JPS5814753B2 - 光導電タ−ゲツト - Google Patents
光導電タ−ゲツトInfo
- Publication number
- JPS5814753B2 JPS5814753B2 JP51004066A JP406676A JPS5814753B2 JP S5814753 B2 JPS5814753 B2 JP S5814753B2 JP 51004066 A JP51004066 A JP 51004066A JP 406676 A JP406676 A JP 406676A JP S5814753 B2 JPS5814753 B2 JP S5814753B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- cadmium
- selenide
- solid
- arsenic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/02—Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
- H01J29/10—Screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored
- H01J29/36—Photoelectric screens; Charge-storage screens
- H01J29/39—Charge-storage screens
- H01J29/45—Charge-storage screens exhibiting internal electric effects caused by electromagnetic radiation, e.g. photoconductive screen, photodielectric screen, photovoltaic screen
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
- Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はセレン化カドミウム層またはスルホセレン化カ
ドミウム層あるいは硫化カドミウムおよびセレン化カド
ミウムの混合物層あるいはテルル化カドミウムとセレン
化カドミウムの固溶体層または混合物層、あるいはセレ
ン化亜鉛とセレン化カドミウムの固溶体層または混合物
質層を用いた光導電ターゲットに関する。
ドミウム層あるいは硫化カドミウムおよびセレン化カド
ミウムの混合物層あるいはテルル化カドミウムとセレン
化カドミウムの固溶体層または混合物層、あるいはセレ
ン化亜鉛とセレン化カドミウムの固溶体層または混合物
質層を用いた光導電ターゲットに関する。
セレン化カドミウム層またはスルホセレン化カドミウム
層あるいは硫化カドミウムおよびセレン化カドミウムの
混合物層を用いた光導電ターゲットを撮像管例えばビジ
コンに適用することは公知である。
層あるいは硫化カドミウムおよびセレン化カドミウムの
混合物層を用いた光導電ターゲットを撮像管例えばビジ
コンに適用することは公知である。
例えばセレン化カドミウムを用いた光導電ターゲットに
は次の様な構造がある。
は次の様な構造がある。
即ち第1図に示す如く光透過性ガラスからなるフエース
プレート11の一方面上に透明導電膜の信号電極12を
設け、この信号電極12上にセレン化カドミウム層13
(CdSe)を設け、この層13上に絶縁体として比抵
抗106〜1014のSb2S3又はSb2Se3又は
As2S3又はAs2Se3又はZnSなどの絶縁体層
14を設けけたものである。
プレート11の一方面上に透明導電膜の信号電極12を
設け、この信号電極12上にセレン化カドミウム層13
(CdSe)を設け、この層13上に絶縁体として比抵
抗106〜1014のSb2S3又はSb2Se3又は
As2S3又はAs2Se3又はZnSなどの絶縁体層
14を設けけたものである。
また第2図はCdSe層13と絶縁体14の間にセレン
のオキシ酸塩層あるいはセレンのオキシ酸塩と酸化カド
ミウムの混合物層15を設けたターゲットである。
のオキシ酸塩層あるいはセレンのオキシ酸塩と酸化カド
ミウムの混合物層15を設けたターゲットである。
ここにセレンのオキシ酸塩の例としては亜セレン酸カド
ミウム(CdSe03)がある。
ミウム(CdSe03)がある。
まだ、第3図はすでに出願中のものでCdSe層13と
