JPH09312323A - 基板処理装置のフロー管理方法及びフロー管理装置 - Google Patents
基板処理装置のフロー管理方法及びフロー管理装置Info
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- JPH09312323A JPH09312323A JP6686197A JP6686197A JPH09312323A JP H09312323 A JPH09312323 A JP H09312323A JP 6686197 A JP6686197 A JP 6686197A JP 6686197 A JP6686197 A JP 6686197A JP H09312323 A JPH09312323 A JP H09312323A
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Abstract
順に対して不使用予定の処理部をオプション情報として
付加乃至は混在させた形式で形成し、これを選択指定す
るようにしてフローの指定の容易化及び搬送手段による
基板搬送効率の向上を図る。 【解決手段】 レシピNoによりレシピテーブルからM
TRフローが特定され、これからフローNoと不使用の
処理部を指定するオプションNoとが特定され、フロー
テーブルから不使用の処理部のステップ位置が特定され
る。MTR31〜33への基板の受け渡しとともにレシ
ピNoが転送されてくると、処理制御手段8は特定され
るオプションNoから不使用となる処理部のステップ位
置が、次処理の処理部であるかどうかを判断する。MT
Rは、次処理の処理部が不使用でないときは該次処理の
処理部に基板Bを搬送して受け渡しを行い、該次処理の
処理部が不使用となるときは該次処理の処理部を通過す
る。
Description
導体基板の製造プロセスに適用される複数の処理部と、
カセットに収納された基板を順次に搬出し、上記複数の
処理部に対して基板の給排を行って一連の処理を施す搬
送手段とを有する基板処理装置に係り、特に、処理手順
の異なるロットの基板に対しても所要の順序(フロー)
で基板を搬送するようにしたフロー管理方法及びフロー
管理装置に関するものである。
スに適用される一連の基板処理装置として、例えば、基
板洗浄部、レジスト塗布部(薄膜形成部)、乾燥部、露
光部、現像部等の各処理部が用いられる。これらの各処
理部は基本的な処理工程を考慮して配置されており、そ
れらの間を2本のハンドを持つ搬送ロボットが走行移動
し、基板を順次1枚ずつ給排することで、一連の処理
(フロー)が実行されるようになっている。具体的に
は、本基板処理装置はタクト管理を行う制御部を有し、
複数枚の基板を収納したカセットが装置のカセット載置
部にセットされ、かつ所定のフローが設定指示される
と、上記制御部は搬送ロボットに対し、上記設定された
フローに従った移動信号を順次出力してカセットから基
板を1枚ずつ搬出させ、上述した基板洗浄部、レジスト
塗布部、…に対して2本のハンドで順次基板の給排を行
わせ、最後に現像部で現像処理された基板を搬出して、
カセットに収納させることで、一巡乃至は所要回数分だ
け循環処理を施す。
や用途に応じて異なる処理手順や処理条件の下で処理が
施される必要がある。従って、各処理部が備え付け的に
配設された上記基板処理装置で、かかる種々のロットの
基板に対応して、搬送ロボット及び各処理部を動作制御
させなければならない。しかしながら、従来の基板処理
装置では、処理するカセットに対してフロー情報を設定
指示する操作を行い、この指示内容に沿って搬送ロボッ
トの制御を行わせていたため、そのための指示操作が煩
わしく、しかも搬送ロボットは各フローに沿って基板搬
送動作を行うだけであるので、例えば、現処理中の先投
入の基板に対し、これとは異なるロットのカセットの基
板を優先して乃至は割り込んで処理する場合、搬送ロボ
ットは先投入と後投入の基板とを区別して基板搬送を行
わせることが充分にできていなかった。従って、先投入
されている基板の全てをカセットに収納するまで待って
から、異種ロットである後投入の基板を搬入するように
していた。
理時間が変更され、あるいは省かれたりする場合があ
り、更には処理順序自体が一部変更される可能性もある
ため、種々のロットに応じたフロー情報を設定指示する
操作性も低下し、かつ先投入の基板との干渉を確実に防
止するべく後投入の基板の搬入が規制され、この間がロ
ス時間になるという問題があった。また、例えば液晶カ
ラーフィルタの製造プロセスのように同一の基板に対し
ても、その所要回数の巡回処理中に、異なるフローを施
す必要のあるものもある。
ロットの基板に対するフロー情報を、基本の基板搬送手
順に対して不使用予定の処理部をオプション情報として
付加乃至は混在させた形式で形成し、これをそのまま利
用してフロー指示し得るようにすることで、フローの設
定指示の容易化、乃至は搬送手段による干渉の生じない
基板搬送効率の向上を図った基板処理装置のフロー管理
方法及びフロー管理装置を提供することを目的とする。
置のフロー管理方法は、カセットに収納された基板を順
次取り出し、この基板を複数の処理部のそれぞれとの間
で受け渡しを行いながら移動させる搬送手段と、不使用
予定の処理部をオプション情報として含む2種類以上の
基板搬送手順を記憶する記憶手段と、各基板に対し上記
基板搬送手順を指定する指定手段とを備えた基板処理装
置のフロー管理方法であって、上記搬送手段が現処理部
から基板を取り出すときに、上記指定手段で指定された
上記基板搬送手順による次処理の処理部が上記オプショ
ン情報に従って不使用となる処理部かどうかを判断する
ステップと、該次処理の処理部が不使用でないときは該
次処理の処理部に基板を搬送して受け渡しを行い、該次
処理の処理部が不使用となるときは上記搬送手段に対し
該次処理の処理部を通過させるステップとを有するもの
である。
装置のフロー管理装置は、複数の処理部と、カセットに
収納された基板を順次取り出し、この基板を上記複数の
処理部のそれぞれとの間で受け渡しを行いながら移動さ
せる搬送手段と、不使用予定の処理部をオプション情報
として含む2種類以上の基板搬送手順を記憶する記憶手
段と、各基板に対し上記基板搬送手順を指定する指定手
段と、上記搬送手段が現処理部から基板を取り出すとき
に、指定された上記基板搬送手順による次処理の処理部
がオプション情報に従って不使用となる処理部かどうか
を判断する判断手段とを備え、上記搬送手段は、上記次
処理の処理部が不使用でないときは該次処理の処理部に
基板を搬送して受け渡しを行い、該次処理の処理部が不
使用となるときは該次処理の処理部を通過するようにし
たものである。オプション情報は上記搬送手段の所定の
基板搬送手順を示す情報とは別に定められたものでもよ
く、あるいは所定の基板搬送手順を示す情報中に含まれ
るようにしたものでもよい。
理部の間を移動可能にされて、各処理部で基板の受け渡
しが行えるようになっている。搬送手段の上記動作は、
所定の基板搬送手順と、その内の、少なくとも不使用予
定の処理部を指定するオプション情報とに基づいて行わ
れる。搬送手段が指定された基板搬送手順の内のいずれ
かの処理部から基板を取り出すときに、指定された基板
搬送手順による次処理の処理部がオプション情報に従っ
て不使用となる処理部かどうかが判断されることとな
る。該次処理の処理部が不使用でないときは該次処理の
処理部に基板が搬送されて受け渡しが行われ、該次処理
の処理部が不使用となるときは該次処理の処理部と基板
の受け渡しを行うことなく通過(素通り、あるいは一旦
停止するのみで基板の受け渡しは行わない)する。
手段は、上記所定の基板搬送手順を、複数の桁の数値で
表わし、かつ、一方の桁分の数値が基本的な基板搬送手
順であるフロー情報を特定し、残りの桁分の数値がオプ
ション情報を特定するようにして記憶する第1の記憶部
と、上記基板搬送手順と一連の連続番号とを対応付けて
記憶した第2の記憶部とからなり、上記指定手段は、上
記基板搬送手順を対応する一連の連番号で指定するよう
に構成したので、指定手段での基板搬送手順の指示入力
のための操作は連続番号の入力のみで済み、入力操作が
容易となる。
搬送手順を、上記基本的な基板搬送手順であるフロー情
報と、不使用予定の処理部を示すオプション情報との組
み合わせで構成するので、それぞれの情報の認識が容易
である。
装置のフロー管理方法は、複数の処理部と、カセットに
収納された基板を順次取り出し、この基板を上記複数の
処理部のそれぞれとの間で受け渡しを行いながら移動さ
せる搬送手段と、上記搬送手段による基板搬送手順を表
すフロー情報及び該基板搬送手順において使用、不使用
予定の処理部を表すオプション情報を指定する指定手段
と、上記指定手段で指定された上記フロー情報及びオプ
ション情報を記憶する記憶手段とを備えた基板処理装置
のフロー管理方法であって、上記指定手段により指定さ
れた、先投入予定の基板に対するフロー情報と後投入予
定の基板に対するフロー情報との一致を判断するステッ
プと、上記判断手段による一致判断時には、上記先投入
予定の基板に対するフロー情報及びオプション情報から
上記後投入予定の基板の投入待機タイミングを算出し、
上記判断手段による不一致判断時には、上記先投入予定
の基板に対するフロー情報と後投入予定の基板に対する
