[go: up one dir, main page]

JPH10239697A - 透明導電膜付き基板およびその製造方法 - Google Patents

透明導電膜付き基板およびその製造方法

Info

Publication number
JPH10239697A
JPH10239697A JP4018497A JP4018497A JPH10239697A JP H10239697 A JPH10239697 A JP H10239697A JP 4018497 A JP4018497 A JP 4018497A JP 4018497 A JP4018497 A JP 4018497A JP H10239697 A JPH10239697 A JP H10239697A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
layer
conductive film
transparent
transparent conductive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4018497A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiaki Anzaki
利明 安崎
Etsuo Ogino
悦男 荻野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Sheet Glass Co Ltd filed Critical Nippon Sheet Glass Co Ltd
Priority to JP4018497A priority Critical patent/JPH10239697A/ja
Publication of JPH10239697A publication Critical patent/JPH10239697A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ITO層と銀層の積層構造を有する透明導電
膜に対して、酸による電極パターン加工をするとき、基
板に直接接して被覆されるITO層に、サイドエッチン
グが生じないようにする。 【解決手段】 ガラス透明基板上に、ガラス基板側から
ITO層とパラジウム含有銀層とをこの順序で交互に積
層した5層の積層体からなる透明導電膜を被覆した透明
導電膜付き基板とし、金属層上に被覆されたITO層
を、層の厚み方向で結晶粒子の堆積を多層となるように
した。ITO層およびパラジウム含有銀層をインライン
ス型パッタリング装置で成膜するとき、多層とするIT
O層の成膜は、ITOターゲット用のカソードを少なく
と2つ以上基板の搬送方向に並べて、成膜を中断して多
層化する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示素子やプ
ラズマ表示素子、エレクトロミネッセンス(EL)素
子、LED素子などの薄型表示素子に用いられる低抵抗
の透明導電膜付き基板に関し、とりわけ大面積、高精
細、高速応答の液晶表示装置に好適に用いられる透明導
電膜付き基板に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、液晶表示素子に用いられる透明導
電膜付き基板としては、スズ含有酸化インジウム(少量
のスズをドープした酸化インジウム:ITOで略記)を
ガラス基板表面に被覆したものが用いられている。IT
O透明導電膜を所定形状の透明電極に電極パターン加工
したものは、可視光の透過性が優れているが、透明導電
膜の抵抗率は10-4Ωcmオーダーという大きな値を有
するため、表示面積を大きく、また、表示の高精細化、
低クロストーク化、高速応答化を実現するためには、透
明電極の厚みを厚くしなければならないという問題があ
った。
【0003】透明導電膜の膜厚が厚くなると、酸による
エッチングにより、高精細な電極パターンを歩留り良く
形成することが困難になり、また液晶表示素子内部に透
明電極による顕著な段差が形成されるので、ラビングな
どによる液晶の配向処理においてこの段差部周辺で配向
不良が生じるという問題があった。この問題を解決する
ために、比抵抗の小さい銀または金の薄膜を導電層と
し、透過率の向上をはかるためにこの銀または金層をI
TO層などで挟んだ3層構造の透明電極が、液晶表示用
透明電極として特開昭63−187399号公報や特開
平7−114841号公報に開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術で示されるITO(スズ含有酸化インジウム)
/銀(Ag)/ITOの3層構成の透明導電膜は、透明
性(可視光線透過率)と低抵抗特性を併せ有するが、誘
電体層であるITO層は、成膜開始から成膜終了まで、
生産性を向上させるために成膜を中断することなく連続
して成膜されていた。このため、誘電体層は図5で示さ
れるように誘電体層の総膜厚にほぼ等しい高さまで成長
した結晶粒子(グレインサイズ)で構成されるものであ
った。従ってこの成長した結晶粒子は、その大きさが誘
電体層の厚みにより異なっていた。また、誘電体層の厚
みが同じでも、この結晶粒子は金属層上に被覆されてい
る場合と、ガラス板や有機樹脂材料のような透明基板上
に被覆されている場合とで、電極パターン加工時の酸に
よるエッチングの状況が異なるという問題点があった。
すなわち、透明基板に接して被覆されるITO層(第1
の誘電体層)のサイドエッチングが激しい(図1のa)
という問題点があった。また可視光線透過率を高く維持
したまま低抵抗の電極とするために、たとえば金属層を
2層用いる構成としたときには、基板から数えて第2番
目の誘電体層の膜厚を第1番目及び第3番目の誘電体層
