JPH09205127A - Carrying of substrate, substrate carrier device and treatment system - Google Patents
Carrying of substrate, substrate carrier device and treatment systemInfo
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- JPH09205127A JPH09205127A JP3292796A JP3292796A JPH09205127A JP H09205127 A JPH09205127 A JP H09205127A JP 3292796 A JP3292796 A JP 3292796A JP 3292796 A JP3292796 A JP 3292796A JP H09205127 A JPH09205127 A JP H09205127A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、LCD(Liquid C
rystal Display)基板のような基板を搬送するための基
板搬送方法、及びこの基板搬送方法を実施するのに適し
た基板搬送装置、及び当該基板搬送装置を備えた処理シ
ステムに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an LCD (Liquid C
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate transfer method for transferring a substrate such as a crystal display substrate, a substrate transfer apparatus suitable for carrying out the substrate transfer method, and a processing system including the substrate transfer apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】例えばLCD基板の製造工程において
は、従来から減圧雰囲気下で、LCD基板に対して、エ
ッチングやアッシング等の所定の処理を施すプロセスチ
ャンバ(真空処理容器)を複数備えた、いわゆるマルチ
チャンバ型の真空処理装置が使用されている。このよう
なマルチチャンバ型の真空処理装置は、前記各プロセス
チャンバとゲートバルブを介して隣接したトランスファ
ーチャンバ(搬送容器)と、このトランスファーチャン
バとゲートバルブを介して隣接したロードロックチャン
バ(真空予備容器)とを有しており、さらにLCD基板
を多数収容した大気雰囲気におかれているカセットか
ら、1枚ずつLCD基板を取り出して前記ロードロック
チャンバに搬送する搬送アームなどの第1の搬送装置
と、減圧雰囲気にあるトランスファーチャンバ内に設け
られ、ロードロックチャンバと各プロセスチャンバとの
間でLCD基板を搬送する第2の搬送装置とを備えてい
る。2. Description of the Related Art For example, in the process of manufacturing an LCD substrate, a so-called process chamber (vacuum processing container) for performing a predetermined process such as etching or ashing on the LCD substrate under a reduced pressure atmosphere is conventionally provided. A multi-chamber type vacuum processing apparatus is used. Such a multi-chamber type vacuum processing apparatus includes a transfer chamber (transfer container) adjacent to each of the process chambers via a gate valve and a load lock chamber (vacuum preliminary container) adjacent to the transfer chamber via a gate valve. ) And a first transfer device such as a transfer arm that takes out the LCD substrates one by one from the cassette in the air atmosphere in which a large number of LCD substrates are housed and transfers them to the load lock chamber. A second transfer device that is provided in the transfer chamber in a reduced pressure atmosphere and transfers the LCD substrate between the load lock chamber and each process chamber is provided.
【0003】ところでこのようなLCD基板の真空処理
装置においては、一定の時間内にできるだけ多くの基板
を処理すること、即ちスループットを可能な限り高める
ことが要求されており、マルチチャンバ型となっている
のも同時に複数の基板を処理してスループットを向上さ
せるためである。By the way, in such a vacuum processing apparatus for LCD substrates, it is required to process as many substrates as possible within a fixed time, that is, to increase the throughput as much as possible, and it is a multi-chamber type. The reason for this is that multiple substrates are processed at the same time to improve throughput.
【0004】搬送系においても当然スループットの向上
が求められており、そのため例えば従来の前記第2の搬
送装置においては、LCD基板を直接支持する基板支持
部が上下二段の構成を有しており、上段に未処理基板、
下段に処理済み基板を載置してこれを支持するようにな
っていた。そして処理済み基板をカセット内へと搬送
し、次の未処理基板をカセットから取り出す際には、ま
ず下段の基板支持部がカセット内の所定のスロット内に
進出し、搬送アーム全体が所定分降下して処理済み基板
を該スロット内の載置部分に載置させ、次いで下段の基
板支持部が一旦カセット外へと退避する。次に搬送アー
ム全体が上昇し、今度は上段の基板支持部が所定のスロ
ット内に進出し、その後さらに搬送アーム全体が上昇し
て、スロットの載置部に載置されている未処理基板を上
段の基板支持部で支持し、その後上段の基板支持部をカ
セット内から退避させるようにしていた。The transport system is also required to have an improved throughput. Therefore, for example, in the conventional second transport device, the substrate support portion for directly supporting the LCD substrate has a two-tier structure. , Untreated substrate on the top
The processed substrate was placed on the lower stage to support it. Then, when the processed substrate is transferred into the cassette and the next unprocessed substrate is taken out from the cassette, the lower substrate support section first advances into the predetermined slot in the cassette, and the entire transfer arm descends by a predetermined amount. Then, the processed substrate is placed on the placement portion in the slot, and then the lower substrate support portion is temporarily retracted out of the cassette. Next, the entire transfer arm rises, this time the upper substrate support section advances into a predetermined slot, and then the entire transfer arm further rises to remove the unprocessed substrate placed on the mounting section of the slot. The upper substrate support portion is supported, and then the upper substrate support portion is retracted from the cassette.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
た処理済み基板のカセットへの収納、未処理基板のカセ
ットからの取り出し手順でも時間短縮には限界があり、
そのためより一層のスループットの向上が求められてい
た。However, there is a limit to the time reduction even in the procedure of storing the processed substrate in the cassette and taking out the unprocessed substrate from the cassette as described above.
Therefore, further improvement in throughput has been demanded.
【0006】本発明はかかる点に鑑みてなされたもので
あり、搬送系、特にカセットやロードロックチャンバな
どの収納体、収納容器への処理済み基板の収納、及び収
納体、収納容器からの未処理基板の取り出しを有する搬
送系において、従来よりも大幅に時間の短縮が行える基
板搬送方法、及び当該方法を実施するために適した基板
搬送装置、さらにはこの基板搬送装置を備えた処理シス
テムを提供して、前記問題の解決を図ることを目的とす
る。The present invention has been made in view of the above points, and it is a transport system, in particular, a storage body such as a cassette or a load lock chamber, a storage of a processed substrate in a storage container, and a storage body or a storage container. In a transfer system for taking out a processed substrate, a substrate transfer method capable of significantly shortening time as compared with a conventional method, a substrate transfer apparatus suitable for carrying out the method, and a processing system including the substrate transfer apparatus are provided. The purpose is to provide a solution to the above problems.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、請求項1によれば、複数の基板を載置部に載置して
上下に整列して収納可能な収納体(例えばカセット)内
に処理済み基板を収納させ、該収納体内に収納されてい
る未処理基板を収納体から取り出すプロセスを有する基
板の搬送方法であって、前記整列状態にある基板相互間
に進入、退避自在な第1の基板支持部と第2の基板支持
部を用い、第2の基板支持部で処理済み基板を支持した
状態で第1、第2の基板支持部を収納体内に進入させ、
第1の基板支持部を収納体に対して相対的に上昇させる
と同時に第2の基板支持部を収納体に対して相対的に下
降させ、収納体内の載置部に載置されている未処理基板
を第1の基板支持部で支持させると共に、処理済み基板
を収納体内の他の載置部に載置させ、その後第1、第2
の基板支持部を収納体内から退避させることを特徴とす
る、基板搬送方法が提供される。According to a first aspect of the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, a plurality of substrates are placed on a placing portion and are vertically aligned in an accommodating body (for example, a cassette). A method of transporting a substrate, comprising a process of storing a processed substrate in a container and taking out an unprocessed substrate contained in the container, wherein the substrate can be moved in and out between the substrates in the aligned state. Using the first substrate support portion and the second substrate support portion, the first and second substrate support portions are advanced into the housing body while the processed substrate is supported by the second substrate support portion,
The first substrate support portion is raised relative to the storage body and at the same time the second substrate support portion is moved down relative to the storage body, so that the second substrate support portion is not mounted on the mounting portion inside the storage body. The processed substrate is supported by the first substrate supporting unit, and the processed substrate is mounted on another mounting unit inside the housing, and then the first and second substrates are mounted.
There is provided a substrate transfer method, characterized in that the substrate support part of (1) is retracted from the storage body.
【0008】なお前記手段中、第1の基板支持部を既述
したカセットなどの収納体に対して相対的に上昇させる
動作と、第2の基板支持部を収納体に対して相対的に下
降させる動作は、必ずしも同時にスタートさせる必要は
なく、各基板支持部の上昇、下降が並行して行われてい
れば、所期の目的であるスループットの向上を図ること
ができる。In the above-mentioned means, the operation of raising the first substrate supporting portion relative to the housing such as the cassette described above and the lowering of the second substrate supporting portion relative to the housing. The operations to be performed do not necessarily have to be started at the same time, and if the substrate support portions are raised and lowered in parallel, the intended throughput can be improved.