絶縁体層14の間に島状に設けられたセレンのオキシ酸
塩層あるいはセレンのオキシ酸塩と酸化カドミウムの混
合物層16を設けたターゲットである。
絶縁体層14の間に島状に設けられたセレンのオキシ酸
塩層あるいはセレンのオキシ酸塩と酸化カドミウムの混
合物層16を設けたターゲットである。
このようにして得られたターゲットは何れも光電感度が
抜群によく、多用されている三硫化アンチモン光導電体
の20倍以上あり、一酸化鉛を用いたターゲットの感度
と比較しても問題にならない程よい。
抜群によく、多用されている三硫化アンチモン光導電体
の20倍以上あり、一酸化鉛を用いたターゲットの感度
と比較しても問題にならない程よい。
この評価は放送局の技術者からも認められており、特に
、焼付、暗電流などはほとんど認められず、特性は良好
である。
、焼付、暗電流などはほとんど認められず、特性は良好
である。
しかるにこのような従来のターゲットにおいても特に残
像特性について未だ不十分な点が残されており、その改
善が望まれていた。
像特性について未だ不十分な点が残されており、その改
善が望まれていた。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、セレン化カド
ミウムを主体とした光導電ターゲットの特性のうち特に
残像特性を更に向上させた光導電ターゲットを提供する
ことを目的とする。
ミウムを主体とした光導電ターゲットの特性のうち特に
残像特性を更に向上させた光導電ターゲットを提供する
ことを目的とする。
以下、実施例により本発明を詳細に説明する。
第4図に示すように、光透過性ガラスからなるフェース
・プレート11の一方面上に沈着した透明導電膜12の
上にセレン化カドミウム光導電体層を設ける。
・プレート11の一方面上に沈着した透明導電膜12の
上にセレン化カドミウム光導電体層を設ける。
すなわち、セレン化カドミウム層13と亜セレン酸カド
ミウム層16を設ける。
ミウム層16を設ける。
亜セレン酸カドミウム層は島状の層の例を示す。
さらに、2×10−3Torrより高真空中(例えば2
×10−5Torrの高真空中)で例えば厚さ0.5μ
前後に蒸着した三セレン化ひ素(As2Se3;以下で
はAs40Se60と記述する)の固体層21を設け、
さらに2×10−1〜2×10−2Torr(例えば0
.2Torr)の低真空アルゴン雰囲気中で蒸着した三
セレン化ひ素の多孔質層22を設け、さらに例えば2×
10−5Torrの高真空中で例えば厚さ1.5μ前後
に蒸着した三セレン化ひ素の第二の固体層23を設けて
光導電ターゲツトとして形成する。
×10−5Torrの高真空中)で例えば厚さ0.5μ
前後に蒸着した三セレン化ひ素(As2Se3;以下で
はAs40Se60と記述する)の固体層21を設け、
さらに2×10−1〜2×10−2Torr(例えば0
.2Torr)の低真空アルゴン雰囲気中で蒸着した三
セレン化ひ素の多孔質層22を設け、さらに例えば2×
10−5Torrの高真空中で例えば厚さ1.5μ前後
に蒸着した三セレン化ひ素の第二の固体層23を設けて
光導電ターゲツトとして形成する。
第4図の如き多孔質層が形成された光導電ターゲットに
おいては、多孔質層が形成されていない光導電ターゲッ
トよりも残像特性が第5図のように改善されることが判
明した。
おいては、多孔質層が形成されていない光導電ターゲッ
トよりも残像特性が第5図のように改善されることが判
明した。
第5図において実線は多孔質層が有る場合、点線は多孔
質層が無い場合を示す。
質層が無い場合を示す。
図の例は18mm管の例であり、従来の方法では信号電
流50nAの場合に、減衰の第3フィールドで15〜2
0%、立ち上りの第3フィールドが15〜25%に対し
て、本発明のターゲットでは減衰の第3フィールドが8
〜12%、立ち上がりの第3フィールドが50〜75%
に改善される。
流50nAの場合に、減衰の第3フィールドで15〜2
0%、立ち上りの第3フィールドが15〜25%に対し
て、本発明のターゲットでは減衰の第3フィールドが8
〜12%、立ち上がりの第3フィールドが50〜75%
に改善される。
特に立ち上がりの残像において改善が著しい。
従来、三硫化アンチモン(Sb2S3)を用いたビジコ
ン・ターゲットで多孔質層と固体層を組み合わせて残像
特性が良化することは知られており、本発明のターゲッ
トにおいても多孔質層による同様の効果と考えられる。
ン・ターゲットで多孔質層と固体層を組み合わせて残像