の膜厚の約2倍の厚みとするため、結晶粒子が他の誘電
体層に比較して大きくなるためエッチングレートが遅く
なり、そのためエッチング後の電極パターン断面は、図
1のbのようなアンバランスな形状となってしまい、こ
れが表示装置を構成する際の後工程に悪影響を与える
(例えば液晶表示電極として用いる場合は、この後塗布
する配向膜の加熱やラビングの際に、図1のa、図1の
b中で示される基板近傍に、不本意に発生したえぐれた
空間に気泡などが溜まり、これが原因で配向膜の膜割れ
や膜ハガレが生じて表示素子の作製が不可能になる)と
いう問題点があった。本発明は、このような従来技術が
有する問題点を解決し、電極加工性が改善された透明導
電膜付き基板を提供するためになされたものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の第1は、透明基
板の一方の主表面上に、前記透明基板側から誘電体層と
金属層とがこの順序で交互に積層された3層以上の積層
体からなる透明導電膜が被覆された透明導電膜付き基板
であって、前記金属層上に被覆された誘電体層が層の厚
み方向で多層となるように堆積されていることを特徴と
する透明導電膜付き基板である。
【0006】本発明の第1においては、前記積層体を3
層構成とし、金属層上に被覆される誘電体層を多層とな
るように被覆することができる。これにより透明基板上
に接して被覆される誘電体層と金属層上に接して被覆さ
れる誘電体層の酸によるエッチング性をほぼ同じに(電
極パターン加工で透明基板直上に設けられる誘電体層の
サイドエッチが生じないように)することができる。ま
た二つの誘電体層のエッチング性を微妙に制御するため
に、透明基板に接して被覆する誘電体層を、さらに本発
明の目的に合致するように多層になるように被覆しても
よい。
【0007】本発明の第1においては、前記積層体を基
板側から数えて第1の誘電体層、第1の金属層、第2の
誘電体層、第2の金属層、第3の誘電体層の5層とし、
金属層上に接して被覆される誘電体層のうち少なくとも
第2の誘電体層を多層となるように堆積するのが好まし
い。また、第2の誘電体層及び第3の誘電体層の両者を
多層となるように堆積してもよい。さらに三つの誘電体
層のエッチング性を微妙に制御調整するために、透明基
板に接して被覆される誘電体層を多層となるように被覆
されていてもよい。
【0008】本発明の第1において、誘電体層の多層構
造(断層または層と層の境界を有する)やその厚み(ま
たは縦方向の粒子サイズ)は、層断面のSEM像(走査
型電子顕微鏡像)により観察される。この像は、膜面に
垂直に切断した多層膜の断面に1次電子線を照射し、そ
こから反射してくる2次電子線像をとらえて映像にする
ものであり、ITOなどの導電性のある誘電体の場合、
層を構成する結晶粒子(グレイン)の断面像が比較的鮮
明に観察出来る。またこの観察時に粒子同士の境界や断
層(層と層の境界)が観察しづらい場合は、膜を切断し
た後に薄い塩酸水溶液などでスライトエッチングしてお
くと、この境界部分が比較的明瞭になる。誘電体層の導
電性が十分でない場合は、SEM像観察のために断面に
導電性物質をあらかじめ薄く被覆すればよい。
【0009】本発明の第1においては、誘電体層の多層
となるように堆積された結晶粒子で形成される層の一つ
分の厚み(図4において総膜厚のほぼ半分の一列の結晶
粒子の堆積で形成される厚み)を透明基板上に接して被
覆される誘電体層の厚みよりも小さくすることは、図1
のa、図1のbの電極パターン断面で示されるオーバー
ハングを生じさせない上で好ましい。
【0010】本発明によれば、前記積層された誘電体層
の各をほぼ同じ組成で構成するとき、塩酸水溶液、硝酸
水溶液、あるいはこれらを混合した水溶液などの腐食性
プロセスによるエッチングを行うと、ストライプ状の電
極パターンの断面形状は透明基板側で幅広く、透明基板
から遠くになる従い、巾が小さく(すなわち透明電極の
断面形状として好ましいテーパー状に)なる。
【0011】本願発明の第1は、第1番目の誘電体層が
ガラス板や有機樹脂などの表面の非晶質的な微細構造の
影響を受け、金属層上に被覆される誘電体層に比較し結
晶成長しにくく、結晶粒子の大きさ(グレインサイズ)
が相対的に小さくなる傾向があり、これにより透明基板
上に直接被覆される第1番目の誘電体層の酸によるエッ
チングレートが、金属層上に被覆された誘電体層より相
対的に速くなることを発見したことによりなされたもの
である。さらに、同じ金属からなる金属層上に成膜され
た同じ組成の誘電体層でも、その層の厚みが大きいと、
成長する結晶粒子の厚み方向のサイズが大きくなり、こ
れにより加工電極の断面が不揃い(サイドエッチングが
生じたりオーバーハングが生じたりする)ことを見出し
たことに基づいてなされたものである。
【0012】また、金属層を2層に分割して高透過率を
ねらう構造とする場合、たとえば基板/第1の誘電体層
/第1の金属層/第2の誘電体層/第2の金属層/第3
の誘電体層とする場合、第1と第2の金属層の間に挟ま
れる第2の誘電体層の厚みは、光学設計上(可視光線透
過率を高くする上で)第1および第3の誘電体層の厚み
の2倍程度とされることが多い。この場合、第2の誘電
体層を成膜の中断をすることなく、すなわち連続成膜に
より設けると、結晶粒子が膜厚方向で第1および第3の
誘電体層のそれより大きくなり、これにより電極パター
ン加工時の酸によるエッチングレートが第2の誘電体層
について著しく遅くなるという傾向があることを見出し
たのである。
【0013】電極加工時のパターンの幅を制御するに
は、フォトリソグラフィーを用いたエッチング時の誘電
体層のエッチングレート(とりわけサイドエッチング
量)を制御して、各層のレジストパターンを基準位置と
した場合のエッチングの入り込み量であるサイドエッチ
ング幅を最適化することが必要である。誘電体層の組成
が同じか比較的近い場合、このサイドエッチイング量の
制御を、誘電体層を構成する結晶粒子のサイズ(グレイ
ンサイズ)を制御することにより行える。
【0014】たとえば、ITOなどの透明金属酸化物を
反射防止誘電体層として用いる場合は、ITO層の結晶
性を良くし、グレインサイズを大きくした方が、エッチ
ングレートを遅くすることができる。これにより電極加
工時のサイドエッチ量を少なくすることができる。上記
の電極パターン形状として好ましいテーパー状とするた
めに、また透明基板に接して被覆される誘電体層のサイ
ドエッチを防止するために、基板から遠い側の誘電体層
には結晶粒子(グレイン)サイズが小さくエッチングレ
ートが速い膜を配置することが好ましい。
【0015】本発明の第1においては、誘電体層を構成
する化合物としては、酸可溶性の透明金属酸化物であれ
ばとくに限定されるものではないが、比抵抗が1×10
-1Ωcm以下程度で、かつ屈折率が1.4〜2.7程度
の範囲の化合物が好んで用いられる。なかでも酸化イン
ジウム、スズ含有酸化インジウム、亜鉛含有酸化インジ
ウム、スズ及び亜鉛含有酸化インジウム、酸化スズ、ア
ンチモン含有酸化スズ、アルミニウム含有酸化亜鉛から
なる酸可溶性金属酸化物が好んで用いられる。また、酸
化インジウムにアルミニウム、ガリウムを少量含有させ
たものも用いることができる。これらのうちで、酸化イ
ンジウム、スズ含有酸化インジウム、亜鉛含有酸化イン
ジウム、スズ及び亜鉛含有酸化インジウムは、酸による
高い可溶性を有するので特に好ましい。酸化インジウム
に含有させるスズは30重量%以下とするのが、酸可溶
性を低下させない上で好ましい。また、酸化インジウム
に含有させる亜鉛の量は、耐アルカリ性を低下させない
という観点から40重量%以下とするのが好ましい。
【0016】本発明の第1においては、金属層は可視光
線を透過率を高くする上で、銀又は金を主成分とするの
が好ましい。さらに、この金属導電層の耐湿性などの層
の耐久性を向上する目的で、銀にパラジウムを0.1〜
3原子%添加したもの、銀に金を0.1〜5原子%添加
したもの、銀に銅を0.1〜4原子%添加したもの、銀
にマグネシウムを0.05〜5原子%添加したものが好
ましく用いられる。
【0017】本発明の第1においては、金属層を誘電体
層により2層以上の金属層に分割した5層構成としても
よい。これにより、金属層を分割しない場合に比べ、ほ
ぼ同じ面積抵抗であれば、より高い透過率の透明導電膜
とすることができる。このように前記金属層を分割する
場合は、本発明の透明導電膜付き基板全体の垂直可視光
透過率が50%程度以上となるようにするため、それぞ
れの分割された金属層の膜厚の総和が100nm程度以
下とするのが好ましい。
【0018】本発明の第1に用いることのできる透明基
板としては、ソーダライムシリカ組成のガラスや硼珪酸
ガラス(無アルカリガラス)などの公知のガラス基板は
もちろん、ポリエチレンテレフタレート(PET)やア
クリル(PMMA)などのプラスチック基板やプラスチ
ックフィルム、ガラス板上にカラー表示を目的としたカ
ラーフィルタとそのカラーフィルタ上に有機保護層とが
設けられた基板を例示することができる。またこれらの
基板は平面である必要はなく、ある種の曲面や凹凸を有
した基体でもよい。
【0019】本発明の第2は、透明基板の一方の主表面
上に、前記透明基板側から誘電体層と金属層とがこの順
序で交互に積層された3層以上の積層体からなる透明導
電膜が設けられた透明導電膜付き基板を製造する方法で
あって、前記金属層上に接して積層される誘電体層のう
ちの少なくとも1層を、成膜の中断により堆積成長する
結晶粒子を厚み方向に多層となるようにした透明導電膜
付き基板の製造方法である。
【0020】本発明の第2は、金属層上の誘電体層の成
膜途中に、成膜を中断して誘電体層の結晶粒子の堆積構
造を多層となるように分割することを特徴としている。
成膜の中断により誘電体層を多層にすることは、基板上
への誘電体膜の成膜中に成膜をいったん止め、この成膜
の停止を誘電体層の結晶粒子(または成長粒)の成長が
不連続になるのに十分な程度に行うことにより実現でき
る。
【0021】この誘電体層を多層とすることにより、電
極パターン加工時のエッチングレートを制御するための
誘電体の結晶粒子サイズの制御を行うことができる。基
板と平行な方向の粒子のサイズは成膜条件により変化す
るが、基板に垂直な方向の粒子のサイズは成膜の中断に
より制御される。
【0022】上記の成膜の中断は、インラインスパッタ
装置でのターゲット前を通過する回数を複数回にして成
膜することや、バッチ型のスパッタ装置あるいは蒸着装
置において、ターゲットあるいは成膜源と基板間に設置
されたシャッターを用いて基板に飛来してくる蒸発粒子
を遮断することにより実施できる。また、スパッタリン
グやアーク放電蒸着やイオンプレーティングなどの真空
蒸着で成膜するときの、雰囲気の圧力(真空度)や酸素
濃度を適時変更することによっても実施できる。
【0023】本発明の第2において用いられる誘電体層
を構成する化合物としては、本発明の第1と同じよう
に、酸可溶性の透明酸化物であればとくに限定されるも
のではないが、比抵抗が1×10-1Ωcm以下程度で、
かつ屈折率が1.4〜2.7程度の範囲の化合物は好ん
で用いられる。なかでもインジウム酸化物、スズ含有酸
化インジウム、亜鉛含有酸化インジウム、スズ及び亜鉛
を含有した酸化インジウム、酸化スズ、アンチモン含有
酸化スズ、アルミニウム含有酸化亜鉛などが、塩酸や塩
酸と硝酸などの鉱酸や、これらの水溶液に対する溶解性
があり、導電性があるので好んで用いられる。これらの
金属のうちで、スズと亜鉛は材料価格が安価であり、こ
れらを添加して酸化インジウムの酸に対する溶解速度を
微妙に制御することができる。
【0024】また、本発明の第2においては、本発明の
第1と同様、金属層は可視光線を透過率を高くする上
で、銀又は金を主成分とするのが好ましい。さらに、こ
の金属導電層の耐湿性などの層の耐久性を向上する目的
で、銀にパラジウムを0.1〜3原子%添加したもの、
銀に金を0.1〜5原子%添加したもの、銀に銅を0.
1〜4原子%添加したもの、銀にマグネシウムを0.0
5〜5原子%添加したものが好ましく用いられる。
【0025】また、本発明の第2においては、金属層を
誘電体層により2層以上の金属層に分割した5層構成と
してもよい。これにより、金属層を分割しない場合に比
べ、ほぼ同じ面積抵抗であれば、より高い透過率の透明
導電膜とすることができる。このように前記金属層を分
割する場合は、本発明の透明導電膜付き基板全体の垂直
可視光透過率が50%程度以上となるようにするため、
それぞれの分割された金属層の膜厚の総和が100nm
程度以下とするのが好ましい。
【0026】さらに本発明第2に用いられる透明基板と
しては、ソーダライムシリカ組成のガラスや硼珪酸ガラ
ス(無アルカリガラス)などの公知のガラス基板はもち
ろん、ポリエチレンテレフタレート(PET)やアクリ
ル(PMMA)などのプラスチック基板やプラスチック
フィルム、ガラス板上にカラー表示を目的としたカラー
フィルタとそのカラーフィルタ上に有機保護層とが設け
られた基板を例示することができる。またこれらの基板
は平面である必要はなく、ある種の曲面や凹凸を有した
基体でもよい。
【0027】
【発明の実施の形態】本発明の第1および第2において
は、高温高湿条件の大気に一定時間暴露して評価される
耐湿熱性、基板込みの可視光透過率の高さで評価される
透明性、シート抵抗の低さで評価される電気的特性、エ
ッチング後の電極パターン断面の形状と配向膜塗布及び
熱処理工程との整合性の観点から、本発明のとりわけ好
ましい実施形態としては、シート抵抗値で約2.5Ω/
□以下1.5Ω/□以上で可視光透過率60%以上とい
う特性を得るには、ガラス基板/ITO層30〜70n
m/銀主成分の金属層5〜30nm/ITO層60〜1
20nm/銀主成分の金属層5〜30nm/ITO層3
0〜70nmなどの積層構造が挙げられ、1.5Ω/□
以下の範囲で可視光透過率60%以上という特性を得る
には、ガラス基板/ITO層30〜70nm/銀主成分
の金属層5〜30nm/ITO層60〜120nm/銀
主成分の金属層5〜30nm/ITO層60〜20nm
/銀主成分の金属層5〜30nm/ITO層30〜70
nmなどの積層構造が挙げられる。
【0028】本発明の誘電体層を成膜途中で中断して2
層に多層化したときの結晶粒子の堆積成長の様子を模式
的に表したものを図4に示す。同じ厚みのITO層(酸
可溶性の層)をたとえばストライプ状電極にフォトレジ
ストのマスキングにより加工するとき、図5で示される
従来技術で得られる結晶粒子からなる層よりも、図4で
示される本発明の多層構造を有する層の方が、エッチン
グレートが大きくなる。
【0029】透明導電膜を前記3層で構成する場合、第
1のITO層は成膜中断を行わず、すなわち縦方向のグ
レインサイズは膜厚とほぼ同じに設定することができ
る。次に銀層を成膜した後、第2のITO層では成膜中
断を例えば1〜3回適時行って誘電体層の中に断層をつ
くり、その層の結晶粒子(グレインサイズ)を第1のI
TO層よりも小さく制御することが好ましい。これによ
り、パターン電極加工をしたとき図2のaで示されるよ
うに、ITO層3はその端部がテーパー形状にエッチン
グされる。さらに、透明導電膜10全体としてもテーパ
ー状にエッチングされる。また、透明導電膜を5層構成
としたときの本発明の電極パターン加工形状を図2のb
に示す。
【0030】光学特性の向上を狙って透明導電膜を5層
構成とする場合、二つの金属層はほぼ同じ厚みにし、第
2のITO層の膜厚を第1および第3のITO層の膜厚
のほぼ2倍程度とすることが多い。すなわち、第1、第
2、第3のITO層の厚み比率は大略1:2:1に設計
される。この場合、第2のITO層についてのみ成膜の
中断を1回行えば、第1、第2、第3のITO層のグレ
インサイズの厚み方向の大きさの比率は、大略1:1:
1となる。第2のITO層の中断を2回行い(3層に均
等に多層化し)、第3のITO層の中断を1回(2層に
均等に多層化し)行えば、第1、第2、第3のITO層
の結晶粒子(グレイン)サイズの厚み方向の大きさの比
率は、大略1:2/3:1/2となる。また第1のIT
O層のみをこれにより、基板から遠ざかるに従いITO
層のグレインサイズの膜厚み方向の大きさは小さくなる
ので、基板側に近い層ほど酸によるエッチングレートが
遅くなる。したがって、このような透明導電膜は、酸の
エッチング液に浸されたとき、サイドエッチングが抑制
される。
【0031】また、本発明の第2の実施態様としては、
複数のカソードを備えたインラインタイプのスパッタリ
ング装置を用いて連続的におこなう成膜を例示できる。
たとえば、誘電体成膜用のカソードを隣り合うように3
基、基板の搬送方向に設ければ、成膜の中断を二回とす
る三層構成の誘電体層を成膜することができる。また、
基板が軸中心に回転させながら成膜するカルーセル型の
バッチタイプスパッタリング装置であれば、成膜中断の
時間を適時選ぶことや、成膜途中でスパッタリングガス
組成や圧力などの雰囲気を変えることで多層構成の誘電
体層とすることができる。以下に本発明を実施例で説明
する。
【0032】(実施例1)縦400mm横300mm厚
さ0.7mmの単純マトリックス液晶表示用ソーダライ
ムシリカ組成のガラス基板を洗浄した後、アルカリパッ
シベーション用二酸化珪素層を30nm形成した。つぎ
にスパッタリングターゲットとして、インジウムスズ酸
化物(In23:SnO2 =90重量%:10重量%)
の誘電体層用ターゲット、及び銀−パラジウム合金(A
g:Pd=98原子%:2原子%)の金属層用ターゲッ
トを用いて、アルゴンと酸素の混合ガスをスパッタリン
グガスとするDCスパッタリング法により、第1のIT
O層/第1の銀−パラジウム層/第2のITO層/第2
銀−パラジウム層/第3のITO層を、それぞれ膜厚で
45nm、18nm、90nm、18nm、45nmに
なるよう順次ガラス基板上に被覆した。この際に、誘電
体層である第2のITO層のスパッタリング成膜時に成
膜の中断を実施し、この層を4つの均等な膜厚の層に分
割した。またおなじく誘電体層である第3のITO層の
スパッタリング時に成膜の中断を実施し、この層を2つ
の均等な膜厚の層に分割した。この後、この多層構造の
透明導電膜を電極幅50μm、電極間隔15μmのスト
ライプ状パターンに、塩酸を含む水溶液からなるエッチ
ング液により電極加工をした。形成した電極パターンの
断面のSEM観察において、この電極の断面は基板側の
電極線幅が一番広く、基板に遠くなるにしたがい電極線
幅が狭くなるいわゆるテーパー状の形状となっていた。
このサンプル1の特性を表1に示す。
【0033】(実施例2)縦400mm横300mm厚
さ0.7mmの液晶表示用のガラス基板を洗浄した後、
アルカリパッシベーション用二酸化珪素層を30nm形
成した。つぎにスパッタリングターゲットとして、スズ
及び亜鉛含有酸化インジウム(In23:ZnO:Sn
2 =90重量%:5重量%:5重量%、以下ITZO
という)の誘電体層用ターゲット、及び銀−パラジウム
合金(Ag:Pd=99原子%:1原子%)の金属層用
ターゲットを用いて、アルゴンと酸素の混合ガスをスパ
ッタリングガスとするDCスパッタリング法により、第
1のITZO層/第1の銀−パラジウム層/第2のIT
ZO層/第2銀−パラジウム層/第3のITZO層を、
それぞれ膜厚で45nm、18nm、90nm、18n
m、45nmになるよう順次ガラス基板上に被覆した。
この際に、誘電体層である第2のAZO層のスパッタリ
ング時に成膜中断を実施し、この層を2つのほぼ均等な
膜厚の層に分割した。また同じく誘電体層である第3の
ITZO層のスパッタリング時に成膜中断を実施し、こ
の層を2つの均等な膜厚の層に分割した。この後この多
層構造の透明導電膜を電極幅50μm、電極間隔15μ
mのストライプ状パターンに、薄い塩酸を含む水溶液か
らなるエッチング液により電極加工を施した。この電極
の断面は、基板側の線幅が一番広く、基板に遠くなるに
したがい線幅が狭くなるいわゆるテーパー状の形状とな
った。このサンプル2の特性を表1に示す。
【0034】(比較例1)実施例1とは、誘電体層成膜
時の成膜中断を実施せず、全ての誘電体層はそれぞれ1
つの層として結晶粒の成長の中断をせずに成膜したこと
を除いては全く同様にして、第1のITO層/第1の銀
−パラジウム層/第2のITO層/第2の銀−パラジウ
ム層/第3のITO層を、それぞれ膜厚で45nm、1
8nm、90nm、18nm、45nmになるよう順次
ガラス基板上に被覆した。この多層構造の透明導電膜を
電極幅50μm、電極間隔15μmのストライプ状パタ
ーンに、実施例1に用いたエッチング液と同じエッチン
グ液で電極加工したところ、形成した電極パターンの断
面のSEM観察において、第1のITO層のサイドエッ
チングが著しく、また第2、第3のITO層が第1層I
TOより外側に飛び出て残留した電極となっていた。ま
た電極自体が剥離されやすい状態になっていることが観
察され、この透明導電膜は実用に適さないことが推定さ
れた。このサンプルの特性を表1に示す。
【0035】
【表1】
【0036】
【発明の効果】本発明の第1にかかる透明導電膜付き基
板の透明導電膜の金属層上に接して設けられている誘電
体層は、結晶粒子が膜厚方向に多層となるように成膜さ
れ堆積されているので、電極パターン加工をするときの
酸によるエッチング速度は早くなるように調整されてい
る。一方、金属層上の誘電体層よりも、基板の表面に影
響を受けて非晶質的な構造をとりやすい透明基板上に直
接設けられる誘電体層は、その結晶粒子の膜厚方向での
大きさを、金属層上の誘電体層のそれと同じかそれより
も大きくなるように制御されているので、金属層上に設
けられる誘電体層の酸による溶解速度よりも大きくなる
のが抑制されている。これにより、金属層に接して設け
られる誘電体層と透明基板に接して設けられる誘電体層
の両者についてエッチング性が調整、制御され、電極パ
ターン加工で透明基板に接して設けられる誘電体層にア
ンダーカットが生じないように(サイドエッチングが抑
制されるように)することが可能となる。
【0037】本発明の第1においては、金属層に可視光
線透過率が高い銀を主成分とすると、サイドエッチング
が生じにくいという電極パターンの優れた加工性と、透
明導電膜の全厚みが薄くても低抵抗、高透過率が得られ
るという優れた電気特性、光学特性を併せ有する透明導
電膜が得られる。
【0038】本発明の第1の銀層に少量の金属を含有さ
せることにより、さらに耐久性を備えた透明導電膜付き
基板とすることができる。また、本発明の透明導電膜
は、室温の基板または必要により加熱した基板の上に被
覆することにより得られるので、カラー表示用の有機染
料または顔料などからなるカラーフィルタが設けられた
基板上に電極加工性が良い透明導電膜を被覆することが
出来、高精細の液晶表示用の基板として用いられる。
【0039】また、透明導電膜が対向するように基板の
周辺部を接着剤で接着して基板間に密閉空間を形成し、
その密閉空間に液晶を封入した液晶表示素子とするに際
し、透明導電膜付き基板の少なくとも一方に本発明の透
明導電膜付き基板を用いると、高速応答、低クロストー
クで大面積、高コントラスト、高精細の液晶表示素子と
することができる。また低抵抗を要求される太陽電池や
発光素子用にも応用が可能である。
【0040】また、本発明の第2の方法によれば、サイ
ドエッチングが抑制された誘電体と金属層の積層体から
なる透明導電膜を、熱処理等の工程を必要とすることな
く、誘電体層の成膜の中断による多層とすることにより
得られる。このため、従来技術と比較しても成膜の生産
性を大きく劣化させることなく、かつ、誘電体層の中断
の回数等の調整により簡単にエッチング特性を調整制御
できるという方法で、電極パターン加工性がよい透明導
電膜を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術による透明導電膜の電極パターン加工
後の透明電極の断面模式図である。
【図2】本発明の一実施例を電極パターン加工した後の
透明電極の断面模式図である。
【図3】本発明を用いて作製し得る液晶表示装置の断面
模式図である。
【図4】本発明にかかる誘電体層を多層となるように成
膜したときの結晶粒子の堆積成長の様子を模式的に示す
図である。
【図5】膜厚全体を連続して成膜する従来技術により得
られる誘電体層の結晶粒子の堆積成長の様子を模式的に
示す図である。
【符号の説明】
1:透明基板上に接して設けられる誘電体層 2:金属層 3:金属層上に接して設けられる誘電体層 4:ガラス基板 5:フォトレジスト 6:サイドエッチにより第1層端部に発生する隙間 7:成長粒子 10:パターニング後の透明導電膜 20:透明導電膜付き基板 30:配向膜 31:液晶層 32:透明導電膜 33:カラーフィルタ 34:保護膜

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】透明基板の一方の主表面上に、前記透明基
    板側から誘電体層と金属層とがこの順序で交互に積層さ
    れた3層以上の積層体からなる透明導電膜が設けられた
    透明導電膜付き基板において、前記金属層上に設けられ
    た誘電体層は、層の厚み方向で多層となるように堆積さ
    れていることを特徴とする透明導電膜付き基板。
  2. 【請求項2】前記積層体が3層からなり、金属層上の誘
    電体層が多層となるように堆積されている請求項1に記
    載の透明導電膜付き基板。
  3. 【請求項3】前記積層体が基板側から数えて第1の誘電
    体層、第1の金属層、第2の誘電体層、第2の金属層、
    第3の誘電体層の5層からなり、金属層上に接して設け
    られた誘電体層のうち少なくとも第2の誘電体層が多層
    となるように堆積されている請求項1に記載の透明導電
    膜付き基板。
  4. 【請求項4】前記多層となるように堆積された層の一つ
    分の厚みを、透明基板に接して設けられる誘電体層の厚
    みよりも小さくしたことを特徴とする請求項1〜3のい
    ずれかの項に記載の透明導電膜付き基板。
  5. 【請求項5】前記誘電体層は酸可溶性の透明金属酸化物
    の層である請求項1〜4のいずれかの項に記載の透明導
    電膜付き基板。
  6. 【請求項6】前記酸可溶性の透明金属酸化物を、酸化イ
    ンジウム、スズ含有酸化インジウム、亜鉛含有酸化イン
    ジウム、スズ及び亜鉛含有酸化インジウム、酸化スズ、
    アンチモン含有酸化スズ、アルミニウム含有酸化亜鉛か
    らなる酸可溶性金属酸化物の群から選ばれた少なくとも
    一つとしたことを特徴とする請求項5に記載の透明導電
    膜付き基板。
  7. 【請求項7】前記酸可溶性の透明金属酸化物として、酸
    化インジウムを選んだことを特徴とする請求項6に記載
    の透明導電膜付き基板
  8. 【請求項8】前記酸可溶性の透明金属酸化物として、ス
    ズ含有酸化インジウムを選んだことを特徴とする請求項
    6に記載の透明導電膜付き基板。
  9. 【請求項9】前記酸可溶性の透明金属酸化物として、亜
    鉛含有酸化インジウムを選んだことを特徴とする請求項
    6に記載の透明導電膜付き基板。
  10. 【請求項10】前記金属層を銀を主成分とする層とした
    請求項1〜9のいずれかの項に記載の透明導電膜付き基
    板。
  11. 【請求項11】前記銀を主成分とする層を銀にパラジウ
    ムを0.1〜3原子%添加した層とした請求項10に記
    載の透明導電膜付き基板。
  12. 【請求項12】前記金属層を金を主成分とする層とした
    請求項1〜9のいずれかの項に記載の透明導電膜付き基
    板。
  13. 【請求項13】前記透明基板は、ガラス板上にカラー表
    示のためのカラーフィルタが設けられた基板である請求
    項1〜12のいずれかの項に記載の透明導電膜付き基
    板。
  14. 【請求項14】請求項1〜13のいずれかの項に記載の
    透明導電膜付き基板を用いた表示素子。
  15. 【請求項15】透明基板の一方の主表面上に、前記透明
    基板側から誘電体層と金属層とがこの順序で交互に積層
    された3層以上の積層体からなる透明導電膜が設けられ
    た透明導電膜付き基板を、減圧された雰囲気中でのスパ
    ッタリング法または蒸着法により製造する方法であっ
    て、前記金属層上に接して設けられた誘電体層のうちの
    少なくとも1層を、その成膜の中断により結晶粒子の堆
    積成長を厚み方向で多層となるようにしたことを特徴と
    する透明導電膜付き基板の製造方法。