フロー情報とから上記後投入予定の基板の投入待機タイ
ミングを算出するステップとを有するものである。
装置のフロー管理装置は、複数の処理部と、カセットに
収納された基板を順次取り出し、この基板を上記複数の
処理部のそれぞれとの間で受け渡しを行いながら移動さ
せる搬送手段と、上記搬送手段による基板搬送手順を表
すフロー情報及び該基板搬送手順において使用、不使用
予定の処理部を表すオプション情報を指定する指定手段
と、上記指定手段で指定された上記フロー情報及びオプ
ション情報を記憶する記憶手段と、上記指定手段により
指定された、先投入予定の基板に対するフロー情報と後
投入予定の基板に対するフロー情報との一致を判断する
判断手段と、上記判断手段による一致判断時に、上記先
投入予定の基板に対するフロー情報及びオプション情報
から上記後投入予定の基板の投入待機タイミングを算出
する第1の算出手段と、上記判断手段による不一致判断
時に、上記先投入予定の基板に対するフロー情報と後投
入予定の基板に対するフロー情報とから上記後投入予定
の基板の投入待機タイミングを算出する第2の算出手段
とを備えたものである。
板搬送手順を表すフロー情報及び該基板搬送手順におい
て使用、不使用予定の処理部を表すオプション情報は、
ロットの情報として、指定手段により指定され、その指
定内容は記憶手段に記憶される。上記指定手段は先投入
(先のロット)予定の基板、後投入(次のロット)予定
の基板に対して、それぞれフロー情報及びオプション情
報の指定が可能であり、この場合、指定された、先投入
予定の基板に対するフロー情報と後投入予定の基板に対
するフロー情報との一致が判断される。一致と判断され
た時は、先投入予定の基板に対するフロー情報及びオプ
ション情報から後投入予定の基板の投入待機タイミング
が算出され、搬送手段は、待機タイミングだけ投入を待
機することとなる。一方、不一致と判断された時は、先
投入予定の基板に対するフロー情報と後投入予定の基板
に対するフロー情報とから後投入予定の基板の投入待機
タイミングが算出され、搬送手段は、待機タイミングだ
け投入を待機することとなる。この待機タイミングだ
け、次のロットである後投入の基板が待機されるので、
この後投入の基板が、先のロットの先投入の基板と干渉
することがなくなる。
方法およびフロー管理装置が適用される基板処理装置の
第1実施形態を示す全体構成図を示し、(a)は平面
図、(b)は正面図、(c)は左側面図である。
基板(以下、基板という)を処理するための装置で、2
段構成を有し、下段には、図(b)において、左右方向
に左側からインデクサ(以下、INDという)11、紫
外線照射部(以下、UVという)12、基板洗浄部(以
下、SSという)13、薄膜形成部(以下、SCとい
う)14、端面洗浄部(以下、ERという)15、第1
現像部(以下、SDという)16、第2現像部(以下、
SDという)17、インターフェース(以下、IFとい
う)18及び露光部(以下、EXPという)19が配設
されている。また、上段には、SS13による処理後に
行う脱水ベーク(デハイドベーク:以下、DBという)
21、密着強化処理部(Adhesion Plate:以下、APと
いう)22、SC14による処理後に行うプリベーク
(ソフトベーク:以下、SBという)23、EXP19
による処理後に行うベーク(ポストイクスポージャーベ
ーク:以下、PEBという。)24、及びSD16,1
7による処理後に行うハードベーク(以下、HBとい
う)25が、それぞれ所要の台数ずつ配設されている。
られるとともに、それらの配列方向に沿って走行し、各
処理部に対して基板の受け渡しを行う搬送ロボット(以
下、MTRという)である。MTR31〜33は、それ
ぞれ同一構成を有してなり、分担して処理部に対する基
板の受け渡しが可能なように、左右方向にほぼ3分割さ
れたガイドレール31a,32a,33a上を往復動す
るように構成されている。なお、MTR31と32、あ
るいはMTR32と33とは、基板受け渡しの連携を確
保するべく、各ガイドレールの出会う側が、後述する中
継部IMC1,IMC2と対向する位置で重複して敷設
されている。なお、UV12の上部にはIND11とM
TR31との間での基板の受け渡しを仲介する基板載置
棚20aが、PEB24の下部には後述するCP2とE
XP19との間、及びEXP19とPEB24との間で
の基板の受け渡しを仲介する基板載置棚20bが配設さ
れている。これら基板載置棚20a,20bは少なくと
も90゜だけ回転駆動可能に構成された載置テーブル1
20a,120bを有している。
可能なコントロールルーム内には制御部1(図2参照)
が配設されており、この制御部1にはマニュアル操作に
より、後述する基板処理及びMTR31〜33による各
基板搬送動作を制御する種々の情報及び指示が入力可能
な入力操作部10(図2参照)が設けられている。
収納するカセットCから1枚ずつ基板Bを搬出して基板
載置棚20aの載置テーブル120aに載置するととも
に、一巡処理されてMTR31から基板載置棚20aに
戻ってきた基板Bを基板載置棚20aの載置テーブル1
20aからカセットCに収納する作業を行うものであ
る。このカセットCは一方面側が開放された所要段数の
載置棚を有してなり、基板Bを開放面側から水平姿勢で
各載置棚に出し入れ可能に収納するもので、カセットC
はIND11に対向する位置に設けられたカセット載置
台111に位置決め等されて1乃至は複数台分セット
(図示例では、カセットC1〜C4)されるようになっ
ており、IND11はカセットC1〜C4の載置範囲に
亘って敷設されたガイドレール11a上を往復動可能に
されている。なお、各カセットは基本的に同一の基板処
理手順が施される基板が収納されるようにしてあり、従
って、他のカセットに収納された基板Bが同一の処理手
順で処理されるものであるときは同じロットとして扱わ
れ、一方、他のカセットに収納された基板Bが異なる処
理手順で処理されるものであるときは異種のロットとし
て扱われる。
MTR31との基板受け渡しを行う給排ロボットで、そ
の先端に基板Bを載置するU字状のハンドを有する。そ
して、このハンドをカセットCに対して進退、昇降、お
よび横方向に移動するとともに、水平面で180゜旋回
させることで、カセットCの各載置棚と基板載置棚20
aとの間で基板Bの移載を可能にしている。すなわち、
カセットCからの基板Bの取り出しに際しては、IND
11を横方向に移動させて所望のカセットCの前まで移
動させ、この位置で、昇降させてハンドを出し入れ予定
の載置棚の高さに対応させ、この高さ位置で進退動作に
よって基板Bを該載置棚から取り出す。次いで、所定位
置までハンドを昇降させた後、ハンドを折り畳み、更に
180°旋回させるとともに、基板載置棚20aと対応
する位置まで横移動させ、ハンドを載置テーブル120
a上に伸ばし、かつ僅かに下降させることで載置テーブ
ル120a上に基板Bを載置する。載置テーブル120
aは基板Bが載置されると、90°だけ旋回し、MTR
31に対して基板Bの受け渡しが可能な方向に向けられ
る。カセットCへの基板Bの収納に際しては、基本的に
上記動作の逆を行わせればよい。なお、MTR31はガ
イドレール31aの左端で基板載置棚20aと対向可能
に構成され、MTR33はガイドレール33aの右端で
基板載置棚20bと対向可能に構成されている。MTR
31〜33の構成に関しては後述する。
成について説明する。UV12は、内部に基板Bの処理
面(表面)を上に向けて配置するテーブルと、その上方
に設けられ、所要光量の紫外線(UV光)を上記基板B
に照射する紫外線発光源を有してなり、基板表面の活性
化を図るものである。
で、詳細な図示は省略しているが、周囲を囲繞するフー
ド13aと下部の回転駆動機構部13bを備え、フード
13aの内側に基板を載置支持する回転テーブルを有す
る。この回転テーブルを回転駆動機構部13bにより所
定速度で回転させて上方から基板表面に供給されたリン
ス液で洗浄を行うとともに、この後、高速回転させてリ
ンス液を遠心力で周囲に吹き飛ばすようにしたもので、
これにより基板Bの処理面に付着している塵やパーティ
クルを効果的に除去する。
周囲を囲繞するフード14aと下部の回転駆動機構部1
4bを備え、フード14aの内側に基板を載置支持する
回転テーブルを有する。この回転テーブルを回転駆動機
構部14bにより所定速度で回転させて、上方から基板
表面に滴下されたレジスト液を遠心力を利用することで
基板B表面に均一な薄膜を形成させるものである。
端面に形成された不要薄膜部分の洗浄除去を行うもの
で、基板Bの4辺に対してそれぞれ設けられ、その上方
から基板端面に臨む長尺体を有し、リンス液と吐出エア
を下方斜め外側に向けて供給して、不要薄膜を溶解除去
するものである。基板Bの下方への溶解液の回り込み分
を効果的に除去するべく下方側にも同様な構成を採用し
てもよい。
C13で形成されたレジスト膜上に所定のマスクを利用
してパターンの焼き付けを行うもので、内部には、例え
ばレジスト膜へのパターン露光転写部、追加露光のため
の周辺露光部を備える。SD16,17は、いわゆるス
ピンデベロッパーで、感光処理された基板Bに対して現
像処理を施し、基板表面に所要のパターンを形成するも
のである。SD16,17は、第1実施形態では2個設
けられており、これにより基板を交互に処理するように