特性が良化することは知られており、本発明のターゲッ
トにおいても多孔質層による同様の効果と考えられる。
しかしながら、本発明者等は前述した三セレン化ひ素の
多孔質層および後述する他のひ素−セレン材料等からな
る固体層と多孔質層との組み合わせについては三硫化ア
ンチモンの例とは以下の点で異なることを見出した。
多孔質層および後述する他のひ素−セレン材料等からな
る固体層と多孔質層との組み合わせについては三硫化ア
ンチモンの例とは以下の点で異なることを見出した。
すなわち、通常の三硫化アンチモンを主としたターゲッ
トにおいては、ガラス基板上の一方面上に透明信号電極
となるネサ膜(Sn02膜)上に固体層−多孔質層−固
体層と形成すると固体層のみのターゲットよりも周知の
ように残像特性が改善される。
トにおいては、ガラス基板上の一方面上に透明信号電極
となるネサ膜(Sn02膜)上に固体層−多孔質層−固
体層と形成すると固体層のみのターゲットよりも周知の
ように残像特性が改善される。
しかるにこの三硫化アンチモンの例では多孔質層は入射
光に対して光電変換機能を有する層として用いられてい
る。
光に対して光電変換機能を有する層として用いられてい
る。
これに対し、本発明では入射光に対して光電変換を行な
う層はセレン化カドミウムのみであり、その上に形成し
た光電変換の役割を持たない絶縁体層の機能として用い
る三セレン化ひ素層を多孔質層としたものである。
う層はセレン化カドミウムのみであり、その上に形成し
た光電変換の役割を持たない絶縁体層の機能として用い
る三セレン化ひ素層を多孔質層としたものである。
従来の三硫化アンチモンの例では光に感ずる部分である
光電変換層が多孔質層となっているため、残像特性が改
善される他に分光特性が変化する結果となる。
光電変換層が多孔質層となっているため、残像特性が改
善される他に分光特性が変化する結果となる。
三硫化アンチモンの固体層は通常赤色の長波長側に感度
があり、多孔質層は通常固体層より短波長側に感度があ
って、両者を併用することで可視光全域にわたる分光特
性を得ている。
があり、多孔質層は通常固体層より短波長側に感度があ
って、両者を併用することで可視光全域にわたる分光特
性を得ている。
本発明の場合には、光電変換作用を有する層に設けるの
ではなく、いわゆる光電蓄積の作用を行なう部分に多孔
質層を応用しており、分光特性を変えることなく残像の
みを改善できる。
ではなく、いわゆる光電蓄積の作用を行なう部分に多孔
質層を応用しており、分光特性を変えることなく残像の
みを改善できる。
本発明者等の一人は他の発明者と共に第1図の如き構造
のターゲットにおいて、絶縁体層の比抵抗を所望の値に
するために低抵抗の材料を多孔質層として高抵抗化する
ことを述べたが、本発明においてはすでに十分な高抵抗
の材料をも含めて多孔質層として残像特性を改善するも
のである。
のターゲットにおいて、絶縁体層の比抵抗を所望の値に
するために低抵抗の材料を多孔質層として高抵抗化する
ことを述べたが、本発明においてはすでに十分な高抵抗
の材料をも含めて多孔質層として残像特性を改善するも
のである。
三硫化アンチモンのビジコンの例と異なる点として次の
事実も判明した。
事実も判明した。
三セレン化ひ素をSnO2膜上に固体層で蒸着すると、
本発明者の一人がすでに報告したように蓄積形ビジコン
となる,(Japanese Journal of
Applied Physics第6巻、第7号875
〜882頁1967年)。
本発明者の一人がすでに報告したように蓄積形ビジコン
となる,(Japanese Journal of
Applied Physics第6巻、第7号875
〜882頁1967年)。
三セレン化ひ素の固体層の代わりに第4図に示したセレ
ン化カドミウム層と亜セレン酸カドミウム層を除いた層
、すなわち、三セレン化ひ素の固体層一多孔質層一固体
層をガラス基板一ネサ膜上に形成したターゲットにおい
ては通常のビジコン動作をなさず、第6図の点線に示す
ように蓄積形ビジコンの特性を示す。
ン化カドミウム層と亜セレン酸カドミウム層を除いた層
、すなわち、三セレン化ひ素の固体層一多孔質層一固体
層をガラス基板一ネサ膜上に形成したターゲットにおい
ては通常のビジコン動作をなさず、第6図の点線に示す
ように蓄積形ビジコンの特性を示す。
時刻t=toにおいて光を照射すると照射時間と共に信
号電流が増加し、適当時間後のt=to+Tにおいて光
を遮断すると、信号電流は元の値に戻らず、長時間にわ