【0009】即ち、既述したように、従来の処理済み基
板の収納体への収納と、未処理基板の収納体からの取り
出しは、処理済み基板を支持した基板支持部の収納体内
への進入、載置(下降動作)、退避、と搬送アーム全体
の上昇、未処理基板を支持する基板支持部の収納体内へ
の進入、支持(上昇動作)、退避という手順を踏んでい
たが、本発明によれば、進入、退避は各1回でよく、し
かも処理済み基板の載置と未処理基板の支持を同時に行
えるので、単純に計算しても、処理済み基板の収納体へ
の収納と、未処理基板の収納体からの取り出しに関して
は、従来の約1/2の時間で行えることになる。That is, as described above, the conventional method of storing the processed substrate in the storage body and taking out the unprocessed substrate from the storage body are performed by entering the substrate support portion supporting the processed substrate into the storage body. The steps of mounting, lowering (moving), retreating, raising the entire transfer arm, entering the substrate support portion supporting the unprocessed substrate into the housing, supporting (raising), and retreating have been performed. According to the method, the entry and the withdrawal can be performed only once, and since the processed substrate can be placed and the unprocessed substrate can be supported at the same time, even if the calculation is simply performed, the processed substrate can be stored in the container. The unprocessed substrate can be taken out from the container in about half the time of the conventional case.
【0010】請求項2によれば、基板を載置する載置部
を所定の間隔で上下に有する収納容器(例えばロードロ
ックチャンバ)に未処理基板を収納させ、該収納容器内
に収納されている処理済み基板を収納容器から取り出す
プロセスを有する基板の搬送方法であって、前記収納容
器内に進入、退避自在な第1の基板支持部と第2の基板
支持部を用い、第1の基板支持部で未処理基板を支持し
た状態で第1、第2の基板支持部を収納体内に進入さ
せ、第1の基板支持部を収納容器に対して相対的に下降
させると同時に第2の基板支持部を収納容器に対して相
対的に上昇させ、第1の基板支持部が支持している未処
理基板を上側の載置部に載置させると共に、下側の載置
部に載置されている処理済み基板を第2の基板支持部で
支持させ、その後第1、第2の基板支持部を収納容器か
ら退避させることを特徴とする、基板搬送方法が提供さ
れる。According to the second aspect of the present invention, the unprocessed substrate is stored in a storage container (eg, a load lock chamber) having mounting portions for mounting the substrate at predetermined intervals in the vertical direction, and is stored in the storage container. A method of transporting a substrate having a process of taking out a processed substrate from a storage container, the first substrate supporting part and the second substrate supporting part being capable of entering and retracting into the storage container. While the unprocessed substrate is supported by the support part, the first and second substrate support parts are advanced into the storage body, and the first substrate support part is lowered relative to the storage container, and at the same time, the second substrate. The support part is raised relative to the storage container, the unprocessed substrate supported by the first substrate support part is placed on the upper placement part, and is placed on the lower placement part. The processed substrate being supported by the second substrate support, and then , Characterized in that retracting the second substrate supporting portion from the container, the substrate transfer method is provided.
【0011】この請求項2の基板搬送方法は、主として
ロードロックチャンバなどの収納容器へ未処理基板を搬
送し、当該ロードロックチャンバから処理済み基板を取
り出す搬送方法に関するものであるが、この場合も、第
1の基板支持部を収納容器に対して相対的に下降させる
動作と、第2の基板支持部を収納容器に対して相対的に
上昇させる動作は、必ずしも同時にスタートさせる必要
はなく、各基板支持部の下降、上昇が並行して行われて
いれば、所期の目的であるスループットの向上を図るこ
とができる。The substrate transfer method according to the second aspect of the present invention mainly relates to a transfer method of transferring an unprocessed substrate to a storage container such as a load lock chamber and taking out the processed substrate from the load lock chamber. The operation of lowering the first substrate support part relative to the storage container and the operation of raising the second substrate support part relative to the storage container do not necessarily have to be started at the same time. If the substrate support is lowered and raised in parallel, the intended throughput can be improved.
【0012】つまり既述したように、従来の未処理基板
の収納容器への収納と、処理済み基板の収納容器からの
取り出しは、未処理基板を支持した基板支持部の収納容
器内への進入、載置(下降動作)、退避と、搬送アーム
全体の下降、処理済み基板を支持する基板支持部の収納
容器内への進入、支持(上昇動作)、退避という手順を
踏んでいたが、本発明によれば、進入、退避は各1回で
よく、しかも未処理基板の載置と処理済み基板の支持を
同時に行えるので、この場合も、未処理基板の収納容器
への収納と、処理済み基板の収納容器からの取り出しに
関しては、従来の約1/2の時間で行えることになる。That is, as described above, the conventional method of storing the unprocessed substrate in the storage container and taking out the processed substrate from the storage container are performed by entering the substrate supporting portion supporting the unprocessed substrate into the storage container. , Placing (lowering operation), retreating, lowering the entire transfer arm, entering the substrate support part supporting the processed substrate into the storage container, supporting (raising operation), retreating. According to the invention, the entry and the withdrawal only have to be performed once, respectively, and since the unprocessed substrate can be placed and the processed substrate can be supported at the same time, in this case also, the unprocessed substrate is stored in the storage container and the processed substrate is processed. The substrate can be taken out from the storage container in about half the time required in the conventional case.
【0013】請求項3によれば、例えばLCD基板にど
の複数の基板を上下に整列して収納する収納体と、他の
装置(例えばロードロックチャンバなど)との間で基板
を搬送する装置であって、基板を支持する第1の基板支
持部と第2の基板支持部を有する搬送部材を備え、第1
及び第2の基板支持部の上下の厚さは、各々前記基板の
整列間隔よりも小さく、第1又は第2の基板支持部の少
なくともいずれかが上下動自在であって、これら第1、
第2の基板支持部は、水平方向からみて相互に重合自在
となる形態、即ち水平方向からみて重なることができる
形態を有していることを特徴とする、基板搬送装置が提
供される。According to a third aspect of the present invention, there is provided a device for transporting a substrate between, for example, a storage body for storing a plurality of substrates vertically aligned on an LCD substrate and another device (for example, a load lock chamber). And a transport member having a first substrate supporting portion for supporting the substrate and a second substrate supporting portion,
The upper and lower thicknesses of the second and second substrate supporting portions are smaller than the alignment intervals of the substrates, and at least one of the first and second substrate supporting portions is vertically movable.
There is provided a substrate transfer device, wherein the second substrate support part has a form in which they can overlap each other when viewed in the horizontal direction, that is, a form in which they can overlap each other when viewed in the horizontal direction.
【0014】この場合、請求項4に記載したように、第
1、第2の基板支持部は、水平方向からみていずれか一
方の基板支持部の全部と他の基板支持部の一部とが重合
自在となる形態、即ち第1、第2の基板支持部との上下
方向の厚さが異なっていてもよい。In this case, as described in claim 4, in the first and second substrate supporting portions, all of one of the substrate supporting portions and a part of the other substrate supporting portions are viewed from the horizontal direction. It may be a form that can be polymerized, that is, the vertical thicknesses of the first and second substrate supporting portions may be different.
【0015】また請求項5に記載したように、第1、第
2の基板支持部は、水平方向からみてその一部が重な
り、そのときの水平方向からみた第1、第2の基板支持
部の合計の厚さが、収納体内における基板の整列間隔よ
りも小さいものとなるように設定してもよい。According to a fifth aspect of the present invention, the first and second substrate supporting portions partially overlap each other when viewed in the horizontal direction, and the first and second substrate supporting portions when viewed in the horizontal direction at that time. The total thickness may be set to be smaller than the alignment interval of the substrates in the housing.
【0016】さらに請求項6に記載したように、第1、
第2の基板支持部を有する搬送部材自体も上下動自在と
なるように構成してもよい。Further, as described in claim 6, the first,
The conveying member itself having the second substrate supporting portion may be configured to be vertically movable.
【0017】以上記した請求項3〜6に記載の基板搬送
装置によれば、第1の基板支持部を収納体に対して相対
的に上昇させると同時に第2の基板支持部を収納体に対
して相対的に下降させることができるので、請求項1の
基板搬送方法を好適に実施することができる。According to the substrate transfer device of the third to sixth aspects described above, the first substrate support part is raised relative to the container and at the same time the second substrate support part is contained in the container. Since it can be relatively lowered with respect to the substrate, the substrate transfer method according to claim 1 can be suitably implemented.