して他の処理部とのタクトタイムの調整を図っている
が、これらの数は2個に限定されず、タクトタイムとの
関係から所要の個数を採用可能である。現像処理された
基板BはMTR31,32によりSD16,17から搬
出され、IND11まで搬送された後、所定のカセット
Cに収納される。
との間、あるいはPEB24とEXP19との間で、基
板載置棚20bを介して基板Bの受け渡しを行うための
インターフェースで、基板Bの受け渡しを行う図略の受
け渡しロボットを有している。なお、EXP19は内部
に図略の基板移送ロボットを有しており、IF18はこ
の受け渡しロボットが前述のMTR33とEXP19内
の基板移送ロボットとの間での基板Bの受け渡しを仲介
する。また、IF18は基板Bの効率的な受け渡しを行
うべく、バッファとしての搬入用、搬出用の基板収納カ
セットを有していてもよい。このように、IF18にバ
ッファ機能を持たせることで、処理工程の前後側での各
処理時間(タクトタイム)の差を吸収したり、前工程あ
るいは次工程でのタクトの遅れに起因する、本来遅れの
無かった他工程でのタクトの遅れの発生を防いで受け渡
し効率の維持を図れる。
21、AP22、SB23、PEB24、HB25はそ
れぞれ箱体形状を有し、内部に電熱等を利用したホット
プレートを設けて、洗浄処理、レジスト膜形成処理、露
光処理及び現像処理された基板Bを加熱乾燥乃至は必要
に応じてCP1〜CP4を用いて放熱などさせるものであ
る。図1の実施形態においては、DB21はDB1,D
B2からなり、AP22はAP1,AP2,CP1からな
り、SB23はSB1〜SB3,CP2からなり、PEB
24はPEB1,PEB2,CP4からなり、HB25は
HB1〜HB3,CP3からなる。CP1〜CP4はそれぞ
れに対応するベーク処理後に、基板の熱を伝熱により吸
収するプレート、あるいは冷風乃至は送風が吹き付け可
能にされたクールプレートである。AP22は基板表面
にHMDS(ヘキサ・メチル・ジ・シラザン)による処
理、すなわちレジストの密着強化剤を塗布するものであ
る。なお、IMC1はMTR31と32との間での基板
受け渡し用の中継部、IMC2はMTR32と33との
間での基板受け渡し用の中継部である。
TR31〜33の構造及び動作について、MTR31を
例にして簡単に説明すると、MTR31はガイドレール
31aを走行する走行基部311と、この走行基部31
1に支持され上下移動と前後方向への進退動作を行うア
ーム部312とを有する、いわゆるXYZ型ロボットで
ある。アーム部312は枠体内に垂直方向に僅かに離間
して2個、すなわち各処理部に対する基板供給と基板排
出のための、独立的に進退駆動されるU字状の水平ハン
ド(図では見えていない)を有している。
成図である。本基板処理装置は、各処理部にそれぞれC
PUからなる専用の処理制御手段2〜8を設けるととも
に、制御部1を含めて光ファイバーケーブルで接続し
て、各処理部に対するデータ交信を可能にするLANを
構築している。制御部1はマスターとして機能し、入力
操作部10から入力される各種データ等を保管管理する
とともに、他の処理部で発生するデータを取込要求を行
って必要時に取り込むとともに、これらの取込データを
一括管理して各処理部に必要なデータを基板Bの受け渡
しとともに伝送する。制御部1は各処理部での基板処理
(プロセス)に必要な処理手順、処理データやMTR3
1〜33による基板搬送動作を指示するデータを保存す
るプロセステーブル及びフローテーブル用のRAMを備
えるとともに、これらを一括的にテーブル化したレシピ
テーブル用のRAMを備え、更に基板処理プログラムを
記憶する図略のRAMを有する。入力操作部10はレシ
ピの選択や必要に応じて種々のデータ等を入力可能にす
る各種のキーを備えている。
他、それぞれのフローテーブルかプロセステーブル用の
RAMを有し、本装置の起動の際に、これらテーブルの
内容を制御部1から転送されるようになっており、この
後は、基板Bの受け渡しとともに制御部1からレシピデ
ータの転送を受けるようになっている。IND11,M
TR31〜33及びIF18の処理制御手段2,7,8
はそれぞれのフローテーブルの内容により基板Bの給
排、搬送、受け渡しを実行し、他の処理制御手段3〜6
はそれぞれのプロセステーブルの内容と基板の受け渡し
ととともに転送を受けるレシピデータとによりそれぞれ
所定の基板処理を実行する。80はMTR31〜33用
のMTR制御部で、これにより、あるいは処理制御手段
8からMTR制御部80を介して、MTR31〜33に
よる各基板搬送及び受け渡し動作が個々に制御される。
このMTR制御部80は、実際には各MTR31〜33
に対応して設けられているものである。
図で、レシピNo(図3ではNo1〜No11までが表
示されている。)に応じてMTRフロー及び他の処理部
に対するプロセスNoが設定されている。例えば、レシ
ピNo1では、MTRフローは“11”である。MTR
フローは複数の桁を用いて表現され、2桁の場合では、
2桁目の数でフローNoを表し、1桁目の数でオプショ
ンNoを表すようにしている。MTRフローのフローN
oは基板搬送の基本的な搬送手順を示すものであり、オ
プションNoは基本搬送手順に対して変更を与えるため
のものである。なお、図には表されていない処理部(例
えばIND11とかDB21その他)があるが、これら
は、単に図示が省略されているだけである。
ぞれのプロセステーブル、あるいは処理制御手段2,
7,8に対するそれぞれのフローテーブルのデータマッ
プを示す図で、図3のレシピテーブルで設定されるそれ
ぞれのプロセスNoやフローNoに対応するプロセスデ
ータ、フローデータが記憶されている。各プロセスデー
タ(フローデータ)はアドレス容量500を有してい
る。なお、MTRフローのフローテーブルの場合には、
図中、括弧で示すように、例えばフローNo1〜No9
までの9種類のフローデータが記憶(準備)されてい
る。
ーデータ内のデータマップを示す図で、本実施形態で
は、10個分のフロー情報と、32個分のステップデー
タが記憶されている。ここで、レシピ情報はMTRフロ
ーを決定し、MTRフローのオプションデータから使
用、不使用の処理部が決まり、そして、この図5のフロ
ーデータによって、不使用となる処理部のステップ位置
が決まるようになっている。なお、オプションNoと使
用、不使用の処理部との関係は予め定義されており、例
えば、不使用となる可能性のある処理部として、UV1
2とPEB24とが挙げられるが、オプションNo1で
はUV12とPEB24共に使用、オプションNo2で
はUV12使用でPEB24不使用、オプションNo3
ではUV12不使用でPEB24使用、オプションNo
4でUV12とPEB24共に不使用を示すように定義
している。
テップ1〜32は、それぞれ10個のパラメータで設定
可能にされ、このパラメータはポジションNoコードで
定義される。ポジションNoコードとは、本基板処理装
置における各処理部を特定するためのコードで、配設さ
れる全ての処理部に対して、基本的に上流側から下流に
向けて付されている番号である。なお、本実施形態で
は、このポジションNoコードを利用して並列処理の処
理部を通番で表すようにもしている。例えば、DB2
1、SB23、PEB24、HB25とかSD16,1
7などのように表わす。また、並列処理(例えば処理す
べき基板がSD16とSD17とに交互に供給され
る。)を行う場合には、仮りにSD16,17がポジシ
ョンNoコードとして“10”であるとすると、SD1
6が“10−1”のように、SD17が“10−2”の
ように表される。また、ステップ数は32個に限定され
るものではなく、それ以上でもよい。このように、各レ
シピ1〜256(図3では、1〜11まで)のそれぞれ
に対応するフローデータが、実際にはステップ1〜32
によって具体的に設定される。
部80は、内部に、ポジションNoコードに対応して各
処理部のMTR移動制御のための位置データ(基準位置
に対する、あるいは相対位置関係による)を記憶する例
えばテーブルを備えている。そして、MTR31〜33
は、このステップの順番にポジションNoコードを読み
取り、読み取ったポジションNoコードに対応する上記
位置データを上記テーブルから読み出し、この位置デー
タに基づいて移動して、基板Bの受け渡しを行うように
している。すなわち、MTR制御部80はそれぞれのガ
イドレール31a〜33aの基準位置などに対する各処
理部の配置位置を、MTR31〜33の各駆動モータへ
の駆動パルス数などの位置データによって位置管理及び
駆動制御を行うようにしている。
含まれており、フロー情報には位相差分1、2のデータ
が含まれている。位相差分データ1,2とは、隣同士の
MTR31とMTR32とが、また、MTR32とMT
R33とが互いに干渉することのないように設定された
各位置制御の位相関係を示すものである。MTRフロー
の1桁目は上記ステップ1〜32の基本的な基板処理手
順に対して変更を与えるためのもので、図3に示すUV
12とPEB24とが不使用となる場合があることを示
している。すなわち、図5のフロー情報におけるステッ
プ1〜32には、不使用となる可能性のある処理部が予
め割付けられている(このフローデータではPEB24
のステップ位置である)。
o2に着目すると、MTRフローが“12”であるの