たってゆっくりとした減衰カーブを描く。
号電流が増加し、適当時間後のt=to+Tにおいて光
を遮断すると、信号電流は元の値に戻らず、長時間にわ
たってゆっくりとした減衰カーブを描く。
多孔質層を併用しても通常の三硫化アンチモンのビジコ
ンのようK残像特性が改善されることはない。
ンのようK残像特性が改善されることはない。
しかし第4図の構成のターゲットでは、t=toにおい
て光照射を開始すると、極めて短時間のうちに一定の信
号電流値に到達し、t−=to+Tにおいて光を遮断す
ると極めて短時間のうちに元の暗電流値に戻る。
て光照射を開始すると、極めて短時間のうちに一定の信
号電流値に到達し、t−=to+Tにおいて光を遮断す
ると極めて短時間のうちに元の暗電流値に戻る。
これをさらに詳しく観察したのが前述の第5図であり、
多孔質層による残像改善が実現される上述したようにセ
レン化カドミウムを主とする光電変換層上に絶縁層を形
成する場合、その絶縁層の一部を多孔質層とすることに
より残像特性が改善できる。
多孔質層による残像改善が実現される上述したようにセ
レン化カドミウムを主とする光電変換層上に絶縁層を形
成する場合、その絶縁層の一部を多孔質層とすることに
より残像特性が改善できる。
このような効果を可能ならしめる材料としてはこれまで
述べてきた玉セレン化ひ素(As40Se60)に限ら
ず、AS60Se40,As50Se50As36Se
70,AS20Se80などAsとSeの適当なモル比
の材料について有効である。
述べてきた玉セレン化ひ素(As40Se60)に限ら
ず、AS60Se40,As50Se50As36Se
70,AS20Se80などAsとSeの適当なモル比
の材料について有効である。
AsとSeの割合はAS55Se45,AS52Se4
8などでも良いことは勿論である。
8などでも良いことは勿論である。
ただし、AsがSeよりも多くなるとAsがSeと十分
に反応せず、As単体が遊離して害をおよぼす場合があ
り、モル比でAsが60%程度つまりAS60Se40
まで実用的である。
に反応せず、As単体が遊離して害をおよぼす場合があ
り、モル比でAsが60%程度つまりAS60Se40
まで実用的である。
モル比でSeが多くなる場合にはAs単体の遊離は問題
とならず、むしろ薄膜とした後でのセレンの結晶化によ
る画質の劣化が問題となる。
とならず、むしろ薄膜とした後でのセレンの結晶化によ
る画質の劣化が問題となる。
したがって、AsはSeの結晶化を防ぐ意味でモル比で
2係程度でも良い。
2係程度でも良い。
また、As−Se系に限らず、As−S系、As−Te
系あるいはAs−S−Se,As−S−Te,As−S
e−Teの材料についても多孔質層の形成は有効である
。
系あるいはAs−S−Se,As−S−Te,As−S
e−Teの材料についても多孔質層の形成は有効である
。
なお、第6図の特性はAs−Seを主とした材料につい
て起る場合が多い。
て起る場合が多い。
なお、第4図の構造で絶縁体層として三セレン化ひ素を
主として述べたが固体層と多孔質層の材料は異なっても
良い。
主として述べたが固体層と多孔質層の材料は異なっても
良い。
例えば、最初の固体層には三セレン化ひ素(As40S
e60)、多孔質層には二セレン化ひ素(AS50Se
50)、第二の固体層に再び三セレン化ひ素(As40
Se60)を使用しても良い。
e60)、多孔質層には二セレン化ひ素(AS50Se
50)、第二の固体層に再び三セレン化ひ素(As40
Se60)を使用しても良い。
三セレン化ひ素の方が三セレン化ひ素より多孔質層の形
成制御が容易であり製造上の利点が多い。
成制御が容易であり製造上の利点が多い。
また、As−Seの固体層一多孔質層上にAs−S系の
固体層が形成される場合のように、材料の組み合わせは
どのようにしても良い。
固体層が形成される場合のように、材料の組み合わせは
どのようにしても良い。
また、固体層−多孔質層−固体層の組み合わせに限らず
、第7図のように固体層−多孔質層とするか、あるいは
第8図のように多孔質層−固体層、さらには第9図のよ
うに多孔質層−固体層−多孔質層としても良い。
、第7図のように固体層−多孔質層とするか、あるいは
第8図のように多孔質層−固体層、さらには第9図のよ
うに多孔質層−固体層−多孔質層としても良い。
また、固体層と多孔質層を交互に重ねても良い。
種々実験した結果では多孔質層上に固体層が蒸着される
場合に残像特性の改善が著しい。