【0018】しかも第1、第2の基板支持部の上下の厚
さは、収納体内における基板の整列間隔よりも小さく、
かつ水平方向からみて重なったときの合計の厚さは、当
該整列間隔よりも小さくなっている。従って、例えば搬
送の初期状態のときにある収納体から未処理基板取り出
し動作のみの際、搬送の終期状態のときにある収納体へ
の処理済み基板の収納動作のみの際に、それぞれ第1、
第2の基板支持部を少なくとも水平方向からみて一部重
なった状態にして、即ちいわば一体化して、取り出しの
み、収納(載置)のみに従事させることができる。Moreover, the upper and lower thicknesses of the first and second substrate supporting portions are smaller than the arrangement interval of the substrates in the housing,
In addition, the total thickness when overlapping in the horizontal direction is smaller than the alignment interval. Therefore, for example, when only the operation of taking out unprocessed substrates from a certain container in the initial state of transport and only in the operation of storing the processed substrate in the certain container at the end of transport, the first and
It is possible to make the second substrate support portions at least partially overlapped with each other when viewed in the horizontal direction, that is, to be integrated so to speak and to engage only in taking out and storing (mounting).
【0019】また請求項7に記載した処理システムは、
以上の各請求項3〜6のいずれかに記載の基板搬送装置
と、基板を処理する処理装置を備えたシステムであっ
て、さらにカセットなど複数の基板を上下に整列して収
納する収納体を支持する収納体支持部材を有し、この収
納体を上下動させる昇降機構を備えたことを特徴として
いる。The processing system described in claim 7 is
A system comprising the substrate transfer device according to any one of claims 3 to 6 and a processing device for processing a substrate, further comprising a container for vertically arranging a plurality of substrates such as a cassette. The present invention is characterized in that it has a container support member that supports it, and that it is provided with an elevating mechanism for moving the container up and down.
【0020】したがって、搬送部材を上下動させること
なく、請求項1の基板搬送方法を実施することができ
る。Therefore, the substrate transfer method according to the first aspect can be implemented without moving the transfer member up and down.
【0021】[0021]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて説明すると、図1は、本実施形態にかか
る処理システムとしてのマルチチャンバータイプの真空
処理装置1の概観、図2はその内部を示す平面からの説
明図を示している。この真空処理装置1は、ガラス製の
LCD基板に対してエッチング処理およびアッシング処
理を行う装置であり、その中央部にトランスファーチャ
ンバ2とロードロックチャンバ3がゲートバルブ4を介
して隣接している。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is an overview of a multi-chamber type vacuum processing apparatus 1 as a processing system according to the present embodiment, and FIG. Shows an explanatory view from the plane showing the inside thereof. The vacuum processing apparatus 1 is an apparatus for performing an etching process and an ashing process on an LCD substrate made of glass, and a transfer chamber 2 and a load lock chamber 3 are adjacent to each other via a gate valve 4 in the center thereof.
【0022】このトランスファーチャンバ2は、平面が
略正方形であり、ロードロックチャンバ3と面しない残
りの各側面には、それぞれゲートバルブ5、6、7を介
して、対応する3つのプロセスチャンバ8、9、10が
隣接している。これら各プロセスチャンバ8、9、10
は、いずれも所定の減圧雰囲気に維持するることが可能
であり、本実施形態においては、これらのうちの2つ例
えばプロセスチャンバ8、9により同一のエッチング処
理が行なわれ、他の1つプロセスチャンバ10によって
アッシング処理が行なわれるようになっている。もちろ
んこれに限らず、適宜の処理を組み合わせることもで
き、いずれにしろシリアル処理、パラレル処理等任意の
処理を複数のチャンバ内で実施することが可能である。The transfer chamber 2 has a substantially square plane, and the remaining three side surfaces that do not face the load lock chamber 3 are provided with three corresponding process chambers 8 via gate valves 5, 6 and 7, respectively. 9 and 10 are adjacent. Each of these process chambers 8, 9, 10
Can be maintained in a predetermined reduced pressure atmosphere. In the present embodiment, two of them, for example, the process chambers 8 and 9 perform the same etching treatment, and the other one process. An ashing process is performed by the chamber 10. Of course, the present invention is not limited to this, and it is also possible to combine appropriate processes, and in any case, it is possible to carry out arbitrary processes such as serial processes and parallel processes in a plurality of chambers.
【0023】ロードロックチャンバ3の1つの側面上部
には、大気側に開閉自在なゲートバルブ11が設けら
れ、さらに当該側面に対向する大気側には、支持台12
が設置されている。そしてこの支持台12上に、基板搬
送装置としての搬送アーム21が、ベース13を介して
支持されている。A gate valve 11 which is openable and closable on the atmosphere side is provided at the upper part of one side surface of the load lock chamber 3, and a support 12 is provided on the atmosphere side facing the side surface.
Is installed. A transfer arm 21 as a substrate transfer device is supported on the support base 12 via a base 13.
【0024】搬送アーム21は、図3に示したように、
ベース13上で上下動自在な昇降シャフト22、この昇
降シャフト22に対してその一端部近傍を中心として回
動自在な(往復回動矢印A)搬送部材としての第1アー
ム23、及び第2アーム24、並びに基板を直接支持す
るための基板支持部を構成する上フォーク25、下フォ
ーク26によって構成されている。The transfer arm 21 is, as shown in FIG.
An up-and-down shaft 22 that can move up and down on the base 13, a first arm 23 and a second arm that are rotatable with respect to the up-and-down shaft 22 around its one end (reciprocating rotation arrow A) as a transport member. 24, and an upper fork 25 and a lower fork 26 that form a substrate supporting portion for directly supporting the substrate.
【0025】前記第2アーム24は、その一端部近傍を
中心として第1アーム23の他端部近傍と回動自在であ
り(往復回動矢印B)、上フォーク25と下フォーク2
6は、第2アームの他端部近傍に立設されているシャフ
ト27周りにその基部25a、26aを中心として回動
自在に構成されている(往復回動矢印C)。The second arm 24 is rotatable around the one end thereof near the other end of the first arm 23 (reciprocating rotation arrow B), and the upper fork 25 and the lower fork 2 are rotatable.
6 is configured to be rotatable around a shaft 27 that is erected in the vicinity of the other end of the second arm about its bases 25a and 26a (reciprocating rotation arrow C).
【0026】下フォーク26は、所定間隔を隔てて平行
かつ水平に基部26aから突出する2本の支持部材26
b、26cを有し、各支持部材26b、26cの上面に
は、支持する基板と直接接触する、例えば摩擦係数の高
い合成ゴム製の弾性体や合成樹脂等の材質からなる接触
部材26dが適宜数設けられ、基板を支持している最中
に当該基板がずれたり、落下することは防止される。The lower fork 26 has two supporting members 26 that project from the base portion 26a in parallel and horizontally at a predetermined interval.
b, 26c, and a contact member 26d made of a material such as an elastic body made of synthetic rubber or a synthetic resin having a high friction coefficient, which is in direct contact with the supporting substrate, is provided on the upper surface of each of the support members 26b, 26c. A large number of substrates are provided to prevent the substrates from shifting or dropping while supporting the substrates.
【0027】上フォーク25は、前記下フォーク26の
場合よりも大きい所定の間隔を隔てて平行かつ水平に基
部25aから突出する2本の支持部材25b、25cを
有し、各支持部材25b、25cの上面には、支持する
基板と直接接触する接触部材25dが適宜数設けられて
いる。なおこれら各上フォーク25、下フォーク26と
も、その上下方向の厚さは、後述の基板Pのカセット4
2内への収納間隔よりも小さいものである。The upper fork 25 has two supporting members 25b and 25c which project from the base 25a in parallel and horizontally at a predetermined interval larger than that of the lower fork 26, and each supporting member 25b, 25c. An appropriate number of contact members 25d that come into direct contact with the supporting substrate are provided on the upper surface of the. The upper and lower forks 25 and 26 have the same vertical thickness as the cassette 4 of the substrate P described later.
It is smaller than the interval of storage in 2.