で、オプションNoは“2”となる。この場合、先に定
義したとおり、UV12はそのまま使用され、かつPE
B24は不使用ということとなり、図5のフロー情報の
アドレス2からPEB24のステップ位置が読み取られ
る。このように、不使用の可能性がある処理部に関する
使用、不使用の組合せをオプションNoと対応させて予
め定義しておき、レシピNoで指定されたオプションN
oから使用、不使用の処理部が判るようにし、かつ、図
5のフロー情報のステップ値を検索して求めることによ
り処理部の位置を確認し得るようにしている。
受け渡し動作について説明する。カセット載置台111
にカセットCが載置され、このカセットCに収納されて
いる基板に対する処理方法が入力操作部10からレシピ
Noとして入力される。
に、レシピNo2が指定されたとすると、制御部1は、
本装置の起動に際して、図3に示すフローテーブルの内
容、プロセステーブルの内容をそれぞれ対応する処理制
御手段2〜8に転送する。この後、MTR用の処理制御
手段8には受け渡しされる基板に対応するレシピNo
“2”(あるいは対応するMTRフローの情報としての
“12”でもよい。)が転送され、他の処理制御手段2
〜7にもそれぞれ受け渡しされる基板に対応するデータ
(この場合、図3に示すように、全て“2”)が転送さ
れることとなる。処理制御手段3〜6は、それぞれ専用
のプロセステーブル(図4)から、転送されたレシピN
oなどに対応する内容を読み取り、この読み取ったプロ
セスデータに基づいて基板処理を実行する。また、処理
制御手段2,7,8はそれぞれ専用のフローテーブル
(図4)から、転送されたレシピNoなどに対応する内
容を読み取り、この読み取ったフローデータに基づいて
基板Bの給排、搬送及び受け渡しを実行する。
“12”であるとすると、図4のフローテーブルからフ
ローNo1のデータ内容(ステップ1〜ステップ32の
内容)を図5のフローデータテーブルから読み込む。こ
の結果、MTR31〜33は、取り込まれたステップの
ポジションNoコードの順に移動制御される。すなわち
処理制御手段8は、ステップ番号に従って、該当ポジシ
ョンNoコードをMTR制御部80に出力し、MTR3
1,32,33の内の当該ポジションを担当するMTR
に基板搬送及び基板受け渡しのための駆動信号を出力す
る。
TR制御部80)はオプションデータに対する監視も常
に行っており、次処理となる処理部がオプションデータ
として規定されているかどうかを判断し、オプションデ
ータとして規定されていれば、それが不使用であるもの
かどうかを判断し、不使用の処理部であるときは、MT
R31(あるいはMTR32,33)に対して、この処
理部を通過し、あるいは一旦停止し、その位置では基板
の受け渡しを行うことなく、更に次の処理部に移行する
ようMTR制御部80に指示を与える。この結果、MT
R31(あるいはMTR32,33)は不使用の処理部
に対して基板Bの受け渡しを行うことなく通過する。一
方、使用するべき処理部であるときは、当該処理部のポ
ジション位置で停止し、かつ、基板Bの受け渡しを行
う。この例(MTRフロー“12”)では、UV12は
使用するので、MTR31はUV12のポジションで停
止して基板の受け渡しを行い、一方、PEB24は不使
用なので、MTR31はPEB24のポジションを通過
する。このようにフローデータ及びプロセスデータを一
括的にテーブル管理するレシピテーブルを用いること
で、入力操作部10から入力操作はレシピNoを入力す
るだけで済むので、入力操作が容易となる。
御部80)はPEB24が不使用のときは、CP4も合
わせて不使用となるようにプログラムされている。ま
た、フローテーブルのステップにUV12(PEB2
4)が無い場合であって、オプションデータ中にUV1
2(PEB24)が使用予定になっている場合には、制
御部1によって、あるいは処理制御手段8でオプション
データ中の該当するデータを無視することにしている。
また、処理制御手段8(あるいはMTR制御部80)が
オプションデータに対する監視を常に行っている態様に
代えて、上記例の場合、次の処理部がUV12かPEB
24であるかを判断し、次の処理部がこれらの処理部で
ある場合にのみ、オプションデータから当該処理部が使
用か不使用かを判断するようにしてもよい。
びフロー管理装置が適用される基板処理装置の第2実施
形態を示す斜視図である。
下、基板という)を処理するための装置で、左右両側に
所要の距離を置いてIND211と、IF231及びE
XP232とが配設されるとともに、その間は、後述の
センターロボット250が左右方向に走行移動するスペ
ースを有して、前列と後列の2列に分かれて各処理部は
配設されている。前列にはUV221〜SC225が、
後列にはベーク241〜SD244が配列されている。
前列と後列との間の所要のスペースには、その中を基板
搬送用のセンターロボット250が左右方向に走行移動
可能に設けられている。また、IND211に隣接して
制御部212が配設されており、この制御部212には
マニュアル操作により後述するオプション情報を含むロ
ボットフロー(第2実施形態では、フロー情報としての
フロー番号と、オプション情報してのオプション番号と
を含む意味で使用している。)が入力可能な入力操作部
213が設けられている。なお、制御部212及び入力
操作部213を監視可能なコントロールルーム内に設け
て、通信用ケーブルで基板処理装置側と接続した構成で
もよい。
基板Bを搬出し、センターロボット250に手渡すとと
もに、一巡処理されて戻ってきた基板Bをセンターロボ
ット250からカセットCに収納する作業を行うもので
ある。カセットCは半導体ウエハ基板専用のもので、一
方面側が開放された所要段数の載置棚を有してなり、基
板Bを開放面側から水平姿勢で各載置棚に出し入れ可能
に収納するもので、カセットCは所定位置に設けられた
カセット載置台に位置決めなどされてセットされるよう
になっている。なお、各カセットCは、基本的に同一の
基板処理手順(フロー)が施される基板が収納されるよ
うにしてあり、従って、他のカセットCに収納された基
板Bが同一のフローで処理されるものであるときは同じ
ロットとして扱われ、一方、他のカセットCに収納され
た基板Bが異なるフローで処理されるものであるときは
異種のロットとして扱われる。
カセットCが前後方向に複数個(図6では4個)配列し
てセット可能な構成を有するとともに、センターロボッ
ト250と基板Bの受け渡しを行う給排ロボット211
aが各カセットCの開放面と対向するように備えられて
いる。この給排ロボット211aは前後方向に往復動可
能で、かつ上端のハンド部211bに進退、昇降及び旋
回の各動作を可能にする構成を備えている。このように
種々の動作を給排ロボット211aに行わせることで、
カセットCの各載置棚とセンターロボット250のアー
ム251との間で基板Bの授受を可能にしている。すな
わち、カセットCからの基板Bの取り出しに際しては、
給排ロボット211aを前後方向に往復動させて所望の
カセットCの前まで移動させ、この位置で、昇降させて
ハンド部211bを出し入れ予定の載置棚の高さに対応
させ、次いで進退動作によって基板Bを該載置棚から取
り出す。この後、ハンド部211bを折り畳み、更に1
80°だけ旋回させてセンターロボット250の方向を
向かせ、かつその対向位置まで移動させた後、ハンド2
11bを伸ばしてアーム251に手渡すようにする。カ
セットCへの基板Bの収納に際しては、基本的に上記動
作の逆を行わせればよい。なお、センターロボット25
0と給排ロボット211aとの間に第1実施形態と同様
な基板載置棚を設けてもよい。
構成について説明する。UV221は、第1実施形態の
UV12と同様、内部に基板Bの処理面(表面)を上に
向けて配置するテーブルと、その上方に設けられ、所要
光量の紫外線を上記基板Bに照射する紫外線発光源を有
してなり、基板表面の活性化を図るものである。
同様、周囲がフードで囲繞されてなり、その内側に基板
を載置する回転テーブル2221と、テーブル2221
上に基板を吸着する吸引手段2222とを備えるととも
に、その上方には径方向に揺動可能なリンス液吐出ノズ
ルが、あるいは径方向にスリット状のリンス液吐出ノズ
ル(共に図略)が、給排時の基板に対して退避可能に配
設された基本構成を有する。基板洗浄処理は、回転テー
ブル2221上に吸着載置された基板Bを、この回転テ
ーブル2221を所定速度で回転させて表面のリンス洗
浄を行うとともに、この後、高速回転させてリンス液を
遠心力で周囲に吹き飛ばすようにしたもので、これによ
り基板Bの処理面に付着している塵やパーティクルを効
果的に除去する。
電熱等を利用したホットプレートが、下段には基板の熱
を伝熱により吸収するプレート、あるいは冷風乃至は送
風が吹き付け可能にされたクールプレートが設けられて
いる(図略)。このベーク223は洗浄された基板Bを
加熱して乾燥させるとともに、室温まで放熱させるため
のものである。また、AP224は、第1実施形態のA
P22と同様、基板表面にHMDS(ヘキサ・メチル・
ジ・シラザン)による処理、すなわちレジストの密着強
化剤を塗布するものである。
同様、周囲がフードで囲繞されてなり、その内側に基板
を載置する回転テーブル2251と、テーブル2251
上に基板を吸着する吸引手段2252とを備えるととも
