、呈色状態を観測できる。つまり、反応容器が洗浄機
24の位置に達するまでの間抜数回にわたって同じ試料
について光学的特性が観測される。
動作の都度回転されるから、回転する毎光束26を横切
り、呈色状態を観測できる。つまり、反応容器が洗浄機
24の位置に達するまでの間抜数回にわたって同じ試料
について光学的特性が観測される。
光度計27の光電検出器によって受光された光は、図示
しない波長選択回路により分析項目に応じた必要な波長
が選択され、透過光強度に応じた大きさの信号が対数変
換器53に導かれる。アナログ信号はその後A/D変換
器54によってディジタル信号に変換され、インターフ
ェイス50を介してマイクロコンピュータ51に導かれ
、必要な演算が行われて、結果がメモリに記憶される。
しない波長選択回路により分析項目に応じた必要な波長
が選択され、透過光強度に応じた大きさの信号が対数変
換器53に導かれる。アナログ信号はその後A/D変換
器54によってディジタル信号に変換され、インターフ
ェイス50を介してマイクロコンピュータ51に導かれ
、必要な演算が行われて、結果がメモリに記憶される。
特定分析項目についての複数回にわたる測光動作のすべ
てが終了したとき、被数回の測光データが比較され、必
要な演算がなされて、当該分析項目の濃度値がプリンタ
55に印字される。CRT56は、分析結果や統計デー
タを表示できる。
てが終了したとき、被数回の測光データが比較され、必
要な演算がなされて、当該分析項目の濃度値がプリンタ
55に印字される。CRT56は、分析結果や統計デー
タを表示できる。
57はカセットテープであり谷測定項目の分析条件や測
定データを記憶するのに使用される。58は洗浄機24
の配管に接続され洗浄水の吸引噴射に供する真空シリン
ジと吐出シリンジが内蔵されている洗浄7リンジ機構で
ある。
定データを記憶するのに使用される。58は洗浄機24
の配管に接続され洗浄水の吸引噴射に供する真空シリン
ジと吐出シリンジが内蔵されている洗浄7リンジ機構で
ある。
本実施例では、比色法による分析および反応速度法によ
る分析を行なえる。図示していないが、試料テーブル1
1および試薬液貯留部3oの付近には吸排管洗浄部が配
置されている。反応容器の移送路となる恒温槽23は、
25〜37cの一定温度に維持される。この実施例では
装置の分析動作条件がカセットテープに記憶され、この
カセットテープを読捷せて試薬液槽を交換すれば分析項
目を変更できる。試薬交換時に流路系の洗浄をする必要
がなくなる。ま之試薬は試薬液貯留部に入れて保冷する
ため、素性変化が少なく長期間使用することができる。
る分析を行なえる。図示していないが、試料テーブル1
1および試薬液貯留部3oの付近には吸排管洗浄部が配
置されている。反応容器の移送路となる恒温槽23は、
25〜37cの一定温度に維持される。この実施例では
装置の分析動作条件がカセットテープに記憶され、この
カセットテープを読捷せて試薬液槽を交換すれば分析項
目を変更できる。試薬交換時に流路系の洗浄をする必要
がなくなる。ま之試薬は試薬液貯留部に入れて保冷する
ため、素性変化が少なく長期間使用することができる。
また蓋開閉が保冷室の上面であシ冷気散出が少なく、試
薬入換え時の冷力低下が極端に少なくて済む。蓋70に
取付けたシャッター702の作用によシ試薬移送時の万
一の試薬滴下による汚染防止が出来る。CI(Tと項目
キー。
薬入換え時の冷力低下が極端に少なくて済む。蓋70に
取付けたシャッター702の作用によシ試薬移送時の万
一の試薬滴下による汚染防止が出来る。CI(Tと項目
キー。
プロファイルキーおよびテンキーにより、分析項目お、
よ、μ声目別分析条件の入力を行なうことができる。
よ、μ声目別分析条件の入力を行なうことができる。
以上説明した。ように本発明によれば、極めて簡単な構
成で複数分析項目のための試薬を反応容器に供輪するこ
とができ、分析装置の簡素化と小形化できる。
成で複数分析項目のための試薬を反応容器に供輪するこ
とができ、分析装置の簡素化と小形化できる。
第1図は、本発明の一実施例の全体構成概略図、第2図
は、第1図装置の外観図、第3図〜第10図は、第1図
装置の試薬液貯留部の詳細説明図、第11図は、第1図
装置の試薬冷蔵装置の配管、配線図、第12図は、第ト
ネ図装置の温度特性図を示す。 10・・・す/プラー、11・・・試料テーブル、12
゜13・・・試料容器、2o・・・反応部、21・・・
反応テーブル、22・・・反応容器、23・・・恒温通
路、24・・・洗浄機、25・・・光源、27・・・光
度計、28・・・攪拌機、29川恒温水供給部、3o・
・・試薬液貯留部、31.31’・・・試薬液容器、3
5・・・試薬ビペyp、36.37・・・試薬ピペッテ
ィングJ40・・・サンプリング機構、51・・・コン
ピュータ、52・・・操作パネル、53・・・対数変換
器、54・・・A/D変僕器、′づ 1.il 第 zB 第 3 図 fJ4 図 茅 5 図 JFJl 図 第 7 m 31牟 第 F3 図 茅 /l 図
は、第1図装置の外観図、第3図〜第10図は、第1図
装置の試薬液貯留部の詳細説明図、第11図は、第1図
装置の試薬冷蔵装置の配管、配線図、第12図は、第ト
ネ図装置の温度特性図を示す。 10・・・す/プラー、11・・・試料テーブル、12
゜13・・・試料容器、2o・・・反応部、21・・・
