JPH1130565A - 密閉品のリークテスト方法 - Google Patents
密閉品のリークテスト方法Info
- Publication number
- JPH1130565A JPH1130565A JP18661397A JP18661397A JPH1130565A JP H1130565 A JPH1130565 A JP H1130565A JP 18661397 A JP18661397 A JP 18661397A JP 18661397 A JP18661397 A JP 18661397A JP H1130565 A JPH1130565 A JP H1130565A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- test
- leak
- chamber
- tracer gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Abstract
リークの有無を正確に判定できる新規なテスト方法を提
供すること 【解決手段】密閉品2を収めたテスト室1内を真空に排
気したのち該テスト室内にトレーサーガスを導入して該
室内を大気圧以上とし、次に該室内を大気に連通しクリ
ーンアップガスを導入して該室内のトレーサーガスを追
い出したのち該室内を大気と遮断し、続いて該室内を真
空に排気しながら該クリーンアップガス中に混入する該
密閉品から放出されるトレーサーガスの有無をリークデ
ィテクタ17により検出する。トレーサーガスとしてア
ルゴンガス又はヘリウムガスを使用し、クリーンアップ
ガスには窒素ガス又はドライエアを使用し、リークディ
テクタをオリフィス25を介してテスト室から掃引ポン
プ15に連なるテスト回路16に接続する。
Description
ケージIC等の密閉品の封止効果または気密性をテスト
するリークテスト方法に関する。
または気密性をテストする方法として、水没法やボンビ
ング法(浸せき法)などが知られている。水没法は、水
槽に温水又は加熱したフロロカーボン液を入れ、その中
に密閉品を沈め、液温によって密閉品内部の気体が温め
られて膨張し、リーク箇所より気泡が出ることを観察し
てリークテストする。また、ボンビング法は、JIS−
Z2331にもあるヘリウムリークディテクタを使用し
たリークテスト法で、図1に示すようなヘリウムガスボ
ンベcと排気装置dを接続したボンビングタンクaにテ
ストする密閉品bを収め、該タンクaの内部を真空に排
気したのちボンベcからヘリウムガスを充填し、2時間
以上5.1×105Paに加圧する。密閉品bにリーク
箇所が存在すると、密閉品内部にヘリウムガスが進入す
る。そして加圧を解消して密閉品bを取り出し、その表
面に空気を吹き付けたのち図2に示した排気装置fとヘ
リウムリークディテクタgを備えたリークテスト装置の
真空容器eに入れる。該排気装置fによる粗引きで真空
容器e内を排気したのち、密閉品b内から漏れ出すヘリ
ウムガスをヘリウムリークディテクタgで検出すること
によりリークを検知する。
ストは、人間の目視により密閉品から出てくる気泡を観
測するので、見落としや誤判定を生じやすい欠点があ
り、経験が必要でしかも水没後に密閉品を乾燥させる工
程が必要になる。また、ボンビング法は、主に微小なリ
ーク(ファインリーク)を測定するための方法であり、
加圧終了後に密閉品を放置しておく放置時間の管理が難
しく、大きなリーク(グロスリーク)が存在した場合に
は、加圧を解除した直後に密閉品内部へ進入したヘリウ
ムガスが大気圧に戻り、密閉品を大気中に放置しておく
間に或いはリークテスト装置に於ける粗引き工程で除去
されてしまい、グロスリーク品を検査合格品と判定する
ことがある。
るために創作されたもので、トレーサーガス法を用いて
密閉品のグロスリークの有無を判定できる新規なテスト
方法を提供することを目的とするものである。
めたテスト室内を真空に排気したのち該テスト室内にト
レーサーガスを導入して該室内を大気圧以上とし、次に
該室内を大気に連通しクリーンアップガスを導入して該
室内のトレーサーガスを追い出したのち該室内を大気と
遮断し、続いて該室内を真空に排気しながら該クリーン
アップガス中に混入する該密閉品から放出されるトレー
サーガスの有無をリークディテクタにより検出すること
により、上記の目的を達成するようにした。該トレーサ
ーガスとしてアルゴンガス又はヘリウムガスを使用し、
該クリーンアップガスには窒素ガス又はドライエアを使
用し、該リークディテクタをオリフィスを介して該テス
ト室から掃引ポンプに連なるテスト回路に接続すること
が好ましい。
き説明すると、同図に於いて符号1は水晶振動子やパッ
ケージIC等の密閉品2を収容してその密閉性をテスト
する気密のテスト室を示し、該テスト室1には、ベント
バルブ3を備えた大気連通管4、フラッシングバルブ5
を介して窒素ガスやドライエアのクリーンアップガス源
6に連なるクリーンアップガス導入回路7、トレーサー
ガスバルブ8を介してヘリウムやアルゴンのトレーサー
ガス源9に連なるトレーサーガス導入回路10、減圧バ
ルブ11を介して油回転ポンプ等のクリーンアップポン
プ12に連なるクリーンアップ回路13、及びテストバ
ルブ14を介して掃引ポンプ15に連なるテスト回路1
6を接続した。該テスト回路16の途中にはリークディ
テクタ17が接続される。
ーサーガスを検出するための分析管18にターボ分子ポ
ンプ19の吸気口を接続すると共にその排気口をドライ
ポンプからなる補助排気ポンプ20に接続した逆拡散式