【0028】この上フォーク25は、ケーシング27に
沿って上下動自在であり、最も下に移動(降下)した際
には、図4に示したように、水平方向からみて下フォー
ク26と相互に重なるようになっている。即ち、上フォ
ーク25の支持部材25b、25cは、下フォーク26
の支持部材26b、26cの外側にちょうど位置して、
下フォーク26と同一レベル(高さ)に達するようにな
っている。なおこのケーシング27内には、上フォーク
25を上下動させるための駆動機構が内蔵されている
が、当該駆動機構としては、例えばモータで駆動される
ボールネジ・スライド部材が挙げられる。そしてそのよ
うなボールネジのような駆動部材からのパーティクルが
周辺に浮遊して基板が汚染されないように、前記ケーシ
ング27内の雰囲気は、適宜の吸引機構によって常時装
置外へと排気されている。なおこのケーシング27の形
態は、任意のものでよく、例えばボールネジと一体にな
った平面が方形のガイドを覆う形態、例えば直方体など
であってもよい。さらに、上フォーク25の上下動をよ
り円滑かつ安定なものとするため、ケーシング27の後
方(支持部材25b、25cとは反対の方向)にて、さ
らに適宜のサブガイドを下フォーク26との間に立設さ
せてもよい。The upper fork 25 is movable up and down along the casing 27, and when it is moved (falls) to the bottom, as shown in FIG. It is supposed to overlap. That is, the support members 25b and 25c of the upper fork 25 are
Just outside the support members 26b, 26c of
It reaches the same level (height) as the lower fork 26. A drive mechanism for vertically moving the upper fork 25 is built in the casing 27. Examples of the drive mechanism include a ball screw / slide member driven by a motor. The atmosphere in the casing 27 is constantly exhausted to the outside of the apparatus by an appropriate suction mechanism so that particles from a driving member such as a ball screw do not float around and contaminate the substrate. The casing 27 may have any shape, for example, a flat surface integrated with the ball screw may cover the rectangular guide, such as a rectangular parallelepiped. Further, in order to make the vertical movement of the upper fork 25 smoother and more stable, an appropriate sub guide is further provided between the lower fork 26 and the rear of the casing 27 (in the direction opposite to the support members 25b and 25c). You may make it stand upright.
【0029】支持台12の側方には、収納体支持部材と
してのカセットインデクサ41が設けられており、この
カセットインデクサ41の上に基板(例えばLCDガラ
ス基板)Pを所定数(例えば25枚)を収納するカセッ
ト42が昇降機構43を介して載置されている。従っ
て、昇降機構43により、カセット42は、上下動自在
であり、もちろん任意の位置にて停止可能である。A cassette indexer 41 as a container support member is provided on the side of the support base 12, and a predetermined number of substrates (eg, LCD glass substrates) P (eg, 25 sheets) P are provided on the cassette indexer 41. A cassette 42 for accommodating is placed via an elevating mechanism 43. Therefore, the cassette 42 can be moved up and down by the elevating mechanism 43, and can of course be stopped at any position.
【0030】なお本実施形態にかかる真空処理装置1に
おいては、前記したように搬送アーム21を備えた支持
台12の一側のみにカセットインデクサ41が設置され
ているが、図1、図2に示したように、支持台12を挟
んでこのカセットインデクサ41と対向する位置にもう
1つのカセットインデクサ44を設置することも可能で
ある。即ち、プロセスチャンバ8、9、10の処理の内
容、処理時間などに応じて適切な未処理基板と処理済み
基板の交換、搬送に対処し、高スループットを実現する
ことができるようになっている。In the vacuum processing apparatus 1 according to this embodiment, the cassette indexer 41 is installed only on one side of the support base 12 having the transfer arm 21 as described above. As shown, it is also possible to install another cassette indexer 44 at a position facing the cassette indexer 41 with the support base 12 interposed therebetween. That is, it is possible to cope with the appropriate exchange and transfer of the unprocessed substrate and the processed substrate according to the processing contents, the processing time, and the like of the process chambers 8, 9, and 10 to realize high throughput. .
【0031】ロードロックチャンバ3は、所定の減圧雰
囲気に保持することが可能であり、その中には図5に示
したように、基板Pを支持するための一対のスタンド5
1、51を具備するバッファラック50が配設されてい
る。このバッファラック50は、一度に2枚の基板Pを
保持するように構成されており、これにより真空引き、
パージの効率が向上する。The load lock chamber 3 can be maintained in a predetermined decompressed atmosphere, in which a pair of stands 5 for supporting the substrate P are provided, as shown in FIG.
A buffer rack 50 including 1 and 51 is arranged. The buffer rack 50 is configured to hold two substrates P at a time, which allows vacuuming,
The efficiency of purging is improved.
【0032】これら各スタンド51、51は、いずれも
2つのバッファ52、53を上下に具備し、これらは搬
送アーム21における上下動自在な上フォーク25と下
フォーク26との間の距離内に納まる間隔に設定され
て、水平な2段の基板支持レベルを形成している。本実
施形態では、カセット42における基板Pの支持間隔よ
りも大きく設定される。また各バッファ52、53の上
面には、摩擦係数の高い合成ゴムからなる突起54が設
けられており、これによって基板のずれおよび落下が防
止される。Each of these stands 51, 51 is provided with two buffers 52, 53 on the upper and lower sides thereof, and these buffers are set within the distance between the upper fork 25 and the lower fork 26 which are vertically movable in the transfer arm 21. Spaced to form two horizontal substrate support levels. In the present embodiment, it is set to be larger than the support interval of the substrate P in the cassette 42. Further, projections 54 made of synthetic rubber having a high friction coefficient are provided on the upper surfaces of the respective buffers 52, 53, which prevents the substrates from slipping and dropping.
【0033】前記スタンド51、51は一体的に昇降可
能となっており、バッファラック50の昇降により、ト
ランスファーチャンバ2内に設けられた搬送アーム60
が昇降することなく、2枚の基板のうちの一方を選択的
に取出すことができる。The stands 51, 51 can be integrally raised and lowered, and when the buffer rack 50 is raised and lowered, a transfer arm 60 provided in the transfer chamber 2 is provided.
One of the two substrates can be selectively taken out without moving up and down.
【0034】ロードロックチャンバ3内には、2枚の基
板を一度にアライメントするための一対のポジショナー
55、55および基板のアライメントの完了を確認する
ための光学的センサ(図示せず)が配置されている。こ
の一対のポジショナー55、55は、基板の対角線の延
長線上にて相互に対向するように配置されている。また
各ポジショナー55、55は、図中の往復矢印A方向に
起動可能なベース56と、このベース56上に回転フリ
ーに支持された一対のローラ57、57を具備する。In the load lock chamber 3, there are arranged a pair of positioners 55, 55 for aligning two substrates at a time, and an optical sensor (not shown) for confirming completion of alignment of the substrates. ing. The pair of positioners 55, 55 are arranged so as to face each other on an extension line of a diagonal line of the substrate. Each of the positioners 55, 55 includes a base 56 that can be activated in the direction of the reciprocating arrow A in the figure, and a pair of rollers 57, 57 that are rotatably supported on the base 56.
【0035】前記ポジショナー55は、バッファラック
50に支持された2枚の基板を対角線方向に挟み込む態
様で、基板のアライメントを行なう。従ってローラ57
は基板Pの側面を4点で押圧することにより位置合わせ
するため、略矩形状の基板の位置合わせを行なうのに特
に適している。ローラ57はベース56上に着脱自在に
取り付けられ、処理されるLCD基板の寸法に応じて適
宜交換することが可能である。The positioner 55 aligns the two substrates supported by the buffer rack 50 in such a manner as to sandwich the two substrates diagonally. Therefore, the roller 57
Since the substrate P is aligned by pressing the side surface of the substrate P at four points, it is particularly suitable for aligning a substantially rectangular substrate. The roller 57 is detachably mounted on the base 56 and can be appropriately replaced according to the size of the LCD substrate to be processed.
【0036】前記ロードロックチャンバ3と隣接するト
ランスファーチャンバ2も、所定の減圧雰囲気に設定、
維持保持することが可能であり、その中には、図2に示
したように真空系の搬送アーム60が設けられている。
この搬送アーム60は、上下に基板を載置可能な基板支
持部(図示せず)と、複数の基板を一時的に保持するバ
ッファ61を備えている。そして例えばエッチング処理
が終了した基板をプロセスチャンバから取り出して一時
バッファ61に保持し、直ちに未処理基板をエッチング
処理を行うプロセスチャンバに搬入し、その後バッファ
61に保持した基板をアッシング処理を行うプロセスチ
ャンバ内に搬入するなどして、効率の良いシリアル処理
を行うことが可能になっている。The transfer chamber 2 adjacent to the load lock chamber 3 is also set to a predetermined reduced pressure atmosphere,
It can be maintained and held, and a vacuum type transfer arm 60 is provided therein as shown in FIG.
The transfer arm 60 includes a substrate support portion (not shown) on which substrates can be placed vertically and a buffer 61 that temporarily holds a plurality of substrates. Then, for example, the substrate after the etching process is taken out from the process chamber and temporarily held in the buffer 61, the unprocessed substrate is immediately carried into the process chamber where the etching process is performed, and then the substrate held in the buffer 61 is subjected to the ashing process. It is possible to carry out efficient serial processing by carrying it in.