に、その回転中心上にはレジスト液等の薬液滴下部(図
略)が給排時の基板に対して退避可能に配設された基本
構成を有する。薄膜形成処理は、回転テーブル2251
上に吸着載置された基板Bを、この回転テーブル225
1を所定速度で回転させて遠心力を利用することで、滴
下したレジスト液を基板B表面に均一な薄膜状に形成す
るものである。
同様、SC225とEXP232との間で、及びEXP
232とベーク241との間で、基板Bの受け渡しを行
うためのもので、基板Bの受け渡しを行う受け渡しロボ
ット2310(図略)を有している。なお、EXP23
2は内部に図略の基板移送ロボットを有しており、IF
231はこの受け渡しロボット2310が前述のセンタ
ーロボット250とEXP232内の基板移送ロボット
との間での基板Bを受け渡しを仲介する。また、IF2
31は、図には表われていないが、基板Bの効率的な受
け渡しを行うべく、バッファとしての搬入用、搬出用の
基板収納カセットを有していてもよい。このように、I
F231にバッファ機能を持たせることで、処理工程の
前後側での各処理時間(タクトタイム)の差を吸収した
り、前工程あるいは次工程でのタクトの遅れに起因す
る、本来遅れのなかった他工程でのタクトの遅れの発生
を防いで受け渡し効率の維持を図れる。
9と同様、SC225で形成されたレジスト膜上に所定
のマスクを利用してパターンの焼き付けを行うもので、
内部には、例えばレジスト膜へのパターン露光転写部、
追加露光のためのエッジEXPや文字焼き付け部のため
の各処理部を備える。
241,242は前述のベーク223と基本的に同一の
構造を有するもので、所要数ホットプレート及びクール
プレートを備えている。また、SD243,244は、
第1実施形態のSD16,17と同様、感光処理された
基板Bに対して現像処理を施し、基板表面に所要のパタ
ーンを形成するものである。これらベーク241,24
2及びSD243,244は、第2実施形態では2個ず
つ設けられており、これにより基板を交互に処理するよ
うにして他の処理部とのタクトタイムの調整を図ってい
るが、これらの数は2個に限定されず、タクトタイムと
の関係から所要の個数を採用可能である。
250によりSD243,244から搬出され、IND
211まで搬送された後、給排ロボット211aのハン
ド部211bを介してカセットCに収納される。
び動作について簡単に説明する。センターロボット25
0は、本基板処理装置の前列と後列との間のスペース内
に敷設された左右方向のガイドレール(図略)上を、I
ND211とIF231間の各処理部に対向するように
往復動可能に設けられている。センターロボット250
は上端部のアーム251がリンク構造等を利用して進退
可能に構成されていると共に、このハンド部251を旋
回及び昇降可能にされた、いわゆるRθZロボットであ
る。また、このセンターロボット250はアーム251
が上下方向に僅かに離間して2個、すなわち供給用と排
出用とを有してなり、少なくとも進退動作はそれぞれ独
立して駆動可能に構成されている。
管理装置部分の制御ブロック構成図である。制御部(以
下、CPUという)212は本基板処理装置の動作を全
体的に統括制御するもので、各処理部の動作、タクト管
理等に関する基板処理プログラムが記憶されたプログラ
ムROM214、フロー番号を不使用・使用の処理部と
対象させて記憶するフローテーブルROM215及び処
理内容を一時的に保存するRAM216に接続されてい
る。入力操作部213はフローの選択や必要に応じて種
々のデータ等を入力可能にする各種のキーを備えてい
る。CPU212は入力操作部213から入力されたオ
プション情報を含むフロー情報により指定されるフロー
テーブルROM215の内容とプログラムROM214
のプログラムに基づいて、センターロボット250によ
る基板搬送、IND211及びIF225による基板給
排動作を制御する。
aと待機判断部212bとを有する。判断部212aは
入力操作部213で選択指定されたロボットフローのフ
ロー情報とオプション情報とに従って、各処理部との基
板受け渡しの可否を判断するものである。なお、前記第
1実施形態の制御部1も、この第2実施形態と同様に、
入力操作部10で選択指定されたレシピ情報に基づくオ
プション情報、すなわち図5のデータテーブルの内容に
従って、各処理部との基板受け渡しの可否を判断し得る
ようにされている。また、CPU212は待機判断部2
12bに先投入された基板に施されるロボットフロー
と、後投入される基板に施されるロボットフローとにお
いて、両ロボットフロー間における処理部の数の差か
ら、後述するように先投入の最終の基板と後投入の最初
の基板との干渉を防止するべく、後投入の最初に搬入さ
れる基板の待機の有無とその時間とを判断するものであ
り、同様に、第1実施形態の装置もレシピ情報に基づい
て先投入の最終の基板と後投入の最初の基板との干渉防
止制御を行うようにしている。
ータマップの第1実施形態を示す図である。なお、図8
に示すテーブルでは、不使用の処理部としてUV221
とAP224とを挙げているが、これら以外、例えばベ
ーク241,242を不使用の処理部として付加しても
よく、また、これらに代えて他の処理部を不使用の処理
部として扱うようにしてもよい。
1”,“12”,“13”,“14”のように、番号を
用いて設定されている。このロボットフローの、2桁目
の数字“1”はある特定された処理手順を基本とするフ
ロー情報を表すフロー番号である。なお、図には示して
いないが、このテーブルに、他の処理手順を基本とする
フロー番号として、更に、2桁目の数字“2”、2桁目
の数字“3”、……を設定してもよい。一方、ロボット
フロー中の、1桁目の数字“1”,“2”,“3”,
“4”はオプション情報を表すオプション番号であっ
て、それぞれUV221とAP224の使用、不使用の
関係を規定するためのものある。すなわち、ロボットフ
ロー“11”はUV221及びAP224共に使用を意
味し、“12”はUV221の使用、AP224の不使
用を意味し、“13”はUV221の不使用、AP22
4の使用を意味し、“14”はUV221及びAP22
4共に不使用を意味する。
ボットフローが選択指定された場合の基板処理動作を示
すフローチャートである。なお、CPU212はロボッ
トフローの2桁目の数字、すなわちフロー番号に応じた
基本処理手順でIND211、センターロボット250
の搬送動作制御及びタクト管理を行う。
ロボット250がIND211から基板Bを受け取るこ
とで本フローが開始され、先ず、入力操作部213より
入力された操作指示内容に対応するフロー情報がフロー
テーブルROM215からCPU212に読み取られる
(ステップS1)。具体的には、基本の基板処理手順
(フロー番号)とオプション番号に対応する内容であ
る。このロボットフローの読み取りによって、基板Bに
対するセンターロボット250の移動手順が特定され
る。
行われる。先ず、CPU212は特定されたセンターロ
ボット250の移動手順から、次に移動すべき処理部を
決定する(ステップS3)。そして、この処理部がオプ
ション番号により指定されたものどうかが判断され(ス
テップS5)、オプション番号で指定されたものでなけ
れば、フロー番号で指定されたものであるので、ステッ
プS9に進む。一方、オプション番号により指定された
ものであれば、次に、その処理部がオプション番号で使
用として指定され、あるいは不使用として指定されたも
のかどうかが判断される(ステップS7)。使用として
指定されているのであれば、ステップS9に進む。ステ
ップS9では、センターロボット250が次の処理部と
対向する位置まで移動され、この位置で、アーム251
により当該処理部との間で基板Bの受け渡しが行われる
(ステップS11)。基板Bの受け渡しが終了すると、
この処理部が最終のものかどうかが判断され(ステップ
S13)、最終の処理部でなければ、ステップS3に戻
って、次に移動すべき処理部が決定され、同様にステッ
プS5以降の処理を繰り返す。一方、最終の処理部であ
れば、センターロボット250はIND211の位置に
移動し、最終的に搭載している基板BをIND211に
戻して(ステップS15)、本フローチャートを終了す
る。
ション番号により不使用として指定されているのであれ
ば、この処理部が最終のものかどうかが判断された後、
(最終の処理部でなければ)ステップS3に戻って、次
に移動すべき処理部が決定され、同様にステップS5以
降の処理を繰り返す。なお、センターロボット250
は、ステップS7で次の処理部が不使用として指定され
ていると判断された時、あるいは不使用が連続している
間は、移動動作を行わず、次に、処理する処理部が有っ
た(ステップS5でNO、又はステップS7で“使
用”)ときに、初めて当該処理部に向かって、すなわち
その間の不使用の処理部を通過して移動を行う(ステッ
プS9)。
号“14”(すなわちUV21及びAP24共に不使
用)が入力された場合を例に基板処理動作を具体的に説
明する。なお、CPU212はロボットフローの2桁目
の数字(フロー番号)“1”に応じた基本処理手順でI
ND211、センターロボット250の動作制御及びタ
クト管理を行う。
定のカセットC、すなわちフロー番号“14”に対応す
る処理手順で処理予定のカセットCから基板Bを抜き取
って、センターロボット250との受け渡し位置に搬送
する。センターロボット250はこの基板Bを供給用の
アーム251で受け取ると、フロー番号から次に移動す
べき処理部を決定する。すなわち、センターロボット2
50はロボットフローの2桁目の数字(フロー番号)
“1”に応じた基本処理手順に沿った移動において、次
処理部へ向けて移動する前にロボットフローの1桁目の
数字(オプション番号)により使用・不使用を判断し、
不使用であれば素通りし、使用であれば、その処理部の
対向位置で停止して、この処理部との間で基板Bの受け
渡しを行うようにしている。
ット250は、このとき不使用として指定されたUV2
21へ向けて移動を開始せず、さらにその次のSS22
2が処理すべき処理部なので(すなわちステップS5で
NO)、センターロボット250はSS222に向けて
移動を開始し、UV221の前を素通りしてSS222
に対向する位置まで進んで停止する。次いで、この位置
で旋回し、排出用のアームを伸ばしてSS222の回転
テーブル2221上にセットされている基板Bを受け取
り、更に、供給用のアーム251を伸ばして、搬送して
きた基板Bを回転テーブル2221上に載置する。基板
Bの受け渡しが終了すると、次のベーク223は処理す
べき処理部なので、センターロボット250は次のベー
ク223に向かって進み、対向する位置で停止して、同
様に基板Bの受け渡しを行う。ベーク223で基板の受
け渡しが終了すると、センターロボット250は、次の
処理部が不使用として指定されたAP224であるので
AP224に向けての移動を開始せず、さらにその次の
SC225(すなわちAP224が不使用のときはこの
AP224の処理と一体処理としてのクールプレートC
Pも同様に不使用となるようにしている。)が処理すべ
き処理部なので、センターロボット250はSC225
に向けて移動を開始し、AP224の前を素通りしてS
C225に対向する位置まで進んで停止し、ここで基板
Bの受け渡しを行う。基板Bの受け渡しが終了すると、
次のIF231(IF231を処理部として扱う場合で
ある。但し、IF231を処理部として扱わないとき
は、次の処理部はEXP232となる。)は処理すべき
処理部なので、センターロボット250はIF231に
向けて移動する。
るいは一旦バッファ用のカセットに収納した後、所要の
時間間隔で抜き出してEXP232へ受け渡しを行い、
露光処理に供する。露光処理が施された基板BはIF2
31を介してセンターロボット250に手渡される。す
ると、センターロボット250はCPU212からの次
に移動すべき処理部を決定し、これに基づいて処理すべ
き、あるいは使用・不使用指定された処理部かどうかを
順次判断しながら、ベーク241(ベーク242)、S
D243(SD244)との間で基板Bの受け渡しを行
い、最後にIND211に渡す。IND211は受け取
った基板Bを元のカセットCに収納する。以上のように
して、ロボットフロー“14”に対応するカセットC内
の基板Bに対して、当該ロボットフローに沿った基板処
理が施される。
1の基板搬出動作を説明するフローチャートである。
ー(フロー番号及びオプション番号)に従った基板処理
を実行している間は、カセットCから順次所定の間隔で
基板Bがセンターロボット250に渡される。しかし、
先投入の基板に対するフローを一時的に中断し、他のカ
セットCに収納された基板を優先させて、異なるロボッ
トフローで基板処理を開始させる場合、ロボットフロー
の内容如何によっては、後投入における基板Bの搬入が
そのまま行えない場合がある。同様に、先投入のカセッ
トCの最後の基板BがIND211から搬出された直後
に、異なるロボットフローによる基板を収納した後投入
のカセット内の基板Bを同じような間隔で搬出できない
場合がある。すなわち、例えば、先投入の基板に対する
フローが全ての処理部を使用する場合で、後投入の基板
に対するフローがその内の1または2以上の処理部を不
使用とする場合には、後投入の方の処理部の数が少ない
から、先投入の最後の基板Bの搬入後、連続して後投入
の基板Bを搬入してしまうと、先投入の最後の基板が給
送される処理部と、後投入の先頭の基板が給送される処
理部とが時間的に重複、すなわち両者間に干渉を生じる
こととなるが、逆の場合には、後投入の方の処理部の数
が多いから、そのまま続けて後投入の基板Bの搬入が可
能である。同様に、処理順序が前後に入れ替わるような
場合など、センターロボット250の移動順序自体が異
なる場合、即ちフロー番号が異なる場合には、先投入と
後投入の基板に対する処理部の数の大小に関わりなく同
様な問題が生じる。また、かかる干渉の問題はIF23
1においても発生する。
ブル中のフロー番号およびオプション番号の変化を監視
して、基板Bの搬入を行うようにしている。図10にお
いて、IND211を例に説明すると、CPU212は
IND211から装置に搬入される基板Bの(すなわち
当該基板Bを収納したカセットCに対して設定入力され
た)フロー番号及びオプション番号を読み取る(ステッ
プS21)。そして、この後投入の基板のフロー番号と
先投入の基板に対して指定されているフロー番号との一
致の有無を判断する(ステップS23)。一致しておれ
ば、後投入の基板のオプション番号と先投入の基板に対
して指定されているオプション番号との一致の有無を判
断する(ステップS25)。
数が増加する場合には、干渉は生じないので、待機する
ことなく、引き続いてIND211により基板Bの搬入
を行う(ステップS29)。一方、処理部の数が減少す
る場合には、干渉が発生することとなるので、両者のフ
ロー番号及びオプション番号等から得られる、減少する
処理部の数だけ基板搬入を待機させ、搬入タイミングの
調整を行わせて(ステップS27)、IND211によ
り基板Bの搬入を行う(ステップS29)。このよう
に、減少する処理部の数だけ基板搬入のタイミングを調
整することで、後投入の最初の基板Bが先投入の最後の
基板Bに追いつくことがなく、干渉が生じない。また、
ステップS23で、後投入の基板のフロー番号と先投入
の基板に対して指定されているフロー番号とが不一致で
あるときは、前投入した基板が全て処理し終わるまで待
機する(ステップS31)。そして、次の基板があれば
(ステップS33でNO)、ステップS21に戻り、逆
に、次の基板がなければ終了する。
242やSD243,244のように並列処理部を有す
る場合には、並列処理部のいずれ側で干渉が生じるか判
らないため、待機時間の設定に、並列数が最大である処
理部に対して、付加された並列数(換言すれば並列数か
ら−1を減算した値。本実施形態では、“1”)も加算
する必要があり、これにより例えばベーク241、ある
いはベーク242のいずれ側に対しても干渉が生じると
いう不具合を確実に回避できる。
データマップの第2実施形態を示す図である。このフロ
ーテーブルはフロー番号と特定の処理部の使用・不使用
とを対応して設定したものである。すなわち、本基板処
理装置内のある処理部A,Bに対し、フロー番号“1”
は処理部Aを使用かつ処理部Bを使用、フロー番号
“2”は処理部Aを不使用で処理部Bを使用、フロー番
号“3”は処理部Aを使用で処理部Bを不使用のように
対応させたものである。このようにフロー番号自体にオ
プション番号の意味を持たせることでオプション情報の
認識を容易にしている。
データマップの第3実施形態を示す図である。このフロ
ーテーブルは、例えば数値10毎のフロー番号を特定の
処理部の使用・不使用に割り当てるようにしたものであ
る。すなわち、本基板処理装置の処理部A,Bに対し
て、フロー番号“1”〜“10”は処理部Aを使用、フ
ロー番号“11”〜“20”は処理部Aを不使用、フロ
ー番号“21”〜“30”は処理部Bを使用、フロー番
号“31”〜“40”は処理部Bを不使用、フロー番号
“41”〜“50”は処理部Aを使用で処理部Bを使
用、フロー番号“51”〜“60”は処理部Aを使用で
処理部Bを不使用、フロー番号“61”〜“70”は処
理部Aを不使用で処理部Bを使用、フロー番号“71”
〜“80”は処理部Aを不使用で処理部Bも不使用を割
り当てたもので、更に、処理部C,D,…に対しても同
様に他のフロー番号を割り当てるようにしてもよい。こ
のように、同一のフロー処理に対して所要の数値範囲を
割り当てるようにすることで、同じフロー処理を施す複
数のカセットがある場合等、必要に応じて異なるフロー
番号を利用して併せてカセットの順番を設定することも
できるという利点がある。なお、元の基本処理手順は、
処理部A,B,…を含めて設定してもよいし、含めなく
てもよい。このように、ある数値範囲毎にオプション情
報を含めたフロー番号を設定することで、同一の処理を
施す基板に対して異なるフロー番号を付与することがで
きるので、例えば同一ロットとなる複数のカセットに対
して、当該数値範囲内で連番を付すことができ、ロット
管理が容易となる等の利点ある。
データマップの第4実施形態を示す図である。このフロ
ーテーブルはフロー番号とレシピ番号とを組合せたもの
を特定の処理部の使用・不使用と対応して設定したもの
である。すなわち、本基板処理装置のある処理部A,B
に対し、組合せ番号“1−1”は処理部Aを使用、組合
せ番号“1−2”は処理部Aを不使用、組合せ番号“1
−3”は処理部Bを使用、組合せ番号“2−1”は処理
部Bを不使用、のように対応させたものである。更に、
処理部C,D,…に対しても同様に他の組合せ番号を対
応して設定してもよい。このようにすれば、フロー情報
とレシピ情報とを利用するだけでオプション情報を表す
ことが可能になる。
る。
オプション情報を番号(数字)を用いて表現したが、こ
れに限定されず、文字、記号またはマーク等、種々の符
号を用いて表現してもよく、あるいは“A−1”の如
く、それれらを混在させたものでもよい。
次、長尺物の端を回動可能に同軸状に連結した多段アー
ムの各軸にローラを設けるとともに、アーム両端間のロ
ーラにタイミングベルトを張架して屈伸可能に構成し、
基板を載置する先端のハンドが進退方向を向いたままア
ームが進退可能な公知の多関節型のロボット構造を採用
してもよい。また、MTRは処理部との基板の受け渡し
用として2本のアームを有する構成であったが、これに
代えて1本のアームと基板1枚だけ収納可能なバッファ
を有した構成であってもよい。
制御するようにしてもよい。
ップS13からステップS1に戻るようにし、その都
度、フロー情報を取得するようにしてもよい。あるいは
図9においてステップS11で基板の受け渡しを行った
場合にのみ、ステップS1に戻るようにして、実際にセ
ンターロボット250が移動したときのみ、次に移動す
べき処理部を決定するようにしてもよい。
処理部に一時的に停止させ、基板の受け渡し動作のみ禁
止することで、使用の処理部と不使用の処理部とに対す
るMTRの移動制御を共通化させることができる。
よれば、不使用予定の処理部をオプション情報として含
む2種類以上の基板搬送手順を記憶しておいて、搬送手
段が現処理部から基板を取り出すときに、指定された基
板搬送手順による次処理の処理部がオプション情報に従
って不使用となる処理部かどうかを判断し、該次処理の
処理部が不使用でないときは該次処理の処理部に基板を
搬送して受け渡しを行い、該次処理の処理部が不使用と
なるときは該次処理の処理部を通過するようにしたの
で、搬送手段に対する種々の基板搬送手順の指定操作が
容易となる。また、簡単な指定操作でありながら、搬送
手段を確実に動作制御させることができる。更に、異な
るロットの基板を同時に処理させる場合でも、特定の処
理部の使用不使用に応じた指示操作を容易に行うことが
できる。
記憶手段は、上記所定の基板搬送手順を、複数の桁の数
値で表わし、かつ、一方の桁分の数値が基本的な基板搬
送手順であるフロー情報を特定し、残りの桁分の数値が
オプション情報を特定するようにして記憶する第1の記
憶部と、上記基板搬送手順と一連の連続番号とを対応付
けて記憶した第2の記憶部とからなり、上記指定手段
は、上記基板搬送手順を対応する一連の連番号で指定す
るように構成したので、指定手段での基板搬送手順の指
示入力のための操作が連続番号の入力のみで済むため、
入力操作を容易にすることができる。
基板搬送手順を、上記基本的な基板搬送手順であるフロ
ー情報と、不使用予定の処理部を示すオプション情報と
の組み合わせで構成したので、それぞれの情報の認識を
容易にすることができる。
先投入予定の基板に対するフロー情報と後投入予定の基
板に対するフロー情報との一致判断を行い、一致判断時
には、先投入予定の基板に対するフロー情報及びオプシ
ョン情報から後投入予定の基板の投入待機タイミングを
算出し、不一致判断時には、先投入予定の基板に対する
フロー情報と後投入予定の基板に対するフロー情報とか
ら後投入予定の基板の投入待機タイミングを算出するよ
うにしたので、異なるロットにおける基板の連続投入
を、後投入の基板が、異なるロットの先投入の基板と干
渉することなく、行わせることができる。
装置が適用される基板処理装置の第1実施形態を示す全
体構成図を示し、(a)は平面図、(b)は正面図、
(c)は左側面図である。
である。
テーブル、あるいはフローテーブルのデータマップを示
す図である。
データマップを示す図である。
よびフロー管理装置が適用される基板処理装置の斜視図
である。
の制御ブロック構成図である。
施形態を示す図である。
チャートである。
を説明するフローチャートである。
実施形態を示す図である。
実施形態を示す図である。
実施形態を示す図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 カセットに収納された基板を順次取り出
し、この基板を複数の処理部のそれぞれとの間で受け渡
しを行いながら移動させる搬送手段と、不使用予定の処
理部をオプション情報として含む2種類以上の基板搬送
手順を記憶する記憶手段と、各基板に対し上記基板搬送
手順を指定する指定手段とを備えた基板処理装置のフロ
ー管理方法であって、上記搬送手段が現処理部から基板
を取り出すときに、上記指定手段で指定された上記基板
搬送手順による次処理の処理部が上記オプション情報に
従って不使用となる処理部かどうかを判断するステップ
と、該次処理の処理部が不使用でないときは該次処理の
処理部に基板を搬送して受け渡しを行い、該次処理の処
理部が不使用となるときは上記搬送手段に対し該次処理
の処理部を通過させるステップとを有することを特徴と
する基板処理装置のフロー管理方法。 - 【請求項2】 複数の処理部と、カセットに収納された
基板を順次取り出し、この基板を上記複数の処理部のそ
れぞれとの間で受け渡しを行いながら移動させる搬送手
段と、不使用予定の処理部をオプション情報として含む
2種類以上の基板搬送手順を記憶する記憶手段と、各基
板に対し上記基板搬送手順を指定する指定手段と、上記
搬送手段が現処理部から基板を取り出すときに、指定さ
れた上記基板搬送手順による次処理の処理部がオプショ
ン情報に従って不使用となる処理部かどうかを判断する
判断手段とを備え、上記搬送手段は、上記次処理の処理
部が不使用でないときは該次処理の処理部に基板を搬送
して受け渡しを行い、該次処理の処理部が不使用となる
ときは該次処理の処理部を通過するようにしたことを特
徴とする基板処理装置のフロー管理装置。 - 【請求項3】 上記記憶手段は、上記所定の基板搬送手
順を、複数の桁の数値で表わし、かつ、一方の桁分の数
値が基本的な基板搬送手順であるフロー情報を特定し、
残りの桁分の数値がオプション情報を特定するようにし
て記憶する第1の記憶部と、上記基板搬送手順と一連の
連続番号とを対応付けて記憶した第2の記憶部とからな
り、上記指定手段は、上記基板搬送手順を対応する一連
の連番号で指定するようになされていることを特徴とす
る請求項2記載の基板処理装置のフロー管理装置。 - 【請求項4】 上記基板搬送手順は、上記基本的な基板
搬送手順であるフロー情報と、不使用予定の処理部を示
すオプション情報との組み合わせで構成されていること
を特徴とする請求項2記載の基板処理装置のフロー管理
装置。 - 【請求項5】 複数の処理部と、カセットに収納された
基板を順次取り出し、この基板を上記複数の処理部のそ
れぞれとの間で受け渡しを行いながら移動させる搬送手
段と、上記搬送手段による基板搬送手順を表すフロー情
報及び該基板搬送手順において使用、不使用予定の処理
部を表すオプション情報を指定する指定手段と、上記指
定手段で指定された上記フロー情報及びオプション情報
を記憶する記憶手段とを備えた基板処理装置のフロー管
理方法であって、上記指定手段により指定された、先投
入予定の基板に対するフロー情報と後投入予定の基板に
対するフロー情報との一致を判断するステップと、上記
判断手段による一致判断時には、上記先投入予定の基板
に対するフロー情報及びオプション情報から上記後投入
予定の基板の投入待機タイミングを算出し、上記判断手
段による不一致判断時には、上記先投入予定の基板に対
するフロー情報と後投入予定の基板に対するフロー情報
とから上記後投入予定の基板の投入待機タイミングを算
出するステップとを有することを特徴とする基板処理装
置のフロー管理方法。 - 【請求項6】 複数の処理部と、カセットに収納された
基板を順次取り出し、この基板を上記複数の処理部のそ
れぞれとの間で受け渡しを行いながら移動させる搬送手
段と、上記搬送手段による基板搬送手順を表すフロー情
報及び該基板搬送手順において使用、不使用予定の処理
部を表すオプション情報を指定する指定手段と、上記指
定手段で指定された上記フロー情報及びオプション情報
を記憶する記憶手段と、上記指定手段により指定され
た、先投入予定の基板に対するフロー情報と後投入予定
の基板に対するフロー情報との一致を判断する判断手段
と、上記判断手段による一致判断時に、上記先投入予定
の基板に対するフロー情報及びオプション情報から上記
後投入予定の基板の投入待機タイミングを算出する第1
の算出手段と、上記判断手段による不一致判断時に、上
記先投入予定の基板に対するフロー情報と後投入予定の
基板に対するフロー情報とから上記後投入予定の基板の
投入待機タイミングを算出する第2の算出手段とを備え
たことを特徴とする基板処理装置のフロー管理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP8-63330 | 1996-03-19 | ||
JP6333096 | 1996-03-19 | ||
JP6686197A JP3859800B2 (ja) | 1996-03-19 | 1997-03-19 | 基板処理装置のフロー管理方法及びフロー管理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH09312323A true JPH09312323A (ja) | 1997-12-02 |
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Family
ID=26404432
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JP (1) | JP3859800B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010238682A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-21 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
KR101005882B1 (ko) * | 2008-10-14 | 2011-01-06 | 세메스 주식회사 | 반도체 제조 설비 및 이의 제어 방법 |
JP2011064792A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Hitachi High-Technologies Corp | 電子部品実装装置 |
US9165807B2 (en) | 2007-06-29 | 2015-10-20 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus with vertical treatment arrangement including vertical blowout and exhaust units |
US9184071B2 (en) | 2007-11-30 | 2015-11-10 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Multi-story substrate treating apparatus with flexible transport mechanisms and vertically divided treating units |
US9299596B2 (en) | 2007-12-28 | 2016-03-29 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus with parallel substrate treatment lines simultaneously treating a plurality of substrates |
US9368383B2 (en) | 2007-12-28 | 2016-06-14 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus with substrate reordering |
JP2017215456A (ja) * | 2016-05-31 | 2017-12-07 | キヤノン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法、プログラム、及び物品製造方法 |
JP2019165147A (ja) * | 2018-03-20 | 2019-09-26 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
-
1997
- 1997-03-19 JP JP6686197A patent/JP3859800B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10290521B2 (en) | 2007-06-29 | 2019-05-14 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus with parallel gas supply pipes and a gas exhaust pipe |
US9174235B2 (en) | 2007-06-29 | 2015-11-03 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus using horizontal treatment cell arrangements with parallel treatment lines |
US9230834B2 (en) | 2007-06-29 | 2016-01-05 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus |
US9165807B2 (en) | 2007-06-29 | 2015-10-20 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus with vertical treatment arrangement including vertical blowout and exhaust units |
US9687874B2 (en) | 2007-11-30 | 2017-06-27 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Multi-story substrate treating apparatus with flexible transport mechanisms and vertically divided treating units |
US9184071B2 (en) | 2007-11-30 | 2015-11-10 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Multi-story substrate treating apparatus with flexible transport mechanisms and vertically divided treating units |
US9299596B2 (en) | 2007-12-28 | 2016-03-29 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus with parallel substrate treatment lines simultaneously treating a plurality of substrates |
US9368383B2 (en) | 2007-12-28 | 2016-06-14 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus with substrate reordering |
US12217986B2 (en) | 2007-12-28 | 2025-02-04 | Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. | Substrate treating apparatus with parallel first and second parts of substrate treatment lines on multiple stories for simultaneously treating a plurality of substrates |
KR101005882B1 (ko) * | 2008-10-14 | 2011-01-06 | 세메스 주식회사 | 반도체 제조 설비 및 이의 제어 방법 |
JP2010238682A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-21 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2011064792A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Hitachi High-Technologies Corp | 電子部品実装装置 |
JP2017215456A (ja) * | 2016-05-31 | 2017-12-07 | キヤノン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法、プログラム、及び物品製造方法 |
WO2017208982A1 (ja) * | 2016-05-31 | 2017-12-07 | キヤノン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法、プログラム、及び物品製造方法 |
JP2019165147A (ja) * | 2018-03-20 | 2019-09-26 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
CN110303607A (zh) * | 2018-03-20 | 2019-10-08 | 株式会社迪思科 | 切削装置 |
TWI769373B (zh) * | 2018-03-20 | 2022-07-01 | 日商迪思科股份有限公司 | 切割裝置 |
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