JPS5839393B2 - 光導電タ−ゲット - Google Patents
光導電タ−ゲットInfo
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- JPS5839393B2 JPS5839393B2 JP52120034A JP12003477A JPS5839393B2 JP S5839393 B2 JPS5839393 B2 JP S5839393B2 JP 52120034 A JP52120034 A JP 52120034A JP 12003477 A JP12003477 A JP 12003477A JP S5839393 B2 JPS5839393 B2 JP S5839393B2
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Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
- Common Detailed Techniques For Electron Tubes Or Discharge Tubes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光導電体層と絶縁体層からなる複合ターゲット
において、匍脚された暗電流を有し、かつ改善された光
応答特性を有する光導電ターゲットに関する。
において、匍脚された暗電流を有し、かつ改善された光
応答特性を有する光導電ターゲットに関する。
本発明者は他の発明者と共に感度の良好な光導電体につ
いて研究し、セレン化カドミウムを光電変換面に用いた
高感度ビジコンを開発し、既に特許第610993号「
光導電体1および特許第727032号「光導電体」に
その内容を記載した。
いて研究し、セレン化カドミウムを光電変換面に用いた
高感度ビジコンを開発し、既に特許第610993号「
光導電体1および特許第727032号「光導電体」に
その内容を記載した。
このビジコンは工業用から放送用の種々の分野において
テレビ・カメラ用撮像管として有用であり商品名「カル
コニン」として実用に供せられている。
テレビ・カメラ用撮像管として有用であり商品名「カル
コニン」として実用に供せられている。
この光導電ターゲットの構造を第1図に示す。
フェース・プレート1上に信号電極となる5no2やI
n2O3の透明導電膜2を形成し、さらに第1層として
光電変換層となるセレン化カドミウム層3を厚さ0.5
μ以上例えば約1μmに形成する。
n2O3の透明導電膜2を形成し、さらに第1層として
光電変換層となるセレン化カドミウム層3を厚さ0.5
μ以上例えば約1μmに形成する。
該セレン化カドミウム層2はすでに提案された如く、蒸
着形成後焼結処理が行なわれ、この層において可視領域
の入射光の殆んどが吸収されて、光電変換される。
着形成後焼結処理が行なわれ、この層において可視領域
の入射光の殆んどが吸収されて、光電変換される。
なお、この層にはセレン化カドミウムの他に亜セレン酸
カドミウムが表面ニ層状や島状に、あるいはセレン化カ
ドミウム層の中に分散して含まれても良いものと、これ
らを含めて光電変換層と呼ぶことにする。
カドミウムが表面ニ層状や島状に、あるいはセレン化カ
ドミウム層の中に分散して含まれても良いものと、これ
らを含めて光電変換層と呼ぶことにする。
従来の光導電ターゲットにおいては、この第1層3上に
sb 2 S3 ySb Se 3 s Zn5t Z
n5e + As2 S3やA s 2 S e 3等
が絶縁体層4として形成され、この層4には前記入射光
は殆んど入射しないため、入射光に対して感度を有しな
い複合ターゲット5を構成した。
sb 2 S3 ySb Se 3 s Zn5t Z
n5e + As2 S3やA s 2 S e 3等
が絶縁体層4として形成され、この層4には前記入射光
は殆んど入射しないため、入射光に対して感度を有しな
い複合ターゲット5を構成した。
上記光導電ターゲットは光電感度が極めて高く、多用さ
れている三硫化アンチモン光導電ターゲットの20倍以
上ある。
れている三硫化アンチモン光導電ターゲットの20倍以
上ある。
さらに、上記光導電ターゲットは焼付、暗電流が非常に