場合に残像特性の改善が著しい。
また、多孔質層−固体層の順序の場合に、固体層を蒸着
すると多孔質層の一部を核にして垂直方向に米粒状の層
が形成されることが観察された。
すると多孔質層の一部を核にして垂直方向に米粒状の層
が形成されることが観察された。
この場合、多孔質層が極度に厚く、その上に米粒状層が
形成されると画像を得るためにビジコンのターゲット電
圧を極めて高くする(例えば100V以上)ことが必要
で、実用的ではない。
形成されると画像を得るためにビジコンのターゲット電
圧を極めて高くする(例えば100V以上)ことが必要
で、実用的ではない。
多孔質層の残りが僅かにあって、その上に固体層を蒸着
したことによる米粒状層が形成されるとターゲット電圧
が50V以下の実用範囲となって、残像の良好な撮像管
が得られる。
したことによる米粒状層が形成されるとターゲット電圧
が50V以下の実用範囲となって、残像の良好な撮像管
が得られる。
なお、上述の説明では第4図のようにセレン化カドミウ
ムを主とする光電変換層とその上に形成された島状の亜
セレン酸カドミウム層を例として述べたが、第1図のよ
うなセレン化カドミウム層を主とした層のみの場合でも
、また第2図のようなセレン化カドミウムを主とした層
上に亜セレン酸カドミウム層が形成された場合にも適用
できることは明らかである。
ムを主とする光電変換層とその上に形成された島状の亜
セレン酸カドミウム層を例として述べたが、第1図のよ
うなセレン化カドミウム層を主とした層のみの場合でも
、また第2図のようなセレン化カドミウムを主とした層
上に亜セレン酸カドミウム層が形成された場合にも適用
できることは明らかである。
その例を第11図に示す。絶縁層を固体層−多孔質層−
固体層とした例である。
固体層とした例である。
本発明による複合ターゲットの実施例では第1層にセレ
ン化カドミウムを使用した例について述べたが、適当な
量の硫化カドミウム、例えば重量比で硫化カドミウム/
セレン化カドミウム=1/2を含んだ固溶体(スルホー
セレン化カドミウム)ないしは混合物であってもよい。
ン化カドミウムを使用した例について述べたが、適当な
量の硫化カドミウム、例えば重量比で硫化カドミウム/
セレン化カドミウム=1/2を含んだ固溶体(スルホー
セレン化カドミウム)ないしは混合物であってもよい。
また、硫化カドミウムとセレン化カドミウムの各層が重
畳されたものでもよい。
畳されたものでもよい。
また、テルル化カドミウムとセレン化カドミウムを含ん
だ固溶体ないし混合物であってもよい。
だ固溶体ないし混合物であってもよい。
またテルル化カドミウムとセレン化カドミウムの各層が
重畳されたものであってもよい。
重畳されたものであってもよい。
また、セレン化亜鉛とセレン化カドミウムを含んだ固溶
体ないし混合物であっても良いし、セレン化亜鉛とセレ
ン化カドミウムの各層が重畳されたものでもよい。
体ないし混合物であっても良いし、セレン化亜鉛とセレ
ン化カドミウムの各層が重畳されたものでもよい。
また、他の材料でもセレン化カドミウムと固溶体を形成
するか、あるいは混合できるか、または重畳できるもの
なら何んでも良い。
するか、あるいは混合できるか、または重畳できるもの
なら何んでも良い。
これら複合ターゲットには例えば99.999%の高純
度材料のセレン化カドミウムをそのまま使用することが
できる。
度材料のセレン化カドミウムをそのまま使用することが
できる。
あるいは、不純物として、タリウムの他に、良く知られ
ているような銅、金インジウム、ガリウム、アルミニウ
ム、ハロゲン類 アルカリ金属、アルカリ土類金属等の一種ないし数種を
含んでも良い。
ているような銅、金インジウム、ガリウム、アルミニウ
ム、ハロゲン類 アルカリ金属、アルカリ土類金属等の一種ないし数種を
含んでも良い。
セレン化カドミウムを主とした第一層の役割は従来のタ
ーゲット構造と同様に光感度を得ることであり、光吸収
はこの第一層で行なわれる。
ーゲット構造と同様に光感度を得ることであり、光吸収
はこの第一層で行なわれる。
この意味でこの層を光電変換層と呼べる。
上記実施例においては亜セレン酸カドミウムを述べたが
、これに酸化カドミウムが混在していてもよい。
、これに酸化カドミウムが混在していてもよい。
また、カドミウムとセレンと酸素からなる複雑な中間化
合物、例えば、Cd3Se4O11(3Cd−SeO3
・SeO2)が亜セレン酸カドミウムに混在していても
よい。
合物、例えば、Cd3Se4O11(3Cd−SeO3
・SeO2)が亜セレン酸カドミウムに混在していても
よい。
多孔質層の材料には実施例に述べた三セレン化ひ素など
のひ素−セレン化物や三硫化ひ素などのひ素−硫黄化物
の他に、硫化ゲルマニウム、セレン化ゲルマニウム、硫
化タリウム、セレン化タリウム、三硫化ビスマス、三セ
レン化ビスマス、セレン化亜鉛、硫化亜鉛、テルル化カ
ドミウム、三硫化アンチモン、三セレン化アンチモン、
フツ化カルシウム、フツ化マグネシウム、フツ化アルミ
ニウム、フツ化ナトリウム、氷晶石および酸化鉛などの
材料が使われる。
のひ素−セレン化物や三硫化ひ素などのひ素−硫黄化物
の他に、硫化ゲルマニウム、セレン化ゲルマニウム、硫
化タリウム、セレン化タリウム、三硫化ビスマス、三セ
レン化ビスマス、セレン化亜鉛、硫化亜鉛、テルル化カ
ドミウム、三硫化アンチモン、三セレン化アンチモン、
フツ化カルシウム、フツ化マグネシウム、フツ化アルミ
ニウム、フツ化ナトリウム、氷晶石および酸化鉛などの
材料が使われる。
また、多孔質層を形成するには実施例で述べたアルゴン
雰囲気中の蒸着が有効であるが、アルゴンのみならず窒
素や他の不活性ガスでも良く、さらには酸素が含まれて
いても良い。
雰囲気中の蒸着が有効であるが、アルゴンのみならず窒
素や他の不活性ガスでも良く、さらには酸素が含まれて
いても良い。
以上、述べたように光電変換作用のない層に多孔質層を
適用することにより残像特性のすぐれた撮像管が得られ
る。
適用することにより残像特性のすぐれた撮像管が得られ
る。
第1図は従来のセレン化カドミウムを用いた光導電ター
ゲットを説明するための断面図、第2図は第1図の他の
構造を示す断面図、第3図は第1図の他の構造を示す断
面図、第4図は本発明に係る光導電ターゲットの一実施
例を説明するための断面図、第5図は従来の光導電ター
ゲットと本発明の光導電ターゲットをビジコンに内蔵し
た時の残像特性の比較を示す特性曲線図、第6図は本発
明ターゲットのセレン化カドミウムを主とする光電変換
層とセレン化ひ素とからなる光導電ターゲットとセレン
化ひ素のみからなる光導電ターゲットの光応答特性の比
較を示す特性曲線図、第7図と第8図と第9図は第4図
の他の構造を示す断面図、第10図は本発明を第1図の
ターゲットに適用したー実施例を示す図、第11図は本
発明を第2図のターゲットに適用した一実施例を示す図
である。 11・・・フエース・プレート、12・・・透明導電膜
13・・・CdSe層、14・・・絶縁体層、15・・
・CdSeO3層、16・・・島状のCdSeO3層、
21・・・As40se60の固体層、22・・・As
40Se60の多孔質層、23・・・As40Se60
の固体層。
ゲットを説明するための断面図、第2図は第1図の他の
構造を示す断面図、第3図は第1図の他の構造を示す断
面図、第4図は本発明に係る光導電ターゲットの一実施
例を説明するための断面図、第5図は従来の光導電ター
ゲットと本発明の光導電ターゲットをビジコンに内蔵し
た時の残像特性の比較を示す特性曲線図、第6図は本発
明ターゲットのセレン化カドミウムを主とする光電変換
層とセレン化ひ素とからなる光導電ターゲットとセレン
化ひ素のみからなる光導電ターゲットの光応答特性の比
較を示す特性曲線図、第7図と第8図と第9図は第4図
の他の構造を示す断面図、第10図は本発明を第1図の
ターゲットに適用したー実施例を示す図、第11図は本
発明を第2図のターゲットに適用した一実施例を示す図
である。 11・・・フエース・プレート、12・・・透明導電膜
13・・・CdSe層、14・・・絶縁体層、15・・
・CdSeO3層、16・・・島状のCdSeO3層、
21・・・As40se60の固体層、22・・・As
40Se60の多孔質層、23・・・As40Se60
の固体層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 人射光の光電変換を行う光導電体層と、該光導電体
層上に設けられた入射光の光電変換機能を有しない絶縁
体層とを備え、前記絶縁体層を、少なくとも高真空蒸着
により形成された固体層と低真空蒸着により形成された
多孔質層との積層構造としたことを特徴とする光導電タ
ーゲット。 2 絶縁体層は固体層多孔質層固体層の積層構造である
特許請求の範囲第1項記載の光導電ターゲット。 3 絶縁体層は多孔質層固体層多孔質層の積層構造であ
る特許請求の範囲第1項記載の光導電ターゲット。 4 絶縁体層はAs40Se60の固体層、該固体層上