反応テーブル、22・・・反応容器、23・・・恒温通
路、24・・・洗浄機、25・・・光源、27・・・光
度計、28・・・攪拌機、29川恒温水供給部、3o・
・・試薬液貯留部、31.31’・・・試薬液容器、3
5・・・試薬ビペyp、36.37・・・試薬ピペッテ
ィングJ40・・・サンプリング機構、51・・・コン
ピュータ、52・・・操作パネル、53・・・対数変換
器、54・・・A/D変僕器、′づ 1.il 第 zB 第 3 図 fJ4 図 茅 5 図 JFJl 図 第 7 m 31牟 第 F3 図 茅 /l 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、第1の特定位置で試料の供給を受け、第2の特定位
置で試薬の供給を受け、第3の特定位置で試料の分析を
行うよう反応容器を移送する反応部と、この反応部の反
応容器を所定温度に保つ恒温手段と、前記第1の特定位
置にある反応容器に予め試料吸排管に吸入した試料を吐
出するサンプリング機構と、多数の試薬容器の開口部が
前記第2の特定位置と直線を結ぶように試薬容器を配列
し、かつ試薬容器を冷蔵用と常温保存用とに分離して収
納する試薬貯留部と、前記第2の特定位置にある反応容
器に予め選択された試薬容器から試薬吸排管によって吸
入した試薬を吐出する試薬ピペッティング機構と、前記
第3の特定位置にある反応容器内の試料の呈色状態を光
学的に測定する光度計と、前記恒温手段と試薬貯留部を
共通に温度制御する冷凍手段と、前記反応部、恒温手段
、サンプリング機構、試薬貯留部、試薬ピペッティング
機構、光度計および冷凍手段の制御を実行し、測定結果
を表示手段に表示するコンピュータを内蔵した制御部と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。 2、上記反応部は多数の反応容器を円周上に配列した回
転反応テーブルを有し、この反応テーブルは1回転と1
反応容器分の回転を1周期として回転することを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の自動分析装置。 3、上記試薬貯留部は各試薬容器の開口部と一致する位
置に穴が設けられた蓋と、この蓋の穴を塞ぐシャッター
とを有し、上記試薬吸排管が試薬吸入を行力うときのみ
シャッターが開くことを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の自動分析装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56138444A JPS5841358A (ja) | 1981-09-04 | 1981-09-04 | 自動分析装置 |
US06/414,387 US4483823A (en) | 1981-09-04 | 1982-09-02 | Chemical analyzer equipped with reagent cold-storage chamber |
EP82108164A EP0074102B1 (en) | 1981-09-04 | 1982-09-03 | Chemical analyzer equipped with reagent cold-storage chamber |
DE8282108164T DE3268415D1 (en) | 1981-09-04 | 1982-09-03 | Chemical analyzer equipped with reagent cold-storage chamber |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56138444A JPS5841358A (ja) | 1981-09-04 | 1981-09-04 | 自動分析装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP7650784A Division JPS59230162A (ja) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | 自動分析装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5841358A true JPS5841358A (ja) | 1983-03-10 |
JPH0244032B2 JPH0244032B2 (ja) | 1990-10-02 |
Family
ID=15222136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56138444A Granted JPS5841358A (ja) | 1981-09-04 | 1981-09-04 | 自動分析装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
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EP (1) | EP0074102B1 (ja) |
JP (1) | JPS5841358A (ja) |
DE (1) | DE3268415D1 (ja) |
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