のもので、該テスト回路16の途中をフィルタ21及び
分岐した排気管22a、22bを介して該ターボ分子ポ
ンプ19に接続した。一方の排気管22aには開閉弁2
3を設け、他方の排気管22bには2個の開閉弁24と
その中間のオリフィス25が設けられ、該テスト回路1
6が補助排気ポンプ20により排気されて十分に低い圧
力であるときは、開閉弁23を開いて一方の排気管22
aを介してリークテストを行い、該テスト回路16が大
気圧以上であるときは、2個の開閉弁24を開き、オリ
フィス25を有する他方の排気管22bを使用してリー
クテストを行う。該テスト室1から排気するクリーンア
ップガス中にトレーサーガスが存在すると、そのガスは
ターボ分子ポンプ19を逆拡散して分析管18にて検出
され、密閉品2のリークの存在が検知される。該分析管
18はトレーサーガスの種類に応じて設定が異なり、該
分析管18に接続した電圧計の電圧を測定することによ
り該分析管に拡散してくるトレーサーガスの濃度即ちリ
ーク量が測定できる。
室1内に密閉品2を収め、まず減圧バルブ11を開いて
クリーンアップポンプ12により10Pa程度の真空に
排気する。もし該密閉品2にリークがあれば、該密閉品
の内部も真空に排気される。次いで減圧バルブ11を閉
じ、トレーサーガスバルブ8を開いてトレーサーガス源
9からの例えばヘリウムの1気圧若しくはそれ以上の圧
力のトレーサーガスで該テスト室1内を満たす。該密閉
品2にリークがあれば、その内部が真空に減圧されてい
るので、トレーサーガスが内部へ浸入する。この状態を
数秒間維持したのち、該トレーサーガスバルブ8を閉
じ、ベントバルブ3及びフラッシングバルブ5を開け、
該テスト室1内のトレーサーガスを例えば窒素ガスやド
ライエアなどのクリーンアップガスでフラッシングし、
そのあとこれらバルブ3、5を閉じテストバルブ14を
開く。該リークディテクタ17の補助排気ポンプ20及
びターボ分子ポンプ19は、該テストバルブ14を開く
以前に作動され、クリーンアップガス中のトレーサーガ
スを検出できるように該分析管18内が高真空に予め排
気されており、該テストバルブ14を開いて掃引ポンプ
15の作動で大気圧のテスト室1内を真空に排気すると
き、その排気の一部を2個の開閉弁24及びオリフィス
25を介してターボ分子ポンプ19へ導き、その排気中
にトレーサーガスが存在したときはターボ分子ポンプ1
9を逆拡散して分析管18において検出される。前記し
たように、密閉品2にグロスリークがあったとき、その
内部へ浸入したトレーサーガスはテスト室1内が大気圧
若しくはそれよりもわずかに低くなると放出されてしま
うが、本発明の方法ではテスト室1に密閉品2を収めた
まま、しかもフラッシング後の大気圧状態からトレーサ
ーガスの検出を行えるから、グロスリークを的確にチェ
ックできる。テスト終了後、テストバルブ14を閉じ、
ベントバルブ3を開いてテスト室1内を大気圧とし、密
閉品2を取り出す。
結果を図4及び図5に示した。この場合の密閉品2は容
積5c.cの水晶振動子で、トレーサーガスにはヘリウム
を使用し、大気圧で2秒間維持した。また、クリーンア
ップガスにはドライエアを使用した。その結果、リーク
のない良品は図4に示すように分析管18で測定される
ヘリウム濃度が漸減し、十数秒後には一定になったが、
直径0.1mmの穴のグロスリークがある不良品では、掃
引ポンプ15によりテスト室1内が約3秒後の減圧によ
る差圧を発生し始めたときから濃度が一挙に上昇し、グ
ロスリークが確実に発見できた。
ルゴンのトレーサーガスの成分を含まない窒素ガスを使
用すると、検出ピークの鋭いS/N比の良好な検出を行
える。また、到達真空度の良い掃引ポンプを使用するほ
どS/N比が良好になる。測定のレベルは、密閉品2の
内部容積とテスト室1の室容量の関係で大きく変わり、
内部容積/室容積の値が1%以下ならばヘリウム、それ
以上であればアルゴンを使用するのが有利である。ラン
ニングコストが許すなら、すべてのリークテストにヘリ
ウムを使用してもよい。テスト室1のデッドボリューム
を少なくすることによってもS/N比を向上できる。例
えば内部容積が5c.c、室容積が100c.cの場合、テス
ト室1内に放出されるトレーサーガスの濃度は約5%と
なる。そのときのS/N比は、大気含有成分との比較と
なり、ヘリウムは大気中に5ppm、アルゴンは1%存
在するので、おおよそヘリウムの場合が10000、ア
ルゴンの場合が5となる。したがって、検出するリーク
のレベルに合わせてトレーサーガスを選択すればよい。
なお、グロスリークのテストの必要な密閉品として、フ
ィッシングルアーや食品・薬品のパッケージ・電池等が
あり、本発明の方法は、これらの密閉品を短時間にしか
もグロスリークを見逃すことなくテストできる。
収めたテスト室内を真空に排気したのちトレーサーガス
を導入して大気圧以上とし、次に該室内を大気に連通し
クリーンアップガスを導入して該室内のトレーサーガス
を追い出したのち該室内を大気と遮断し、続いて該室内
を真空に排気しながら該クリーンアップガス中に混入す
る該密閉品から放出されるトレーサーガスの有無をリー
クディテクタで検出するので、1つのテスト室でグロス
リークを逃さぬ確実なリークテストを行え、短時間にテ
ストを完了でき、リークテストの経験を要さずにテスト
でき生産性を向上できる等の効果がある。
装置の説明図
トの測定図
ークテストの測定図
源、9 トレーサーガス源、15 掃引ポンプ、16
テスト回路、17 リークディテクタ、18 分析管、
25 オリフィス、
Claims (2)
- 【請求項1】密閉品を収めたテスト室内を真空に排気し