  16. 【請求項16】前記誘電体層の成膜の中断を、前記透明
    基板を前記誘電体となり得る材料をターゲットとしてス
    パッタリングすると同時に、ターゲットの前方を前記透
    明基板を複数回横切らせるスパッタリング法により行う
    ことを特徴とする請求項15に記載の透明導電膜付き基
    板の製造方法。
  17. 【請求項17】前記誘電体の成膜の中断を、前記誘電体
    となり得る蒸着原料を蒸発させ、その蒸発粒子の前記透
    明基板への到達を一時的に遮断する蒸着法により行うこ
    とを特徴とする請求項15に記載の導電膜付き基板の製
    造方法。
JP4018497A 1997-02-25 1997-02-25 透明導電膜付き基板およびその製造方法 Pending JPH10239697A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4018497A JPH10239697A (ja) 1997-02-25 1997-02-25 透明導電膜付き基板およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4018497A JPH10239697A (ja) 1997-02-25 1997-02-25 透明導電膜付き基板およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10239697A true JPH10239697A (ja) 1998-09-11

Family

ID=12573706

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4018497A Pending JPH10239697A (ja) 1997-02-25 1997-02-25 透明導電膜付き基板およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10239697A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6747723B2 (en) 2000-05-25 2004-06-08 Seiko Epson Corporation Liquid crystal device having multi-layer electrode, method of making the same, and electronic apparatus
US6798476B2 (en) 2000-05-25 2004-09-28 Seiko Epson Corporation Liquid crystal device, method for making the same, and electronic apparatus
JP2008090310A (ja) * 1999-03-16 2008-04-17 Lg Philips Lcd Co Ltd 薄膜トランジスタ基板の製造方法
JP2010514597A (ja) * 2006-12-28 2010-05-06 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 薄膜金属層形成のための核形成層
WO2019221257A1 (ja) 2018-05-17 2019-11-21 三菱マテリアル株式会社 積層膜、及び、Ag合金スパッタリングターゲット
WO2020162221A1 (ja) 2019-02-06 2020-08-13 三菱マテリアル株式会社 Ag合金スパッタリングターゲット、及び、Ag合金膜
WO2020162206A1 (ja) 2019-02-06 2020-08-13 三菱マテリアル株式会社 Ag合金スパッタリングターゲット、及び、Ag合金膜
KR20210010451A (ko) 2018-05-17 2021-01-27 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 적층막 및 Ag 합금 스퍼터링 타깃
CN112768617A (zh) * 2021-01-06 2021-05-07 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板及其制备方法、显示装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4709816B2 (ja) * 1999-03-16 2011-06-29 エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド 薄膜トランジスタ基板の製造方法
JP2008090310A (ja) * 1999-03-16 2008-04-17 Lg Philips Lcd Co Ltd 薄膜トランジスタ基板の製造方法
US6798476B2 (en) 2000-05-25 2004-09-28 Seiko Epson Corporation Liquid crystal device, method for making the same, and electronic apparatus
US6831717B2 (en) 2000-05-25 2004-12-14 Seiko Epson Corporation Liquid crystal device, method for making the same, and electronic apparatus
US6747723B2 (en) 2000-05-25 2004-06-08 Seiko Epson Corporation Liquid crystal device having multi-layer electrode, method of making the same, and electronic apparatus
US9822454B2 (en) 2006-12-28 2017-11-21 3M Innovative Properties Company Nucleation layer for thin film metal layer formation
JP2010514597A (ja) * 2006-12-28 2010-05-06 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 薄膜金属層形成のための核形成層
WO2019221257A1 (ja) 2018-05-17 2019-11-21 三菱マテリアル株式会社 積層膜、及び、Ag合金スパッタリングターゲット
KR20210010451A (ko) 2018-05-17 2021-01-27 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 적층막 및 Ag 합금 스퍼터링 타깃
WO2020162221A1 (ja) 2019-02-06 2020-08-13 三菱マテリアル株式会社 Ag合金スパッタリングターゲット、及び、Ag合金膜
WO2020162206A1 (ja) 2019-02-06 2020-08-13 三菱マテリアル株式会社 Ag合金スパッタリングターゲット、及び、Ag合金膜
KR20210122772A (ko) 2019-02-06 2021-10-12 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 Ag 합금 스퍼터링 타겟, 및, Ag 합금막
KR20210122791A (ko) 2019-02-06 2021-10-12 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 Ag 합금 스퍼터링 타깃, 및 Ag 합금막
CN112768617A (zh) * 2021-01-06 2021-05-07 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板及其制备方法、显示装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6040056A (en) Transparent electrically conductive film-attached substrate and display element using it
KR100254151B1 (ko) 투과식 전기적 전도성 막 부착 기판
TWI569191B (zh) A substrate having a transparent electrode, a method for manufacturing the same, and a touch panel
KR20200078719A (ko) 도전성 적층체, 패턴 배선이 형성된 투명 도전성 적층체, 및 광학 디바이스
US6221520B1 (en) Transparent conductive film and process for forming a transparent electrode
JP2010034577A (ja) 電磁波遮蔽積層体およびこれを用いたディスプレイ装置
JPH10239697A (ja) 透明導電膜付き基板およびその製造方法
CN110641108A (zh) 薄膜
KR20020041414A (ko) 전극이 있는 기판 및 그 제조방법
JP2004050643A (ja) 薄膜積層体
JPH06136159A (ja) 透明導電性フィルムおよびその製造法
JP3928970B2 (ja) 積層型透明導電膜の製造方法
JPH09221340A (ja) 透明導電膜付基板
JPH0957892A (ja) 透明導電性積層体
JP2016115638A (ja) 透明導電膜およびその製造方法
KR102601854B1 (ko) 도전성 기판 및 도전성 기판 제조방법
JP6096869B2 (ja) 導電性積層体、パターン配線付き透明導電性積層体、および光学デバイス
JPH11174993A (ja) 透明導電膜付き基板およびそれを用いた平面型表示素子
JPH09236811A (ja) 液晶ディスプレイ用透明導電基板および透明電極形成方法
JP5848786B2 (ja) 導電性積層体、パターン配線付き透明導電性積層体、および光学デバイス。
WO2015125512A1 (ja) 透明導電体の製造方法及び透明導電体の製造装置
JPH09234816A (ja) 透明導電性積層体
JP4820738B2 (ja) 電磁波遮蔽積層体およびこれを用いたディスプレイ装置
JPH09251161A (ja) 表示素子用基板
JP7150125B2 (ja) 透明導電層、透明導電性シート、タッチセンサ、調光素子、光電変換素子、熱線制御部材、アンテナ、電磁波シールド部材および画像表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20031210

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051129

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060613

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060724

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060919