【0037】本実施形態にかかる真空処理装置1は、以
上のように構成されており、次にその動作等について説
明すると、まずカセットインデクサ41に複数の未処理
の基板、例えば基板P1〜P25を収納したカセット42
を載置すると、搬送アーム21が図1、図2に示したよ
うにカセット42の取り出し開口部へと対面して、最下
部に収容されている基板P1を取りにいく。このとき、
図4に示したように、上フォーク25が下フォーク26
と同一レベルになるまで下降し、両者はいわば一体化さ
れる。The vacuum processing apparatus 1 according to the present embodiment is configured as described above. Next, the operation thereof will be described. First, a plurality of unprocessed substrates, for example, substrates P1 to P25, are placed in the cassette indexer 41. Cassette 42 stored
1 is placed, the transfer arm 21 faces the take-out opening portion of the cassette 42 as shown in FIGS. 1 and 2, and the substrate P1 accommodated in the lowermost part is taken out. At this time,
As shown in FIG. 4, the upper fork 25 is replaced by the lower fork 26.
It descends to the same level as, and the two are integrated as it were.
【0038】この状態で第1アーム23、第2アーム2
4及び上フォーク25、下フォーク26の回動等によ
り、同一レベルになった上フォーク25と下フォーク2
6は、図6に示したように、最下部の基板P1の下に進
入する。このときの基板P1と上フォーク25、下フォ
ーク26とのレベル調整は、カセット42の昇降機構4
3側で行われる。通常は最下部の基板P1から処理が行
われるので、昇降機構43によって、カセット42は一
旦所定の高さまで上昇し、その後順次下降していく手順
が採られる。もちろん搬送アーム21の昇降シャフト2
2側でそのようなレベル調整を行ってもよい。In this state, the first arm 23 and the second arm 2
4 and the upper fork 25 and the lower fork 26 are rotated, so that the upper fork 25 and the lower fork 2 are at the same level.
6 enters below the bottom substrate P1, as shown in FIG. At this time, the level adjustment between the substrate P1 and the upper fork 25 and the lower fork 26 is performed by the lifting mechanism 4 of the cassette 42.
It is done on the 3rd side. Normally, the process is performed from the lowermost substrate P1, so that the elevating mechanism 43 raises the cassette 42 to a predetermined height once and then sequentially lowers it. Of course, the lifting shaft 2 of the transfer arm 21
Such level adjustment may be performed on the second side.
【0039】そして同一レベルにある上フォーク25と
下フォーク26が基板P1の下の所定の位置まで進入し
た後、昇降シャフト22によって搬送アーム21全体が
所定の高さ分上昇し、カセット42内の載置部にその周
縁部が載置されている基板P1を、上フォーク25と下
フォーク26が支持する。なおこの場合、カセット42
側が所定分下降してもよい。その後上フォーク25と下
フォーク26はカセット42から退避する。Then, after the upper fork 25 and the lower fork 26 at the same level have advanced to a predetermined position under the substrate P1, the lift shaft 22 raises the entire transfer arm 21 by a predetermined height, and the inside of the cassette 42 is lifted. The upper fork 25 and the lower fork 26 support the substrate P1 whose peripheral portion is placed on the placing portion. In this case, the cassette 42
The side may descend by a predetermined amount. After that, the upper fork 25 and the lower fork 26 are retracted from the cassette 42.
【0040】次いで基板P1を支持した搬送アーム21
の上フォーク25と下フォーク26は、ロードロックチ
ャンバ3内に進入し、所定分搬送アーム21全体が下降
することでスタンド51の上側のバッファ52に基板P
1を載置する。その後上フォーク25と下フォーク26
はロードロックチャンバ3から退避し、ロードロックチ
ャンバ3内が所定の減圧度まで真空引きされた後、今度
は真空系の搬送アーム60が基板P1を取り出して、こ
れを所定のプロセスチャンバ例えばプロセスチャンバ8
へと搬送し、そこで基板P1は例えばエッチング処理に
付される。Next, the transfer arm 21 supporting the substrate P1
The upper fork 25 and the lower fork 26 enter into the load lock chamber 3 and the entire transfer arm 21 is lowered by a predetermined amount, so that the substrate P is placed in the buffer 52 above the stand 51.
Place 1 After that, the upper fork 25 and the lower fork 26
Is evacuated from the load lock chamber 3 and the inside of the load lock chamber 3 is evacuated to a predetermined decompression degree. Then, the transfer arm 60 of the vacuum system takes out the substrate P1 and transfers it to a predetermined process chamber, for example, a process chamber. 8
To the substrate P1 where it is subjected to, for example, an etching process.
【0041】なお本実施形態においては、ロードロック
チャンバ3内に2枚の基板を載置することが可能であ
り、しかも真空系の搬送アーム60も同時に2枚の基板
を搬送することが可能であるから、基板P1を上フォー
ク25と下フォーク26が同一レベル状態で取ることに
代え、上フォーク25が下フォーク26よりも所定分
(例えば基板Pのカセット42内における収納間隔)高
くなる位置で停止させた状態でカセット42内に進入さ
せ、下フォーク26が基板P1と同時にその上に位置す
る基板P2も上フォーク25で同時に支持して、2枚同
時にロードロックチャンバ3に搬送するようにしてもよ
い。そうすれば初期状態においてもスループットの向上
が図れる。In this embodiment, two substrates can be placed in the load lock chamber 3, and the vacuum transfer arm 60 can also transfer two substrates at the same time. Therefore, instead of taking the substrate P1 in a state in which the upper fork 25 and the lower fork 26 are at the same level, at a position where the upper fork 25 is higher than the lower fork 26 by a predetermined amount (for example, the storage interval of the substrate P in the cassette 42). In the stopped state, the cassette is advanced into the cassette 42, and the lower fork 26 simultaneously supports the substrate P1 and the substrate P2 located thereabove by the upper fork 25 so that the two substrates are simultaneously conveyed to the load lock chamber 3. Good. By doing so, the throughput can be improved even in the initial state.
【0042】いずれにしろ真空処理装置1は、複数のプ
ロセスチャンバ8、9、10を有するマルチチャンバタ
イプであるから、初期においては、未処理の基板が次々
とロードロックチャンバ3、トランスファーチャンバ2
を経由して、プロセスチャンバ8、9へと搬送され、そ
こでのエッチング処理が終了した基板については、トラ
ンスファーチャンバ2を経由して、そのままアッシング
処理を行うプロセスチャンバ10へと搬送されるので、
搬送アーム21は、カセット42から未処理基板の取り
出し、搬送のみに従事することになる。In any case, the vacuum processing apparatus 1 is a multi-chamber type having a plurality of process chambers 8, 9 and 10. Therefore, initially, unprocessed substrates are successively loaded with the load lock chamber 3 and the transfer chamber 2.
The substrate, which has been transferred to the process chambers 8 and 9 via which the etching process has been completed, is transferred to the process chamber 10 in which the ashing process is performed via the transfer chamber 2 as it is.
The transfer arm 21 is engaged only in taking out and transferring an unprocessed substrate from the cassette 42.
【0043】そして例えば図7に示したように、5番目
の基板P5を取り出して、これをロードロックチャンバ
3へ搬送する段階で、図8に示したように、ロードロッ
クチャンバ3内の下段のバッファに処理済みの基板P1
が既に載置されている場合には、例えばロードロックチ
ャンバ3への搬送中に、上フォーク25を上昇させ、下
フォーク26と分離させる。そうすると未処理の基板P
5は、上フォーク25のみに支持された状態になる。Then, for example, as shown in FIG. 7, at the stage of taking out the fifth substrate P5 and transporting it to the load lock chamber 3, as shown in FIG. Substrate P1 processed in the buffer
When already loaded, the upper fork 25 is lifted and separated from the lower fork 26, for example, during transfer to the load lock chamber 3. Then the unprocessed substrate P
5 is in a state of being supported only by the upper fork 25.
【0044】この状態のまま、上フォーク25と下フォ
ーク26をロードロックチャンバ3内に進入させ、上フ
ォーク25は上段のバッファ52の上方へ、下フォーク
26は下段のバッファ53の下方へと進入させる。そし
て所定の位置まで進入した後、図9に示したように、上
フォーク25は上段のバッファ52に対して相対的に下
降させ(矢印D)、下フォーク26は下段のバッファに
対して相対的に上昇させる(矢印E)。これによって未
処理の基板P5は、上段のバッフ52に載置されると同
時に処理済みの基板P1は、下フォーク26で支持され
るのである。このような動作は、搬送アーム21の昇降
シャフト22の上昇と、上フォーク25の下降によって
実現される。In this state, the upper fork 25 and the lower fork 26 are advanced into the load lock chamber 3, and the upper fork 25 is advanced above the upper buffer 52 and the lower fork 26 is below the lower buffer 53. Let After entering the predetermined position, the upper fork 25 is lowered relative to the upper buffer 52 (arrow D), and the lower fork 26 is moved relative to the lower buffer, as shown in FIG. (Arrow E). As a result, the unprocessed substrate P5 is placed on the upper baff 52, and at the same time, the processed substrate P1 is supported by the lower fork 26. Such an operation is realized by raising the elevating shaft 22 of the transfer arm 21 and lowering the upper fork 25.
【0045】このようないわば並行受け渡しにより、未
処理基板のロードロックチャンバ3内への搬入と、当該
ロードロックチャンバ3内に収納されている処理済み基
板の取り出しに関する時間が大幅に短縮され、その分ス
ループットが向上する。By such a so-called parallel transfer, the time required to carry in an unprocessed substrate into the load lock chamber 3 and take out the processed substrate stored in the load lock chamber 3 is significantly shortened. Minute throughput is improved.
【0046】その後図10に示したように、処理済みの
基板P1を支持した下フォーク26と上フォーク25
は、ロードロックチャンバ3から退避し、図11に示し
たように搬送アーム21全体の方向転換によって、今度
は図12に示したようにカセット42に対面する。Thereafter, as shown in FIG. 10, a lower fork 26 and an upper fork 25 supporting the processed substrate P1.
Is withdrawn from the load lock chamber 3 and, as shown in FIG. 11, by changing the direction of the entire transfer arm 21, it now faces the cassette 42 as shown in FIG.
【0047】次いで処理済みの基板P1を支持した下フ
ォーク26と上フォーク25は、図13に示したように
カセット42内に進入する。このとき下フォーク26は
カセット42内の最下部の載置部の上方、上フォーク2
5は次の未処理の基板P6の下方の所定の位置まで進入
する。Next, the lower fork 26 and the upper fork 25 supporting the processed substrate P1 enter the cassette 42 as shown in FIG. At this time, the lower fork 26 is located above the lowermost mounting portion in the cassette 42,
5 enters the predetermined position below the next unprocessed substrate P6.
【0048】その後今度は、上フォーク25がカセット
42に対して(より具体的にいえば載置されている基板
P6に対して)、相対的に上昇し(図13、図14中の
矢印F)、一方処理済みの基板P1を支持した下フォー
ク26はカセット42に対して(より具体的にいえば最
下部の載置部に対して)相対的に下降する(図13、図
14中の矢印G)。これによって未処理の基板P6は、
上フォーク25によって支持される同時に処理済みの基
板P1は、カセット42の最下部の載置部に載置される
のである。このような動作は、搬送アーム21の昇降シ
ャフト22の下降と、上フォーク25の上昇によって実
現される。なお昇降シャフト22の下降に代えて、昇降
機構43によってカセット42を上昇させてもよい。Then, this time, the upper fork 25 relatively rises with respect to the cassette 42 (more specifically, with respect to the mounted substrate P6) (arrow F in FIGS. 13 and 14). On the other hand, the lower fork 26 supporting the processed substrate P1 descends relatively to the cassette 42 (more specifically, to the lowermost mounting portion) (in FIGS. 13 and 14). Arrow G). As a result, the unprocessed substrate P6 is
The simultaneously processed substrate P1 supported by the upper fork 25 is placed on the lowermost placement portion of the cassette 42. Such an operation is realized by lowering the elevating shaft 22 of the transfer arm 21 and raising the upper fork 25. Instead of lowering the elevating shaft 22, the elevating mechanism 43 may raise the cassette 42.
【0049】このようないわば並行受け渡しにより、処
理済み基板のカセット42内への搬入と、当該カセット
42内に収納されている未処理基板の取り出しに関する
時間が大幅に短縮され、その分スループットが向上す
る。By so-called parallel transfer, the time required for loading the processed substrate into the cassette 42 and taking out the unprocessed substrate stored in the cassette 42 is greatly shortened, and the throughput is improved accordingly. To do.
【0050】その後未処理の基板P6を支持した上フォ
ーク25と下フォーク26は、図15に示したように、
カセット42から退避し、再びロードロックチャンバ3
へと搬送され、既述したロードロックチャンバ3内での
並行受け渡し動作によって、処理済みの基板P2と交換
される。Thereafter, the upper fork 25 and the lower fork 26 supporting the unprocessed substrate P6 are, as shown in FIG.
Evacuate from the cassette 42, and again load lock chamber 3
The transferred substrate P2 is transferred to and is exchanged with the processed substrate P2 by the parallel transfer operation in the load lock chamber 3 described above.
【0051】このような上フォーク25と下フォーク2
6とが分離した状態での未処理基板と処理済み基板の並
行受け渡しは、カセット42内に未処理基板が残ってい
る間(中間状態)行われる。Such an upper fork 25 and a lower fork 2
The parallel transfer of the unprocessed substrate and the processed substrate in the state where 6 is separated is performed while the unprocessed substrate remains in the cassette 42 (intermediate state).
【0052】そしてカセット42内に未処理基板がなく
なった状態(終期状態)になると、図4に示したように
上フォーク25が下降して、下フォーク26と同一レベ
ルになって、両者は再び一体化する。この状態でロード
ロックチャンバ3からの処理済み基板の受け取りが行わ
れ、図16に示したように、カセット42への当該処理
済み基板の搬送、収納動作が実施される。When there is no unprocessed substrate left in the cassette 42 (final state), the upper fork 25 descends to the same level as the lower fork 26 as shown in FIG. Unify. In this state, the processed substrate is received from the load lock chamber 3, and as shown in FIG. 16, the processed substrate is transferred to and stored in the cassette 42.
【0053】以上説明したように、本実施形態にかかる
真空処理装置1においては、処理済み基板のロードロッ
クチャンバ3からの取り出し及び未処理基板のロードロ
ックチャンバ3内への収納と、未処理基板のカセット4
2からの取り出し及び処理済み基板のカセット42への
収納が、それぞれの場合並行して行われるので、従来取
り出しと収納とが別々の動作によって連続して行われて
いた場合と比較すると、ほぼ1/2に時間が短縮され、
その分スループットが大きく向上する。As described above, in the vacuum processing apparatus 1 according to the present embodiment, the processed substrate is taken out from the load lock chamber 3 and the unprocessed substrate is stored in the load lock chamber 3, and the unprocessed substrate is stored. Cassette 4
Since the removal from 2 and the storage of the processed substrate in the cassette 42 are performed in parallel in each case, it is almost 1 in comparison with the case where the conventional removal and storage are continuously performed by separate operations. The time was shortened to / 2,
The throughput is greatly improved accordingly.
【0054】なお前記実施形態における上フォーク25
と下フォーク26とは、その上下の厚みが同一のタイプ
のものを使用して、一体化の状態(図4の状態)では、
水平方向からみて相互に重合する形態であっが、これに
限らず一部のみが重合する形態であってもよい。いずれ
にしろカセット42の基板Pの整列間隔よりも小さい厚
みであればよい。そうすることによって、基板支持部を
構成する上フォーク25と下フォーク26の形態を自由
に設計でき、基板が大きくなっても十分な強度を持たせ
ることができる。The upper fork 25 in the above embodiment
The lower fork 26 and the lower fork 26 are of the same type in the upper and lower thicknesses, and in the integrated state (state of FIG. 4),
Although they are mutually superposed when viewed in the horizontal direction, the present invention is not limited to this, and only a part thereof may be superposed. In any case, the thickness may be smaller than the alignment interval of the substrates P of the cassette 42. By doing so, it is possible to freely design the shapes of the upper fork 25 and the lower fork 26 that form the substrate supporting portion, and to provide sufficient strength even if the substrate becomes large.
【0055】なお前記実施形態における搬送アーム21
は、第1アーム23、第2アーム24を夫々一端部近傍
で相互に回動自在に構成したいわゆる多関節構造であっ
たが、これに代えて、図17に示したように、回動系は
1カ所でその他は直線摺動系とした搬送アーム71を用
いてもよい。Incidentally, the transfer arm 21 in the above embodiment.
Has a so-called multi-joint structure in which the first arm 23 and the second arm 24 are configured to be rotatable relative to each other in the vicinity of one end, but instead of this, as shown in FIG. It is also possible to use the transfer arm 71 which has a linear sliding system in one place and the others in one place.
【0056】この搬送アーム71は、基盤72の上に装
備されてこの基盤72の長手方向に沿って摺動自在(図
中の往復矢印L)なスライド基台73と、このスライド
基台73の上に装備されてこのスライド基台73の上を
回転自在(図中の往復回転矢印M)な回転支持部材74
と、この回転支持部材74の一側に立設されたスタンド
74aに沿って上下動自在(図中の往復矢印N)な昇降
基台75とを有している。そして下フォーク76は、こ
の昇降基台75上をその長手方向に沿って摺動自在(図
中の往復矢印Q)である。また上フォーク77は、この
下フォーク76の基部の一側に立設されたサブスタンド
76aに沿って上下動自在(図中の往復矢印R)となっ
ている。従って、上フォーク77もまた、下フォーク7
6の摺動に伴って図中の往復矢印Qのように摺動自在で
ある。そして上フォーク77が最も下降したときには、
上フォーク77の基板支持部77aが下フォーク76の
基板支持部76bと、水平方向からみて一部重合するよ
うになっている。The transfer arm 71 is mounted on a base 72 and is slidable along the longitudinal direction of the base 72 (reciprocating arrow L in the figure), and a slide base 73 and a slide base 73. A rotation support member 74 that is mounted on the slide base 73 and is rotatable on the slide base 73 (reciprocating rotation arrow M in the figure).
And a lift base 75 that is vertically movable (reciprocal arrow N in the figure) along a stand 74a that is erected on one side of the rotation support member 74. The lower fork 76 is slidable (reciprocal arrow Q in the figure) on the elevating base 75 along the longitudinal direction thereof. The upper fork 77 is vertically movable (reciprocating arrow R in the figure) along a sub stand 76a that is erected on one side of the base of the lower fork 76. Therefore, the upper fork 77 is also the lower fork 7.
Along with the sliding of No. 6, it is slidable as shown by a reciprocal arrow Q in the figure. And when the upper fork 77 descends most,
The substrate support portion 77a of the upper fork 77 partially overlaps the substrate support portion 76b of the lower fork 76 when viewed in the horizontal direction.
【0057】かかる構成の搬送アーム71を用いても、
前記実施形態で用いた搬送アーム21と全く同様に、処
理済み基板のカセット42への収納と、未処理基板のカ
セットからの取り出しが同時に並行して行えるので、ス
ループットが従来よりも向上する。しかも回転系は1カ
所であり、他は全て直線摺動系であるから、前記搬送ア
ーム21よりもさらに高速かつ安定した動作が実現でき
る。Even if the transfer arm 71 having such a structure is used,
Just like the transfer arm 21 used in the above-described embodiment, since the processed substrate can be stored in the cassette 42 and the unprocessed substrate can be taken out from the cassette at the same time, the throughput is improved as compared with the conventional case. Moreover, since there is only one rotary system and the others are linear sliding systems, a higher speed and stable operation than the transfer arm 21 can be realized.
【0058】また前記真空処理装置1では、エッチン
グ、アッシングの連続処理を行なうことが可能であり、
この点でもスループットが高くなっている。この場合、
プログラム等を変更することにより、エッチング、エッ
チングの連続処理、エッチングの単一処理など、ユーザ
ーのニーズに対応した種々処理を行なうことができ、極
めて汎用性が高い装置となっている。In the vacuum processing apparatus 1, it is possible to carry out continuous processing of etching and ashing.
In this respect also, the throughput is high. in this case,
By changing the program or the like, it is possible to perform various kinds of processing, such as etching, continuous etching processing, and single etching processing, according to the needs of the user, and the apparatus is extremely versatile.
【0059】[0059]
【発明の効果】請求項1、2の基板搬送方法によれば、
従来収納体や収納容器への基板の搬送、取り出しをそれ
ぞれ連続したプロセスで行っていたのを、並行して実施
することができ、その分スループットが向上する。According to the substrate transfer method of the first and second aspects,
Conventionally, the transfer and the removal of the substrate to and from the storage body and the storage container are performed in continuous processes, but they can be performed in parallel, and the throughput is improved accordingly.
【0060】また請求項3〜6に記載の基板搬送装置に
よれば、請求項1の基板搬送方法を好適に実施すること
ができ、しかも収納体への搬送のみ、収納体からの基板
の取り出しのみの動作も、支障なく行うことができる。
さらに請求項7の処理システムにおいても、請求項1の
基板搬送方法を好適に実施でき、そのうえ搬送部材を上
下動させる必要はない。Further, according to the substrate transfer device of the third to sixth aspects, the substrate transfer method of the first aspect can be suitably implemented, and further, only the transfer to the storage body, and the removal of the substrate from the storage body. Only the movement can be performed without any trouble.
Further, also in the processing system of claim 7, the substrate transfer method of claim 1 can be suitably implemented, and further, it is not necessary to vertically move the transfer member.
【図1】本発明の実施形態にかかる真空処理装置の概観
を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an overview of a vacuum processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の真空処理装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the vacuum processing apparatus of FIG.
【図3】図1の真空処理装置に使用された搬送アームの
概観を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing an overview of a transfer arm used in the vacuum processing apparatus of FIG.
【図4】図3の搬送アームにおいて上フォークと下フォ
ークとが分離した状態を示す斜視図である。4 is a perspective view showing a state in which an upper fork and a lower fork are separated in the transfer arm of FIG.
【図5】図1の真空処理装置におけるロードロックチャ
ンバ内の様子を示す斜視図である。5 is a perspective view showing the inside of the load lock chamber in the vacuum processing apparatus of FIG. 1. FIG.
【図6】図1の真空処理装置において、搬送アームの上
フォークと下フォークとが一体化してカセットから未処
理基板を取り出す様子を示す説明図である。6 is an explanatory view showing a state in which the upper fork and the lower fork of the transfer arm are integrated and the unprocessed substrate is taken out from the cassette in the vacuum processing apparatus of FIG. 1. FIG.
【図7】図1の真空処理装置において、搬送アームの上
フォークと下フォークとが一体化してカセットから未処
理基板を取り出す様子を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing a state in which the upper fork and the lower fork of the transfer arm are integrated and the unprocessed substrate is taken out from the cassette in the vacuum processing apparatus of FIG.
【図8】図1の真空処理装置において、搬送アームの上
フォークと下フォークとが分離した状態でのロードロッ
クチャンバ内で未処理基板と処理済み基板との入れ替え
動作を説明するための説明図である。8 is an explanatory view for explaining an operation of exchanging an unprocessed substrate and a processed substrate in a load lock chamber in a state where an upper fork and a lower fork of a transfer arm are separated in the vacuum processing apparatus of FIG. Is.
【図9】図1の真空処理装置において、搬送アームの上
フォークと下フォークとが分離した状態でのロードロッ
クチャンバ内で未処理基板と処理済み基板との入れ替え
動作を説明するための説明図である。9 is an explanatory view for explaining an operation of exchanging an unprocessed substrate and a processed substrate in a load lock chamber in a state where an upper fork and a lower fork of a transfer arm are separated in the vacuum processing apparatus of FIG. Is.
【図10】図1の真空処理装置において、搬送アームの
上フォークと下フォークとが分離した状態でのロードロ
ックチャンバ内で未処理基板と処理済み基板との入れ替
え動作を説明するための説明図である。10 is an explanatory view for explaining an exchange operation of an unprocessed substrate and a processed substrate in a load lock chamber in a state where an upper fork and a lower fork of a transfer arm are separated in the vacuum processing apparatus of FIG. Is.
【図11】図1の真空処理装置において、搬送アームの
上フォークと下フォークとが分離した状態でのロードロ
ックチャンバ内で未処理基板と処理済み基板との入れ替
え動作が終わった状態を示す説明図である。11 is a diagram showing a state in which, in the vacuum processing apparatus of FIG. 1, an operation of exchanging an unprocessed substrate and a processed substrate is completed in a load lock chamber in a state where an upper fork and a lower fork of a transfer arm are separated. It is a figure.
【図12】図1の真空処理装置において、搬送アームの
上フォークと下フォークとが分離した状態でのカセット
内で処理済み基板と未処理基板との入れ替え動作を説明
するための説明図である。FIG. 12 is an explanatory diagram for explaining an exchange operation of a processed substrate and an unprocessed substrate in a cassette in a state where an upper fork and a lower fork of a transfer arm are separated in the vacuum processing apparatus of FIG. .
【図13】図1の真空処理装置において、搬送アームの
上フォークと下フォークとが分離した状態でのカセット
内で処理済み基板と未処理基板との入れ替え動作を説明
するための説明図である。13 is an explanatory diagram for explaining an exchange operation of a processed substrate and an unprocessed substrate in a cassette in a state where an upper fork and a lower fork of a transfer arm are separated in the vacuum processing apparatus of FIG. .
【図14】図1の真空処理装置において、搬送アームの
上フォークと下フォークとが分離した状態でのカセット
内で処理済み基板と未処理基板との入れ替え動作を説明
するための説明図である。14 is an explanatory diagram for explaining an operation of exchanging a processed substrate and an unprocessed substrate in a cassette in a state where an upper fork and a lower fork of a transfer arm are separated in the vacuum processing apparatus of FIG. .
【図15】図1の真空処理装置において、搬送アームの
上フォークと下フォークとが分離した状態でのカセット
内で処理済み基板と未処理基板との入れ替え動作を説明
するための説明図である。15 is an explanatory diagram for explaining an exchange operation of a processed substrate and an unprocessed substrate in a cassette in a state where an upper fork and a lower fork of a transfer arm are separated in the vacuum processing apparatus of FIG. .
【図16】図1の真空処理装置において、搬送アームの
上フォークと下フォークとが一体化してカセットへ処理
済み基板を収納している様子を示す説明図である。16 is an explanatory view showing a state in which an upper fork and a lower fork of a transfer arm are integrated to store a processed substrate in a cassette in the vacuum processing apparatus of FIG.
【図17】搬送アームの他の例を示す斜視図である。FIG. 17 is a perspective view showing another example of the transfer arm.
1 真空処理装置 2 トランスファーチャンバ 3 ロードロックチャンバ 4、5、6、7、11 ゲートバルブ 8、9、10 プロセスチャンバ 12 支持台 13 ベース 21 搬送アーム 22 昇降シャフト 23 第1アーム 24 第2アーム 25 上フォーク 26 下フォーク 27 ケーシング 50 バッファラック 52、53 バッファ 41 カセットインデクサ 42 カセット 43 昇降機構 71 搬送アーム 72 基盤 73 スライド基台 74 回転支持部材 75 昇降基台 76 下フォーク 77 上フォーク P 基板 1 vacuum processing device 2 transfer chamber 3 load lock chamber 4, 5, 6, 7, 11 gate valve 8, 9, 10 process chamber 12 support stand 13 base 21 transfer arm 22 lift shaft 23 first arm 24 second arm 25 upper Fork 26 Lower fork 27 Casing 50 Buffer rack 52, 53 Buffer 41 Cassette indexer 42 Cassette 43 Lifting mechanism 71 Transfer arm 72 Base 73 Slide base 74 Rotation support member 75 Lifting base 76 Lower fork 77 Upper fork P Substrate
Claims (7)
列して収納可能な収納体内に処理済み基板を収納させ、
該収納体内に収納されている未処理基板を収納体から取
り出すプロセスを有する基板の搬送方法であって、前記
整列状態にある基板相互間に進入、退避自在な第1の基
板支持部と第2の基板支持部を用い、第2の基板支持部
で処理済み基板を支持した状態で第1、第2の基板支持
部を収納体内に進入させ、第1の基板支持部を収納体に
対して相対的に上昇させると同時に第2の基板支持部を
収納体に対して相対的に下降させ、収納体内の載置部に
載置されている未処理基板を第1の基板支持部で支持さ
せると共に、処理済み基板を収納体内の他の載置部に載
置させ、その後第1、第2の基板支持部を収納体内から
退避させることを特徴とする、基板搬送方法。1. A plurality of substrates are placed on a placing portion, and the processed substrates are accommodated in an accommodating body which can be vertically arranged and accommodated.
A method of transporting a substrate, comprising a process of taking out an unprocessed substrate contained in the container from the container, the first substrate supporting part and the second substrate supporting part being able to enter and retract between the substrates in the aligned state. Using the substrate support part, the first and second substrate support parts are inserted into the housing while the processed substrate is supported by the second substrate support part, and the first substrate support part is inserted into the housing body. At the same time as it is relatively raised, the second substrate support portion is lowered relative to the storage body, and the unprocessed substrate placed on the mounting portion inside the storage body is supported by the first substrate support portion. At the same time, the processed substrate is placed on another placing part inside the housing, and then the first and second substrate supporting parts are retracted from the inside of the housing.
下に有する収納容器に未処理基板を収納させ、該収納容
器内に収納されている処理済み基板を収納容器から取り
出すプロセスを有する基板の搬送方法であって、前記収
納容器内に進入、退避自在な第1の基板支持部と第2の
基板支持部を用い、第1の基板支持部で未処理基板を支
持した状態で第1、第2の基板支持部を収納体内に進入
させ、第1の基板支持部を収納容器に対して相対的に下
降させると同時に第2の基板支持部を収納容器に対して
相対的に上昇させ、第1の基板支持部が支持している未
処理基板を上側の載置部に載置させると共に、下側の載
置部に載置されている処理済み基板を第2の基板支持部
で支持させ、その後第1、第2の基板支持部を収納容器
から退避させることを特徴とする、基板搬送方法。2. A process of storing an unprocessed substrate in a storage container having mounting portions for mounting the substrate at predetermined intervals at upper and lower sides, and taking out the processed substrate stored in the storage container from the storage container. A method of transporting a substrate, comprising: using a first substrate support portion and a second substrate support portion that can enter and retract into the storage container and supporting an unprocessed substrate with the first substrate support portion. The first and second substrate support portions are moved into the storage body, and the first substrate support portion is lowered relative to the storage container, while the second substrate support portion is moved relative to the storage container. The substrate is raised to place the unprocessed substrate supported by the first substrate supporting unit on the upper mounting unit, and the processed substrate mounted on the lower mounting unit is supported by the second substrate. The first and second substrate supports from the storage container. A method of transporting a substrate, comprising:
納体と、他の装置との間で基板を搬送する装置であっ
て、基板を支持する第1の基板支持部と第2の基板支持
部を有する搬送部材とを備え、第1及び第2の基板支持
部の上下の厚さは、各々前記基板の整列間隔よりも小さ
く、第1又は第2の基板支持部の少なくともいずれかが
上下動自在であって、これら第1、第2の基板支持部
は、水平方向からみて相互に重合自在となる形態を有し
ていることを特徴とする、基板搬送装置。3. A container for accommodating a plurality of substrates arranged vertically and a device for transporting the substrate between another device, the first substrate supporting portion and the second substrate supporting portion supporting the substrate. A transport member having a substrate supporting portion, and the upper and lower thicknesses of the first and second substrate supporting portions are each smaller than the alignment interval of the substrates, and at least one of the first and second substrate supporting portions. Is movable up and down, and the first and second substrate supporting portions have a configuration in which they can overlap each other when viewed in the horizontal direction.
納体と、他の装置との間で基板を搬送する装置であっ
て、基板を支持する第1の基板支持部と第2の基板支持
部を有する搬送部材とを備え、第1及び第2の基板支持
部の上下の厚さは、各々前記基板の整列間隔よりも小さ
く、第1又は第2の基板支持部の少なくともいずれかが
上下動自在であって、これら第1、第2の基板支持部
は、水平方向からみていずれか一方の基板支持部の全部
と他の基板支持部の一部とが重合自在となる形態である
ことを特徴とする、基板搬送装置。4. An apparatus for transporting a substrate between a container for accommodating a plurality of substrates arranged vertically and another device, and a first substrate supporting part and a second substrate supporting part for supporting the substrate. A transport member having a substrate supporting portion, and the upper and lower thicknesses of the first and second substrate supporting portions are each smaller than the alignment interval of the substrates, and at least one of the first and second substrate supporting portions. Is vertically movable, and in these first and second substrate supporting portions, the whole of either one of the substrate supporting portions and a part of the other substrate supporting portions can overlap each other when viewed in the horizontal direction. A substrate transfer device characterized by being.
納体と、他の装置との間で基板を搬送する装置であっ
て、基板を支持する第1の基板支持部と第2の基板支持
部を有する搬送部材を備え、第1及び第2の基板支持部
の上下の厚さは、各々前記基板の整列間隔よりも小さ
く、第1又は第2の基板支持部の少なくともいずれかが
上下動自在であって、これら第1、第2の基板支持部
は、水平方向からみてその一部が重合自在となる形態で
あって、かつ当該重合状態のときの第1、第2の基板支
持部の合計の厚さは、前記基板の整列間隔よりも小さい
ものであることを特徴とする、基板搬送装置。5. A device for transporting a substrate between a storage body for vertically storing a plurality of substrates and another device, the first substrate support portion and the second substrate supporting portion supporting the substrate. A transport member having a substrate support portion is provided, and upper and lower thicknesses of the first and second substrate support portions are smaller than an alignment interval of the substrates, and at least one of the first and second substrate support portions is provided. The first and second substrate supporting portions are vertically movable, and a part of the first and second substrate supporting portions can be overlapped when viewed in the horizontal direction, and the first and second substrates are in the overlapped state. The substrate transfer device according to claim 1, wherein a total thickness of the supporting portions is smaller than an alignment interval of the substrates.
とする、請求項3、4又は5に記載の基板搬送装置。6. The substrate transfer device according to claim 3, 4 or 5, wherein the transfer member is vertically movable.
送装置と、基板を処理する処理装置を備えたシステムで
あって、 さらに複数の基板を上下に整列して収納する収納体を支
持する収納体支持部材を有し、収納体を上下動させる昇
降機構を収納体支持部材に設けたことを特徴とする、処
理システム。7. A system comprising the substrate transfer device according to claim 3 and a processing device for processing a substrate, further comprising a container for accommodating a plurality of substrates arranged vertically. A processing system comprising: a housing support member that supports the housing, and an elevating mechanism that moves the housing up and down is provided on the housing support member.
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