たのち該テスト室内にトレーサーガスを導入して該室内
を大気圧以上とし、次に該室内を大気に連通しクリーン
アップガスを導入して該室内のトレーサーガスを追い出
したのち該室内を大気と遮断し、続いて該室内を真空に
排気しながら該クリーンアップガス中に混入する該密閉
品から放出されるトレーサーガスの有無をリークディテ
クタにより検出することを特徴とする密閉品のリークテ
スト方法。 - 【請求項2】上記トレーサーガスとしてアルゴンガス又
はヘリウムガスを使用し、上記クリーンアップガスには
窒素ガス又はドライエアを使用し、上記リークディテク
タをオリフィスを介して上記テスト室から掃引ポンプに
連なるテスト回路に接続したことを特徴とする密閉品の
リークテスト方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18661397A JP3897860B2 (ja) | 1997-07-11 | 1997-07-11 | 密閉品のリークテスト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18661397A JP3897860B2 (ja) | 1997-07-11 | 1997-07-11 | 密閉品のリークテスト方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1130565A true JPH1130565A (ja) | 1999-02-02 |
JP3897860B2 JP3897860B2 (ja) | 2007-03-28 |
Family
ID=16191649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18661397A Expired - Lifetime JP3897860B2 (ja) | 1997-07-11 | 1997-07-11 | 密閉品のリークテスト方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3897860B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006091004A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Idc Llc | 電子デバイスにおける漏れを検出するための方法及びシステム |
JP2007003295A (ja) * | 2005-06-22 | 2007-01-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 密閉品のリークテスト方法 |
US7832255B2 (en) | 2006-12-26 | 2010-11-16 | Denso Corporation | Sealed device and leak test method and manufacturing method thereof |
JP2016528509A (ja) * | 2013-08-20 | 2016-09-15 | インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングInficon GmbH | ピコ漏洩試験器 |
US9825624B2 (en) | 2003-09-12 | 2017-11-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and driving method of the same |
CN109148984A (zh) * | 2018-09-30 | 2019-01-04 | 苏州安唯科工业自动化有限公司 | 一种全自动汽车动力电池泄漏检测设备 |
CN113237616A (zh) * | 2021-04-15 | 2021-08-10 | 江苏大学 | 一种汽车燃油蒸发系统泄漏的组合检测系统和方法 |
-
1997
- 1997-07-11 JP JP18661397A patent/JP3897860B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9825624B2 (en) | 2003-09-12 | 2017-11-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and driving method of the same |
JP2006091004A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Idc Llc | 電子デバイスにおける漏れを検出するための方法及びシステム |
JP2007003295A (ja) * | 2005-06-22 | 2007-01-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 密閉品のリークテスト方法 |
JP4506580B2 (ja) * | 2005-06-22 | 2010-07-21 | パナソニック電工株式会社 | 密閉品のリークテスト方法 |
US7832255B2 (en) | 2006-12-26 | 2010-11-16 | Denso Corporation | Sealed device and leak test method and manufacturing method thereof |
