JPS58102178A - Ｘ線分光法 - Google Patents
Ｘ線分光法Info
- Publication number
- JPS58102178A JPS58102178A JP56201383A JP20138381A JPS58102178A JP S58102178 A JPS58102178 A JP S58102178A JP 56201383 A JP56201383 A JP 56201383A JP 20138381 A JP20138381 A JP 20138381A JP S58102178 A JPS58102178 A JP S58102178A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectrons
- target
- kinetic energy
- ray
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/227—Measuring photoelectric effect, e.g. photoelectron emission microscopy [PEEM]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＸ線、特に波長的ココＯム以下の軟Ｘ線の波長
と強度を簡単に測定できるＸＩＩ分光法に関する。
と強度を簡単に測定できるＸＩＩ分光法に関する。
従来のＸＩＩＭ分光法は、■半導体検出器を用いるもの
１■回折結晶又は回折格子を用いるものに大別され、ざ
らに■は■回折結晶又は回折格子を四−ランド円上な移
動させつつ計るもの、［相］回折結晶又は回折格子を移
動させずにＸ［ｉ！感光フィルムをローランド円に沿っ
て設置するものにわけられる。ところで、これらＸ！１
分光法のうち、■は半導体検出器の応答速度が遅いため
にｔｐｓ＠ｃ 以下の短いパルス吠に放射されるＸＩｓ
の分光が不可能であるほか、波長ｌＯム以上のｘＩＩの
検出・分光ができない欠点がある。また■の■はパルス
Ｘ線の分光にきわめて長時間を要する欠点がある・また
更に■の＠は測定するｘｌＩの波長が長くなるに従って
回折結晶（又は回折格子）の焦点が伸びるために装置が
大形化する欠点がある。
１■回折結晶又は回折格子を用いるものに大別され、ざ
らに■は■回折結晶又は回折格子を四−ランド円上な移
動させつつ計るもの、［相］回折結晶又は回折格子を移
動させずにＸ［ｉ！感光フィルムをローランド円に沿っ
て設置するものにわけられる。ところで、これらＸ！１
分光法のうち、■は半導体検出器の応答速度が遅いため
にｔｐｓ＠ｃ 以下の短いパルス吠に放射されるＸＩｓ
の分光が不可能であるほか、波長ｌＯム以上のｘＩＩの
検出・分光ができない欠点がある。また■の■はパルス
Ｘ線の分光にきわめて長時間を要する欠点がある・また
更に■の＠は測定するｘｌＩの波長が長くなるに従って
回折結晶（又は回折格子）の焦点が伸びるために装置が
大形化する欠点がある。
本発明は上記の事情に鑑み、パルス放射のＸ線、連続放
射のＸ＠を問わずに測定が可能であり、使用する装置の
小形化を計ることのできるＸ１１分光法を提供するもの
で、リチウム又はベリリウム又はほう素又は炭素よりな
るターゲラＦに分光すべきＸ＠を照射し、ターゲットよ
り放出する光電子の運動エネルギーおよび量を測定する
ことによりＸｉＩｉＩの波長ならびに強度を測定するこ
とを特徴とするものである。
射のＸ＠を問わずに測定が可能であり、使用する装置の
小形化を計ることのできるＸ１１分光法を提供するもの
で、リチウム又はベリリウム又はほう素又は炭素よりな
るターゲラＦに分光すべきＸ＠を照射し、ターゲットよ
り放出する光電子の運動エネルギーおよび量を測定する
ことによりＸｉＩｉＩの波長ならびに強度を測定するこ
とを特徴とするものである。
以下、本発明を図面を参照して詳細に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す図であって、この図に
おいてｌは分光すべきＸ５ＳＺは例えば炭素よりなるタ
ーゲット、８はターゲットから放出される光電子、４は
光電子の運動エネルギー弁別器、５は上記の部品をおさ
めた真空容器である。
おいてｌは分光すべきＸ５ＳＺは例えば炭素よりなるタ
ーゲット、８はターゲットから放出される光電子、４は
光電子の運動エネルギー弁別器、５は上記の部品をおさ
めた真空容器である。
この図において、Ｘ１ｌｌの照射をうけたターゲラ−は
光電子８を放出する。今ターゲツシにリチウムを遍んで
これに振動数νのＸ線を照射する場合を考える。リチウ
ムのに軌道の電子は通常ｊよｊｅＶの結合エネルギーで
リチウム原子核と結合して安定°状態を保っているが、
Ｘ線照射を受けるとＸ＠を吸収し、ｂ ｉ’−ｊｊ、ｊ
＝Ｂｋ （ｅＶ）の運動エネルギーを得て光電子とな
って真空中にとび出して来る。ＸＩＩが種々の振動数を
含んでいる場合には光電子の運動エネルギーＥｋもさま
ざまな値をとる。そこで光電子８を運動エネルギー弁別
器番に導いて運動エネルギーと光電子の量の関係をプロ
ットすれば第２図に示すようなＸＩＩの波長と強度の関
係が測定される。これらの測定は空気によるＸ＠の吸収
、光電子の散乱を防止する際し、運動エネルギー弁別器
として写真フィルムタイプのものを用いれば、Ｘ４！１
１が短いパルスの場合にも分光が可能である。
光電子８を放出する。今ターゲツシにリチウムを遍んで
これに振動数νのＸ線を照射する場合を考える。リチウ
ムのに軌道の電子は通常ｊよｊｅＶの結合エネルギーで