に設けたAs50Se50の多孔質層、該多孔質層上に
設けたAS40Se60の固体層である特許請求の範囲
第1項記載の光導電ターゲット。 5 光電変換層としてセレン化カドミウムまたはスルホ
セレン化カドミウムあるいは硫化カドミウムおよびセレ
ン化カドミウムの混合物層、あるいはテルル化カドミウ
ムとセレン化カドミウムの固溶体層または混合物層、あ
るいはセレン化亜鉛とセレン化カドミウムの固溶体層ま
たは混合物質層を用いた特許請求の範囲第1項記載の光
導電ターゲット。 6 多孔質層としてひ素−セレン化物、ひ素−硫黄化物
、ひ素−テルル化物、ひ素−硫黄−セレンの化合物、ひ
素−硫黄−テルルの化合物、ひ素一セレンーテルルの化
合物、硫化ゲルマニウム、セレン化ゲルマニウム、硫化
タリウム、セレン化タリウム、三硫化ビスマス、三セレ
ン化ビスマス、セレン化亜鉛、硫化亜鉛、テルル化カド
ミウム、三硫化アンチモン、三セレン化アンチモン、フ
ッ化カルシユム、フツ化マグネシウム、フッ化アルミニ
ウム、フツ化ナトリウム、氷晶石もしくは酸化鉛を用い
た特許請求の範囲第1項記載の光導電ターゲット。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP51004066A JPS5814753B2 (ja) | 1976-01-19 | 1976-01-19 | 光導電タ−ゲツト |
GB2227276A GB1555136A (en) | 1976-01-19 | 1976-05-28 | Photoconductive target |
DE19762624394 DE2624394C3 (de) | 1976-01-19 | 1976-05-31 | Photoleitende Ladungsspeicherplatte |
FR7616375A FR2338572A1 (fr) | 1976-01-19 | 1976-05-31 | Cible photoconductrice pour tube electronique de prise de vues |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP51004066A JPS5814753B2 (ja) | 1976-01-19 | 1976-01-19 | 光導電タ−ゲツト |
Related Child Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3087676A Division JPS5289087A (en) | 1976-03-23 | 1976-03-23 | Photoconductive target |
JP51030873A Division JPS5814754B2 (ja) | 1976-03-23 | 1976-03-23 | 光導電タ−ゲツト |
JP3087576A Division JPS5289086A (en) | 1976-03-23 | 1976-03-23 | Photoconductive target |
JP3087476A Division JPS5289085A (en) | 1976-03-23 | 1976-03-23 | Photoconductive target |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5287994A JPS5287994A (en) | 1977-07-22 |
JPS5814753B2 true JPS5814753B2 (ja) | 1983-03-22 |
Family
ID=11574452
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP51004066A Expired JPS5814753B2 (ja) | 1976-01-19 | 1976-01-19 | 光導電タ−ゲツト |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5814753B2 (ja) |
DE (1) | DE2624394C3 (ja) |
FR (1) | FR2338572A1 (ja) |
GB (1) | GB1555136A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60140636A (ja) * | 1983-12-28 | 1985-07-25 | Toshiba Corp | 撮像管の光導電タ−ゲツトおよびその製造方法 |
-
1976
- 1976-01-19 JP JP51004066A patent/JPS5814753B2/ja not_active Expired
- 1976-05-28 GB GB2227276A patent/GB1555136A/en not_active Expired
- 1976-05-31 FR FR7616375A patent/FR2338572A1/fr active Granted
- 1976-05-31 DE DE19762624394 patent/DE2624394C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2624394C3 (de) | 1980-09-25 |
JPS5287994A (en) | 1977-07-22 |
DE2624394A1 (de) | 1977-07-21 |
DE2624394B2 (de) | 1980-01-24 |
FR2338572A1 (fr) | 1977-08-12 |
FR2338572B1 (ja) | 1979-05-25 |
GB1555136A (en) | 1979-11-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4040985A (en) | Photoconductive films | |
JPS5814753B2 (ja) | 光導電タ−ゲツト | |
JPH0554211B2 (ja) | ||
JPS636729A (ja) | 撮像管 | |
US3310700A (en) | Photoconductive device incorporating stabilizing layers on the face of the selenium layer | |
US3571646A (en) | Photoconductive target with n-type layer of cadmium selenide including cadmium chloride and cuprous chloride | |
US4594605A (en) | Imaging device having enhanced quantum efficiency | |
US4689873A (en) | Imaging device having two anti-reflection layers on a surface of silicon wafer | |
US3816787A (en) | Photoconductor comprising cadmium selenide | |
JPS5814754B2 (ja) | 光導電タ−ゲツト | |
US4816715A (en) | Image pick-up tube target | |
JPS6047752B2 (ja) | 擦像管タ−ゲット | |
US4617248A (en) | Doped photoconductive film including selenium and tellurium | |
US4240006A (en) | Photoconductive layer and target structure for image pickup tube | |
JPS6310533B2 (ja) | ||
JPS5826832B2 (ja) | 光導電タ−ゲツトの製造方法 | |
JPS5839393B2 (ja) | 光導電タ−ゲット | |
US4445131A (en) | Photoconductive image pick-up tube target | |
JPS6051774B2 (ja) | 撮像管タ−ゲツト | |
EP0254136B1 (en) | Image pick-up tube target | |
US4608514A (en) | Photoconductive target of the image pickup tube | |
JPS5836510B2 (ja) | 光導電タ−ゲット | |
SU395925A1 (ru) | ВПТ5ФВад а:ш::;:пит; | |
JPH0351252B2 (ja) | ||
JPS5839392B2 (ja) | 光導電タ−ゲットの製造方法 |