少なく、特性は良好であり、小形で使い易く動作が安定
で長寿命という特長を有している。
少なく、特性は良好であり、小形で使い易く動作が安定
で長寿命という特長を有している。
しかしながら、暗電流が非常に少ないために、光が照射
されたときのビジコンのレスポンスである立ち上がりの
残像が悪い欠点がある。
されたときのビジコンのレスポンスである立ち上がりの
残像が悪い欠点がある。
この点については、本発明者等が1976年テレビジョ
ン全国大会講演予稿集3−10に発表した通りである。
ン全国大会講演予稿集3−10に発表した通りである。
本発明は上記欠点に鑑みなされたもので、暗電流を適正
な値にすると共に立ち上がり残像を改善した光導電ター
ゲットを提供するものである。
な値にすると共に立ち上がり残像を改善した光導電ター
ゲットを提供するものである。
本発明は光導変換層と入射光に対して感度を有しない絶
縁体層からなる複合ターゲットにおいて前記絶縁体層を
前記光電変換層に二種類以上の異なった材料を部分的に
接触させることにより達成される。
縁体層からなる複合ターゲットにおいて前記絶縁体層を
前記光電変換層に二種類以上の異なった材料を部分的に
接触させることにより達成される。
以下、本発明の光導電ターゲットの実施例を図面により
説明する。
説明する。
第1図の光導電ターゲットと同じ部分は同一番号で示し
ている。
ている。
即ち、フェース・プンート1、透明電導膜2、及びセレ
ン化カドミウム層3までを構成する。
ン化カドミウム層3までを構成する。
この後、セレン化カドミウム層3上に、絶縁体層例えば
三硫化アンチモン(Sb2S3)を蒸着するが、この際
、メツシュ状マスクを通して蒸着する。
三硫化アンチモン(Sb2S3)を蒸着するが、この際
、メツシュ状マスクを通して蒸着する。
メツシュ状マスクには通常のビジコン(7) メツシー
4!極に用いられているメツシュを流用することが可能
で750メツシユ、1000メツシユあるいは1500
メツシユなど適当な開口率ヲモったメツシュを用いる。
4!極に用いられているメツシュを流用することが可能
で750メツシユ、1000メツシユあるいは1500
メツシユなど適当な開口率ヲモったメツシュを用いる。
このメツシュ状マスクを用いて蒸着するとメツシュ・ワ
イヤ部に相当するセレン化カドミウム層3上には5b2
s3が蒸着されず、メツシュの開口部に相当した部分に
Sb2S3が蒸着されて、細かな例えば四角い島状のS
b2S3層6が形成される。
イヤ部に相当するセレン化カドミウム層3上には5b2
s3が蒸着されず、メツシュの開口部に相当した部分に
Sb2S3が蒸着されて、細かな例えば四角い島状のS
b2S3層6が形成される。
メツシュの細かさ例えば750メツシユのマスクを通し
て三硫化アンチモン層6を各々厚さ例えば75A程度に
蒸着し、この後、マスクをはずして、例えば 0
拳 As2Se3層7を厚さ例ボ約1.5〜2.0pm程度
に蒸着して光導電ターゲット8とする。
て三硫化アンチモン層6を各々厚さ例えば75A程度に
蒸着し、この後、マスクをはずして、例えば 0
拳 As2Se3層7を厚さ例ボ約1.5〜2.0pm程度
に蒸着して光導電ターゲット8とする。
As 2 Se 3の一部は前述のメツシュ・ワイヤ部
に相当したセレン化カドミウム層に直接接触し、他の部
分は島状のSb2S3に接触する。
に相当したセレン化カドミウム層に直接接触し、他の部
分は島状のSb2S3に接触する。
上記実施例により得られた本発明のターゲットと従来の
ターゲットの残像特性に関する比較を第3図に示す。
ターゲットの残像特性に関する比較を第3図に示す。
島状の5b2S3層があることにより立ち上がりの残像
が改善されていることが良くわかる。
が改善されていることが良くわかる。
図の測定条件は18mmサイズのターゲットで信号電流
が50nAの例である。
が50nAの例である。
以下の残像や暗電流もこの条件で得たものを主として示
す。
す。
第1表は従来ターゲットと本発明ターゲットの暗電流と
残像特性に関する比較表である。
残像特性に関する比較表である。
表中IF、2F、3FのFはフィールドの略である。
使用するメツシュを750,1000及び1500メツ
シユとした例である。
シユとした例である。
1500メツシユでは開口率が750メツシユに比べて
小さくなり、Sb2S3の島状部分が占める面積が少な
くなるので、暗電流や残像の改善効果が減少する。
小さくなり、Sb2S3の島状部分が占める面積が少な
くなるので、暗電流や残像の改善効果が減少する。
従って、メツシュの細かさで暗電流が制御できる。
表には示さないが、5b2S3の厚さを増加することに
より暗電流が増え、さらに使用する5b2S3重量比を
増せば暗電流が増加でき、所望の暗電流、したがって所
望の残像を得ることができる。
より暗電流が増え、さらに使用する5b2S3重量比を
増せば暗電流が増加でき、所望の暗電流、したがって所
望の残像を得ることができる。
表の例はsb重量比74多のSb2S3の例である。
sb重量比が変化すればSb2S3と正確には書けない
が用いる材料は化学当量から5b80%程度が良好であ
り、これらを総称してSb2S3で書くことにする。
が用いる材料は化学当量から5b80%程度が良好であ
り、これらを総称してSb2S3で書くことにする。
なお、同じ1000メツシユでも、メツシュの太さ、し
たがって開口率を変えることによっても制御できること
は勿論である。
たがって開口率を変えることによっても制御できること
は勿論である。
メツシュを通した蒸着により形成できる島状層の厚さは
前記実施例に限らず168μmの厚さでも可能であるが
、Sb2S3島状層の厚さを例えば5ooo′Aにする
と、撮像に適した信号電極電圧が1oov以上となり、
実用的でない。
前記実施例に限らず168μmの厚さでも可能であるが
、Sb2S3島状層の厚さを例えば5ooo′Aにする
と、撮像に適した信号電極電圧が1oov以上となり、
実用的でない。
暗電流を20nA以下にするにはメツシュの開口率にも
よるが500A程度で良い。
よるが500A程度で良い。
表に見られるように立ち上がり残像の他に減衰残像も改
善される利点がある。
善される利点がある。
前記実施例ではメツシュ状マスクを通して島状にSb2
S3を蒸着した例を述べたが、これに限らず、クリル状
マスクを通して縞状のSb2S3を蒸着しても良い。
S3を蒸着した例を述べたが、これに限らず、クリル状
マスクを通して縞状のSb2S3を蒸着しても良い。
逆に三硫化アンチモンをセレン化カドミウム層の全面に
一様に蒸着した後、NaOH酸液などで、三硫化アンチ
モンの一部をエツチングして、島状や縞状の任意の形状
に形成しても良い。
一様に蒸着した後、NaOH酸液などで、三硫化アンチ
モンの一部をエツチングして、島状や縞状の任意の形状
に形成しても良い。
セレン化カドミウムの一部VcSb2s3が形成され、
この上にAs2Se3が蒸着されることが必要である。
この上にAs2Se3が蒸着されることが必要である。
セレン化カドミウムの一部はSb2S3、他の残りはA
s2Se3と接触している状態にすることが大切である
。
s2Se3と接触している状態にすることが大切である
。
第4図は本発明による他の実施例を示す。
前記実施例と同じく、ガラス・フェース・プレート1、
透明導電膜2およびセレン化カドミウム層3までを構成
する。
透明導電膜2およびセレン化カドミウム層3までを構成
する。
この後、メツシュ状マスクを通してAs2Se3を蒸着
する。
する。
これにより、厚さ例えば65大程度の薄い島状As2S
e3層9が形成される。
e3層9が形成される。
マスクを取り除き、5b2S3層10を厚さ例えば75
Aに一様に形成する。
Aに一様に形成する。
さらにAs 2 Se 3層11を一様に厚さ1.5〜
20μmに形成して光導電ターゲット12を構成する。
20μmに形成して光導電ターゲット12を構成する。
前述の実施例より蒸着工程は増えるが、本実施例におい
てはセレン化カドミウム層上には島状にAs25ea力
彬成され、メツシャ・ワイヤ部に相当する残りの部分で
Sb2S3がセレン化カドミウム層と接触する。
てはセレン化カドミウム層上には島状にAs25ea力
彬成され、メツシャ・ワイヤ部に相当する残りの部分で
Sb2S3がセレン化カドミウム層と接触する。
この構成により、暗電流は従来ターゲットの1nA以下
か4〜5nAに増加し、立ち上がり残像は第3フイール
ドにおいて25%〜70多に改善される。
か4〜5nAに増加し、立ち上がり残像は第3フイール
ドにおいて25%〜70多に改善される。
島状のAs2Se3 K限らず、縞状のAs2Se3で
も良く、またAs2Se3を一様に蒸着しておいてから
エツチングにより適当にセレン化カドミウムの露出面を
形成した上でSb2S3を蒸着しても良い。
も良く、またAs2Se3を一様に蒸着しておいてから
エツチングにより適当にセレン化カドミウムの露出面を
形成した上でSb2S3を蒸着しても良い。
As2Se3層の厚さは上述の65大に限らず、125
Xでも、さらに厚くてもよい。
Xでも、さらに厚くてもよい。
5b2S3層の厚さは前述の実施例と同じく5000A
以下が実用的である。
以下が実用的である。
セレン化カドミウム層上に島状や縞状に
Sb2S3やAs 2 S e 3が形成されると、そ
の模様が撮像画面に影響を及ぼすことが心配される。
の模様が撮像画面に影響を及ぼすことが心配される。
島状の例については750メツシユの構成では撮像画面
を注意して観察すると模様が検知される程度、1000
メツシユではほとんどわからず、1500メツシユでは
問題が無い状態であり、いずれも実用に供しうる。
を注意して観察すると模様が検知される程度、1000
メツシユではほとんどわからず、1500メツシユでは
問題が無い状態であり、いずれも実用に供しうる。
この意味では、メツシュに一部欠陥があっても撮像画面
では影響が認められない。
では影響が認められない。
島状の形状は四角でも円でも良いが、その大きさは上述
の画面観察からも知られるように成可く小さく例えば走
査する電子ビームで分解出来ない程度の大きさでかつ平
均にターゲットの横方向に分散しているのが良い。
の画面観察からも知られるように成可く小さく例えば走
査する電子ビームで分解出来ない程度の大きさでかつ平
均にターゲットの横方向に分散しているのが良い。
′前記実施例では、例えばメツシュ状マスクヲ用いて島
状層をつげ、その上に一様な他の絶縁物層を形成した。
状層をつげ、その上に一様な他の絶縁物層を形成した。
これに限らず、例えばグリル状マスクを用いた場合のよ
うに、縞状に適当な絶縁物層を形成し、マスク又はフェ
ース・プレートを相対的に移すか、または蒸着源を別の
位置に配置することにより、最初の蒸着で覆わなかった
部分にのみ次の蒸着で形成することも可能である。
うに、縞状に適当な絶縁物層を形成し、マスク又はフェ
ース・プレートを相対的に移すか、または蒸着源を別の
位置に配置することにより、最初の蒸着で覆わなかった
部分にのみ次の蒸着で形成することも可能である。
いずれにしろ、二種類又はそれ以上の異なった絶縁体材
料がセレン化カドミウムと直接接触することが必要であ
る。
料がセレン化カドミウムと直接接触することが必要であ
る。
前記実施例でSb2S3とAs2 Se 3の組合わせ
で、暗電流と残像の立ち上がりに効果があるのは前者の
Sb2S3である。
で、暗電流と残像の立ち上がりに効果があるのは前者の
Sb2S3である。
Sb2S3の効果を十分に出すにはセレン化カドミウム
層全面にわたってSb2S3を形成するのが良いが、画
質的に粗面を呈することが多く、画像の焼付きも出やす
い。
層全面にわたってSb2S3を形成するのが良いが、画
質的に粗面を呈することが多く、画像の焼付きも出やす
い。
この欠点はAs2Se3がセレン化カドミウム層に直接
接触することで取り除かれる。
接触することで取り除かれる。
暗電流の大きさは5b2S、のセレン化カドミウム層に
直接接触する面積と形成する厚さ、さらにはsb重量比
によって所望の値に制御出来る。
直接接触する面積と形成する厚さ、さらにはsb重量比
によって所望の値に制御出来る。
すでに本発明者等が提案したSb2S3とAs2 Se
3の同時蒸着方法により、本発明の形成方法の方が特
性の再現性や制御の容易さの点で大きな利点がある。
3の同時蒸着方法により、本発明の形成方法の方が特
性の再現性や制御の容易さの点で大きな利点がある。
なお、前記実施例ではSb2S3とAe、’2Se3の
例を述べたが、A s 2 S e 3の代わりにAs
2S3でも良い。
例を述べたが、A s 2 S e 3の代わりにAs
2S3でも良い。
As2S3の場合には走査側に形成する層の厚さは0.
1 p m −1,2pmで約0.4μmが最適である
。
1 p m −1,2pmで約0.4μmが最適である
。
したがって、組み合わせとしてはセレン化カドミウム層
上にAs2S3又はAs2Se3の島状層をつ:す、S
b2S3層を全白に形成し、さらにAs2S3又はAs
2Se3層を形成するという具合に任意にできる。
上にAs2S3又はAs2Se3の島状層をつ:す、S
b2S3層を全白に形成し、さらにAs2S3又はAs
2Se3層を形成するという具合に任意にできる。
なお、As253に限らすAsとSの適当な成分比の化
合物、As25e3に限らすAsとSeの適当な成分比
の化合物を用いても良いことは勿論である。
合物、As25e3に限らすAsとSeの適当な成分比
の化合物を用いても良いことは勿論である。
したがって、5b2s3などQ硫化アンチモン、As2
Se3などのセレン化ひ素とAs2S3などの硫化ひ素
と組み合わせがある3Sb2S3の形成は昇華によって
も蒸着によっても良いが、膜厚が厚い場合には昇華の方
が焼付が少なく、ターゲット電圧適正値が実用範囲とな
る傾向がある。
Se3などのセレン化ひ素とAs2S3などの硫化ひ素
と組み合わせがある3Sb2S3の形成は昇華によって
も蒸着によっても良いが、膜厚が厚い場合には昇華の方
が焼付が少なく、ターゲット電圧適正値が実用範囲とな
る傾向がある。
なお、光電変換層に接触する材料は上述したSb2S3
とAs2Se3、又は5b2s3とAs2S3に限らず
、Sb2S3と他の材料、例えばZnS やZn5eな
どでもよい。
とAs2Se3、又は5b2s3とAs2S3に限らず
、Sb2S3と他の材料、例えばZnS やZn5eな
どでもよい。
また、2種類に限らず、面積的に分散して接触する分に
は何種類でも良いことは勿論である。
は何種類でも良いことは勿論である。
なお、接触部以外の走査側絶縁体層は多層構造で良いこ
とは勿論である。
とは勿論である。
本発明者等は先に光電変換層のセレン化カドミウム層上
に例えばSb2S3とAs2 Se 3の同時蒸着層を
形成して、暗電流と立ち上がり残像を改善することを提
案したが、本発明においては、セレン化カドミウム層上
でそれぞれ所定の部分に別々にSb2S3とAs2Se
3をつげる方法で同時蒸着法と同じ効果が得られる。
に例えばSb2S3とAs2 Se 3の同時蒸着層を
形成して、暗電流と立ち上がり残像を改善することを提
案したが、本発明においては、セレン化カドミウム層上
でそれぞれ所定の部分に別々にSb2S3とAs2Se
3をつげる方法で同時蒸着法と同じ効果が得られる。
蒸着工程数は5b2s3とAs2Se3が別になるので
増えるが、それぞれの比率を蒸着する面積で制御出来る
ので、蒸着速度を制御する同時蒸着法より極めて容易で
あり、特性の再現性が高くなる利点がある。
増えるが、それぞれの比率を蒸着する面積で制御出来る
ので、蒸着速度を制御する同時蒸着法より極めて容易で
あり、特性の再現性が高くなる利点がある。
なお、上記実施例では第1層にセレン化カドミウムを使
用した例について述べたが適当な重の硬化カドミウム、
例えば重量比で硬化カドミウム/セレン化カドミウム=
l/2を含んだ固溶体(スルホ−セレン化カドミウム)
ないしは混合物であってもよい。
用した例について述べたが適当な重の硬化カドミウム、
例えば重量比で硬化カドミウム/セレン化カドミウム=
l/2を含んだ固溶体(スルホ−セレン化カドミウム)
ないしは混合物であってもよい。
また、硫化カドミウムとセレン化カドミウムの各層が重
畳されたものでもよい。
畳されたものでもよい。
また、テルル化カドミウムとセレン化カドミウムを含ん
だ固溶体ないし混合物であってもよい。
だ固溶体ないし混合物であってもよい。
またテルル化カドミウムとセレン化カドミウムの各層が
重畳されたものであってもよい。
重畳されたものであってもよい。
また、セレン化亜鉛とセレン化カド□ウムを含んだ固溶
体ないし混合物であっても良いし、セレン化亜鉛とセレ
ン化カドミウムの各層が重畳されたものでもよい。
体ないし混合物であっても良いし、セレン化亜鉛とセレ
ン化カドミウムの各層が重畳されたものでもよい。
また、他の材料でもセレン化カドミウムと固溶体を形成
するか、あるいは混合できるか、または重畳できるのな
ら何んでも良い。
するか、あるいは混合できるか、または重畳できるのな
ら何んでも良い。
これら複合ターゲットには例えば99.999%の高純
度材料のセレン化カドミウムをそのまま使用することが
できる。
度材料のセレン化カドミウムをそのまま使用することが
できる。
あるいは、不純物として、タリウムの他に、良く知られ
ているような銅、金、インジウム、ガリウム、アルミニ
ウム、ハロゲン類、テルル、アンチモン、ビスマス、鉛
、スズ、アルカリ金属、アルカリ土類金属等の一種ない
し数種を含んでもよい。
ているような銅、金、インジウム、ガリウム、アルミニ
ウム、ハロゲン類、テルル、アンチモン、ビスマス、鉛
、スズ、アルカリ金属、アルカリ土類金属等の一種ない
し数種を含んでもよい。
さらにまた上記実施例では、岨セレン酸カドミウム層を
設けた例について説明したが、亜セレン酸カドミウム層
はなくても良好な効果が得られる。
設けた例について説明したが、亜セレン酸カドミウム層
はなくても良好な効果が得られる。
また、亜セレン酸カドミウムが島状に形成されてイテモ
良いことは明らがである。
良いことは明らがである。
さらに、亜セレン酸カドミウムに酸化カドミウムが混在
していてもよいし、カドミウムとセレンと酸素からなる
複雑な中間化合物、例えば、Cd3Se4011(3C
dSeO3・5e02 )が混在していてもよい。
していてもよいし、カドミウムとセレンと酸素からなる
複雑な中間化合物、例えば、Cd3Se4011(3C
dSeO3・5e02 )が混在していてもよい。
上記に詳しく説明したように複合ターゲットの光電変換
層上に2種類以上の材料の絶縁体層を形成することによ
り、ビジコン形撮像管の暗電流や立ち上がり残像を制御
することができる。
層上に2種類以上の材料の絶縁体層を形成することによ
り、ビジコン形撮像管の暗電流や立ち上がり残像を制御
することができる。
第1図は従来の光導電ターゲットの断面図、第2図は本
発明の光導電ターゲットの実施例を説明するための断面
図、第3図は従来の光導電ターゲットと本発明の光導電
ターゲットの立ち上がり残像特性の比較図、第4図は本
発明の光導電ターゲットの他の実施例の断面図である。 1・・・・・・ガラス・フェース・プレート、2・曲・
透明導電膜、3・・・・・・セレン化カドミウム、4・
・・・・・絶縁体層、5・・・・・・複合ターゲット、
6・・・・・・島状5b283層、7・・・・・・As
2Se3層、8・・・・・・光導電ターゲット、9・・
・・・・島状As 2 Se 3層、10・・・・・・
Sb2S3層、12・・・・・・光導電ターゲット。
発明の光導電ターゲットの実施例を説明するための断面
図、第3図は従来の光導電ターゲットと本発明の光導電
ターゲットの立ち上がり残像特性の比較図、第4図は本
発明の光導電ターゲットの他の実施例の断面図である。 1・・・・・・ガラス・フェース・プレート、2・曲・
透明導電膜、3・・・・・・セレン化カドミウム、4・
・・・・・絶縁体層、5・・・・・・複合ターゲット、
6・・・・・・島状5b283層、7・・・・・・As
2Se3層、8・・・・・・光導電ターゲット、9・・
・・・・島状As 2 Se 3層、10・・・・・・
Sb2S3層、12・・・・・・光導電ターゲット。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 入射光に対して光電変換機能を有しない硫化アンチ
モンからなる絶縁体層と、硫化ひ素、七ンン化ひ素、セ
レン化亜鉛または硫化亜鉛からなる絶縁体層を、入射光
に対して光電変換を行う光導電体層上に接触するように
設けたことを特徴とする光導電ターゲット。 2 前記光導電体層はセレン化カドミウムまたはスルホ
セレン化カドミウムあるいは硫化カドミウムおよびセレ
ン化カドミウムの混合物層あるいは重畳された層、ある
いはテルル化カドミウムとセレン化カドミウムの固溶体
層、混合物層あるいは重畳された層、あるいはセレン化
亜鉛とセレン化カドミウムの固溶体層、混合物質層ある
いは重畳された層であ涜侍許請求の範囲第1項記載の光
導電ターゲット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52120034A JPS5839393B2 (ja) | 1977-10-07 | 1977-10-07 | 光導電タ−ゲット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52120034A JPS5839393B2 (ja) | 1977-10-07 | 1977-10-07 | 光導電タ−ゲット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5453980A JPS5453980A (en) | 1979-04-27 |
JPS5839393B2 true JPS5839393B2 (ja) | 1983-08-30 |
Family
ID=14776257
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52120034A Expired JPS5839393B2 (ja) | 1977-10-07 | 1977-10-07 | 光導電タ−ゲット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5839393B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0423754Y2 (ja) * | 1984-08-30 | 1992-06-03 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110224035B (zh) * | 2019-05-23 | 2021-02-26 | 华中科技大学 | 一种异质结、其制备方法和应用 |
-
1977
- 1977-10-07 JP JP52120034A patent/JPS5839393B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0423754Y2 (ja) * | 1984-08-30 | 1992-06-03 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5453980A (en) | 1979-04-27 |
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