リチウム原子核と結合して安定°状態を保っているが、
Ｘ線照射を受けるとＸ＠を吸収し、ｂ ｉ’−ｊｊ、ｊ
＝Ｂｋ （ｅＶ）の運動エネルギーを得て光電子とな
って真空中にとび出して来る。ＸＩＩが種々の振動数を
含んでいる場合には光電子の運動エネルギーＥｋもさま
ざまな値をとる。そこで光電子８を運動エネルギー弁別
器番に導いて運動エネルギーと光電子の量の関係をプロ
ットすれば第２図に示すようなＸＩＩの波長と強度の関
係が測定される。これらの測定は空気によるＸ＠の吸収
、光電子の散乱を防止する際し、運動エネルギー弁別器
として写真フィルムタイプのものを用いれば、Ｘ４！１
１が短いパルスの場合にも分光が可能である。
この場合Ｘ＠ｂｉｂ ｗ ＜ ｊ ｊ、 ｊ ｅ Ｖ（
ＤＩｋ件ｅｌｌｔ場合、つまり波長がココ３ム以下の場
合には光電子は極端に減衰するのでリチウムを用いた場
合の測定可能波長域はココ３ム以下となる。
ＤＩｋ件ｅｌｌｔ場合、つまり波長がココ３ム以下の場
合には光電子は極端に減衰するのでリチウムを用いた場
合の測定可能波長域はココ３ム以下となる。
同様にベリリウムのに軌道電子のベリリウム原子核との
結合エネルギーは／ ／ ／、 ｊ ｅ Ｖ％はう素の
に軌道電子のほう素原子核との結合エネルギーは／ｆＱ
ＪｅＶ、炭素のに軌道電子の炭素原子核との結合エネル
ギーはλｔａ≦ｅＶであり、ベリリウムをターゲットと
して用いた場合はｈν〉／／／、ｊｅＶｓつ＊’）波長
／／／Ａ以下の軟Ｘ＠。
結合エネルギーは／ ／ ／、 ｊ ｅ Ｖ％はう素の
に軌道電子のほう素原子核との結合エネルギーは／ｆＱ
ＪｅＶ、炭素のに軌道電子の炭素原子核との結合エネル
ギーはλｔａ≦ｅＶであり、ベリリウムをターゲットと
して用いた場合はｈν〉／／／、ｊｅＶｓつ＊’）波長
／／／Ａ以下の軟Ｘ＠。
はう素をターゲットとした場合はｈν〉／９Ｑ３ｅＶ。
つまり波長／Ｉ／ム以下の軟Ｘ＠、炭素をターゲットと
した場合はｈν〉コｌ仏ぶｅＶ、つまり波長４ｃ３ム以
下の軟Ｘ線が分光可能である。
した場合はｈν〉コｌ仏ぶｅＶ、つまり波長４ｃ３ム以
下の軟Ｘ線が分光可能である。
また、Ｆより原子番号の大なる元素においては、Ｋ軌道
のほかにＬ軌道の電子の放出があって、ある１つのエネ
ルギーのＸＩＭに対して運動エネルギーの異なる光電子
が観測されるために分光は適さない。つまりＭｇを例に
とると、Ｋ軌道の電子は１０７２ｔｅＶ、Ｌ軌道電子は
６＆６０ｅＶの結合エネルギーで原子核と結合しており
、エネルギｂｙのｘｌｉ！照射によつ”（ｂｙ−ｔｏｙ
ｘｔｅｖとｈシー６３．６ｅＶの運動エネルギーの光電
子が放出される。また、オージェ効果によってｈシーＪ
ＯＱ９ｅＶの光電子も放出されるなど、７つのＸＩＩエ
ネルギーに対して三つの情報が出てくるので分光ができ
ない。
のほかにＬ軌道の電子の放出があって、ある１つのエネ
ルギーのＸＩＭに対して運動エネルギーの異なる光電子
が観測されるために分光は適さない。つまりＭｇを例に
とると、Ｋ軌道の電子は１０７２ｔｅＶ、Ｌ軌道電子は
６＆６０ｅＶの結合エネルギーで原子核と結合しており
、エネルギｂｙのｘｌｉ！照射によつ”（ｂｙ−ｔｏｙ
ｘｔｅｖとｈシー６３．６ｅＶの運動エネルギーの光電
子が放出される。また、オージェ効果によってｈシーＪ
ＯＱ９ｅＶの光電子も放出されるなど、７つのＸＩＩエ
ネルギーに対して三つの情報が出てくるので分光ができ
ない。
以上説明したように、本発明は光電子の運動エネルギー
および量を測定することによってＸ＠の分光を行うもの
であるから、パルス放射のＸ＠。
および量を測定することによってＸ＠の分光を行うもの
であるから、パルス放射のＸ＠。
連続放射のＸ線を問わずに軟Ｘｌｌ１ＩＳ超軟Ｘ線領域
の分光を行うことができ、かつ使用する装置の小杉化を
計ることができる等の利点がある。
の分光を行うことができ、かつ使用する装置の小杉化を
計ることができる等の利点がある。
図は同実施例においてＸ＠を分光した結果を示す図であ
ってＸｉＩの波長と強度との関係を示す図である。 ｌ・・・・・・Ｘ＠、２・・・・・・ターゲット、訃・
・・・・光電子、４・・・・・・運動エネルギー弁別器
、ト・・・・・真空容器。
ってＸｉＩの波長と強度との関係を示す図である。 ｌ・・・・・・Ｘ＠、２・・・・・・ターゲット、訃・
・・・・光電子、４・・・・・・運動エネルギー弁別器
、ト・・・・・真空容器。
Claims (1)
- リチウム（Ｌｉ）又はベリリウム（Ｂｅ）又ははう素（
Ｂ）又は炭素（Ｃ）よりなるターゲットに分光すべきＸ
ｉＩを照射し、ターゲットより放出する光電子の運動エ
ネルギーおよび量を測定することによりＸＩｓの波長な
らびに強度を測定することを特徴とするＸ＠分光法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56201383A JPS58102178A (ja) | 1981-12-14 | 1981-12-14 | Ｘ線分光法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56201383A JPS58102178A (ja) | 1981-12-14 | 1981-12-14 | Ｘ線分光法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58102178A true JPS58102178A (ja) | 1983-06-17 |
Family
ID=16440167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56201383A Pending JPS58102178A (ja) | 1981-12-14 | 1981-12-14 | Ｘ線分光法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58102178A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5483893A (en) * | 1977-11-29 | 1979-07-04 | Anvar | Microanalysis method that use xxrays radiation |
-
1981
- 1981-12-14 JP JP56201383A patent/JPS58102178A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5483893A (en) * | 1977-11-29 | 1979-07-04 | Anvar | Microanalysis method that use xxrays radiation |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Halmshaw | Industrial radiology: theory and practice | |
| Allen Jr | Photodisintegration of the Deuteron by 95-Mev Bremsstrahlung | |
| Lanzl et al. | Z dependence and angular distribution of bremsstrahlung from 17-MeV electrons | |
| Tarle et al. | Cosmic ray isotope abundances from chromium to nickel | |
| Krumrey et al. | Complete characterization of a Si (Li) detector in the photon energy range 0.9–5 keV | |
| Kandarakis et al. | X-ray luminescence of ZnSCdS: Au, Cu phosphor using X-ray beams for medical applications | |
| Martin et al. | The (n, γ) and (n, 2 n) Reactions in Iodine | |
| Zhang et al. | X‐ray spectral measurements for tungsten‐anode from 20 to 49 kVp on a digital breast tomosynthesis system | |
| Forck | Beam instrumentation and diagnostics | |
| Stephenson | X-Ray fluorescence yields | |
| Novichkov et al. | Laboratory-based X-ray spectrometer for actinide science | |
| Liebert et al. | X-Ray Production by Protons of 2.5-12-MeV Energy | |
| Nydahl et al. | Photopion reactions in complex nuclei | |
| Arora et al. | Measurement of K-shell fluorescence yields in elements 28⩽ Z⩽ 53 | |
| JPS58102178A (ja) | Ｘ線分光法 | |
| Fukamachi et al. | Compton profile measurements by use of solid state detector | |
| Giaque | TRACE ELEMENTS ANALYSIS WITH SEMICONDUCTOR DETECTOR X-RAY SPECTROMETERS | |
| Levy et al. | The Radiations from 2.7-Day Au 198 | |
| Kubitschek | The Detection of Positron-Conjoint Nuclear Gamma-Radiation | |
| Goss et al. | Variable radio emission from the extragalactic supernova 1970g in M101 | |
| Burke et al. | Absorption analysis of x-ray spectra produced by beryllium window tubes operated at 20 to 50 kVp | |
| JPS58102179A (ja) | Ｘ線分光法 | |
| Smirnov et al. | Measurement of Cumulative Yield of the Ru Radionuclide for He-, He-, Proton-and Deuteron-Induced Reactions on ThO Targets | |
| JPS6233545B2 (ja) | ||
| JPS6253800B2 (ja) |