JP2016528509A (ja) * | 2013-08-20 | 2016-09-15 | インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングInficon GmbH | ピコ漏洩試験器 |
CN109148984A (zh) * | 2018-09-30 | 2019-01-04 | 苏州安唯科工业自动化有限公司 | 一种全自动汽车动力电池泄漏检测设备 |
CN113237616A (zh) * | 2021-04-15 | 2021-08-10 | 江苏大学 | 一种汽车燃油蒸发系统泄漏的组合检测系统和方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3897860B2 (ja) | 2007-03-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5625141A (en) | Sealed parts leak testing method and apparatus for helium spectrometer leak detection | |
US11060944B2 (en) | Leak detection installation, method, usage and corresponding computer program storage means | |
US4920785A (en) | Hermeticity testing method and system | |
JP4369977B2 (ja) | 密封シールパッケージの漏れを検出するための器具と方法 | |
JPH03195935A (ja) | 漏洩を検出する装置および方法 | |
US4608866A (en) | Small component helium leak detector | |
JPH07218376A (ja) | 漏れ試験装置及び漏れ試験方法 | |
US6119507A (en) | Method and apparatus for recovering helium after testing for leaks in a sample holder | |
JPH1130565A (ja) | 密閉品のリークテスト方法 | |
JPH10318877A (ja) | トレーサガス式漏れ検出器 | |
KR920016830A (ko) | 가스누출 검사장치 및 방법 | |
CN1447912A (zh) | 用于气体发生器密封性测试的方法和装置 | |
JP3701394B2 (ja) | ヘリウムリークディテクターによる薄物試験体の漏洩試験方法 | |
JPH07187152A (ja) | 密封袋のリークテスト方法 | |
JP4154077B2 (ja) | 密閉容器のエアリーク検出方法 | |
JP2003185520A (ja) | 容器のリーク検査方法とリーク検査装置 | |
JP2002267565A (ja) | 漏洩試験装置及び漏洩試験方法 | |
CN209570303U (zh) | 一种用于航天低温复合材料贮箱的渗漏性测试装置 | |
JPH0741441U (ja) | リークデテクタ | |
JP2004340723A (ja) | 袋状物または中空体の洩れ検出装置及び洩れ検出方法 | |
JPH034133A (ja) | ヘリウムリークディテクタ | |
SU1772639A1 (ru) | Способ контроля герметичности изделий, работающих под давлением | |
JP3430975B2 (ja) | リークテスター | |
JPS63121727A (ja) | ピンホ−ル検査方法 | |
JP2000352539A (ja) | 気体圧力の測定値補正方法及び測定値補正装置、並びにそれを用いた密閉容器のエアリーク検出方法及び検出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040419 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050712 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050726 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050922 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060328 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060523 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20061121 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20061220 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130105 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130105 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150105 Year of fee payment: 8 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |